JPH06258163A - 複数枚のラミネートで構成された基体を有する圧力センサー並びに同センサーの製造方法 - Google Patents

複数枚のラミネートで構成された基体を有する圧力センサー並びに同センサーの製造方法

Info

Publication number
JPH06258163A
JPH06258163A JP5027589A JP2758993A JPH06258163A JP H06258163 A JPH06258163 A JP H06258163A JP 5027589 A JP5027589 A JP 5027589A JP 2758993 A JP2758993 A JP 2758993A JP H06258163 A JPH06258163 A JP H06258163A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pressure
pressure sensor
substrate
sensor
diaphragm
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP5027589A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3208512B2 (ja
Inventor
Edward F Koen
エフ. コーエン エドワード
Robert D Vernon
ディー. バーノン ロバート
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Schneider Electric Systems USA Inc
Original Assignee
Foxboro Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Foxboro Co filed Critical Foxboro Co
Publication of JPH06258163A publication Critical patent/JPH06258163A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3208512B2 publication Critical patent/JP3208512B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
    • G01L19/00—Details of, or accessories for, apparatus for measuring steady or quasi-steady pressure of a fluent medium insofar as such details or accessories are not special to particular types of pressure gauges
    • G01L19/0061—Electrical connection means
    • G01L19/0084—Electrical connection means to the outside of the housing
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
    • G01L19/00—Details of, or accessories for, apparatus for measuring steady or quasi-steady pressure of a fluent medium insofar as such details or accessories are not special to particular types of pressure gauges
    • G01L19/14—Housings
    • G01L19/147—Details about the mounting of the sensor to support or covering means
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
    • G01L27/00—Testing or calibrating of apparatus for measuring fluid pressure
    • G01L27/007—Malfunction diagnosis, i.e. diagnosing a sensor defect
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
    • G01L9/00—Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means
    • G01L9/0041—Transmitting or indicating the displacement of flexible diaphragms
    • G01L9/0042—Constructional details associated with semiconductive diaphragm sensors, e.g. etching, or constructional details of non-semiconductive diaphragms
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/851—Dispositions of multiple connectors or interconnections
    • H10W72/874—On different surfaces
    • H10W72/884—Die-attach connectors and bond wires
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00—Metal working
    • Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/49002—Electrical device making
    • Y10T29/49082—Resistor making
    • Y10T29/49103—Strain gauge making

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • Measuring Fluid Pressure (AREA)
  • Pressure Sensors (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】安価なテストフォ−マットを有する、ダイヤフ
ラムを使用した圧力センサ−、並びに、この様な圧力セ
ンサ−の製造方法、を提供する。 【構成】圧力センサ−サブアセンブリ−18は、複数枚
のラミネ−トを積層接合して形成したセラミック基体2
0上に取付けられたソリッドステ−ト圧力感知体22を
有する。この圧力感知体22には電気信号接点22aが
設けてあり、この接点は、基体20に取付けたコネクタ
−ピン24と電気的に接続されている。製造方法として
は、複数個のサブアセンブリ−を一枚状の基体構造に形
成することが可能であり、その後でこれらのサブアセン
ブリ−を個々に切り離すことができる。これらのサブア
センブリ−は切り離し前にテスト、分類してもよいし、
も或は、切り離し後にそうしてもよい。テスト後、各サ
ブアセンブリ−をハウジングに組付ける。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、圧力に対して反応する
ダイヤフラムを使用した圧力センサ−並びにその製造方
法に関するものであり、特に、センサ−ダイヤフラムを
備えたソリッドステ−ト圧力感知体を有するセンサ−サ
ブアセンブリ−とその組立て方法に関する。
【0002】
【従来の技術】典型的な圧力感知体は、外部に開口した
流体室の上に、薄いシリコンダイヤフラムを取付けてい
る。圧力振動によってダイヤフラムは流体室の中へ或は
反対側へ振れる。この振れは電気的パラメ−タ−(典型
的な場合にあっては、キャパシタンスや抵抗)を変化さ
せる。この変化は測定して圧力反応情報に変換できる。
ソリッドステ−ト圧力感知体を苛酷な環境で使用する場
合には、この感知体が測定(される)流体と直接接触し
ないよう、同感知体を取り囲んで保護する必要がある。
この為に従来使用されているハウジングとしては、たと
えば、圧力感知ダイヤフラムを測定流体から隔て流体圧
力が変化すると振れるフレキシブルな隔離ダイヤフラム
で覆われたメタルベ−スを使用したものがある。このハ
ウジングの中には、隔離ダイヤフラムとセンサ−ダイヤ
フラムの間に、非腐食性で不活性の流体が満たされてお
り、この流体が、測定圧力をセンサ−ダイヤフラムに伝
える。圧力感知体から圧力センサ−の外部接点へ信号を
運ぶ導電体が気密シ−ルを貫通してハウジングの外部へ
出ている。このシ−ルは、典型的な場合にあっては、メ
タルベ−スにガラスと金属を接着する接着剤を使用して
個々の接点ごとに別個に形成される。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】従来、圧力感知体のテ
ストはハウジング内への組付け後に行われている。しか
しながら、この場合、もしテストの結果たとえば圧力感
知体或は同感知体に対する接続に欠陥が有る事が判明す
ると、材料、労力が無駄に消費されてしまう。
【0004】
【課題を解決する為の手段】そこで、本発明は上記の従
来技術の問題点を解決すべく、安価なテストフォ−マッ
トを有する、ダイヤフラムを使用した圧力センサ−、並
びに、この様な圧力センサ−の製造方法、を提供する。
圧力感知体としては、高性能のシリコンダイヤフラムを
使用した物を使用できる。圧力センサ−サブアセンブリ
−は、複数枚のラミネ−トを積層接合した基体を有し、
この基体にソリッドステ−ト圧力感知体が取付けてあ
る。この圧力感知体はセンサ−ダイヤフラムを有してお
り、同圧力感知体のどちら側も、他方の側に加わる圧力
と比較テストすべき圧力で刺激することができる。典型
的な形態にあっては、基体を貫通する圧力通路が、圧力
感知体のダイヤフラムの一方の側に形成されている流体
室と連通している。上記基体としては、少なくとも2枚
のセラミックシ−トを積層接合した物を使用するのが望
ましい。即ち、各セラミックシ−トに電気的接続用の貫
通穴と圧力通路としての貫通穴とをあけ、電気的接続用
の貫通穴の中に導電体を形成し、密閉された電気的フィ
−ドスル−接続とする。そしてシ−トを積層し接着す
る。そして、上記導電体にコネクタ−ピンを接続する。
そして、基体に、柔軟性を備えた接着剤層を形成し、こ
の接着剤層によってソリッドステ−ト圧力感知体を基体
に取付ける。この感知体上の接点と上記導電体に導線を
接続する。また、典型的な場合にあっては、ダイヤフラ
ムの振れを容量性或は抵抗(たとえば圧抵抗)方法によ
って測定する為の回路を圧力感知体に設ける。
【0005】
【作用】この様な構造にあっては、上記製造段階を終え
れば、いつでもサブアセンブリ−のテストを行える。即
ち、幾つかのテスト圧力に対し圧力感知体が電気的にど
う反応するかのテストを行うことができる。本発明の、
このサブアセンブリ−は色々な圧力感知用途で使用され
る時のままの状態で販売することができる。また、もし
圧力感知体が機械的に妨害された場合(たとえば偶然に
変形したり他の応力を生じたりした場合)でも圧力感知
体は偽信号を発生してしまう恐れが殆どない。また、本
発明によれば、基体を構成する各基体層に就いて、複数
個のサブアセンブリ−を製造するに足る大きさの一枚の
セラミックシ−トを使用することにより、多数のサブア
センブリ−を同時製造することができる。これらのシ−
トに貫通穴をあけてそこに導電体を形成し全体を積層接
合すれば、複数のサブアセンブリ−用の大きな基体がで
きあがる。本発明の一つの望ましい方法として、上記シ
−トとして、グリ−ンセラミックシ−トを使用する。で
きあがった大きな基体に溝を彫って、この溝を個々のサ
ブアセンブリ−の境界とする。そして基体を焼成する。
次にコネクタ−ピンを取付け、シリコン製感知体を接着
剤層で取付け、そして、必要な電気的接続を行う。これ
で複数のセンサ−サブアセンブリ−の同時製造が完了で
ある。本発明によれば、上記製造時点に至るまでに基体
を損傷してしまう恐れがないからサブアセンブリ−の機
能テストに好都合である。上記の様に複数のサブアセン
ブリ−を同時製造したら、次に、個々の基体を上記の溝
部分で互いに切り離す。あるいは個々の基体の切り離し
をもっと早い時点で行ってもよい。たとえば、焼成前で
あって、圧力感知体を基体に取付けた後、に行うことが
できる。個々に切り離し、テストしたサブアセンブリ−
を、従来同様メタルベ−スを有するハウジングに組付け
る。基体に取付けたコネクタ−ピンを上記ベ−スの貫通
穴に通し、ハウジング外部の電気装置に接続することが
できる。サブアセンブリ−をハウジングに固着取付けす
るシ−ラントは基体とハウジングベ−スの間を気密に密
閉する。また、典型的な場合にあっては、流体をハウジ
ングの中に満たした後で隔離ダイヤフラムでハウジング
を密閉する。かくして、この隔離ダイヤフラムに外部か
ら加わる圧力がハウジング内の圧力感知体に伝えられ
る。
【0006】
【実施例】次に、本発明の実施例を図面を参照して説明
する。図1に本発明の圧力センサ−10を示した。この
センサ−はハウジング12を有する。符号14はこのハ
ウジングの本体を指す。同本体14は隔離ダイヤフラム
16で閉じられ、圧力センサ−サブアセンブリ−18を
備えている。図示の、このサブアセンブリ−18は、3
枚のセラミクスラミネ−ト52、54、56で構成され
た基体20を備え、この基体に、センサ−ダイヤフラム
23を有するソリッドステ−ト感知体22が取付けられ
ている。基体20からは電気コネクタ−ピン24が突出
している。これらのピン24は外部装置と電気的に接続
されるようになっている。図示の上記ハウジング本体1
4には、内部に、圧力通路26が形成されており、流体
