JPH0628084B2 - 磁気ヘッド読出しパルスのシフト状態測定装置 - Google Patents
磁気ヘッド読出しパルスのシフト状態測定装置Info
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- JPH0628084B2 JPH0628084B2 JP22947588A JP22947588A JPH0628084B2 JP H0628084 B2 JPH0628084 B2 JP H0628084B2 JP 22947588 A JP22947588 A JP 22947588A JP 22947588 A JP22947588 A JP 22947588A JP H0628084 B2 JPH0628084 B2 JP H0628084B2
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Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明は、磁気ヘッドにより読出された読出しパルス
に生ずるシフトの状態測定装置に関するものである。
に生ずるシフトの状態測定装置に関するものである。
［従来の技術］ 大型電子計算機において、記録媒体のハード磁気ディス
クに使用される磁気ヘッドは、最近では高密度記録に適
する薄膜ヘッドが主流となっている。しかし、薄膜ヘッ
ドには読出し信号波形のピーク点がシフトする現象があ
る。第３図(a),(b) によりシフト現象と、読出しエラー
の防止方法を説明する。
クに使用される磁気ヘッドは、最近では高密度記録に適
する薄膜ヘッドが主流となっている。しかし、薄膜ヘッ
ドには読出し信号波形のピーク点がシフトする現象があ
る。第３図(a),(b) によりシフト現象と、読出しエラー
の防止方法を説明する。
第３図(a) において、(イ) は、例として薄膜ヘッドに通
ずるＮＲＺＩ形式の記録（磁化）電流の波形を示すもの
で、電流の反転が情報“１”を、また無変化は“０”を
意味する。このような電流により書込まれた記録を読出
すときは、薄膜ヘッドの磁極ポールと、これに対応する
ディスク媒体の磁化反転間隔の関係により、読出し信号
の波形は(ロ) に示すように波形のピーク点が、磁化反転
の位置より、前方または後方にランダムにシフトする。
従って、ピーク点を検出したピークパルス（以下読出し
パルスという）Ｐは、(ハ) に示すように、正規の位置
（位相）に対して、Δｔ1 またはΔｔ2 のシフト量が発
生する。なお、シフトは、ディスク媒体の欠陥や、書込
み／読出し信号に混入したノイズによっても発生する
が、この場合は薄膜ヘッドに限らず、他の形式の磁気ヘ
ッドにおいても生ずる。このようにシフトした読出しパ
ルスを、記録周波数に同期した一定周波数のパルスによ
り検出するときは、明らかにエラーを生ずる。これに対
して、磁気ディスク装置の実用機においては、読出し回
路に、(ニ) に示す適当な時間幅Ｔs の弁別ウインドウを
設けて、この幅内のパルスを有効とし、これを外れたも
のを無効とするエラーチェック方法が採られている。図
(b) は、エラーチェック回路の構成を示し、読出しパル
ス検出器１により逐次えられた読出しパルスＰは、位相
同期発振器（ＰＬＬ、またはＰＬＯ）２に入力されて、
これに同期した適当な幅Ｔs のウインドウ信号が発生
し、データ弁別器３において幅Ｔs 内にある読出しパル
スＰが正しいとして出力される。
ずるＮＲＺＩ形式の記録（磁化）電流の波形を示すもの
で、電流の反転が情報“１”を、また無変化は“０”を
意味する。このような電流により書込まれた記録を読出
すときは、薄膜ヘッドの磁極ポールと、これに対応する
ディスク媒体の磁化反転間隔の関係により、読出し信号
の波形は(ロ) に示すように波形のピーク点が、磁化反転
の位置より、前方または後方にランダムにシフトする。
従って、ピーク点を検出したピークパルス（以下読出し
パルスという）Ｐは、(ハ) に示すように、正規の位置
（位相）に対して、Δｔ1 またはΔｔ2 のシフト量が発
生する。なお、シフトは、ディスク媒体の欠陥や、書込
み／読出し信号に混入したノイズによっても発生する
が、この場合は薄膜ヘッドに限らず、他の形式の磁気ヘ
ッドにおいても生ずる。このようにシフトした読出しパ
ルスを、記録周波数に同期した一定周波数のパルスによ
り検出するときは、明らかにエラーを生ずる。これに対
して、磁気ディスク装置の実用機においては、読出し回
路に、(ニ) に示す適当な時間幅Ｔs の弁別ウインドウを
設けて、この幅内のパルスを有効とし、これを外れたも
のを無効とするエラーチェック方法が採られている。図
(b) は、エラーチェック回路の構成を示し、読出しパル
ス検出器１により逐次えられた読出しパルスＰは、位相
同期発振器（ＰＬＬ、またはＰＬＯ）２に入力されて、
これに同期した適当な幅Ｔs のウインドウ信号が発生
し、データ弁別器３において幅Ｔs 内にある読出しパル
スＰが正しいとして出力される。
［解決しようとする課題］ 上記のエラーチェック方法において、読出しパルスＰは
ランダムにシフトしているので、ＰＬＬ２の同期作用
は、読出しパルスＰのある範囲の平均値的な間隔に同期
するものである、読出しパルスの正規の間隔、すなわち
記録符号の反転間隔に必ずしも一致したものではない。
さらに、ウインドウ信号は、ノイズなどの外部要因によ
っても同期が乱れることがある。従って、読出しパルス
はウインドウ信号方法に対して相対的に正否が検出され
る。磁気ディスクまたは磁気ヘッドの検査装置において
は、読出しパルスの正規の反転間隔に対する絶対的なシ
フト量を測定することが必要であり、同時に、多数のワ
ークに対して迅速にシフト量を測定して良否を判定する
装置が望まれている。
ランダムにシフトしているので、ＰＬＬ２の同期作用
は、読出しパルスＰのある範囲の平均値的な間隔に同期
するものである、読出しパルスの正規の間隔、すなわち
記録符号の反転間隔に必ずしも一致したものではない。
さらに、ウインドウ信号は、ノイズなどの外部要因によ
っても同期が乱れることがある。従って、読出しパルス
はウインドウ信号方法に対して相対的に正否が検出され
る。磁気ディスクまたは磁気ヘッドの検査装置において
は、読出しパルスの正規の反転間隔に対する絶対的なシ
フト量を測定することが必要であり、同時に、多数のワ
ークに対して迅速にシフト量を測定して良否を判定する
装置が望まれている。
この発明は以上に鑑みてなされたもので、磁気ヘッドの
読出しパルスの、正規の符号間隔に対するシフトを高精
度に測定して、その良否を判定できる磁気ヘッド読出し
パルスのシフト状態測定装置を提供することを目的とす
るものである。
読出しパルスの、正規の符号間隔に対するシフトを高精
度に測定して、その良否を判定できる磁気ヘッド読出し
パルスのシフト状態測定装置を提供することを目的とす
るものである。
［課題を解決するための手段］ このような目的を達成するためのこの発明の磁気ヘッド
読出しパルスのシフト状態測定装置の特徴は、磁気ヘッ
ドの読出し信号波形のピークを検出した読出しパルスの
エッジ信号から次の読出しパルスのエッジ信号までの時
間をこれより狭い時間の適当な間隔のクロックパルスを
受けてこれをエッジ信号に応じてカウントすることで計
測するカウンタと、 読出しパルスを受けて読出しパルスからクロックパルス
発生までの時間値をクロックパルス発生に応じて遅延時
間信号として出力する遅延回路と、 前記遅延時間信号とカウンタの計測時間値とに基づき読
出しパルスのエッジ信号から次の読出しパルスのエッジ
信号までの時間値を算出し、算出された時間値と所定の
許容値とを比較して読出パルスのシフト状態についての
良否を判定する処理回路とを備えるものである。
読出しパルスのシフト状態測定装置の特徴は、磁気ヘッ
ドの読出し信号波形のピークを検出した読出しパルスの
エッジ信号から次の読出しパルスのエッジ信号までの時
間をこれより狭い時間の適当な間隔のクロックパルスを
受けてこれをエッジ信号に応じてカウントすることで計
測するカウンタと、 読出しパルスを受けて読出しパルスからクロックパルス
発生までの時間値をクロックパルス発生に応じて遅延時
間信号として出力する遅延回路と、 前記遅延時間信号とカウンタの計測時間値とに基づき読
出しパルスのエッジ信号から次の読出しパルスのエッジ
信号までの時間値を算出し、算出された時間値と所定の
許容値とを比較して読出パルスのシフト状態についての
良否を判定する処理回路とを備えるものである。
さらに具体例な構成としては、この測定装置は、サンプ
リングパルスを連続してカウントするカウンタと、複数
のタップを備え上記のサンプリングパルスの間隔と等し
い遅延時間を有する遅延線を設け、これに入力した各読
出しパルスの、正規の位置に対して遅延した遅延信号
を、相当するタップより出力する。遅延時間を出力した
タップの位置をエンコードして遅延時間を２進データと
し、かつ、読出しパルスの先端のエッジを検出してエッ
ジ信号を出力するエンコーダと、第１および第２のラッ
チを設ける。カウンタのカウント数と、エンコーダの２
進データとを、上記エッジ信号をトリガとして第１ラッ
チにラッチし、当該読出しパルスにつづく隣接の読出し
パルスのエッジ信号により、第１ラッチよりカウント数
および２進データを第２ラッチに転送して、隣接した読
出しパルスに対するカウント数および２進データに更新
する。逐次入力する読出しパルスに対して、更新と転送
を繰り返し、演算部において、第１ラッチおよび第２ラ
ッチに逐次ラッチされているカウント数と２進データの
それぞれの差分をとって合計して、隣接読出しパルスの
間隔を求め、これを許容値に比較して良否を判定するも
のである。
リングパルスを連続してカウントするカウンタと、複数
のタップを備え上記のサンプリングパルスの間隔と等し
い遅延時間を有する遅延線を設け、これに入力した各読
出しパルスの、正規の位置に対して遅延した遅延信号
を、相当するタップより出力する。遅延時間を出力した
タップの位置をエンコードして遅延時間を２進データと
し、かつ、読出しパルスの先端のエッジを検出してエッ
ジ信号を出力するエンコーダと、第１および第２のラッ
チを設ける。カウンタのカウント数と、エンコーダの２
進データとを、上記エッジ信号をトリガとして第１ラッ
チにラッチし、当該読出しパルスにつづく隣接の読出し
パルスのエッジ信号により、第１ラッチよりカウント数
および２進データを第２ラッチに転送して、隣接した読
出しパルスに対するカウント数および２進データに更新
する。逐次入力する読出しパルスに対して、更新と転送
を繰り返し、演算部において、第１ラッチおよび第２ラ
ッチに逐次ラッチされているカウント数と２進データの
それぞれの差分をとって合計して、隣接読出しパルスの
間隔を求め、これを許容値に比較して良否を判定するも
のである。
［作用］ 以上の測定装置においては、カウンタにより隣接する読
出しパルスの概略の間隔が計測され、これと並行して、
遅延線より各読出しパルスの遅延時間のデータが出力さ
れ、これらの合計により隣接読出しパルスの間隔が求め
られる。この場合、遅延線の遅延時間がサンプリングパ
ルスの間隔と等しくされて、カウンタでは計測できない
サンプリングパルスの端数を遅延線により計測して、高
精度の測定がなされる。測定された間隔は予め設定され
た許容値と比較されて良否が判定されるものである。
出しパルスの概略の間隔が計測され、これと並行して、
遅延線より各読出しパルスの遅延時間のデータが出力さ
れ、これらの合計により隣接読出しパルスの間隔が求め
られる。この場合、遅延線の遅延時間がサンプリングパ
ルスの間隔と等しくされて、カウンタでは計測できない
サンプリングパルスの端数を遅延線により計測して、高
精度の測定がなされる。測定された間隔は予め設定され
た許容値と比較されて良否が判定されるものである。
測定装置は、上記の測定装置を具体化したもので、逐次
入力する読出しパルスに対するカウンタのカウント数
と、エンコーダよりの遅延データとが、エッジ信号によ
り第１ラッチから第２ラッチに更新、転送され、演算部
において、第１ラッチと第２ラッチのカウント数および
遅延テーダのそれぞれの差分が合計されて隣接読出しパ
ルスの間隔がえられ、予め設定された許容値と比較して
良否が判定される。
入力する読出しパルスに対するカウンタのカウント数
と、エンコーダよりの遅延データとが、エッジ信号によ
り第１ラッチから第２ラッチに更新、転送され、演算部
において、第１ラッチと第２ラッチのカウント数および
遅延テーダのそれぞれの差分が合計されて隣接読出しパ
ルスの間隔がえられ、予め設定された許容値と比較して
良否が判定される。
［実施例］ 第１図は、この発明による磁気ヘッドの読出しパルスの
シフト状態測定装置の実施例における、各信号のタイム
チャートである。図において、磁気ディスクの記録符号
Ｗの読出しにより信号波形Ｒがえられる。信号波形Ｒの
ピークに対する読出しパルスＰR は、記録符号Ｗの反転
位置に対して、例えばΔｔ1 またはΔｔ2 シフトしてい
る。これに対して、カウンタには適当な間隔Ｔckのサン
プリングパルスＰS が入力して連続的にカウントされて
おり、読出しパルスのエッジ信号Ｅ1 をトリガとして、
その時点におけるカウント数がラッチされ、次にエッジ
信号Ｅ2 により、その間のカウント数の差分Ｓをえて、
概略の間隔ＳＴckが計測される。一方、これと並列に読
出しパルスＰR は、サンプリングパルスＰS の間隔ＴCK
に等しい遅延時間特性を有する遅延線に入力されて、読
出パルスがピークシフトしない状態にある正規の位置に
対するシフト量について遅延時間として表す読出しパル
スの遅延時間データ（遅延線出力Ｄ）が出力される。遅
延線出力Ｄは、エンコーダにより２進数の数値データ
［Ｄ］を発生させる。この数値データ［Ｄ］は、読出し
パルスＰR を遅延線に加えてその出力をサンプリングパ
ルスＰS でサンプリングしてエンコードすることで得
る。具体的には、読出しパルスＥ1 が遅延線に加えら
れ、読出しパルスＥ1 発生から次にサンプリングパルス
ＰS が発生するまでの時間がサンプリングパルスＰS の
発生タイミングで遅延出力Ｄとして遅延線から出力され
る。この出力Ｄが読出しパルスＥ1 の遅延時間データＤ
1 としてエンコードされる。同様に、読出しパルスＥ2
から次にサンプリングパルスＰS が発生するまでの時間
がサンプリングパルスＰS の発生タイミングで遅延出力
Ｄとして遅延線から得られ、これが読出しパルスＥ2 の
遅延時間データＤ2 としてエンコードされる。
シフト状態測定装置の実施例における、各信号のタイム
チャートである。図において、磁気ディスクの記録符号
Ｗの読出しにより信号波形Ｒがえられる。信号波形Ｒの
ピークに対する読出しパルスＰR は、記録符号Ｗの反転
位置に対して、例えばΔｔ1 またはΔｔ2 シフトしてい
る。これに対して、カウンタには適当な間隔Ｔckのサン
プリングパルスＰS が入力して連続的にカウントされて
おり、読出しパルスのエッジ信号Ｅ1 をトリガとして、
その時点におけるカウント数がラッチされ、次にエッジ
信号Ｅ2 により、その間のカウント数の差分Ｓをえて、
概略の間隔ＳＴckが計測される。一方、これと並列に読
出しパルスＰR は、サンプリングパルスＰS の間隔ＴCK
に等しい遅延時間特性を有する遅延線に入力されて、読
出パルスがピークシフトしない状態にある正規の位置に
対するシフト量について遅延時間として表す読出しパル
スの遅延時間データ（遅延線出力Ｄ）が出力される。遅
延線出力Ｄは、エンコーダにより２進数の数値データ
［Ｄ］を発生させる。この数値データ［Ｄ］は、読出し
パルスＰR を遅延線に加えてその出力をサンプリングパ
ルスＰS でサンプリングしてエンコードすることで得
る。具体的には、読出しパルスＥ1 が遅延線に加えら
れ、読出しパルスＥ1 発生から次にサンプリングパルス
ＰS が発生するまでの時間がサンプリングパルスＰS の
発生タイミングで遅延出力Ｄとして遅延線から出力され
る。この出力Ｄが読出しパルスＥ1 の遅延時間データＤ
1 としてエンコードされる。同様に、読出しパルスＥ2
から次にサンプリングパルスＰS が発生するまでの時間
がサンプリングパルスＰS の発生タイミングで遅延出力
Ｄとして遅延線から得られ、これが読出しパルスＥ2 の
遅延時間データＤ2 としてエンコードされる。
ここで、遅延時間データＤ1 は、図示するように、カウ
ンタにより時間ＳＴCKのカウントが開始される手前に加
算される時間分である。そして、カウンタによる時間Ｓ
ＴCKのカウントが終了した後に加算される時間分は、周
期ＴCKから遅延時間データＤ2 を引いた（ＴCK−Ｄ2 ）
である。したがって、読出しパルスＥ2 のほんとうの遅
延時間は（ＴCK−Ｄ2 ）である。
ンタにより時間ＳＴCKのカウントが開始される手前に加
算される時間分である。そして、カウンタによる時間Ｓ
ＴCKのカウントが終了した後に加算される時間分は、周
期ＴCKから遅延時間データＤ2 を引いた（ＴCK−Ｄ2 ）
である。したがって、読出しパルスＥ2 のほんとうの遅
延時間は（ＴCK−Ｄ2 ）である。
その結果、遅延線から得られる遅延時間［Ｄ］に応じて
算出されるべき読出しパルスＥ1 ，Ｅ2 についてのトー
タル遅延時間値は、前記の場合はＤ1 ＋ＴCK−Ｄ2 にな
る。そこで、エッジ信号Ｅ2 ，Ｅ1 に対する隣接読出し
パルスの遅延時間の差分［Ｄ1 ］−［Ｄ2 ］が計算さ
れ、これとカウンタによる概略の間隔ＳＴCKとサンプリ
ングパルスＰS の１周期ＴCKとが合計される。
算出されるべき読出しパルスＥ1 ，Ｅ2 についてのトー
タル遅延時間値は、前記の場合はＤ1 ＋ＴCK−Ｄ2 にな
る。そこで、エッジ信号Ｅ2 ，Ｅ1 に対する隣接読出し
パルスの遅延時間の差分［Ｄ1 ］−［Ｄ2 ］が計算さ
れ、これとカウンタによる概略の間隔ＳＴCKとサンプリ
ングパルスＰS の１周期ＴCKとが合計される。
上記において、カウンタによるデータの精度はサンプリ
ングパルスの間隔により決まるもので、高精度ではない
が、その端数が遅延線により測定され、両者により隣接
読出しパルス間隔が高精度で測定される。例えば、サン
プリングパルスの間隔ＴCKを８ｎＳとし、これと等しい
遅延線の遅延時間を、１６個のタップによりに分割した
場合は、タップ当たり０．５ｎＳの高精度の測定ができ
る。
ングパルスの間隔により決まるもので、高精度ではない
が、その端数が遅延線により測定され、両者により隣接
読出しパルス間隔が高精度で測定される。例えば、サン
プリングパルスの間隔ＴCKを８ｎＳとし、これと等しい
遅延線の遅延時間を、１６個のタップによりに分割した
場合は、タップ当たり０．５ｎＳの高精度の測定ができ
る。
第２図(a),(b) に、この発明による状態測定装置の実施
例におけるブロック構成図を示す。図(a) において、磁
気ヘッド1aよりの信号波形は、読出しパルス検出器１に
より読出しパルスＰR が検出されて遅延線４に入力され
る。遅延線は図(b) に示すように、サンプリングパルス
の間隔ＴCKと等しい遅延時間特性で、遅延時間を分割す
る複数ｎ個のタップ４a を有し、読出しパルスの遅延時
間は、サンプリングパルスＰS を受けるエンコーダ５が
サンプリングパルスＰS の発生タイミングで遅延線４の
出力をサンプリングして取り込む。その結果、遅延線４
の相当するタップより出力される。エンコーダ５におい
ては、出力したタップの位置を２進データとするととも
に、読出しパルスの先端のエッジを検出してエッジ信号
Ｅを出力する。一方、クロック発生器６a よりサンプリ
ングパルスＰS を発生してカウンタ６に供給して連続的
にカウントする。ここで、エッジ信号Ｅをトリガとし
て、エンコーダ５の２進データと、カウンタ６のカウン
ト数とを、第１ラッチ７とラッチ７-1と７-2にそれぞれ
ラッチする。続くエッジ信号により、第１ラッチの各デ
ータは、第２ラッチ８のラッチ８-1，８-2にそれぞれ転
送され、隣接した読出しパルスに対するエンコーダの２
進データと、カウンタのカウント数とが第１ラッチ７を
更新してラッチされる。第１および第２ラッチのデータ
は、演算部９に取り込まれて、前記した計算式に従った
計算がなされて、隣接読出しパルスの間隔がえられる。
このような、ラッチデータの更新と転送が逐次入力する
読出しパルスについて繰り返されて、各隣接読出しパル
スの間隔が逐次測定される。測定データはＲＯＭ／ＲＡ
Ｍ10の、予め設定された読出しパルスの間隔に対応した
アドレスに変換され、そのアドレスがアクセスされてそ
こに記憶された良否の結果が読出されることで、許容値
に対する良否が迅速に判定され、その結果が出力端子10
a より出力される。データ書込み回路11は、アドレスに
対応した判定条件データをＲＡＭ側に書込むものであ
る。この場合、ＲＯＭ／ＲＡＭ10のアドレスの割り当て
自体が許容値の範囲に対応するアドレス範囲とそうでな
いアドレスとになっていて、測定データをアドレス値に
変換してアクセスすることが許容値との比較に当たる。
例におけるブロック構成図を示す。図(a) において、磁
気ヘッド1aよりの信号波形は、読出しパルス検出器１に
より読出しパルスＰR が検出されて遅延線４に入力され
る。遅延線は図(b) に示すように、サンプリングパルス
の間隔ＴCKと等しい遅延時間特性で、遅延時間を分割す
る複数ｎ個のタップ４a を有し、読出しパルスの遅延時
間は、サンプリングパルスＰS を受けるエンコーダ５が
サンプリングパルスＰS の発生タイミングで遅延線４の
出力をサンプリングして取り込む。その結果、遅延線４
の相当するタップより出力される。エンコーダ５におい
ては、出力したタップの位置を２進データとするととも
に、読出しパルスの先端のエッジを検出してエッジ信号
Ｅを出力する。一方、クロック発生器６a よりサンプリ
ングパルスＰS を発生してカウンタ６に供給して連続的
にカウントする。ここで、エッジ信号Ｅをトリガとし
て、エンコーダ５の２進データと、カウンタ６のカウン
ト数とを、第１ラッチ７とラッチ７-1と７-2にそれぞれ
ラッチする。続くエッジ信号により、第１ラッチの各デ
ータは、第２ラッチ８のラッチ８-1，８-2にそれぞれ転
送され、隣接した読出しパルスに対するエンコーダの２
進データと、カウンタのカウント数とが第１ラッチ７を
更新してラッチされる。第１および第２ラッチのデータ
は、演算部９に取り込まれて、前記した計算式に従った
計算がなされて、隣接読出しパルスの間隔がえられる。
このような、ラッチデータの更新と転送が逐次入力する
読出しパルスについて繰り返されて、各隣接読出しパル
スの間隔が逐次測定される。測定データはＲＯＭ／ＲＡ
Ｍ10の、予め設定された読出しパルスの間隔に対応した
アドレスに変換され、そのアドレスがアクセスされてそ
こに記憶された良否の結果が読出されることで、許容値
に対する良否が迅速に判定され、その結果が出力端子10
a より出力される。データ書込み回路11は、アドレスに
対応した判定条件データをＲＡＭ側に書込むものであ
る。この場合、ＲＯＭ／ＲＡＭ10のアドレスの割り当て
自体が許容値の範囲に対応するアドレス範囲とそうでな
いアドレスとになっていて、測定データをアドレス値に
変換してアクセスすることが許容値との比較に当たる。
［発明の効果］ 以上の説明により明らかなように、この発明による読出
しパルスの状態測定装置においては、読出しパルスの概
略の間隔が、サンプリングパルスのカウント数により計
測され、このカウントにより計測できない端数に対して
は、これと並行して行われる遅延線の分割測定方法で測
定され、これら両者のデータの合計により隣接する読出
しパルスの間隔が、正規の間隔に対して絶対的に高精度
に測定され、従来のウインド信号によるエラーチェック
おける相対的な不確実性が排除されている。これを生産
工場などにおける磁気ヘッドの検査装置に適用してえら
れる効果には大きいものがある。
しパルスの状態測定装置においては、読出しパルスの概
略の間隔が、サンプリングパルスのカウント数により計
測され、このカウントにより計測できない端数に対して
は、これと並行して行われる遅延線の分割測定方法で測
定され、これら両者のデータの合計により隣接する読出
しパルスの間隔が、正規の間隔に対して絶対的に高精度
に測定され、従来のウインド信号によるエラーチェック
おける相対的な不確実性が排除されている。これを生産
工場などにおける磁気ヘッドの検査装置に適用してえら
れる効果には大きいものがある。
第１図は、この発明による、磁気ヘッドの読出しパルス
の状態測定装置の実施例における、各部の信号のタイム
チャート、第２図(a) および(b) は、この発明による、
磁気ヘッドの読出しパルスのシフト状態測定装置の実施
例におけるブロック構成図、第３図(a) および(b) は、
磁気ヘッドの読出しパルスに発生するシフト現象と、こ
れに対してウィンドウ信号を用いる読出し回路の構成図
である。 １……読出しパルス検出器、 ２……位相同期発振器（ＰＬＬ）、 ３……データ弁別器、４……遅延線、 ４a ……タップ、５……エンコーダ、 ６……カウンタ、６a ……クロック発生器、 ７……第１ラッチ、８……第２ラッチ、 ９……演算部、10……ＲＯＭ／ＲＡＭ、 11……データ書込み回路。
の状態測定装置の実施例における、各部の信号のタイム
チャート、第２図(a) および(b) は、この発明による、
磁気ヘッドの読出しパルスのシフト状態測定装置の実施
例におけるブロック構成図、第３図(a) および(b) は、
磁気ヘッドの読出しパルスに発生するシフト現象と、こ
れに対してウィンドウ信号を用いる読出し回路の構成図
である。 １……読出しパルス検出器、 ２……位相同期発振器（ＰＬＬ）、 ３……データ弁別器、４……遅延線、 ４a ……タップ、５……エンコーダ、 ６……カウンタ、６a ……クロック発生器、 ７……第１ラッチ、８……第２ラッチ、 ９……演算部、10……ＲＯＭ／ＲＡＭ、 11……データ書込み回路。
Claims (2)
- 【請求項１】磁気ヘッドの読出し信号波形のピークを検
出した読出しパルスのエッジ信号から次の読出しパルス
のエッジ信号までの時間をこれより狭い時間の適当な間
隔のクロックパルスを受けてこれを前記エッジ信号に応
じてカウントすることで計測するカウンタと、 前記読出しパルスを受けて前記読出しパルスから前記ク
ロックパルス発生までの時間値を前記クロックパルス発
生に応じて遅延時間信号として出力する遅延回路と、 前記遅延時間信号と前記カウンタの計測時間値とに基づ
き前記読出しパルスのエッジ信号から次の読出しパルス
のエッジ信号までの時間値を算出し、算出された時間値
と所定の許容値とを比較して読出パルスのシフト状態に
ついての良否を判定する処理回路と、 を備えることを特徴とする磁気ヘツド読出しパルスのシ
フト状態測定装置。 - 【請求項２】前記遅延回路は、前記クロックパルスの周
期を遅延時間とし、これをｎ（ｎは２以上の整数）分割
したｎ−１個のパラレルな出力タップを備える遅延線で
あり、 前記処理回路は、前記クロックパルスの発生に応じて前
記遅延線の各タップの出力を取り込み２進の遅延時間を
示す数値データに変換するエンコーダと、このエンコー
ダの出力と前記カウンタの出力を受けて前記エンコーダ
の出力値とこのカウンタの値とに基づき前記読出しパル
スのエッジ信号から次の読出しパルスのエッジ信号まで
の時間値を算出する演算部と、この演算部で算出された
時間値と所定の許容値とを比較して読出パルスのシフト
状態についての良否を判定する判定部とを有する請求項
１記載の磁気ヘッド読出しパルスのシフト状態測定装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22947588A JPH0628084B2 (ja) | 1988-09-13 | 1988-09-13 | 磁気ヘッド読出しパルスのシフト状態測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22947588A JPH0628084B2 (ja) | 1988-09-13 | 1988-09-13 | 磁気ヘッド読出しパルスのシフト状態測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0276114A JPH0276114A (ja) | 1990-03-15 |
| JPH0628084B2 true JPH0628084B2 (ja) | 1994-04-13 |
Family
ID=16892761
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22947588A Expired - Lifetime JPH0628084B2 (ja) | 1988-09-13 | 1988-09-13 | 磁気ヘッド読出しパルスのシフト状態測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0628084B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5545988A (en) * | 1994-09-13 | 1996-08-13 | Tdk Corporation | Waveform signal processor with selective sampling |
-
1988
- 1988-09-13 JP JP22947588A patent/JPH0628084B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0276114A (ja) | 1990-03-15 |
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