JPH0628657Y2 - 電子天びん - Google Patents
電子天びんInfo
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- JPH0628657Y2 JPH0628657Y2 JP11567889U JP11567889U JPH0628657Y2 JP H0628657 Y2 JPH0628657 Y2 JP H0628657Y2 JP 11567889 U JP11567889 U JP 11567889U JP 11567889 U JP11567889 U JP 11567889U JP H0628657 Y2 JPH0628657 Y2 JP H0628657Y2
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- JP
- Japan
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- weight
- calibration weight
- housing
- calibration
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- Details Of Measuring And Other Instruments (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 <産業上の利用分野> 本考案は校正用分銅を内蔵した電子天びんに関する。
<従来の技術> 電子天びんの校正は、一般に、荷重検出機構にひょう量
近傍の質量既知の分銅を負荷し、その状態での計量表示
値が分銅質量に一致するようにスパン係数を更新するこ
とによって行われる。
近傍の質量既知の分銅を負荷し、その状態での計量表示
値が分銅質量に一致するようにスパン係数を更新するこ
とによって行われる。
ところで、特に高精度の電子天びんでは、温度変化に起
因するスパン変化による表示値の変化が顕著であり、一
定の精度を維持するためには頻繁にスパン校正を行う必
要がある。
因するスパン変化による表示値の変化が顕著であり、一
定の精度を維持するためには頻繁にスパン校正を行う必
要がある。
そこで、従来、この校正動作を容易にすることを目的と
して、天びんハウジング内に校正用の分銅とその加除機
構を内蔵し、別途基準分銅を用意することなく校正を可
能とした電子天びんがある。
して、天びんハウジング内に校正用の分銅とその加除機
構を内蔵し、別途基準分銅を用意することなく校正を可
能とした電子天びんがある。
内蔵分銅の加除機構は、一般に、分銅を上下させて荷重
検出機構に対して負荷もしくは負荷解除するわけである
が、通常は内蔵分銅を少なくとも2点で支持することに
よってこれを上下動させるような構成を採っている。
検出機構に対して負荷もしくは負荷解除するわけである
が、通常は内蔵分銅を少なくとも2点で支持することに
よってこれを上下動させるような構成を採っている。
<考案が解決しようとする課題> 校正用分銅とその加除機構を内蔵するためには、天びん
ハウジング内にそのスペースが必要となるが、比較的大
ひょう量の天びんでは分銅の体積が大きくなる関係上、
天びん自体が大型化していまうという問題がある。ま
た、従来の加除機構はそのメカニズムが複雑なため、天
びんコストの上昇の原因となっているばかりでなく、故
障しやすいという問題もあり、更には、校正用分銅の無
負荷時における固定の仕方についても、輸送時等におけ
るショックに耐えるようにするためには、別途専用の固
定具を使用する等の対策が必要であるった。
ハウジング内にそのスペースが必要となるが、比較的大
ひょう量の天びんでは分銅の体積が大きくなる関係上、
天びん自体が大型化していまうという問題がある。ま
た、従来の加除機構はそのメカニズムが複雑なため、天
びんコストの上昇の原因となっているばかりでなく、故
障しやすいという問題もあり、更には、校正用分銅の無
負荷時における固定の仕方についても、輸送時等におけ