がこの通路26を経由してダイヤフラム23の下側へ至
る。同本体14には、更に、複数の内部通路30が、中
心線28と平行に、形成されている。これらの各通路3
0をコネクタ−ピン24が通っている。また、本体14
は、隔壁の役割を果たす床部(底部)14bと、側壁1
4cとを、有している。この床部14bと側壁14cと
で、流体スペ−ス32を形成している。この流体スペ−
ス32は、できれば、圧力通路26の軸がその中心とな
るように形成するのが望ましい。サブアセンブリ−18
は、接着力を有するシ−ラント34によって、本体14
の床部14bの平らな表面に接合されている。上記コネ
クタ−ピン24はこの床部14bを通って上記通路30
の中へ突出している。これらのピン24は通路30の中
心を通っており、かくして、これらのピン24は通路3
0の壁部に対して電気的に絶縁されている。この電気的
絶縁の為には、更に、ピン24に絶縁スリ−ブ(図示省
略)をかぶせてもよいし、その他の手段を講じてもよ
い。上記シ−ラント34はサブアセンブリ−18を床部
14bに対して気密に固着している。上記基体20には
センサ−圧力通路36が形成されている(図1、図
2)。この圧力通路36は、その下に位置する、ハウジ
ング本体14の圧力通路26と連通していて、両通路を
流体が通る。また、圧力通路36は、前記感知体22の
内部に形成されている流体室38とも連通している。ハ
ウジング本体14の前記側壁14cは、床部14bの上
に、前記の流体スペ−ス32を形成している。この側壁
14cの上端に前記ダイヤフラム16が取付けられてい
てハウジング12を密閉している。流体スペ−ス32に
は不活性の流体(図示せず)が満たされており、ダイヤ
フラム16に外部から圧力が加わると、この流体がその
圧力を圧力感知体22のダイヤフラム23に伝える。そ
うすると、このダイヤフラム23は、ダイヤフラム16
に加わった圧力と流体室38の中の圧力との差に応じて
振れる。この図1のセンサ−10を使用して測定できる
のは、差圧とゲ−ジ圧である。即ち、差圧を測定する時
は、第2の圧力を、圧力通路26、36を経てダイヤフ
ラム23に加える。ゲ−ジ圧測定の時は、圧力通路2
6、36は大気と連通したままにしておく。更にもう一
つの用途として、両通路26、36を密閉するか或は取
り除いてしまえば、ダイヤフラム16に外部から加わ
り、流体スペ−ス32内の流体によって圧力感知体22
の上端に伝えられる絶対圧力、を測定することができ
る。図2に示した通り、サブアセンブリ−18において
は、既述の基体20の上に既述のソリッドステ−ト感知
体22が取付けてある。基体20には、圧力通路36の
ほかにも、縦穴を複数貫通させてあり、これらの縦穴の
中に導電体42が設けてある。この導電体42は、基体
20の下面から下に突出しているコネクタ−ピン24
を、導電パッド24aを介して、基体20上に形成され
た導電材44に、接続している。符号46は、一端が導
電材44に、他端が圧力感知体22上に設けられた接点
22aに、接続された導線を指す。この様な電気的接続
により、圧力感知体22を、ピン24により、電子デ−
タ収集装置その他の電気的装置に接続することができ
る。感知体22は、接着剤48(典型的な場合にあって
は、柔軟性の有る接着剤)で基体20に固着されてい
る。圧力通路36は接着剤48(接着剤の層)を貫通し
て既述の流体室38と連通している。また、図示の圧力
感知体22は、シリコンを材質とする箱体を逆様にした
もので、その側壁は全体が途切れなく形成されており、
その下端が接着剤層48によって基体20に固着されて
いる。また、この感知体22の中央部分は厚みが他の部
分より薄く、この中央部分がセンサ−ダイヤフラム23
を形成している。従って、既述の流体室38は、この箱
形の圧力感知体22によって形成されているものであ
り、同流体室38は、接着剤層48の存在により、流体
スペ−ス32内の圧力の影響を被らない。圧力感知体2
2の中央部の上面に、つまり、ダイヤフラム23上に、
複数の電気エレメント22bが設けてある。ダイヤフラ
ム23が圧力によって振れると、この電気エレメントが
その振れを検出することができる。このエレメントとし
ては、ひとつ又はそれ以上のコンデンサ−板を形成する
ひとつ又はそれ以上の導電フィルムを使用してもよい
し、或は、圧抵抗形のものを使用してもよい。この電気
エレメントは感知体22上の接点22aに接続されてい
る。図3、4は、図1、2のサブアセンブリ−18の組
立て方法を示している。まず組立て第1段階58aにお
いて、未焼成の(つまり、生の)セラミクスから、3枚
のラミネ−ト52、54、56を取る。そして、各ラミ
ネ−トに、圧力通路36用の穴と、のちほど導電体42
をその中に形成すべき穴42aを、あける。次の段階5
8bでは、上記の穴42aの中に導電材料を充填する。
典型的な場合において、この導電材料として、耐火金属
インキ(超硬合金インキ)を使用する。かくして導電体
42の一部分を形成する。次に、第3段階58cにおい
て、一番上のラミネ−ト52上に導電材44を形成す
る。方法としては、たとえばシルクスクリ−ニングを行
うことができる。そして、一番下のラミネ−ト56の底
面に導電パッド24aを形成する。導電材44の場合と
同様、たとえばシルクスクリ−ニングでこのパッドを形
成することができる。このパッドはのちほどコネクタ−
ピン24に接続する。更に、同じく第3段階58cにお
いて、一番上のラミネ−ト52上に導電シ−リングパッ
ド60を形成する。このパッド60は、導電材44の周
囲に途切れなく形成する。このパッド60は、段階58
jの説明で述べるように、テスト機構を載せる為の物で
ある。従って、これはテスト用の物であるから、これを
形成するしないは、任意である。次の段階58dでは、
未焼成のラミネ−ト52、54、56を、それらの穴が
上下揃うように、互いに重ね合わせて接着させ、必要な
圧力を加えながら全体を焼成する。かくして、3枚のラ
ミネ−トが合体した一体構造(つまり、基体20)を形
成すると共に、穴42aの中に充填した導電材料が穴4
2aに接着するに至らしめる。但し、この様にラミネ−
トを接着、焼成する前に、図示の様に、一番上のラミネ
−ト52の上面と一番下のラミネ−ト56の底面に、溝
62を彫ることができる。この溝62は、複数の基体2
0が連接状態で完成した時に、個々に切り離す境界部分
になる。次の段階58eでは、コネクタ−ピン24を基
体20の底面に取付ける。即ち、コネクタ−ピン24を
導電パッド24aにろう付けする。ピン24はかくして
中心線28と平行に組付けられ、雌接触子と機械的、電
気的に接続すべき雄コネクタ−ピンとして機能する。次
に、段階58f(図3)で、各基体20上に、柔軟性の
有る接着剤48を塗布する。方法としてはステンシルを
使用するのが望ましい。以下この接着剤48を「接着剤
層48」とも呼ぶ。次に、段階58gで、接着剤層48
の上にソリッドステ−ト圧力感知体22を載せて押し付
ける。そうすると、接着剤層48は圧力を加えられるの
で基体20に一層密着し、基体20と接着剤層48の間
からの空気の侵入が一層防止される。しかしながら、接
着剤48は柔軟性を有するため、もし基体20に応力が
生じたり基体20が変形したりしても、接着剤48がそ
れを吸収してしまい、それを感知体22に伝えない。こ
のように感知体22は外部応力の影響を受けないので、
偽信号を発生する恐れがない。つまり、基体20の変
形、応力はダイヤフラム23には伝わらないのである。
次の段階58hにおいて、以上のようにして形成した複
数のサブアセンブリ−を(溝62部分で)互いに切り離
す。そして次の段階58iにおいて、導線46を、感知
体22の接点22aと基体20の導電材44とに、接続
する。これで各サブアセンブリ−18が完成する。次
に、完成した各サブアセンブリ−18を、段階58jに
おいて、テストする。即ち、サブアセンブリ−18にテ
スト圧力を加えた場合に、同サブアセンブリ−18がど
んな電気信号を出力するかテストする。図示のテストで
は、サブアセンブリ−18を下部テスト機構66にはめ
込む。このテスト機構66は、サブアセンブリ−18の
圧力通路36と連通する通路66aを備えている。この
通路66aは基準テスト圧力(たとえば周囲圧力)に接
続する。またテスト機構66は、外部テスト装置(図示
せず)に接続される電気コンセント66bを備えてお
り、サブアセンブリ−18をテスト機構にはめ込む、と
は、そのコネクタ−ピン24を同コンセント66bには
め込む(接続する)、という意味である。次に、サブア
センブリ−18の基体20上に形成した導電シ−リング
パッド60にOリング状のシ−ル68aをあてがい、こ
のシ−ルに上部テスト機構68を載せる。この上部テス
ト機構68は、その中央に通路が形成されており、この
通路を通して、温度を調節されたテスト圧力が供給さ
れ、感知体22に加えられる。かくして両テスト機構6
6、68はサブアセンブリ−18のダイヤフラム23に
テスト差圧並びに温度を加える。その結果サブアセンブ
リ−18がどんな電気的反応を示すかを、コンセント6
6bを通じて接続された外部テスト装置によってモニタ
−する。この段階58jのテストは、サブアセンブリ−
18を図1のハウジング12に取付ける前に行う。従っ
て、このテストの結果欠陥が有ると判明したサブアセン
ブリ−18は捨ててしまう、或は、加工し直すことがで
きる。また、このテストによって実際に測定された性能
(たとえば感度)に応じてサブアセンブリ−18を分類
し、個々のサブアセンブリ−18をどのハウジングに取
付けるかを、この性能に応じて決めることができる。さ
て、段階58jのテスト結果が満足できるものであれば
そのサブアセンブリ−18を図1のハウジング12に、
次の様にして、取付ける。即ち、シ−ラント34をハウ
ジング床部14表面に塗布する。そして、サブアセンブ
リ−18の圧力通路36がハウジング12の圧力通路2
6と縦の一本の通路を形成し、コネクタ−ピン24がハ
ウジング12の通路30の中に、どこにもつかえないよ
うに差し込まれるように、そのようにサブアセンブリ−
18を位置させた上で、同アセンブリ−18をシ−ラン
トに固着する。かくしてサブアセンブリ−18がハウジ
ング12に組付けられる。次に、流体スペ−ス32の中
に圧縮不能の液体を満たし、そして、ダイヤフラム16
を所定位置に取付ける。これでセンサ−10が完成す
る。ところで、グリ−ンセラミックシ−トを備えた半導
体IC用の気密パッケ−ジの製造技術分野の熟練者であ
れば理解できる通り、上記の組立て方法の幾つかの手順
を変更することができる。たとえば、図示の方法では段
階58hで複数のサブアセンブリ−18を互いに切り離
したが、この切り離しの時点を変更することができる。
また、導線46の取付け、並びに、上記テストを、上記
切り離し作業の前に行うことも可能である。図5は図
3、4の組立て段階の幾つかを要約的に示している。但
し、図5は、3枚のラミネ−トを接合して形成した、全
体が一枚の基体に、複数のサブアセンブリ−18を同時
組立てする時の連続する幾つかの段階を示しているもの
であるが、互いに製造段階の異なるものがある。この様
な図5の製造方法は、こういうやり方も可能であるとい
う意味で説明の為に図示したのであって、実際の典型的
な製造方法としては、全体が一枚の基体上で組立てられ
るサブアセンブリ−18は、すべて、同じ作業が行われ
るものであり、どの時点でも同じ製造段階にあるのが普
通である。特に、図5の基体20−1、20−2は図3
の組立て段階58fが既に済んでいる。つまり、基体が
完成しており、コネクタ−ピン24も取付け済みであ
る。基体20−4、20−5、20−6は、段階58f
に従って、接着剤層48がシルクスクリ−ニング又はス
テンシルで形成されている。これらの基体並びに基体2
0−3において、接着剤層48は、いずれも、圧力通路
36を上から塞がないように形成されている。しかし、
こうした配慮は普通は必要でない。何故かと言うと、も
しシルクスクリ−ニング或はステンシルによって塗布さ
れた接着剤48が圧力通路36を塞いでしまったとして
も、わずかの圧力が加わるだけでその圧力が、通路36
を塞いでいる接着剤部分を吹き飛ばしてしまうからであ
る。しかしながら、図示の通り、基体20−3では、接
着剤層48は、圧力通路36を塞がないように、且つ、
基体20−4等の場合とはちがった形状に、形成されて
いる。基体20−7、20−8は58g、58hの両段
階が済んでいる。基体20−9、20−10は組立て最
終段階58iが完了している。また、図5において、既
述の溝62が彫られており、この溝部分で個々のサブ基
体20を互いに切り離せばよい。溝62は、できれば、
段階58dにおいて、全体を接着した後、焼成前に、彫
るのが望ましい。図6は本発明の別のセンサ−サブアセ
ンブリ−70を示している。このサブアセンブリ−70
は、複数枚のセラミックラミネ−トが接合されて形成さ
れた基体72を備えている。この基体72は床部と側壁
を持っている。そしてこの床部と側壁で流体スペ−ス1
02を形成している。上記床部にはソリッドステ−ト圧
力感知体74が固着されている。基体72を構成するラ
ミネ−トは5枚である。即ち、ほぼ同一の矩形を成す下
の3枚のラミネ−ト76、78、80と、その上の2枚
のラミネ−ト82、84である。図7に明瞭に示してあ
る通り、圧力感知体74は下の3枚のラミネ−トの中央
部分に取付けられている。上の2枚82、84は下の3
枚と外形寸法は同じである。そして上の2枚は、それぞ
れが、矩形の中央スペ−スを備えている。従って上の2
枚が感知体74を取り囲む恰好になっていると同時に流
体スペ−ス102を取り囲む壁体を構成している。一番
上のラミネ−ト84の中央スペ−スは2番目のラミネ−
ト82の中央スペ−スより大きく、従って、上の2枚が
段差を作っている。セラミック基体72において、複数
の導電体86が一番下のラミネ−ト76の底面から一番
上のラミネ−ト82の上面に至っている。即ち、これら
の導電体86はラミネ−ト76、78、80、82に貫
通してあけた穴を通っている。そして、各導電体86
は、垂直方向で揃っていない、つまり、一本の直線状通
路を形成しない2つの通路86a、86bを通ってい
る。つまり、図示の通り、通路86bは、流体スペ−ス
102を基準として、通路86aよりも外側に位置して
いる。しかしながら、この様にずれている上下の導電体
部分は、符号86cで示した個所を走る、つまり、横方
向に走る薄い中間導電体部分によって、互いに接続され
ている。従って、導電体86は、上下の通路86a、8
6bを通る導電体部分と中間86cを走る導電体部分と
で構成されているわけである。この様に導電体が基体の
中の別の通路を通るという構造は、基体72に対する上
部の接続と下部の接続を別個に行うことができるという
利点をもたらす。基体72の底面には導電材92が配置
されている。この導電材92は導電体86と接触してい
る。雄コネクタ−ピン94が同導電材92に電気的に接
触した状態で基体72に取付けられている。取付け方法
としてはろう付けが適当である。また、上から2枚目の
ラミネ−トの上面にも導電材96が形成されている。こ
の各導電材96は、導電体86の上端と電気的に接触し
ており、2枚目のラミネ−トの、外部へ露出した表面上
に取付けられているから、外部から手で触れることがで
きる。この導電体86と、感知体74上の接点74a
は、導線98で接続されている。この導線98は、感知
体74上に設けられた圧抵抗又は容量性回路エレメント
(図示省略)をコネクタ−ピン94に電気的に接続する
ものである。感知体74としては図1の感知体22と同
一の物を使用してよい。感知体74は基体72の床部に
柔軟性の有る接着剤により接着されている。感知体74
の流体スペ−ス102と基体72の床部との間に形成さ
れている流体室105はラミネ−ト76、78、80を
通る圧力通路104と連通している。符号88はこの連
通の中心線である。この図6のサブアセンブリ−70は
図3、4と同様の方法で組み立てるのが望ましい。特
に、5枚の(サイズの大きな)ラミネ−ト、つまり5枚
のグリ−ンセラミックシ−ト、に穴をあけることにより
複数のサブアセンブリ−70を同時形成できる。そし
て、圧力通路104を形成すべき穴以外の穴に導電性イ
ンクを充填する。次に、86cの部分と92、96の部
分に導電材料をコ−ティングする。更に、一番上のラミ
ネ−ト84に導電性シ−リング材106をコ−ティング
してもよい。 次に5枚のラミネ−トを重ね合せ接着
し、溝108を彫る。そして、全体を焼成すれば、5層
から成る一体構造の基体72ができあがると同時に各層
の導電体部分が電気的に接続されて途切れのない導電体
86が形成される。こうして基体72が完成したら、次
に、コネクタ−ピン94を取付ける。そして次に、基体
72の中間層80の上面に接着剤100を塗布する。そ
こで、次に、圧力感知体74を接着剤100に固着す
る。そして、導線98の一端を基体72の導電材96
に、その他端を感知体74の接点74aに接続する。こ
れで各サブアセンブリ−70は完成であり、機能テスト
を行うことができる。個々のサブアセンブリ−70を互
いに切り離す作業はテスト前又は後、どちらの時点で行
ってもよい。切り離す時は、溝108の部分で切り離
す。テストは図4の段階58jと同様の方法で行うこと
ができる。機能テストの結果が満足できるものであれ
ば、そのサブアセンブリ−70を、図7に示した様にセ
ンサ−ハウジング112に取付ける。これで圧力センサ
−111の完成である。図示のハウジング112の本体
114は中央に流体スペ−スを有している。この本体1
14は、典型的な場合にあっては、ステンレス又はステ
ンレスと同様の材質のものとする。また、本体114は
隔壁の役割を果たす床部114aを有し、この床部11
4aにサブアセンブリ−70が接着剤115によって接
合してある。この接着剤115が基体72の底面を床部
114aに気密に固着している。床部114aにはコネ
クタ−通路116が形成してあり、コネクタ−ピン94
が同通路を通っている。また中央に、サブアセンブリ−
70の通路104と連通する圧力通路118が形成され
ている。従って、圧力通路118、104と流体室10
5は互いに連通している。ハウジング本体114の上端
に隔離ダイヤフラム122が気密に取付けてある。この
ダイヤフラム122は、ハウジング112内の、サブア
センブリ−70を取り囲む流体スペ−ス、に満たされた
液体124を上から密閉している。以上本発明の2種類
のセンサ−、つまり図1のセンサ−10と図7のセンサ
−111を説明したが、いずれのセンサ−の場合も、基
体(20、72)は半導体IC製造で使用されている、
同じグリ−ンセラミック材料を材質としている。この材
質の一例を挙げれば、クアズ・エレクトロニクス・パッ
ケ−ジ・カンパニ−(テネシ−州チャッタヌガ)が販売
している、「92%アルミナセラミック/AST D−
24421のタイプ1」と表示された製品がそれであ
る。また両センサ−のソリッドステ−ト圧力感知体(2
2、74)としては、ザ・フォックスボロ・カンパニ−
の販売する「シリ−ズ840圧力トランスミッタ−」に
取付けられているシリコンセンサ−チップ(これは19
91年3月28日に出願された米国特許願第676,9
14号で説明されている)を使用することができる。ま
た、図1、2の実施例の接着剤48並びに図6、7の実
施例の接着剤100としては、ジェネラル・エレクトリ
ック・カンパニ−が販売している室温硬化ゴム系接着剤
(フルオロシリコンゴムNo.FSL7210)を使用
できる。また、図1のシ−ラント34(これはサブアセ
ンブリ−18をハウジング本体14に接合する)並びに
図7の接着剤115(これはサブアセンブリ−70をハ
ウジング本体114に接合する)としては、エイブルス
テイック・ラボラトリ−ズ(カリフォルニア州ランチョ
・ドウミンゲイス)が販売している「エイブルフィルム
550−2−004」を使用することができる。サブア
センブリ−並びにセンサ−全体の構造、組立ての為の他
の材質、方法としては従来のものを使用することが可能
である。以上の説明から、本発明は本発明の目的を効果
的に達成するものである事が理解されよう。その目的の
一つは、圧力センサ−と、ハウジングの中に組付けるこ
との出来る機能的且つテスト可能のセンサ−サブアセン
ブリ−の組立て方法とを、比較的低コストで提供するこ
とである。更に、本発明の圧力センサ−並びにその製造
方法は、高性能で構造の頑丈な圧力センサ−を、製造段
階並びに構造エレメント上の効率を以て、提供するもの
である。最後に、既述のセンサ−構造並びに組立て方法
は、本発明範囲を逸脱することなく、周知の方法並びに
材質の中で変更可能である。従って、以上の実施例の説
明で述べ図面に示した物は、すべて、例示的なものであ
り、限定的な意味合いのものではない。
【0007】
【発明の効果】上述の通り、本発明によれば、ダイヤフ
ラム式圧力センサ−サブアセンブリ−をハウジングへの
組付け前にテストできる。更に、多数のサブアセンブリ
−の同時製造が可能である。従って、本発明は、圧力セ
ンサ−サブアセンブリ−の低コスト製造を可能ならし
め、しかも、製造されるサブアセンブリ−は高性能であ
る。また、こうして製造したサブアセンブリ−は、従来
技術の様に高価で脆いガラスと金属の接着を行わずと
も、圧力的に密閉されるハウジングに容易に最終組付け
できる。また、本発明によれば、ソリッドステ−ト圧力
感知体を、柔軟性を備えた接着剤によってセラミック基
体に固着取付けすることにより、同接着剤が気密シ−リ
ングの効果を発揮すると共に、もし基体が機械的に妨害
された場合(たとえば基体が変形したり他の応力を生じ
たりした場合)でも、圧力感知体がその妨害の影響を被
らないように同感知体を充分保護することができる。従
って同感知体が偽信号を発生する恐れが殆どないのであ
る。更に本発明のもう一つの効果は、圧力感知体と、こ
の感知体を取付ける基体とを、全く同一でないにしても
同様の材質で形成できる点である。従って、圧力感知体
と基体の熱膨張係数を全く同一ではないにしても似た様
な熱膨張係数にすることが可能である。この様な材質の
一例はシリコンである。つまり、たとえば、圧力感知体
も基体もシリコンで形成することが可能である。このた
め、基体と圧力感知体がもし熱膨張或は収縮の差を生じ
るとしても、それはほんのわずかでしかない。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例としての圧力センサ−の一部
切取り斜視図である。
【図2】図1のセンサ−に設けられているサブアセンブ
リ−の拡大斜視図である。
【図3】図2のサブアセンブリ−の組立て並びにテスト
段階を示す図である。
【図4】図3に続く段階を示す図である。
【図5】複数のサブアセンブリ−の同時組立てを示す図
である。
【図6】本発明の別のセンサ−サブアセンブリ−を示す
図である。
【図7】図6のサブアセンブリ−を備えたセンサ−の断
面図である。
【符号の説明】
10、111 圧力センサ− 12、112 ハウジング 14、114 ハウジング本体 16、122 隔離ダイヤフラム 18、70 センサ−サブアセンブリ− 20、72 基体 22、74 圧力感知体 22a、74a 電気接点 23 センサ−ダイヤフラム 24、94 コネクタ−ピン 32、102 流体スペ−ス 34 シ−ラント 36、118 圧力通路 38、105 流体室 42、86 導電体 44、92 導電材 46、98 導線 48、100、115 接着剤層 52、54、56、76、78、80、82、84 ラ
ミネ−ト

Claims (18)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】下記(A)〜(D)の要素を含み、下記
    (E)(F)の事項を特徴とする圧力センサ−: (A)複数の基体層が積層接合されて構成された基体で
    あって、内部に、圧力的に密閉された複数の貫通穴があ
    けられており、これらの各貫通穴の中に導電体が、同貫
    通穴の上端から下端へ至るように、設けられている基
    体。 (B)上記基体の一面上に形成された接着層。 (C)上記基体の上記一面と反対の側で上記導電体に接
    続されている電気コネクタ−であって、相手方の電気コ
    ネクタ−と取り外し可能に接続できると共に交換可能で
    もある電気コネクタ−。 (D)センサ−ダイヤフラムと、上記導電体に電気的に
    接続された電気接点とを備え、これらの電気接点におい
    て、上記ダイヤフラムの振れに応じて電気信号を発生さ
    せる圧力感知体であって、上記接着層によって上記基体
    の上記一面に接合されている圧力感知体。 (E)上記圧力感知体は上記センサ−ダイヤフラムの一
    面と上記基体との間に流体室を形成している。 (F)上記センサ−ダイヤフラムは、同ダイヤフラム
    の、上記一面とは反対側の面に対する圧力と、上記流体
    室内の圧力との差に応じて、振れる。
  2. 【請求項2】下記(A)(B)の要素を更に含む請求項
    1に記載の圧力センサ−: (A)前記基体と前記圧力感知体とのアセンブリ−を取
    り囲むハウジングであって、同ハウジングの外部から前
    記電気コネクタ−に手で触れ得る様に同電気コネクタ−
    を通している複数の貫通穴が内部に形成されているハウ
    ジング。 (B)前記基体の、前記一面とは反対側の面、を上記ハ
    ウジングの内面に気密に固着していると共に上記ハウジ
    ングの上記貫通穴を密閉している圧力密閉手段。
  3. 【請求項3】前記複数の基体層が平らな表面を持ってお
    り、この表面上において前記接着層が前記圧力感知体を
    接着取付けしている請求項1に記載の圧力センサ−。
  4. 【請求項4】前記接着層は、柔軟性を備えた接着剤、エ
    ポキシ樹脂又ははんだであって、同接着層が前記圧力感
    知体を前記基体に固着取付けしている請求項1に記載の
    圧力センサ−。
  5. 【請求項5】前記接着層は前記基体の前記一面にステン
    シルを使用して施された、柔軟性を備えた接着剤である
    請求項1に記載の圧力センサ−。
  6. 【請求項6】前記基体は少なくとも3つの基体層で構成
    され、このうち最上層を構成する基体層が窪みを形成し
    ており、この窪みの中に前記接着層並びに前記圧力感知
    体が設けられている請求項1に記載の圧力センサ−。
  7. 【請求項7】前記接着層は前記窪みの中に施された柔軟
    性を有する接着剤である請求項6に記載の圧力センサ
    −。
  8. 【請求項8】前記基体が前記流体室と連通する圧力通路
    を備えている請求項1に記載の圧力センサ−。
  9. 【請求項9】ハウジングが、電気的接続の為に同ハウジ
    ングの外部から前記電気コネクタ−に手で触れること事
    を妨げることなく前記基体と前記圧力感知体を取囲んで
    おり、上記ハウジングは、前記圧力通路と連通する貫通
    路が内部に形成された床部を有する事を特徴とする請求
    項8に記載の圧力センサ−。
  10. 【請求項10】前記基体は、その前記一面からこの面と
    は反対側の面へ貫通する圧力通路を有し、前記圧力感知
    体はこの圧力通路と連通しており、従って、前記センサ
    −ダイヤフラムは、前記基体の上記一面に加わった圧力
    と上記圧力通路内の圧力との差に応じて振れる請求項1
    に記載の圧力センサ−。
  11. 【請求項11】前記基体は複数枚のセラミックシ−トが
    積層接合された物であり、前記圧力感知体はシリコンを
    材質とする請求項1に記載の圧力センサ−。
  12. 【請求項12】ハウジングとサブアセンブリ−を備えた
    圧力センサ−であって、同サブアセンブリ−をテストす
    るフォ−マットとして最少限のテストフォ−マットしか
    必要とせず、同テスト実施後に上記サブアセンブリ−を
    上記ハウジングに組付けて組立てられるようにしてお
    り、構成要素として下記(A)〜(D)の要素を含み、
    下記(E)の事項を特徴とする圧力センサ−: (A)複数の基体層が積層接合されて構成されたセラミ
    ック基体であって、内部に、圧力通路が貫通しており、
    この圧力通路の中に、同圧力通路の一端から他端へ至る
    導電体が設けられ、同圧力通路部分を除いては圧力的に
    密閉されているセラミック基体。 (B)上記基体の一面上に形成された接着層。 (C)上記基体の上記一面と反対の側で上記導電体に接
    続されている電気コネクタ−であって、相手方の電気コ
    ネクタ−と取り外し可能に接続できると共に交換可能で
    もある電気コネクタ−。 (D)センサ−ダイヤフラムと、上記導電体に電気的に
    接続された複数の電気接点とを備え、これらの電気接点
    において、上記ダイヤフラムの振れに応じて電気信号を
    発生させるソリッドステ−ト圧力感知体であって、上記
    基体の上記一面に上記接着層によって接着されているソ
    リッドステ−ト圧力感知体。 (E)上記基体の上記一面に加わる圧力と上記圧力通路
    内の圧力との差に対する上記圧力感知体の電気的反応の
    テストを、サブアセンブリ−をハウジングに組付ける前
    に、上記電気コネクタ−で実施することが可能である。
  13. 【請求項13】下記(A)〜(D)の段階を含む圧力セ
    ンサ−製造方法: (A)複数の基体層が積層接合されて構成された基体で
    あって、内部に、気密の貫通路が複数本形成されてお
    り、これらの貫通路の中に、同貫通路の一端から他端へ
    至る導電体が設けられている基体、を用意する。 (B)上記基体の一面上に接着層を形成する。 (C)相手方の電気コネクタ−と取り外し可能に接続で
    きると共に交換可能でもある電気コネクタ−を、上記基
    体の、上記一面とは反対の側に、取付ける。 (D)センサ−ダイヤフラムと、上記導電体に電気的に
    接続された複数の電気接点とを備え、これらの電気接点
    において、上記センサ−ダイヤフラムの振れに応じて電
    気信号を発生させる圧力感知体を、上記接着層によっ
    て、上記基体の上記一面に接合する。
  14. 【請求項14】前記複数の基体層は各々がセラミックシ
    −トであり、前記圧力感知体がシリコンを材質とする事
    を特徴とする請求項13に記載の圧力センサ−製造方
    法。
  15. 【請求項15】更に下記(A)(B)の段階を含む請求
    項13に記載の圧力センサ−製造方法: (A)下記(i)()の手順によって、一枚の未焼成
    セラミックシ−トから、複数のセンサ−サブアセンブリ
    −用の各基体層を同時に形成する; (i)上記未焼成セラミックシ−トに複数の貫通穴をあ
    け、これらの貫通穴の中に前記導電体の構成部分を形成
    する。 ()上記シ−トを互いに積層接合し上記導電体構成部
    分を互いに接続することにより、前記導電体が内部に貫
    通形成された前記基体を、複数個、並んだ状態で形成す
    る。 (B)上記複数個の基体を互いに切り離す。
  16. 【請求項16】前記セラミックシ−トを互いに積層接着
    し、全体に対し、個々のセンサ−サブアセンブリ−の境
    界を定める溝を彫り、そして、全体を焼成することによ
    り、これらのセラミックシ−トを接合すると共に各導電
    体構成部分を接続する段階を更に含む請求項15に記載
    の圧力センサ−製造方法。
  17. 【請求項17】更に下記(A)〜(C)の段階を含む請
    求項13に記載の圧力センサ−製造方法: (A)前記圧力感知体と前記基体との間に流体室を形成
    する。 (B)上記基体に、上記流体室と連通する圧力通路を貫
    通形成する。 (C)前記接着層形成段階において、前記圧力通路が同
    接着層によって妨害されないようにする。
  18. 【請求項18】下記(A)〜(F)の段階を含む圧力セ
    ンサ−製造方法: (A)複数の基体層が積層接合されて構成されたセラミ
    ック基体であって、内部に、圧力通路が貫通しており、
    この圧力通路の中に、同圧力通路の一端から他端へ至る
    導電体が設けられ、同圧力通路部分を除いては圧力的に
    密閉されているセラミック基体を用意する。 (B)上記基体の一面上に接着層を形成する。 (C)相手方の電気コネクタ−と取り外し可能に接続で
    きると共に交換可能でもある電気コネクタ−を、上記基
    体の上記一面とは反対の側でで、上記導電体に接続す
    る。 (D)センサ−ダイヤフラムと、上記導電体に電気的に
    接続された複数の電気接点とを備え、これらの電気接点
    において、同ダイヤフラムの振れに応じて電気信号を発
    生させるソリッドステ−ト圧力感知体を、上記接着層に
    よって、上記基体の上記一面に接着する。 (E)上記基体の上記一面に加わる圧力と上記圧力通路
    内の圧力との差に対する上記圧力感知体の電気的反応
    を、上記電気コネクタ−においてテストする。 (F)上記圧力感知体と上記電気コネクタ−とを有する
    上記基体をハウジングの中に組付ける。
JP02758993A 1992-01-24 1993-01-23 複数枚のラミネートで構成された基体を有する圧力センサー並びに同センサーの製造方法 Expired - Lifetime JP3208512B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US07/825,620 US5285690A (en) 1992-01-24 1992-01-24 Pressure sensor having a laminated substrate
US825620 2001-04-03

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH06258163A true JPH06258163A (ja) 1994-09-16
JP3208512B2 JP3208512B2 (ja) 2001-09-17

Family

ID=25244498

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP02758993A Expired - Lifetime JP3208512B2 (ja) 1992-01-24 1993-01-23 複数枚のラミネートで構成された基体を有する圧力センサー並びに同センサーの製造方法

Country Status (4)

Country Link
US (2) US5285690A (ja)
EP (1) EP0553725B1 (ja)
JP (1) JP3208512B2 (ja)
DE (1) DE69309123T2 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006528365A (ja) * 2003-05-16 2006-12-14 ローズマウント インコーポレイテッド 圧力センサカプセル
JP2013130453A (ja) * 2011-12-21 2013-07-04 Yokogawa Electric Corp 半導体圧力センサ
JP2014119433A (ja) * 2012-12-19 2014-06-30 Yokogawa Electric Corp センサユニット
US8869632B2 (en) 2011-04-14 2014-10-28 Seiko Epson Corporation Sensor device, force detection device, and robot

Families Citing this family (71)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5969591A (en) * 1991-03-28 1999-10-19 The Foxboro Company Single-sided differential pressure sensor
DE69210041T2 (de) * 1991-12-13 1996-10-31 Honeywell Inc Entwurf von piezoresistivem drucksensor aus silizium
US5447073A (en) * 1994-02-04 1995-09-05 The Foxboro Company Multimeasurement replaceable vortex sensor
US5583294A (en) * 1994-08-22 1996-12-10 The Foxboro Company Differential pressure transmitter having an integral flame arresting body and overrange diaphragm
US5969259A (en) * 1995-04-07 1999-10-19 Sensym, Inc. Side port package for micromachined fluid sensor
US5723787A (en) * 1996-03-04 1998-03-03 Alliedsignal, Inc. Accelerometer mounting system
DE19612964A1 (de) * 1996-04-01 1997-10-02 Bosch Gmbh Robert Drucksensor und Verfahren zur Herstellung eines Drucksensors
DE69706213T2 (de) * 1996-04-04 2002-05-16 Ssi Technologies, Inc. Druckmessgerät und Verfahren zu seiner Herstellung
US5874679A (en) * 1996-04-04 1999-02-23 Ssi Technologies, Inc. Pressure sensor package and method of making the same
US5831170A (en) * 1996-04-04 1998-11-03 Ssi Technologies, Inc. Pressure sensor package and method of making the same
US6140144A (en) * 1996-08-08 2000-10-31 Integrated Sensing Systems, Inc. Method for packaging microsensors
EP0852337A1 (en) * 1996-12-24 1998-07-08 STMicroelectronics S.r.l. A hermetically sealed semiconductor inertial sensor
WO1998048254A1 (de) * 1997-04-21 1998-10-29 Michael Van Bergen Kraftsensor
DE69736630D1 (de) 1997-06-19 2006-10-19 St Microelectronics Srl Hermetisch abgeschlossener Sensor mit beweglicher Mikrostruktur
JP3697862B2 (ja) * 1997-11-06 2005-09-21 株式会社デンソー 圧力検出装置
US5996418A (en) * 1997-12-23 1999-12-07 Caterpillar Inc. Laminated pressure sensing device
US6782754B1 (en) 2000-07-07 2004-08-31 Rosemount, Inc. Pressure transmitter for clean environments
US6907789B2 (en) 2002-05-06 2005-06-21 Honeywell International Inc. Sensor package
JP3824964B2 (ja) * 2002-05-17 2006-09-20 長野計器株式会社 絶対圧型圧力センサ
JPWO2004023126A1 (ja) * 2002-09-03 2005-12-22 日本特殊陶業株式会社 シリコン製マイクロセンサの実装方法、製造方法およびシリコン製マイクロセンサ
DE10314875B4 (de) * 2003-04-01 2009-12-03 Eads Deutschland Gmbh Temperaturbeständiges elektronisches Bauteil in Form eines Sensors oder Aktors und Verfahren zu seiner Herstellung
US7347099B2 (en) * 2004-07-16 2008-03-25 Rosemount Inc. Pressure transducer with external heater
US7243552B2 (en) 2005-05-09 2007-07-17 Delphi Technologies, Inc. Pressure sensor assembly
US7228744B2 (en) * 2005-05-09 2007-06-12 Delphi Technologies, Inc. Pressure transducer for gaseous hydrogen environment
US7679033B2 (en) * 2005-09-29 2010-03-16 Rosemount Inc. Process field device temperature control
WO2007054847A2 (en) * 2005-11-09 2007-05-18 Koninklijke Philips Electronics N.V. Method of manufacturing a package carrier for enclosing at least one microelectronic element and method of manufacturing a diagnostic device
US7635014B2 (en) * 2005-11-11 2009-12-22 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for pressure bonding and method for manufacturing semiconductor device
EP2275793A1 (en) * 2006-05-23 2011-01-19 Sensirion Holding AG A pressure sensor having a chamber and a method for fabricating the same
EP1860418A1 (en) * 2006-05-23 2007-11-28 Sensirion AG A method for fabricating a pressure sensor using SOI wafers
CN101542257B (zh) * 2006-11-29 2012-04-04 株式会社藤仓 压力传感器模块
US20080222884A1 (en) * 2007-03-14 2008-09-18 Honeywell International Inc. Packaging for chip-on-board pressure sensor
US7779698B2 (en) * 2007-11-08 2010-08-24 Rosemount Inc. Pressure sensor
JP5416904B2 (ja) * 2008-02-12 2014-02-12 株式会社東芝 圧力センサおよびロボットハンドシステム
DE102008020862B3 (de) * 2008-04-25 2009-05-14 Siemens Aktiengesellschaft Messumformer zur Prozessinstrumentierung und Verfahren zur Überwachung des Zustands dessen Sensors
US7591186B1 (en) * 2008-05-15 2009-09-22 Honeywell International Inc. Conductive seals and method for fabricating the same
US8474824B2 (en) * 2008-11-10 2013-07-02 Eaton Corporation Pressure sensing module having an integrated seal plate and method of assembling pressure sensing module
US7765872B2 (en) * 2008-11-19 2010-08-03 Honeywell International Inc. Flow sensor apparatus and method with media isolated electrical connections
US7861595B2 (en) * 2009-05-11 2011-01-04 Honeywell International Inc. Pressure sensing device for harsh environments
IT1394791B1 (it) * 2009-05-20 2012-07-13 Metallux Sa Sensore di pressione
EP2259027B1 (en) * 2009-06-04 2012-12-05 Sensirion AG Method and apparatus for processing individual sensor devices
EP2418503B1 (en) * 2010-07-14 2013-07-03 Sensirion AG Needle head
IT1401220B1 (it) 2010-07-15 2013-07-12 Metallux Sa Sensore e metodo di fabbricazione.
US8297127B2 (en) * 2011-01-07 2012-10-30 Honeywell International Inc. Pressure sensor with low cost packaging
US8671766B2 (en) * 2011-05-19 2014-03-18 Infineon Technologies Ag Integrated pressure sensor seal
US9077343B2 (en) 2011-06-06 2015-07-07 Microsoft Corporation Sensing floor for locating people and devices
US8656786B2 (en) * 2011-08-01 2014-02-25 Honeywell International Inc. Interchangeable pressure sensor assembly and methods of assembly
US20130098160A1 (en) * 2011-10-25 2013-04-25 Honeywell International Inc. Sensor with fail-safe media seal
ITTO20120542A1 (it) 2012-06-20 2013-12-21 St Microelectronics Srl Dispositivo microelettromeccanico con instradamento dei segnali attraverso un cappuccio protettivo e metodo per controllare un dispositivo microelettromeccanico
DE102012217404A1 (de) 2012-09-26 2013-05-16 Siemens Aktiengesellschaft Messumformer zur Prozessinstrumentierung und Verfahren zur Überwachung des Zustands dessen Sensors
CN104736984B (zh) * 2012-11-30 2017-09-08 富士电机株式会社 压力传感器装置及压力传感器装置的制造方法
ITTO20121130A1 (it) * 2012-12-21 2014-06-22 Metallux Sa Sensore di pressione
EP2871455B1 (en) 2013-11-06 2020-03-04 Invensense, Inc. Pressure sensor
EP3367082A1 (en) 2013-11-06 2018-08-29 Invensense, Inc. Pressure sensor
US20150143926A1 (en) * 2013-11-23 2015-05-28 Silicon Microstructures, Inc. Area-efficient pressure sensing device
CN104266790B (zh) * 2014-09-30 2016-11-23 成都卓微科技有限公司 一种带限位结构的双膜片式水下压力传感器
DE102014119396A1 (de) * 2014-12-22 2016-06-23 Endress + Hauser Gmbh + Co. Kg Druckmesseinrichtung
US10107662B2 (en) 2015-01-30 2018-10-23 Honeywell International Inc. Sensor assembly
EP3614115B1 (en) 2015-04-02 2024-09-11 InvenSense, Inc. Pressure sensor
EP3358326B1 (en) * 2015-09-30 2020-01-08 Hitachi Automotive Systems, Ltd. Dynamic quantity measuring apparatus
JP6605971B2 (ja) * 2016-01-26 2019-11-13 京セラ株式会社 センサ用パッケージおよびセンサ装置
US10101234B2 (en) * 2016-02-11 2018-10-16 Rosemount Aerospace, Inc. Open diaphragm harsh environment pressure sensor
US10782315B2 (en) * 2017-04-17 2020-09-22 Rosemount Aerospace Inc. Apparatus and method for packaging, handling or testing of sensors
US10163660B2 (en) 2017-05-08 2018-12-25 Tt Electronics Plc Sensor device with media channel between substrates
DE102017212866A1 (de) * 2017-07-26 2019-01-31 Robert Bosch Gmbh Drucksensoranordnung, Messvorrichtung und Verfahren zu deren Herstellung
US11225409B2 (en) 2018-09-17 2022-01-18 Invensense, Inc. Sensor with integrated heater
US11385118B2 (en) * 2018-12-07 2022-07-12 Vitesco Technologies USA, LLC Pressure sensor with external vertical electrical interconnection system
JP7240869B2 (ja) * 2018-12-14 2023-03-16 株式会社アドバンテスト センサ試験システム
CN113785178B (zh) 2019-05-17 2024-12-17 应美盛股份有限公司 气密性改进的压力传感器
CN117213699A (zh) * 2023-05-07 2023-12-12 武汉飞恩微电子有限公司 压力芯体组件、压力感测组件及压差传感器
CN117213698A (zh) * 2023-05-07 2023-12-12 武汉飞恩微电子有限公司 压力芯体单元、压力感测组件及压力传感器
CN117213700A (zh) * 2023-05-07 2023-12-12 武汉飞恩微电子有限公司 压力芯体单元、压力传感器、压力芯体组件及压差传感器

Family Cites Families (30)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1276095A (en) * 1968-09-05 1972-06-01 Secr Defence Microcircuits and processes for their manufacture
US4023562A (en) * 1975-09-02 1977-05-17 Case Western Reserve University Miniature pressure transducer for medical use and assembly method
US4120206A (en) * 1977-01-17 1978-10-17 Rosemount Inc. Differential pressure sensor capsule with low acceleration sensitivity
JPS5524423A (en) * 1978-08-10 1980-02-21 Nissan Motor Co Ltd Semiconductor pressure sensor
JPS5817421B2 (ja) * 1979-02-02 1983-04-07 日産自動車株式会社 半導体圧力センサ
US4222277A (en) * 1979-08-13 1980-09-16 Kulite Semiconductor Products, Inc. Media compatible pressure transducer
US4417392A (en) * 1980-05-15 1983-11-29 Cts Corporation Process of making multi-layer ceramic package
US4399707A (en) * 1981-02-04 1983-08-23 Honeywell, Inc. Stress sensitive semiconductor unit and housing means therefor
JPS5893358A (ja) * 1981-11-30 1983-06-03 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置
JPS60136294A (ja) * 1983-12-23 1985-07-19 株式会社日立製作所 セラミック多層配線回路板
US4801561A (en) * 1984-07-05 1989-01-31 National Semiconductor Corporation Method for making a pre-testable semiconductor die package
DE3447396A1 (de) * 1984-12-24 1986-07-03 Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart Elektrischer druckgeber
US4640010A (en) * 1985-04-29 1987-02-03 Advanced Micro Devices, Inc. Method of making a package utilizing a self-aligning photoexposure process
US4658651A (en) * 1985-05-13 1987-04-21 Transamerica Delaval Inc. Wheatstone bridge-type transducers with reduced thermal shift
US4612227A (en) * 1985-12-16 1986-09-16 Honeywell Inc. Pressure sensor header
US4732042A (en) * 1986-04-22 1988-03-22 Motorola Inc. Cast membrane protected pressure sensor
US4730496A (en) * 1986-06-23 1988-03-15 Rosemount Inc. Capacitance pressure sensor
JPH0810170B2 (ja) * 1987-03-06 1996-01-31 株式会社日立製作所 半導体絶対圧力センサの製造方法
US4798089A (en) * 1987-03-12 1989-01-17 Rosemount Inc. Isolator apparatus
US4756193A (en) * 1987-09-11 1988-07-12 Delco Electronics Corporation Pressure sensor
EP0317664B1 (de) * 1987-11-27 1992-03-04 Kristal Instrumente AG Messzelle, insbesondere für Relativ- und Differenzdruckmessungen
US4841777A (en) * 1988-03-22 1989-06-27 Honeywell Inc. Pressure transmitter assembly
US4888992A (en) * 1988-04-15 1989-12-26 Honeywell Inc. Absolute pressure transducer and method for making same
JP2656566B2 (ja) * 1988-08-31 1997-09-24 株式会社日立製作所 半導体圧力変換装置
US4944187A (en) * 1988-12-23 1990-07-31 Rosemount Inc. Multimodulus pressure sensor
JP2639159B2 (ja) * 1989-04-14 1997-08-06 富士電機株式会社 静電容量式差圧検出器
JP2503290B2 (ja) * 1990-05-21 1996-06-05 株式会社日立製作所 半導体圧力・差圧測定ダイヤフラム
US5142912A (en) * 1990-06-15 1992-09-01 Honeywell Inc. Semiconductor pressure sensor
JP2719448B2 (ja) * 1991-01-24 1998-02-25 三菱電機株式会社 半導体圧力検出装置
US5133215A (en) * 1991-06-19 1992-07-28 Honeywell Inc. Pressure transmitter assembly having sensor isolation mounting

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006528365A (ja) * 2003-05-16 2006-12-14 ローズマウント インコーポレイテッド 圧力センサカプセル
US8869632B2 (en) 2011-04-14 2014-10-28 Seiko Epson Corporation Sensor device, force detection device, and robot
JP2013130453A (ja) * 2011-12-21 2013-07-04 Yokogawa Electric Corp 半導体圧力センサ
JP2014119433A (ja) * 2012-12-19 2014-06-30 Yokogawa Electric Corp センサユニット

Also Published As

Publication number Publication date
JP3208512B2 (ja) 2001-09-17
DE69309123T2 (de) 1997-10-30
EP0553725A3 (en) 1993-10-20
DE69309123D1 (de) 1997-04-30
EP0553725A2 (en) 1993-08-04
US5285690A (en) 1994-02-15
EP0553725B1 (en) 1997-03-26
US5407501A (en) 1995-04-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3208512B2 (ja) 複数枚のラミネートで構成された基体を有する圧力センサー並びに同センサーの製造方法
US6272928B1 (en) Hermetically sealed absolute and differential pressure transducer
CN101957245B (zh) 具有不受约束的敏感裸芯的传感器封装组件
EP2189773B1 (en) Design of wet/wet differential pressure sensor based on microelectronic packaging process
CN101389940B (zh) 带有硅玻璃料结合帽的压力传感器
US4656454A (en) Piezoresistive pressure transducer with elastomeric seals
US5757608A (en) Compensated pressure transducer
CN106052941B (zh) 3d堆叠压阻压力传感器
US5157972A (en) Pressure sensor with high modules support
EP0543430B1 (en) Pressure sensor and method of assembly thereof
US20030107096A1 (en) Combined absolute differential transducer
US10119875B2 (en) Pressure sensor device with a MEMS piezoresistive element attached to an in-circuit ceramic board
CN103959030A (zh) 差压传感器装置
CN104006914A (zh) 用于具有两层芯片结构的压力传感器的系统和方法
US5125275A (en) Pressure sensor package
JP5981571B2 (ja) 微小機械測定素子および微小機械測定素子の製造方法
EP3205998B1 (en) Open diaphragm harsh environment pressure sensor
EP3515858B1 (en) Method of manufacturing a sensor using anodic bonding
WO2003093779A1 (en) Sensor package
US6324914B1 (en) Pressure sensor support base with cavity
JP2020085902A (ja) 差圧センサデバイス
US20250264367A1 (en) Laminate substrate-based differential pressure sensor package combining air cavity channel substrate, overmold, and lid with two chimneys
JPS5931534A (ja) 半導体圧力センサ
JP2000146736A (ja) 圧力検出装置

Legal Events

Date Code Title Description
S303 Written request for registration of pledge or change of pledge

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R316303

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R360 Written notification for declining of transfer of rights

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R360

R370 Written measure of declining of transfer procedure

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R370

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070713

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080713

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080713

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090713

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100713

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100713

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110713

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110713

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120713

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120713

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130713

Year of fee payment: 12

EXPY Cancellation because of completion of term
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130713

Year of fee payment: 12