JPH0626257U - 電子部品の供給装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 恒温槽内のシュート中に電子部品が摩擦、ジ
ャム等によって停止した場合、恒温槽を開けることなく
外部から電子部品を滑動させ得るようにする。 【構成】 恒温槽１６内にシュート５と、このシュート
５と略平行で進退移動自在且つ回動自在なジャム解消棒
４２を配設する。ジャム解消棒４２は、一端部が恒温槽
１６の外部へ突出され、他端部にブレード４４が一体的
に設けられている。電子部品２がシュート５の途中で停
止した場合、ジャム解消棒４２を外部から操作してブレ
ード４４をシュート５の長孔４７に回動挿入し、停止し
ている電子部品２を叩くと、電子部品２がシュート５に
沿って滑動する。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

本考案は、ＩＣ、コンデンサ、ディスクリートデバイス等の電子部品の検査、 選別、捺印装置等に使用して好適な電子部品の供給装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】

従来から、ＩＣ、コンデンサ、ディスクリートデバイス等のモールド型電子部 品（以下総称して電子部品と云う）の検査、選別、捺印等を行う装置においては 、未検査の電子部品を一端が開放するスティック、マガジン等の収納容器内に所 定個数収納している。デバイスを収納したスティックはストッカ内に積層待機さ れており、検査時に最下段のものから順次デバイス供給位置に移動されて開口端 側を下方に向けて所定角度傾斜される。すると、スティック内の電子部品は自重 によってシュート上に順次排出供給され、シュート上を滑動して測定部へ導かれ る。

【０００３】 図５はこのような電子部品の検査装置の従来例を示すもので、１は多数の電子 部品２を整列収納するスティック、３はローディング部４に設置され多数のステ ィック１を収納するストッカ（デバイス収納部）、５はデバイス２を搬送するシ ュートで、その傾斜角度は電子部品一個当たりの検査時間によって決定される。 ストッカ３内のスティック１は開口端が下に向くように反時計方向に回動されて シュート５と同一傾斜角度に設定保持されることにより、電子部品２をシュート ５上に排出する。電子部品２はリードを下に向けてシュート５上に排出され、自 重によって滑動して略垂直な測定部６に一個ずつ順次導かれ、テスタ７によって 特性測定される。測定部６の上方には上下方向に回動自在な反転装置８が設けら れており、これによって電子部品２の前後を逆にし、リードをテスタ７側に向け ることでテスタ７による測定を容易にすると共に、アンローディング時の上下方 向の向きおよびスティック内のデバイスの位置とスティック出口の関係がローデ ィング時と同じになるようにしている。 テスタ７によって特性測定された電子部品２は各カテゴリへその性能に応じて 分類され、選別シュート９を通ってアンローディグ部１０に設置された空のステ ィック１１に順次収納され、次工程に搬送される。

【０００４】 ところで、電子部品２はデバイスジャム（モールドバリの干渉による電子部品 同士の結合）、摩擦などによりシュート５中で停止し易く、これを解消するため に通常適宜なジャム解消部材や手で電子部品２を叩いたり、あるいはまた圧縮空 気を吹き付けてシュート下方へ強制移動させるようにしている。 この場合、シュート５や測定部６を恒温槽内に収納配置して電子部品２の低温 テスト（−５５°Ｃ〜０°Ｃ程度）や高温テスト（５０°Ｃ〜１５０°Ｃ程度） を行う供給装置にあっては、電子部品２がシュート５中で停止する度に恒温槽の カバーまたは窓を開いてジャムを解消したり、または恒温槽の周壁に設けられ通 常栓によって閉止されている穴の前記栓を外してここから適宜な棒を挿入し、電 子部品２を突いて動かすようにしている。

【０００５】

【考案が解決しようとする課題】

しかしながら、このような低温または高温環境下で電子部品２の検査を行うよ うにした従来装置にあっては、電子部品２のジャムが発生すると、その都度カバ ーや窓を開いてジャムの解消を図っているため、恒温槽内部の温度が変化し、ジ ャム解消後内部温度が所定温度に戻るまで検査を中断せざるを得ず、そのため装 置の稼働率および信頼性を低下させると云う問題があった。また、低温検査の場 合は、恒温槽を長い時間開けていると、内部に湿気が入り、霜付きの原因になり 、ジャムの多発、電子部品２の温度特性への影響等も考えられる。 なお、恒温槽の周壁に穴を明けた程度では、その付近のジャムしか解消できず 、圧縮空気の使用はその供給源や配管を必要とするため設備が大掛かりで、高価 になると云う問題があった。

【０００６】 したがって、本考案は上記したような従来の問題点に鑑みてなされたもので、 その目的とするところは、比較的簡単な構成で、恒温槽を開くことなく外部から 電子部品のジャムを簡単に解消することができるようにした電子部品の供給装置 を提供することにある。

【０００７】

【課題を解決するための手段】

本考案は上記目的を達成するため、恒温槽の内部に電子部品を移送するシュー トと、軸周りに回動自在で一端部が恒温槽外部へ突出し前記シュートと略平行に 且つシュートの略全長に亙って進退移動されるジャム解消棒を配設してなり、こ のジャム解消棒の他端部に前記シュート中に引っ掛かって停止している電子部品 を叩いて滑動させるブレードを設けたものである。

【０００８】

【作用】

本考案において、ジャム解消棒は恒温槽の外部に常時突出する一端部を操作さ れることにより、シュートと略平行に進退移動されると共に軸周りに回動され、 ブレ−ドがシュート途中に停止している電子部品を叩くか押して移動させる。

【０００９】

【実施例】

以下、本考案を図面に示す実施例に基づいて詳細に説明する。 図１は恒温槽の断面図、図２はシュートとジャム解消棒の要部平面図、図３は 同シュートとジャム解消棒の断面図、図４は電子部品の供給装置を示す正面図で ある。なお、図中図５と同一構成部品のものに対しては同一符号を以て示しその 説明を省略する。

【００１０】 図４において、１５は検査装置本体、１６はシュート５を内蔵し内部が所定温 度（例：＋１５０°Ｃ〜−５０°Ｃ）に設定保持される恒温槽、１７はオペレ− ションボックス、１８は空のスティック１１の収納容器、１９はデバイス供給位 置２０に配設された供給シュート、２１、２２は供給シュート１９に対応して配 設されたクロスシュート、２３は測定部６を所定温度に設定保持する恒温槽であ る。

【００１１】 前記恒温槽１６は、電子部品２の低温テストや高温テストを行うために設けら れるもので、内部の空気温度を一定に保ち、前記クロスシュート２１、２２から 固定シュート２４を経て送られてくる常温の電子部品２を所定温度に冷却したり 、加熱したりする。固定シュート２４は図１に示すように恒温槽１６の上流側壁 面１６ａに開設された挿通孔２５に貫通して設けられている。前記シュート５は 、マルチシュートを形成するもので、前記恒温槽１６内に配設された回転軸２６ に設けられた円板２７ａ、２７ｂの外周に周方向に等配されて複数個配設されて いる。前記回転軸２６は、前記恒温槽１６内に配設された軸保持部材２８、２８ にベアリング２９を介して回転自在に保持されており、恒温槽１６の上流側壁面 １６ａから外部へ突出する突出端にモータ３０の回転がインデックスドライブ装 置３１および回転伝達機構を形成するベルト３２およびプーリ３３ａ〜３３ｃを 介して伝達されることにより、一定時間毎に一定角度だけ間欠的に回転され、順 次前記シュート５を電子部品２の受取位置に移動停止させる。この受取位置は、 前記固定シュート２４と同一軸線上で、シュート５の上流側開口端がシュート２ ４の下流側開口端と近接対向する位置とされ、これによって固定シュート２４内 の電子部品２がシュート５に導かれる。そして、電子部品２はシュート５内に一 定時間収納され所定温度に加熱もしくは冷却される。電子部品２の加熱手段とし ては一般にヒータが使用され、恒温槽１６内部の空気を熱し、ファンで攪拌する ことで内部温度の均一化を図る。冷却にする場合は、液体窒素が気化した低温ガ スを恒温槽１６内に噴出して行う。 前記シュート５の下流側開口端には不図示のストッパが設けられており、この ストッパは回転軸２６が一回転する毎に動作してシュート５を開く。そして、シ ュート５が開くと、内部の電子部品２は搬送シュート３４を通って測定部６へ送 られる。 なお、本実施例においてはシュート５をマルチシュートで構成したが、デバイ スサイズが小さく熱容量が小さい電子部品２の場合は短時間で冷却もしくは加熱 されるため、マルチシュートにする必要がない。いずれにしても、所定温度に達 した電子部品２は、一個ずつ分離されて測定部６へ送られてテスタ７により特性 測定され、しかる後分類シャトル（図示せず）によって測定結果に基づいて収納 容器１８内の指定された分類カテゴリのスティック１１内に収納されることは従 来装置と同様である。

【００１２】 図４において、前記２本のクロスシュート２１、２２は、本出願人によって既 に出願された特願平２−３２１１５９号に詳細に開示されたものと同一のもので 、同一形状で、同一長さを有し、それぞれ恒温槽１６側端部がデバイス入口兼排 出口を形成し、他端が閉塞されている。またこれらのクロスシュート２１、２２ は、ロータリーアクチュエータ（図示せず）等によって時計および反時計方向に 交互に１８０度だけ間欠的に回動される水平な回動軸３８にその軸線を挟んで両 側に、且つ垂直面内にて前記軸線と略同一角度で交叉するよう点対称に配設され ている。そして回動軸３８が半回転すると、一方のクロスシュート、例えば２１ がデバイス受取位置に、他方のクロスシュート２２がデバイス排出位置に移動さ れて交互にその位置を入れ替え、デバイス受取位置においては前記デバイス入口 兼排出口を上に向けて傾斜されることにより、スティック１より所定数の電子部 品２が供給シュート１９を通って落下収納され、デバイス排出位置において前記 デバイス入口兼排出口を下に向けて傾斜されることにより、内部の電子部品２が 一個ずつ自重によって前記固定シュート２４に排出されるようになっている。

【００１３】 さて、前記恒温槽１６の内部には前記シュート５に導かれた電子部品２が何ら かの原因で停止した場合、これを解消するジャム解消棒４２が配設されている。 ジャム解消棒４２は、図１〜図４に示すように前記シュート５より長く形成され て、シュート５と略平行に配設されるもので、ガイド部材４３によって回動自在 に且つ進退移動自在に保持されており、一端部が前記恒温槽１６の上流側壁面１ ６ａに開設された挿通孔（図示せず）より気密のベアリング（図示せず）を介し て外部へ突出し、他端部には電子部品２のジャムを解消するブレード４４が一体 的に設けられている。ブレード４４は、ジャム解消棒４２と直交するように設け られ、その先端部が下方に向かって略直角に折曲されたＬ字形状とされ、通常は 前記シュート５の下流側に設けられたレスト４５に係止されている。前記シュー ト５の上面には長手方向略全長に亙って延在する連続した（もしくは不連続な） 長孔４７が形成されている。またこのシュート５に対応して前記恒温槽１６の上 面には覗き窓４８が形成されており、これによって電子部品２がシュート５の途 中で停止しているか否かを一目で確認することができる。覗き窓４８は透明ガラ ス４９によって気密に閉鎖されている。 電子部品２がシュート５の途中で引っ掛かった場合は、ジャム解消棒４２の外 端部を把持してレスト４５からブレード４４を外し、覗き窓４８から見ながらジ ャム解消棒４２を引き出してブレード４４を電子部品２が停止している位置まで 移動させ、しかる後ジャム解消棒４２を図３において時計方向に回動させてブレ ード４４の先端部を長孔４７内に挿入し、停止している電子部品２の上面を軽く 叩くか、下流側に押すことにより簡単にジャムを解消することができる。ジャム 解消後は、ジャム解消棒４２を元に位置に戻してブレード４４をレスト４５に引 っ掛けておく。 なお、このような構成からなるジャム解消手段としてのジャム解消棒４２は、 図４に示すように前記測定部６を所定温度に保持する恒温槽２３にも設けられる ものである。

【００１４】 かくしてこのような構成からなる電子部品の供給装置にあっては、電子部品が ジャム、摩擦等によってシュート５の途中で停止した場合、恒温槽１６を開く必 要がなく、外部からジャム解消棒４２を進退移動させると共に回動させ、停止し ている電子部品２をブレード４４で叩くだけでよいため、恒温槽１６の内部温度 が変化したり、外気、特に湿気が恒温槽１６内に侵入したりすることがなく、速 やかに測定を再開させることができる。また、ジャム解消手段の構成も簡単であ る。

【００１５】

【考案の効果】

以上説明したように本考案に係る電子部品の供給装置は、シュートが配設され た恒温槽内にジャム解消棒を前記シュートと略平行に、進退移動自在に且つ回動 自在に配設してその一端部を恒温槽の外部に突出させ、デバイスジャム、摩耗等 によって電子部品がシュート中で停止した場合、前記ジャム解消棒を外部から操 作して停止している電子部品を叩く（もしくは押す）ように構成したので、恒温 槽を開くことなく停止している電子部品を簡単に移動させることができる。従っ て、恒温槽の内部温度が変化せず、また外気も侵入する恐れがなく、装置の稼働 率および信頼性を向上させることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】恒温槽の断面図である。

【図２】シュートとジャム解消棒の要部平面図である。

【図３】同シュートとジャム解消棒の断面図である。

【図４】電子部品の供給装置を示す正面図である。

【図５】従来の電子部品の検査装置を示す概略正面図で
ある。

【符号の説明】

１ スティック ２ 電子部品 ５ シュート ６ 測定部 １６ 恒温槽 ４２ ジャム解消棒 ４４ ブレード ４５ ストッパ ４７ 長孔 ４８ 覗き窓

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 恒温槽の内部に電子部品を移送するシュ
   ートと、軸周りに回動自在で一端部が恒温槽外部へ突出
   し前記シュートと略平行に且つシュートの略全長に亙っ
   て進退移動されるジャム解消棒を配設してなり、このジ
   ャム解消棒の他端部に前記シュート中に引っ掛かって停
   止している電子部品を叩いて滑動させるブレードを設け
   たことを特徴とする電子部品の供給装置。