JPH0622909U - 膜厚計 - Google Patents
膜厚計Info
- Publication number
- JPH0622909U JPH0622909U JP2935892U JP2935892U JPH0622909U JP H0622909 U JPH0622909 U JP H0622909U JP 2935892 U JP2935892 U JP 2935892U JP 2935892 U JP2935892 U JP 2935892U JP H0622909 U JPH0622909 U JP H0622909U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- value
- standard
- standard value
- microcomputer
- probe
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 標準値の設定操作におけるキー操作を容易な
ものとする。 【構成】 被測定部に接触させるプローブ1からの検出
信号をマイクロコンピュータ3に入力する。マイクロコ
ンピュータ3は入力した信号を演算し、第1回目の演算
値を標準値になるまでキーボード5の上下動キーによっ
て上下動させる。その時の値は表示部4に表示される。
次に、第2回目の標準値の計測を行った結果、標準値に
達していなかったら、上下動キーで標準値になるまで操
作するが、そのキー操作は単にキーを押していれば、自
動的に第1回目で設定した標準値になり、それ以上又は
以下の値には変化しない。以後、同様にして数回操作し
てマイクロコンピュータ3に基準値を設定する。
ものとする。 【構成】 被測定部に接触させるプローブ1からの検出
信号をマイクロコンピュータ3に入力する。マイクロコ
ンピュータ3は入力した信号を演算し、第1回目の演算
値を標準値になるまでキーボード5の上下動キーによっ
て上下動させる。その時の値は表示部4に表示される。
次に、第2回目の標準値の計測を行った結果、標準値に
達していなかったら、上下動キーで標準値になるまで操
作するが、そのキー操作は単にキーを押していれば、自
動的に第1回目で設定した標準値になり、それ以上又は
以下の値には変化しない。以後、同様にして数回操作し
てマイクロコンピュータ3に基準値を設定する。
Description
【0001】
本考案は、金属表面に被覆された塗装の膜厚を計測する膜厚計に関するもので ある。
【0002】
船舶、橋梁、自動車、機器等の鉄骨構造物等では、金属表面を塗装仕上げをす るが、塗装膜はできるだけ均一な厚さに仕上げられることが望ましい。もし、所 定値以下の塗装膜厚の場合、経時的変化により塗装膜が剥がれやすく、金属腐食 の原因となる。また、塗装膜が厚すぎる場合には経済的な不利益なものとなる。
【0003】 上記のような鉄骨構造物の塗装は、1回塗りの場合には塗装終了後に、複数回 塗装の場合には、所定回塗りが終了した時点で、任意の複数箇所を選び、膜厚計 を使用して膜厚測定をする。
【0004】 一般に膜厚計は、塗装面に密着させるプローブと,このプローブで検出した信 号を演算する演算部と、この演算部で演算した結果を表示する表示部とから構成 されている。 膜厚計には大きく分けて電磁式と渦電流式とがある。前者の電磁式膜厚計は、 鉄芯入りコイルに交流電圧を印加し、鉄芯の先端を塗装膜を介して被測定物(例 えば鉄)に近付けると、鉄芯先端と被測定物との距離の僅かな変化に対応してコ イルのインダクタンスが変化する。この変化を演算部で演算して被測定物表面の 塗装膜厚の厚さを計測するものである。 後者の渦電流式膜厚計は、高周波電界によって金属表面に誘起される渦電流の 大きさと表面皮膜の厚さとの間の電気的相関性を利用して、鉄以外の金属素地に 表面処理された絶縁性皮膜の厚さを計測するものである。
【0005】
【考案が解決しようとする課題】 上記の膜厚計は、まず、標準厚さ板で校正を行い、しかる後に塗装面の厚さを 計測する手段を採用している。しかし、標準厚さ板で校正する際、膜厚計の上下 動キーにより表示部に映出されている数値を標準値まで達するように操作しなけ ればならない。
【0006】 この操作はきわめてデリケートで、標準値に合わせるのが難しく、標準値を越 えてしまうと、キー操作によりもとに戻さねばならない。このような操作を約1 0回繰り返し行って膜厚計に標準値を設定するため、設定に要する時間がかなり 必要となるとともにかなりの熟練を要する問題があった。 本考案は、上記の問題点を解決するために、標準値の設定操作におけるキーの 操作を容易にした膜厚計を提供することを目的とするものである。
【0007】
上記の目的を達成するために本考案は、標準厚み板に接触させるプローブと、 このプローブで検出した標準厚み板の信号が入力される計測器本体とからなり、 計測器本体はあらかじめ標準厚み板にプローブを接触させてその標準厚み板の厚 みを計測し、第1回目の計測した値の表示値が標準値になるまでは上下動キーに より上下動させ、第2回目以降は上下動キー操作により表示値が第1回目で設定 した標準値になると、その標準値以上又は以下に値が変化しないように演算する マイクロコンピュータと、このマイクロコンピュータが演算した標準値を表示す る表示部と、この表示部に表示される標準値を変化させる上下動キーボードとを 備えたことを特徴としている。
【0008】
プローブを被計測部に接触させると、プローブから検出信号が計測器本体内の マイクロコンピュータに入力される。マイクロコンピュータは入力信号を演算し 、第1回目の標準値を計測する。第2回目以降の標準値の入力の時には、上下動 キーを押し続ければ、自動的に表示部の計測値が第1回目の標準値になり、それ 以上又は以下に計測値は上昇も下降もしない。これにより、標準厚み板を10回 計測して基準値とする。
【0009】
以下、図面に従って本考案の一実施例を詳細に説明する。 図1において符合1は被計測部に接触させる電磁式あるいは渦電流式膜厚計の プローブであり、このプローブ1の先端を試験体である標準厚み板(標準値)の 厚みを測定する。プローブ1で検出した標準値信号は、計測器本体2のマイクロ コンピュータ3に入力される。このマイクロコンピュータ3は、第1回目の標準 値が入力されると、この値を表示部4に表示する。表示部4に表示された値があ らかじめ設定した標準値から離れていると、標準値に達するまでキーボード5の 上下動キー(図示せず)を用いて値を上下させて一致させる。
【0010】 次に、第2回目の計測値をマイクロコンピュータ3に入力させ、その時の値を 表示部4に表示させる。その表示値が、例えば、第1回目の標準値より低い時に は、上下動キーを用いて値を上昇させる。その値が第1回目に設定した標準値に 達すると、表示部4の表示値は第1回目の標準値を示し、値はそれ以上にはなら なくなる。従って、上下動キーを操作し続けても表示値には変化が生じない。 第3回目のキー操作も第2回目の時と同じとなる。そして、10回標準値を測 定してマイクロコンピュータ3にこの値を入力しておけば、実際の塗装面の厚さ の測定の際の基準値にできる。
【0011】
上記する本考案によれば、標準値の設定操作におけるキー操作が容易になる利 点があり、数回繰り返し行う標準値設定作業に熟練を必要としない。
【図1】本考案の一実施例を示すブロック図である。
1 プローブ 2 計測器本体 3 マイクロコンピュータ 4 表示部 5 キーボード
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成5年3月11日
【手続補正1】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】全図
【補正方法】変更
【補正内容】
【図 1】
Claims (1)
- 【請求項1】 標準厚み板に接触させるプローブと、こ
のプローブで検出した標準厚み板の信号が入力される計
測器本体とからなり、計測器本体はあらかじめ標準厚み
板にプローブを接触させてその標準厚み板の厚みを計測
し、第1回目の計測した値の表示値が標準値になるまで
は上下動キーにより上下動させ、第2回目以降は上下動
キー操作により表示値が第1回目で設定した標準値にな
ると、その標準値以上又は以下に値が変化しないように
演算するマイクロコンピュータと、このマイクロコンピ
ュータが演算した標準値を表示する表示部と、この表示
部に表示される標準値を変化させる上下動キーボードと
を備えて成ることを特徴とする膜厚計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2935892U JPH0622909U (ja) | 1992-04-07 | 1992-04-07 | 膜厚計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2935892U JPH0622909U (ja) | 1992-04-07 | 1992-04-07 | 膜厚計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0622909U true JPH0622909U (ja) | 1994-03-25 |
Family
ID=12273975
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2935892U Pending JPH0622909U (ja) | 1992-04-07 | 1992-04-07 | 膜厚計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0622909U (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0634359A (ja) * | 1992-04-07 | 1994-02-08 | Sanko Denshi Kenkyusho:Kk | 膜厚計の校正方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0622909A (ja) * | 1990-07-09 | 1994-02-01 | Circon Corp | 挿入スチレットを有する喉頭鏡 |
-
1992
- 1992-04-07 JP JP2935892U patent/JPH0622909U/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0622909A (ja) * | 1990-07-09 | 1994-02-01 | Circon Corp | 挿入スチレットを有する喉頭鏡 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0634359A (ja) * | 1992-04-07 | 1994-02-08 | Sanko Denshi Kenkyusho:Kk | 膜厚計の校正方法 |
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