JPH06244835A - プロトコル試験方式 - Google Patents
プロトコル試験方式Info
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- JPH06244835A JPH06244835A JP5025293A JP2529393A JPH06244835A JP H06244835 A JPH06244835 A JP H06244835A JP 5025293 A JP5025293 A JP 5025293A JP 2529393 A JP2529393 A JP 2529393A JP H06244835 A JPH06244835 A JP H06244835A
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- JP
- Japan
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- test
- frame
- signal device
- isdn
- processor
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- Data Exchanges In Wide-Area Networks (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 正常時の試験に加えて異常時の試験を行なえ
るようにする。 【構成】 試験用プロセッサ装置１３は試験用信号装置
１４に試験時の動作を規定するコマンドを入力すると共
に、ＩＳＤＮ信号装置１１にリンク設定等のコマンドを
送出する。ＩＳＤＮ信号装置１１は該コマンドに基づい
て実際のレイヤ２処理を行なってリンク設定用フレーム
等を試験用信号装置１４に送出する。試験用信号装置１
４は入力された動作規定データに基づいて、ＩＳＤＮ信
号装置１１からのフレームを無視し、あるいは、ＩＳＤ
Ｎ信号装置１１からのフレームに対して送出すべきフレ
ームを廃棄し、あるいはＩＳＤＮ信号装置に送出すべき
フレームを別のフレームに変更して異常状態を作る。試
験用プロセッサ装置１３は異常状態において試験を行
い、ＩＳＤＮ信号装置１１あるいは試験用信号装置１４
から受信したデータに基づいてＩＳＤＮ信号装置１１の
正常、異常を判定する。
るようにする。 【構成】 試験用プロセッサ装置１３は試験用信号装置
１４に試験時の動作を規定するコマンドを入力すると共
に、ＩＳＤＮ信号装置１１にリンク設定等のコマンドを
送出する。ＩＳＤＮ信号装置１１は該コマンドに基づい
て実際のレイヤ２処理を行なってリンク設定用フレーム
等を試験用信号装置１４に送出する。試験用信号装置１
４は入力された動作規定データに基づいて、ＩＳＤＮ信
号装置１１からのフレームを無視し、あるいは、ＩＳＤ
Ｎ信号装置１１からのフレームに対して送出すべきフレ
ームを廃棄し、あるいはＩＳＤＮ信号装置に送出すべき
フレームを別のフレームに変更して異常状態を作る。試
験用プロセッサ装置１３は異常状態において試験を行
い、ＩＳＤＮ信号装置１１あるいは試験用信号装置１４
から受信したデータに基づいてＩＳＤＮ信号装置１１の
正常、異常を判定する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はＩＳＤＮにおけるレイヤ
２プロトコルを複数回線制御するＩＳＤＮ信号装置のプ
ロトコル試験方式に係わり、特に、正常シーケンスに加
えて異常シーケンスの試験ができ、しかも、全回線の試
験ができるプロトコル試験方式に関する。
２プロトコルを複数回線制御するＩＳＤＮ信号装置のプ
ロトコル試験方式に係わり、特に、正常シーケンスに加
えて異常シーケンスの試験ができ、しかも、全回線の試
験ができるプロトコル試験方式に関する。
【０００２】
【従来の技術】ＩＳＤＮにおいては、交換機側に基本イ
ンターフェース及び１次群速度インターフェースのＤチ
ャネルについて、ＣＣＩＴＴ I.440，Ｉ．441に準拠し
たレイヤ２処理を行なうＩＳＤＮ信号装置が設けられて
いる。図９はＩＳＤＮ信号装置の説明図であり、１はＩ
ＳＤＮ信号装置（ＩＳＥ）、２は加入者線端局装置、３
は加入者線、４は回線終端装置（ＤＳＵ）、５ａ〜５ｍ
は端末装置（ＴＥ１〜ＴＥｍ）である。ＩＳＤＮ信号装
置１はｎ回線（例えば６０回線）のレイヤ２処理を行な
えるようになっており、ｎch分のＤチャネルの多重・分
離を行なう多重・分離回路（ＭＰＸ／ＤＭＰＸ）１ａ
と、レイヤ１からレイヤ２方向には情報をＤＬＣＩ（デ
ータリンクコネクション識別子）毎に分離し、レイヤ２
からレイヤ１方向には情報を多重する分離・多重回路1b
-1〜1b-nと、ＤＬＣＩ対応に設けられ、ＬＡＰＤ個々の
リンクのレイヤ２手順制御を行なうＬＡＰＤ手順制御部
1c-1〜1c-nと、ｎchのそれぞれに対応して設けられ、Ｌ
ＡＰＤ多重リンク制御を行なうＬＡＰＤ制御共通部1d-1
〜1d-nと、共通制御部１ｅ等を備えている。
ンターフェース及び１次群速度インターフェースのＤチ
ャネルについて、ＣＣＩＴＴ I.440，Ｉ．441に準拠し
たレイヤ２処理を行なうＩＳＤＮ信号装置が設けられて
いる。図９はＩＳＤＮ信号装置の説明図であり、１はＩ
ＳＤＮ信号装置（ＩＳＥ）、２は加入者線端局装置、３
は加入者線、４は回線終端装置（ＤＳＵ）、５ａ〜５ｍ
は端末装置（ＴＥ１〜ＴＥｍ）である。ＩＳＤＮ信号装
置１はｎ回線（例えば６０回線）のレイヤ２処理を行な
えるようになっており、ｎch分のＤチャネルの多重・分
離を行なう多重・分離回路（ＭＰＸ／ＤＭＰＸ）１ａ
と、レイヤ１からレイヤ２方向には情報をＤＬＣＩ（デ
ータリンクコネクション識別子）毎に分離し、レイヤ２
からレイヤ１方向には情報を多重する分離・多重回路1b
-1〜1b-nと、ＤＬＣＩ対応に設けられ、ＬＡＰＤ個々の
リンクのレイヤ２手順制御を行なうＬＡＰＤ手順制御部
1c-1〜1c-nと、ｎchのそれぞれに対応して設けられ、Ｌ
ＡＰＤ多重リンク制御を行なうＬＡＰＤ制御共通部1d-1
〜1d-nと、共通制御部１ｅ等を備えている。
【０００３】かかるＩＳＤＮ信号装置１が正常に動作し
ているか試験するために、従来は、図１０に示すように
レイヤ２プロトコルの制御が可能な装置（レイヤ２ユニ
ット）６を対向として用意する。そして、試験に際し
て、試験用プロセッサ７よりＩＳＤＮ信号装置１にＴＥ
Ｉ，ＳＡＰＩを含むリンク設定コマンドを送出する。Ｉ
ＳＤＮ信号装置１は該コマンドに基づいた実際のレイヤ
２処理を行い、処理データをレイヤ２ユニット６に送出
する。また、レイヤ２ユニット６からの応答に基づいて
ＩＳＤＮ信号装置１は実際のレイヤ２処理を行い、処理
データを試験用プロセッサ装置７に入力する。試験用プ
ロセッサ７はＩＳＤＮ信号装置１より入力されたデータ
に基づいてＩＳＤＮ信号装置の正常、異常を判断する。
また、別の試験として、試験用プロセッサ７はレイヤ２
ユニット６を制御して、該レイヤ２ユニットよりＩＳＤ
Ｎ信号装置１にＴＥＩ，ＳＡＰＩを含むリンク設定コマ
ンドを送出する。ＩＳＤＮ信号装置１は実際のレイヤ２
処理を行い、処理データを試験用プロセッサ７に送出す
る。試験用プロセッサ７は受信データに基づいてＩＳＤ
Ｎ信号装置１の正常、異常を判断する。
ているか試験するために、従来は、図１０に示すように
レイヤ２プロトコルの制御が可能な装置（レイヤ２ユニ
ット）６を対向として用意する。そして、試験に際し
て、試験用プロセッサ７よりＩＳＤＮ信号装置１にＴＥ
Ｉ，ＳＡＰＩを含むリンク設定コマンドを送出する。Ｉ
ＳＤＮ信号装置１は該コマンドに基づいた実際のレイヤ
２処理を行い、処理データをレイヤ２ユニット６に送出
する。また、レイヤ２ユニット６からの応答に基づいて
ＩＳＤＮ信号装置１は実際のレイヤ２処理を行い、処理
データを試験用プロセッサ装置７に入力する。試験用プ
ロセッサ７はＩＳＤＮ信号装置１より入力されたデータ
に基づいてＩＳＤＮ信号装置の正常、異常を判断する。
また、別の試験として、試験用プロセッサ７はレイヤ２
ユニット６を制御して、該レイヤ２ユニットよりＩＳＤ
Ｎ信号装置１にＴＥＩ，ＳＡＰＩを含むリンク設定コマ
ンドを送出する。ＩＳＤＮ信号装置１は実際のレイヤ２
処理を行い、処理データを試験用プロセッサ７に送出す
る。試験用プロセッサ７は受信データに基づいてＩＳＤ
Ｎ信号装置１の正常、異常を判断する。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】かかる従来のプロトコ
ル試験方式では、対向の装置であるレイヤ２ユニットが
異常シーケンスをサポートしていないため、正常シーケ
ンスでの試験しかできない問題があった。換言すれば、
従来のプロトコル試験方式では、異常シーケンスでの試
験ができない。すなわち、異常状態時にＩＳＤＮ信号装
置が所定の処理を行なえるか否かの試験ができない。ま
た、ＩＳＤＮ信号装置は基本インターフェースの場合に
は数十回線のレイヤ２制御を行なっているが、従来のプ
ロトコル試験方式では、すべての回線を試験できない問
題があった。以上から本発明の目的は、正常シーケンス
に加えて異常シーケンスの試験もできるプロトコル試験
方式を提供することである。本発明の別の目的は、ＩＳ
ＤＮ信号装置の全回線を試験できるプロトコル試験方式
を提供することである。
ル試験方式では、対向の装置であるレイヤ２ユニットが
異常シーケンスをサポートしていないため、正常シーケ
ンスでの試験しかできない問題があった。換言すれば、
従来のプロトコル試験方式では、異常シーケンスでの試
験ができない。すなわち、異常状態時にＩＳＤＮ信号装
置が所定の処理を行なえるか否かの試験ができない。ま
た、ＩＳＤＮ信号装置は基本インターフェースの場合に
は数十回線のレイヤ２制御を行なっているが、従来のプ
ロトコル試験方式では、すべての回線を試験できない問
題があった。以上から本発明の目的は、正常シーケンス
に加えて異常シーケンスの試験もできるプロトコル試験
方式を提供することである。本発明の別の目的は、ＩＳ
ＤＮ信号装置の全回線を試験できるプロトコル試験方式
を提供することである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】図１は本発明の原理説明
図である。１１はＩＳＤＮにおけるレイヤ２プロトコル
を複数回線制御するＩＳＤＮ信号装置（ＩＳＥ）、１２
はＩＳＤＮ信号装置を試験する試験機であり、１３は試
験用プロセッサ装置（ＰＲＥ）、１４は試験用信号装置
（ＴＳＴ−ＩＳＥ）であり、ＩＳＤＮ信号装置１１と試
験用プロセッサ装置１３と試験用信号装置１４間で相互
にデータの授受が可能になっている。
図である。１１はＩＳＤＮにおけるレイヤ２プロトコル
を複数回線制御するＩＳＤＮ信号装置（ＩＳＥ）、１２
はＩＳＤＮ信号装置を試験する試験機であり、１３は試
験用プロセッサ装置（ＰＲＥ）、１４は試験用信号装置
（ＴＳＴ−ＩＳＥ）であり、ＩＳＤＮ信号装置１１と試
験用プロセッサ装置１３と試験用信号装置１４間で相互
にデータの授受が可能になっている。
【０００６】
【作用】試験用プロセッサ装置１３は試験用信号装置１
４に試験時の動作を規定するコマンドを入力すると共
に、ＩＳＤＮ信号装置１１にリンク設定等のコマンドを
送出する。ＩＳＤＮ信号装置１１は該コマンドに基づい
て実際のレイヤ２処理を行なってリンク設定用フレーム
等を試験用信号装置１４に送出する。試験用信号装置１
４は設定された動作規定コマンドに基づいて、ＩＳＤＮ
信号装置１１からのフレームを無視し、あるいは、ＩＳ
ＤＮ信号装置１１からのフレームに対して送出すべきフ
レームを廃棄し、あるいはＩＳＤＮ信号装置に送出すべ
きフレームを別のフレームに変更して異常状態を作る。
ＩＳＤＮ信号装置１１はかかる異常状態において、試験
用信号装置１４から入力されたデータに基づいて実際の
レイヤ２処理を行ない、試験用プロセッサ１３はＩＳＤ
Ｎ信号装置１１あるいは試験用信号装置１４から受信し
たデータに基づいてＩＳＤＮ信号装置１１の正常、異常
を判定する。このように、試験用信号装置１４は設定さ
れた動作規定コマンドに基づいて異常状態を作り、この
異常状態において試験を行うようにしたから、正常時の
試験に加えて異常時の試験ができる。また、試験用信号
装置１４に多回線の端末機能を持たせ、回線ごとに動作
規定コマンドを設定するようにすれば、複数の回線で同
時に試験ができ、しかも、それぞれの回線で異なるレイ
ヤ２の状態遷移を同時に行なわせる試験ができる。
４に試験時の動作を規定するコマンドを入力すると共
に、ＩＳＤＮ信号装置１１にリンク設定等のコマンドを
送出する。ＩＳＤＮ信号装置１１は該コマンドに基づい
て実際のレイヤ２処理を行なってリンク設定用フレーム
等を試験用信号装置１４に送出する。試験用信号装置１
４は設定された動作規定コマンドに基づいて、ＩＳＤＮ
信号装置１１からのフレームを無視し、あるいは、ＩＳ
ＤＮ信号装置１１からのフレームに対して送出すべきフ
レームを廃棄し、あるいはＩＳＤＮ信号装置に送出すべ
きフレームを別のフレームに変更して異常状態を作る。
ＩＳＤＮ信号装置１１はかかる異常状態において、試験
用信号装置１４から入力されたデータに基づいて実際の
レイヤ２処理を行ない、試験用プロセッサ１３はＩＳＤ
Ｎ信号装置１１あるいは試験用信号装置１４から受信し
たデータに基づいてＩＳＤＮ信号装置１１の正常、異常
を判定する。このように、試験用信号装置１４は設定さ
れた動作規定コマンドに基づいて異常状態を作り、この
異常状態において試験を行うようにしたから、正常時の
試験に加えて異常時の試験ができる。また、試験用信号
装置１４に多回線の端末機能を持たせ、回線ごとに動作
規定コマンドを設定するようにすれば、複数の回線で同
時に試験ができ、しかも、それぞれの回線で異なるレイ
ヤ２の状態遷移を同時に行なわせる試験ができる。
【０００７】
【実施例】全体の構成 図２は本発明に係わるプロトコル試験方式を具現化した
試験機の構成図である。１１は試験対象装置で、ＩＳＤ
Ｎにおけるレイヤ２プロトコルを複数回線制御するＩＳ
ＤＮ信号装置（ＩＳＥ）、１２はＩＳＤＮ信号装置を試
験する試験機である。１３は試験用プロセッサ装置（Ｐ
ＲＥ）、１４はｎ回線の端末機能を備えた試験用信号装
置（ＴＳＴ−ＩＳＥ）、１５は試験態様を特定するデー
タを入力すると共に、試験結果を表示するコンソール、
１６は試験用折り返し装置(ＴＳＴ ＳＷ)であり、ＩＳ
ＤＮ信号装置１１からのデータを試験用信号装置１４に
送り、試験用信号装置１４からのデータをＩＳＤＮ信号
装置１１に送るもの、１７、１８はバスアダプタ（Ｂ−
ＡＤＰ１，Ｂ−ＡＤＰ２）、１９，２０はハイウェイア
ダプタ（Ｈ−ＡＤＰ１，Ｈ−ＡＤＰ２）である。
試験機の構成図である。１１は試験対象装置で、ＩＳＤ
Ｎにおけるレイヤ２プロトコルを複数回線制御するＩＳ
ＤＮ信号装置（ＩＳＥ）、１２はＩＳＤＮ信号装置を試
験する試験機である。１３は試験用プロセッサ装置（Ｐ
ＲＥ）、１４はｎ回線の端末機能を備えた試験用信号装
置（ＴＳＴ−ＩＳＥ）、１５は試験態様を特定するデー
タを入力すると共に、試験結果を表示するコンソール、
１６は試験用折り返し装置(ＴＳＴ ＳＷ)であり、ＩＳ
ＤＮ信号装置１１からのデータを試験用信号装置１４に
送り、試験用信号装置１４からのデータをＩＳＤＮ信号
装置１１に送るもの、１７、１８はバスアダプタ（Ｂ−
ＡＤＰ１，Ｂ−ＡＤＰ２）、１９，２０はハイウェイア
ダプタ（Ｈ−ＡＤＰ１，Ｈ−ＡＤＰ２）である。
【０００８】試験用プロセッサ１３は、コンソール１
５からの指示に従って試験モード設定コマンドを試験用
信号装置１４に入力すると共に、ＩＳＤＮ信号装置１１
にリンク設定用等のコマンド（ＬＡＰＤフレーム）を入
力し、また、試験用信号装置１４とデータ授受して試
験をすすめ、更には、ＩＳＤＮ信号装置１１あるいは
試験用信号装置１４から受信したデータに基づいて該Ｉ
ＳＤＮ信号装置１１の正常、異常を判定し、判定結果
をコンソール１５に出力する。試験用設定コマンドは図
３に示すように２語（３２ビット／語）で構成され、コ
マンドコード、ＬＡＰＤナンバー、ＳＡＰＩ、ＴＥＩ及
びテストパターン（動作規定データ）を有している。コ
マンドコードは（７０）Hに固定され、ＬＡＰＤナンバ
ーは試験すべきＬＡＰＤ制御共通部1d-1〜1d-n（図９参
照）を示し、テストパターンは試験時における試験用信
号装置１４の動作を規定するものである。
５からの指示に従って試験モード設定コマンドを試験用
信号装置１４に入力すると共に、ＩＳＤＮ信号装置１１
にリンク設定用等のコマンド（ＬＡＰＤフレーム）を入
力し、また、試験用信号装置１４とデータ授受して試
験をすすめ、更には、ＩＳＤＮ信号装置１１あるいは
試験用信号装置１４から受信したデータに基づいて該Ｉ
ＳＤＮ信号装置１１の正常、異常を判定し、判定結果
をコンソール１５に出力する。試験用設定コマンドは図
３に示すように２語（３２ビット／語）で構成され、コ
マンドコード、ＬＡＰＤナンバー、ＳＡＰＩ、ＴＥＩ及
びテストパターン（動作規定データ）を有している。コ
マンドコードは（７０）Hに固定され、ＬＡＰＤナンバ
ーは試験すべきＬＡＰＤ制御共通部1d-1〜1d-n（図９参
照）を示し、テストパターンは試験時における試験用信
号装置１４の動作を規定するものである。
【０００９】テストパターンは、例えば図４に示すパタ
ーンがあり、以下に示す動作を行なう。すなわち、(1)
テストパターン０は試験モードを解除する（網モードに
する）もの、(2) テストパターン１は初期状態（状態
４′）において、ＳＡＢＭＥフレームを無視する動作を
規定するもの、(3) テストパターン２は初期状態４′に
おいてＳＡＢＭＥフレームを受けてＵＡフレームを返さ
ない動作を規定するもの、(4) テストパターン３はリン
ク設定状態７においてＤＩＳＣフレームを無視する動作
を規定するもの、(5) テストパターン４はリンク設定状
態７においてＤＩＳＣフレームを受けて、ＵＡフレーム
を返さない動作を規定するもの、(6) テストパターン５
はリンク設定状態７においてＲＲフレームを受けて、Ｒ
Ｒフレームを返さない動作を規定するもの、(7) テスト
パターン６はリンク設定状態７においてＲＲフレームを
受けて、ＲＲフレームを返さずに、ＤＭフレームを返す
動作を規定するもの、(8) テストパターン７はリンク設
定状態７においてＲＲフレームを受けて、ＲＲフレーム
を返さずに、ＦＲＭＲフレームを返す動作を規定するも
のである。尚、テストパターンは上記０〜７に限るもの
ではなく、種々設定できる。
ーンがあり、以下に示す動作を行なう。すなわち、(1)
テストパターン０は試験モードを解除する（網モードに
する）もの、(2) テストパターン１は初期状態（状態
４′）において、ＳＡＢＭＥフレームを無視する動作を
規定するもの、(3) テストパターン２は初期状態４′に
おいてＳＡＢＭＥフレームを受けてＵＡフレームを返さ
ない動作を規定するもの、(4) テストパターン３はリン
ク設定状態７においてＤＩＳＣフレームを無視する動作
を規定するもの、(5) テストパターン４はリンク設定状
態７においてＤＩＳＣフレームを受けて、ＵＡフレーム
を返さない動作を規定するもの、(6) テストパターン５
はリンク設定状態７においてＲＲフレームを受けて、Ｒ
Ｒフレームを返さない動作を規定するもの、(7) テスト
パターン６はリンク設定状態７においてＲＲフレームを
受けて、ＲＲフレームを返さずに、ＤＭフレームを返す
動作を規定するもの、(8) テストパターン７はリンク設
定状態７においてＲＲフレームを受けて、ＲＲフレーム
を返さずに、ＦＲＭＲフレームを返す動作を規定するも
のである。尚、テストパターンは上記０〜７に限るもの
ではなく、種々設定できる。
【００１０】試験用信号装置１４には、各テストパター
ンに応じて図５に示すようにファームウェアが用意され
ており、試験用プロセッサ１３から指示されたテストパ
ターンに応じたファームウェアに基づいてフレームを廃
棄し、あるいは送出すべきフレームを別のフレームに変
更し、あるいはＩＳＤＮ信号装置からのフレームを無視
して異常状態を作り、該異常状態時における試験結果を
ＩＳＤＮ信号装置１１に送出するようになっている。
ンに応じて図５に示すようにファームウェアが用意され
ており、試験用プロセッサ１３から指示されたテストパ
ターンに応じたファームウェアに基づいてフレームを廃
棄し、あるいは送出すべきフレームを別のフレームに変
更し、あるいはＩＳＤＮ信号装置からのフレームを無視
して異常状態を作り、該異常状態時における試験結果を
ＩＳＤＮ信号装置１１に送出するようになっている。
【００１１】プロトコル試験動作 以下、テストパターンに基づいて、ＩＳＤＮ信号装置１
１からのフレームに対して送出すべきフレームを廃棄し
た場合、送出すべきフレームを別のフレームに変更した
場合、ＩＳＤＮ信号装置からのフレームを無視する場合
におけるプロトコル試験動作を説明する。 (a) 送出すべきフレームの廃棄 図６は試験用信号装置１４が送出すべきフレームを廃棄
する（送出しない）場合におけるプロトコル試験手順説
明図である。コンソール１５より、試験すべきＬＡＰＤ
番号（回線に対応する）、ＳＡＰＩ、ＴＥＩを入力する
と共に、テストパターンとして「２」を入力する。これ
により、試験用プロセッサ（ＰＲＥ）１３は折り返し用
装置１６をオンさせると共に、試験用信号装置（ＴＳＴ
−ＩＳＥ）１４に試験用設定コマンドを送る。試験用信
号装置１４は該コマンドを受信すると、試験モードにな
り、テストパターン２に応じたファームウェア３を起動
し、コマンド終了を試験用プロセッサ１２に返す。
１からのフレームに対して送出すべきフレームを廃棄し
た場合、送出すべきフレームを別のフレームに変更した
場合、ＩＳＤＮ信号装置からのフレームを無視する場合
におけるプロトコル試験動作を説明する。 (a) 送出すべきフレームの廃棄 図６は試験用信号装置１４が送出すべきフレームを廃棄
する（送出しない）場合におけるプロトコル試験手順説
明図である。コンソール１５より、試験すべきＬＡＰＤ
番号（回線に対応する）、ＳＡＰＩ、ＴＥＩを入力する
と共に、テストパターンとして「２」を入力する。これ
により、試験用プロセッサ（ＰＲＥ）１３は折り返し用
装置１６をオンさせると共に、試験用信号装置（ＴＳＴ
−ＩＳＥ）１４に試験用設定コマンドを送る。試験用信
号装置１４は該コマンドを受信すると、試験モードにな
り、テストパターン２に応じたファームウェア３を起動
し、コマンド終了を試験用プロセッサ１２に返す。
【００１２】また、試験用プロセッサ１３はＩＳＤＮ信
号装置１１に指定されたＳＡＰＩ，ＴＥＩを含むリンク
設定コマンドを送出する。ＩＳＤＮ信号装置１１はコマ
ンド終了を返すと共に、実際のレイヤ２処理を行なっ
て、リンク設定用のＳＡＢＭＥフレームをハイウェイア
ダプタ１９→折り返し用装置１６→ハイウェイアダプタ
２０を介して試験用信号装置１４に送出し、リンク設定
待ち状態５になる。試験用信号装置１４はリンク設定が
可能であるから、通常ＳＡＢＭＥフレームに対してＵＡ
フレームを返すが、この場合はＵＡフレームを送出せず
廃棄する。ついで、試験用信号装置１４はリンク設定表
示データを試験用プロセッサ１３に通知する。このリン
ク設定表示データの受信により、試験用プロセッサ１３
はリンク設定コマンドに対してＩＳＤＮ信号装置１１が
正しく動作してＳＡＢＭＥを出力したことを認識でき
る。尚、障害によりＩＳＤＮ信号装置１１からＳＡＢＭ
Ｅフレームが送出されなければ、試験用信号装置１４は
リンク設定表示データを試験用プロセッサ１３に送出し
ないから異常検出ができる。
号装置１１に指定されたＳＡＰＩ，ＴＥＩを含むリンク
設定コマンドを送出する。ＩＳＤＮ信号装置１１はコマ
ンド終了を返すと共に、実際のレイヤ２処理を行なっ
て、リンク設定用のＳＡＢＭＥフレームをハイウェイア
ダプタ１９→折り返し用装置１６→ハイウェイアダプタ
２０を介して試験用信号装置１４に送出し、リンク設定
待ち状態５になる。試験用信号装置１４はリンク設定が
可能であるから、通常ＳＡＢＭＥフレームに対してＵＡ
フレームを返すが、この場合はＵＡフレームを送出せず
廃棄する。ついで、試験用信号装置１４はリンク設定表
示データを試験用プロセッサ１３に通知する。このリン
ク設定表示データの受信により、試験用プロセッサ１３
はリンク設定コマンドに対してＩＳＤＮ信号装置１１が
正しく動作してＳＡＢＭＥを出力したことを認識でき
る。尚、障害によりＩＳＤＮ信号装置１１からＳＡＢＭ
Ｅフレームが送出されなければ、試験用信号装置１４は
リンク設定表示データを試験用プロセッサ１３に送出し
ないから異常検出ができる。
【００１３】ついで、試験用プロセッサ１３はリンク解
放コマンドを試験用信号装置１４に送出する。試験用信
号装置１４は該コマンドを受信するとコマンド終了を試
験用プロセッサ１３に返すと共に、ＤＩＳＣフレームを
ハイウェイアダプタ２０→折り返し用装置１６→ハイウ
ェイアダプタ１９を介してＩＳＤＮ信号装置１１に送出
する。ＩＳＤＮ信号装置１１は状態５（リンク設定待ち
状態）にあるから、ＤＩＳＣフレームに対してＤＭフレ
ームを応答し、試験用信号装置１４はＤＭフレームの受
信により試験用プロセッサ１３にリンク解放確認データ
を送出する。これにより、試験用プロセッサ１３は、リ
ンク待ち状態５においてＤＩＳＣフレームに対してＩＳ
ＤＮ信号装置１１が正しくＤＭフレームを送出したこと
を確認できる。尚、リンク解放確認データを受信しない
場合には、ＩＳＤＮ信号装置１１は異常であると判定さ
れる。
放コマンドを試験用信号装置１４に送出する。試験用信
号装置１４は該コマンドを受信するとコマンド終了を試
験用プロセッサ１３に返すと共に、ＤＩＳＣフレームを
ハイウェイアダプタ２０→折り返し用装置１６→ハイウ
ェイアダプタ１９を介してＩＳＤＮ信号装置１１に送出
する。ＩＳＤＮ信号装置１１は状態５（リンク設定待ち
状態）にあるから、ＤＩＳＣフレームに対してＤＭフレ
ームを応答し、試験用信号装置１４はＤＭフレームの受
信により試験用プロセッサ１３にリンク解放確認データ
を送出する。これにより、試験用プロセッサ１３は、リ
ンク待ち状態５においてＤＩＳＣフレームに対してＩＳ
ＤＮ信号装置１１が正しくＤＭフレームを送出したこと
を確認できる。尚、リンク解放確認データを受信しない
場合には、ＩＳＤＮ信号装置１１は異常であると判定さ
れる。
【００１４】(b) 送出フレームの変更 図７は試験用信号装置１４が送出すべきフレームを別の
フレームに変更した場合におけるプロトコル試験手順説
明図である。コンソール１５より、試験すべきＬＡＰＤ
番号（回線に対応する）、ＳＡＰＩ、ＴＥＩを入力する
と共に、テストパターンとして「６」を入力する。これ
により、試験用プロセッサ（ＰＲＥ）１３は折り返し用
装置１６をオンさせると共に、試験用信号装置（ＴＳＴ
−ＩＳＥ）１４に試験用設定コマンドを送る。試験用信
号装置１４は該コマンドを受信すると、試験モードにな
り、テストパターン６に応じたファームウェア５を起動
し、コマンド終了を試験用プロセッサ１２に返す。
フレームに変更した場合におけるプロトコル試験手順説
明図である。コンソール１５より、試験すべきＬＡＰＤ
番号（回線に対応する）、ＳＡＰＩ、ＴＥＩを入力する
と共に、テストパターンとして「６」を入力する。これ
により、試験用プロセッサ（ＰＲＥ）１３は折り返し用
装置１６をオンさせると共に、試験用信号装置（ＴＳＴ
−ＩＳＥ）１４に試験用設定コマンドを送る。試験用信
号装置１４は該コマンドを受信すると、試験モードにな
り、テストパターン６に応じたファームウェア５を起動
し、コマンド終了を試験用プロセッサ１２に返す。
【００１５】また、試験用プロセッサ１３はＩＳＤＮ信
号装置１１に指定されたＳＡＰＩ，ＴＥＩを含むリンク
設定コマンドを送出する。ＩＳＤＮ信号装置１１はコマ
ンド終了を返すと共に、実際のレイヤ２処理を行なっ
て、リンク設定用のＳＡＢＭＥフレームをハイウェイア
ダプタ１９→折り返し用装置１６→ハイウェイアダプタ
２０を介して試験用信号装置１４に送出し、リンク設定
待ち状態５になる。試験用信号装置１４はリンク設定が
可能であるから、ＳＡＢＭＥフレームに対してＵＡフレ
ームを応答すると共に、リンク設定表示データを試験用
プロセッサ１３に通知する。このリンク設定表示データ
の受信により、試験用プロセッサ１３はリンク設定コマ
ンドに対してＩＳＤＮ信号装置１１が正しく動作してＳ
ＡＢＭＥを出力したことを認識できる。
号装置１１に指定されたＳＡＰＩ，ＴＥＩを含むリンク
設定コマンドを送出する。ＩＳＤＮ信号装置１１はコマ
ンド終了を返すと共に、実際のレイヤ２処理を行なっ
て、リンク設定用のＳＡＢＭＥフレームをハイウェイア
ダプタ１９→折り返し用装置１６→ハイウェイアダプタ
２０を介して試験用信号装置１４に送出し、リンク設定
待ち状態５になる。試験用信号装置１４はリンク設定が
可能であるから、ＳＡＢＭＥフレームに対してＵＡフレ
ームを応答すると共に、リンク設定表示データを試験用
プロセッサ１３に通知する。このリンク設定表示データ
の受信により、試験用プロセッサ１３はリンク設定コマ
ンドに対してＩＳＤＮ信号装置１１が正しく動作してＳ
ＡＢＭＥを出力したことを認識できる。
【００１６】また、ＩＳＤＮ信号装置１１はＵＡフレー
ムを受信すると、リンク設定確認データを試験用プロセ
ッサ１３に送出する。このリンク設定確認データの受信
により、試験用プロセッサ１３はＵＡフレームの受信に
対してＩＳＤＮ信号装置１１が正しく動作したと認識で
きる。以上により、ＩＳＤＮ信号装置１１と試験用信号
装置１４間のリンクが設定されているリンク設定状態７
において、送出すべき情報が無いとＩＳＤＮ信号装置１
１は所定時間後に、ＲＲフレームを試験用信号装置１４
に送出し、タイムアウト状態８になる。試験用信号装置
１４はＲＲフレームを受信すると、通常ＲＲフレームを
応答する。しかし、テストパターン６では試験用信号装
置１４は応答すべきＲＲフレームをＤＭフレームに変更
して応答する。ＩＳＤＮ信号装置１１はＤＭフレームを
受信するとＭＤＬエラーを試験用プロセッサ１３に通知
する。この通知により、試験用プロセッサ１３はＩＳＤ
Ｎ信号装置１１がタイムアウト状態８においてＤＭフレ
ームを受信すると正しく動作してＭＤＬエラーを発生す
ることを確認できる。
ムを受信すると、リンク設定確認データを試験用プロセ
ッサ１３に送出する。このリンク設定確認データの受信
により、試験用プロセッサ１３はＵＡフレームの受信に
対してＩＳＤＮ信号装置１１が正しく動作したと認識で
きる。以上により、ＩＳＤＮ信号装置１１と試験用信号
装置１４間のリンクが設定されているリンク設定状態７
において、送出すべき情報が無いとＩＳＤＮ信号装置１
１は所定時間後に、ＲＲフレームを試験用信号装置１４
に送出し、タイムアウト状態８になる。試験用信号装置
１４はＲＲフレームを受信すると、通常ＲＲフレームを
応答する。しかし、テストパターン６では試験用信号装
置１４は応答すべきＲＲフレームをＤＭフレームに変更
して応答する。ＩＳＤＮ信号装置１１はＤＭフレームを
受信するとＭＤＬエラーを試験用プロセッサ１３に通知
する。この通知により、試験用プロセッサ１３はＩＳＤ
Ｎ信号装置１１がタイムアウト状態８においてＤＭフレ
ームを受信すると正しく動作してＭＤＬエラーを発生す
ることを確認できる。
【００１７】(c) 受信フレームの廃棄 図８は試験用信号装置１４が受信したフレームを廃棄す
る（無視する）場合におけるプロトコル試験手順説明図
である。コンソール１５より、試験すべきＬＡＰＤ番号
（回線に対応する）、ＳＡＰＩ、ＴＥＩを入力すると共
に、テストパターンとして「１」を入力する。これによ
り、試験用プロセッサ（ＰＲＥ）１３は折り返し用装置
１６をオンさせると共に、試験用信号装置（ＴＳＴ−Ｉ
ＳＥ）１４に試験用設定コマンドを送る。試験用信号装
置１４は該コマンドを受信すると、試験モードになり、
テストパターン１に応じたファームウェア２を起動し、
コマンド終了を試験用プロセッサ１３に返す。また、試
験用プロセッサ１３はＩＳＤＮ信号装置１１に指定され
たＳＡＰＩ，ＴＥＩを含むリンク設定コマンドを送出す
る。ＩＳＤＮ信号装置１１はコマンド終了を返すと共
に、実際のレイヤ２処理を行なって、リンク設定用のＳ
ＡＢＭＥフレームをハイウェイアダプタ１９→折り返し
用装置１６→ハイウェイアダプタ２０を介して試験用信
号装置１４に送出し、リンク設定待ち状態５になる。
る（無視する）場合におけるプロトコル試験手順説明図
である。コンソール１５より、試験すべきＬＡＰＤ番号
（回線に対応する）、ＳＡＰＩ、ＴＥＩを入力すると共
に、テストパターンとして「１」を入力する。これによ
り、試験用プロセッサ（ＰＲＥ）１３は折り返し用装置
１６をオンさせると共に、試験用信号装置（ＴＳＴ−Ｉ
ＳＥ）１４に試験用設定コマンドを送る。試験用信号装
置１４は該コマンドを受信すると、試験モードになり、
テストパターン１に応じたファームウェア２を起動し、
コマンド終了を試験用プロセッサ１３に返す。また、試
験用プロセッサ１３はＩＳＤＮ信号装置１１に指定され
たＳＡＰＩ，ＴＥＩを含むリンク設定コマンドを送出す
る。ＩＳＤＮ信号装置１１はコマンド終了を返すと共
に、実際のレイヤ２処理を行なって、リンク設定用のＳ
ＡＢＭＥフレームをハイウェイアダプタ１９→折り返し
用装置１６→ハイウェイアダプタ２０を介して試験用信
号装置１４に送出し、リンク設定待ち状態５になる。
【００１８】試験用信号装置１４はリンク設定が可能で
あるから、通常ＳＡＢＭＥフレームに対してＵＡフレー
ムを返すが、該ＳＡＢＭＥフレームを無視する。つい
で、試験用プロセッサ１３より試験用信号装置１４にリ
ンク設定コマンドを送出する。試験用信号装置１４はコ
マンド終了を返すと共に、リンク設定用のＳＡＢＭＥフ
レームをハイウェイアダプタ２０→折り返し用装置１６
→ハイウェイアダプタ１９を介してＩＳＤＮ信号装置１
１に送出し、リンク設定待ち状態５になる。ＩＳＤＮ信
号装置１１はＳＡＢＭＥフレームを受信するとＵＡフレ
ームを応答し、リンク設定待ち状態５を保持する。試験
用信号装置１４はＵＡフレームを受信すると、リンク設
定確認データを試験用プロセッサ１３に通知する。この
リンク設定確認データの受信により、試験用プロセッサ
１３はＩＳＤＮ信号装置１１がリンク設定待ち状態５に
おいてＳＡＢＭＥフレームを受信すると、正しくＵＡフ
レームを応答することを確認できる。
あるから、通常ＳＡＢＭＥフレームに対してＵＡフレー
ムを返すが、該ＳＡＢＭＥフレームを無視する。つい
で、試験用プロセッサ１３より試験用信号装置１４にリ
ンク設定コマンドを送出する。試験用信号装置１４はコ
マンド終了を返すと共に、リンク設定用のＳＡＢＭＥフ
レームをハイウェイアダプタ２０→折り返し用装置１６
→ハイウェイアダプタ１９を介してＩＳＤＮ信号装置１
１に送出し、リンク設定待ち状態５になる。ＩＳＤＮ信
号装置１１はＳＡＢＭＥフレームを受信するとＵＡフレ
ームを応答し、リンク設定待ち状態５を保持する。試験
用信号装置１４はＵＡフレームを受信すると、リンク設
定確認データを試験用プロセッサ１３に通知する。この
リンク設定確認データの受信により、試験用プロセッサ
１３はＩＳＤＮ信号装置１１がリンク設定待ち状態５に
おいてＳＡＢＭＥフレームを受信すると、正しくＵＡフ
レームを応答することを確認できる。
【００１９】変形例 以上は、１つのＬＡＰＤナンバー（１つの回線に対応）
を指定してＩＳＤＮ信号装置の試験を行なった場合であ
るが、試験用設定コマンドを回線毎に入力して複数の回
線における試験を同時に行なうこともでき、この場合に
は、複数の回線でそれぞれ異なるレイヤ２の状態遷移を
同時行なわせて試験ができる。また、以上では各テスト
パターンに応じたファームウェアを試験用信号装置１４
に設けた場合であるが、試験用信号装置１４の各動作を
マクロ化し、マクロ列を試験用プロセッサ１３より試験
用信号装置１４に入力して一連の試験シーケンスを実行
させるように構成することもできる。この場合、試験用
信号装置１４にパソコンインターフェースを設け、パソ
コンから直接マクロ列をダウンロードすることもでき
る。以上、本発明を実施例により説明したが、本発明は
請求の範囲に記載した本発明の主旨に従い種々の変形が
可能であり、本発明はこれらを排除するものではない。
を指定してＩＳＤＮ信号装置の試験を行なった場合であ
るが、試験用設定コマンドを回線毎に入力して複数の回
線における試験を同時に行なうこともでき、この場合に
は、複数の回線でそれぞれ異なるレイヤ２の状態遷移を
同時行なわせて試験ができる。また、以上では各テスト
パターンに応じたファームウェアを試験用信号装置１４
に設けた場合であるが、試験用信号装置１４の各動作を
マクロ化し、マクロ列を試験用プロセッサ１３より試験
用信号装置１４に入力して一連の試験シーケンスを実行
させるように構成することもできる。この場合、試験用
信号装置１４にパソコンインターフェースを設け、パソ
コンから直接マクロ列をダウンロードすることもでき
る。以上、本発明を実施例により説明したが、本発明は
請求の範囲に記載した本発明の主旨に従い種々の変形が
可能であり、本発明はこれらを排除するものではない。
【００２０】
【発明の効果】以上本発明によれば、試験用信号装置は
入力されたテストパターン（動作規定データ）に基づい
て異常状態を作り、異常状態において試験を行うように
したから、正常時の試験に加えて異常時の試験ができ
る。また、本発明によれば、試験用信号装置に多回線の
端末機能を持たせ、回線毎に動作規定データを設定する
ようにしたから、複数の回線で同時に試験ができ、しか
も、各回線で異なるレイヤ２の状態遷移を同時に行なわ
せる試験ができる。
入力されたテストパターン（動作規定データ）に基づい
て異常状態を作り、異常状態において試験を行うように
したから、正常時の試験に加えて異常時の試験ができ
る。また、本発明によれば、試験用信号装置に多回線の
端末機能を持たせ、回線毎に動作規定データを設定する
ようにしたから、複数の回線で同時に試験ができ、しか
も、各回線で異なるレイヤ２の状態遷移を同時に行なわ
せる試験ができる。
【図１】本発明の原理説明図である。
【図２】本発明の試験機の構成図である。
【図３】試験用設定コマンドの構成図である。
【図４】テストパターンの内容説明図である。
【図５】テストパターンとファームウェアの対応関係図
である。
である。
【図６】送出フレームの廃棄による試験手順説明図であ
る。
る。
【図７】送出フレーム変更による試験手順説明図であ
る。
る。
【図８】受信フレーム廃棄による試験手順説明図であ
る。
る。
【図９】ＩＳＤＮ信号装置の説明図である。
【図１０】従来の試験方式の説明図である。
１１・・ＩＳＤＮ信号装置（ＩＳＥ） １２・・試験機 １３・・試験用プロセッサ装置（ＰＲＥ） １４・・試験用信号装置（ＴＳＴ−ＩＳＥ）
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 加藤 智子 神奈川県横浜市港北区新横浜３丁目９番18 号 富士通コミュニケーション・システム ズ株式会社内 (72)発明者 藤原 千恵 神奈川県横浜市港北区新横浜３丁目９番18 号 富士通コミュニケーション・システム ズ株式会社内
Claims (2)
- 【請求項１】 ＩＳＤＮにおけるレイヤ２プロトコルを
複数回線制御するＩＳＤＮ信号装置のプロトコル試験方
式において、 試験機に試験用プロセッサ装置と試験用信号装置を設
け、該試験用プロセッサ装置とＩＳＤＮ信号装置と試験
用信号装置間で相互にデータの授受を可能に構成し、 試験用プロセッサ装置は試験用信号装置に試験時の動作
を規定するコマンドを入力し、 試験用信号装置は入力された動作規定コマンドに基づい
て、ＩＳＤＮ信号装置からのフレームを無視し、あるい
は、ＩＳＤＮ信号装置からのフレームに対して送出すべ
きフレームを廃棄し、あるいは送出すべきフレームを別
のフレームに変更して異常状態を作り、 ＩＳＤＮ信号装置は該異常状態において試験用信号装置
から入力されたデータに基づいて実際のレイヤ２処理を
行ない、 試験用プロセッサ装置はＩＳＤＮ信号装置あるいは試験
用信号装置から受信したデータに基づいてＩＳＤＮ信号
装置の正常、異常を判定することを特徴とするプロトコ
ル試験方式。 - 【請求項２】 動作規定コマンドを回線毎に設定し、同
時に複数の回線における試験を行なうことを特徴とする
請求項１記載のプロトコル試験方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5025293A JPH06244835A (ja) | 1993-02-15 | 1993-02-15 | プロトコル試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5025293A JPH06244835A (ja) | 1993-02-15 | 1993-02-15 | プロトコル試験方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06244835A true JPH06244835A (ja) | 1994-09-02 |
Family
ID=12161975
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5025293A Withdrawn JPH06244835A (ja) | 1993-02-15 | 1993-02-15 | プロトコル試験方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06244835A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5951673A (en) * | 1994-01-25 | 1999-09-14 | Yamaha Corporation | Digital signal processing device capable of selectively imparting effects to input data |
| KR100489330B1 (ko) * | 2002-06-26 | 2005-05-12 | 학교법인 한국정보통신학원 | 다중 자극 원리에 기반한 통신 프로토콜의 상호운용성시험 방법 및 장치 |
| JP2007150547A (ja) * | 2005-11-25 | 2007-06-14 | Fujitsu Ltd | プロトコル試験装置およびプロトコル試験方法 |
-
1993
- 1993-02-15 JP JP5025293A patent/JPH06244835A/ja not_active Withdrawn
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5951673A (en) * | 1994-01-25 | 1999-09-14 | Yamaha Corporation | Digital signal processing device capable of selectively imparting effects to input data |
| KR100489330B1 (ko) * | 2002-06-26 | 2005-05-12 | 학교법인 한국정보통신학원 | 다중 자극 원리에 기반한 통신 프로토콜의 상호운용성시험 방법 및 장치 |
| JP2007150547A (ja) * | 2005-11-25 | 2007-06-14 | Fujitsu Ltd | プロトコル試験装置およびプロトコル試験方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20000509 |