JPH0628414B2 - 固体撮像装置 - Google Patents
固体撮像装置Info
- Publication number
- JPH0628414B2 JPH0628414B2 JP59133974A JP13397484A JPH0628414B2 JP H0628414 B2 JPH0628414 B2 JP H0628414B2 JP 59133974 A JP59133974 A JP 59133974A JP 13397484 A JP13397484 A JP 13397484A JP H0628414 B2 JPH0628414 B2 JP H0628414B2
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- JP
- Japan
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- solid
- pulse signal
- amplitude
- temperature
- pulse
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-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
- H04N25/68—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to defects
- H04N25/69—SSIS comprising testing or correcting structures for circuits other than pixel cells
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
- Picture Signal Circuits (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 この発明は、例えば、CCD等の固体撮像素子を利用した
固体撮像装置に係わり、特に、固体撮像素子の画像欠陥
補正に関する。
固体撮像装置に係わり、特に、固体撮像素子の画像欠陥
補正に関する。
周知のように、半導体の結晶を所定面積に亘って均一に
形成することは難しく、局部的に結晶欠陥が生じ易い。
この結晶欠陥部分では電荷が異常に発生し易くなる。
形成することは難しく、局部的に結晶欠陥が生じ易い。
この結晶欠陥部分では電荷が異常に発生し易くなる。
CCD等の固体撮像素子にこのような結晶欠陥が存在する
と、その部品は受像機の画面上で白点状の画像欠陥とな
って現われる。このような画像欠陥を補正する方法とし
ては特公昭５８−２５７８６号公報に示されている如
く、画像欠陥部分に逆極性の補正パルスを加え信号レベ
ルを抑圧する方法がある。この補正パルスは画像欠陥の
振幅に見合った振幅を有することが必要である。しか
し、画像欠陥の振幅は、通常第３図に示す如く、固体撮
像素子の温度が上昇するのに伴ない大きくなる。このた
め、補正パルスも温度変化に応じて振幅を変える必要が
ある。したがって、画像欠陥の補正には、補正パルスを
振幅変調する回路が必要である。しかしながら、振幅変
調回路が扱うパルスのパルス幅は非常に狭いため、補正
パルスの振幅が小さくなると回路中を流れる電流も小さ
くなり、パルス特性が著しく劣化する。
と、その部品は受像機の画面上で白点状の画像欠陥とな
って現われる。このような画像欠陥を補正する方法とし
ては特公昭５８−２５７８６号公報に示されている如
く、画像欠陥部分に逆極性の補正パルスを加え信号レベ
ルを抑圧する方法がある。この補正パルスは画像欠陥の
振幅に見合った振幅を有することが必要である。しか
し、画像欠陥の振幅は、通常第３図に示す如く、固体撮
像素子の温度が上昇するのに伴ない大きくなる。このた
め、補正パルスも温度変化に応じて振幅を変える必要が
ある。したがって、画像欠陥の補正には、補正パルスを
振幅変調する回路が必要である。しかしながら、振幅変
調回路が扱うパルスのパルス幅は非常に狭いため、補正
パルスの振幅が小さくなると回路中を流れる電流も小さ
くなり、パルス特性が著しく劣化する。
第４図は振幅変調回路内のトランジスタを流れる電流
と、補正パルス出力振幅との関係を示すものである。同
図より明らかなように、ある電流以下では補正パルス出
力が消滅する。このため、画像欠陥振幅が十分に大きい
ときは問題ないが、固体撮像素子の温度が低下し、画像
欠陥振幅が小さくなると、画像欠陥補正が正しく行われ
なくなるという不都合が生ずる。
と、補正パルス出力振幅との関係を示すものである。同
図より明らかなように、ある電流以下では補正パルス出
力が消滅する。このため、画像欠陥振幅が十分に大きい
ときは問題ないが、固体撮像素子の温度が低下し、画像
欠陥振幅が小さくなると、画像欠陥補正が正しく行われ
なくなるという不都合が生ずる。
この発明は上記事情に基づいてなされたものであり、そ
の目的とするところは広い範囲の温度で画像欠陥の補正
を行うことが可能な固体撮像装置を提供しようとするも
のである。
の目的とするところは広い範囲の温度で画像欠陥の補正
を行うことが可能な固体撮像装置を提供しようとするも
