JPS60205683A - 外観判別方法及びその装置 - Google Patents
外観判別方法及びその装置Info
- Publication number
- JPS60205683A JPS60205683A JP59061348A JP6134884A JPS60205683A JP S60205683 A JPS60205683 A JP S60205683A JP 59061348 A JP59061348 A JP 59061348A JP 6134884 A JP6134884 A JP 6134884A JP S60205683 A JPS60205683 A JP S60205683A
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- Japan
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- perimeter
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の技術分野］
この発明は例えば蛍光管に付されるのマークなどの良否
を判別する外観判別方法及びその装置に関する。
を判別する外観判別方法及びその装置に関する。
［発明の技術的背景とその問題点］
例えば蛍光管に付されたマークなどの良否を判別する場
合、マークを撮像して得られる映像信号を２値化処理し
て面積値及び周囲長値をめ、これをもとに良否判断する
ことが考えられるが、２値化画像処理には透過光を用い
る方法と反射光を用いる方法とがある。透過光を用いる
方法は被検査対象物の影を利用するため高いコントラス
トが得られ２値化し易いが、この方法を利用できない条
件下では反射光を用いる方法が取られる。しかし、反射
光を用いる方法ではそれ程高いコントラストが得られず
、このため透過光を利用する場合と同様に２値化するた
めのレベル信号のレベル値を固定させると被検査対象物
の表面の濃淡の度合いによって検出面積や周囲長が規格
値範囲内に入らない場合が生じ、被検査対象物の良否判
別が不安定になる問題があった。
合、マークを撮像して得られる映像信号を２値化処理し
て面積値及び周囲長値をめ、これをもとに良否判断する
ことが考えられるが、２値化画像処理には透過光を用い
る方法と反射光を用いる方法とがある。透過光を用いる
方法は被検査対象物の影を利用するため高いコントラス
トが得られ２値化し易いが、この方法を利用できない条
件下では反射光を用いる方法が取られる。しかし、反射
光を用いる方法ではそれ程高いコントラストが得られず
、このため透過光を利用する場合と同様に２値化するた
めのレベル信号のレベル値を固定させると被検査対象物
の表面の濃淡の度合いによって検出面積や周囲長が規格
値範囲内に入らない場合が生じ、被検査対象物の良否判
別が不安定になる問題があった。
［発明の目的］
この発明はこのような問題を解決するために為されたも
ので、被検査対象物の良否判別をより確実にできる外観
判別方法及びその装置を提供することを目的とする。
ので、被検査対象物の良否判別をより確実にできる外観
判別方法及びその装置を提供することを目的とする。
［発明の概要］
この発明の一方は、被検査対象物の一定の画像範囲に入
る２次元の映像信号を予め設定したレベル信号で２値化
し、その２値化信号から映像の面積と周囲長をめ、その
面積値と周囲長値が共に予め設定した規格値範囲内に入
っているとき良品と判別するとともに、規格値範囲内に
入っていないときは前記レベル信号のレベル値を変えて
再度２値化信号から映像の面積と周囲長をめて面積値と
周囲長値が共に前記規格値範囲内に入っているか否かを
チェックして良品の判別を行ない、この処理をレベル信
号のレベル値を変えて複数回行なっても面積値と周囲長
値が共に規格値範囲内に入らないとき初めて不良品と判
別する外観判別方法であり、他の発明１よ上記方法を実
施する外観判別装置であり、このものは被検査対象物を
撮像して映像信号を出力する２次元イメージセンサ−と
