JPH0563735B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は校正用分銅を内蔵した電子天びんに関
する。

〈従来の技術〉 電子天びんの校正は、一般に、荷重センサを含
む荷重検出機構にひよう量近傍の質量既知の分銅
を負荷し、その状態での計量表示値が分銅質量に
一致するよう、校正係数を更新する等によつて行
われる。

ところで、このような校正は、電子天びんの設
置時のみならず電子天びんの構成部材の経年変化
等によるスパン変化等を解消すべく、必要に応じ
てもしくは定期的に、ユーザサイドにおいて頻繁
に行なうことが望ましい。

そこで、従来、この校正動作を容易にすること
を目的として、天びんハウジング内に専用の校正
用分銅を内蔵させることにより、精密な基準分銅
を別途用意することなく校正を可能にした電子天
びんがある。

〈発明が解決しようとする課題〉 ところで、校正用の分銅を内蔵するためには、
内蔵分銅とその加除機構を収容するスペースがハ
ウジング内に必要となるが、大ひよう量の電子天
びんでは分銅の体積が大きくなる関係上、実現が
困難であつた。

この対策として、従来、レバーを用いて小質量
の分銅で大ひよう量を校正する方法がある。しか
し、この方法では、天びん輸送時におけるレバー
比の変化や、雰囲気温度によるレバー比の変化等
を避け難く、正確さの点で問題がある。

本発明はこの点に鑑みてなされたもので、ハウ
ジング内のスペースを大きくとることなく、従来
よりも大質量の分銅を内蔵させることを可能とし
た電子天びんの提供を目的としている。

〈課題を解決するための手段〉 上記の目的を達成するため、本発明では、実施
例に対応する第１図に示すように、天びんハウジ
ング１の上面と試料皿２との間に形成された空間
に校正用分銅４を配設するとともに、その校正用
分銅４を試料皿２もしくは受感部材３上端部近傍
に形成された分銅受け５に対して負荷／負荷解除
するための機構（例えば押上げ棒６ａ，６ｂ）を
設けている。

ここで、校正用分銅４の配設される空間を、前
記したハウジング１の上面と試料皿２の間に形成
される空間に代えて、第５図に示すように、ハウ
ジング１の上面を試料皿２の下面凹部内に突出さ
せて形成されたハウジング１内部上端部の空間と
することもできる。

なお、本明細書でいう試料皿２とは、単一の部
材で一体的に形成されたもののほか、例えば第３
図に示すように皿２ａと皿受け２ｂに分離されて
なるものをも含む。

〈作用〉 天びんに内蔵する校正用分銅としては、通常の
測定時には荷重検出機構の受感部材およびこれに
接合された試料皿等の感応部に非接触の状態を保
ち、かつ、校正時にはこの感応部以外の部材に非
接触の状態で負荷される必要がある。また、前記
したようにレバー等を介さずに受感部材の中心に
直接負荷されることが望ましい。

校正用分銅４を例えば環状にして、受感部材３
の略中心線上のハウジング１上面と試料皿２の間
の空間に置くとともに、試料皿２、もしくは受感
部材３上端部近傍の分銅受け５に負荷するよう構
成することで、ハウジング１内の荷重検出機構等
に干渉することなく、かつ、ハウジング１自体の
寸法を大きくすることなく、大体積の校正用分銅
４の使用が可能となる。

なお、第５図のように、ハウジング１の上面を
試料皿２の下面の凹部内に突出させることによつ
て作られたハウジング１内の空間に校正用分銅４
を配置しても、ハウジング１内の他の構成部材と
の干渉を考慮する必要がなく、突出部以外のハウ
ジングペースを大きくすることなく、大体積の校
正用分銅４の使用が可能となる。

〈実施例〉 本発明の実施例を、以下、図面に基づいて説明
する。

第１図は本発明実施例の要部構造を示す中央縦
断面図で、ａは通常の測定状態を、ｂは校正用分
銅４の負荷状態を示している。

ハウジング１内には、電磁力平衡機構等の荷重
センサを含む公知の荷重検出機構が配設されてお
り、この荷重検出機構は受感部材３に作用する荷
重を検出することができる。