るショックに耐えるようにするためには、別途専用の固
定具を使用する等の対策が必要であるった。
この考案はこのような点に鑑みてなされたもので、大ひ
ょう量の天びんでも特に大型化することなく校正用分銅
およびその加除機構の内蔵を可能とし、しかも、故障し
にくく、かつ、無負荷時における内蔵分銅を確実に固定
することのできる電子天びんの提供を目的としている。
ょう量の天びんでも特に大型化することなく校正用分銅
およびその加除機構の内蔵を可能とし、しかも、故障し
にくく、かつ、無負荷時における内蔵分銅を確実に固定
することのできる電子天びんの提供を目的としている。
<課題を解決するための手段> 上記の目的を達成するため、本考案では、実施例に対応
する第1図に示すように、 ハウジング1の上面と試料皿2との間の空隙、もしく
は、試料皿2の下面に向かってハウジング1上面を突出
させることによってこのハウジング1内部上方に形成さ
れる空間に、受感部材3を中心にしてこれを囲むような
環状の校正用分銅4を配設している。また、その校正用
分銅4の下方には、この校正用分銅4の中心から所定の
距離を隔てた位置に上下方向に変位自在の1本の棒5と
その上下駆動機構6を設け、かつ、校正用分銅4の上方
には、少なくとも、この校正用分銅4の中心から上下移
動棒5の配設側に所定の距離を隔てた位置A、および、
その反対側の校正用分銅の外周部近傍の位置Bにおいて
校正用分銅4に当接し得る分銅当たり部材7を設けてい
る。更に、受感部材3には、校正用分銅4の下方でこの
校正用分銅4を支承し得る分銅受け8を設けている。そ
して、1本の上下移動棒5の上下動によって、校正用分
銅4を、この1本の棒5と分銅当たり部材7とで挟持し
た状態、もしくは、分銅受け8上に載せた状態のいずれ
かの状態を選択できるように構成している。
する第1図に示すように、 ハウジング1の上面と試料皿2との間の空隙、もしく
は、試料皿2の下面に向かってハウジング1上面を突出
させることによってこのハウジング1内部上方に形成さ
れる空間に、受感部材3を中心にしてこれを囲むような
環状の校正用分銅4を配設している。また、その校正用
分銅4の下方には、この校正用分銅4の中心から所定の
距離を隔てた位置に上下方向に変位自在の1本の棒5と
その上下駆動機構6を設け、かつ、校正用分銅4の上方
には、少なくとも、この校正用分銅4の中心から上下移
動棒5の配設側に所定の距離を隔てた位置A、および、
その反対側の校正用分銅の外周部近傍の位置Bにおいて
校正用分銅4に当接し得る分銅当たり部材7を設けてい
る。更に、受感部材3には、校正用分銅4の下方でこの
校正用分銅4を支承し得る分銅受け8を設けている。そ
して、1本の上下移動棒5の上下動によって、校正用分
銅4を、この1本の棒5と分銅当たり部材7とで挟持し
た状態、もしくは、分銅受け8上に載せた状態のいずれ
かの状態を選択できるように構成している。
<作用> 通常は空き空間となっている試料皿2下面とハウジング
1上面との間を利用して校正用分銅4が設けられる。
1上面との間を利用して校正用分銅4が設けられる。
1本の上下移動棒5は、環状の校正用分銅4の中心から
ずれた位置に設けられ、この棒4の上昇によっては校正
用分銅4は当初傾斜して上昇するものの、校正用分銅4
の上方の位置Aでこの校正用分銅4に当接する分銅当た
り部材7の存在により、第3図に示すように、棒5の上
昇中のある時点から、校正用分銅4は点Aを支点とし、
棒5の接触点を作用点として上記の傾斜が解消されるよ
うに動く。やがて第1図に示すように、校正用分銅4は
その上面において点Aとその反対側の点Bで分銅当たり
部材7に当接し、下面においては棒5に当接した状態で
固定される。
ずれた位置に設けられ、この棒4の上昇によっては校正
用分銅4は当初傾斜して上昇するものの、校正用分銅4
の上方の位置Aでこの校正用分銅4に当接する分銅当た
り部材7の存在により、第3図に示すように、棒5の上
昇中のある時点から、校正用分銅4は点Aを支点とし、
棒5の接触点を作用点として上記の傾斜が解消されるよ
