JPH0627317Y2 - 計測部材 - Google Patents
計測部材Info
- Publication number
- JPH0627317Y2 JPH0627317Y2 JP1987178119U JP17811987U JPH0627317Y2 JP H0627317 Y2 JPH0627317 Y2 JP H0627317Y2 JP 1987178119 U JP1987178119 U JP 1987178119U JP 17811987 U JP17811987 U JP 17811987U JP H0627317 Y2 JPH0627317 Y2 JP H0627317Y2
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Landscapes
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Machine Tool Sensing Apparatuses (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 産業上の利用分野 被測定物にスタイラスが当接したときの導電によりタッ
チ信号を発するトロイダルコイル方式の計測部材に関す
る。
チ信号を発するトロイダルコイル方式の計測部材に関す
る。
従来技術 トロイダルコイル方式の計測部材においては第4図に示
すように、スタイラス先端の接触球101と被測定物103と
が当接した位置Aで電気的導通が得られ当接部位に微少
電流が流れ、図示しないコントロールアンプからタッチ
信号が出力される。
すように、スタイラス先端の接触球101と被測定物103と
が当接した位置Aで電気的導通が得られ当接部位に微少
電流が流れ、図示しないコントロールアンプからタッチ
信号が出力される。
考案が解決しようとする問題点 スタイラス先端の接触球101と被測定物との当接点に微
少電流が流れることにより接点に微少な酸化膜が発生す
る。この酸化皮膜は計測を繰り返すに従い次第に厚くな
って絶縁性を高め被測定物103に接触球101が当接してい
るにもかかわらず導電が行われずタッチ信号出力が出な
くなる。第5図,第6図に示すように接触球101の当接
位置Aより更にタッチプローブ102が被測定物103に押圧
される方向へ移動すると、接触球101は被測定物103の計
測面に対し次第に押圧力を強められながら上方に移動
し、酸化膜が破れて当接点位置Aよりだけ離れた導電
位置Bでタッチ信号を出力し、計測精度が狂うという問
題点を有している。
少電流が流れることにより接点に微少な酸化膜が発生す
る。この酸化皮膜は計測を繰り返すに従い次第に厚くな
って絶縁性を高め被測定物103に接触球101が当接してい
るにもかかわらず導電が行われずタッチ信号出力が出な
くなる。第5図,第6図に示すように接触球101の当接
位置Aより更にタッチプローブ102が被測定物103に押圧
される方向へ移動すると、接触球101は被測定物103の計
測面に対し次第に押圧力を強められながら上方に移動
し、酸化膜が破れて当接点位置Aよりだけ離れた導電
位置Bでタッチ信号を出力し、計測精度が狂うという問
題点を有している。
問題点を解決するための手段 基準ゲージ又は被測定物とスタイラスとが当接して生じ
る電気的導通によりタッチ信号を出力するタッチセンサ
を使用するものにおいて、前記スタイラス,基準ゲージ
等の当接部位に酸化しない金属又は酸化しにくい金属化
合物の皮膜を形成したものである。
る電気的導通によりタッチ信号を出力するタッチセンサ
を使用するものにおいて、前記スタイラス,基準ゲージ
等の当接部位に酸化しない金属又は酸化しにくい金属化
合物の皮膜を形成したものである。
実施例 以下本考案の実施例を図面にもとづき説明する。第1図
の公知のマシニングセンタにおいて、ベッド1上に刻設
されたY軸方向の摺動案内面上にサドル2が移動位置決
め可能に載置され、サドル2の上面に刻設されたX軸方
向の摺動案内面上にテーブル3が移動位置決め可能に載
置され、テーブル3上に工作物Wが取付けられている。
ベッド1の後側にコラム4が立設され、コラム前側面に
刻設されたZ軸方向の摺動案内面上に主軸頭5が移動位
置決め可能に設けられている。主軸頭5に垂直方向の主
軸6が複数の軸受により回転可能に軸承され、主軸先端
にタッチプローブ7が着脱可能に装着されている。更に
主軸頭5の左側面に複数の工具を貯蔵し図示しない旋回
割出機構により交換割出位置に割出しする工具マガジン
8が設けられている。そして工具マガジン8の割出位置
と主軸6の中間位置にZ軸方向の旋回軸を有し旋回及び
軸方向に移動可能にツインアーム9が設けられており、
主軸6と工具マガジン8の割出位置に割出された工具と
の交換を行う。
の公知のマシニングセンタにおいて、ベッド1上に刻設
されたY軸方向の摺動案内面上にサドル2が移動位置決
め可能に載置され、サドル2の上面に刻設されたX軸方
向の摺動案内面上にテーブル3が移動位置決め可能に載
置され、テーブル3上に工作物Wが取付けられている。
ベッド1の後側にコラム4が立設され、コラム前側面に
刻設されたZ軸方向の摺動案内面上に主軸頭5が移動位
置決め可能に設けられている。主軸頭5に垂直方向の主
軸6が複数の軸受により回転可能に軸承され、主軸先端
にタッチプローブ7が着脱可能に装着されている。更に
主軸頭5の左側面に複数の工具を貯蔵し図示しない旋回
割出機構により交換割出位置に割出しする工具マガジン
8が設けられている。そして工具マガジン8の割出位置
と主軸6の中間位置にZ軸方向の旋回軸を有し旋回及び
軸方向に移動可能にツインアーム9が設けられており、
主軸6と工具マガジン8の割出位置に割出された工具と
の交換を行う。
主軸頭5の下側端面に主軸6と同心にリング状のコイル
10が取付けられており、コイル10は一次コイルと二
次コイルをシールド銅板を挟んで重ね合わせたもので、
主軸頭5の右側面に取付けられた図示しないコントロー
ルアンプに電気的に接続され、タッチプローブ7のスタ
イラス11先端の接触球11aがテーブル3上に取付け
られた被測定物に当接した瞬間にコイル10の二次コイ
ルに励起された高周波微少電流が機械自体を導体として
流れ、コントロールアンプよりタッチ信号がNCに出力
されるものでコイル10及びコントロールアンプは市販
のものを使用することができる。そして第2図に示すよ
うにスタイラス11の接触球11a外周の当接部位に例
えば金,白金等の酸化しない金属又は銀化合物等の酸化
しにくい金属化合物の皮膜tがメッキ,蒸着,コーテイ
ング等の方法によって形成されている。
10が取付けられており、コイル10は一次コイルと二
次コイルをシールド銅板を挟んで重ね合わせたもので、
主軸頭5の右側面に取付けられた図示しないコントロー
ルアンプに電気的に接続され、タッチプローブ7のスタ
イラス11先端の接触球11aがテーブル3上に取付け
られた被測定物に当接した瞬間にコイル10の二次コイ
ルに励起された高周波微少電流が機械自体を導体として
流れ、コントロールアンプよりタッチ信号がNCに出力
されるものでコイル10及びコントロールアンプは市販
のものを使用することができる。そして第2図に示すよ
うにスタイラス11の接触球11a外周の当接部位に例
えば金,白金等の酸化しない金属又は銀化合物等の酸化
しにくい金属化合物の皮膜tがメッキ,蒸着,コーテイ
ング等の方法によって形成されている。
更にテーブル3上又はテーブル上に固着された治具上に
必要に応じて取付けられる第3図に示すようなタッチプ
ローブの補正値測定用基準リングゲージ12が用意され
ている。基準リングゲージ12の正確に形成された基準
穴12aの内周の当接部位に前述と同様の皮膜tが形成
されている。
必要に応じて取付けられる第3図に示すようなタッチプ
ローブの補正値測定用基準リングゲージ12が用意され
ている。基準リングゲージ12の正確に形成された基準
穴12aの内周の当接部位に前述と同様の皮膜tが形成
されている。
尚基準リングゲージは円筒のリングゲージに限定される
ものではなく、角形のブロックゲージとすることも可能
で基準ブロックゲージの場合には外周当接部位に前述同
様の皮膜tが形成される。
ものではなく、角形のブロックゲージとすることも可能
で基準ブロックゲージの場合には外周当接部位に前述同
様の皮膜tが形成される。
また皮膜tは酸化しない若しくは酸化しにくい導電性の
ある金属以外の物質例えば導電性プラスチック等とする
こともできる。
ある金属以外の物質例えば導電性プラスチック等とする
こともできる。
第1の作用 今テーブル3上に取付けられた工作物Wは主軸6に装着
された切削工具により穴ぐり加工が行われ、加工穴が完
成している。主軸6の切削工具がATCによりタッチプ
ローブ7に交換され、テーブル3のX軸及びY軸方向の
移動と主軸頭5のZ軸方向の移動でタッチプローブ7の
スタイラス11先端の接触球11aが工作物Wの加工穴
内のほぼ中心位置に位置決めされ、テーブル3のX軸方
向右側への移動で加工穴の左側計測面に接触球11aが
当接する。加工面には接触球11a表面の酸化しない又
はしにくい良導電性の皮膜tが当接するので瞬時に導電
が行われて電流ループI(第1図に破線で示す)がで
き、コイル10の一次コイルに印加されている高周波電
圧が二次コイルに誘導されて二次コイルに生じた電圧が
コントロールアンプを介してタッチ信号としてNCに出
力され、このときのテーブル3の位置がNCに記憶され
る。続いて加工穴の右側の計測が行われ、このときのテ
ーブル3の位置がNCに記憶され、更に加工穴の前側及
び後側の計測が行われ、それぞれのテーブル3の計測位
置の値とNCに記憶されているタッチプローブの補正値
から演算により加工穴径が算出される。尚加工穴の測定
は多くても2〜3回繰り返されるだけで、加工穴の計測
面は酸化膜のない新しい切削面を計測するので導電不良
の発生する心配はない。
された切削工具により穴ぐり加工が行われ、加工穴が完
成している。主軸6の切削工具がATCによりタッチプ
ローブ7に交換され、テーブル3のX軸及びY軸方向の
移動と主軸頭5のZ軸方向の移動でタッチプローブ7の
スタイラス11先端の接触球11aが工作物Wの加工穴
内のほぼ中心位置に位置決めされ、テーブル3のX軸方
向右側への移動で加工穴の左側計測面に接触球11aが
当接する。加工面には接触球11a表面の酸化しない又
はしにくい良導電性の皮膜tが当接するので瞬時に導電
が行われて電流ループI(第1図に破線で示す)がで
き、コイル10の一次コイルに印加されている高周波電
圧が二次コイルに誘導されて二次コイルに生じた電圧が
コントロールアンプを介してタッチ信号としてNCに出
力され、このときのテーブル3の位置がNCに記憶され
る。続いて加工穴の右側の計測が行われ、このときのテ
ーブル3の位置がNCに記憶され、更に加工穴の前側及
び後側の計測が行われ、それぞれのテーブル3の計測位
置の値とNCに記憶されているタッチプローブの補正値
から演算により加工穴径が算出される。尚加工穴の測定
は多くても2〜3回繰り返されるだけで、加工穴の計測
面は酸化膜のない新しい切削面を計測するので導電不良
の発生する心配はない。
第2の実施例 テーブル3上又はテーブル上に固着された治具上に正確
に仕上げられた基準穴12aの内面に酸化しない金属又
は酸化しにくい金属化合物の皮膜tが形成された基準リ
ングゲージ12が軸心をZ軸方向にして取付けられてい
る。一方主軸6に同様の皮膜tが形成された接触球11
aを有するタッチプローブ7が装着され、主軸頭5のZ
軸方向の移動及びテーブル3のX軸及びY軸方向の移動
で接触球11aが基準リングゲージ12の基準穴12a
の計測面に当接して瞬時に電流ループIができコントロ
ールアンプからタッチ信号がNCに出力される。基準リ
ングゲージ12はタッチプローブ7の補正量設定等に用
いられるもので繰り返し使用されるが当接面に酸化しな
い又はしにくい皮膜tが形成されているので酸化皮膜の
ない電導性にいい当接面が常に保たれている。
に仕上げられた基準穴12aの内面に酸化しない金属又
は酸化しにくい金属化合物の皮膜tが形成された基準リ
ングゲージ12が軸心をZ軸方向にして取付けられてい
る。一方主軸6に同様の皮膜tが形成された接触球11
aを有するタッチプローブ7が装着され、主軸頭5のZ
軸方向の移動及びテーブル3のX軸及びY軸方向の移動
で接触球11aが基準リングゲージ12の基準穴12a
の計測面に当接して瞬時に電流ループIができコントロ
ールアンプからタッチ信号がNCに出力される。基準リ
ングゲージ12はタッチプローブ7の補正量設定等に用
いられるもので繰り返し使用されるが当接面に酸化しな
い又はしにくい皮膜tが形成されているので酸化皮膜の
ない電導性にいい当接面が常に保たれている。
効果 以上詳述したように本考案はタッチセンサのスタイラ
ス,基準ゲージのどちらか一方又は両方の当接部に酸化
しない金属又は酸化しにくい金属化合物の皮膜を形成す
るようになしたので,当接部に絶縁性の酸化膜が発生す
ることがなくなり、高精度の計測が可能となる効果を有
するとともに酸化皮膜の取除き作業が不要となり、測定
結果の信頼性が一段と向上する効果を併せ有するもので
ある。
ス,基準ゲージのどちらか一方又は両方の当接部に酸化
しない金属又は酸化しにくい金属化合物の皮膜を形成す
るようになしたので,当接部に絶縁性の酸化膜が発生す
ることがなくなり、高精度の計測が可能となる効果を有
するとともに酸化皮膜の取除き作業が不要となり、測定
結果の信頼性が一段と向上する効果を併せ有するもので
ある。
第1図は主軸にタッチプローブを装着したマシニングセ
ンタの姿図、第2図は本考案のスタイラスの説明図、第
3図は本考案の基準ゲージの説明図、第4図は従来技術
の説明図、第5図,第6図は従来技術の問題点の動作説
明図である。 11……スタイラス、12……基準ゲージ t……酸化しない又はしにくい皮膜
ンタの姿図、第2図は本考案のスタイラスの説明図、第
3図は本考案の基準ゲージの説明図、第4図は従来技術
の説明図、第5図,第6図は従来技術の問題点の動作説
明図である。 11……スタイラス、12……基準ゲージ t……酸化しない又はしにくい皮膜
Claims (1)
- 【請求項1】基準ゲージ又は被測定物とスタイラスとが
当接して生じる電気的導通によりタッチ信号を出力する
タッチセンサを使用するものにおいて、前記スタイラ
ス,基準ゲージ等の当接部位に酸化しない金属又は酸化
しにくい金属化合物の皮膜を形成したことを特徴とする
計測部材。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1987178119U JPH0627317Y2 (ja) | 1987-11-21 | 1987-11-21 | 計測部材 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1987178119U JPH0627317Y2 (ja) | 1987-11-21 | 1987-11-21 | 計測部材 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0181257U JPH0181257U (ja) | 1989-05-31 |
| JPH0627317Y2 true JPH0627317Y2 (ja) | 1994-07-27 |
Family
ID=31469752
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1987178119U Expired - Lifetime JPH0627317Y2 (ja) | 1987-11-21 | 1987-11-21 | 計測部材 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0627317Y2 (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58138208U (ja) * | 1982-03-12 | 1983-09-17 | 住友電気工業株式会社 | 導電性ダイヤモンドを用いた部品 |
-
1987
- 1987-11-21 JP JP1987178119U patent/JPH0627317Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0181257U (ja) | 1989-05-31 |
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