JPH0626257U - Electronic component supply device - Google Patents
Electronic component supply deviceInfo
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 恒温槽内のシュート中に電子部品が摩擦、ジ
ャム等によって停止した場合、恒温槽を開けることなく
外部から電子部品を滑動させ得るようにする。
【構成】 恒温槽16内にシュート5と、このシュート
5と略平行で進退移動自在且つ回動自在なジャム解消棒
42を配設する。ジャム解消棒42は、一端部が恒温槽
16の外部へ突出され、他端部にブレード44が一体的
に設けられている。電子部品2がシュート5の途中で停
止した場合、ジャム解消棒42を外部から操作してブレ
ード44をシュート5の長孔47に回動挿入し、停止し
ている電子部品2を叩くと、電子部品2がシュート5に
沿って滑動する。
(57) [Summary] [Purpose] When electronic parts stop due to friction, jams, etc. in the chute inside the thermostat, the electronic parts can be slid from the outside without opening the thermostat. [Structure] A chute 5 and a jam eliminating rod 42, which is movable substantially in parallel with the chute 5 and is capable of advancing and retracting and rotating, are arranged in a thermostatic chamber 16. One end of the jam eliminating rod 42 is projected to the outside of the constant temperature bath 16, and the other end is integrally provided with a blade 44. When the electronic component 2 stops in the middle of the chute 5, the jam eliminating rod 42 is operated from the outside to pivotally insert the blade 44 into the long hole 47 of the chute 5 and hit the stopped electronic component 2, The part 2 slides along the chute 5.
Description
【0001】[0001]
本考案は、IC、コンデンサ、ディスクリートデバイス等の電子部品の検査、 選別、捺印装置等に使用して好適な電子部品の供給装置に関するものである。 The present invention relates to a device for supplying electronic components suitable for use in inspection, sorting, and marking devices for electronic components such as ICs, capacitors, and discrete devices.
【0002】[0002]
従来から、IC、コンデンサ、ディスクリートデバイス等のモールド型電子部 品(以下総称して電子部品と云う)の検査、選別、捺印等を行う装置においては 、未検査の電子部品を一端が開放するスティック、マガジン等の収納容器内に所 定個数収納している。デバイスを収納したスティックはストッカ内に積層待機さ れており、検査時に最下段のものから順次デバイス供給位置に移動されて開口端 側を下方に向けて所定角度傾斜される。すると、スティック内の電子部品は自重 によってシュート上に順次排出供給され、シュート上を滑動して測定部へ導かれ る。 2. Description of the Related Art Conventionally, in a device for inspecting, sorting, marking, etc. of a mold type electronic component (hereinafter collectively referred to as an electronic component) such as an IC, a condenser, a discrete device, etc. A fixed number is stored in a storage container such as a magazine. The sticks containing the devices are stacked and waiting in the stocker, and at the time of inspection, the sticks at the bottom are sequentially moved to the device supply position and tilted at a predetermined angle with the opening end side facing downward. Then, the electronic components in the stick are sequentially discharged and supplied on the chute by its own weight, and are slid on the chute and guided to the measuring section.