うに動く。やがて第1図に示すように、校正用分銅4は
その上面において点Aとその反対側の点Bで分銅当たり
部材7に当接し、下面においては棒5に当接した状態で
固定される。
その状態から棒5を下降させると、上記と逆の動きで校
正用分銅4が降下し、やがて第2図に示すように分銅受
け8上に載る。
正用分銅4が降下し、やがて第2図に示すように分銅受
け8上に載る。
<実施例> 第1図は本考案実施例の縦断面図で、荷重検出機構の分
銅受け8に対して校正用分銅4を負荷していない状態を
示している。
銅受け8に対して校正用分銅4を負荷していない状態を
示している。
天びんのハウジング1内には、電磁力平衡機構等の荷重
センサを含む公知の荷重検出機構が配設されており、こ
の荷重検出機構は受感部材3に作用する荷重を検出する
ことができる。
センサを含む公知の荷重検出機構が配設されており、こ
の荷重検出機構は受感部材3に作用する荷重を検出する
ことができる。
受感部材3は鉛直線に沿って直立する部材であって、そ
の上端部はハウジング1の上面に穿たれた孔1aから外
部に臨んでいる。そして、この受感部材3の先端に試料
皿2が支承される。受感部材3の上端部近傍、例えば試
料皿2の支承部位の直下には、カップ状の分銅受け8が
形成されている。
の上端部はハウジング1の上面に穿たれた孔1aから外
部に臨んでいる。そして、この受感部材3の先端に試料
皿2が支承される。受感部材3の上端部近傍、例えば試
料皿2の支承部位の直下には、カップ状の分銅受け8が
形成されている。
試料皿2は全体として円盤状をした一体形の皿であっ
て、その周縁部は下方に屈曲するとともに下面中央に受
感部材3の先端を嵌挿するための孔が形成されている。
そして、この試料皿2の下面とハウジング1の上面との
間の空間に、受感部材3の軸心を中心とした円環状の校
正用分銅4が配設されている。
て、その周縁部は下方に屈曲するとともに下面中央に受
感部材3の先端を嵌挿するための孔が形成されている。
そして、この試料皿2の下面とハウジング1の上面との
間の空間に、受感部材3の軸心を中心とした円環状の校
正用分銅4が配設されている。
ハウジング1の内部には、受感部材3から所定の距離を
隔てて、従って校正用分銅4の中心から所定距離だけず
れた位置に、鉛直方向に変位自在の上下移動棒5が配設
されている。この上下移動棒5は、この上下移動棒5を
その下端において支承し、かつ、ハウジング1底面に沿
って水平方向に摺動自在のスライドカム6aと、このス
ライドカム6aを摺動させる例えば手動レバーあるいは
ソレノイド等のアクチュエータ(図示せず)からなる上
下駆動機構6によって、上下方向に変位が与えられる。
隔てて、従って校正用分銅4の中心から所定距離だけず
れた位置に、鉛直方向に変位自在の上下移動棒5が配設
されている。この上下移動棒5は、この上下移動棒5を
その下端において支承し、かつ、ハウジング1底面に沿
って水平方向に摺動自在のスライドカム6aと、このス
ライドカム6aを摺動させる例えば手動レバーあるいは
ソレノイド等のアクチュエータ(図示せず)からなる上
下駆動機構6によって、上下方向に変位が与えられる。
校正用分銅4の下面、上下移動棒5の直上に対応する位
置には、この上下移動棒5の先端が入り込む程度のV溝
4aが形成されている。
置には、この上下移動棒5の先端が入り込む程度のV溝
4aが形成されている。
ハウジング1の上方には、校正用分銅4の上面を覆うよ
うに円環状の分銅当たり部材7が固着されている。この
分銅当たり部材7は、その周縁部に下方に開くテーパ面
を有しており、このテーパ面と同等のテーパ面が校正用
分銅4の上部外縁部に形成されている。
うに円環状の分銅当たり部材7が固着されている。この
分銅当たり部材7は、その周縁部に下方に開くテーパ面
を有しており、このテーパ面と同等のテーパ面が校正用
分銅4の上部外縁部に形成されている。
なお、図中9aおよび9bはハウジング固定柱である。
以上の構成において、第1図に示すようにスライドカム
