JPH0625792B2 - 応力波センサのレスポンスをテストする方法及び装置 - Google Patents
応力波センサのレスポンスをテストする方法及び装置Info
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- JPH0625792B2 JPH0625792B2 JP2106311A JP10631190A JPH0625792B2 JP H0625792 B2 JPH0625792 B2 JP H0625792B2 JP 2106311 A JP2106311 A JP 2106311A JP 10631190 A JP10631190 A JP 10631190A JP H0625792 B2 JPH0625792 B2 JP H0625792B2
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01H—MEASUREMENT OF MECHANICAL VIBRATIONS OR ULTRASONIC, SONIC OR INFRASONIC WAVES
- G01H3/00—Measuring characteristics of vibrations by using a detector in a fluid
- G01H3/005—Testing or calibrating of detectors covered by the subgroups of G01H3/00
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L1/00—Measuring force or stress, in general
- G01L1/25—Measuring force or stress, in general using wave or particle radiation, e.g. X-rays, microwaves, neutrons
- G01L1/255—Measuring force or stress, in general using wave or particle radiation, e.g. X-rays, microwaves, neutrons using acoustic waves, or acoustic emission
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L25/00—Testing or calibrating of apparatus for measuring force, torque, work, mechanical power, or mechanical efficiency
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- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
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- Measuring Pulse, Heart Rate, Blood Pressure Or Blood Flow (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、応力波センサまたはアコースティック・エミ
ッション・システムのレスポンスをテストするための方
法及び装置に関する。
ッション・システムのレスポンスをテストするための方
法及び装置に関する。
［従来技術］ 応力波センサは、機械装置、プロセスあるいは建造物の
監視のために使用され、機械装置、プロセスあるいは建
造物の監視のためにに長期間設置されることが望まれて
いる。そのような機械装置、プロセスあるいは建造物の
長期間の監視では、応力波トランスデューサが満足な動
作をすることを確認する方法を取ることが非常に望まれ
ている。この応力波トランスデューサと、この応力波セ
ンサの部分を構成する増幅器とが思い通りに機能するこ
とを確証することが必要である。
監視のために使用され、機械装置、プロセスあるいは建
造物の監視のためにに長期間設置されることが望まれて
いる。そのような機械装置、プロセスあるいは建造物の
長期間の監視では、応力波トランスデューサが満足な動
作をすることを確認する方法を取ることが非常に望まれ
ている。この応力波トランスデューサと、この応力波セ
ンサの部分を構成する増幅器とが思い通りに機能するこ
とを確証することが必要である。
アコースティック・エミッション・センサの動作を確認
するように使用された通常の方法は、破壊する鉛筆の黒
鉛(breaking pencil lead)、またはガスジェットあるい
は他の電気的励起アコースティック・エミッション・ト
ランスデューサから繰り返し供給される応力波パルスの
使用である。
するように使用された通常の方法は、破壊する鉛筆の黒
鉛(breaking pencil lead)、またはガスジェットあるい
は他の電気的励起アコースティック・エミッション・ト
ランスデューサから繰り返し供給される応力波パルスの
使用である。
（発明が解決しようとする課題） しかしながら、そのような方法は、アコースティック・
エミッション・センサが満足に動作することをオペレー
タがチェックする必要がある。
エミッション・センサが満足に動作することをオペレー
タがチェックする必要がある。
本発明は応力波センサのレスポンスをテストするための
新規な方法及び装置を提供することを目的とする。
新規な方法及び装置を提供することを目的とする。
（課題を解決するための手段） 本発明は、上記目的を達成するために、電気的に直列に
接続されたトランスデューサと増幅器とを有する応力波
センサのレスポンスをテストする方法において、有効な
トランスデューサが振動するように、比較的大きな振幅
を持つ少なくとも１つの第１の電気的パルスを電気的に
前記トランスデューサと前記増幅器との間の点で前記応
力波センサに供給し、該少なくとも１つの第１の電気的
パルスによって振動された有効なトランスデューサが付
加的な電気パルスを発生する段階と、前記第１の電気的
パルスと前記トランスデューサによって発生された付加
的な電気的パルスとを前記増幅器に供給し、有効な増幅
器が該第１の電気的パルスと付加的な電気的パルスとを
増幅して出力信号を生ずる段階と、前記トランスデュー
サと前記増幅器との１つ以上が充分に動作していないか
どうかを前記出力信号から決定する段階であって、有効
でない増幅器が前記第１の電気的パルスと付加的な電気
的パルスを増幅せず、かつ出力信号を発生せず、前記増
幅器からの出力信号の欠除によって前記増幅器が不動作
であることを指示する段階と、電気的に前記トランスデ
ューサと前記増幅器との間の点に、前記増幅器を飽和さ
せないように、予め決められた比較的小さい振幅を持つ
第２の電気的パルスを供給する段階と、前記増幅器に前
記第２の電気的パルスを供給する段階と、前記第２の電
気的パルスに対応する前記増幅器の出力信号から前記増
幅器のゲインを決定する段階とを備える方法を提供す
る。
接続されたトランスデューサと増幅器とを有する応力波
センサのレスポンスをテストする方法において、有効な
トランスデューサが振動するように、比較的大きな振幅
を持つ少なくとも１つの第１の電気的パルスを電気的に
前記トランスデューサと前記増幅器との間の点で前記応
力波センサに供給し、該少なくとも１つの第１の電気的
パルスによって振動された有効なトランスデューサが付
加的な電気パルスを発生する段階と、前記第１の電気的
パルスと前記トランスデューサによって発生された付加
的な電気的パルスとを前記増幅器に供給し、有効な増幅
器が該第１の電気的パルスと付加的な電気的パルスとを
増幅して出力信号を生ずる段階と、前記トランスデュー
サと前記増幅器との１つ以上が充分に動作していないか
どうかを前記出力信号から決定する段階であって、有効
でない増幅器が前記第１の電気的パルスと付加的な電気
的パルスを増幅せず、かつ出力信号を発生せず、前記増
幅器からの出力信号の欠除によって前記増幅器が不動作
であることを指示する段階と、電気的に前記トランスデ
ューサと前記増幅器との間の点に、前記増幅器を飽和さ
せないように、予め決められた比較的小さい振幅を持つ
第２の電気的パルスを供給する段階と、前記増幅器に前
記第２の電気的パルスを供給する段階と、前記第２の電
気的パルスに対応する前記増幅器の出力信号から前記増
幅器のゲインを決定する段階とを備える方法を提供す
る。
また、本発明は、電気的に直列に接続されたトランスデ
ューサと増幅器とを有する応力波センサのレスポンスを
テストする装置において、電気的に前記トランスデュー
サと前記増幅器との間の点で、前記応力波センサに電気
的に接続されたパルサーであって、有効なトランスデュ
ーサが振動するように比較的大きな振幅の少くとも１つ
の電気的パルスを供給するようになされ、該少なくとも
１つの電気的パルスによって振動させられた有効なトラ
ンスデューサが付加的な電気的パルスを発生し、前記ト
ランスデューサによって発生された前記第１の電気的パ
ルスと付加的な電気的パルスとが前記増幅器に供給さ
れ、有効な増幅器が前記第１の電気的パルスと付加的な
電気的パルスとを増幅して出力信号を発生するパルサー
と、前記トランスデューサと前記増幅器との１つ以上が
満足に動作していないかどうかを前記増幅器の前記出力
信号から決定するための手段であって、不動作の増幅器
は前記第１の電気的パルスと付加的な電気的パルスとを
増幅せず、且つ出力信号を生ぜず、前記増幅器からの出
力信号の欠除で前記増幅器が不動作であることを指示す
る手段とを具備し、前記パルサーが前記増幅器が飽和し
ないような予め決められた比較的小さな振幅の少なくと
も１つの第２の電気的パルスを供給するようになされ、
該第２の電気的パルスは前記増幅器に供給され、更ら
に、前記第２の電気的パルスに対応する前記増幅器の出
力信号から前記増幅器のゲインを決定する手段を備える
装置を提供する。
ューサと増幅器とを有する応力波センサのレスポンスを
テストする装置において、電気的に前記トランスデュー
サと前記増幅器との間の点で、前記応力波センサに電気
的に接続されたパルサーであって、有効なトランスデュ
ーサが振動するように比較的大きな振幅の少くとも１つ
の電気的パルスを供給するようになされ、該少なくとも
１つの電気的パルスによって振動させられた有効なトラ
ンスデューサが付加的な電気的パルスを発生し、前記ト
ランスデューサによって発生された前記第１の電気的パ
ルスと付加的な電気的パルスとが前記増幅器に供給さ
れ、有効な増幅器が前記第１の電気的パルスと付加的な
電気的パルスとを増幅して出力信号を発生するパルサー
と、前記トランスデューサと前記増幅器との１つ以上が
満足に動作していないかどうかを前記増幅器の前記出力
信号から決定するための手段であって、不動作の増幅器
は前記第１の電気的パルスと付加的な電気的パルスとを
増幅せず、且つ出力信号を生ぜず、前記増幅器からの出
力信号の欠除で前記増幅器が不動作であることを指示す
る手段とを具備し、前記パルサーが前記増幅器が飽和し
ないような予め決められた比較的小さな振幅の少なくと
も１つの第２の電気的パルスを供給するようになされ、
該第２の電気的パルスは前記増幅器に供給され、更ら
に、前記第２の電気的パルスに対応する前記増幅器の出
力信号から前記増幅器のゲインを決定する手段を備える
装置を提供する。
前記パルサーは、第１のトランジスタに矩形波信号を供
給するようになされた矩形波発生器を有し、前記第１の
トランジスタは入力矩形波が比較的高い時にオンに切り
換えられ、かつ電源電圧に電気的に接続され、さらにキ
ャパシタを介して第２のトランジスタに電気的に直列に
接続され、該第２のトランジスタは電源電圧に電気的に
接続され、かつ前記第１のトランジスタが前記第１の電
気的パルスを生じるようにオンに切り換えられる時にオ
ンに切り換えられ、前記第１の電気的パルスは前記第２
のトランジスタから前記応力波センサに供給され、前記
キャパシタは前記第２のトランジスタをオフに切り換え
るように充電されるようにしてもよい。
給するようになされた矩形波発生器を有し、前記第１の
トランジスタは入力矩形波が比較的高い時にオンに切り
換えられ、かつ電源電圧に電気的に接続され、さらにキ
ャパシタを介して第２のトランジスタに電気的に直列に
接続され、該第２のトランジスタは電源電圧に電気的に
接続され、かつ前記第１のトランジスタが前記第１の電
気的パルスを生じるようにオンに切り換えられる時にオ
ンに切り換えられ、前記第１の電気的パルスは前記第２
のトランジスタから前記応力波センサに供給され、前記
キャパシタは前記第２のトランジスタをオフに切り換え
るように充電されるようにしてもよい。
前記第１のトランジスタは前記入力矩形波が比較的低い
時にオフに切り換えられ、かつ第２のキャパシタを介し
て前記応力波センサに供給される第２の電気的パルスを
生じ、ダイオードは前記第２の電気的パルスの予め決め
られた振幅を設定するようになされていてもよい。
時にオフに切り換えられ、かつ第２のキャパシタを介し
て前記応力波センサに供給される第２の電気的パルスを
生じ、ダイオードは前記第２の電気的パルスの予め決め
られた振幅を設定するようになされていてもよい。
本発明を、添付の図面を参照して例示的に更らに充分記
述する。
述する。
（実施例） 応力波センサ１０のレスポンスをテストするための装置
２４は第１図に示されている。応力波センサ１０は電気
的に直列に接続された圧電タイプの応力波トランスデュ
ーサ１２と増幅器２０とを含む。抵抗１４はトランスジ
ユーサ１２と増幅器２０の間に電気的に直列に設けら
れ、ダイオード１６、１８はトランスデューサの入力と
アースの間に、増幅器２０を保護するように並列に接続
されている。増幅器２０は他の電子回路、例えばフィル
タ、プロセッサ、表示装置等に接続される出力端子２２
を持っている。この例では、増幅器２０は増幅器の出力
信号を整流し、包絡線を取出すプロセッサに接続され
る。
２４は第１図に示されている。応力波センサ１０は電気
的に直列に接続された圧電タイプの応力波トランスデュ
ーサ１２と増幅器２０とを含む。抵抗１４はトランスジ
ユーサ１２と増幅器２０の間に電気的に直列に設けら
れ、ダイオード１６、１８はトランスデューサの入力と
アースの間に、増幅器２０を保護するように並列に接続
されている。増幅器２０は他の電子回路、例えばフィル
タ、プロセッサ、表示装置等に接続される出力端子２２
を持っている。この例では、増幅器２０は増幅器の出力
信号を整流し、包絡線を取出すプロセッサに接続され
る。
応力波センサ１０のレスポンスをテストするための装置
２４は入力矩形波を一連の出力パルスに変換するパルサ
ー回路を持っている。このパルサー回路は比較的大きな
振幅を持つ第１の電気的パルスと比較的小さな振幅を持
つ第２の電気的パルスを生じるようになされている。パ
ルサー回路２４は矩形波電気信号が供給されているよう
になされた入力端子２６を有する。５ボルトの矩形波発
生器はこの目的に適している。また、パルサー回路２４
は電源電圧ＶＣＣを有している。
２４は入力矩形波を一連の出力パルスに変換するパルサ
ー回路を持っている。このパルサー回路は比較的大きな
振幅を持つ第１の電気的パルスと比較的小さな振幅を持
つ第２の電気的パルスを生じるようになされている。パ
ルサー回路２４は矩形波電気信号が供給されているよう
になされた入力端子２６を有する。５ボルトの矩形波発
生器はこの目的に適している。また、パルサー回路２４
は電源電圧ＶＣＣを有している。
第１の比較的大きな電気的パルスは入力矩形波電気信号
が高くなると生じ、この信号は抵抗２８を介してＮＰＮ
トランジスタ３２のベース端子３４に供給されてトラン
ジスタ３２をオンに切換える。トランジスタ３２のコレ
クタ端子３６は抵抗４０を介して電源電圧ＶＣＣに接続
され、トランジスタ３２のエミッタ端子３８は直接アー
ス４２に接続され、また、トランジスタ３２のベース端
子３４は抵抗３０を介してアース４２に接続される。ト
ランジスタ３２がオンに切換えられると、そのコレクタ
端子３６の電圧は供給電圧ＶＣＣの電位から急速に下降
する。
が高くなると生じ、この信号は抵抗２８を介してＮＰＮ
トランジスタ３２のベース端子３４に供給されてトラン
ジスタ３２をオンに切換える。トランジスタ３２のコレ
クタ端子３６は抵抗４０を介して電源電圧ＶＣＣに接続
され、トランジスタ３２のエミッタ端子３８は直接アー
ス４２に接続され、また、トランジスタ３２のベース端
子３４は抵抗３０を介してアース４２に接続される。ト
ランジスタ３２がオンに切換えられると、そのコレクタ
端子３６の電圧は供給電圧ＶＣＣの電位から急速に下降
する。
トランジスタ３２のコレクタ端子３６は直列に接続され
たキャパシタ５２と抵抗５４を介してＰＮＰトランジス
タ４４のベース端子４６に接続される。トランジスタ４
４のエミッタ端子４８は電源電圧ＶＣＣに接続され、ト
ランジスタ４４のコレクタ端子５０は電圧分割器を形成
する抵抗５６、５８の間の位置に接続される。抵抗５６
はアース４２に接続され、抵抗５８はパルサー回路２４
の出力端子６０に接続される。トランジスタ３２のコレ
クタ端子３６の電圧が下降する時、キャパシタ５２のト
ランジスタ３２から離れた側の電圧はトランジスタ４４
をオンに切換えるように最初に下げられ、これは出力端
子６０に供給される正の第１の電気的パルスを生じる。
第１の電気的パルスの振幅は殆ど電源電圧ＶＣＣと等し
い。そこで、キャパシタ５２は抵抗６２を通して充電完
了され、トランジスタ４４をオフに切換えて第１の電気
的パルスが終る。
たキャパシタ５２と抵抗５４を介してＰＮＰトランジス
タ４４のベース端子４６に接続される。トランジスタ４
４のエミッタ端子４８は電源電圧ＶＣＣに接続され、ト
ランジスタ４４のコレクタ端子５０は電圧分割器を形成
する抵抗５６、５８の間の位置に接続される。抵抗５６
はアース４２に接続され、抵抗５８はパルサー回路２４
の出力端子６０に接続される。トランジスタ３２のコレ
クタ端子３６の電圧が下降する時、キャパシタ５２のト
ランジスタ３２から離れた側の電圧はトランジスタ４４
をオンに切換えるように最初に下げられ、これは出力端
子６０に供給される正の第１の電気的パルスを生じる。
第１の電気的パルスの振幅は殆ど電源電圧ＶＣＣと等し
い。そこで、キャパシタ５２は抵抗６２を通して充電完
了され、トランジスタ４４をオフに切換えて第１の電気
的パルスが終る。
第２の比較的小さい電気的パルスは入力矩形波電気信号
が低になると生じ、この信号はＮＰＮトランジスタ３２
のベース端子３４に再び供給され、トランジスタ３２を
オフに切換える。トランジスタ３２のコレクタ端子３６
は電気的に直列に接続されたキャパシタ６４と抵抗６６
を介して出力端子６０に接続される。抵抗６６と抵抗６
８は電圧分割器を形成するように配列され、また抵抗６
８はアース４２に接続される。トランジスタ３２がオフ
に切換えられると、そのコレクタ端子３６の電圧は電源
電圧ＶＣＣの電位に上昇する。これはキャパシタ６４の
トランジスタ３２から離れた側を5.6ボルトに上昇さ
せ、この電圧は抵抗６６とキャパシタ６４とアース４２
との間に接続されたツェナーダイオード７０によって設
定される。抵抗６６、１８によって形成された電圧分割
器は出力端子６０に、5.6ボルトより無視できない程
（例えば１００倍）小さい電圧を持つ第２の電気パルス
を供給する。そこで、キャパシタ３６は抵抗６６、６８
を介して放電され、ダイオード７０の両端間の電圧及び
出力端子６０に供給される電圧を下降させる。
が低になると生じ、この信号はＮＰＮトランジスタ３２
のベース端子３４に再び供給され、トランジスタ３２を
オフに切換える。トランジスタ３２のコレクタ端子３６
は電気的に直列に接続されたキャパシタ６４と抵抗６６
を介して出力端子６０に接続される。抵抗６６と抵抗６
８は電圧分割器を形成するように配列され、また抵抗６
８はアース４２に接続される。トランジスタ３２がオフ
に切換えられると、そのコレクタ端子３６の電圧は電源
電圧ＶＣＣの電位に上昇する。これはキャパシタ６４の
トランジスタ３２から離れた側を5.6ボルトに上昇さ
せ、この電圧は抵抗６６とキャパシタ６４とアース４２
との間に接続されたツェナーダイオード７０によって設
定される。抵抗６６、１８によって形成された電圧分割
器は出力端子６０に、5.6ボルトより無視できない程
（例えば１００倍）小さい電圧を持つ第２の電気パルス
を供給する。そこで、キャパシタ３６は抵抗６６、６８
を介して放電され、ダイオード７０の両端間の電圧及び
出力端子６０に供給される電圧を下降させる。
従って、パルサー回路２４は、矩形波入力が入力端子２
６に供給されている期間に、出力端子６０に第１、第２
の電圧パルスを連続的に交互に供給する。
６に供給されている期間に、出力端子６０に第１、第２
の電圧パルスを連続的に交互に供給する。
パルサー回路２４の出力端子６０が電気的にトランスデ
ューサ１２と増幅器２０との間の点で応力波センサ１０
に電気的に接続されるように、パルサー回路２４が応力
波センサ１０に接続される。パルサー回路２４は応力波
センサ１０に交互に第１、第２の電気的パルスを供給し
て、応力波センサ１０のレスポンスをテストする。
ューサ１２と増幅器２０との間の点で応力波センサ１０
に電気的に接続されるように、パルサー回路２４が応力
波センサ１０に接続される。パルサー回路２４は応力波
センサ１０に交互に第１、第２の電気的パルスを供給し
て、応力波センサ１０のレスポンスをテストする。
比較的大きな振幅の第１の電気的パルスは応力波センサ
１０に供給され、その結果、トランスデューサ１２と増
幅器２０の両方に供給される。第１の電気的パルスはト
ランスデューサ１２を励起して、有効なトランスデュー
サ１２を発振させるとともに、増幅器２０に供給される
付加的な電気信号を再生させる。第１の電気的パルスは
増幅器２０によって増幅される。第１の電気的パルスが
比較的大きな振幅であるので、第１の電気的パルスに対
応する出力端子２２での増幅器２０からの出力は比較的
高いレベルまたは振幅である。有効なトランスデューサ
１２から供給される付加的な電気信号も増幅器２０によ
って増幅される。第１の電気的パルスが電気的振動から
機械的振動に変換され、また機械的振動から電気的信号
に変換される場合のトランスデューサ１２における変換
ロスのために、増幅された付加的な電気信号は直接の第
１の電気的パルスより非常に低いレベルにある。増幅器
２０は付加的な電気信号を検出するには充分に感度が良
いように構成され、その結果、第１の電気的パルスは増
幅器２０を電気的に飽和させる、即ち増幅された信号が
クリップされるような大きさである。
１０に供給され、その結果、トランスデューサ１２と増
幅器２０の両方に供給される。第１の電気的パルスはト
ランスデューサ１２を励起して、有効なトランスデュー
サ１２を発振させるとともに、増幅器２０に供給される
付加的な電気信号を再生させる。第１の電気的パルスは
増幅器２０によって増幅される。第１の電気的パルスが
比較的大きな振幅であるので、第１の電気的パルスに対
応する出力端子２２での増幅器２０からの出力は比較的
高いレベルまたは振幅である。有効なトランスデューサ
１２から供給される付加的な電気信号も増幅器２０によ
って増幅される。第１の電気的パルスが電気的振動から
機械的振動に変換され、また機械的振動から電気的信号
に変換される場合のトランスデューサ１２における変換
ロスのために、増幅された付加的な電気信号は直接の第
１の電気的パルスより非常に低いレベルにある。増幅器
２０は付加的な電気信号を検出するには充分に感度が良
いように構成され、その結果、第１の電気的パルスは増
幅器２０を電気的に飽和させる、即ち増幅された信号が
クリップされるような大きさである。
トランスデューサ１２がなお有効であり、増幅器がなお
有効であり、また、応力波センサの全体の動作において
変化がないことを第１の電気的パルスから検出すること
が可能である。第２図、第３図、第４図を参照すると、
第１の電気的パルス６０と第２の電気的パルス６２の結
果として、プロセッサによる整流及び包絡線取出しの後
の増幅器２０からの包絡線信号６４、７０が示されてい
る。
有効であり、また、応力波センサの全体の動作において
変化がないことを第１の電気的パルスから検出すること
が可能である。第２図、第３図、第４図を参照すると、
第１の電気的パルス６０と第２の電気的パルス６２の結
果として、プロセッサによる整流及び包絡線取出しの後
の増幅器２０からの包絡線信号６４、７０が示されてい
る。
第３図において、有効な応力波センサ１０のレスポンス
が示され、出力包絡線信号６４は第１の部分６６及び第
２の部分６８を有している。第１の部分６６は増幅器２
０によって直接受信された第１の電気的パルスに対応
し、この部分はクリップされている。第２の部分６８は
第１の電気信号６０によるトランスデューサ１２の励起
によって発生された付加的な電気信号に対応する。第２
の部分６８より下側の範囲はトランスデューサ１２の感
度の尺度を与える。第２の電気的パルス６２の結果とし
て、プロセッサによる整流及び包絡線取出し後の増幅器
２０からの出力包絡線信号７０がある。第２の電気的パ
ルス６２は出力包絡信号７０のピークを測定することに
よって、増幅器２０のゲインを決定することが可能であ
るような予め決められた振幅を有する。従って、第２の
電気的パルスから増幅器のゲインを検知することが可能
であり、増幅器のゲインを検知した結果として、トラン
スデューサの感度の変化を決定することが可能である。
即ち、部分６８はトランスデューサの感度に依存し、ま
た、増幅器のゲインに依存する。例えば、部分６８の減
小はトランスデューサの感度の減小、増幅器のゲインの
減小またはこれら２つの組合わせから生じる。応力波セ
ンサ１０の全体的なレスポンスは増幅器のゲインとトラ
ンスデューサ感度の自乗とに比例する。従って、第２の
電気的パルスは応力波センサの動作の修正を、例えば増
幅器のゲインを調整することによってまたはトランスデ
ューサを調整することにより、可能にすることにおいて
重要である。
が示され、出力包絡線信号６４は第１の部分６６及び第
２の部分６８を有している。第１の部分６６は増幅器２
０によって直接受信された第１の電気的パルスに対応
し、この部分はクリップされている。第２の部分６８は
第１の電気信号６０によるトランスデューサ１２の励起
によって発生された付加的な電気信号に対応する。第２
の部分６８より下側の範囲はトランスデューサ１２の感
度の尺度を与える。第２の電気的パルス６２の結果とし
て、プロセッサによる整流及び包絡線取出し後の増幅器
２０からの出力包絡線信号７０がある。第２の電気的パ
ルス６２は出力包絡信号７０のピークを測定することに
よって、増幅器２０のゲインを決定することが可能であ
るような予め決められた振幅を有する。従って、第２の
電気的パルスから増幅器のゲインを検知することが可能
であり、増幅器のゲインを検知した結果として、トラン
スデューサの感度の変化を決定することが可能である。
即ち、部分６８はトランスデューサの感度に依存し、ま
た、増幅器のゲインに依存する。例えば、部分６８の減
小はトランスデューサの感度の減小、増幅器のゲインの
減小またはこれら２つの組合わせから生じる。応力波セ
ンサ１０の全体的なレスポンスは増幅器のゲインとトラ
ンスデューサ感度の自乗とに比例する。従って、第２の
電気的パルスは応力波センサの動作の修正を、例えば増
幅器のゲインを調整することによってまたはトランスデ
ューサを調整することにより、可能にすることにおいて
重要である。
第４図において、トランスデューサが不動作である応力
波センサのためのレスポンスが示されている。出力信号
６４Ｂは、増幅器２０によって直接受信された第１の電
気的パルスに対応する第１の部分６６Ｂのみを有してい
る。増幅器２０はトランスデューサが不動作であるた
め、付加的な電気信号を受信しない。出力信号の振幅７
０Ｂは増幅器２０のゲインを指示している。これは、ト
ランスデューサから付加的な電気信号が無いため、トラ
ンスデューサを取り替える必要があることを示してい
る。
波センサのためのレスポンスが示されている。出力信号
６４Ｂは、増幅器２０によって直接受信された第１の電
気的パルスに対応する第１の部分６６Ｂのみを有してい
る。増幅器２０はトランスデューサが不動作であるた
め、付加的な電気信号を受信しない。出力信号の振幅７
０Ｂは増幅器２０のゲインを指示している。これは、ト
ランスデューサから付加的な電気信号が無いため、トラ
ンスデューサを取り替える必要があることを示してい
る。
第５図において、増幅器がゲインを減小した場合の応力
波センサのレスポンスが示されている。出力信号６４Ｃ
は第１の電気的パルスに対応する第１の部分６６Ｃ及び
トランスデューサからの電気的パルスに対応する第２の
部分６８Ｃを含んでいる。しかしながら、ゲインが非常
に小さいために、この例では第１の部分６６Ｃはクリッ
プされておらず、その結果、第２の部分６８Ｃは第１の
部分６６Ｃの減衰から検出することが困難である。出力
信号７０Ｃは第２の電気的パルスに対応し、また、これ
は非常に小さなピーク振幅であり、増幅器のゲインが比
較的小さいことを指示している。
波センサのレスポンスが示されている。出力信号６４Ｃ
は第１の電気的パルスに対応する第１の部分６６Ｃ及び
トランスデューサからの電気的パルスに対応する第２の
部分６８Ｃを含んでいる。しかしながら、ゲインが非常
に小さいために、この例では第１の部分６６Ｃはクリッ
プされておらず、その結果、第２の部分６８Ｃは第１の
部分６６Ｃの減衰から検出することが困難である。出力
信号７０Ｃは第２の電気的パルスに対応し、また、これ
は非常に小さなピーク振幅であり、増幅器のゲインが比
較的小さいことを指示している。
第６図では、トランスデューサが感度を減小させた応力
波センサのレスポンスを示している。出力信号６４Ｄは
第１の電気的パルスに対応する第１の部分６６Ｄとトラ
ンスデューサからの電気的パルスに対応する第２の部分
６８Ｄを含んでいる。第１の部分６６Ｄは増幅器のゲイ
ンが大きいためにクリップされているが、第２の部分６
８Ｄより下側の範囲は非常に小さく、トランスデューサ
の感度の減小に向っている。出力信号７０Ｄは予め決め
られた振幅の第２の電気信号に対応する。また、これは
ピーク振幅の許容範囲であり、増幅器のゲインは十分で
あり、従って増幅器は満足に動作していることを指示し
ている。出力信号７０Ｄを考慮すると、トランスデュー
サの感度が減小したことが確認できる。
波センサのレスポンスを示している。出力信号６４Ｄは
第１の電気的パルスに対応する第１の部分６６Ｄとトラ
ンスデューサからの電気的パルスに対応する第２の部分
６８Ｄを含んでいる。第１の部分６６Ｄは増幅器のゲイ
ンが大きいためにクリップされているが、第２の部分６
８Ｄより下側の範囲は非常に小さく、トランスデューサ
の感度の減小に向っている。出力信号７０Ｄは予め決め
られた振幅の第２の電気信号に対応する。また、これは
ピーク振幅の許容範囲であり、増幅器のゲインは十分で
あり、従って増幅器は満足に動作していることを指示し
ている。出力信号７０Ｄを考慮すると、トランスデュー
サの感度が減小したことが確認できる。
パルサー回路２４は比較的低コストで、オペレータを必
要としない応力波センサ用テストの特徴を備え、応力セ
ンサが満足に動作していることが確証できる機械装置ま
たはプロセスの監視を長い期間無人で行うことを可能と
する。
要としない応力波センサ用テストの特徴を備え、応力セ
ンサが満足に動作していることが確証できる機械装置ま
たはプロセスの監視を長い期間無人で行うことを可能と
する。
パルサー回路は応力波センサに第１、第２の電気信号を
任意の順序で供給するように構成され、１つより多くの
電気的パルス及び第２の電気的パルスが応力波センサに
供給される。また、パルサー回路は、応力波センサの監
視モードにおいて検出された強度またはレベルが予め決
められた強度またはレベルより下降する場合の応力波セ
ンサのテストを自動的に行うように構成される。
任意の順序で供給するように構成され、１つより多くの
電気的パルス及び第２の電気的パルスが応力波センサに
供給される。また、パルサー回路は、応力波センサの監
視モードにおいて検出された強度またはレベルが予め決
められた強度またはレベルより下降する場合の応力波セ
ンサのテストを自動的に行うように構成される。
第１図は本発明に係る応力波センサを表わす電気回路を
示す図である。第２図は応力波センサに供給される第
１、第２の電気的パルスを示す時間に対する電圧のグラ
フである。第３図は第１、第２の電気的パルスの結果と
して、有効な応力波センサから出力包絡線を示す時間に
対する電圧のグラフである。第４図は第１、第２の電気
的パルスの結果として、不動作の応力波センサの１つの
タイプからの出力包絡線を示す時間に対する電圧のグラ
フである。第５図は第１、第２の電気的パルスの結果と
して、不動作の応力波センサの他のタイプからの出力包
絡線を示す時間に対する電圧のグラフである。第６図は
第１、第２の電気的パルスの結果として、不動作の応力
波センサの他のタイプからの出力包絡線を示す時間に対
する電圧のグラフである。 １０……応力波センサ、１２……応力波トランスジー
サ、１４……抵抗、１６、１８……ダイオード、２０…
…増幅器、２２……出力端子、２４……パルサー回路、
２６……入力端子、２８、３０、４０、５４、５６、５
８……抵抗、３２……トランジスタ、３４……ベース端
子、３６……コレクタ端子、４２……アース、４４……
トランジスタ、４６……ベース端子、５０……コレクタ
端子、４８……エミッタ端子、５２……キャパシタ。
示す図である。第２図は応力波センサに供給される第
１、第２の電気的パルスを示す時間に対する電圧のグラ
フである。第３図は第１、第２の電気的パルスの結果と
して、有効な応力波センサから出力包絡線を示す時間に
対する電圧のグラフである。第４図は第１、第２の電気
的パルスの結果として、不動作の応力波センサの１つの
タイプからの出力包絡線を示す時間に対する電圧のグラ
フである。第５図は第１、第２の電気的パルスの結果と
して、不動作の応力波センサの他のタイプからの出力包
絡線を示す時間に対する電圧のグラフである。第６図は
第１、第２の電気的パルスの結果として、不動作の応力
波センサの他のタイプからの出力包絡線を示す時間に対
する電圧のグラフである。 １０……応力波センサ、１２……応力波トランスジー
サ、１４……抵抗、１６、１８……ダイオード、２０…
…増幅器、２２……出力端子、２４……パルサー回路、
２６……入力端子、２８、３０、４０、５４、５６、５
８……抵抗、３２……トランジスタ、３４……ベース端
子、３６……コレクタ端子、４２……アース、４４……
トランジスタ、４６……ベース端子、５０……コレクタ
端子、４８……エミッタ端子、５２……キャパシタ。
Claims (14)
- 【請求項１】電気的に直列に接続されたトランスデュー
サと増幅器とを有する応力波センサのレスポンスをテス
トする方法において、 有効なトランスデューサが振動するように、比較的大き
な振幅を持つ少なくとも１つの第１の電気的パルスを電
気的に前記トランスデューサと前記増幅器との間の点で
前記応力波センサに供給し、該少なくとも１つの第１の
電気的パルスによって振動された有効なトランスデュー
サが付加的な電気パルスを発生する段階と、 前記第１の電気的パルスと前記トランスデューサによっ
て発生された付加的な電気的パルスとを前記増幅器に供
給し、有効な増幅器が該第１の電気的パルスと付加的な
電気的パルスとを増幅して出力信号を生ずる段階と、 前記トランスデューサと前記増幅器との１つ以上が充分
に動作していないかどうかを前記出力信号から決定する
段階であって、有効でない増幅器が前記第１の電気的パ
ルスと付加的な電気的パルスを増幅せず、かつ出力信号
を発生せず、前記増幅器からの出力信号の欠除によって
前記増幅器が不動作であることを指示する段階と、電気
的に前記トランスデューサと前記増幅器との間の点に、
前記増幅器を飽和させないように、予め決められた比較
的小さい振幅を持つ第２の電気的パルスを供給する段階
と、 前記増幅器に前記第２の電気的パルスを供給する段階
と、 前記第２の電気的パルスに対応する前記増幅器の出力信
号から前記増幅器のゲインを決定する段階とを備える、
応力波センサのレスポンスをテストする方法。 - 【請求項２】前記第２の電気的パルスに対応する前記増
幅の出力信号が、前記増幅器のゲインが予め決められた
値より小であることをを指示する場合は、前記増幅器の
ゲインが調整されることを特徴とする請求項１記載の応
力波センサのレスポンスをテストする方法。 - 【請求項３】前記第１の電気的パルスに対応する前記増
幅の出力信号が、前記トランスデューサの感度が減小し
たことを指示する場合は、前記増幅器のゲインが調整さ
れることを特徴とする請求項１記載の応力波センサのレ
スポンスをテストする方法。 - 【請求項４】前記出力信号の包絡線が取出されることを
特徴とする請求項１記載の応力波センサのレスポンスを
テストする方法。 - 【請求項５】前記第２の電気的パルスに対応する前記増
幅器の包絡線が取出された出力信号のピーク振幅が測定
されることを特徴とする請求項４記載の応力波センサの
レスポンスをテストする方法。 - 【請求項６】前記付加的な電気的パルスに対応する前記
増幅器の前記包絡線が取出された出力信号より下側の範
囲が測定されることを特徴とする請求項４記載の応力波
センサのレスポンスをテストする方法。 - 【請求項７】電気的に直列に接続されたトランスデュー
サと増幅器とを有する応力波センサのレスポンスをテス
トする装置において、 電気的に前記トランスデューサと前記増幅器との間の点
で、前記応力波センサに電気的に接続されされたパルサ
ーであって、有効なトランスデューサが振動するように
比較的大きな振幅の少くとも１つの電気的パルスを供給
するようになされ、該少なくとも１つの電気的パルスに
よって振動させられた有効なトランスデューサが付加的
な電気的パルスを発生し、前記トランスデューサによっ
て発生された前記第１の電気的パルスと付加的な電気的
パルスとが前記増幅器に供給され、有効な増幅器が前記
第１の電気的パルスと付加的な電気的パルスとを増幅し
て出力信号を発生するパルサーと、 前記トランスデューサと前記増幅器との１つ以上が満足
に動作していないかどうかを前記増幅器の前記出力信号
から決定するための手段であって、不動作の増幅器は前
記第１の電気的パルスと付加的な電気的パルスとを増幅
せず、且つ出力信号を生ぜず、前記増幅器からの出力信
号の欠除で前記増幅器が不動作であることを指示する手
段とを具備し、前記パルサーが前記増幅器が飽和しない
ような予め決められた比較的小さな振幅の少なくとも１
つの第２の電気的パルスを供給するようになされ、該第
２の電気的パルスは前記増幅器に供給され、更らに、前
記第２の電気的パルスに対応する前記増幅器の出力信号
から前記増幅器のゲインを決定する手段を備える、応力
波センサのレスポンスをテストする装置。 - 【請求項８】前記第２の電気的パルスに対応する前記増
幅器の出力信号から前記増幅器のゲインを決定する手段
が、前記増幅器のゲインが予め決められた値より小さい
ことを指示する場合に、前記増幅器のゲインを調整する
手段が前記増幅器のゲインを増加するようになされてい
ることを特徴とする請求項７記載の応力波センサのレス
ポンスをテストする装置。 - 【請求項９】前記トランスデューサと前記増幅器との１
つ以上が満足に動作していないかどうかを決定する手段
が前記トランスデューサの感度が下ったことを指示する
場合に、前記増幅器のゲインを調整する手段が前記増幅
器のゲインを増加するようになされることを特徴とする
請求項８記載の応力波センサのレスポンスをテストする
装置。 - 【請求項１０】プロセッサが前記出力信号の包絡線を取
出すことを特徴とする請求項７記載の応力波センサのレ
スポンスをテストする装置。 - 【請求項１１】前記プロセッサが前記第２の電気的パル
スに対応する前記増幅器の包絡線が取出された出力信号
のピーク振幅を測定することを特徴とする請求項１０記
載の応力波センサのレスポンスをテストする装置。 - 【請求項１２】前記プロセッサが前記付加的な電気的パ
ルスに対応する前記増幅器の包絡線が取出された出力信
号より下側の範囲を測定することを特徴とする請求項１
０記載の応力波センサのレスポンスをテストする装置。 - 【請求項１３】前記パルサーは、第１のトランジスタに
矩形波信号を供給するようになされた矩形波発生器を有
し、前記第１のトランジスタは入力矩形波が比較的高い
時にオンに切り換えられ、かつ電源電圧に電気的に接続
され、さらにキャパシタを介して第２のトランジスタに
電気的に直列に接続され、該第２のトランジスタは電源
電圧に電気的に接続され、かつ前記第１のトランジスタ
が前記第１の電気的パルスを生じるようにオンに切り換
えられる時にオンに切り換えられ、前記第１の電圧的パ
ルスは前記第２のトランジスタから前記応力波センサに
供給され、前記キャパシタは前記第２のトランジスタを
オフに切り換えるように充電されることを特徴とする請
求項７記載の応力波センサのレスポンスをテストする装
置。 - 【請求項１４】前記第１のトランジスタは前記入力矩形
波が比較的低い時にオフに切り換えられ、かつ第２のキ
ャパシタを介して前記応力波センサに供給される第２の
電気的パルスを生じ、ダイオードは前記第２の電気的パ
ルスの予め決められた振幅を設定するようになされてい
ることを特徴とする請求項１３記載の応力波センサのレ
スポンスをテストする装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| GB8909155.7 | 1989-04-21 | ||
| GB898909155A GB8909155D0 (en) | 1989-04-21 | 1989-04-21 | A method and apparatus for testing the response of a stress wave sensor |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02296159A JPH02296159A (ja) | 1990-12-06 |
| JPH0625792B2 true JPH0625792B2 (ja) | 1994-04-06 |
Family
ID=10655507
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2106311A Expired - Lifetime JPH0625792B2 (ja) | 1989-04-21 | 1990-04-21 | 応力波センサのレスポンスをテストする方法及び装置 |
Country Status (8)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5004985A (ja) |
| EP (1) | EP0393828B1 (ja) |
| JP (1) | JPH0625792B2 (ja) |
| AT (1) | ATE95608T1 (ja) |
| DE (1) | DE69003726T2 (ja) |
| DK (1) | DK0393828T3 (ja) |
| ES (1) | ES2045793T3 (ja) |
| GB (1) | GB8909155D0 (ja) |
Families Citing this family (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB9003569D0 (en) * | 1990-02-16 | 1990-04-11 | Rolls Royce Plc | A method and apparatus for testing the response of a stress wave sensor |
| GB2279749B (en) * | 1993-07-02 | 1996-12-04 | Motorola Inc | Short circuit detector for sensors |
| US5447051A (en) * | 1993-08-05 | 1995-09-05 | Hewlett-Packard Company | Method and apparatus for testing a piezoelectric force sensor |
| JPH085654A (ja) * | 1994-06-23 | 1996-01-12 | Murata Mfg Co Ltd | 加速度センサ |
| US5652374A (en) * | 1995-07-10 | 1997-07-29 | Delco Electronics Corp. | Method and apparatus for detecting failure in vibrating sensors |
| DE19835578A1 (de) * | 1998-08-06 | 2000-02-10 | Bosch Gmbh Robert | Vorrichtung zur Ermittlung einer Drehrate |
| JP3402221B2 (ja) * | 1998-10-20 | 2003-05-06 | 株式会社村田製作所 | 圧電トランス素子のスクリーニング方法 |
| US6684700B1 (en) * | 2000-08-11 | 2004-02-03 | Swantech, L.L.C. | Stress wave sensor |
| WO2002099411A1 (en) * | 2001-05-30 | 2002-12-12 | Swantech, L.L.C. | Multi-function stress wave sensor |
| US7162912B2 (en) | 2004-03-29 | 2007-01-16 | Siemens Medical Solutions Usa, Inc. | Ultrasound transmit and receive path calibration methods and systems |
| US20090015265A1 (en) * | 2006-01-12 | 2009-01-15 | Kazuo Meki | Acoustic Emission Sensor and Method For Checking Operating State of Acoustic Emission Sensor |
| CN110794245B (zh) * | 2019-11-17 | 2024-07-26 | 布瑞特智联科技(杭州)有限公司 | 一种压力传感器抗电磁干扰性能的检测系统及其检测方法 |
| CN113970596A (zh) * | 2021-10-12 | 2022-01-25 | 湖南大学 | 一种适用于功率器件的应力波提取装置及方法 |
Family Cites Families (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB490635A (en) * | 1937-10-16 | 1938-08-18 | Raymond John Cunnell | A testing apparatus for comparing high tension currents |
| US3568044A (en) * | 1968-09-12 | 1971-03-02 | Bell & Howell Co | Linearizing circuit for high output transducers |
| GB1254219A (en) * | 1969-03-05 | 1971-11-17 | Rolls Royce | Vibration monitoring systems |
| US3600675A (en) * | 1969-12-30 | 1971-08-17 | Western Electric Co | Method and system for adjusting electrical components using alternately applied signals |
| GB1369435A (en) * | 1970-10-30 | 1974-10-09 | Secr Defence | Piezoelectric transducer testing system |
| US3930405A (en) * | 1974-09-17 | 1976-01-06 | The United States Of America As Represented By The United States Energy Research And Development Administration | Method and means for measuring acoustic emissions |
| GB1599406A (en) * | 1977-08-11 | 1981-09-30 | Horstmann Gear Group Ltd | Gas detector with a failure sensor |
| US4296483A (en) * | 1980-06-30 | 1981-10-20 | Litton Resources Systems, Inc. | Method and means for measuring geophone parameters |
| JPS57136107A (en) * | 1981-02-17 | 1982-08-23 | Teitsuu Denshi Kenkyusho:Kk | Ultrasonic thickness measuring method and apparatus |
| GB2142086A (en) * | 1983-06-23 | 1985-01-09 | Ford Motor Co | Engine control systems |
| US4609994A (en) * | 1984-01-16 | 1986-09-02 | The University Of Manitoba | Apparatus for continuous long-term monitoring of acoustic emission |
| US4559826A (en) * | 1984-09-14 | 1985-12-24 | Tab Leasing | Precision source of acoustic radiation |
| US4620446A (en) * | 1984-12-31 | 1986-11-04 | Bruel & Kjaer Instruments, Inc. | Acceleration responsive transducers |
| GB2190508A (en) * | 1986-05-09 | 1987-11-18 | Fitzgerald Smith Lt Col James | Petrol ignition starting and diagnostic aid |
| AT387286B (de) * | 1986-12-19 | 1988-12-27 | Avl Verbrennungskraft Messtech | Verfahren und einrichtung zur bestimmung von schwingungseigenschaften sowie zum betreiben eines piezoelektrischen wandlers |
| US4785232A (en) * | 1987-06-05 | 1988-11-15 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Contactless hall coefficient measurement apparatus and method for piezoelectric material |
-
1989
- 1989-04-21 GB GB898909155A patent/GB8909155D0/en active Pending
-
1990
- 1990-03-09 DK DK90302569.0T patent/DK0393828T3/da active
- 1990-03-09 DE DE90302569T patent/DE69003726T2/de not_active Expired - Fee Related
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