【0003】 図5はこのような電子部品の検査装置の従来例を示すもので、1は多数の電子 部品2を整列収納するスティック、3はローディング部4に設置され多数のステ ィック1を収納するストッカ(デバイス収納部)、5はデバイス2を搬送するシ ュートで、その傾斜角度は電子部品一個当たりの検査時間によって決定される。 ストッカ3内のスティック1は開口端が下に向くように反時計方向に回動されて シュート5と同一傾斜角度に設定保持されることにより、電子部品2をシュート 5上に排出する。電子部品2はリードを下に向けてシュート5上に排出され、自 重によって滑動して略垂直な測定部6に一個ずつ順次導かれ、テスタ7によって 特性測定される。測定部6の上方には上下方向に回動自在な反転装置8が設けら れており、これによって電子部品2の前後を逆にし、リードをテスタ7側に向け ることでテスタ7による測定を容易にすると共に、アンローディング時の上下方 向の向きおよびスティック内のデバイスの位置とスティック出口の関係がローデ ィング時と同じになるようにしている。 テスタ7によって特性測定された電子部品2は各カテゴリへその性能に応じて 分類され、選別シュート9を通ってアンローディグ部10に設置された空のステ ィック11に順次収納され、次工程に搬送される。FIG. 5 shows a conventional example of such an electronic component inspection apparatus. 1 is a stick for aligning and storing a large number of electronic components 2 and 3 is a loading unit 4 for storing a large number of sticks 1. A stocker (device storage unit) 5 is a seat for transporting the device 2, and its inclination angle is determined by the inspection time for each electronic component. The stick 1 in the stocker 3 is rotated counterclockwise so that the opening end faces downward and is set and held at the same inclination angle as the chute 5, so that the electronic component 2 is ejected onto the chute 5. The electronic components 2 are discharged onto the chute 5 with their leads facing downward, are slid by their own weight, are sequentially guided one by one to the substantially vertical measuring unit 6, and their characteristics are measured by the tester 7. A reversing device 8 which is rotatable in the vertical direction is provided above the measuring unit 6, whereby the front and rear of the electronic component 2 are reversed and the leads are directed to the tester 7 side so that the measurement by the tester 7 can be performed. In addition to making it easier, the relationship between the upward and downward directions during unloading and the position of the device inside the stick and the stick outlet is the same as during loading. The electronic components 2 whose characteristics have been measured by the tester 7 are classified into each category according to their performances, pass through the sorting chute 9 and are sequentially stored in the empty stick 11 installed in the unloading section 10, and are conveyed to the next process. It
【0004】 ところで、電子部品2はデバイスジャム(モールドバリの干渉による電子部品 同士の結合)、摩擦などによりシュート5中で停止し易く、これを解消するため に通常適宜なジャム解消部材や手で電子部品2を叩いたり、あるいはまた圧縮空 気を吹き付けてシュート下方へ強制移動させるようにしている。 この場合、シュート5や測定部6を恒温槽内に収納配置して電子部品2の低温 テスト(−55°C〜0°C程度)や高温テスト(50°C〜150°C程度) を行う供給装置にあっては、電子部品2がシュート5中で停止する度に恒温槽の カバーまたは窓を開いてジャムを解消したり、または恒温槽の周壁に設けられ通 常栓によって閉止されている穴の前記栓を外してここから適宜な棒を挿入し、電 子部品2を突いて動かすようにしている。By the way, the electronic component 2 is easy to stop in the chute 5 due to device jam (bonding of electronic components due to interference of mold burr), friction, etc. The electronic component 2 is struck, or compressed air is blown to force it to move downwards in the chute. In this case, the chute 5 and the measuring unit 6 are housed and placed in a constant temperature bath to perform a low temperature test (about -55 ° C to 0 ° C) and a high temperature test (about 50 ° C to 150 ° C) of the electronic component 2. In the supply device, every time the electronic component 2 stops in the chute 5, the cover or window of the thermostatic chamber is opened to eliminate the jam, or the peripheral wall of the thermostatic chamber is provided with a stopper to close the jam. The plug of the hole is removed, an appropriate rod is inserted from here, and the electronic component 2 is pushed and moved.
【0005】[0005]
しかしながら、このような低温または高温環境下で電子部品2の検査を行うよ うにした従来装置にあっては、電子部品2のジャムが発生すると、その都度カバ ーや窓を開いてジャムの解消を図っているため、恒温槽内部の温度が変化し、ジ ャム解消後内部温度が所定温度に戻るまで検査を中断せざるを得ず、そのため装 置の稼働率および信頼性を低下させると云う問題があった。また、低温検査の場 合は、恒温槽を長い時間開けていると、内部に湿気が入り、霜付きの原因になり 、ジャムの多発、電子部品2の温度特性への影響等も考えられる。 なお、恒温槽の周壁に穴を明けた程度では、その付近のジャムしか解消できず 、圧縮空気の使用はその供給源や配管を必要とするため設備が大掛かりで、高価 になると云う問題があった。 However, in the conventional device that is configured to inspect the electronic component 2 in such a low temperature or high temperature environment, whenever a jam of the electronic component 2 occurs, the cover or the window is opened to eliminate the jam. Therefore, the temperature inside the thermostatic chamber changes, and the inspection must be interrupted until the internal temperature returns to the predetermined temperature after the jam is eliminated, which reduces the operating rate and reliability of the equipment. There was a problem. In the case of low-temperature inspection, if the thermostat is left open for a long time, moisture may enter the inside, causing frost, frequent jams, and influence on the temperature characteristics of the electronic component 2. Note that there is a problem in that if a hole is made in the peripheral wall of the thermostatic chamber, only jams in the vicinity can be resolved, and the use of compressed air requires a supply source and piping, which requires large equipment and is expensive. It was
【0006】 したがって、本考案は上記したような従来の問題点に鑑みてなされたもので、 その目的とするところは、比較的簡単な構成で、恒温槽を開くことなく外部から 電子部品のジャムを簡単に解消することができるようにした電子部品の供給装置 を提供することにある。Therefore, the present invention has been made in view of the above-mentioned conventional problems, and an object thereof is a jam of electronic parts from outside without opening a constant temperature bath with a relatively simple structure. An object of the present invention is to provide a device for supplying electronic components that can easily solve the above problem.
【0007】[0007]
本考案は上記目的を達成するため、恒温槽の内部に電子部品を移送するシュー トと、軸周りに回動自在で一端部が恒温槽外部へ突出し前記シュートと略平行に 且つシュートの略全長に亙って進退移動されるジャム解消棒を配設してなり、こ のジャム解消棒の他端部に前記シュート中に引っ掛かって停止している電子部品 を叩いて滑動させるブレードを設けたものである。 In order to achieve the above-mentioned object, the present invention has a shoot for transferring electronic parts inside a thermostat, and a turnable shaft, one end of which protrudes outside the thermostat and is substantially parallel to the chute and substantially the entire length of the chute. A jam eliminating rod that is moved back and forth over the above is disposed, and a blade that slides by hitting an electronic component that is stopped by being caught in the chute at the other end of the jam eliminating rod is provided. Is.
【0008】[0008]
本考案において、ジャム解消棒は恒温槽の外部に常時突出する一端部を操作さ れることにより、シュートと略平行に進退移動されると共に軸周りに回動され、 ブレ−ドがシュート途中に停止している電子部品を叩くか押して移動させる。 In the present invention, the jam eliminating rod is moved forward and backward substantially parallel to the chute and is rotated around the axis by operating one end of the jam eliminating rod which is always projected to the outside of the thermostat, and the blade is stopped midway through the chute. Tap or push the moving electronic component to move it.
【0009】[0009]
以下、本考案を図面に示す実施例に基づいて詳細に説明する。 図1は恒温槽の断面図、図2はシュートとジャム解消棒の要部平面図、図3は 同シュートとジャム解消棒の断面図、図4は電子部品の供給装置を示す正面図で ある。なお、図中図5と同一構成部品のものに対しては同一符号を以て示しその 説明を省略する。 Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the embodiments shown in the drawings. FIG. 1 is a sectional view of a thermostatic chamber, FIG. 2 is a plan view of a main part of a chute and a jam eliminating rod, FIG. 3 is a sectional view of the chute and a jam eliminating rod, and FIG. 4 is a front view showing a supply device for electronic parts. . In the figure, the same components as those in FIG. 5 are designated by the same reference numerals and the description thereof will be omitted.
【0010】 図4において、15は検査装置本体、16はシュート5を内蔵し内部が所定温 度(例:+150°C〜−50°C)に設定保持される恒温槽、17はオペレ− ションボックス、18は空のスティック11の収納容器、19はデバイス供給位 置20に配設された供給シュート、21、22は供給シュート19に対応して配 設されたクロスシュート、23は測定部6を所定温度に設定保持する恒温槽であ る。In FIG. 4, reference numeral 15 is a main body of the inspection apparatus, 16 is a constant temperature bath in which the chute 5 is built-in and the inside is set and maintained at a predetermined temperature (eg, + 150 ° C. to −50 ° C.), and 17 is an operation. A box, 18 is a storage container for the empty stick 11, 19 is a supply chute arranged in the device supply position 20, 21 and 22 are cross chutes arranged corresponding to the supply chute 19, and 23 is a measuring unit 6. It is a constant temperature bath that keeps the temperature set to a predetermined temperature.
【0011】 前記恒温槽16は、電子部品2の低温テストや高温テストを行うために設けら れるもので、内部の空気温度を一定に保ち、前記クロスシュート21、22から 固定シュート24を経て送られてくる常温の電子部品2を所定温度に冷却したり 、加熱したりする。固定シュート24は図1に示すように恒温槽16の上流側壁 面16aに開設された挿通孔25に貫通して設けられている。前記シュート5は 、マルチシュートを形成するもので、前記恒温槽16内に配設された回転軸26 に設けられた円板27a、27bの外周に周方向に等配されて複数個配設されて いる。前記回転軸26は、前記恒温槽16内に配設された軸保持部材28、28 にベアリング29を介して回転自在に保持されており、恒温槽16の上流側壁面 16aから外部へ突出する突出端にモータ30の回転がインデックスドライブ装 置31および回転伝達機構を形成するベルト32およびプーリ33a〜33cを 介して伝達されることにより、一定時間毎に一定角度だけ間欠的に回転され、順 次前記シュート5を電子部品2の受取位置に移動停止させる。この受取位置は、 前記固定シュート24と同一軸線上で、シュート5の上流側開口端がシュート2 4の下流側開口端と近接対向する位置とされ、これによって固定シュート24内 の電子部品2がシュート5に導かれる。そして、電子部品2はシュート5内に一 定時間収納され所定温度に加熱もしくは冷却される。電子部品2の加熱手段とし ては一般にヒータが使用され、恒温槽16内部の空気を熱し、ファンで攪拌する ことで内部温度の均一化を図る。冷却にする場合は、液体窒素が気化した低温ガ スを恒温槽16内に噴出して行う。 前記シュート5の下流側開口端には不図示のストッパが設けられており、この ストッパは回転軸26が一回転する毎に動作してシュート5を開く。そして、シ ュート5が開くと、内部の電子部品2は搬送シュート34を通って測定部6へ送 られる。 なお、本実施例においてはシュート5をマルチシュートで構成したが、デバイ スサイズが小さく熱容量が小さい電子部品2の場合は短時間で冷却もしくは加熱 されるため、マルチシュートにする必要がない。いずれにしても、所定温度に達 した電子部品2は、一個ずつ分離されて測定部6へ送られてテスタ7により特性 測定され、しかる後分類シャトル(図示せず)によって測定結果に基づいて収納 容器18内の指定された分類カテゴリのスティック11内に収納されることは従 来装置と同様である。The thermostat 16 is provided to perform a low temperature test and a high temperature test of the electronic component 2, and keeps the internal air temperature constant, and sends it from the cross chutes 21 and 22 via a fixed chute 24. The received electronic component 2 at room temperature is cooled or heated to a predetermined temperature. As shown in FIG. 1, the fixed chute 24 is provided so as to penetrate through an insertion hole 25 formed in the upstream side wall surface 16a of the constant temperature bath 16. The chute 5 forms a multi-chute, and a plurality of chute 5 are arranged at equal intervals in the circumferential direction on the outer circumferences of the disks 27a and 27b provided on the rotary shaft 26 provided in the constant temperature bath 16. ing. The rotary shaft 26 is rotatably held by shaft holding members 28, 28 arranged in the constant temperature bath 16 via bearings 29, and protrudes from the upstream side wall surface 16 a of the constant temperature bath 16 to the outside. The rotation of the motor 30 is transmitted to the end through the index drive device 31, the belt 32 and the pulleys 33a to 33c that form the rotation transmission mechanism, so that the motor 30 is intermittently rotated at a constant angle at regular intervals. The chute 5 is stopped at the receiving position of the electronic component 2. This receiving position is a position where the upstream opening end of the chute 5 closely faces the downstream opening end of the chute 24 on the same axis as the fixed chute 24, whereby the electronic component 2 in the fixed chute 24 is Guided by the shoot 5. Then, the electronic component 2 is housed in the chute 5 for a fixed time and heated or cooled to a predetermined temperature. A heater is generally used as a heating means for the electronic component 2, and the air inside the thermostat 16 is heated and agitated by a fan to make the internal temperature uniform. In the case of cooling, a low temperature gas in which liquid nitrogen is vaporized is jetted into the constant temperature bath 16. A stopper (not shown) is provided at the downstream opening end of the chute 5, and the stopper operates every one rotation of the rotating shaft 26 to open the chute 5. Then, when the short 5 is opened, the internal electronic component 2 is sent to the measuring unit 6 through the transport chute 34. In the present embodiment, the chute 5 is constituted by a multi-chute, but in the case of the electronic component 2 having a small device size and a small heat capacity, it can be cooled or heated in a short time, and thus it is not necessary to use the multi-chute. In any case, the electronic components 2 that have reached the predetermined temperature are separated one by one and sent to the measurement unit 6 for characteristic measurement by the tester 7, and then stored based on the measurement results by the classification shuttle (not shown). It is similar to the conventional device in that it is housed in the stick 11 of the designated classification category in the container 18.
【0012】 図4において、前記2本のクロスシュート21、22は、本出願人によって既 に出願された特願平2−321159号に詳細に開示されたものと同一のもので 、同一形状で、同一長さを有し、それぞれ恒温槽16側端部がデバイス入口兼排 出口を形成し、他端が閉塞されている。またこれらのクロスシュート21、22 は、ロータリーアクチュエータ(図示せず)等によって時計および反時計方向に 交互に180度だけ間欠的に回動される水平な回動軸38にその軸線を挟んで両 側に、且つ垂直面内にて前記軸線と略同一角度で交叉するよう点対称に配設され ている。そして回動軸38が半回転すると、一方のクロスシュート、例えば21 がデバイス受取位置に、他方のクロスシュート22がデバイス排出位置に移動さ れて交互にその位置を入れ替え、デバイス受取位置においては前記デバイス入口 兼排出口を上に向けて傾斜されることにより、スティック1より所定数の電子部 品2が供給シュート19を通って落下収納され、デバイス排出位置において前記 デバイス入口兼排出口を下に向けて傾斜されることにより、内部の電子部品2が 一個ずつ自重によって前記固定シュート24に排出されるようになっている。In FIG. 4, the two cross chutes 21 and 22 are the same as those disclosed in detail in Japanese Patent Application No. 2-321159 already filed by the present applicant, and have the same shape. The device has the same length, and the end on the constant temperature bath 16 side forms the device inlet / outlet and the other end is closed. These cross chutes 21, 22 are sandwiched by a horizontal rotary shaft 38 which is intermittently rotated by 180 degrees in a clockwise and counterclockwise direction alternately by a rotary actuator (not shown) and the like. On the side and in the vertical plane, they are arranged in point symmetry so as to intersect with the axis at substantially the same angle. Then, when the rotary shaft 38 makes a half rotation, one cross chute, for example, 21 is moved to the device receiving position and the other cross chute 22 is moved to the device ejecting position, and the positions thereof are alternately exchanged. By tilting the device inlet / outlet upward, a predetermined number of electronic components 2 are dropped and stored from the stick 1 through the supply chute 19, and the device inlet / outlet is lowered at the device ejecting position. By tilting toward each other, the internal electronic components 2 are discharged one by one to the fixed chute 24 by their own weight.
【0013】 さて、前記恒温槽16の内部には前記シュート5に導かれた電子部品2が何ら かの原因で停止した場合、これを解消するジャム解消棒42が配設されている。 ジャム解消棒42は、図1〜図4に示すように前記シュート5より長く形成され て、シュート5と略平行に配設されるもので、ガイド部材43によって回動自在 に且つ進退移動自在に保持されており、一端部が前記恒温槽16の上流側壁面1 6aに開設された挿通孔(図示せず)より気密のベアリング(図示せず)を介し て外部へ突出し、他端部には電子部品2のジャムを解消するブレード44が一体 的に設けられている。ブレード44は、ジャム解消棒42と直交するように設け られ、その先端部が下方に向かって略直角に折曲されたL字形状とされ、通常は 前記シュート5の下流側に設けられたレスト45に係止されている。前記シュー ト5の上面には長手方向略全長に亙って延在する連続した(もしくは不連続な) 長孔47が形成されている。またこのシュート5に対応して前記恒温槽16の上 面には覗き窓48が形成されており、これによって電子部品2がシュート5の途 中で停止しているか否かを一目で確認することができる。覗き窓48は透明ガラ ス49によって気密に閉鎖されている。 電子部品2がシュート5の途中で引っ掛かった場合は、ジャム解消棒42の外 端部を把持してレスト45からブレード44を外し、覗き窓48から見ながらジ ャム解消棒42を引き出してブレード44を電子部品2が停止している位置まで 移動させ、しかる後ジャム解消棒42を図3において時計方向に回動させてブレ ード44の先端部を長孔47内に挿入し、停止している電子部品2の上面を軽く 叩くか、下流側に押すことにより簡単にジャムを解消することができる。ジャム 解消後は、ジャム解消棒42を元に位置に戻してブレード44をレスト45に引 っ掛けておく。 なお、このような構成からなるジャム解消手段としてのジャム解消棒42は、 図4に示すように前記測定部6を所定温度に保持する恒温槽23にも設けられる ものである。A jam eliminating rod 42 is provided inside the constant temperature bath 16 for eliminating the electronic component 2 guided to the chute 5 when it stops for some reason. As shown in FIGS. 1 to 4, the jam eliminating rod 42 is formed to be longer than the chute 5 and is disposed substantially parallel to the chute 5, and is rotatably and reciprocally moved by the guide member 43. It is held, one end of which is projected to the outside through an airtight bearing (not shown) from an insertion hole (not shown) formed in the upstream side wall surface 16a of the thermostat 16, and the other end is A blade 44 that eliminates a jam of the electronic component 2 is integrally provided. The blade 44 is provided so as to be orthogonal to the jam eliminating rod 42, and has an L-shaped end portion bent downward at a substantially right angle. Normally, the rest is provided on the downstream side of the chute 5. It is locked to 45. A continuous (or discontinuous) long hole 47 extending over substantially the entire length in the longitudinal direction is formed on the upper surface of the shoot 5. Further, a peep window 48 is formed on the upper surface of the constant temperature bath 16 corresponding to the chute 5, so that it is possible to check at a glance whether the electronic component 2 is stopped during the chute 5. You can The viewing window 48 is hermetically closed by a transparent glass 49. When the electronic component 2 is caught in the middle of the chute 5, the outer edge of the jam eliminating rod 42 is grasped, the blade 44 is removed from the rest 45, and the jam eliminating rod 42 is pulled out while looking through the peep window 48. 44 is moved to a position where the electronic component 2 is stopped, and then the jam eliminating rod 42 is rotated clockwise in FIG. 3 to insert the tip of the blade 44 into the long hole 47 and stop. The jam can be easily cleared by tapping the upper surface of the electronic component 2 that is present or by pushing it to the downstream side. After clearing the jam, return the jam clearing rod 42 to its original position and hook the blade 44 on the rest 45. The jam eliminating rod 42 as the jam eliminating means having such a structure is also provided in the constant temperature bath 23 for keeping the measuring unit 6 at a predetermined temperature as shown in FIG.
【0014】 かくしてこのような構成からなる電子部品の供給装置にあっては、電子部品が ジャム、摩擦等によってシュート5の途中で停止した場合、恒温槽16を開く必 要がなく、外部からジャム解消棒42を進退移動させると共に回動させ、停止し ている電子部品2をブレード44で叩くだけでよいため、恒温槽16の内部温度 が変化したり、外気、特に湿気が恒温槽16内に侵入したりすることがなく、速 やかに測定を再開させることができる。また、ジャム解消手段の構成も簡単であ る。Thus, in the electronic component supply device having such a configuration, when the electronic component is stopped in the middle of the chute 5 due to jam, friction or the like, it is not necessary to open the thermostatic chamber 16 and the jam is supplied from the outside. Since the elimination rod 42 is moved back and forth and rotated and the stopped electronic component 2 only has to be hit with the blade 44, the internal temperature of the constant temperature chamber 16 changes, and the outside air, particularly humidity, enters the constant temperature chamber 16. Measurement can be restarted quickly without intrusion. Also, the structure of the jam elimination means is simple.
【0015】[0015]
以上説明したように本考案に係る電子部品の供給装置は、シュートが配設され た恒温槽内にジャム解消棒を前記シュートと略平行に、進退移動自在に且つ回動 自在に配設してその一端部を恒温槽の外部に突出させ、デバイスジャム、摩耗等 によって電子部品がシュート中で停止した場合、前記ジャム解消棒を外部から操 作して停止している電子部品を叩く(もしくは押す)ように構成したので、恒温 槽を開くことなく停止している電子部品を簡単に移動させることができる。従っ て、恒温槽の内部温度が変化せず、また外気も侵入する恐れがなく、装置の稼働 率および信頼性を向上させることができる。 As described above, in the electronic component supply apparatus according to the present invention, the jam eliminating rod is arranged in substantially parallel to the chute so as to be movable back and forth and rotatably in the thermostatic chamber in which the chute is arranged. If one end of the electronic component stops outside the thermostatic chamber and electronic parts stop in the chute due to device jam, wear, etc., the jam eliminating rod is operated from the outside to hit (or push) the stopped electronic part. ), It is possible to easily move the stopped electronic parts without opening the constant temperature bath. Therefore, the internal temperature of the thermostatic chamber does not change, and there is no risk of outside air entering, and the operating rate and reliability of the device can be improved.
【図1】恒温槽の断面図である。FIG. 1 is a sectional view of a constant temperature bath.
【図2】シュートとジャム解消棒の要部平面図である。FIG. 2 is a plan view of essential parts of a chute and a jam clearing rod.
【図3】同シュートとジャム解消棒の断面図である。FIG. 3 is a cross-sectional view of the chute and the jam clearing rod.
【図4】電子部品の供給装置を示す正面図である。FIG. 4 is a front view showing a device for supplying electronic components.
【図5】従来の電子部品の検査装置を示す概略正面図で
ある。FIG. 5 is a schematic front view showing a conventional electronic component inspection apparatus.
1 スティック 2 電子部品 5 シュート 6 測定部 16 恒温槽 42 ジャム解消棒 44 ブレード 45 ストッパ 47 長孔 48 覗き窓 1 Stick 2 Electronic Parts 5 Chute 6 Measuring Section 16 Constant Temperature Bath 42 Jam Clearing Rod 44 Blade 45 Stopper 47 Long Hole 48 Viewing Window
Claims (1)
ートと、軸周りに回動自在で一端部が恒温槽外部へ突出
し前記シュートと略平行に且つシュートの略全長に亙っ
て進退移動されるジャム解消棒を配設してなり、このジ
ャム解消棒の他端部に前記シュート中に引っ掛かって停
止している電子部品を叩いて滑動させるブレードを設け
たことを特徴とする電子部品の供給装置。1. A chute for transferring electronic parts into a thermostat, and a chute that is rotatable around an axis and has one end protruding outside the thermostat and is moved back and forth substantially parallel to the chute and substantially the entire length of the chute. A jam eliminating rod is disposed, and a blade for striking and sliding the electronic component which is caught in the chute and is stopped is provided at the other end of the jam eliminating rod. Supply device.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP766591U JPH071798Y2 (en) | 1991-01-29 | 1991-01-29 | Electronic component supply device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP766591U JPH071798Y2 (en) | 1991-01-29 | 1991-01-29 | Electronic component supply device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0626257U true JPH0626257U (en) | 1994-04-08 |
| JPH071798Y2 JPH071798Y2 (en) | 1995-01-18 |
Family
ID=11672107
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP766591U Expired - Lifetime JPH071798Y2 (en) | 1991-01-29 | 1991-01-29 | Electronic component supply device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH071798Y2 (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH1087070A (en) * | 1996-09-20 | 1998-04-07 | Advantest Corp | Control device for carrying ic |
-
1991
- 1991-01-29 JP JP766591U patent/JPH071798Y2/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH1087070A (en) * | 1996-09-20 | 1998-04-07 | Advantest Corp | Control device for carrying ic |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH071798Y2 (en) | 1995-01-18 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |