JPH0623716B2 - 積層材製缶蓋の疵検知方法及び装置 - Google Patents
積層材製缶蓋の疵検知方法及び装置Info
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- JPH0623716B2 JPH0623716B2 JP8516986A JP8516986A JPH0623716B2 JP H0623716 B2 JPH0623716 B2 JP H0623716B2 JP 8516986 A JP8516986 A JP 8516986A JP 8516986 A JP8516986 A JP 8516986A JP H0623716 B2 JPH0623716 B2 JP H0623716B2
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、積層材製缶蓋の疵、特に金属板を基材とし、
内面となる側にプラスチックフィルムを有し、かつこの
内面となる側にスコア線引裂きタブ取付け用リベットに
より形成される凹陥穴を有してなる缶蓋の該凹陥穴の周
壁のプラスチックフィルムの疵の有無を検知する方法及
び装置に関するものである。
内面となる側にプラスチックフィルムを有し、かつこの
内面となる側にスコア線引裂きタブ取付け用リベットに
より形成される凹陥穴を有してなる缶蓋の該凹陥穴の周
壁のプラスチックフィルムの疵の有無を検知する方法及
び装置に関するものである。
前記積層材製イージーオープニング缶蓋は公知であり、
その形状を第2図,第3図に示す。
その形状を第2図,第3図に示す。
第2図はイージーオープニング缶蓋の外面の外観を示す
もので、1は蓋、3はスコア線、4はスコア線引裂きタ
ブ、5はタブ取付用リベットである。
もので、1は蓋、3はスコア線、4はスコア線引裂きタ
ブ、5はタブ取付用リベットである。
第3図はイージーオープニング缶蓋の第2図におけるA
−A断面を示すもので、2は内面側で、6がリベットに
より形成される凹陥穴、7が凹陥穴の周壁である。
−A断面を示すもので、2は内面側で、6がリベットに
より形成される凹陥穴、7が凹陥穴の周壁である。
一方、スコア線引裂きタブの取付用リベットの成型方法
は、例えば特公昭52−39353公報に開示されてい
るように、リベットを成形する工程及びタブをリベット
に固定する工程で数回にわたって繰返し金属製のピンが
凹陥穴に挿入されるが、この金属製ピンと凹陥穴の位置
が少しでもずれた場合には、凹陥穴周壁を金属製ピンが
こすり、内面のプラスチックフィルムを疵付け、金属面
を露出することとなる。
は、例えば特公昭52−39353公報に開示されてい
るように、リベットを成形する工程及びタブをリベット
に固定する工程で数回にわたって繰返し金属製のピンが
凹陥穴に挿入されるが、この金属製ピンと凹陥穴の位置
が少しでもずれた場合には、凹陥穴周壁を金属製ピンが
こすり、内面のプラスチックフィルムを疵付け、金属面
を露出することとなる。
この缶蓋の常法における大量生産においては、凹陥穴の
周壁におけるプラスチックフィルムに疵が入った缶蓋が
何%か生ずるのは避けられないのが実情であり、これに
対する有効な対策は未だ知られていない。
周壁におけるプラスチックフィルムに疵が入った缶蓋が
何%か生ずるのは避けられないのが実情であり、これに
対する有効な対策は未だ知られていない。
一方、プラスチックフィルムや塗膜のピンホール検査方
法として放電式検査方法が知られており、この方法はプ
ラスチックのボトルやプラスチック製のイージーオープ
ニング瓶蓋の検査に適用されている。
法として放電式検査方法が知られており、この方法はプ
ラスチックのボトルやプラスチック製のイージーオープ
ニング瓶蓋の検査に適用されている。
プラスチックボトルのピンホール検査は、実開昭61−
26165号公報に記載されている。これは第7図に示
すように、ボトル31の壁に生じたピンホールの検査を
目的としたもので、ボトルの内外にボトルの壁に沿った
形状の内外電極33,34をボトル壁から離した状態で
対向して配置し、ボトルの載置台32を回転させなが
ら、25ないし35KVの電圧を内部電極33と外部電
極34との間に印加し、両電極間における放電の有無を
検知することにより行うものである。
26165号公報に記載されている。これは第7図に示
すように、ボトル31の壁に生じたピンホールの検査を
目的としたもので、ボトルの内外にボトルの壁に沿った
形状の内外電極33,34をボトル壁から離した状態で
対向して配置し、ボトルの載置台32を回転させなが
ら、25ないし35KVの電圧を内部電極33と外部電
極34との間に印加し、両電極間における放電の有無を
検知することにより行うものである。
また、プラスチック製のイージーオープニング瓶蓋の検
査は、第8図に示すものが知られている。これはスコア
線42を設けたプラスチック製瓶蓋41を、瓶蓋の内径
にほぼ等しい径の下部電極44に載置し、上部電極43
はスコア線42で囲まれた開口部をほぼ覆い得る大きな
径として下部電極44に対向させたものである。
査は、第8図に示すものが知られている。これはスコア
線42を設けたプラスチック製瓶蓋41を、瓶蓋の内径
にほぼ等しい径の下部電極44に載置し、上部電極43
はスコア線42で囲まれた開口部をほぼ覆い得る大きな
径として下部電極44に対向させたものである。
両電極は何れも回転せず、両電極間に高電圧を印加した
ときに瓶蓋にピンホールがあれば、上下電極間にリーク
電流が流れ、このリーク電流を検知することにより、瓶
蓋の疵を検出するものである。
ときに瓶蓋にピンホールがあれば、上下電極間にリーク
電流が流れ、このリーク電流を検知することにより、瓶
蓋の疵を検出するものである。
上記ボトルの検査方法のように被検体を回転するもので
あると、被検体が缶蓋の場合には、検知位置に移送され
た缶蓋を検知のために回転させ、検知終了後に回転を停
止させた後に検知位置から次工程へ移動させねばなら
ず、一定時間に多数の缶蓋の検査を正確に行うには不向
きであり、検知効率が悪るくなるという欠点がある。
あると、被検体が缶蓋の場合には、検知位置に移送され
た缶蓋を検知のために回転させ、検知終了後に回転を停
止させた後に検知位置から次工程へ移動させねばなら
ず、一定時間に多数の缶蓋の検査を正確に行うには不向
きであり、検知効率が悪るくなるという欠点がある。
また上記プラスチック製のイージーオープニング瓶蓋の
検査方法を缶蓋に適用すると、電極が缶蓋の中心から凹
陥穴までを半径とした大きいものとなり、大型の高電圧
発生装置を要し、コストアップとなるばかりでなく、非
常に高電圧を印加しなければ検知出来ないこととなり、
数ミクロン〜数10ミクロンのプラスチックフィルムや
有機物は、この高電圧で破壊されてしまい、正常なフィ
ルム膨運を疵付部と同じように検知してしまつて検知制
度が極端に悪くなる。
検査方法を缶蓋に適用すると、電極が缶蓋の中心から凹
陥穴までを半径とした大きいものとなり、大型の高電圧
発生装置を要し、コストアップとなるばかりでなく、非
常に高電圧を印加しなければ検知出来ないこととなり、
数ミクロン〜数10ミクロンのプラスチックフィルムや
有機物は、この高電圧で破壊されてしまい、正常なフィ
ルム膨運を疵付部と同じように検知してしまつて検知制
度が極端に悪くなる。
この発明は上記の欠点を解消した積層材製イージーオー
プニング缶蓋の疵検知のためになされたものであつて、
150〜400枚/分の缶蓋生産ラインに組込み、高精
度、高効率、高速での検知処理を可能にし、印加電圧が
低く、かつ確実に疵付缶蓋を検知出来る方法及び装置を
得ることを目的とする。
プニング缶蓋の疵検知のためになされたものであつて、
150〜400枚/分の缶蓋生産ラインに組込み、高精
度、高効率、高速での検知処理を可能にし、印加電圧が
低く、かつ確実に疵付缶蓋を検知出来る方法及び装置を
得ることを目的とする。
この発明は金属板を基材とし、数ミクロン〜数100ミ
クロンの薄いプラスチックフィルムや有機物を貼り合わ
せた他の製品の疵検知にも勿論有効に使用できる。
クロンの薄いプラスチックフィルムや有機物を貼り合わ
せた他の製品の疵検知にも勿論有効に使用できる。
本発明は、フィルムを積層した面を内面にして成形した
イージーオープニング缶蓋を、内面を上側にして間欠的
に一枚ずつ検知器に移送し、検知器に移送された缶蓋を
チャックで固定し、該チャックを上昇して検知する間缶
蓋を所定検知位置に保持し、缶蓋の内面側で缶蓋内面と
所定間隔を保ち、缶蓋の中心軸を軸としかつ缶蓋の凹陥
穴の中心を通る半径で公転する小電極を有する公転電極
を回転させ、該公転電極が2回転以上公転する微小時間
所定の高電圧を公転電極に印加するように構成したもの
である。
イージーオープニング缶蓋を、内面を上側にして間欠的
に一枚ずつ検知器に移送し、検知器に移送された缶蓋を
チャックで固定し、該チャックを上昇して検知する間缶
蓋を所定検知位置に保持し、缶蓋の内面側で缶蓋内面と
所定間隔を保ち、缶蓋の中心軸を軸としかつ缶蓋の凹陥
穴の中心を通る半径で公転する小電極を有する公転電極
を回転させ、該公転電極が2回転以上公転する微小時間
所定の高電圧を公転電極に印加するように構成したもの
である。
検知位置にある缶蓋の凹陥穴がどの方向を向いていて
も、公転電極が回転する間に必ず凹陥穴付近を走査し、
プラスチックフィルムに疵があると、公転電極と缶蓋が
当接しているアース電極との間に所定電流以上のリーク
電流が流れる。この所定以上の電流を検知することによ
り、積層材製イージーオープニング缶蓋に疵が存在する
ことを検知することができる。
も、公転電極が回転する間に必ず凹陥穴付近を走査し、
プラスチックフィルムに疵があると、公転電極と缶蓋が
当接しているアース電極との間に所定電流以上のリーク
電流が流れる。この所定以上の電流を検知することによ
り、積層材製イージーオープニング缶蓋に疵が存在する
ことを検知することができる。
疵の検知に用いたイージーオープニング缶蓋の形状は、
第2図及び第3図に示したとおりのものであり、8はパ
ネルで内面側に最も突出した部分である。
第2図及び第3図に示したとおりのものであり、8はパ
ネルで内面側に最も突出した部分である。
缶蓋に用いた積層材料は、外面となる側に通常のエポキ
シ塗料を塗布した0.25mmの厚さのアルミ板の内面
となる側に、エポキシフェノール塗料を塗布し、更に内
面側にポリプロピレン系接着剤で30μのポリプロピレ
ンフィルムをラミネートしたものである。
シ塗料を塗布した0.25mmの厚さのアルミ板の内面
となる側に、エポキシフェノール塗料を塗布し、更に内
面側にポリプロピレン系接着剤で30μのポリプロピレ
ンフィルムをラミネートしたものである。
勿論、アルミ板の内面側にエポキシフェノールを塗布し
ないで、アルミ板の内面側に直接ポリプロピレン系接着
剤でポリプロピレンフィルムをラミネートした缶蓋の場
合も同様に検知可能である。
ないで、アルミ板の内面側に直接ポリプロピレン系接着
剤でポリプロピレンフィルムをラミネートした缶蓋の場
合も同様に検知可能である。
疵検知のための検査装置の略図を第5図に示す。
缶蓋自動供給器17から缶蓋が供給され、缶蓋は矢印の
ように右側から左側へ間欠的に等間隔で送られ進行する
が、缶蓋が検知器の下降位置にある位置決め用チャック
11の位置(図に破線で示す)に来たとき、真空吸引で
缶蓋をチャックに固定し、次いで該チャック11が上昇
(図の実線位置)し、公転電極ホルダー15に取付けた
公転電極14と缶蓋1との間隙が所定の寸法となるよう
なチャックの構造としてある。
ように右側から左側へ間欠的に等間隔で送られ進行する
が、缶蓋が検知器の下降位置にある位置決め用チャック
11の位置(図に破線で示す)に来たとき、真空吸引で
缶蓋をチャックに固定し、次いで該チャック11が上昇
(図の実線位置)し、公転電極ホルダー15に取付けた
公転電極14と缶蓋1との間隙が所定の寸法となるよう
なチャックの構造としてある。
20は検知された疵付缶蓋の排出器であり、21は疵の
検知されなかた缶蓋の積付器である。公転電極14は高
電圧発生器18に、チャック11はリーク電流検知器1
9にそれぞれリード線16,13で接続されている。
検知されなかた缶蓋の積付器である。公転電極14は高
電圧発生器18に、チャック11はリーク電流検知器1
9にそれぞれリード線16,13で接続されている。
缶蓋1を検知位置に保持し、公転電極ホルダー15を回
転させ、公転電極14に微小時間電圧を印加する。検知
位置にある缶蓋の凹陥穴がどの方向を向いていても、公
転電極14は回転する間に必ず凹陥穴付近を走査し、プ
ラスチックフィルムに疵があると、アース電極12にリ
ーク電流が流れる。
転させ、公転電極14に微小時間電圧を印加する。検知
位置にある缶蓋の凹陥穴がどの方向を向いていても、公
転電極14は回転する間に必ず凹陥穴付近を走査し、プ
ラスチックフィルムに疵があると、アース電極12にリ
ーク電流が流れる。
第6図に電気関係を中心とした検知機構を示す。
公転電極14には、高電圧発生器18からの電圧が電圧
設定器によって所定の電圧に調定されて印加され、この
電圧は電圧表示器で表示される。
設定器によって所定の電圧に調定されて印加され、この
電圧は電圧表示器で表示される。
一方、アース電極12には、所定以上のリーク電流が発
生したときにこれを検出するリーク電流検出器19が接
続され、その電流値は検出電流設定器によって調定され
る。リーク電流検出器の出力がNO、GO信号発生器に
入り、疵付排出器20を制御する。
生したときにこれを検出するリーク電流検出器19が接
続され、その電流値は検出電流設定器によって調定され
る。リーク電流検出器の出力がNO、GO信号発生器に
入り、疵付排出器20を制御する。
第5図において、リーク電流検出器19がリーク電流を
検出すると、実線位置にある疵付蓋排出器20が破線位
置に変位し、疵付缶蓋は缶蓋積付器21への移送経路か
ら排出される。
検出すると、実線位置にある疵付蓋排出器20が破線位
置に変位し、疵付缶蓋は缶蓋積付器21への移送経路か
ら排出される。
第1図に電極部分の概略図として缶蓋固定用チャック1
1が上昇して上死点にある状態(疵の検知位置)を示
す。9は凹陥穴の底面で、チャック側は12がアース電
極である。
1が上昇して上死点にある状態(疵の検知位置)を示
す。9は凹陥穴の底面で、チャック側は12がアース電
極である。
前述の装置を用いて、あらかじめ疵が付いていることが
確認されている缶蓋と疵のないことが確認されている缶
蓋を用い、公転電極の最下端と缶蓋の最上端であるパネ
ル面の間隙をそれぞれ0.5mm、1.0mm、1.5
mmとなるように設定し、印加電圧を4.2〜5.0K
Vの間で0.2KV間隔に設定し、検出リーク電流を
0.5mA以上、1枚当りの検知時間を0.097秒と
し、この0.097秒の間に公転電極が4回転するよう
に設定し、交流電源を用いてテストを行った結果は、次
頁の第1表に示すとおりである。
確認されている缶蓋と疵のないことが確認されている缶
蓋を用い、公転電極の最下端と缶蓋の最上端であるパネ
ル面の間隙をそれぞれ0.5mm、1.0mm、1.5
mmとなるように設定し、印加電圧を4.2〜5.0K
Vの間で0.2KV間隔に設定し、検出リーク電流を
0.5mA以上、1枚当りの検知時間を0.097秒と
し、この0.097秒の間に公転電極が4回転するよう
に設定し、交流電源を用いてテストを行った結果は、次
頁の第1表に示すとおりである。
公転電極と缶蓋のパネル頂部8との間隔を0.5mmと
した場合には印加電圧が4.4KV以上で疵付缶蓋を全
数検知し排出した。また間隔が1.0mm及び1.5m
mの場合は、それぞれ印加電圧が4.6KV、4.8K
V以上で疵付缶蓋を全数検知し、かつ疵のない良品缶蓋
は排出しなかった。
した場合には印加電圧が4.4KV以上で疵付缶蓋を全
数検知し排出した。また間隔が1.0mm及び1.5m
mの場合は、それぞれ印加電圧が4.6KV、4.8K
V以上で疵付缶蓋を全数検知し、かつ疵のない良品缶蓋
は排出しなかった。
前述の通り、積層材内面のプラスチックフィルムは、あ
まり高い電圧を印加すると、プラスチックフィルム自体
が電圧によって破壊されてしまい、疵のない缶蓋も疵付
缶蓋と同じように排出されることとなるが、この方法で
は、そのような現象は生じなかったが、印加電圧を出来
るだけ低く設定することが好ましいことは言うまでもな
い。印加電圧を低く設定するためには第1表の結果か
ら、公転電極と缶蓋との間隔を出来るだけ近くに設定す
ることがより有効であると言える。
まり高い電圧を印加すると、プラスチックフィルム自体
が電圧によって破壊されてしまい、疵のない缶蓋も疵付
缶蓋と同じように排出されることとなるが、この方法で
は、そのような現象は生じなかったが、印加電圧を出来
るだけ低く設定することが好ましいことは言うまでもな
い。印加電圧を低く設定するためには第1表の結果か
ら、公転電極と缶蓋との間隔を出来るだけ近くに設定す
ることがより有効であると言える。
なお、このテストに用いた缶蓋は大量生産されたもの
で、パネルの高さが±0.25mmバラツキ、パネル頂
部と凹陥穴底面との間隔も±0.25mmのバラツキが
あった。大量生産された缶蓋にこのようなバラツキを生
ずるのは仕方のないことであるが、この疵検知方法は、
このようなバラツキを充分吸収できて実用的であること
が判った。
で、パネルの高さが±0.25mmバラツキ、パネル頂
部と凹陥穴底面との間隔も±0.25mmのバラツキが
あった。大量生産された缶蓋にこのようなバラツキを生
ずるのは仕方のないことであるが、この疵検知方法は、
このようなバラツキを充分吸収できて実用的であること
が判った。
また、4〜5KVの電圧を印加するときの電流値はほぼ
1Aと推定されるが、このままでは疵付缶蓋を検知した
とき缶蓋の金属板との間でスパークが生じ、まわりのプ
ラスチックフィルムに焼け焦げを生ずるが、1.5MΩ
の抵抗体を用いて印加時の電流値を下げたところ、疵付
缶蓋検知時に金属板との間に大気中の放電は生ずるが、
排出された缶蓋に外観上の異常はなく、耐蝕性の要求さ
れない用途に再利用できる。しかし、低抗体を2MΩ以
上とした場合には疵付缶蓋の検知が不可能となった。
1Aと推定されるが、このままでは疵付缶蓋を検知した
とき缶蓋の金属板との間でスパークが生じ、まわりのプ
ラスチックフィルムに焼け焦げを生ずるが、1.5MΩ
の抵抗体を用いて印加時の電流値を下げたところ、疵付
缶蓋検知時に金属板との間に大気中の放電は生ずるが、
排出された缶蓋に外観上の異常はなく、耐蝕性の要求さ
れない用途に再利用できる。しかし、低抗体を2MΩ以
上とした場合には疵付缶蓋の検知が不可能となった。
公転電極は、0.05〜0.2mm径の導電性細線を結
束し、直径1.0〜5.0mmとしたものが使用できる
が、リベット凹陥穴の径を4.25mmとした場合に
は、0.1mm径の導電性細線を結束し、直径3.0m
mとしたもが好ましい。
束し、直径1.0〜5.0mmとしたものが使用できる
が、リベット凹陥穴の径を4.25mmとした場合に
は、0.1mm径の導電性細線を結束し、直径3.0m
mとしたもが好ましい。
このテストに用いられた第1図に示すアース電極12
は、缶蓋の外面の絶縁体であるエポキシフェノール塗料
に接しているが、この塗膜は極めて薄いものであり、電
極と塗膜の間隔を3mmとし、塗膜面と金属体とのリー
ク電流が0.5mA以上流れる電圧を測定し比較したと
ころ、塗膜があっても、金属体より最高でも0.1KV
しか高くなく、絶縁破壊電圧が低いものであり、缶蓋に
疵があって缶蓋の金属板にリーク電流が発生した場合に
は、4〜5KVの印加電圧によって塗膜が容易に破壊さ
れ、アース電極にリーク電流が流れることを示してい
る。
は、缶蓋の外面の絶縁体であるエポキシフェノール塗料
に接しているが、この塗膜は極めて薄いものであり、電
極と塗膜の間隔を3mmとし、塗膜面と金属体とのリー
ク電流が0.5mA以上流れる電圧を測定し比較したと
ころ、塗膜があっても、金属体より最高でも0.1KV
しか高くなく、絶縁破壊電圧が低いものであり、缶蓋に
疵があって缶蓋の金属板にリーク電流が発生した場合に
は、4〜5KVの印加電圧によって塗膜が容易に破壊さ
れ、アース電極にリーク電流が流れることを示してい
る。
第4図に電極部分の他の実施例を示す。缶蓋位置決め用
昇降チャック11′に直接缶蓋1をその内面を上方とし
て真空吸引により取付ける。アース電極22、22′
は、缶蓋周縁の金属基材が露出しているカットエッジに
接触させる。
昇降チャック11′に直接缶蓋1をその内面を上方とし
て真空吸引により取付ける。アース電極22、22′
は、缶蓋周縁の金属基材が露出しているカットエッジに
接触させる。
前記実施例におけると同じ条件でこの電極を用いてテス
トしたところ、第1表に示すものと同一の結果を得た。
したがって、このようなアース電極も実用可能である。
前記第1の実施例に示した検査装置、検知機構並びに
電極を用い、検知条件も同一に設定し、直流の高電圧を
印加しテストを行った結果を第2表に示す。
トしたところ、第1表に示すものと同一の結果を得た。
したがって、このようなアース電極も実用可能である。
前記第1の実施例に示した検査装置、検知機構並びに
電極を用い、検知条件も同一に設定し、直流の高電圧を
印加しテストを行った結果を第2表に示す。
直流を用いた場合には公転電極と缶蓋の間隙が少し変わ
ると検知電圧は大きく変わるので、検知は可能である
が、前述のとおり、大量生産され寸法にバラツキのある
缶蓋、また検査装置上での缶蓋の固定位置のバラツキな
どを吸収するには、交流を使用する方がより有効である
と言える。
ると検知電圧は大きく変わるので、検知は可能である
が、前述のとおり、大量生産され寸法にバラツキのある
缶蓋、また検査装置上での缶蓋の固定位置のバラツキな
どを吸収するには、交流を使用する方がより有効である
と言える。
本発明は、小電極を公転させて被検体の検査部位を走査
し、検知時間は、電極が2回以上公転する微小時間の間
に行はれる。公転電極は常時一定速度で回転しているの
で、前記微小時間の間での公転電極の回転数と回転速度
は一定であるので検知精度が高く、かつ缶蓋は微小時間
の間所定の位置に固定するだけであり、缶蓋を回転させ
る必要がないので検査が高能率で行える。
し、検知時間は、電極が2回以上公転する微小時間の間
に行はれる。公転電極は常時一定速度で回転しているの
で、前記微小時間の間での公転電極の回転数と回転速度
は一定であるので検知精度が高く、かつ缶蓋は微小時間
の間所定の位置に固定するだけであり、缶蓋を回転させ
る必要がないので検査が高能率で行える。
本発明の装置は、移送されて来た缶蓋を位置決め用チャ
ックで固定し、該チャックを上昇して所定の検査位置に
缶蓋を保持し、小電極の方を公転するように構成したも
のであるから、缶蓋を回転させる場合のように缶蓋とチ
ャックとの摺接が避けられ、疵付きを生ずることがな
く、また缶蓋を安定して固定でき、更に検査済の缶蓋を
次の工程に移送するときにチャックを下降させるだけで
済み、高速で検査工程を実施でき、生産ラインに組込む
のに適したものである。
ックで固定し、該チャックを上昇して所定の検査位置に
缶蓋を保持し、小電極の方を公転するように構成したも
のであるから、缶蓋を回転させる場合のように缶蓋とチ
ャックとの摺接が避けられ、疵付きを生ずることがな
く、また缶蓋を安定して固定でき、更に検査済の缶蓋を
次の工程に移送するときにチャックを下降させるだけで
済み、高速で検査工程を実施でき、生産ラインに組込む
のに適したものである。
また電極を小型とすることができるので大電力を必要と
せずコスト安であるとともに、4〜5KVという比較的
低電圧の印加で検知が可能であるので、正常なプラスチ
ックフィルムが破壊されることもない。
せずコスト安であるとともに、4〜5KVという比較的
低電圧の印加で検知が可能であるので、正常なプラスチ
ックフィルムが破壊されることもない。
第1図は本発明の疵検知方法に使用される電極の一実施
例を示す一部断面図、第2図は検査対象となる積層材製
イージーオープニング缶蓋の外面の平面図、第3図は第
1図のA−A線の断面図、第4図は他の実施例を示す一
部断面図、第5図は検査装置の略図、第6図は電気系統
を示すブロック図、第7図及び第8図は、従来技術を示
す略図である。 5;タブ固定用リベット 6;リベットの凹陥穴 7;凹陥穴の周壁 11,11′;缶蓋位置決め用昇降チャック 12;アース電極 14;公転電極 15;公転電極ホルダー 18;高電圧発生器 19;リーク電流検出器 20;疵付蓋排出器
例を示す一部断面図、第2図は検査対象となる積層材製
イージーオープニング缶蓋の外面の平面図、第3図は第
1図のA−A線の断面図、第4図は他の実施例を示す一
部断面図、第5図は検査装置の略図、第6図は電気系統
を示すブロック図、第7図及び第8図は、従来技術を示
す略図である。 5;タブ固定用リベット 6;リベットの凹陥穴 7;凹陥穴の周壁 11,11′;缶蓋位置決め用昇降チャック 12;アース電極 14;公転電極 15;公転電極ホルダー 18;高電圧発生器 19;リーク電流検出器 20;疵付蓋排出器
Claims (2)
- 【請求項1】缶蓋用金属板基材の片面にプラスチックフ
ィルムを積層し、フィルムを積層した面を内面にして成
形したイージーオープニング缶蓋のタブ取付用リベット
内面凹陥穴部のフィルムに疵があるか否かを検知する方
法において、前記缶蓋の中心軸を軸とし、凹陥穴の中心
を通る半径で公転する小電極を前記缶蓋の内面側で缶蓋
内面と所定間隔を保つて回転させ、該電極が2回転以上
公転する微小時間の間に、前記公転電極に所定の高電圧
を印加し、公転電極とアース電極が当接している缶蓋と
の間に、所定電流値以上の電流がリーク電流として流れ
るか否かを検知することを特徴とする積層材製缶蓋の疵
検知方法。 - 【請求項2】缶蓋用金属板基材の片面にプラスチックフ
ィルムを積層し、フィルムを積層した面を内面にして成
形したイージーオープニング缶蓋を、内面を上側にして
間欠的に一枚ずつ検知器に移送する手段と、該検知器に
移送された缶蓋を固定し、検知する間缶蓋を所定検知位
置に上昇保持する昇降可能な位置決め用チャックと、缶
蓋の内面側で缶蓋内面と所定間隔を保ち、缶蓋の中心軸
を軸とし、凹陥穴の中心を通る半径で公転する小電極を
有する公転電極と、該電極が2回転以上公転する微小時
間、所定の高電圧を公転電極に印加する手段と、前記公
転電極とアース電極との間に、所定電流値以上のリーク
電流が流れたことを検知する手段とを備えたことを特徴
とする積層材製缶蓋の疵検知装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8516986A JPH0623716B2 (ja) | 1986-04-15 | 1986-04-15 | 積層材製缶蓋の疵検知方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8516986A JPH0623716B2 (ja) | 1986-04-15 | 1986-04-15 | 積層材製缶蓋の疵検知方法及び装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62242848A JPS62242848A (ja) | 1987-10-23 |
| JPH0623716B2 true JPH0623716B2 (ja) | 1994-03-30 |
Family
ID=13851157
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8516986A Expired - Fee Related JPH0623716B2 (ja) | 1986-04-15 | 1986-04-15 | 積層材製缶蓋の疵検知方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0623716B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2518128B2 (ja) * | 1992-08-27 | 1996-07-24 | 東洋製罐株式会社 | 金属缶内面被膜の欠陥検査装置 |
| CN107860811A (zh) * | 2017-12-21 | 2018-03-30 | 中国包装科研测试中心 | 易拉罐盖表面涂层完整性测试装置及测试方法 |
| CN112098475B (zh) * | 2020-09-24 | 2024-08-20 | 广东嘉仪仪器集团有限公司 | 罐内涂膜检测仪 |
-
1986
- 1986-04-15 JP JP8516986A patent/JPH0623716B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62242848A (ja) | 1987-10-23 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |