JPH0627198A - 半導体試験装置のタイミング発生器における遅延信号発生回路 - Google Patents

半導体試験装置のタイミング発生器における遅延信号発生回路

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Publication number
JPH0627198A
JPH0627198A JP3332379A JP33237991A JPH0627198A JP H0627198 A JPH0627198 A JP H0627198A JP 3332379 A JP3332379 A JP 3332379A JP 33237991 A JP33237991 A JP 33237991A JP H0627198 A JPH0627198 A JP H0627198A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
counter
gate
output
memory
data
Prior art date
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Pending
Application number
JP3332379A
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English (en)
Inventor
Masuhiro Yamada
益弘 山田
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Advantest Corp
Original Assignee
Advantest Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Advantest Corp filed Critical Advantest Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 多数個の相異なる遅延量を互いに独立に設
定、発生することができる簡略化された遅延信号発生回
路を提供する。 【構成】 SUBCK クロック信号によりカウント・アップ
を開始する第1のカウンタ11を具備し、第1のカウン
タ11によりアドレスされるデータ・メモリ12を具備
し、第2のカウンタ14を具備し、第2のカウンタ14
によりアドレスされるセレクト・メモリ15を具備し、
データ・メモリ12の出力データとセレクト・メモリ1
5の出力データとSUBCK クロック信号の3者の一致をと
るアンド・ゲート13を具備し、アンド・ゲート13の
出力を第2のカウンタ14のクロック信号入力端子に供
給するオア・ゲート16を具備し、これにより第2のカ
ウンタ14をカウント・アップする遅延信号発生回路を
構成した。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、半導体試験装置のタ
イミング発生器における遅延信号発生回路に関し、特
に、多数個の相異なる遅延量を互いに独立に設定、発生
することができる簡略化された遅延信号発生回路に関す
る。
【0002】
【従来の技術】この発明の従来例を図1を参照して説明
する。カウンタ1はSTART 信号によりゼロにクリアさ
れ、その後に入力されるSUBCK 信号のクロック数をカウ
ント・アップするものである。データ・メモリ2は高速
動作多ビット・メモリより成り、これには所定の遅延デ
ータが遅延量の小さい順にアドレス番号の昇順に従って
書き込まれている。セレクト・メモリ3にはデータ・メ
モリ2の設定データのアドレスに対応するクロックが書
き込まれている。エクスクルーシブ・ノア・ゲートより
成る一致検出回路4はカウンタ1の出力とデータ・メモ
リ2の出力の一致を検出する回路である。一致検出回路
4の出力はすべてアンド・ゲート5の入力に接続してい
る。アンド・ゲート5の出力はデータ出力CLKに対応す
るアンド・ゲート6のすべての入力に接続している。デ
ータ出力CLK のアンド・ゲート6の入力には、更にSUBC
K 端子が接続し、CLK 1、CLK 2、・・・CLK Nに対応
して、それぞれ、セレクト・メモリ3の対応するアドレ
ス1、2、・・・Nが接続している。アンド・ゲート5
が出力してアンド・ゲート6が出力されると、その度毎
にインバータ7を介してカウンタ8をカウント・アップ
する。このカウンタ8はその出力がデータ・メモリ2お
よびセレクト・メモリ3の入力に接続してこれらメモリ
をアドレスするポインタであり、次ぎに出力されるべき
CLK のゲート6をイネーブルにし、一致検出回路4から
送り出される一致検出出力に備えるものである。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】以上の通りの遅延信号
発生回路においては、データ・メモリ2として高速動作
多ビット・メモリ、一致検出回路を必要とするものであ
り、このことに起因して遅延信号発生回路全体のコスト
は上昇する。この発明は、上述の通りの問題を解消した
遅延信号発生回路を提供しようとするものである。
【0004】
【課題を解決するための手段】START信号によりクリア
されてSUBCK クロック信号によりカウントを開始する第
1のカウンタを具備し、第1のカウンタによりアドレス
されるデータ・メモリを具備し、START 信号によりクリ
アされて自ら発生する遅延信号によりカウントを開始す
る第2のカウンタを具備し、第2のカウンタによりアド
レスされるセレクト・メモリを具備し、データ・メモリ
の出力データとセレクト・メモリの出力とSUBCK クロッ
ク信号の3者の一致をとるアンド・ゲートを具備し、ア
ンド・ゲートの出力と第2のカウンタのクロック信号入
力端子との間に接続するオア・ゲートを具備し、第2の
カウンタはオア・ゲートの出力によりカウント・アップ
されるものであるタイミング発生器における遅延信号発
生回路を構成した。
【0005】
【実施例】この発明の実施例を図2を参照して説明す
る。11はカウンタであり、START 信号によりゼロにク
リアされ、その後に入力されるSUBCK 信号のクロック数
をカウント・アップする。12はデータ・メモリである
が、これは図1に示されるメモリとは異なり高速動作多
ビット・メモリである必要はなく、単にメモリの深さの
みが問題とされる簡易なメモリで事足りる。このデータ
・メモリ12には所定の遅延データが遅延量の小さい順
にアドレス番号の昇順に従って書き込まれている。13
はアンド・ゲートであり、その入力にはデータ・メモリ
12の出力が接続されると共に、CLK 1、CLK 2、・・
・CLKNに対応して、それぞれ、セレクト・メモリ15
の対応するアドレス1、2、・・・Nが接続しており、
更にSUBCK 端子も接続している。セレクト・メモリ15
は、START 信号によりクリアされて自ら発生する遅延信
号によりカウントを開始すカウンタ14によりアドレス
されて、アンド・ゲート13をイネーブル/ディスエー
ブル制御するデータを記憶して置くものである。このデ
ータとして、N個のCLK 出力について遅延量の小さい順
(データ・メモリ12におけるアドレスの小さい順)に
対応したクロック出力のアンド・ゲート13に対応する
データ・ビットに順に' 1' を書いて置く。遅延量が互
いに等しいCLK 出力については、それぞれのビットに'
1' を書いて置く。カウンタ14は、アンド・ゲート1
3がCLK 出力する度毎にオア・ゲート16を介してカウ
ント・アップされ、次ぎに出力されるべきCLK のデータ
が書き込まれているセレクト・メモリ15の入力に接続
してこのセレクト・メモリをアドレスするポインタとし
て動作する。
【0006】この発明の遅延信号発生回路の動作タイミ
ング・チャートを図3に示す。この例はSTART 時のSUBC
K クロックを0発目のSUBCK クロックと数えて、1発
目、3発目および6発目に遅延出力が発生される例であ
る。そして、CLK 1出力は1発目に発生させ、CLK 2出
力およびCLK 3出力は3発目に発生させ、そしてCLK N
出力は6発目に発生させる例である。
【0007】
【発明の効果】以上の通りであって、図1に示される従
来の遅延信号発生回路とは異なり、データ・メモリ2と
して高速動作多ビット・メモリは必要とはせず、単にメ
モリの深さのみが問題とされる簡易なメモリで事足り
る。そして、従来の遅延信号発生回路における一致検出
回路に相当する回路も必要とされない。結局、遅延信号
発生回路全体のコストを低減することができた。
【図面の簡単な説明】
【図1】遅延信号発生回路の従来例を示す図。
【図2】この発明の遅延信号発生回路を示す図。
【図3】この発明の遅延信号発生回路の動作タイミング
・チャート。
【符号の説明】
11 第1のカウンタ 12 データ・メモリ 13 アンド・ゲート 14 第2のカウンタ 15 セレクト・メモリ 16 オア・ゲート

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 START 信号によりクリアされてSUBCK ク
    ロック信号によりカウントを開始する第1のカウンタを
    具備し、第1のカウンタによりアドレスされるデータ・
    メモリを具備し、START 信号によりクリアされて自ら発
    生する遅延信号によりカウントを開始する第2のカウン
    タを具備し、第2のカウンタによりアドレスされるセレ
    クト・メモリを具備し、データ・メモリの出力データと
    セレクト・メモリの出力とSUBCK クロック信号の3者の
    一致をとるアンド・ゲートを具備し、アンド・ゲートの
    出力と第2のカウンタのクロック信号入力端子との間に
    接続するオア・ゲートを具備し、第2のカウンタはオア
    ・ゲートの出力によりカウント・アップされるものであ
    ることを特徴とする半導体試験装置のタイミング発生器
    における遅延信号発生回路。
JP3332379A 1991-12-17 1991-12-17 半導体試験装置のタイミング発生器における遅延信号発生回路 Pending JPH0627198A (ja)

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JP3332379A JPH0627198A (ja) 1991-12-17 1991-12-17 半導体試験装置のタイミング発生器における遅延信号発生回路

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JPH0627198A true JPH0627198A (ja) 1994-02-04

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JP3332379A Pending JPH0627198A (ja) 1991-12-17 1991-12-17 半導体試験装置のタイミング発生器における遅延信号発生回路

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Effective date: 20000919