JPH06258163A - 複数枚のラミネートで構成された基体を有する圧力センサー並びに同センサーの製造方法 - Google Patents
複数枚のラミネートで構成された基体を有する圧力センサー並びに同センサーの製造方法Info
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- JPH06258163A JPH06258163A JP5027589A JP2758993A JPH06258163A JP H06258163 A JPH06258163 A JP H06258163A JP 5027589 A JP5027589 A JP 5027589A JP 2758993 A JP2758993 A JP 2758993A JP H06258163 A JPH06258163 A JP H06258163A
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Abstract
ラムを使用した圧力センサ−、並びに、この様な圧力セ
ンサ−の製造方法、を提供する。 【構成】圧力センサ−サブアセンブリ−18は、複数枚
のラミネ−トを積層接合して形成したセラミック基体2
0上に取付けられたソリッドステ−ト圧力感知体22を
有する。この圧力感知体22には電気信号接点22aが
設けてあり、この接点は、基体20に取付けたコネクタ
−ピン24と電気的に接続されている。製造方法として
は、複数個のサブアセンブリ−を一枚状の基体構造に形
成することが可能であり、その後でこれらのサブアセン
ブリ−を個々に切り離すことができる。これらのサブア
センブリ−は切り離し前にテスト、分類してもよいし、
も或は、切り離し後にそうしてもよい。テスト後、各サ
ブアセンブリ−をハウジングに組付ける。
Description
ダイヤフラムを使用した圧力センサ−並びにその製造方
法に関するものであり、特に、センサ−ダイヤフラムを
備えたソリッドステ−ト圧力感知体を有するセンサ−サ
ブアセンブリ−とその組立て方法に関する。
流体室の上に、薄いシリコンダイヤフラムを取付けてい
る。圧力振動によってダイヤフラムは流体室の中へ或は
反対側へ振れる。この振れは電気的パラメ−タ−(典型
的な場合にあっては、キャパシタンスや抵抗)を変化さ
せる。この変化は測定して圧力反応情報に変換できる。
ソリッドステ−ト圧力感知体を苛酷な環境で使用する場
合には、この感知体が測定(される)流体と直接接触し
ないよう、同感知体を取り囲んで保護する必要がある。
この為に従来使用されているハウジングとしては、たと
えば、圧力感知ダイヤフラムを測定流体から隔て流体圧
力が変化すると振れるフレキシブルな隔離ダイヤフラム
で覆われたメタルベ−スを使用したものがある。このハ
ウジングの中には、隔離ダイヤフラムとセンサ−ダイヤ
フラムの間に、非腐食性で不活性の流体が満たされてお
り、この流体が、測定圧力をセンサ−ダイヤフラムに伝
える。圧力感知体から圧力センサ−の外部接点へ信号を
運ぶ導電体が気密シ−ルを貫通してハウジングの外部へ
出ている。このシ−ルは、典型的な場合にあっては、メ
タルベ−スにガラスと金属を接着する接着剤を使用して
個々の接点ごとに別個に形成される。
ストはハウジング内への組付け後に行われている。しか
しながら、この場合、もしテストの結果たとえば圧力感
知体或は同感知体に対する接続に欠陥が有る事が判明す
ると、材料、労力が無駄に消費されてしまう。
来技術の問題点を解決すべく、安価なテストフォ−マッ
トを有する、ダイヤフラムを使用した圧力センサ−、並
びに、この様な圧力センサ−の製造方法、を提供する。
圧力感知体としては、高性能のシリコンダイヤフラムを
使用した物を使用できる。圧力センサ−サブアセンブリ
−は、複数枚のラミネ−トを積層接合した基体を有し、
この基体にソリッドステ−ト圧力感知体が取付けてあ
る。この圧力感知体はセンサ−ダイヤフラムを有してお
り、同圧力感知体のどちら側も、他方の側に加わる圧力
と比較テストすべき圧力で刺激することができる。典型
的な形態にあっては、基体を貫通する圧力通路が、圧力
感知体のダイヤフラムの一方の側に形成されている流体
室と連通している。上記基体としては、少なくとも2枚
のセラミックシ−トを積層接合した物を使用するのが望
ましい。即ち、各セラミックシ−トに電気的接続用の貫
通穴と圧力通路としての貫通穴とをあけ、電気的接続用
の貫通穴の中に導電体を形成し、密閉された電気的フィ
−ドスル−接続とする。そしてシ−トを積層し接着す
る。そして、上記導電体にコネクタ−ピンを接続する。
そして、基体に、柔軟性を備えた接着剤層を形成し、こ
の接着剤層によってソリッドステ−ト圧力感知体を基体
に取付ける。この感知体上の接点と上記導電体に導線を
接続する。また、典型的な場合にあっては、ダイヤフラ
ムの振れを容量性或は抵抗(たとえば圧抵抗)方法によ
って測定する為の回路を圧力感知体に設ける。
れば、いつでもサブアセンブリ−のテストを行える。即
ち、幾つかのテスト圧力に対し圧力感知体が電気的にど
う反応するかのテストを行うことができる。本発明の、
このサブアセンブリ−は色々な圧力感知用途で使用され
る時のままの状態で販売することができる。また、もし
圧力感知体が機械的に妨害された場合(たとえば偶然に
変形したり他の応力を生じたりした場合)でも圧力感知
体は偽信号を発生してしまう恐れが殆どない。また、本
発明によれば、基体を構成する各基体層に就いて、複数
個のサブアセンブリ−を製造するに足る大きさの一枚の
セラミックシ−トを使用することにより、多数のサブア
センブリ−を同時製造することができる。これらのシ−
トに貫通穴をあけてそこに導電体を形成し全体を積層接
合すれば、複数のサブアセンブリ−用の大きな基体がで
きあがる。本発明の一つの望ましい方法として、上記シ
−トとして、グリ−ンセラミックシ−トを使用する。で
きあがった大きな基体に溝を彫って、この溝を個々のサ
ブアセンブリ−の境界とする。そして基体を焼成する。
次にコネクタ−ピンを取付け、シリコン製感知体を接着
剤層で取付け、そして、必要な電気的接続を行う。これ
で複数のセンサ−サブアセンブリ−の同時製造が完了で
ある。本発明によれば、上記製造時点に至るまでに基体
を損傷してしまう恐れがないからサブアセンブリ−の機
能テストに好都合である。上記の様に複数のサブアセン
ブリ−を同時製造したら、次に、個々の基体を上記の溝
部分で互いに切り離す。あるいは個々の基体の切り離し
をもっと早い時点で行ってもよい。たとえば、焼成前で
あって、圧力感知体を基体に取付けた後、に行うことが
できる。個々に切り離し、テストしたサブアセンブリ−
を、従来同様メタルベ−スを有するハウジングに組付け
る。基体に取付けたコネクタ−ピンを上記ベ−スの貫通
穴に通し、ハウジング外部の電気装置に接続することが
できる。サブアセンブリ−をハウジングに固着取付けす
るシ−ラントは基体とハウジングベ−スの間を気密に密
閉する。また、典型的な場合にあっては、流体をハウジ
ングの中に満たした後で隔離ダイヤフラムでハウジング
を密閉する。かくして、この隔離ダイヤフラムに外部か
ら加わる圧力がハウジング内の圧力感知体に伝えられ
る。
する。図1に本発明の圧力センサ−10を示した。この
センサ−はハウジング12を有する。符号14はこのハ
ウジングの本体を指す。同本体14は隔離ダイヤフラム
16で閉じられ、圧力センサ−サブアセンブリ−18を
備えている。図示の、このサブアセンブリ−18は、3
枚のセラミクスラミネ−ト52、54、56で構成され
た基体20を備え、この基体に、センサ−ダイヤフラム
23を有するソリッドステ−ト感知体22が取付けられ
ている。基体20からは電気コネクタ−ピン24が突出
している。これらのピン24は外部装置と電気的に接続
されるようになっている。図示の上記ハウジング本体1
4には、内部に、圧力通路26が形成されており、流体
がこの通路26を経由してダイヤフラム23の下側へ至
る。同本体14には、更に、複数の内部通路30が、中
心線28と平行に、形成されている。これらの各通路3
0をコネクタ−ピン24が通っている。また、本体14
は、隔壁の役割を果たす床部(底部)14bと、側壁1
4cとを、有している。この床部14bと側壁14cと
で、流体スペ−ス32を形成している。この流体スペ−
ス32は、できれば、圧力通路26の軸がその中心とな
るように形成するのが望ましい。サブアセンブリ−18
は、接着力を有するシ−ラント34によって、本体14
の床部14bの平らな表面に接合されている。上記コネ
クタ−ピン24はこの床部14bを通って上記通路30
の中へ突出している。これらのピン24は通路30の中
心を通っており、かくして、これらのピン24は通路3
0の壁部に対して電気的に絶縁されている。この電気的
絶縁の為には、更に、ピン24に絶縁スリ−ブ(図示省
略)をかぶせてもよいし、その他の手段を講じてもよ
い。上記シ−ラント34はサブアセンブリ−18を床部
14bに対して気密に固着している。上記基体20には
センサ−圧力通路36が形成されている(図1、図
2)。この圧力通路36は、その下に位置する、ハウジ
ング本体14の圧力通路26と連通していて、両通路を
流体が通る。また、圧力通路36は、前記感知体22の
内部に形成されている流体室38とも連通している。ハ
ウジング本体14の前記側壁14cは、床部14bの上
に、前記の流体スペ−ス32を形成している。この側壁
14cの上端に前記ダイヤフラム16が取付けられてい
てハウジング12を密閉している。流体スペ−ス32に
は不活性の流体(図示せず)が満たされており、ダイヤ
フラム16に外部から圧力が加わると、この流体がその
圧力を圧力感知体22のダイヤフラム23に伝える。そ
うすると、このダイヤフラム23は、ダイヤフラム16
に加わった圧力と流体室38の中の圧力との差に応じて
振れる。この図1のセンサ−10を使用して測定できる
のは、差圧とゲ−ジ圧である。即ち、差圧を測定する時
は、第2の圧力を、圧力通路26、36を経てダイヤフ
ラム23に加える。ゲ−ジ圧測定の時は、圧力通路2
6、36は大気と連通したままにしておく。更にもう一
つの用途として、両通路26、36を密閉するか或は取
り除いてしまえば、ダイヤフラム16に外部から加わ
り、流体スペ−ス32内の流体によって圧力感知体22
の上端に伝えられる絶対圧力、を測定することができ
る。図2に示した通り、サブアセンブリ−18において
は、既述の基体20の上に既述のソリッドステ−ト感知
体22が取付けてある。基体20には、圧力通路36の
ほかにも、縦穴を複数貫通させてあり、これらの縦穴の
中に導電体42が設けてある。この導電体42は、基体
20の下面から下に突出しているコネクタ−ピン24
を、導電パッド24aを介して、基体20上に形成され
た導電材44に、接続している。符号46は、一端が導
電材44に、他端が圧力感知体22上に設けられた接点
22aに、接続された導線を指す。この様な電気的接続
により、圧力感知体22を、ピン24により、電子デ−
タ収集装置その他の電気的装置に接続することができ
る。感知体22は、接着剤48(典型的な場合にあって
は、柔軟性の有る接着剤)で基体20に固着されてい
る。圧力通路36は接着剤48(接着剤の層)を貫通し
て既述の流体室38と連通している。また、図示の圧力
感知体22は、シリコンを材質とする箱体を逆様にした
もので、その側壁は全体が途切れなく形成されており、
その下端が接着剤層48によって基体20に固着されて
いる。また、この感知体22の中央部分は厚みが他の部
分より薄く、この中央部分がセンサ−ダイヤフラム23
を形成している。従って、既述の流体室38は、この箱
形の圧力感知体22によって形成されているものであ
り、同流体室38は、接着剤層48の存在により、流体
スペ−ス32内の圧力の影響を被らない。圧力感知体2
2の中央部の上面に、つまり、ダイヤフラム23上に、
複数の電気エレメント22bが設けてある。ダイヤフラ
ム23が圧力によって振れると、この電気エレメントが
その振れを検出することができる。このエレメントとし
ては、ひとつ又はそれ以上のコンデンサ−板を形成する
ひとつ又はそれ以上の導電フィルムを使用してもよい
し、或は、圧抵抗形のものを使用してもよい。この電気
エレメントは感知体22上の接点22aに接続されてい
る。図3、4は、図1、2のサブアセンブリ−18の組
立て方法を示している。まず組立て第1段階58aにお
いて、未焼成の(つまり、生の)セラミクスから、3枚
のラミネ−ト52、54、56を取る。そして、各ラミ
ネ−トに、圧力通路36用の穴と、のちほど導電体42
をその中に形成すべき穴42aを、あける。次の段階5
8bでは、上記の穴42aの中に導電材料を充填する。
典型的な場合において、この導電材料として、耐火金属
インキ(超硬合金インキ)を使用する。かくして導電体
42の一部分を形成する。次に、第3段階58cにおい
て、一番上のラミネ−ト52上に導電材44を形成す
る。方法としては、たとえばシルクスクリ−ニングを行
うことができる。そして、一番下のラミネ−ト56の底
面に導電パッド24aを形成する。導電材44の場合と
同様、たとえばシルクスクリ−ニングでこのパッドを形
成することができる。このパッドはのちほどコネクタ−
ピン24に接続する。更に、同じく第3段階58cにお
いて、一番上のラミネ−ト52上に導電シ−リングパッ
ド60を形成する。このパッド60は、導電材44の周
囲に途切れなく形成する。このパッド60は、段階58
jの説明で述べるように、テスト機構を載せる為の物で
ある。従って、これはテスト用の物であるから、これを
形成するしないは、任意である。次の段階58dでは、
未焼成のラミネ−ト52、54、56を、それらの穴が
上下揃うように、互いに重ね合わせて接着させ、必要な
圧力を加えながら全体を焼成する。かくして、3枚のラ
ミネ−トが合体した一体構造(つまり、基体20)を形
成すると共に、穴42aの中に充填した導電材料が穴4
2aに接着するに至らしめる。但し、この様にラミネ−
トを接着、焼成する前に、図示の様に、一番上のラミネ
−ト52の上面と一番下のラミネ−ト56の底面に、溝
62を彫ることができる。この溝62は、複数の基体2
0が連接状態で完成した時に、個々に切り離す境界部分
になる。次の段階58eでは、コネクタ−ピン24を基
体20の底面に取付ける。即ち、コネクタ−ピン24を
導電パッド24aにろう付けする。ピン24はかくして
中心線28と平行に組付けられ、雌接触子と機械的、電
気的に接続すべき雄コネクタ−ピンとして機能する。次
に、段階58f(図3)で、各基体20上に、柔軟性の
有る接着剤48を塗布する。方法としてはステンシルを
使用するのが望ましい。以下この接着剤48を「接着剤
層48」とも呼ぶ。次に、段階58gで、接着剤層48
の上にソリッドステ−ト圧力感知体22を載せて押し付
ける。そうすると、接着剤層48は圧力を加えられるの
で基体20に一層密着し、基体20と接着剤層48の間
からの空気の侵入が一層防止される。しかしながら、接
着剤48は柔軟性を有するため、もし基体20に応力が
生じたり基体20が変形したりしても、接着剤48がそ
れを吸収してしまい、それを感知体22に伝えない。こ
のように感知体22は外部応力の影響を受けないので、
偽信号を発生する恐れがない。つまり、基体20の変
形、応力はダイヤフラム23には伝わらないのである。
次の段階58hにおいて、以上のようにして形成した複
数のサブアセンブリ−を(溝62部分で)互いに切り離
す。そして次の段階58iにおいて、導線46を、感知
体22の接点22aと基体20の導電材44とに、接続
する。これで各サブアセンブリ−18が完成する。次
に、完成した各サブアセンブリ−18を、段階58jに
おいて、テストする。即ち、サブアセンブリ−18にテ
スト圧力を加えた場合に、同サブアセンブリ−18がど
んな電気信号を出力するかテストする。図示のテストで
は、サブアセンブリ−18を下部テスト機構66にはめ
込む。このテスト機構66は、サブアセンブリ−18の
圧力通路36と連通する通路66aを備えている。この
通路66aは基準テスト圧力(たとえば周囲圧力)に接
続する。またテスト機構66は、外部テスト装置(図示
せず)に接続される電気コンセント66bを備えてお
り、サブアセンブリ−18をテスト機構にはめ込む、と
は、そのコネクタ−ピン24を同コンセント66bには
め込む(接続する)、という意味である。次に、サブア
センブリ−18の基体20上に形成した導電シ−リング
パッド60にOリング状のシ−ル68aをあてがい、こ
のシ−ルに上部テスト機構68を載せる。この上部テス
ト機構68は、その中央に通路が形成されており、この
通路を通して、温度を調節されたテスト圧力が供給さ
れ、感知体22に加えられる。かくして両テスト機構6
6、68はサブアセンブリ−18のダイヤフラム23に
テスト差圧並びに温度を加える。その結果サブアセンブ
リ−18がどんな電気的反応を示すかを、コンセント6
6bを通じて接続された外部テスト装置によってモニタ
−する。この段階58jのテストは、サブアセンブリ−
18を図1のハウジング12に取付ける前に行う。従っ
て、このテストの結果欠陥が有ると判明したサブアセン
ブリ−18は捨ててしまう、或は、加工し直すことがで
きる。また、このテストによって実際に測定された性能
(たとえば感度)に応じてサブアセンブリ−18を分類
し、個々のサブアセンブリ−18をどのハウジングに取
付けるかを、この性能に応じて決めることができる。さ
て、段階58jのテスト結果が満足できるものであれば
そのサブアセンブリ−18を図1のハウジング12に、
次の様にして、取付ける。即ち、シ−ラント34をハウ
ジング床部14表面に塗布する。そして、サブアセンブ
リ−18の圧力通路36がハウジング12の圧力通路2
6と縦の一本の通路を形成し、コネクタ−ピン24がハ
ウジング12の通路30の中に、どこにもつかえないよ
うに差し込まれるように、そのようにサブアセンブリ−
18を位置させた上で、同アセンブリ−18をシ−ラン
トに固着する。かくしてサブアセンブリ−18がハウジ
ング12に組付けられる。次に、流体スペ−ス32の中
に圧縮不能の液体を満たし、そして、ダイヤフラム16
を所定位置に取付ける。これでセンサ−10が完成す
る。ところで、グリ−ンセラミックシ−トを備えた半導
体IC用の気密パッケ−ジの製造技術分野の熟練者であ
れば理解できる通り、上記の組立て方法の幾つかの手順
を変更することができる。たとえば、図示の方法では段
階58hで複数のサブアセンブリ−18を互いに切り離
したが、この切り離しの時点を変更することができる。
また、導線46の取付け、並びに、上記テストを、上記
切り離し作業の前に行うことも可能である。図5は図
3、4の組立て段階の幾つかを要約的に示している。但
し、図5は、3枚のラミネ−トを接合して形成した、全
体が一枚の基体に、複数のサブアセンブリ−18を同時
組立てする時の連続する幾つかの段階を示しているもの
であるが、互いに製造段階の異なるものがある。この様
な図5の製造方法は、こういうやり方も可能であるとい
う意味で説明の為に図示したのであって、実際の典型的
な製造方法としては、全体が一枚の基体上で組立てられ
るサブアセンブリ−18は、すべて、同じ作業が行われ
るものであり、どの時点でも同じ製造段階にあるのが普
通である。特に、図5の基体20−1、20−2は図3
の組立て段階58fが既に済んでいる。つまり、基体が
完成しており、コネクタ−ピン24も取付け済みであ
る。基体20−4、20−5、20−6は、段階58f
に従って、接着剤層48がシルクスクリ−ニング又はス
テンシルで形成されている。これらの基体並びに基体2
0−3において、接着剤層48は、いずれも、圧力通路
36を上から塞がないように形成されている。しかし、
こうした配慮は普通は必要でない。何故かと言うと、も
しシルクスクリ−ニング或はステンシルによって塗布さ
れた接着剤48が圧力通路36を塞いでしまったとして
も、わずかの圧力が加わるだけでその圧力が、通路36
を塞いでいる接着剤部分を吹き飛ばしてしまうからであ
る。しかしながら、図示の通り、基体20−3では、接
着剤層48は、圧力通路36を塞がないように、且つ、
基体20−4等の場合とはちがった形状に、形成されて
いる。基体20−7、20−8は58g、58hの両段
階が済んでいる。基体20−9、20−10は組立て最
終段階58iが完了している。また、図5において、既
述の溝62が彫られており、この溝部分で個々のサブ基
体20を互いに切り離せばよい。溝62は、できれば、
段階58dにおいて、全体を接着した後、焼成前に、彫
るのが望ましい。図6は本発明の別のセンサ−サブアセ
ンブリ−70を示している。このサブアセンブリ−70
は、複数枚のセラミックラミネ−トが接合されて形成さ
れた基体72を備えている。この基体72は床部と側壁
を持っている。そしてこの床部と側壁で流体スペ−ス1
02を形成している。上記床部にはソリッドステ−ト圧
力感知体74が固着されている。基体72を構成するラ
ミネ−トは5枚である。即ち、ほぼ同一の矩形を成す下
の3枚のラミネ−ト76、78、80と、その上の2枚
のラミネ−ト82、84である。図7に明瞭に示してあ
る通り、圧力感知体74は下の3枚のラミネ−トの中央
部分に取付けられている。上の2枚82、84は下の3
枚と外形寸法は同じである。そして上の2枚は、それぞ
れが、矩形の中央スペ−スを備えている。従って上の2
枚が感知体74を取り囲む恰好になっていると同時に流
体スペ−ス102を取り囲む壁体を構成している。一番
上のラミネ−ト84の中央スペ−スは2番目のラミネ−
ト82の中央スペ−スより大きく、従って、上の2枚が
段差を作っている。セラミック基体72において、複数
の導電体86が一番下のラミネ−ト76の底面から一番
上のラミネ−ト82の上面に至っている。即ち、これら
の導電体86はラミネ−ト76、78、80、82に貫
通してあけた穴を通っている。そして、各導電体86
は、垂直方向で揃っていない、つまり、一本の直線状通
路を形成しない2つの通路86a、86bを通ってい
る。つまり、図示の通り、通路86bは、流体スペ−ス
102を基準として、通路86aよりも外側に位置して
いる。しかしながら、この様にずれている上下の導電体
部分は、符号86cで示した個所を走る、つまり、横方
向に走る薄い中間導電体部分によって、互いに接続され
ている。従って、導電体86は、上下の通路86a、8
6bを通る導電体部分と中間86cを走る導電体部分と
で構成されているわけである。この様に導電体が基体の
中の別の通路を通るという構造は、基体72に対する上
部の接続と下部の接続を別個に行うことができるという
利点をもたらす。基体72の底面には導電材92が配置
されている。この導電材92は導電体86と接触してい
る。雄コネクタ−ピン94が同導電材92に電気的に接
触した状態で基体72に取付けられている。取付け方法
としてはろう付けが適当である。また、上から2枚目の
ラミネ−トの上面にも導電材96が形成されている。こ
の各導電材96は、導電体86の上端と電気的に接触し
ており、2枚目のラミネ−トの、外部へ露出した表面上
に取付けられているから、外部から手で触れることがで
きる。この導電体86と、感知体74上の接点74a
は、導線98で接続されている。この導線98は、感知
体74上に設けられた圧抵抗又は容量性回路エレメント
(図示省略)をコネクタ−ピン94に電気的に接続する
ものである。感知体74としては図1の感知体22と同
一の物を使用してよい。感知体74は基体72の床部に
柔軟性の有る接着剤により接着されている。感知体74
の流体スペ−ス102と基体72の床部との間に形成さ
れている流体室105はラミネ−ト76、78、80を
通る圧力通路104と連通している。符号88はこの連
通の中心線である。この図6のサブアセンブリ−70は
図3、4と同様の方法で組み立てるのが望ましい。特
に、5枚の(サイズの大きな)ラミネ−ト、つまり5枚
のグリ−ンセラミックシ−ト、に穴をあけることにより
複数のサブアセンブリ−70を同時形成できる。そし
て、圧力通路104を形成すべき穴以外の穴に導電性イ
ンクを充填する。次に、86cの部分と92、96の部
分に導電材料をコ−ティングする。更に、一番上のラミ
ネ−ト84に導電性シ−リング材106をコ−ティング
してもよい。 次に5枚のラミネ−トを重ね合せ接着
し、溝108を彫る。そして、全体を焼成すれば、5層
から成る一体構造の基体72ができあがると同時に各層
の導電体部分が電気的に接続されて途切れのない導電体
86が形成される。こうして基体72が完成したら、次
に、コネクタ−ピン94を取付ける。そして次に、基体
72の中間層80の上面に接着剤100を塗布する。そ
こで、次に、圧力感知体74を接着剤100に固着す
る。そして、導線98の一端を基体72の導電材96
に、その他端を感知体74の接点74aに接続する。こ
れで各サブアセンブリ−70は完成であり、機能テスト
を行うことができる。個々のサブアセンブリ−70を互
いに切り離す作業はテスト前又は後、どちらの時点で行
ってもよい。切り離す時は、溝108の部分で切り離
す。テストは図4の段階58jと同様の方法で行うこと
ができる。機能テストの結果が満足できるものであれ
ば、そのサブアセンブリ−70を、図7に示した様にセ
ンサ−ハウジング112に取付ける。これで圧力センサ
−111の完成である。図示のハウジング112の本体
114は中央に流体スペ−スを有している。この本体1
14は、典型的な場合にあっては、ステンレス又はステ
ンレスと同様の材質のものとする。また、本体114は
隔壁の役割を果たす床部114aを有し、この床部11
4aにサブアセンブリ−70が接着剤115によって接
合してある。この接着剤115が基体72の底面を床部
114aに気密に固着している。床部114aにはコネ
クタ−通路116が形成してあり、コネクタ−ピン94
が同通路を通っている。また中央に、サブアセンブリ−
70の通路104と連通する圧力通路118が形成され
ている。従って、圧力通路118、104と流体室10
5は互いに連通している。ハウジング本体114の上端
に隔離ダイヤフラム122が気密に取付けてある。この
ダイヤフラム122は、ハウジング112内の、サブア
センブリ−70を取り囲む流体スペ−ス、に満たされた
液体124を上から密閉している。以上本発明の2種類
のセンサ−、つまり図1のセンサ−10と図7のセンサ
−111を説明したが、いずれのセンサ−の場合も、基
体(20、72)は半導体IC製造で使用されている、
同じグリ−ンセラミック材料を材質としている。この材
質の一例を挙げれば、クアズ・エレクトロニクス・パッ
ケ−ジ・カンパニ−(テネシ−州チャッタヌガ)が販売
している、「92%アルミナセラミック/AST D−
24421のタイプ1」と表示された製品がそれであ
る。また両センサ−のソリッドステ−ト圧力感知体(2
2、74)としては、ザ・フォックスボロ・カンパニ−
の販売する「シリ−ズ840圧力トランスミッタ−」に
取付けられているシリコンセンサ−チップ(これは19
91年3月28日に出願された米国特許願第676,9
14号で説明されている)を使用することができる。ま
た、図1、2の実施例の接着剤48並びに図6、7の実
施例の接着剤100としては、ジェネラル・エレクトリ
ック・カンパニ−が販売している室温硬化ゴム系接着剤
(フルオロシリコンゴムNo.FSL7210)を使用
できる。また、図1のシ−ラント34(これはサブアセ
ンブリ−18をハウジング本体14に接合する)並びに
図7の接着剤115(これはサブアセンブリ−70をハ
ウジング本体114に接合する)としては、エイブルス
テイック・ラボラトリ−ズ(カリフォルニア州ランチョ
・ドウミンゲイス)が販売している「エイブルフィルム
550−2−004」を使用することができる。サブア
センブリ−並びにセンサ−全体の構造、組立ての為の他
の材質、方法としては従来のものを使用することが可能
である。以上の説明から、本発明は本発明の目的を効果
的に達成するものである事が理解されよう。その目的の
一つは、圧力センサ−と、ハウジングの中に組付けるこ
との出来る機能的且つテスト可能のセンサ−サブアセン
ブリ−の組立て方法とを、比較的低コストで提供するこ
とである。更に、本発明の圧力センサ−並びにその製造
方法は、高性能で構造の頑丈な圧力センサ−を、製造段
階並びに構造エレメント上の効率を以て、提供するもの
である。最後に、既述のセンサ−構造並びに組立て方法
は、本発明範囲を逸脱することなく、周知の方法並びに
材質の中で変更可能である。従って、以上の実施例の説
明で述べ図面に示した物は、すべて、例示的なものであ
り、限定的な意味合いのものではない。
ラム式圧力センサ−サブアセンブリ−をハウジングへの
組付け前にテストできる。更に、多数のサブアセンブリ
−の同時製造が可能である。従って、本発明は、圧力セ
ンサ−サブアセンブリ−の低コスト製造を可能ならし
め、しかも、製造されるサブアセンブリ−は高性能であ
る。また、こうして製造したサブアセンブリ−は、従来
技術の様に高価で脆いガラスと金属の接着を行わずと
も、圧力的に密閉されるハウジングに容易に最終組付け
できる。また、本発明によれば、ソリッドステ−ト圧力
感知体を、柔軟性を備えた接着剤によってセラミック基
体に固着取付けすることにより、同接着剤が気密シ−リ
ングの効果を発揮すると共に、もし基体が機械的に妨害
された場合(たとえば基体が変形したり他の応力を生じ
たりした場合)でも、圧力感知体がその妨害の影響を被
らないように同感知体を充分保護することができる。従
って同感知体が偽信号を発生する恐れが殆どないのであ
る。更に本発明のもう一つの効果は、圧力感知体と、こ
の感知体を取付ける基体とを、全く同一でないにしても
同様の材質で形成できる点である。従って、圧力感知体
と基体の熱膨張係数を全く同一ではないにしても似た様
な熱膨張係数にすることが可能である。この様な材質の
一例はシリコンである。つまり、たとえば、圧力感知体
も基体もシリコンで形成することが可能である。このた
め、基体と圧力感知体がもし熱膨張或は収縮の差を生じ
るとしても、それはほんのわずかでしかない。
切取り斜視図である。
リ−の拡大斜視図である。
段階を示す図である。
である。
図である。
面図である。
ミネ−ト
Claims (18)
- 【請求項1】下記(A)〜(D)の要素を含み、下記
(E)(F)の事項を特徴とする圧力センサ−: (A)複数の基体層が積層接合されて構成された基体で
あって、内部に、圧力的に密閉された複数の貫通穴があ
けられており、これらの各貫通穴の中に導電体が、同貫
通穴の上端から下端へ至るように、設けられている基
体。 (B)上記基体の一面上に形成された接着層。 (C)上記基体の上記一面と反対の側で上記導電体に接
続されている電気コネクタ−であって、相手方の電気コ
ネクタ−と取り外し可能に接続できると共に交換可能で
もある電気コネクタ−。 (D)センサ−ダイヤフラムと、上記導電体に電気的に
接続された電気接点とを備え、これらの電気接点におい
て、上記ダイヤフラムの振れに応じて電気信号を発生さ
せる圧力感知体であって、上記接着層によって上記基体
の上記一面に接合されている圧力感知体。 (E)上記圧力感知体は上記センサ−ダイヤフラムの一
面と上記基体との間に流体室を形成している。 (F)上記センサ−ダイヤフラムは、同ダイヤフラム
の、上記一面とは反対側の面に対する圧力と、上記流体
室内の圧力との差に応じて、振れる。 - 【請求項2】下記(A)(B)の要素を更に含む請求項
1に記載の圧力センサ−: (A)前記基体と前記圧力感知体とのアセンブリ−を取
り囲むハウジングであって、同ハウジングの外部から前
記電気コネクタ−に手で触れ得る様に同電気コネクタ−
を通している複数の貫通穴が内部に形成されているハウ
ジング。 (B)前記基体の、前記一面とは反対側の面、を上記ハ
ウジングの内面に気密に固着していると共に上記ハウジ
ングの上記貫通穴を密閉している圧力密閉手段。 - 【請求項3】前記複数の基体層が平らな表面を持ってお
り、この表面上において前記接着層が前記圧力感知体を
接着取付けしている請求項1に記載の圧力センサ−。 - 【請求項4】前記接着層は、柔軟性を備えた接着剤、エ
ポキシ樹脂又ははんだであって、同接着層が前記圧力感
知体を前記基体に固着取付けしている請求項1に記載の
圧力センサ−。 - 【請求項5】前記接着層は前記基体の前記一面にステン
シルを使用して施された、柔軟性を備えた接着剤である
請求項1に記載の圧力センサ−。 - 【請求項6】前記基体は少なくとも3つの基体層で構成
され、このうち最上層を構成する基体層が窪みを形成し
ており、この窪みの中に前記接着層並びに前記圧力感知
体が設けられている請求項1に記載の圧力センサ−。 - 【請求項7】前記接着層は前記窪みの中に施された柔軟
性を有する接着剤である請求項6に記載の圧力センサ
−。 - 【請求項8】前記基体が前記流体室と連通する圧力通路
を備えている請求項1に記載の圧力センサ−。 - 【請求項9】ハウジングが、電気的接続の為に同ハウジ
ングの外部から前記電気コネクタ−に手で触れること事
を妨げることなく前記基体と前記圧力感知体を取囲んで
おり、上記ハウジングは、前記圧力通路と連通する貫通
路が内部に形成された床部を有する事を特徴とする請求
項8に記載の圧力センサ−。 - 【請求項10】前記基体は、その前記一面からこの面と
は反対側の面へ貫通する圧力通路を有し、前記圧力感知
体はこの圧力通路と連通しており、従って、前記センサ
−ダイヤフラムは、前記基体の上記一面に加わった圧力
と上記圧力通路内の圧力との差に応じて振れる請求項1
に記載の圧力センサ−。 - 【請求項11】前記基体は複数枚のセラミックシ−トが
積層接合された物であり、前記圧力感知体はシリコンを
材質とする請求項1に記載の圧力センサ−。 - 【請求項12】ハウジングとサブアセンブリ−を備えた
圧力センサ−であって、同サブアセンブリ−をテストす
るフォ−マットとして最少限のテストフォ−マットしか
必要とせず、同テスト実施後に上記サブアセンブリ−を
上記ハウジングに組付けて組立てられるようにしてお
り、構成要素として下記(A)〜(D)の要素を含み、
下記(E)の事項を特徴とする圧力センサ−: (A)複数の基体層が積層接合されて構成されたセラミ
ック基体であって、内部に、圧力通路が貫通しており、
この圧力通路の中に、同圧力通路の一端から他端へ至る
導電体が設けられ、同圧力通路部分を除いては圧力的に
密閉されているセラミック基体。 (B)上記基体の一面上に形成された接着層。 (C)上記基体の上記一面と反対の側で上記導電体に接
続されている電気コネクタ−であって、相手方の電気コ
ネクタ−と取り外し可能に接続できると共に交換可能で
もある電気コネクタ−。 (D)センサ−ダイヤフラムと、上記導電体に電気的に
接続された複数の電気接点とを備え、これらの電気接点
において、上記ダイヤフラムの振れに応じて電気信号を
発生させるソリッドステ−ト圧力感知体であって、上記
基体の上記一面に上記接着層によって接着されているソ
リッドステ−ト圧力感知体。 (E)上記基体の上記一面に加わる圧力と上記圧力通路
内の圧力との差に対する上記圧力感知体の電気的反応の
テストを、サブアセンブリ−をハウジングに組付ける前
に、上記電気コネクタ−で実施することが可能である。 - 【請求項13】下記(A)〜(D)の段階を含む圧力セ
ンサ−製造方法: (A)複数の基体層が積層接合されて構成された基体で