6aが左方に移動して上下移動棒5が上限にまで上昇し
ているときには、校正用分銅4はこの上下移動棒5にV
溝4aを介して上方に押し上げられ、その上面が分銅当
たり部材7の下面全面に押し付けられる。この状態で
は、校正用分銅4は試料皿2、受感部材3および分銅受
け8のいずれにも接触せずに、分銅当たり部材7に形成
されたのテーパ面に校正用分銅4が嵌まり込み、かつ、
下面に形成されたV溝に上下移動棒5が嵌まり込むこと
と併せて、外部からの多少の衝撃に対してもずれること
なく確実に固定される。この第1図の状態は校正用分銅
4を荷重検出機構に負荷しない状態であり、通常の測定
状態等においてこの状態が選択される。
6aが左方に移動して上下移動棒5が上限にまで上昇し
ているときには、校正用分銅4はこの上下移動棒5にV
溝4aを介して上方に押し上げられ、その上面が分銅当
たり部材7の下面全面に押し付けられる。この状態で
は、校正用分銅4は試料皿2、受感部材3および分銅受
け8のいずれにも接触せずに、分銅当たり部材7に形成
されたのテーパ面に校正用分銅4が嵌まり込み、かつ、
下面に形成されたV溝に上下移動棒5が嵌まり込むこと
と併せて、外部からの多少の衝撃に対してもずれること
なく確実に固定される。この第1図の状態は校正用分銅
4を荷重検出機構に負荷しない状態であり、通常の測定
状態等においてこの状態が選択される。
第2図はスライドカム6aを第1図の状態から右方に移
動させて上下移動棒5を下限にまで下降させた状態を示
す図である。
動させて上下移動棒5を下限にまで下降させた状態を示
す図である。
上下移動棒5を下降させると、校正用分銅4はそれにつ
れて下降するが、上下移動棒5がその下限にまで下降す
ると、校正用分銅4との接触が解かれる。すなわち、上
下移動棒5の先端部の高さは、その下降端においては分
銅受け8の上面よりも低く、従ってこの状態では校正用
分銅4は分銅受け8の上面に載ることになる。この状態
において校正用分銅4は、分銅当たり部材7との接触も
解かれ、その全質量が分銅受け8および受感部材3を介
して荷重検出機構に伝達される。この第2図の状態は、
校正用分銅4を荷重検出機構に負荷した状態であり、ス
パン校正時にこの状態が選択される。
れて下降するが、上下移動棒5がその下限にまで下降す
ると、校正用分銅4との接触が解かれる。すなわち、上
下移動棒5の先端部の高さは、その下降端においては分
銅受け8の上面よりも低く、従ってこの状態では校正用
分銅4は分銅受け8の上面に載ることになる。この状態
において校正用分銅4は、分銅当たり部材7との接触も
解かれ、その全質量が分銅受け8および受感部材3を介
して荷重検出機構に伝達される。この第2図の状態は、
校正用分銅4を荷重検出機構に負荷した状態であり、ス
パン校正時にこの状態が選択される。
第2図の状態、つまり校正用分銅4の負荷状態から無負
荷状態にする場合には、スライドカム6aを左方に摺動
させる。これにより、上下移動棒5は上昇してその先端
が校正用分銅4のV溝に嵌まり込んでこれを押し上げ始
めるが、上下移動棒5は校正用分銅4の中心から、換言
すれば重心から、所定距離だけずれた位置で校正用分銅
4を押し上げるので、当初は校正用分銅4は傾斜するだ
けである。しかし、上下移動棒5がある程度上昇する
と、第3図に示すように、校正用分銅4の上下移動棒5
側の縁部上方、つまり最も高い位置が分銅当たり部材7
のA点に当接する。従って、この第3図の状態から更に
上下移動棒5が上昇すると、校正用分銅4はA点を支点
とし、上下移動棒5の先端部を作用点とする梃子運動に
よってA点と反対側の部分も上昇し、やがてその部分も
分銅当たり部材7のB点に当接して、最終的に第1図の
ように分銅当たり部材7の下面全面に接触して固定され
ることになる。
荷状態にする場合には、スライドカム6aを左方に摺動
させる。これにより、上下移動棒5は上昇してその先端
が校正用分銅4のV溝に嵌まり込んでこれを押し上げ始
めるが、上下移動棒5は校正用分銅4の中心から、換言
すれば重心から、所定距離だけずれた位置で校正用分銅
4を押し上げるので、当初は校正用分銅4は傾斜するだ
けである。しかし、上下移動棒5がある程度上昇する
と、第3図に示すように、校正用分銅4の上下移動棒5
側の縁部上方、つまり最も高い位置が分銅当たり部材7
のA点に当接する。従って、この第3図の状態から更に
上下移動棒5が上昇すると、校正用分銅4はA点を支点
とし、上下移動棒5の先端部を作用点とする梃子運動に
よってA点と反対側の部分も上昇し、やがてその部分も
分銅当たり部材7のB点に当接して、最終的に第1図の
ように分銅当たり部材7の下面全面に接触して固定され
ることになる。
ここで、第1図の状態において、上下移動棒5の押し上
げ量が少ない場合には、外部からの衝撃で校正用分銅4
が正しい収納位置からずれる惧れがある。従って、上下
移動棒5の押し上げ量の調節機構を考慮しておくことが
好ましい。
げ量が少ない場合には、外部からの衝撃で校正用分銅4
が正しい収納位置からずれる惧れがある。従って、上下
移動棒5の押し上げ量の調節機構を考慮しておくことが
好ましい。
この調節機構としては、例えばハウジング固定柱の内の
1本9aを利用し、ここに伸縮機構等を設けてハウジン
グ1の上面(以下、ケースと称する)の底面(以下、ベ
ースと称する)に対する位置を上下させる等が考えられ
る。
1本9aを利用し、ここに伸縮機構等を設けてハウジン
グ1の上面(以下、ケースと称する)の底面(以下、ベ
ースと称する)に対する位置を上下させる等が考えられ
る。
すなわち、第1図に示すように、ハウジング固定柱9a
の上端をビス等によってケースに固定し、下端はベース
に設けた案内孔11内に挿入して、ベースの外側から回
転できるゆるみ防止ねじ10を用いてベースに固定す
る。このとき、ハウジング固定柱9aの外周および案内
孔11は四角ないしは六角とし、ねじ10の回転に共回
りしないようにしておく。このような機構により、ゆる
み防止ねじ10を外部から回してベヘースに対するハウ
ジング固定柱9aの上下位置を調整することによってケ
ース(ハウジング1の上面)の位置が上下し、これに伴
って分銅当たり部材7の上下移動棒5の先端に対する位
置が上下し、無負荷状態での校正用分銅4の固定の強弱
が調節できる。
の上端をビス等によってケースに固定し、下端はベース
に設けた案内孔11内に挿入して、ベースの外側から回
転できるゆるみ防止ねじ10を用いてベースに固定す
る。このとき、ハウジング固定柱9aの外周および案内
孔11は四角ないしは六角とし、ねじ10の回転に共回
りしないようにしておく。このような機構により、ゆる
み防止ねじ10を外部から回してベヘースに対するハウ
ジング固定柱9aの上下位置を調整することによってケ
ース(ハウジング1の上面)の位置が上下し、これに伴
って分銅当たり部材7の上下移動棒5の先端に対する位
置が上下し、無負荷状態での校正用分銅4の固定の強弱
が調節できる。
なお、ゆるみ防止ねじ10は、ねじ込みの途中でも回り
止め作用を持ったねじならどの様なものでもよく、例え
ば商品名パワーロックねじ等として市販されている公知
のねじを使用することができる。
止め作用を持ったねじならどの様なものでもよく、例え
ば商品名パワーロックねじ等として市販されている公知
のねじを使用することができる。
また、他の調節機構として、上下移動棒5自体に伸縮機
能を持たせてもよい。すなわち、第4図(a)は上下移動
棒5を2分割して相互にねじ止めするようにし、その間
にスペーサS1を挿入してその厚みを変更するようにし
たもので、同図(b)上下移動棒5の一端に調節用のねじ
S2を設けたものである。
能を持たせてもよい。すなわち、第4図(a)は上下移動
棒5を2分割して相互にねじ止めするようにし、その間
にスペーサS1を挿入してその厚みを変更するようにし
たもので、同図(b)上下移動棒5の一端に調節用のねじ
S2を設けたものである。
ここで、本考案における校正用分銅4の配設位置は、上
記した実施例のようにハウジング1上面と試料皿2の下
面の空隙のほか、実質的に同じ空間であるが、ハウジン
グ1の上面を試料皿2の下面に向かって突出させること
によってハウジング1内に形成した空間であってもよ
い。
記した実施例のようにハウジング1上面と試料皿2の下
面の空隙のほか、実質的に同じ空間であるが、ハウジン
グ1の上面を試料皿2の下面に向かって突出させること
によってハウジング1内に形成した空間であってもよ
い。
第5図はその例を示すもので、ハウジング1の上面を、
孔1aを中心として試料皿2の下面側にむかって突出さ
せ、この突出によって形成されたハウジング1の内部の
上端部の空間に校正用分銅4を収容している。そしてこ
の場合、ハウジング1の上面を分銅当たり7′として兼
用させることができる。
孔1aを中心として試料皿2の下面側にむかって突出さ
せ、この突出によって形成されたハウジング1の内部の
上端部の空間に校正用分銅4を収容している。そしてこ
の場合、ハウジング1の上面を分銅当たり7′として兼
用させることができる。
また、以上の各実施例においては校正用分銅4の下面に
上下移動棒5が嵌まり込むV溝を形成したが、このV溝
に代えて円状(皿状)の凹部を設けてもよい。
上下移動棒5が嵌まり込むV溝を形成したが、このV溝
に代えて円状(皿状)の凹部を設けてもよい。
更に、本考案における校正用分銅4は、円環状のほか、
角形の環状であってもよく、更にはその環状の一部に切
り欠きのある例えばC字状のものでもよいことは勿論で
ある。
角形の環状であってもよく、更にはその環状の一部に切
り欠きのある例えばC字状のものでもよいことは勿論で
ある。
また、分銅当たり部材は少なくとも第1図に示すA点と
B点において校正用分銅に接触すれば足りる。ただし、
無負荷状態での校正用分銅の固定を確実にするために
は、校正用分銅の上縁のほぼ全面で接触するようなもの
とすることが好ましい。
B点において校正用分銅に接触すれば足りる。ただし、
無負荷状態での校正用分銅の固定を確実にするために
は、校正用分銅の上縁のほぼ全面で接触するようなもの
とすることが好ましい。
<考案の効果> 以上説明したように、本考案によれば、通常は無駄な空
間となっている試料皿と天びんハウジングの間の空間を
利用してここに校正用分銅を配設するとともに、1本の
棒によってこの校正用分銅の受感部材に対する加除を可
能としたので、比較的大ひょう量の天びんでも特に大型
化することなく校正用分銅の内蔵を可能とし、しかも、
その加除機構のメカニズムがシンプルなために故障しに
くく、しかもローコストであり、更に校正用分銅の無負
荷状態での固定が確実であることから、輸送時における
ショックに対しても強く、特に別途固定具等を用意する
ことなく輸送に耐えることのできる天びんが得られる。
間となっている試料皿と天びんハウジングの間の空間を
利用してここに校正用分銅を配設するとともに、1本の
棒によってこの校正用分銅の受感部材に対する加除を可
能としたので、比較的大ひょう量の天びんでも特に大型
化することなく校正用分銅の内蔵を可能とし、しかも、
その加除機構のメカニズムがシンプルなために故障しに
くく、しかもローコストであり、更に校正用分銅の無負
荷状態での固定が確実であることから、輸送時における
ショックに対しても強く、特に別途固定具等を用意する
ことなく輸送に耐えることのできる天びんが得られる。
第1図乃至第3図は本考案実施例縦断面図で、第1図は
校正用分銅4の無負荷状態を示す図、第2図は同じく校
正用分銅4の負荷状態を示す図、第3図はその中間の状
態を示す図である。 第4図は本考案の他の実施例の上下移動棒による押し上
げ量の調節機構の説明図、第5図は本考案の更に他の実
施例の要部縦断面図である。 1……ハウジング 2……試料皿 3……受感部材 4……校正用分銅 4a……V溝 5……上下移動棒 6……上下駆動機構 6a……スライドカム 7……分銅当たり部材 8……分銅受け
校正用分銅4の無負荷状態を示す図、第2図は同じく校
正用分銅4の負荷状態を示す図、第3図はその中間の状
態を示す図である。 第4図は本考案の他の実施例の上下移動棒による押し上
げ量の調節機構の説明図、第5図は本考案の更に他の実
施例の要部縦断面図である。 1……ハウジング 2……試料皿 3……受感部材 4……校正用分銅 4a……V溝 5……上下移動棒 6……上下駆動機構 6a……スライドカム 7……分銅当たり部材 8……分銅受け
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平2−10228(JP,A) 特開 昭62−27626(JP,A) 実開 昭63−137827(JP,U) 特公 昭49−10273(JP,B1)
Claims (1)
- 【請求項1】ハウジング内に配設された荷重検出機構の
受感部材が、上記ハウジング上面に形成された孔を介し
て外部に臨み、その受感部材に、上記ハウジング外部に
配設された試料皿が係合されてなる天びんにおいて、上
記ハウジングの上面と上記試料皿との間の空隙、もしく
は、上記試料皿の下面に向かって上記ハウジング上面を
突出させることによってこのハウジング内部上方に形成
される空間に、上記受感部材を中心にしてこれを囲むよ
うな環状の校正用分銅を配設するとともに、その校正用
分銅の下方には、この校正用分銅の中心から所定の距離
を隔てた位置に上下方向に変位自在の1本の棒とその上
下駆動機構を設け、かつ、上記校正用分銅の上方には、
少なくとも、この校正用分銅の中心から上記棒の配設側
に所定の距離を隔てた位置、および、その反対側の校正
用分銅の外周部近傍の位置において当該校正用分銅に当
接し得る分銅当たり部材を設け、更に、上記受感部材に
は、上記校正用分銅の下方でこの校正用分銅を支承し得
る分銅受けを設け、上記1本の棒の上下動によって上記
校正用分銅を、この1本の棒と上記分銅当たり部材とで
挟持した状態、もしくは、上記分銅受け上に載せた状態
のいずれかの状態を選択できるように構成したことを特
徴とする電子天びん。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11567889U JPH0628657Y2 (ja) | 1989-09-29 | 1989-09-29 | 電子天びん |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11567889U JPH0628657Y2 (ja) | 1989-09-29 | 1989-09-29 | 電子天びん |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0355528U JPH0355528U (ja) | 1991-05-29 |
| JPH0628657Y2 true JPH0628657Y2 (ja) | 1994-08-03 |
Family
ID=31663998
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11567889U Expired - Fee Related JPH0628657Y2 (ja) | 1989-09-29 | 1989-09-29 | 電子天びん |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0628657Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE502004005293D1 (de) * | 2004-12-23 | 2007-11-29 | Mettler Toledo Ag | Kalibriergewichtsanordnung für eine elektronische Waage |
-
1989
- 1989-09-29 JP JP11567889U patent/JPH0628657Y2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0355528U (ja) | 1991-05-29 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |