JPS62242848A - 積層材製缶蓋の疵検知方法及び装置 - Google Patents
積層材製缶蓋の疵検知方法及び装置Info
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- JPS62242848A JPS62242848A JP8516986A JP8516986A JPS62242848A JP S62242848 A JPS62242848 A JP S62242848A JP 8516986 A JP8516986 A JP 8516986A JP 8516986 A JP8516986 A JP 8516986A JP S62242848 A JPS62242848 A JP S62242848A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
３ 、＄ｇｖ’ｊ；ｐ 二ｉｉｉ誓゛晶〔産業上の利用
分野〕 本発明は、積層材製缶蓋の疵、特に金属板を基材とし、
内面となる側にプラスチックフィルムを有し、かつこの
内面となる側にスコア線引裂きタブ取付は用リベットに
より形成される凹陥穴を有してなるｍＭの該凹陥穴の周
壁のプラスチックフィルムの疵の有無を検知する方法及
び装置に関するものである。
分野〕 本発明は、積層材製缶蓋の疵、特に金属板を基材とし、
内面となる側にプラスチックフィルムを有し、かつこの
内面となる側にスコア線引裂きタブ取付は用リベットに
より形成される凹陥穴を有してなるｍＭの該凹陥穴の周
壁のプラスチックフィルムの疵の有無を検知する方法及
び装置に関するものである。
前記積層材製イージーオープニング缶蓋は公知であり、
その形状を第２図、第３図に示す。
その形状を第２図、第３図に示す。
第２図はイージーオープニング缶蓋の外面の外観を示す
もので、ｌは蓋、３はスコア線、４はスコア線引裂きタ
ブ、５はタブ取材用リベ−／ ｔ’である。
もので、ｌは蓋、３はスコア線、４はスコア線引裂きタ
ブ、５はタブ取材用リベ−／ ｔ’である。
第３図はイージーオープニング缶蓋の第２図におけるＡ
−Ａ断面を示すもので、２は内面側で、６がリベｙ ）
により形成される凹陥穴、７が凹陥穴の周壁である。
−Ａ断面を示すもので、２は内面側で、６がリベｙ ）
により形成される凹陥穴、７が凹陥穴の周壁である。
一方、スコア線引裂きタブの取付用リベ−／ トの成型
方法は、例えば特公昭５２−３９３５３公報に開示され
ているように、リベットを成形する工程及びタブ先リベ
ットに固定する工程で数回にわたって繰返し金属製のピ
ンが凹陥穴に挿入されるが、この金属製ピンと凹陥穴の
位置が少しでもずれた場合には、凹陥式周壁を金属製“
ピンがこすり、内面のプラス・ンチクフィルムを疵付け
、金属面を露出することとなる。
方法は、例えば特公昭５２−３９３５３公報に開示され
ているように、リベットを成形する工程及びタブ先リベ
ットに固定する工程で数回にわたって繰返し金属製のピ
ンが凹陥穴に挿入されるが、この金属製ピンと凹陥穴の
位置が少しでもずれた場合には、凹陥式周壁を金属製“
ピンがこすり、内面のプラス・ンチクフィルムを疵付け
、金属面を露出することとなる。
この缶盃の常法における大量生産においては、凹陥穴の
周壁におけるプラスチックフィルムに疵が入った缶等が
何％か生ずるのは避けられないのが実情であり、これに
対する有効な対策は未だ知られていない。
周壁におけるプラスチックフィルムに疵が入った缶等が
何％か生ずるのは避けられないのが実情であり、これに
対する有効な対策は未だ知られていない。
一方、プラスチックフィルムや塗膜のピンホール検査方
法として放電式検査方法が知られており、この方法はプ
ラスチックのボトルやプラスチック製のイージーオープ
ニング瓶蓋の検査に適用されている。
法として放電式検査方法が知られており、この方法はプ
ラスチックのボトルやプラスチック製のイージーオープ
ニング瓶蓋の検査に適用されている。
プラスチックボトルのピンホール検査は、実開昭６１−
２６１６５号公報に記載されている。これは第７図に示
すように、ボトル３１の壁に生じたピンホールの検査を
目的としたもので、ボトルの内外にボトルの壁に沿った
形状の内外電極３３．３４をボトル壁から離した状態で
対向して配置し、ボトルの載置台３２を回転させながら
、２５ないし３５ＫＶの電圧を内部電極３３と外部電極
３４との間に印加し、両電極間における放電の有無を検
知することにより行うものである。
２６１６５号公報に記載されている。これは第７図に示
すように、ボトル３１の壁に生じたピンホールの検査を
目的としたもので、ボトルの内外にボトルの壁に沿った
形状の内外電極３３．３４をボトル壁から離した状態で
対向して配置し、ボトルの載置台３２を回転させながら
、２５ないし３５ＫＶの電圧を内部電極３３と外部電極
３４との間に印加し、両電極間における放電の有無を検
知することにより行うものである。
また、プラスチック製のイージーオープニング瓶蓋の検
査は、第８図に示すものが知られている。これはスコア
＆ｔ４２を設けたプラスチック製瓶蓋４１を、瓶蓋の内
径にほぼ等しい径の下部電極４４に載置し、上部電極４
３はスコア線４２で囲まれた開口部をほぼ覆い得る大き
な径として下部電極４４に対向させたものである。。
査は、第８図に示すものが知られている。これはスコア
＆ｔ４２を設けたプラスチック製瓶蓋４１を、瓶蓋の内
径にほぼ等しい径の下部電極４４に載置し、上部電極４
３はスコア線４２で囲まれた開口部をほぼ覆い得る大き
な径として下部電極４４に対向させたものである。。
両電極は何れも回転せず、両電極間に高電圧を印加した
ときにＴ！Ｌ蓋にピンホールがあれば、上下電極間にリ
ーク電流が流れ、このリーク電流を検知することにより
、瓶１の疵を検出するものである。
ときにＴ！Ｌ蓋にピンホールがあれば、上下電極間にリ
ーク電流が流れ、このリーク電流を検知することにより
、瓶１の疵を検出するものである。
上記ボトルの検査方法のように被検体を回転するもので
あると、被検体が缶蓋の場合には、検知位置に移送され
た缶蓋を検知のために回転させ、検知終了後に回転を停
止声せた後に検知位置から次工程へ移動させねばならず
、一定時間に多数の缶２の検査を正確に行うには不向き
であり、検知効率が悪るくなるという欠点がある。
あると、被検体が缶蓋の場合には、検知位置に移送され
た缶蓋を検知のために回転させ、検知終了後に回転を停
止声せた後に検知位置から次工程へ移動させねばならず
、一定時間に多数の缶２の検査を正確に行うには不向き
であり、検知効率が悪るくなるという欠点がある。
また上記プラスチック製のイージーオープニング瓶蓋の
検査方法をｍ？ｆに適用すると、電極が缶蓋の中心から
凹陥穴までを半径とした大きいものとなり、大型の高電
圧発生装置を要し、コストア〒、プとなるばかりでなく
、非常に高電圧を印加しなければ検知出来ないこととな
り、数ミクロン〜６１０ミクロンのプラスチックフィル
ムや有機物は、この高電圧で破壊されてしまい、正常な
フィルム部分も疵付部と同じように検知してしまって検
知精度が極端に悪？なる。
検査方法をｍ？ｆに適用すると、電極が缶蓋の中心から
凹陥穴までを半径とした大きいものとなり、大型の高電
圧発生装置を要し、コストア〒、プとなるばかりでなく
、非常に高電圧を印加しなければ検知出来ないこととな
り、数ミクロン〜６１０ミクロンのプラスチックフィル
ムや有機物は、この高電圧で破壊されてしまい、正常な
フィルム部分も疵付部と同じように検知してしまって検
知精度が極端に悪？なる。
この発明は上記の欠点を解消した積層材製イージーオー
プニング缶蓋の疵検知のためになされたものであって、
１５０〜４００枚／分の缶蓋生産ラインに組込み、高精
度、高効率、高速での検知処理を可能にし、印加電圧が
低く、かつ確実に疵封缶佼を検知出来る方法及び装置を
得ることを目的とする。
プニング缶蓋の疵検知のためになされたものであって、
１５０〜４００枚／分の缶蓋生産ラインに組込み、高精
度、高効率、高速での検知処理を可能にし、印加電圧が
低く、かつ確実に疵封缶佼を検知出来る方法及び装置を
得ることを目的とする。
この発明は金属板を基材とし、数ミクロン〜数１００ミ
クロンの薄いプラスチックフィルムや有機物を貼り合わ
せた他の製品の疵検知にも勿論有効に使用できる。
クロンの薄いプラスチックフィルムや有機物を貼り合わ
せた他の製品の疵検知にも勿論有効に使用できる。
〔問題点を解決するための手段及び作用〕本発明は、フ
ィルムを積層した面を内面にして成形したイージーオー
プニング缶蓋を、内面を上側にして間欠的に一枚ずつ検
知器に移送し、検知器に移送された缶蓋をチャックで固
定し、該チャーツクを上昇して検知する開缶蓋を所定検
知位置に保持し、缶蓋の内面側で缶蓋内面と所定間隔を
保ち１缶蓋の中心軸を軸としかつ缶蓋の凹陥穴の中心を
通る半径で公転する小電極を有する公転電極を回転させ
、該公転電極が２回転以上公転する微小時間所定の高電
圧を公転電極に印加するように構成したものである。
ィルムを積層した面を内面にして成形したイージーオー
プニング缶蓋を、内面を上側にして間欠的に一枚ずつ検
知器に移送し、検知器に移送された缶蓋をチャックで固
定し、該チャーツクを上昇して検知する開缶蓋を所定検
知位置に保持し、缶蓋の内面側で缶蓋内面と所定間隔を
保ち１缶蓋の中心軸を軸としかつ缶蓋の凹陥穴の中心を
通る半径で公転する小電極を有する公転電極を回転させ
、該公転電極が２回転以上公転する微小時間所定の高電
圧を公転電極に印加するように構成したものである。
検知位置にある缶蓋の凹陥穴がどの方向を向いていても
、公転電極が回転する間に必ず凹陥穴付近を走査し、プ
ラスチックフィルムに疵があると、公転電極と缶蓋が当
接しているアース電極との間に所定電流値以上のリーク
電流が流れる。この所定以上の電流を検知することによ
り、積層材製イージーオープニング缶蓋に疵が存在する
ことを検知することができる。
、公転電極が回転する間に必ず凹陥穴付近を走査し、プ
ラスチックフィルムに疵があると、公転電極と缶蓋が当
接しているアース電極との間に所定電流値以上のリーク
電流が流れる。この所定以上の電流を検知することによ
り、積層材製イージーオープニング缶蓋に疵が存在する
ことを検知することができる。
疵の検知に用いたイージーオープニング缶蓋の形状は、
第２図及び第３図に示したとおりのものであり、８はパ
ネルで内面側に最も突出した部分である。
第２図及び第３図に示したとおりのものであり、８はパ
ネルで内面側に最も突出した部分である。
缶蓋に用いた積層材料は、外面となる側に通常のエポキ
シ塗料を塗布した０、２°５ｍｍの厚さのアルミ板の内
面となる側に、エポキシフェノール塗料を塗布し、更に
内面側にポリプロピレン系接着剤で３０ｇのポリプロピ
レンフィルムをラミネートしたものである。
シ塗料を塗布した０、２°５ｍｍの厚さのアルミ板の内
面となる側に、エポキシフェノール塗料を塗布し、更に
内面側にポリプロピレン系接着剤で３０ｇのポリプロピ
レンフィルムをラミネートしたものである。
勿論、アルミ板の内面側にホキシフエノールを塗布しな
いで、アルミ板の内面側に直接ポリプロピレン系接着剤
でポリプロピレンフィルムをラミネートした缶蓋の場合
も同様に検知可能であ、る。
いで、アルミ板の内面側に直接ポリプロピレン系接着剤
でポリプロピレンフィルムをラミネートした缶蓋の場合
も同様に検知可能であ、る。
疵検知のための検査装置の略図を第５図に示す。
缶蓋自動供給器１７から缶蓋が供給され、缶蓋は矢印の
ように右側から左側へ間欠的に等間隔で送られ進行する
が、缶蓋が検知器の下降位置にある位置決め用チャック
１１の位ｉ！（図に破線で示す）に来たとき、真空吸引
で缶蓋をチャックに固定し、次いで該チャックＩＬが上
昇（図の実線位置）シ、公転電極ホルダー１５に取付け
た公転電極１４と缶Ｍ１との間隙が所定の寸法となるよ
うなチャックの構造としである。
ように右側から左側へ間欠的に等間隔で送られ進行する
が、缶蓋が検知器の下降位置にある位置決め用チャック
１１の位ｉ！（図に破線で示す）に来たとき、真空吸引
で缶蓋をチャックに固定し、次いで該チャックＩＬが上
昇（図の実線位置）シ、公転電極ホルダー１５に取付け
た公転電極１４と缶Ｍ１との間隙が所定の寸法となるよ
うなチャックの構造としである。
２０は検知された疵付缶蓋の排出器であり、２１は疵の
検知されなかた缶蓋の植付器である。公転電極１４は高
電圧発生器１８に、チャック１１はリーク電流検知器１
９にそれぞれリード線１６．１３で＋ｌｉ統されている
。
検知されなかた缶蓋の植付器である。公転電極１４は高
電圧発生器１８に、チャック１１はリーク電流検知器１
９にそれぞれリード線１６．１３で＋ｌｉ統されている
。
缶Ｍ１を検知位置に保持し、公転電極ホールダー１５を
回転させ、公転電極１４に微小時間電圧を印加する。検
知位置にある缶蓋の凹陥穴がどの方向を向いていても、
公転電極１４は回転する間に必ず凹陥穴付近を走査し、
プラスチックフィルムに疵があると、アース電極１２に
リーク電流が流れる。
回転させ、公転電極１４に微小時間電圧を印加する。検
知位置にある缶蓋の凹陥穴がどの方向を向いていても、
公転電極１４は回転する間に必ず凹陥穴付近を走査し、
プラスチックフィルムに疵があると、アース電極１２に
リーク電流が流れる。
第６図に電気関係を中心とした検知機構を示す。
公転電極１４には、高電圧発生器１８からの電圧が電圧
設定器によって所定の電圧に調定されて印加され、この
電圧は電圧表示器で表示される。
設定器によって所定の電圧に調定されて印加され、この
電圧は電圧表示器で表示される。
一方、アース電極１２には、所定以上のリーク電流が発
生したときにこれを検出するリーク電流検出器１９が接
続され、その電流値は検出電流設定器によって調定され
る。リーク電流検出器の出力がＮｏ、Ｇｏ信号発生器に
入り、疵付蓋排出器２０を制御する。
生したときにこれを検出するリーク電流検出器１９が接
続され、その電流値は検出電流設定器によって調定され
る。リーク電流検出器の出力がＮｏ、Ｇｏ信号発生器に
入り、疵付蓋排出器２０を制御する。
第５図において、リーク電流検出器１９がリーク電流を
検出すると、実線位置にある疵付着排出器２０が破線位
置に変位し、疵付缶着は缶Ｍ積付器２１への移送経路か
ら排出される。
検出すると、実線位置にある疵付着排出器２０が破線位
置に変位し、疵付缶着は缶Ｍ積付器２１への移送経路か
ら排出される。
第１図に電極部分の概略図として缶蓋固定用チャック１
１が上昇して上死点にある状Ｓ（疵の検知位置）を示す
、９は凹陥穴の底面で、チャッり側は１２がアース電極
である。
１が上昇して上死点にある状Ｓ（疵の検知位置）を示す
、９は凹陥穴の底面で、チャッり側は１２がアース電極
である。
前述の装捏を用いて、あらかじめ疵が付いていることが
確認されている缶蓋と疵のないことが確認されている缶
蓋を用い、公転電極の最下端と缶蓋の最上端であるパネ
ル面の間隙をそれぞれ０゜５ｍｍ １．Ｏｍｍ、１．
５ｍｍとなるように設定し、印加電圧を４．２〜５ 、
ＯＫ”／の間で０゜２ＫＶＦＩＪ！隔に設定し、検出リ
ーク電流を０．５ｍ、ｌ！ｈ、１枚当りの検知時間を０
．０９７秒とし、この０゜０９７秒の間に公転電極が４
回転するように設定し、交流電源を用いてテストを行っ
た結果は、次頁の第１表に示すとおりである。
確認されている缶蓋と疵のないことが確認されている缶
蓋を用い、公転電極の最下端と缶蓋の最上端であるパネ
ル面の間隙をそれぞれ０゜５ｍｍ １．Ｏｍｍ、１．
５ｍｍとなるように設定し、印加電圧を４．２〜５ 、
ＯＫ”／の間で０゜２ＫＶＦＩＪ！隔に設定し、検出リ
ーク電流を０．５ｍ、ｌ！ｈ、１枚当りの検知時間を０
．０９７秒とし、この０゜０９７秒の間に公転電極が４
回転するように設定し、交流電源を用いてテストを行っ
た結果は、次頁の第１表に示すとおりである。
第１表 交流使用時の検出率
公転電極と缶蓋のパネル頂部８との間隔を０゜５ｍｍと
した場合には印加電圧が４．４ＫＶ以上で筬打缶蓋を全
数検知し排出した。また間隔が１．０ｍｍ及び１．５ｍ
ｍの場合は、それぞれ印加電圧が４．６ＫＶ、４．８Ｋ
Ｖ以上で筬打缶蓋を全敗検知し排出し、かつ疵のない良
品缶蓋は排出しなかった。
した場合には印加電圧が４．４ＫＶ以上で筬打缶蓋を全
数検知し排出した。また間隔が１．０ｍｍ及び１．５ｍ
ｍの場合は、それぞれ印加電圧が４．６ＫＶ、４．８Ｋ
Ｖ以上で筬打缶蓋を全敗検知し排出し、かつ疵のない良
品缶蓋は排出しなかった。
前述の通り、積層材内面のプラスチックフィルムは、あ
まり高い電圧を印加すると、プラスチックフィルム自体
が電圧によって破壊されてしまぃ、疵のない缶蓋も筬打
缶蓋と同じように排出されることとなるが、この方法で
は、そのような現象は生じなかったが、印加電圧を出来
るだけ低く設定することが好ましいことは言うまでもな
い。
まり高い電圧を印加すると、プラスチックフィルム自体
が電圧によって破壊されてしまぃ、疵のない缶蓋も筬打
缶蓋と同じように排出されることとなるが、この方法で
は、そのような現象は生じなかったが、印加電圧を出来
るだけ低く設定することが好ましいことは言うまでもな
い。
印加電圧を低く設定するためには第１表の結果から、公
転電極と缶蓋との間隔を出来るだけ近くに設定すること
がより有効であると言える。
転電極と缶蓋との間隔を出来るだけ近くに設定すること
がより有効であると言える。
なお、このテストに用いた缶蓋は大量生産されたちので
、パネルの高さが±０．２５ｍｍバラツキ、パネル頂部
と凹陥穴底面との間隔も±０．２５ｍｍのバラツキがあ
った。大量生産された缶蓋にこのようなバラツキを生ず
るのは仕方のないことであるが、この疵検知方法は、こ
のようなバラツキを充分吸収できて実用的であることが
判った。
、パネルの高さが±０．２５ｍｍバラツキ、パネル頂部
と凹陥穴底面との間隔も±０．２５ｍｍのバラツキがあ
った。大量生産された缶蓋にこのようなバラツキを生ず
るのは仕方のないことであるが、この疵検知方法は、こ
のようなバラツキを充分吸収できて実用的であることが
判った。
また、４〜５ＫＶの電圧を印加するときの電流値はほぼ
ＩＡと推定されるが、このままでは筬打缶蓋を検知した
とき缶蓋の金属板との間でスパークが生じ、まわりのプ
ラスチックフィルムに焼は焦げを生ずるが、１．５ＭΩ
の抵抗体を用いて印加時の電流値を下げたところ、筬打
缶蓋検知時に金属板との間に大気中の放電は生ずるが、
排出された缶蓋に外観上の異常はなく、耐蝕性の要求さ
れない用途に再利用できる。しかし、抵抗体を２ＭΩ以
上とした場合には筬打缶蓋の検知が不可能となった。
ＩＡと推定されるが、このままでは筬打缶蓋を検知した
とき缶蓋の金属板との間でスパークが生じ、まわりのプ
ラスチックフィルムに焼は焦げを生ずるが、１．５ＭΩ
の抵抗体を用いて印加時の電流値を下げたところ、筬打
缶蓋検知時に金属板との間に大気中の放電は生ずるが、
排出された缶蓋に外観上の異常はなく、耐蝕性の要求さ
れない用途に再利用できる。しかし、抵抗体を２ＭΩ以
上とした場合には筬打缶蓋の検知が不可能となった。
公転電極は、０．０５〜０．２ｍｍ径の導電性細線を結
束し、直径１．０〜５．０ｍｍとしたものが使用できる
が、リベ”／ ）凹陥穴の径を４．２５ｍｍとした場合
には、０．１ｍｍ径の導電性細線を結束し、直径３．０
ｍｍとしたものが好ましい。
束し、直径１．０〜５．０ｍｍとしたものが使用できる
が、リベ”／ ）凹陥穴の径を４．２５ｍｍとした場合
には、０．１ｍｍ径の導電性細線を結束し、直径３．０
ｍｍとしたものが好ましい。
このテストに用いられた第１図に示すアース電極１２は
、缶蓋の外面の絶縁体であるエポキシフェノール塗料に
接しているが、この塗膜は極めて薄いものであり、電極
と塗膜の間隔を３ｍｍとし、塗膜面と金属体とのリーク
電流が０．５ｍＡ以上流れる電圧を測定し比較したとこ
ろ、塗膜があっても、金属体より最高でも０．ＩＫＶｌ
、か高くなく、絶縁破壊電圧が低いものであり１缶蓋に
疵があって缶蓋の金属板にリーク電流が発生シタ場合に
は、４〜５ＫＶの印加電圧によって塗膜が容易に破壊さ
れ、アース電極にリーク電流が流れることを示している
。
、缶蓋の外面の絶縁体であるエポキシフェノール塗料に
接しているが、この塗膜は極めて薄いものであり、電極
と塗膜の間隔を３ｍｍとし、塗膜面と金属体とのリーク
電流が０．５ｍＡ以上流れる電圧を測定し比較したとこ
ろ、塗膜があっても、金属体より最高でも０．ＩＫＶｌ
、か高くなく、絶縁破壊電圧が低いものであり１缶蓋に
疵があって缶蓋の金属板にリーク電流が発生シタ場合に
は、４〜５ＫＶの印加電圧によって塗膜が容易に破壊さ
れ、アース電極にリーク電流が流れることを示している
。
第４図に電極部分の他の実施例を示す。缶蓋位置決め用
昇降チャック１１′に直接缶Ｍ１をその内面を上方とし
て真空吸引により取付ける。アース電極２２．２２゛は
、缶蓋周縁の金属基材が露出しているカットエツジに接
触させる。
昇降チャック１１′に直接缶Ｍ１をその内面を上方とし
て真空吸引により取付ける。アース電極２２．２２゛は
、缶蓋周縁の金属基材が露出しているカットエツジに接
触させる。
前記実施例におけると同じ条件でこの電極を用いてテス
トしたところ、第１表に示すものと同一の結果を得た。
トしたところ、第１表に示すものと同一の結果を得た。
したがって、このようなアース電極も実用可能である。
前記第１の実施例に示した検査装置、検知機構並びに
電極を用い、検知条件も同一に設定し、直流の高電圧を
印加しテストを行った結果を第２表に示す。
電極を用い、検知条件も同一に設定し、直流の高電圧を
印加しテストを行った結果を第２表に示す。
第２表 直流使用時の検出率
注１．筬打着検出率％／良品排出率％
注２８間隔の（）内は公転電極と凹陥穴底面の間隔を示
す。
す。
直流を用いた場合には公転電極と缶蓋の間隙が少し変わ
ると検知電圧は大きく変わるので、検知は可能であるが
、前述のとおり、大量生産され寸法にバラツキのある缶
蓋、また検査装置上での缶蓋の固定位置のバラツキなど
先吸収するには、交流を使用する方がより有効であると
言える。
ると検知電圧は大きく変わるので、検知は可能であるが
、前述のとおり、大量生産され寸法にバラツキのある缶
蓋、また検査装置上での缶蓋の固定位置のバラツキなど
先吸収するには、交流を使用する方がより有効であると
言える。
未発明は、小電極を公転させて被検体の検査部位を走査
し、検知時間は、電極が２回以上公転する微小時間の間
に行はれる。公転電極は常時一定速度で回転しているの
で、′前記微小時間の間での公転電極の回転数と回転速
度は一定であるので検知精度が高く、かつ缶蓋は微小時
間の間所定の位置に固定するだけであり１缶蓋を回転５
させる必要がないので検査が高能率で行える。
し、検知時間は、電極が２回以上公転する微小時間の間
に行はれる。公転電極は常時一定速度で回転しているの
で、′前記微小時間の間での公転電極の回転数と回転速
度は一定であるので検知精度が高く、かつ缶蓋は微小時
間の間所定の位置に固定するだけであり１缶蓋を回転５
させる必要がないので検査が高能率で行える。
未発明の装置は、移送されて来た缶蓋を位置決め用チャ
ックで固定し、該チャックを上昇して所定の検査位置に
缶蓋を保持し、小電極の方を公転するように構成したも
のであるから、缶蓋を回転−ｈｅ μｍ ｋＰＬ Ａ／
Ｆｌ ？ユＨ＋ ／ｒ−蓋し乙、 −Ｍ Ｌ Ａ−４
６Ａｔ 負けられ、疵付きを生ずることがなく、また缶
蓋を安定して固定でき、更に検査部の缶蓋を次の工程に
移送するときにチャンクを下降させるだけでイ斉み、高
速で検査工程を実施でき、生産ラインに組込むのに適し
たものである。
ックで固定し、該チャックを上昇して所定の検査位置に
缶蓋を保持し、小電極の方を公転するように構成したも
のであるから、缶蓋を回転−ｈｅ μｍ ｋＰＬ Ａ／
Ｆｌ ？ユＨ＋ ／ｒ−蓋し乙、 −Ｍ Ｌ Ａ−４
６Ａｔ 負けられ、疵付きを生ずることがなく、また缶
蓋を安定して固定でき、更に検査部の缶蓋を次の工程に
移送するときにチャンクを下降させるだけでイ斉み、高
速で検査工程を実施でき、生産ラインに組込むのに適し
たものである。
また電極を小型とすることができるので大電力を必要と
せずコスト安であるとともに、４〜５ＫＶという比較的
低電圧の印加で検知が可能であるので、正常なプラスチ
ックフィルムが破壊されることもない。
せずコスト安であるとともに、４〜５ＫＶという比較的
低電圧の印加で検知が可能であるので、正常なプラスチ
ックフィルムが破壊されることもない。
第１図は本発明の疵検知方法に使用される電極の一実施
例を示す一部断面図、第２図は検査対象となる積層材製
イージーオープニング缶蓋の外面の平面図、第３図は第
１図のＡ−Ａ線の断面図、第４図は他の実施例を示す一
部断面図、第５図は検査装置の略図、第６図は電気系統
を示すブロック図、第７図及び第８図は、従来技術を示
す略図である。 ５：タブＤｉｌ宇田リベー、ト ６、リベン）の凹陥穴 ７：凹陥穴の周壁 １１．１１°；缶蓋位置決め用昇降チャック１２；アー
ス電極 １４；公転電極 １５；公転電極ボルダ− １８；高電圧発生器 １９：リーク電流検出器 ２０；筬打着排出器
例を示す一部断面図、第２図は検査対象となる積層材製
イージーオープニング缶蓋の外面の平面図、第３図は第
１図のＡ−Ａ線の断面図、第４図は他の実施例を示す一
部断面図、第５図は検査装置の略図、第６図は電気系統
を示すブロック図、第７図及び第８図は、従来技術を示
す略図である。 ５：タブＤｉｌ宇田リベー、ト ６、リベン）の凹陥穴 ７：凹陥穴の周壁 １１．１１°；缶蓋位置決め用昇降チャック１２；アー
ス電極 １４；公転電極 １５；公転電極ボルダ− １８；高電圧発生器 １９：リーク電流検出器 ２０；筬打着排出器
Claims (2)
- （１）缶蓋用金属板基材の片面にプラスチックフィルム
を積層し、フィルムを積層した面を内面にして成形した
イージーオープニング缶蓋のタブ取付用リベット内面凹
陥穴部のフィルムに疵があるか否かを検知する方法にお
いて、前記缶蓋の中心軸を軸とし、凹陥穴の中心を通る
半径で公転する小電極を前記缶蓋の内面側で缶蓋内面と
所定間隔を保つて回転させ、該電極が２回転以上公転す
る微小時間の間に、前記公転電極に所定の高電圧を印加
し、公転電極とアース電極が当接している缶蓋との間に
、所定電流値以上の電流がリーク電流として流れるか否
かを検知することを特徴とする積層材製缶蓋の疵検知方
法。 - （２）缶蓋用金属板基材の片面にプラスチックフィルム
を積層し、フィルムを積層した面を内面にして成形した
イージーオープニング缶蓋を、内面を上側にして間欠的
に一枚ずつ検知器に移送する手段と、該検知器に移送さ
れた缶蓋を固定し、検知する間缶蓋を所定検知位置に上
昇保持する昇降可能な位置決め用チャックと、缶蓋の内
面側で缶蓋内面と所定間隔を保ち、缶蓋の中心軸を軸と
し、凹陥穴の中心を通る半径で公転する小電極を有する
公転電極と、該電極が２回転以上公転する微小時間、所
定の高電圧を公転電極に印加する手段と、前記公転電極
とアース電極との間に、所定電流値以上のリーク電流が
流れたことを検知する手段とを備えたことを特徴とする
積層材製缶蓋の疵検知装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8516986A JPH0623716B2 (ja) | 1986-04-15 | 1986-04-15 | 積層材製缶蓋の疵検知方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8516986A JPH0623716B2 (ja) | 1986-04-15 | 1986-04-15 | 積層材製缶蓋の疵検知方法及び装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62242848A true JPS62242848A (ja) | 1987-10-23 |
| JPH0623716B2 JPH0623716B2 (ja) | 1994-03-30 |
Family
ID=13851157
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8516986A Expired - Fee Related JPH0623716B2 (ja) | 1986-04-15 | 1986-04-15 | 積層材製缶蓋の疵検知方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0623716B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0674941A (ja) * | 1992-08-27 | 1994-03-18 | Toyo Seikan Kaisha Ltd | 金属缶内面被膜の欠陥検査方法と装置 |
| CN107860811A (zh) * | 2017-12-21 | 2018-03-30 | 中国包装科研测试中心 | 易拉罐盖表面涂层完整性测试装置及测试方法 |
| CN112098475A (zh) * | 2020-09-24 | 2020-12-18 | 广东嘉仪仪器集团有限公司 | 罐内涂膜检测仪 |
-
1986
- 1986-04-15 JP JP8516986A patent/JPH0623716B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0674941A (ja) * | 1992-08-27 | 1994-03-18 | Toyo Seikan Kaisha Ltd | 金属缶内面被膜の欠陥検査方法と装置 |
| CN107860811A (zh) * | 2017-12-21 | 2018-03-30 | 中国包装科研测试中心 | 易拉罐盖表面涂层完整性测试装置及测试方法 |
| CN112098475A (zh) * | 2020-09-24 | 2020-12-18 | 广东嘉仪仪器集团有限公司 | 罐内涂膜检测仪 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0623716B2 (ja) | 1994-03-30 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |