JPH06236574A - 光パワーメータ - Google Patents
光パワーメータInfo
- Publication number
- JPH06236574A JPH06236574A JP5023847A JP2384793A JPH06236574A JP H06236574 A JPH06236574 A JP H06236574A JP 5023847 A JP5023847 A JP 5023847A JP 2384793 A JP2384793 A JP 2384793A JP H06236574 A JPH06236574 A JP H06236574A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- output
- light receiving
- receiving element
- light
- semiconductor laser
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
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- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Optical Head (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【構成】 ッドの受光素子として４分割した受光素子を
用い、その二つずつの差動出力を２チャンネルのオシロ
スコープのＸ軸とＹ軸とに入力し、オシロスコープのブ
ラウン管上に表われるの輝点の位置を見ながらヘッドの
位置決めを行うことができるようにする。 【効果】 受光素子に入射するピックアップの半導体レ
ーザからの光束の中心を正確に受光素子の中心に一致さ
せることができ、従って半導体レーザの出力の測定精度
を向上し、しかも操作を容易にすることができる。
用い、その二つずつの差動出力を２チャンネルのオシロ
スコープのＸ軸とＹ軸とに入力し、オシロスコープのブ
ラウン管上に表われるの輝点の位置を見ながらヘッドの
位置決めを行うことができるようにする。 【効果】 受光素子に入射するピックアップの半導体レ
ーザからの光束の中心を正確に受光素子の中心に一致さ
せることができ、従って半導体レーザの出力の測定精度
を向上し、しかも操作を容易にすることができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光ディスク装置のピッ
クアップの光源として使用される半導体レーザ光源の光
出力を測定するための光パワーメータに関する。
クアップの光源として使用される半導体レーザ光源の光
出力を測定するための光パワーメータに関する。
【０００２】
【従来の技術】図６は従来の光パワーメータの一例を示
す正面図、図７は図６の例の動作を説明するための正面
図である。
す正面図、図７は図６の例の動作を説明するための正面
図である。
【０００３】光ディスク装置のピックアップの光源とし
て使用される半導体レーザ光源の光出力を測定するため
の従来の光パワーメータは、図６に示すように、ピック
アップ３７に設けてあるレンズ駆動装置３８によって駆
動される対物レンズ３９の上方にヘッド３１の受光素子
３２を配置し、ヘッド３１をケーブル３６を介して出力
表示部３４を有する本体３３に接続している。
て使用される半導体レーザ光源の光出力を測定するため
の従来の光パワーメータは、図６に示すように、ピック
アップ３７に設けてあるレンズ駆動装置３８によって駆
動される対物レンズ３９の上方にヘッド３１の受光素子
３２を配置し、ヘッド３１をケーブル３６を介して出力
表示部３４を有する本体３３に接続している。
【０００４】ピックアップ３７の光源である半導体レー
ザ４０から出射した光束は、測定光３５として対物レン
ズ３９から出射されて受光素子３２に捕捉され、その出
力値を測定される。受光素子３２の出力信号は、ケーブ
ル３６を介して本体３３に伝達され、出力表示部３４に
表示される。
ザ４０から出射した光束は、測定光３５として対物レン
ズ３９から出射されて受光素子３２に捕捉され、その出
力値を測定される。受光素子３２の出力信号は、ケーブ
ル３６を介して本体３３に伝達され、出力表示部３４に
表示される。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上述したような従来の
光パワーメータは、次のような問題点を有している。
光パワーメータは、次のような問題点を有している。
【０００６】すなわち、図７（ａ）に示すように、対物
レンズ３９から出射される測定光３５をすべて受光素子
３２で捕捉して測定しなければならないが、半導体レー
ザ４０から出射する光が赤外線領域の波長の光であるた
め、肉眼でそれを確認することがでない。従って、出力
表示部３４の表示を見ながらヘッド３１を適当な方向に
動かし、出力表示部３４の表示が最大値を示す位置を探
してピックアップ３７の出力値を計測しなければならな
い。この出力表示部３４の表示が最大値を示す位置を探
す操作は、困難な操作であるばかりでなく、精度も低い
ため、図７（ｂ）に示すように、対物レンズ３９から出
射される測定光３５をすべて受光素子３２で捕捉しない
場合も、その位置を最大受光点としてピックアップ３７
の出力値を計測することがある。
レンズ３９から出射される測定光３５をすべて受光素子
３２で捕捉して測定しなければならないが、半導体レー
ザ４０から出射する光が赤外線領域の波長の光であるた
め、肉眼でそれを確認することがでない。従って、出力
表示部３４の表示を見ながらヘッド３１を適当な方向に
動かし、出力表示部３４の表示が最大値を示す位置を探
してピックアップ３７の出力値を計測しなければならな
い。この出力表示部３４の表示が最大値を示す位置を探
す操作は、困難な操作であるばかりでなく、精度も低い
ため、図７（ｂ）に示すように、対物レンズ３９から出
射される測定光３５をすべて受光素子３２で捕捉しない
場合も、その位置を最大受光点としてピックアップ３７
の出力値を計測することがある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明の光パワーメータ
は、半導体レーザ光源からの光出力を捕捉する４分割さ
れた受光素子および前記受光素子の対向する二つの分割
部からの出力を差動増幅する２個の差動増幅回路を有す
るヘッドと、前記２個の差動増幅回路からの信号をそれ
ぞれ入力する２チャンネルのオシロスコープおよび前記
４分割された受光素子からの信号を入力してそれらの和
を表示する出力表示部を有する本体とを備えたものであ
り、更に、差動増幅回路に自動ゲインコントロール回路
を付加したものである。
は、半導体レーザ光源からの光出力を捕捉する４分割さ
れた受光素子および前記受光素子の対向する二つの分割
部からの出力を差動増幅する２個の差動増幅回路を有す
るヘッドと、前記２個の差動増幅回路からの信号をそれ
ぞれ入力する２チャンネルのオシロスコープおよび前記
４分割された受光素子からの信号を入力してそれらの和
を表示する出力表示部を有する本体とを備えたものであ
り、更に、差動増幅回路に自動ゲインコントロール回路
を付加したものである。
【０００８】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
て説明する。
【０００９】図１は本発明の第一の実施例を示す正面
図、図２は図１の実施例の受光素子動作を示す底面図、
図３は図１の実施例におけるビーム位置検出方法を説明
するための模式図、図４は図１の実施例のオシロスコー
プを示す正面図である。
図、図２は図１の実施例の受光素子動作を示す底面図、
図３は図１の実施例におけるビーム位置検出方法を説明
するための模式図、図４は図１の実施例のオシロスコー
プを示す正面図である。
【００１０】図１において、受光素子２を有するヘッド
１は、３本のケーブル６によって出力表示部４および２
チャンネルのオシロスコープ５を有する本体３に接続さ
れている。
１は、３本のケーブル６によって出力表示部４および２
チャンネルのオシロスコープ５を有する本体３に接続さ
れている。
【００１１】受光素子２は、ピックアップの対物レンズ
の上方に配置されており（図６参照）、図２に示すよう
に、４分割（Ａ部〜Ｄ部）されている。Ａ部およびＣ部
の出力は、ヘッド１に内蔵されている差動回路７に入力
し、Ｂ部およびＤ部の出力は、ヘッド１に内蔵されてい
る差動回路８に入力している。このため、差動回路７か
らは（Ａ部の出力−Ｃ部の出力）に相当する差動出力
（Ａ−Ｃ）が、また、差動回路８からは（Ｂ部の出力−
Ｄ部の出力）に相当する差動出力（Ｂ−Ｄ）が出力され
る。
の上方に配置されており（図６参照）、図２に示すよう
に、４分割（Ａ部〜Ｄ部）されている。Ａ部およびＣ部
の出力は、ヘッド１に内蔵されている差動回路７に入力
し、Ｂ部およびＤ部の出力は、ヘッド１に内蔵されてい
る差動回路８に入力している。このため、差動回路７か
らは（Ａ部の出力−Ｃ部の出力）に相当する差動出力
（Ａ−Ｃ）が、また、差動回路８からは（Ｂ部の出力−
Ｄ部の出力）に相当する差動出力（Ｂ−Ｄ）が出力され
る。
【００１２】これらの差動出力（Ａ−Ｃ）および差動出
力（Ｂ−Ｄ）は、それぞれオシロスコープ５の二つのチ
ャンネルの一方にに入力し、オシロスコープ５のブラウ
ン管１０上で輝点をＸ軸およびＹ軸方向に移動させる。
したがって、輝点をブラウン管１０上の中心点に一致さ
せることにより、受光素子２に入射する光束の中心を検
出することができる。
力（Ｂ−Ｄ）は、それぞれオシロスコープ５の二つのチ
ャンネルの一方にに入力し、オシロスコープ５のブラウ
ン管１０上で輝点をＸ軸およびＹ軸方向に移動させる。
したがって、輝点をブラウン管１０上の中心点に一致さ
せることにより、受光素子２に入射する光束の中心を検
出することができる。
【００１３】すなわち、受光素子２の４分割されている
Ａ部〜Ｄ部に均等に光束９が入射している場合は、図３
（ａ）に示すように、オシロスコープ５のブラウン管１
０上に表われる輝点１１は、Ｘ軸線１８とＹ軸線１９と
の交点に表示される。
Ａ部〜Ｄ部に均等に光束９が入射している場合は、図３
（ａ）に示すように、オシロスコープ５のブラウン管１
０上に表われる輝点１１は、Ｘ軸線１８とＹ軸線１９と
の交点に表示される。
【００１４】受光素子２に入射する光束９がずれてい
て、差動出力（Ａ−Ｃ）および差動出力（Ｂ−Ｄ）が共
に正の場合は、図３（ｂ）に示すように、輝点１１は、
ブラウン管１０上の第一象限に表われる。また差動出力
（Ａ−Ｃ）および差動出力（Ｂ−Ｄ）が共に負の場合
は、図３（ｃ）に示すように、輝点１１は、ブラウン管
１０上の第三象限に表われる。
て、差動出力（Ａ−Ｃ）および差動出力（Ｂ−Ｄ）が共
に正の場合は、図３（ｂ）に示すように、輝点１１は、
ブラウン管１０上の第一象限に表われる。また差動出力
（Ａ−Ｃ）および差動出力（Ｂ−Ｄ）が共に負の場合
は、図３（ｃ）に示すように、輝点１１は、ブラウン管
１０上の第三象限に表われる。
【００１５】従って、ブラウン管１０上の輝点１１の位
置を見ながらヘッド１を動かし、輝点１１がＸ軸線１８
とＹ軸線１９との交点に表われるようにすることによ
り、光束９に対して受光素子２を正確に位置決めするこ
とができ、その位置でピックアップの光源の半導体レー
ザの出力の測定を行う。出力は、受光素子２の４分割さ
れているＡ部〜Ｄ部の出力の和として本体３の出力表示
部４に表示される。
置を見ながらヘッド１を動かし、輝点１１がＸ軸線１８
とＹ軸線１９との交点に表われるようにすることによ
り、光束９に対して受光素子２を正確に位置決めするこ
とができ、その位置でピックアップの光源の半導体レー
ザの出力の測定を行う。出力は、受光素子２の４分割さ
れているＡ部〜Ｄ部の出力の和として本体３の出力表示
部４に表示される。
【００１６】しかし、受光素子２に入射する光束９が４
分割されているＡ部〜Ｄ部に完全に均等に入射している
必要がない場合がある。すなわち、受光素子２が入射す
る光束９を全部取込んでいる場合は、Ａ部〜Ｄ部に完全
に均等に入射してなくても、半導体レーザの出力の測定
に支障はない。
分割されているＡ部〜Ｄ部に完全に均等に入射している
必要がない場合がある。すなわち、受光素子２が入射す
る光束９を全部取込んでいる場合は、Ａ部〜Ｄ部に完全
に均等に入射してなくても、半導体レーザの出力の測定
に支障はない。
【００１７】そこで、図４に示すように、ブラウン管１
０上にＸ軸線１８とＹ軸線１９との交点を中心とするサ
ークル２０を設け、輝点１１がこのサークル２０内にあ
るときは可とする。サークル２０は、光束９の出力が一
定でありその値があらかじめわかっているとき、例え
ば、光束９の中心のずれが５０ミクロンのとき、輝点１
１がこのサークル２０の円周上にくるように、オシロス
コープ５のレンジと差動回路７および差動回路８のゲイ
ンとを調整しておく。このようにすることにより、光束
９の中心の受光素子２の中心に対するずれが５０ミクロ
ン以内となるようにヘッド１の位置決めをすることがで
きる。
０上にＸ軸線１８とＹ軸線１９との交点を中心とするサ
ークル２０を設け、輝点１１がこのサークル２０内にあ
るときは可とする。サークル２０は、光束９の出力が一
定でありその値があらかじめわかっているとき、例え
ば、光束９の中心のずれが５０ミクロンのとき、輝点１
１がこのサークル２０の円周上にくるように、オシロス
コープ５のレンジと差動回路７および差動回路８のゲイ
ンとを調整しておく。このようにすることにより、光束
９の中心の受光素子２の中心に対するずれが５０ミクロ
ン以内となるようにヘッド１の位置決めをすることがで
きる。
【００１８】図５は本発明の第二の実施例を示すブロッ
ク図である。
ク図である。
【００１９】本実施例は、測定しようとするピックアッ
プの半導体レーザの出力値が未知のときに有効なもので
あり、図１の実施例の差動回路７および差動回路８に自
動ゲインコントロール回路（ＡＧＣ回路）を付加したも
のである。
プの半導体レーザの出力値が未知のときに有効なもので
あり、図１の実施例の差動回路７および差動回路８に自
動ゲインコントロール回路（ＡＧＣ回路）を付加したも
のである。
【００２０】すなわち、光検出部２１によって捕捉され
た光束は、２経路に分れる。第一の経路は、差動回路部
２２およびＡＧＣ回路部２３およびオシロスコープ２５
を含む経路であり、第一の経路は、光出力計測部２６お
よび光出力表示部２４を含む経路である。
た光束は、２経路に分れる。第一の経路は、差動回路部
２２およびＡＧＣ回路部２３およびオシロスコープ２５
を含む経路であり、第一の経路は、光出力計測部２６お
よび光出力表示部２４を含む経路である。
【００２１】第二の経路においては、図１の実施例と同
様に、光出力計測部２６において光検出部２１の４分割
受光素子の出力の和を求め、それを光出力表示部２６に
表示する。第一の経路においては、図１の実施例と同様
に、差動回路部２２の二つの差動回路において差動出力
を出力するが、それらは、ＡＧＣ回路部２３に入力され
る。ＡＧＣ回路部２３は、測定しようとするピックアッ
プの半導体レーザの出力値が未知のときでも、オシロス
コープ２５のブラウン管上のサークル（図４参照）が、
光束の中心の受光素子の中心に対するずれが５０ミクロ
ンを表示するように、自動的に差動出力の増幅値を調整
してオシロスコープ２５に入力する。従って、測定しよ
うとするピックアップの半導体レーザの出力値が如何な
る値であっても、オシロスコープ２５の測定レンジを切
替えずに半導体レーザの出力値を計測することができ
る。
様に、光出力計測部２６において光検出部２１の４分割
受光素子の出力の和を求め、それを光出力表示部２６に
表示する。第一の経路においては、図１の実施例と同様
に、差動回路部２２の二つの差動回路において差動出力
を出力するが、それらは、ＡＧＣ回路部２３に入力され
る。ＡＧＣ回路部２３は、測定しようとするピックアッ
プの半導体レーザの出力値が未知のときでも、オシロス
コープ２５のブラウン管上のサークル（図４参照）が、
光束の中心の受光素子の中心に対するずれが５０ミクロ
ンを表示するように、自動的に差動出力の増幅値を調整
してオシロスコープ２５に入力する。従って、測定しよ
うとするピックアップの半導体レーザの出力値が如何な
る値であっても、オシロスコープ２５の測定レンジを切
替えずに半導体レーザの出力値を計測することができ
る。
【００２２】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の光パワー
メータは、ヘッドの受光素子として４分割した受光素子
を用い、その二つずつの差動出力を２チャンネルのオシ
ロスコープのＸ軸とＹ軸とに入力し、オシロスコープの
ブラウン管上に表われるの輝点の位置を見ながらヘッド
の位置決めを行うことができるようにすることにより、
受光素子に入射するピックアップの半導体レーザからの
光束の中心を正確に受光素子の中心に一致させることが
できるという効果があり、従って半導体レーザの出力の
測定精度を向上し、しかも操作を容易にすることができ
るという効果がある。
メータは、ヘッドの受光素子として４分割した受光素子
を用い、その二つずつの差動出力を２チャンネルのオシ
ロスコープのＸ軸とＹ軸とに入力し、オシロスコープの
ブラウン管上に表われるの輝点の位置を見ながらヘッド
の位置決めを行うことができるようにすることにより、
受光素子に入射するピックアップの半導体レーザからの
光束の中心を正確に受光素子の中心に一致させることが
できるという効果があり、従って半導体レーザの出力の
測定精度を向上し、しかも操作を容易にすることができ
るという効果がある。
【図１】本発明の第一の実施例を示す正面図である。
【図２】図１の実施例の受光素子動作を示す底面図であ
る。
る。
【図３】図１の実施例におけるビーム位置検出方法を説
明するための模式図である。
明するための模式図である。
【図４】図１の実施例のオシロスコープを示す正面図で
ある。
ある。
【図５】本発明の第二の実施例を示すブロック図であ
る。
る。
【図６】従来の光パワーメータの一例を示す正面図であ
る。
る。
【図７】図６の例の動作を動作するための正面図であ
る。
る。
１・３１ ヘッド ２・３２ 受光素子 ３・３３ 本体 ４・２４・３４ 出力表示部 ５・２５ オシロスコープ ６・３６ ケーブル ７・８ 差動回路 ９ 光束 １０ ブラウン管 １１ 輝点 １８ Ｘ軸線 １９ Ｙ軸線 ２０ サークル ２１ 光検出部 ２２ 差動回路部 ２３ ＡＧＣ回路部 ２６ 光出力計測部 ３５ 測定光 ３７ ピックアップ ３８ レンズ駆動装置 ３９ 対物レンズ ４０ 半導体レーザ
Claims (2)
- 【請求項１】 半導体レーザ光源からの光出力を捕捉す
る４分割された受光素子および前記受光素子の対向する
二つの分割部からの出力を差動増幅する２個の差動増幅
回路を有するヘッドと、前記２個の差動増幅回路からの
信号をそれぞれ入力する２チャンネルのオシロスコープ
および前記４分割された受光素子からの信号を入力して
それらの和を表示する出力表示部を有する本体とを備え
ることを特徴とする光パワーメータ。 - 【請求項２】 差動増幅回路に自動ゲインコントロール
回路を付加したことを特徴とする請求項１記載の光パワ
ーメータ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5023847A JPH06236574A (ja) | 1993-02-12 | 1993-02-12 | 光パワーメータ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5023847A JPH06236574A (ja) | 1993-02-12 | 1993-02-12 | 光パワーメータ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06236574A true JPH06236574A (ja) | 1994-08-23 |
Family
ID=12121806
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5023847A Withdrawn JPH06236574A (ja) | 1993-02-12 | 1993-02-12 | 光パワーメータ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06236574A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7164111B2 (en) | 2003-04-01 | 2007-01-16 | Nippon Sheet Glass Company, Limited | Device for detecting invisible light beam |
-
1993
- 1993-02-12 JP JP5023847A patent/JPH06236574A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7164111B2 (en) | 2003-04-01 | 2007-01-16 | Nippon Sheet Glass Company, Limited | Device for detecting invisible light beam |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20000509 |