のである。
この発明は、画像欠陥補正パルスの振幅を、固体撮像素
子の温度変化に対応して変化する成分、および温度変化
に無関係な一定成分とから構成し、固体撮像素子の温度
が低下しても補正パルスの振幅が一定値以下に下がらな
いようにするものである。
子の温度変化に対応して変化する成分、および温度変化
に無関係な一定成分とから構成し、固体撮像素子の温度
が低下しても補正パルスの振幅が一定値以下に下がらな
いようにするものである。
以下、この発明の一実施例について図面を参照して説明
する。
する。
第１図において、固体撮像素子、例えばCCDイメージセ
ンサ１１はCCD駆動回路１２によって駆動され、このCCD
イメージセンサ１１の出力信号はビデオ信号処理回路１
３においてビデオ信号に生成される。
ンサ１１はCCD駆動回路１２によって駆動され、このCCD
イメージセンサ１１の出力信号はビデオ信号処理回路１
３においてビデオ信号に生成される。
また、画像欠陥同期回路１４からはCCDイメージセンサ
１１より出力される画像欠陥信号に同期したパルス信号
が発生され、このパルス信号は前記CCD駆動回路１２に
供給されるとともに、変調回路１５および増幅器１６に
供給される。変調回路１５には温度センサ１７によって
検出されたCCDイメージセンサ１１の温度に対応した信
号が増幅器１８を介して供給されており、この信号によ
って前記画像欠陥同期回路１４より供給されるパルス信
号の振幅が変調される。したがって、変調回路１５から
はCCDイメージセンサ１１の温度に対応した振幅のパル
ス信号が出力される。また、前記増幅器１６は画像欠陥
同期回路１４より供給されるパルス信号を温度に係わら
ず一定振幅に増幅するものであり、この増幅器１６の出
力パルス信号は、前記変調回路１５より出力されるパル
ス信号とともに加算回路１９に供給され加算される。こ
の加算回路１９において加算されたパルス信号はパルス
幅変調回路２０に供給され、この回路２０で画像欠陥補
正に適したパルス幅に整形され補正パルス信号が生成さ
れる。この補正パルス信号は前記CCDイメージセンサ１
１の出力ゲート電極（図示せず）に印加され画像欠陥の
抑圧が行われる。
１１より出力される画像欠陥信号に同期したパルス信号
が発生され、このパルス信号は前記CCD駆動回路１２に
供給されるとともに、変調回路１５および増幅器１６に
供給される。変調回路１５には温度センサ１７によって
検出されたCCDイメージセンサ１１の温度に対応した信
号が増幅器１８を介して供給されており、この信号によ
って前記画像欠陥同期回路１４より供給されるパルス信
号の振幅が変調される。したがって、変調回路１５から
はCCDイメージセンサ１１の温度に対応した振幅のパル
ス信号が出力される。また、前記増幅器１６は画像欠陥
同期回路１４より供給されるパルス信号を温度に係わら
ず一定振幅に増幅するものであり、この増幅器１６の出
力パルス信号は、前記変調回路１５より出力されるパル
ス信号とともに加算回路１９に供給され加算される。こ
の加算回路１９において加算されたパルス信号はパルス
幅変調回路２０に供給され、この回路２０で画像欠陥補
正に適したパルス幅に整形され補正パルス信号が生成さ
れる。この補正パルス信号は前記CCDイメージセンサ１
１の出力ゲート電極（図示せず）に印加され画像欠陥の
抑圧が行われる。
ここで、増幅器１６より出力される温度に係わらない一
定成分としてのパルス信号の振幅を適宜調整することに
より、補正パルス信号は温度に係わらず常時出力が保証
される。
定成分としてのパルス信号の振幅を適宜調整することに
より、補正パルス信号は温度に係わらず常時出力が保証
される。
第２図はこの実施例における補正パルスの温度特性を示
すものである。同図より明らかなように、小振幅時でも
補正パルス信号が消滅することはない。また、補正パル
ス信号が画像欠陥振幅より大きくなることも考えられる
が、その場合は、欠陥が画面上で小黒点となるため、白
点の場合より目立たないためさしつかえない。
すものである。同図より明らかなように、小振幅時でも
補正パルス信号が消滅することはない。また、補正パル
ス信号が画像欠陥振幅より大きくなることも考えられる
が、その場合は、欠陥が画面上で小黒点となるため、白
点の場合より目立たないためさしつかえない。
上記実施例によれば、画像欠陥信号に同期したパルス信
号の振幅をCCDイメージセンサ１１の温度に対応して変
化させるとともに、前記パルス信号を温度とは無関係に
一定振幅に増幅し、両パルス信号を加算して補正パルス
信号を生成している。したがって、温度がある程度高い
場合は振幅変調された補正パルス信号により温度変化に
応じた欠陥補正を行うことができ、温度が低い場合は一
定振幅の補正パルスにより欠陥補正を行うことができる
ため、温度の広範囲な変化に対して確実に画像欠陥の抑
圧を行うことが可能である。
号の振幅をCCDイメージセンサ１１の温度に対応して変
化させるとともに、前記パルス信号を温度とは無関係に
一定振幅に増幅し、両パルス信号を加算して補正パルス
信号を生成している。したがって、温度がある程度高い
場合は振幅変調された補正パルス信号により温度変化に
応じた欠陥補正を行うことができ、温度が低い場合は一
定振幅の補正パルスにより欠陥補正を行うことができる
ため、温度の広範囲な変化に対して確実に画像欠陥の抑
圧を行うことが可能である。
尚、この発明は上記実施例に限定されるものではなく、
画像欠陥をその振幅に対応した補正パルスで抑圧する補
正方法に総べて適用することが可能である。
画像欠陥をその振幅に対応した補正パルスで抑圧する補
正方法に総べて適用することが可能である。
また、固体撮像素子としてはCCDイメージセンサに限ら
ず、例えばMOS型の固体撮像素子にこの発明を適用する
ことも可能である。
ず、例えばMOS型の固体撮像素子にこの発明を適用する
ことも可能である。
さらに、画像欠陥同期回路１４より出力されるパルス信
号のパルス幅を画像欠陥信号と一致して発生している場
合はパルス幅変調回路２０は不要である。
号のパルス幅を画像欠陥信号と一致して発生している場
合はパルス幅変調回路２０は不要である。
その他、この発明の要旨を変えない範囲で種々変形実施
可能なことは勿論である。
可能なことは勿論である。
以上、詳述したようにこの発明によれば、広い範囲の温
度で画像欠陥の補正を行うことが可能な固体撮像装置を
提供できる。
度で画像欠陥の補正を行うことが可能な固体撮像装置を
提供できる。
第１図はこの発明に係わる固体撮像装置の一実施例を示
す構成図、第２図はこの発明の画像欠陥補正に使用され
る補正パルスの振幅、温度特性の一例を示す特性図、第
３は固体撮像素子における画像欠陥の振幅、温度特性を
説明するために示す図、第４図は従来の固体撮像素子画
像欠陥補正に使用される補正パルスの特性を説明するた
めに示す図である。 １１……CCDイメージセンサ、１４……画像欠陥同期回
路、１５……変調回路、１６……増幅器、１９……加算
回路、２０……パルス幅変調回路。
す構成図、第２図はこの発明の画像欠陥補正に使用され
る補正パルスの振幅、温度特性の一例を示す特性図、第
３は固体撮像素子における画像欠陥の振幅、温度特性を
説明するために示す図、第４図は従来の固体撮像素子画
像欠陥補正に使用される補正パルスの特性を説明するた
めに示す図である。 １１……CCDイメージセンサ、１４……画像欠陥同期回
路、１５……変調回路、１６……増幅器、１９……加算
回路、２０……パルス幅変調回路。
Claims (1)
- 【請求項１】複数の感光素子が配列された固体撮像素子
と、この固体撮像素子の出力信号よりビデオ信号を生成
する手段とからなる固体撮像装置において、前記固体撮
像素子の画像欠陥に同期したパルス信号を発生する手段
と、前記固体撮像素子の温度を検出する手段と、この検
出された温度に応じて前記パルス信号の振幅を変化させ
る手段と、この変化されたパルス信号および前記発生さ
れた温度変化に無関係なパルス信号とを加算し、前記固
体撮像素子の画像欠陥補正パルス信号を生成する手段と
を具備したことを特徴とする固体撮像装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59133974A JPH0628414B2 (ja) | 1984-06-28 | 1984-06-28 | 固体撮像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59133974A JPH0628414B2 (ja) | 1984-06-28 | 1984-06-28 | 固体撮像装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6113779A JPS6113779A (ja) | 1986-01-22 |
| JPH0628414B2 true JPH0628414B2 (ja) | 1994-04-13 |
Family
ID=15117423
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59133974A Expired - Lifetime JPH0628414B2 (ja) | 1984-06-28 | 1984-06-28 | 固体撮像装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0628414B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4703442A (en) * | 1985-09-25 | 1987-10-27 | Rca Corporation | Temperature tracking defect corrector for a solid-state imager |
| JPH05260386A (ja) * | 1992-03-16 | 1993-10-08 | Sony Corp | 固体撮像素子の欠陥画素検出回路 |
-
1984
- 1984-06-28 JP JP59133974A patent/JPH0628414B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6113779A (ja) | 1986-01-22 |
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