、このイメージセンサ−による撮像範囲を設定するウィ
ンドウ作成回路と、このウィンドウ作成回路で設定され
たＰｉ像範囲における前記イメージセンサ−からの映像
信号を予め設定したレベル信号で２値化する２値化回路
と、この２値化回路からの２値化信号から映像の面積を
算出する面積算出手段と、前記２値化回路からの２値化
信号から映像の周囲長を算出する周囲長算出手段と、前
記面積算出手段で算出された面積値が予め設定された規
格値範囲に入っているか否かをチェックする面積値チェ
ック手段と、前記周囲長算出手段で算出された周囲長値
が予め設定された規格値範囲に入っているか否かをチェ
ックする周囲長値チェック手段と、前記面積値チェック
手段及び周囲長値チェック手段のいずれか一方が規格値
範囲に入っていないことを検出したとき前記２値化回路
の２値化レベル信号のレベル値を変化させるレベル可変
手段と、このレベル可変手段によるレベル可変回数をカ
ウントするカウント一手段と、このカウント手段が予め
設定した回数カウントするまでに前記面積値と周囲長値
が共に規格値範囲内に入ったときは被検査対象物を良品
と判別し、がっ゛前記カウント手段が予め設定した回数
カウントするまでに前記面積値と周囲長値が共に規格値
範囲内に入らないときは被検査対象物を不良品と判別す
る良否判別手段とを具備している。
る２次元の映像信号を予め設定したレベル信号で２値化
し、その２値化信号から映像の面積と周囲長をめ、その
面積値と周囲長値が共に予め設定した規格値範囲内に入
っているとき良品と判別するとともに、規格値範囲内に
入っていないときは前記レベル信号のレベル値を変えて
再度２値化信号から映像の面積と周囲長をめて面積値と
周囲長値が共に前記規格値範囲内に入っているか否かを
チェックして良品の判別を行ない、この処理をレベル信
号のレベル値を変えて複数回行なっても面積値と周囲長
値が共に規格値範囲内に入らないとき初めて不良品と判
別する外観判別方法であり、他の発明１よ上記方法を実
施する外観判別装置であり、このものは被検査対象物を
撮像して映像信号を出力する２次元イメージセンサ−と
、このイメージセンサ−による撮像範囲を設定するウィ
ンドウ作成回路と、このウィンドウ作成回路で設定され
たＰｉ像範囲における前記イメージセンサ−からの映像
信号を予め設定したレベル信号で２値化する２値化回路
と、この２値化回路からの２値化信号から映像の面積を
算出する面積算出手段と、前記２値化回路からの２値化
信号から映像の周囲長を算出する周囲長算出手段と、前
記面積算出手段で算出された面積値が予め設定された規
格値範囲に入っているか否かをチェックする面積値チェ
ック手段と、前記周囲長算出手段で算出された周囲長値
が予め設定された規格値範囲に入っているか否かをチェ
ックする周囲長値チェック手段と、前記面積値チェック
手段及び周囲長値チェック手段のいずれか一方が規格値
範囲に入っていないことを検出したとき前記２値化回路
の２値化レベル信号のレベル値を変化させるレベル可変
手段と、このレベル可変手段によるレベル可変回数をカ
ウントするカウント一手段と、このカウント手段が予め
設定した回数カウントするまでに前記面積値と周囲長値
が共に規格値範囲内に入ったときは被検査対象物を良品
と判別し、がっ゛前記カウント手段が予め設定した回数
カウントするまでに前記面積値と周囲長値が共に規格値
範囲内に入らないときは被検査対象物を不良品と判別す
る良否判別手段とを具備している。
［発明の実施例］
以下、この発明の実施例を図面を参照して説明する。
第１図において１は２次元のイメージセンサ−で、この
イメージセンサ−１で例えば蛍光ランプに付されたマー
クなどの被検査対象物をｍ像している。前記イメージセ
ンサ−１から出力される映像信号を信号増幅器２を介し
て２値化回路３に供給している。前記２値化回路３には
またＤ／Ａ変換回路４から２値化のためのレベル信号が
入力されるとともにウィンド作成回路５から撮像範囲を
決めるウィンド信号が入力されている。前記Ｄ／Ａ変換
回路４及びウィンド作成回路５はマイクロプロセッサ６
によって制御されている。前記２値化回路３からの２値
化信号を前記マイクロプロセッサ６に供給している。前
記マイクロプロセッサ６は第２図に示すようなカウンタ
メモリ７、面積規格範囲値設定メモリ８、周囲長規格範
囲値設定メモリ９、カウント上限値設定メモリ１０を設
けるとともに、前記２１ｉ化回路３からの２値化信号か
ら映像の面積を算出する面積算出手段、前記２値化回路
３からの２値化信号から映像の周囲長を算出する周囲長
算出手段、前記面積算出手段で算出された面積値が前記
面積規格範囲値メモリ８に予め設定されている規格値範
囲に入っているか否かをチェックする面積値チェック手
段、前記周囲長算出手段で算出された周囲長値が前記周
囲長規格範囲値メモリ９に予め設定されている規格値範
囲に入っているか否かをチェックする周囲長値チェック
手段、前記面積値チェック手段及び周囲長値チェック手
段のいずれか一方が規格値範囲に入っていない巳とを検
出したとき前記２ ｉＩＩ化回路の２値化レベル信号の
レベル値を変化させるレベル可変手段をそれぞれ設けて
いる。前記Ｄ／Ａ変換回路４は前記マイクロプロセッサ
６からディジタルなレベル設定信号を供給されてアナロ
グなレベル信号に変換し、前記２値化回路３に供給して
いる。前記ウィンドウ作成回路５は前記マイクロプロセ
ッサ６に制御されて第４図に示すようにＩ１ｇＩＡ範囲
を示すウィンドウ信号Ｗ１、Ｗ２、Ｗ３、Ｗ４を前記２
値化回路３に供給している。
イメージセンサ−１で例えば蛍光ランプに付されたマー
クなどの被検査対象物をｍ像している。前記イメージセ
ンサ−１から出力される映像信号を信号増幅器２を介し
て２値化回路３に供給している。前記２値化回路３には
またＤ／Ａ変換回路４から２値化のためのレベル信号が
入力されるとともにウィンド作成回路５から撮像範囲を
決めるウィンド信号が入力されている。前記Ｄ／Ａ変換
回路４及びウィンド作成回路５はマイクロプロセッサ６
によって制御されている。前記２値化回路３からの２値
化信号を前記マイクロプロセッサ６に供給している。前
記マイクロプロセッサ６は第２図に示すようなカウンタ
メモリ７、面積規格範囲値設定メモリ８、周囲長規格範
囲値設定メモリ９、カウント上限値設定メモリ１０を設
けるとともに、前記２１ｉ化回路３からの２値化信号か
ら映像の面積を算出する面積算出手段、前記２値化回路
３からの２値化信号から映像の周囲長を算出する周囲長
算出手段、前記面積算出手段で算出された面積値が前記
面積規格範囲値メモリ８に予め設定されている規格値範
囲に入っているか否かをチェックする面積値チェック手
段、前記周囲長算出手段で算出された周囲長値が前記周
囲長規格範囲値メモリ９に予め設定されている規格値範
囲に入っているか否かをチェックする周囲長値チェック
手段、前記面積値チェック手段及び周囲長値チェック手
段のいずれか一方が規格値範囲に入っていない巳とを検
出したとき前記２ ｉＩＩ化回路の２値化レベル信号の
レベル値を変化させるレベル可変手段をそれぞれ設けて
いる。前記Ｄ／Ａ変換回路４は前記マイクロプロセッサ
６からディジタルなレベル設定信号を供給されてアナロ
グなレベル信号に変換し、前記２値化回路３に供給して
いる。前記ウィンドウ作成回路５は前記マイクロプロセ
ッサ６に制御されて第４図に示すようにＩ１ｇＩＡ範囲
を示すウィンドウ信号Ｗ１、Ｗ２、Ｗ３、Ｗ４を前記２
値化回路３に供給している。
前記マイクロプロセッサ６はプログラムデータを内蔵し
、そのプログラムデータにより第３図に示すプログラム
処理を行なうようにしている。すなわち、２値化回路３
の２値化データを読込み先ず面積算出手段によって面積
を算出する。次にこの算出された面積値がメモリ８に設
定されている規格範囲に入っているか否かをチェックす
る。そして規格範囲内に入っていれば次に周囲長算出手
段によって周囲長を算出し、その周囲長値をメモリ９に
設定されている規格周囲長の範囲に入っているか否かを
チェックする。そしてこの周囲長も規格値範囲に入って
いれば被検査対象物を良品と判断して判別信号Ｓを出力
する。一方、面積値及び周囲長値のいずれか一方でも規
格値範囲に入っていなければ前記Ｄ／Ａ変換回路４に供
給するレベル信号のレベル値をディジタル量によって可
変する。そしてカウンタメモリ７の内容Ｎを＋１する。
、そのプログラムデータにより第３図に示すプログラム
処理を行なうようにしている。すなわち、２値化回路３
の２値化データを読込み先ず面積算出手段によって面積
を算出する。次にこの算出された面積値がメモリ８に設
定されている規格範囲に入っているか否かをチェックす
る。そして規格範囲内に入っていれば次に周囲長算出手
段によって周囲長を算出し、その周囲長値をメモリ９に
設定されている規格周囲長の範囲に入っているか否かを
チェックする。そしてこの周囲長も規格値範囲に入って
いれば被検査対象物を良品と判断して判別信号Ｓを出力
する。一方、面積値及び周囲長値のいずれか一方でも規
格値範囲に入っていなければ前記Ｄ／Ａ変換回路４に供
給するレベル信号のレベル値をディジタル量によって可
変する。そしてカウンタメモリ７の内容Ｎを＋１する。
このレベル可変調整は面積値及び周囲長値の両方とも規
格値範囲に入らない限りくり返し行われる。モしてカウ
ンタ７のカウント値Ｎがカウント上限値設定メモリ１０
に予め設定された値ｎより大きくなると被検査対象物を
不良品と判断して判別信号Ｓを出力し、かつＤ／Ａ変換
回路４に供給しているレベル信号を初期の値に復帰させ
る。
格値範囲に入らない限りくり返し行われる。モしてカウ
ンタ７のカウント値Ｎがカウント上限値設定メモリ１０
に予め設定された値ｎより大きくなると被検査対象物を
不良品と判断して判別信号Ｓを出力し、かつＤ／Ａ変換
回路４に供給しているレベル信号を初期の値に復帰させ
る。
この場合、前記Ｄ／Ａ変換回路４に対するマイクロプロ
セッサ６のレベル可変制卸は算出された面積値及び周囲
長値が初期設定された標準値に対して大きければ２値化
レベルを上げる方向に制御し、逆に小さければ２値化レ
ベルを下げる方向に制御する。
セッサ６のレベル可変制卸は算出された面積値及び周囲
長値が初期設定された標準値に対して大きければ２値化
レベルを上げる方向に制御し、逆に小さければ２値化レ
ベルを下げる方向に制御する。
このように構成された本発明実施例装置においては、第
４図の（ａ）に示されたような２値化信号が得られた場
合は面積値及び周囲長値のいずれか一方又は両方が規格
値範囲から大きい方に外れ、この場合は２値化レベルを
上げることによって規格値範囲に入るか否かをチェック
する。このチェックは規格値に入らない限りはカウンタ
メモリ７の値Ｎがカウント上限値ｎを越えるまで、すな
わちｎ回行われる。また、第４図の（ｂ）に示されたよ
うな２値化信号が得られた場合は逆に面積値及び周囲長
値のいずれか一方又は両方が規格値範囲から小さい方に
外れ、この場合は２値化レベルを下げることによって規
格値範囲に入るか否かをチェックする。このチェックも
規格値に入らない限りはカウンタメモリ７の値Ｎがカウ
ント上限値ｎを越えるまで、すなわちｎ回行われる。さ
らに、第４図の（Ｃ）に示されたような２値化信号が得
られた場合は面積値及び周囲長筒の両方とも規格値範囲
内に入り直ちに良品として判別される。
４図の（ａ）に示されたような２値化信号が得られた場
合は面積値及び周囲長値のいずれか一方又は両方が規格
値範囲から大きい方に外れ、この場合は２値化レベルを
上げることによって規格値範囲に入るか否かをチェック
する。このチェックは規格値に入らない限りはカウンタ
メモリ７の値Ｎがカウント上限値ｎを越えるまで、すな
わちｎ回行われる。また、第４図の（ｂ）に示されたよ
うな２値化信号が得られた場合は逆に面積値及び周囲長
値のいずれか一方又は両方が規格値範囲から小さい方に
外れ、この場合は２値化レベルを下げることによって規
格値範囲に入るか否かをチェックする。このチェックも
規格値に入らない限りはカウンタメモリ７の値Ｎがカウ
ント上限値ｎを越えるまで、すなわちｎ回行われる。さ
らに、第４図の（Ｃ）に示されたような２値化信号が得
られた場合は面積値及び周囲長筒の両方とも規格値範囲
内に入り直ちに良品として判別される。
このように、１回の検査によってたとえ面積値及び周囲
長筒のいずれか一方又は両方が規格値範囲から外れるこ
とがあってもそれで直ちに不良品判別を行なわないで、
２値化回路３の判別用の２値化レベルを最高ｎ回まで可
変して規格値範囲に入るか否かをチェックするようにし
ているので、被検査対象物の表面の濃淡が異なる場合で
もそれに応じた２値化レベル設定ができ、良否判別がよ
り確実にできる。
長筒のいずれか一方又は両方が規格値範囲から外れるこ
とがあってもそれで直ちに不良品判別を行なわないで、
２値化回路３の判別用の２値化レベルを最高ｎ回まで可
変して規格値範囲に入るか否かをチェックするようにし
ているので、被検査対象物の表面の濃淡が異なる場合で
もそれに応じた２値化レベル設定ができ、良否判別がよ
り確実にできる。
［発明の効果コ
以上詳述したようにこの発明によれば、被検査対象物の
良否判別をより確実にできる外観判別方法及びその装置
を提供できるものである。
良否判別をより確実にできる外観判別方法及びその装置
を提供できるものである。
図はこの発明の実施例を示すもので、第１図はブロック
図、第２図はマイクロプロセッサ内の主なメモリ構成を
示す図、第３図はマイクロプロセッサのプログラム処理
を示す流れ図、第４図の（ａ）、（ｂ）、（Ｃ）は２値
化画像の各パターンを示す図である。 １・・・２次元イメージセンサ−１３・・・２値化回路
、４・・・Ｄ／Ａ変換回路、５・・・ウィンドウ作成回
路、６・・・マイクロプロセッサ、７・・・カウンタメ
モリ、８・・・面積規格範囲値メモリ、９・・・周囲長
規格範囲値メモリ。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第１図 第４図 １
図、第２図はマイクロプロセッサ内の主なメモリ構成を
示す図、第３図はマイクロプロセッサのプログラム処理
を示す流れ図、第４図の（ａ）、（ｂ）、（Ｃ）は２値
化画像の各パターンを示す図である。 １・・・２次元イメージセンサ−１３・・・２値化回路
、４・・・Ｄ／Ａ変換回路、５・・・ウィンドウ作成回
路、６・・・マイクロプロセッサ、７・・・カウンタメ
モリ、８・・・面積規格範囲値メモリ、９・・・周囲長
規格範囲値メモリ。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第１図 第４図 １
Claims (1)
- （１）被検査対象物の一定の画像範囲に入る２次元の映
像信号を予め設定したレベル信号で２値化し、その２値
化信号から映像の面積と周囲長をめ、その面積値と周囲
長値が共に予め設定した規格値範囲内に入っているとき
良品と判別するとともに、規格値範囲内に入っていない
ときは前記レベル信号のレベル値を変えて再度２値化信
号から映像の面積と周囲長をめて面積値と周囲長値が共
に前記規格値範囲内に入っているか否かをチェックして
良品の判別を行ない、この処理をレベル信号のレベル値
を変えて複数回行なっても面積値と周囲長値が共に規格
値範囲内に入らないとき初めて不良品と判別することを
特徴とする外観判別方法。 （２１被検査対象物を撮像して映像信号を出力する２次
元イメージセンサ−と、このイメージセンサ−によるＩ
Ｉ像範囲を設定するウィンドウ作成回路と、このウィン
ドウ作成回路で設定されたｍｓ範囲における前記イメー
ジセンサ−からの映像信号を予め設定したレベル信号で
２値化する２値化回路と、この２値化回路からの２値化
信号から映像の面積を算出する面積算出手段と、前記２
１Ｎ化回路からの２値化信号から映像の周囲長を算出す
る周囲長算出手段と、前記面積算出手段で算出された面
積値が予め設定された規格値範囲に入っているか否かを
チェックする面積値チェック手段と、前記周囲長算出手
段で算出された周囲長値が予め設定された規格値範囲に
入っているか否かをチェックする周囲長値チェック手段
と、前記面積値チェック手段及び周囲長値チェック手段
のいずれか一方が規格値範囲に入っていないことを検出
したとき前記２値化回路の２値化レベル信号のレベル値
を変化させるレベル可変手段と、このレベル可変手段に
よるレベル可変回数をカウントするカウント手段と、こ
のカウント手段が予め設定した回数カウントするまでに
前記面積値と周囲長値が共に規格値範囲内に入ったとき
は被検査対象物を良品と判別し、かつ前記カウント手段
が予め設定した回数カウントするまでに前記面積値と周
囲長値が共に規格値範囲内に入らないときは被検査対象
物を不良品と判別する良否判別手段とを具備したことを
特徴とする外観判別装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59061348A JPS60205683A (ja) | 1984-03-29 | 1984-03-29 | 外観判別方法及びその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59061348A JPS60205683A (ja) | 1984-03-29 | 1984-03-29 | 外観判別方法及びその装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60205683A true JPS60205683A (ja) | 1985-10-17 |
Family
ID=13168537
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59061348A Pending JPS60205683A (ja) | 1984-03-29 | 1984-03-29 | 外観判別方法及びその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60205683A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63228278A (ja) * | 1987-03-17 | 1988-09-22 | Fujitsu Ltd | 光学式マ−ク読取り可能なｏｃｒ装置 |
| JPS6444583A (en) * | 1987-08-12 | 1989-02-16 | Fuji Xerox Co Ltd | Method for measuring shape of dot |
| JPS6444807A (en) * | 1987-08-12 | 1989-02-17 | Fuji Xerox Co Ltd | Measuring method of shape of pot |
| JPH0382905A (ja) * | 1989-08-25 | 1991-04-08 | Seikosha Co Ltd | 物体の認識方法 |
| JP2009294030A (ja) * | 2008-06-04 | 2009-12-17 | Tdk Corp | 閾値レベル自動演算装置と方法、位置決めマーク認識装置と方法および電子部品の製造方法 |
| US20150198540A1 (en) * | 2014-01-10 | 2015-07-16 | Ecolab Usa Inc. | Dry reagent based water analyzer |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58139566A (ja) * | 1982-02-15 | 1983-08-18 | Fuji Electric Co Ltd | 画像読取装置 |
-
1984
- 1984-03-29 JP JP59061348A patent/JPS60205683A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58139566A (ja) * | 1982-02-15 | 1983-08-18 | Fuji Electric Co Ltd | 画像読取装置 |
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