あって、内部に、気密の貫通路が複数本形成されてお
り、これらの貫通路の中に、同貫通路の一端から他端へ
至る導電体が設けられている基体、を用意する。 (B)上記基体の一面上に接着層を形成する。 (C)相手方の電気コネクタ−と取り外し可能に接続で
きると共に交換可能でもある電気コネクタ−を、上記基
体の、上記一面とは反対の側に、取付ける。 (D)センサ−ダイヤフラムと、上記導電体に電気的に
接続された複数の電気接点とを備え、これらの電気接点
において、上記センサ−ダイヤフラムの振れに応じて電
気信号を発生させる圧力感知体を、上記接着層によっ
て、上記基体の上記一面に接合する。 - 【請求項14】前記複数の基体層は各々がセラミックシ
−トであり、前記圧力感知体がシリコンを材質とする事
を特徴とする請求項13に記載の圧力センサ−製造方
法。 - 【請求項15】更に下記(A)(B)の段階を含む請求
項13に記載の圧力センサ−製造方法: (A)下記(i)()の手順によって、一枚の未焼成
セラミックシ−トから、複数のセンサ−サブアセンブリ
−用の各基体層を同時に形成する; (i)上記未焼成セラミックシ−トに複数の貫通穴をあ
け、これらの貫通穴の中に前記導電体の構成部分を形成
する。 ()上記シ−トを互いに積層接合し上記導電体構成部
分を互いに接続することにより、前記導電体が内部に貫
通形成された前記基体を、複数個、並んだ状態で形成す
る。 (B)上記複数個の基体を互いに切り離す。 - 【請求項16】前記セラミックシ−トを互いに積層接着
し、全体に対し、個々のセンサ−サブアセンブリ−の境
界を定める溝を彫り、そして、全体を焼成することによ
り、これらのセラミックシ−トを接合すると共に各導電
体構成部分を接続する段階を更に含む請求項15に記載
の圧力センサ−製造方法。 - 【請求項17】更に下記(A)〜(C)の段階を含む請
求項13に記載の圧力センサ−製造方法: (A)前記圧力感知体と前記基体との間に流体室を形成
する。 (B)上記基体に、上記流体室と連通する圧力通路を貫
通形成する。 (C)前記接着層形成段階において、前記圧力通路が同
接着層によって妨害されないようにする。 - 【請求項18】下記(A)〜(F)の段階を含む圧力セ
ンサ−製造方法: (A)複数の基体層が積層接合されて構成されたセラミ
ック基体であって、内部に、圧力通路が貫通しており、
この圧力通路の中に、同圧力通路の一端から他端へ至る
導電体が設けられ、同圧力通路部分を除いては圧力的に
密閉されているセラミック基体を用意する。 (B)上記基体の一面上に接着層を形成する。 (C)相手方の電気コネクタ−と取り外し可能に接続で
きると共に交換可能でもある電気コネクタ−を、上記基
体の上記一面とは反対の側でで、上記導電体に接続す
る。 (D)センサ−ダイヤフラムと、上記導電体に電気的に
接続された複数の電気接点とを備え、これらの電気接点
において、同ダイヤフラムの振れに応じて電気信号を発
生させるソリッドステ−ト圧力感知体を、上記接着層に
よって、上記基体の上記一面に接着する。 (E)上記基体の上記一面に加わる圧力と上記圧力通路
内の圧力との差に対する上記圧力感知体の電気的反応
を、上記電気コネクタ−においてテストする。 (F)上記圧力感知体と上記電気コネクタ−とを有する
上記基体をハウジングの中に組付ける。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US07/825,620 US5285690A (en) | 1992-01-24 | 1992-01-24 | Pressure sensor having a laminated substrate |
| US825620 | 2001-04-03 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06258163A true JPH06258163A (ja) | 1994-09-16 |
| JP3208512B2 JP3208512B2 (ja) | 2001-09-17 |
Family
ID=25244498
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP02758993A Expired - Lifetime JP3208512B2 (ja) | 1992-01-24 | 1993-01-23 | 複数枚のラミネートで構成された基体を有する圧力センサー並びに同センサーの製造方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (2) | US5285690A (ja) |
| EP (1) | EP0553725B1 (ja) |
| JP (1) | JP3208512B2 (ja) |
| DE (1) | DE69309123T2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006528365A (ja) * | 2003-05-16 | 2006-12-14 | ローズマウント インコーポレイテッド | 圧力センサカプセル |
| JP2013130453A (ja) * | 2011-12-21 | 2013-07-04 | Yokogawa Electric Corp | 半導体圧力センサ |
| JP2014119433A (ja) * | 2012-12-19 | 2014-06-30 | Yokogawa Electric Corp | センサユニット |
| US8869632B2 (en) | 2011-04-14 | 2014-10-28 | Seiko Epson Corporation | Sensor device, force detection device, and robot |
Families Citing this family (71)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5969591A (en) * | 1991-03-28 | 1999-10-19 | The Foxboro Company | Single-sided differential pressure sensor |
| DE69210041T2 (de) * | 1991-12-13 | 1996-10-31 | Honeywell Inc | Entwurf von piezoresistivem drucksensor aus silizium |
| US5447073A (en) * | 1994-02-04 | 1995-09-05 | The Foxboro Company | Multimeasurement replaceable vortex sensor |
| US5583294A (en) * | 1994-08-22 | 1996-12-10 | The Foxboro Company | Differential pressure transmitter having an integral flame arresting body and overrange diaphragm |
| US5969259A (en) * | 1995-04-07 | 1999-10-19 | Sensym, Inc. | Side port package for micromachined fluid sensor |
| US5723787A (en) * | 1996-03-04 | 1998-03-03 | Alliedsignal, Inc. | Accelerometer mounting system |
| DE19612964A1 (de) * | 1996-04-01 | 1997-10-02 | Bosch Gmbh Robert | Drucksensor und Verfahren zur Herstellung eines Drucksensors |
| DE69706213T2 (de) * | 1996-04-04 | 2002-05-16 | Ssi Technologies, Inc. | Druckmessgerät und Verfahren zu seiner Herstellung |
| US5874679A (en) * | 1996-04-04 | 1999-02-23 | Ssi Technologies, Inc. | Pressure sensor package and method of making the same |
| US5831170A (en) * | 1996-04-04 | 1998-11-03 | Ssi Technologies, Inc. | Pressure sensor package and method of making the same |
| US6140144A (en) * | 1996-08-08 | 2000-10-31 | Integrated Sensing Systems, Inc. | Method for packaging microsensors |
| EP0852337A1 (en) * | 1996-12-24 | 1998-07-08 | STMicroelectronics S.r.l. | A hermetically sealed semiconductor inertial sensor |
| WO1998048254A1 (de) * | 1997-04-21 | 1998-10-29 | Michael Van Bergen | Kraftsensor |
| DE69736630D1 (de) | 1997-06-19 | 2006-10-19 | St Microelectronics Srl | Hermetisch abgeschlossener Sensor mit beweglicher Mikrostruktur |
| JP3697862B2 (ja) * | 1997-11-06 | 2005-09-21 | 株式会社デンソー | 圧力検出装置 |
| US5996418A (en) * | 1997-12-23 | 1999-12-07 | Caterpillar Inc. | Laminated pressure sensing device |
| US6782754B1 (en) | 2000-07-07 | 2004-08-31 | Rosemount, Inc. | Pressure transmitter for clean environments |
| US6907789B2 (en) | 2002-05-06 | 2005-06-21 | Honeywell International Inc. | Sensor package |
| JP3824964B2 (ja) * | 2002-05-17 | 2006-09-20 | 長野計器株式会社 | 絶対圧型圧力センサ |
| JPWO2004023126A1 (ja) * | 2002-09-03 | 2005-12-22 | 日本特殊陶業株式会社 | シリコン製マイクロセンサの実装方法、製造方法およびシリコン製マイクロセンサ |
| DE10314875B4 (de) * | 2003-04-01 | 2009-12-03 | Eads Deutschland Gmbh | Temperaturbeständiges elektronisches Bauteil in Form eines Sensors oder Aktors und Verfahren zu seiner Herstellung |
| US7347099B2 (en) * | 2004-07-16 | 2008-03-25 | Rosemount Inc. | Pressure transducer with external heater |
| US7243552B2 (en) | 2005-05-09 | 2007-07-17 | Delphi Technologies, Inc. | Pressure sensor assembly |
| US7228744B2 (en) * | 2005-05-09 | 2007-06-12 | Delphi Technologies, Inc. | Pressure transducer for gaseous hydrogen environment |
| US7679033B2 (en) * | 2005-09-29 | 2010-03-16 | Rosemount Inc. | Process field device temperature control |
| WO2007054847A2 (en) * | 2005-11-09 | 2007-05-18 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Method of manufacturing a package carrier for enclosing at least one microelectronic element and method of manufacturing a diagnostic device |
| US7635014B2 (en) * | 2005-11-11 | 2009-12-22 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method for pressure bonding and method for manufacturing semiconductor device |
| EP2275793A1 (en) * | 2006-05-23 | 2011-01-19 | Sensirion Holding AG | A pressure sensor having a chamber and a method for fabricating the same |
| EP1860418A1 (en) * | 2006-05-23 | 2007-11-28 | Sensirion AG | A method for fabricating a pressure sensor using SOI wafers |
| CN101542257B (zh) * | 2006-11-29 | 2012-04-04 | 株式会社藤仓 | 压力传感器模块 |
| US20080222884A1 (en) * | 2007-03-14 | 2008-09-18 | Honeywell International Inc. | Packaging for chip-on-board pressure sensor |
| US7779698B2 (en) * | 2007-11-08 | 2010-08-24 | Rosemount Inc. | Pressure sensor |
| JP5416904B2 (ja) * | 2008-02-12 | 2014-02-12 | 株式会社東芝 | 圧力センサおよびロボットハンドシステム |
| DE102008020862B3 (de) * | 2008-04-25 | 2009-05-14 | Siemens Aktiengesellschaft | Messumformer zur Prozessinstrumentierung und Verfahren zur Überwachung des Zustands dessen Sensors |
| US7591186B1 (en) * | 2008-05-15 | 2009-09-22 | Honeywell International Inc. | Conductive seals and method for fabricating the same |
| US8474824B2 (en) * | 2008-11-10 | 2013-07-02 | Eaton Corporation | Pressure sensing module having an integrated seal plate and method of assembling pressure sensing module |
| US7765872B2 (en) * | 2008-11-19 | 2010-08-03 | Honeywell International Inc. | Flow sensor apparatus and method with media isolated electrical connections |
| US7861595B2 (en) * | 2009-05-11 | 2011-01-04 | Honeywell International Inc. | Pressure sensing device for harsh environments |
| IT1394791B1 (it) * | 2009-05-20 | 2012-07-13 | Metallux Sa | Sensore di pressione |
| EP2259027B1 (en) * | 2009-06-04 | 2012-12-05 | Sensirion AG | Method and apparatus for processing individual sensor devices |
| EP2418503B1 (en) * | 2010-07-14 | 2013-07-03 | Sensirion AG | Needle head |
| IT1401220B1 (it) | 2010-07-15 | 2013-07-12 | Metallux Sa | Sensore e metodo di fabbricazione. |
| US8297127B2 (en) * | 2011-01-07 | 2012-10-30 | Honeywell International Inc. | Pressure sensor with low cost packaging |
| US8671766B2 (en) * | 2011-05-19 | 2014-03-18 | Infineon Technologies Ag | Integrated pressure sensor seal |
| US9077343B2 (en) | 2011-06-06 | 2015-07-07 | Microsoft Corporation | Sensing floor for locating people and devices |
| US8656786B2 (en) * | 2011-08-01 | 2014-02-25 | Honeywell International Inc. | Interchangeable pressure sensor assembly and methods of assembly |
| US20130098160A1 (en) * | 2011-10-25 | 2013-04-25 | Honeywell International Inc. | Sensor with fail-safe media seal |
| ITTO20120542A1 (it) | 2012-06-20 | 2013-12-21 | St Microelectronics Srl | Dispositivo microelettromeccanico con instradamento dei segnali attraverso un cappuccio protettivo e metodo per controllare un dispositivo microelettromeccanico |
| DE102012217404A1 (de) | 2012-09-26 | 2013-05-16 | Siemens Aktiengesellschaft | Messumformer zur Prozessinstrumentierung und Verfahren zur Überwachung des Zustands dessen Sensors |
| CN104736984B (zh) * | 2012-11-30 | 2017-09-08 | 富士电机株式会社 | 压力传感器装置及压力传感器装置的制造方法 |
| ITTO20121130A1 (it) * | 2012-12-21 | 2014-06-22 | Metallux Sa | Sensore di pressione |
| EP2871455B1 (en) | 2013-11-06 | 2020-03-04 | Invensense, Inc. | Pressure sensor |
| EP3367082A1 (en) | 2013-11-06 | 2018-08-29 | Invensense, Inc. | Pressure sensor |
| US20150143926A1 (en) * | 2013-11-23 | 2015-05-28 | Silicon Microstructures, Inc. | Area-efficient pressure sensing device |
| CN104266790B (zh) * | 2014-09-30 | 2016-11-23 | 成都卓微科技有限公司 | 一种带限位结构的双膜片式水下压力传感器 |
| DE102014119396A1 (de) * | 2014-12-22 | 2016-06-23 | Endress + Hauser Gmbh + Co. Kg | Druckmesseinrichtung |
| US10107662B2 (en) | 2015-01-30 | 2018-10-23 | Honeywell International Inc. | Sensor assembly |
| EP3614115B1 (en) | 2015-04-02 | 2024-09-11 | InvenSense, Inc. | Pressure sensor |
| EP3358326B1 (en) * | 2015-09-30 | 2020-01-08 | Hitachi Automotive Systems, Ltd. | Dynamic quantity measuring apparatus |
| JP6605971B2 (ja) * | 2016-01-26 | 2019-11-13 | 京セラ株式会社 | センサ用パッケージおよびセンサ装置 |
| US10101234B2 (en) * | 2016-02-11 | 2018-10-16 | Rosemount Aerospace, Inc. | Open diaphragm harsh environment pressure sensor |
| US10782315B2 (en) * | 2017-04-17 | 2020-09-22 | Rosemount Aerospace Inc. | Apparatus and method for packaging, handling or testing of sensors |
| US10163660B2 (en) | 2017-05-08 | 2018-12-25 | Tt Electronics Plc | Sensor device with media channel between substrates |
| DE102017212866A1 (de) * | 2017-07-26 | 2019-01-31 | Robert Bosch Gmbh | Drucksensoranordnung, Messvorrichtung und Verfahren zu deren Herstellung |
| US11225409B2 (en) | 2018-09-17 | 2022-01-18 | Invensense, Inc. | Sensor with integrated heater |
| US11385118B2 (en) * | 2018-12-07 | 2022-07-12 | Vitesco Technologies USA, LLC | Pressure sensor with external vertical electrical interconnection system |
| JP7240869B2 (ja) * | 2018-12-14 | 2023-03-16 | 株式会社アドバンテスト | センサ試験システム |
| CN113785178B (zh) | 2019-05-17 | 2024-12-17 | 应美盛股份有限公司 | 气密性改进的压力传感器 |
| CN117213699A (zh) * | 2023-05-07 | 2023-12-12 | 武汉飞恩微电子有限公司 | 压力芯体组件、压力感测组件及压差传感器 |
| CN117213698A (zh) * | 2023-05-07 | 2023-12-12 | 武汉飞恩微电子有限公司 | 压力芯体单元、压力感测组件及压力传感器 |
| CN117213700A (zh) * | 2023-05-07 | 2023-12-12 | 武汉飞恩微电子有限公司 | 压力芯体单元、压力传感器、压力芯体组件及压差传感器 |
Family Cites Families (30)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB1276095A (en) * | 1968-09-05 | 1972-06-01 | Secr Defence | Microcircuits and processes for their manufacture |
| US4023562A (en) * | 1975-09-02 | 1977-05-17 | Case Western Reserve University | Miniature pressure transducer for medical use and assembly method |
| US4120206A (en) * | 1977-01-17 | 1978-10-17 | Rosemount Inc. | Differential pressure sensor capsule with low acceleration sensitivity |
| JPS5524423A (en) * | 1978-08-10 | 1980-02-21 | Nissan Motor Co Ltd | Semiconductor pressure sensor |
| JPS5817421B2 (ja) * | 1979-02-02 | 1983-04-07 | 日産自動車株式会社 | 半導体圧力センサ |
| US4222277A (en) * | 1979-08-13 | 1980-09-16 | Kulite Semiconductor Products, Inc. | Media compatible pressure transducer |
| US4417392A (en) * | 1980-05-15 | 1983-11-29 | Cts Corporation | Process of making multi-layer ceramic package |
| US4399707A (en) * | 1981-02-04 | 1983-08-23 | Honeywell, Inc. | Stress sensitive semiconductor unit and housing means therefor |
| JPS5893358A (ja) * | 1981-11-30 | 1983-06-03 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置 |
| JPS60136294A (ja) * | 1983-12-23 | 1985-07-19 | 株式会社日立製作所 | セラミック多層配線回路板 |
| US4801561A (en) * | 1984-07-05 | 1989-01-31 | National Semiconductor Corporation | Method for making a pre-testable semiconductor die package |
| DE3447396A1 (de) * | 1984-12-24 | 1986-07-03 | Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart | Elektrischer druckgeber |
| US4640010A (en) * | 1985-04-29 | 1987-02-03 | Advanced Micro Devices, Inc. | Method of making a package utilizing a self-aligning photoexposure process |
| US4658651A (en) * | 1985-05-13 | 1987-04-21 | Transamerica Delaval Inc. | Wheatstone bridge-type transducers with reduced thermal shift |
| US4612227A (en) * | 1985-12-16 | 1986-09-16 | Honeywell Inc. | Pressure sensor header |
| US4732042A (en) * | 1986-04-22 | 1988-03-22 | Motorola Inc. | Cast membrane protected pressure sensor |
| US4730496A (en) * | 1986-06-23 | 1988-03-15 | Rosemount Inc. | Capacitance pressure sensor |
| JPH0810170B2 (ja) * | 1987-03-06 | 1996-01-31 | 株式会社日立製作所 | 半導体絶対圧力センサの製造方法 |
| US4798089A (en) * | 1987-03-12 | 1989-01-17 | Rosemount Inc. | Isolator apparatus |
| US4756193A (en) * | 1987-09-11 | 1988-07-12 | Delco Electronics Corporation | Pressure sensor |
| EP0317664B1 (de) * | 1987-11-27 | 1992-03-04 | Kristal Instrumente AG | Messzelle, insbesondere für Relativ- und Differenzdruckmessungen |
| US4841777A (en) * | 1988-03-22 | 1989-06-27 | Honeywell Inc. | Pressure transmitter assembly |
| US4888992A (en) * | 1988-04-15 | 1989-12-26 | Honeywell Inc. | Absolute pressure transducer and method for making same |
| JP2656566B2 (ja) * | 1988-08-31 | 1997-09-24 | 株式会社日立製作所 | 半導体圧力変換装置 |
| US4944187A (en) * | 1988-12-23 | 1990-07-31 | Rosemount Inc. | Multimodulus pressure sensor |
| JP2639159B2 (ja) * | 1989-04-14 | 1997-08-06 | 富士電機株式会社 | 静電容量式差圧検出器 |
| JP2503290B2 (ja) * | 1990-05-21 | 1996-06-05 | 株式会社日立製作所 | 半導体圧力・差圧測定ダイヤフラム |
| US5142912A (en) * | 1990-06-15 | 1992-09-01 | Honeywell Inc. | Semiconductor pressure sensor |
| JP2719448B2 (ja) * | 1991-01-24 | 1998-02-25 | 三菱電機株式会社 | 半導体圧力検出装置 |
| US5133215A (en) * | 1991-06-19 | 1992-07-28 | Honeywell Inc. | Pressure transmitter assembly having sensor isolation mounting |
-
1992
- 1992-01-24 US US07/825,620 patent/US5285690A/en not_active Expired - Lifetime
-
1993
- 1993-01-22 DE DE69309123T patent/DE69309123T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1993-01-22 EP EP93100947A patent/EP0553725B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1993-01-23 JP JP02758993A patent/JP3208512B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1993-11-12 US US08/150,838 patent/US5407501A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006528365A (ja) * | 2003-05-16 | 2006-12-14 | ローズマウント インコーポレイテッド | 圧力センサカプセル |
| US8869632B2 (en) | 2011-04-14 | 2014-10-28 | Seiko Epson Corporation | Sensor device, force detection device, and robot |
| JP2013130453A (ja) * | 2011-12-21 | 2013-07-04 | Yokogawa Electric Corp | 半導体圧力センサ |
| JP2014119433A (ja) * | 2012-12-19 | 2014-06-30 | Yokogawa Electric Corp | センサユニット |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3208512B2 (ja) | 2001-09-17 |
| DE69309123T2 (de) | 1997-10-30 |
| EP0553725A3 (en) | 1993-10-20 |
| DE69309123D1 (de) | 1997-04-30 |
| EP0553725A2 (en) | 1993-08-04 |
| US5285690A (en) | 1994-02-15 |
| EP0553725B1 (en) | 1997-03-26 |
| US5407501A (en) | 1995-04-18 |
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