受感部材３は鉛直線に沿つて直立する部材であ
つて、その上端部はハウジング１の上面に穿たれ
た孔１ａから外部に臨んでいる。そして、この受
感部材３の先端に試料皿２が支承される。受感部
材３の上端部近傍、例えば試料皿２の支承部位の
直下には、カツプ状の分銅受け５が形成されてい
る。

試料皿２は全体として円盤状をした一体形の皿
であり、その周縁部は下方に屈曲するとともに下
面中央に受感部材３先端を嵌挿するための孔が形
成されている。そして、この試料皿２の下面とハ
ウジング１の上面との間の空間に、受感部材３の
軸心を中心として円環状の校正用分銅４が配設さ
れている。

ハウジング１の内部には、例えばカム機構やク
ランク機構等の公知の簡単な上下機構によつて互
いに連動して上下動する押上げ棒６ａ，６ｂが配
設されている。この押上げ棒６ａ，６ｂは、その
上昇端に位置している状態では、第１図ａに示す
ように、校正用分銅４の下面に当接してこれを押
し上げ、ハウジング１の上面に配設された分銅当
り７との間で校正用分銅４を挟着保持することが
できる。なお、分銅当り７は下方に開くテーパ面
を有しており、このテーパ面が校正用分銅４の外
周面上方に形成されたテーパ面と当接すること
で、押上げ棒６ａ，６ｂによる押し上げ時に校正
用分銅４の中心が受感部材３の軸心と一致するよ
う、位置決めされる。この状態では、校正用分銅
４は試料皿２、受感部材３および分銅受け５のい
ずれにも接触せず、試料皿２上に載せられた荷重
のみが荷重検出機構によつて検出される。

押上げ棒６ａ，６ｂが下降端に位置している状
態では、第１図ｂに示すように、校正用分銅４と
の接触が解かれる。すなわち、押上げ棒６ａ，６
ｂの先端部の高さは、その下降端においては分銅
受け５の上面よりも低く、従つて、この状態では
校正用分銅４は分銅受け５の上面に乗ることにな
る。この状態において校正用分銅４は、分銅当り
７との接触も解かれ、その全質量が分銅受け５お
よび受感部材３を介して荷重検出機構に伝達され
る。

第２図は第１図の実施例に防塵対策を施した例
を示す中央縦断面図である。

すなわち、この例では、分銅当り７を上方に延
長させ、更に内側に延びる防塵カバー７ａを一体
形成している。これにより、雰囲気中の防塵やこ
ぼれた試料等による校正用分銅４の汚れを防止す
ることができる。なお、第２図において第１図と
同一の部材については同一の番号を付している。

第３図に示す例は、第２図の防塵対策の変形例
で、組立ての作業性等を考慮した極めて実用的な
例である。なお、この例では、試料皿２を皿２ａ
と皿受け２ａに分離したタイプを示している。

この第３図の例では、ハウジング１の上面の孔
１ａを大きくし、その孔１ａを覆うように下側防
塵カバー１０を設けている。更に、その上方には
分銅当りを兼ねる上側防塵カバー７１を被せ、こ
の上側防塵カバー７１と下側防塵カバー１０との
間に形成された空間内に校正用分銅４を配設して
いる。そして、押上げ棒６ａは下側防塵カバー１
０を貫通して校正用分銅４を上下動させるように
構成している。なお、６０は押上げ棒ガイドであ
る。

この例においては、校正用分銅４の受感部材３
の軸心に対する位置決めは、校正用分銅４の下面
に、押上げ棒６ａ，６ｂの配設位置に対応させて
溝４ａを形成することによつて対処している。

上側防塵カバー７１のハウジング１に対する組
み付けは、例えばハウジング１の孔１ａの周縁を
立ち上がらせ、その外周に数箇所の突起１１を設
けておくとともに、カバー７１にはＬ字形の切欠
きを設けておき、カバー７１をハウジング１の立
ち上がり部に被せてねじることによつてワンタツ
チで行えるように工夫している。第４図ａにカバ
ー側の切欠き７１ａの例を示し、同図ｂにハウジ
ング１側の突起１１の例を示す。なお、下側防塵
カバー１０についても同様の構造を採ることがで
きる。

第５図に示す例は、第１図における分銅当り７
と、第２図における防塵カバー７ａをそれぞれハ
ウジング１の壁体によつて兼用させた例である。

この例では、試料皿２の下面に形成される凹部
内に、孔１ａを中心としてハウジング１の上面の
壁体を突出させ、この突出によつて形成されたハ
ウジング１の内部の上端部の空間に、校正用分銅
４を配設している。そして、押上げ棒６ａ，６ｂ
の上昇端では、校正用分銅４はハウジング１の突
出部１２の下面に形成された平坦面１７に当接す
る。つまりハウジング１の平坦面１７が分銅当り
となる。また、押上げ棒６ａ，６ｂの下降端では
第１図と同様に受感部材３の上端部に設けられた
分銅受け５上に校正用分銅４が乗る。なお、校正
用分銅４の受感部材３の軸心に対する位置決め
は、第３図の例と同様、校正用分銅４の下面に押
げ棒６ａ，６ｂの配設位置に対応させて溝もしく
は凹所４ａ，４ｂを設けることによつて対処して
いる。

この第５図の例では、校正用分銅４はハウジン
グ１内に収容されるものの、その収容位置は試料
皿２下方の凹部内にハウジング１を突出させるこ
とによつて得られる内部上端の空間であるから、
ハウジング１内の荷重検出機構等に対する干渉を
考慮する必要がなく、また、突出部１２以外にハ
ウジング１の容積を大きくすることなく大体積の
校正用分銅４を使用できる。また、ハウジング１
自体が分銅当りと校正用分銅４の防塵カバーの機
能を備えることになり、部品点数を削減できる。

なお、以上説明した各実施例において、押上げ
棒６ａ，６ｂの数は３本以上でもよく、また、例
えば第６図に示すように、フオーク状のレバー６
ｃ等を用いることで１本の押上げ棒６によつて校
正用分銅４の上下動が可能である。更に、第３図
に示したようにカバー７１と溝４ａを有する場合
には、押上げ棒６ａが１本であつても分銅４を上
下させることができる。この場合、押上げ棒６ａ
に対する分銅４の偏心量が大きくなつて上下動し
にくいときには、それに応じて分銅４の形状を半
円環状、ないしは円環の一部を切欠いた形状にす
る等、適宜の対処を採ることができる。

第７図に示す例は、分銅受け５を試料皿２に設
け、校正用分銅４を試料皿２の内部に収納した例
を示している。この図において中心線より左側は
通常の測定状態を、右側は分銅負荷状態を示して
いる。

この例においては、試料皿２の周縁の下方への
屈曲端に、試料皿２の中心部を除いてその下面を
ほぼ全面に亘つて覆うような分銅受け５が固着さ
れており、この分銅受け５と試料皿２との間の空
間に、校正用分銅４を配置している。そして、ハ
ウジング１内にはこの分銅受け５の中央開口部を
介して校正用分銅４を押し上げることのできる押
上げ部材６ｄが配設されており、通常の測定状態
においては校正用分銅４はこの押上げ部材６ｄに
のみ接触してその上方に乗る。また、分銅負荷状
態においては押上げ部材６ｄが下降し、校正用分
銅４は分銅受け５にのみ接触してその上に乗る。
この例によれば、第２図、第３図または第５図に
示した例と同様、校正用分銅４の汚染を防止でき
るという利点がある。

第８図に示す例は、校正用分銅４を上下動させ
る機構をよりシンプルなものとし、更にこの機構
をもハウジング１の外部に設けた例を示してい
る。

この例においては、ハウジング１の孔１ａを中
心にしてその上面に波状端面を持つ円筒上の突起
６１を設け、これに嵌合する波状凹部を持つリン
グ状の分銅支え６２を設けている。

第９図に突起６１と分銅支え６２の分解斜視図
を示す。突起６１に形成された波形と分銅支え６
２に形成された波形とは互いに略同一のピツを有
しており、分銅支え６２に設けられた把手６２ａ
により分銅支え６２を回転させると、分銅支え６
２が上下に動くよう構成されている。

そして、校正用分銅４はこの分銅支え６２の上
方に配置される。また、この例において分銅受け
５は、試料皿２側に固着されている。

この例において、分銅支え６２の上方への変位
端では、第８図に示すように校正用分銅４はこの
分銅支え６２の上面に支持され、試料皿２、受感
部材３および分銅受け５のいずれにも接触しな
い。その状態から把手６２ａによつて分銅支え６
２を回動させて下方に変位させると、校正用分銅
４もそれにつれて下方に変位してゆくが、分銅支
え６２が下方の変位端に達するまでに分銅受け５
上に乗り、分銅支え６２が下方の変位端にある状
態では校正用分銅４は分銅受け５にのみ接触し、
その全質量が受感部材３に伝達される。

第１０図乃至第１８図に示す例は、校正用分銅
４自体を回すことによつてこの校正用分銅４を上
下動させ、分銅受け５への負荷／負荷解除を実現
しようとするものである。

第１０図に中央縦断面図を、第１１図にその要
部分解斜視図を示す例では、ハウジング１の上面
に孔１ａを中心として波状端面を持つ円筒状の固
定型分銅支え６３を形成している。この分銅支え
６３の山部６３ａの頂部に１個づつ切欠６３ｂを
形成し、この切欠６３ｂ……６３ｂに対応させ
て、校正用分銅４の外周面からピン４１〜４３を
突出させている。なお、そのうち１本のピン４１
は把手を兼ねるべく他よりも長くしてある。

そして、通常の測定状態においては、第１０図
に示すように、ピン４１〜４３がそれぞれ切欠き
４３ｂ……４３ｂ上に乗つた状態で分銅支え６３
に支承される。その状態から、ピン４１を持つて
校正用分銅４を回すことにより、校正用分銅４は
分銅支え６３の端面波形に従つて徐々に下降して
ゆき、やがて分銅受け５上に乗る。この状態では
ピン４１〜４３が分銅支え６３に接触しないよう
に、波形の谷部の深さが定められている。

第１２図は上述の例の変形例で、同様に波形端
面を持つ固定型の分銅支え６４をハウジング１の
上面に形成し、校正用分銅４の外周面に複数のピ
ン４４を突出させている。この例の特徴は、校正
用分銅４を回動させるための専用の把手４５を校
正用分銅４に固着するとともに、その先端部４５
ａをヒンジ等によつて折りたためるようにし、試
料皿２の下方内部に収納できるようにした点にあ
る。この例によれば、校正用分銅４の加除を必要
とする場合に限つて把手４５の先端部４５ａを試
料皿２の外方に引き出せばよく、測定作業が妨げ
られないという利点がある。

第１３図に示す例は、校正用分銅４を回動させ
る手段を更に変形したものである。

すなわち、固定型の分銅支え６４と校正用分銅
４のピン４４は先の例と同じであるが、校正用分
銅４を防塵カバー７２を介して回動させるよう構
成している。防塵カバー７２は、試料皿２の下方
から外部に突出する把手７２ａを有しているとと
もに、分銅支え６４に連接形成された円筒状のカ
バー支え６４ａ上に回動自在に支承されている。
また、この防塵カバー７２の下面には第１４図に
斜視図を示すようにフオーク７２ｂを突出させて
いる。そして、校正用分銅４に設けられたピン４
４は、このフオーク７２ｂの凹所に嵌め込まれ、
把手７２ａにより防塵カバー７２を回動させるこ
とによつてフオーク７２ｂを介して校正用分銅４
が回動し、上下動するわけである。ピン４４およ
びフオーク７２ｂは複数個、例えば３個づつ設け
ることが好ましい。なお、フオーク７２ｂの凹所
の幅は、ピン４４の外径よりも広くしておき、校
正用分銅４の分銅受け５上への負荷時には、ピン
４４とフオーク７２ｂとの接触を絶つべく、防塵
カバー７２を微動反転させる必要がある。

第１５図および第１６図に示す例は、防塵カバ
ー７２と校正用分銅４との係合関係と、校正用分
銅４の回動を上下動に変換する機構とを、それぞ
れ変形させた例を示し、更に、上述した防塵カバ
ー７２の微動反転を半自動化した対策をも施した
ものである。なお、第１５図は中央縦断面図で、
第１６図はその校正用分銅４の上面直上で切断し
て示す要部平面断面図である。

この例においては、校正用分銅４の外周部に例
えば３箇所程度の切欠き部４６を設けるととも
に、防塵カバー７２の下面にはこの各切欠き部４
６内に挿入されるピン７２ｃを突出させている。
防塵カバー７２は第１３図の例と同様にカバー支
え６４ａ上に回動自在に支承されており、把手７
２ａによつて防塵カバー７２を回動させることに
よつて、ピン７２ｃが切欠き部４６の端面に当接
しつつ校正用分銅４を回動させる。

この校正用分銅４の回動は、円環状の校正用分
銅４の内周面側に固着された波状板４７と、これ
と対偶関係にある分銅支え６５によつて上下動に
変換される。すなわち、ハウジング１の上面には
孔１ａの周囲に波状端面を有する円筒上の分銅支
え６５が配設されており、波状板４７の凹凸と共
働して校正用分銅４の回動に応じてこれを上下動
させる。そして、校正用分銅４が下降したときに
は、この波状板４７を介して分銅受け５上に載る
ように構成されている。

この例では更に、ハウジング１の上面に把手７
２ａを介して防塵カバー７２を微動反転させるた
めの戻し機構８を設けている。この戻し機構８
は、シリンダ８１内に圧縮コイルばね８２を介し
てピストン８３を設けてなつており、回動時の把
手７２ａの軌跡上に配設されている。すなわち、
把手７２ａにより防塵カバー７２を回動させ、校
正用分銅４を分銅受け５上に負荷した状態で、把
手７２ａの側面がピストン８３をシリンダ８１内
に押し込む位置に戻し機構８を配設している。こ
の状態では、第１６図に二点鎖線で示すように、
ピン７２ｃが校正用分銅４の切欠き部４６の一側
面に接触している。この状態で把手７２ａをはな
すと、圧縮コイルばね８２の弾性力によつてピス
トン８３が突出し、把手７２ａを介して防塵カバ
ー７２がわずかに反転する。これにより、ピン７
２ｃと校正用分銅４との接触が解かれるわけであ
る。従つて測定者は、校正用分銅４の負荷時に把
手７２ａピストン８３に押し付けた後にはなすだ
けで、自動的に防塵カバー７２が微小量反転し、
校正用分銅４は分銅受け５にのみ接触してその全
質量が受感部材３に伝達されることになる。

第１７図および第１８図に示す例は、ハウジン
グ１の上面に試料皿２の下面凹部内への突出部１
２を設けて、その突出部１２の内側に校正用分銅
４を配設した第５図の例に、校正用分銅４の回動
に基づく上下動で負荷／負荷解除を行なう方式を
適用したものである。

この例では、ハウジング１の突出部１２内の校
正用分銅４に第１５図、第１６図の例と同様に複
数箇所の切欠き部４６を設け、この切欠き部４６
内に専用の回動用部材９の爪９ａを挿入し、この
爪９ａを介して校正用分銅４を回動させるよう構
成している。

また、ハウジング１の内側に波状端面を持つ円
筒上の分銅支え６６を配設するとともに、校正用
分銅４には、その下面に円環状の溝４８を設け、
その溝４８より外側の部分の下面に波状部４９を
設けている。そして、この波状部４９が分銅支え
６６の波状端面の上方に載り、これらの回転位相
関係に応じて校正用分銅４が上下動するよう構成
されている。

さて、第１９図と第２０図にそれぞれ中央縦断
面図で示す例は、校正用分銅４を負荷／負荷解除
する機構として、分銅受け５を上下動させる機構
を採用した例で、それぞれ中心線より左側に通常
の測定状態を、右側に分銅負荷状態を示してい
る。

第１９図に示す例では、試料皿２の下面中央の
ボスの外周に雄ねじ２１を刻設し、分銅受け５に
はその中心部に雌ねじ５１を刻設してこれを試料
皿２１の雄ねじ２１にねじ込んでいる。分銅受け
５には、また、試料皿２の下方から外側に伸びる
把手５２が形成されている。この把手５２を持つ
て分銅受け５を回動させることによつて、分銅受
け５が試料皿２に対して上下動するよう構成して
いる。

この例においては、ハウジング１の上面に孔１
ａを中心に円筒上の分銅支え１ｂが形成されてお
り、分銅受け５が下降状態にあるときには、校正
用分銅４はその下面外縁部において分銅支え１ｂ
にのみ接触してその上に乗る。校正用分銅４を負
荷するときには、把手５２を持つて皿２を回転さ
せることによつて、分銅受け５を上昇させる。こ
れにより、校正用分銅４は分銅支え１ｂから外
れ、試料皿２の下面と分銅受け５の間に挟着固定
され、試料皿２と一体化してその全質量が受感部
材３に伝達される。

第２０図に示す例では、試料皿２の周縁の下方
への屈曲部の内側に雌ねじ２２を刻設し、分銅受
け５を円盤状にして外周部に雄ねじ５３を刻んで
いる。そしてこの雄ねじ５３を試料皿２の雌ねじ
２２にねじ込み、分銅受け５の試料皿２に対する
上下動を可能としている。

この例では、分銅支え１ｂは孔１ａの直近に設
けられ、第１９図に示した例と同様、分銅受け５
の下降状態において校正用分銅４はこの分銅支え
１ｂ上に乗る。また、分銅受け５の回動による上
昇により、校正用分銅４は試料皿２と分銅受け５
間に挟着固定されて一体化する。

以上の第１９図、第２０図に示す例によれば、
校正用分銅４の負荷／負荷解除機構が極めてシン
プルな機構となつて、ハウジング１の外側に配設
されるとともに、部品点数が少なく、かつ、加工
も容易であつて故障しにくいという利点がある。
また、分銅受け５を上昇させた負荷状態において
は、校正用分銅４は試料皿２と分銅受け５間に密
に挟着され、輸送時における分銅ロツク機構とし
ても利用できる。更に、第２０図に示す例では、
分銅受け５が防塵カバーとしての機能をも持つ。

なお、第１９図、第２０図の各例において、ね
じ２１と５１、ねじ２２と５３を多条ねじとする
ことによつてあるいはねじに代えてヘリコイドを
採用することによつて、回転角当たりの上下動の
量を増大でき、操作性が向上する。

第２１図乃至第２５図に示す例は、試料皿２を
受感部材３に対して上下動させることによつて校
正用分銅４を負荷／負荷解除するよう構成した例
を示している。

第２１図に示す例では、受感部材３に、外周に
雄ねじ３１ａを刻設した皿支持体３１を支承する
とともに、試料皿２（皿受け２ｂ）の中央部のボ
スには雌ねじ２３を設けてこの雄ねじ３１ａにね
じ込んでいる。つまり、試料皿２は皿支持体３１
を介して受感部材３に支承されるわけで、試料皿
２と皿支持体３１とを相対的に回動させることに
よつて、試料皿２を受感部材３に対して上下動さ
せ得るよう構成している。また、分銅受け５は試
料皿２のボスの外周に固着されている。

この例においては、ハウジング１の上面に孔１
ａを中心とする円筒状の分銅支え１ｂが設けられ
ているとともに、その上面には例えば３箇所の突
起Ｐが配設されており、試料皿２が受感部材３に
対して下降状態にあるときには、校正用分銅４は
突起Ｐ上に載つて支持される。そして、試料皿２
を受感部材３に対して上昇させることにより、校
正用分銅４が分銅受け５上に載り、分銅負荷状態
となる。ここで、例えば３個中２個の突起Ｐを電
気的に接続しておけば、校正用分銅４の負荷／負
荷解除を電気的に検出することもできる。

第２２図に示す例は、第２１図の例に防塵対策
を施すとともに、試料皿２の持ち上げ構造等をよ
り実用的にした例を示している。

この例においては、ハウジング１の孔１ａを大
きくしてその周縁に円筒状のカバー支え１ｃを形
成し、防塵カバー７３を支持している。そして、
校正用分銅４はこの防塵カバー７３の下側に配設
され、通常の測定状態では孔１ａの内周に突出さ
れた複数個の分銅支え１ｄによつて支承される。

また、受感部材３の先端に雄ねじ３ａが刻まれ
ており、この雄ねじ３ａに、中心に雌ねじ３２ａ
が刻まれた筒状の皿支持体３２がねじ込まれてい
る。試料皿２（皿受け２ｂ）は、そのボスの中央
に孔が穿たれており、この孔に皿支持体３２の外
周を挿入した状態で、受感部材３に支承される。
また、分銅受け５は皿支持体３２に固着されてい
る。従つて、皿支持体３２を回動させて受感部材
３に対して上下動させることによつて、試料皿２
および分銅受け５が受感部材３に対して上下動す
ることになり、その上昇時に校正用分銅４が分銅
受け５上に乗るよう構成されている。

なお、この実施例では、受感部材３の上端面に
抜け止め３ｂを固着することで、皿支持体３２の
上昇端を規制し、その抜け落ちを防止することが
できる。

第２３図に示す例は、第２２図の例と同様に防
塵対策を施したものであるが、分銅受け５の防塵
カバーを兼用させた例を示している。

すなわち、第２１図の例と同様に試料皿２（皿
受け２ｂ）の中心に雌ねじ２３を設けるととも
に、受感部材３の先端部には第２２図の例と同様
の雄ねじ３ａを刻設して、これらで試料皿２の回
動による受感部材３に対する上下動を可能とした
ものにおいて、第７図と同様に、試料皿２の下面
をその中心部を除いて全面に覆うような分銅受け
５を、試料皿２の外縁の下方への屈曲端に固着し
ている。この場合、通常の測定状態において校正
用分銅４を支承する分銅支え１ｅは、ハウジング
１の孔１ａの周縁を円筒状に立ち上がらせておけ
ばよい。

第２１図に示した試料皿２と皿支持体３１、第
２２図に示した皿支持体３２と受感部材３、もし
くは第２３図に示した試料皿２と受感部材３との
上下動機構は、第１９図および第２０図に示した
例と同様、ねじを多条ねじとし、あるいはヘリコ
イドに置換することができ、更には、第２４図に
例示するように、一方側に略Ｌ字形のガイド溝Ｇ
を形成し、他方にはこのガイド溝Ｇ内に嵌り込む
突起を設けて、試料皿２もしくは皿支持体３２を
上方に持ち上げて少し回転させることによつて突
起がガイド溝Ｇの水平部に案内されて下に降りな
くなるよう構成することもできる。

更には、上下方向に機能するノツク式ラチエツ
ト機構を採用し、上方に試料皿等の所定高さまで
持ち上げることによつてその位置でロツクされ、
その状態からもう一度持ち上げて放すと試料皿等
が下降するよう構成する等、種々の変形が可能で
ある。

第２５図に示す例は、第２１図のネジによる皿
部の上下に代えて、試料皿２の受感部材３に対す
る上下動を、受感部材３の皿受軸３３を可動にす
ることで達成した例を示している。

すなわち、皿受軸３３を受感部材３に対して上
下方向に摺動自在に支承し、その皿受軸３３を、
受感部材３内に組み込まれたカム９の回動によつ
て上下動させる。この皿受軸３３の先端に支承さ
れる試料皿２にはハウジング１の外側において分
銅受け５を固着するとともに、ハウジング１と試
料皿２の間の空間に校正用分銅４を配置してい
る。

この実施例によると、機構的にはやや複雑とな
るが、カム９をスイツチ操作等によつて電気的に
回動させる等により、校正用分銅４の加除の操作
性を向上させることができる。この方式は第２２
図及び第２３図にも適用することができる。

なお、以上説明した各実施例において、試料皿
２は円形に限らずに角形であつてもよく、その場
合、校正用分銅４は円環状等に代えて角形の環状
とすることが、試料皿２とハウジング１間の空間
を有効に利用できる点で好ましい。

更に、大形の電子天びんの場合は、受感部材を
複数化して試料皿を支承することで、校正用分銅
を環状にすることなく試料皿とハウジング上面と
の間に収納することもできる。その構造例を第２
６図ａおよびｂに試料皿近傍の縦断面図および平
面図で示す。なお、第２６図ａは同図ｂのＡ−Ａ
断面図である。この例においては、荷重センサ１
００に装着された受感部材３を４本の支柱３０ａ
〜３０ｄに分岐させてそれぞれをハウジング１か
ら突出させ、その先端部で試料皿２を支承してい
る。そして、校正用分銅４をこの支柱３０ａ〜３
０ｄの内側の試料皿２とハウジング１上面間に収
納し、４本の連動する押上げ棒６０ａ〜６０ｄに
よつて上下動するよう構成している。各支柱３０
ａ〜３０ｄにはそれぞれ分銅受け５０ａ〜５０ｄ
が突出形成されており、押上げ棒６０ａ〜６０ｄ
が下降端にあるときには、校正用分銅４はその四
隅において分銅受け５０ａ〜５０ｄに支承されて
その全質量が荷重センサ１００に伝達される。ま
た、通常の測定状態では押上げ棒６０ａ〜６０ｄ
が上昇端に位置し、校正用分銅４はこの押上げ棒
６０ａ〜６０ｄにのみ当接してこれに支承され
る。

また、本発明は以上の各実施例に限定されるこ
となく、例えば各実施例の構成の一部を互いに置
換し合う等、種々の変化が可能である。

〈発明の効果〉 以上説明したように、本発明によれば、校正用
分銅をハウジングの上面と試料皿との間に配置し
て受感部材に対して負荷／負荷解除可能としたか
ら、校正用分銅の収納のためのスペースをハウジ
ング内に設ける必要がなく、大体積の、従つて大
質量の校正用分銅の内蔵が可能となり、天びん全
体をコンパクトにまとめることができる。特に、
大ひよう量の天びんに対しては、ひよう量よりも
大幅に軽い分銅で校正せざるを得なかつた従来の
分銅内蔵型の天びんに比して、校正精度を向上さ
せることができる。

また、ハウジングの上面壁体を試料皿の下面凹
部内に突出させて、その突出によつて形成される
ハウジング内部上端の空間に校正用分銅を収納す
ることによつても、ハウジング内部の他の機構と
の干渉を考慮することなく校正用分銅の収容が可
能であり、しかも、校正用分銅収納スペースは実
質的に試料皿下方の無駄な空間であることから、
この構造によつても上記と同等の効果が得られ
る。

更に、分銅受けないしは試料皿を受感部材に対
してねじ等によつて上下動させることで校正用分
銅の負荷／負荷解除を行なうよう構成した場合、
校正用分銅のみならずその加除機構をも実質的に
ハウジング内部から排除できることになり、校正
用分銅を内蔵しない天びんと同等のハウジングに
よつて分銅内蔵型の天びんが得られ、コンパクト
化に寄与するところ大であり、かつ、機構的にも
極めてシンプルとなつて故障削減および低コスト
化を達成できるという利点もある。

このことは、ハウジング上面に波状の分銅支え
を備えるタイプについても同様である。

【図面の簡単な説明】

第１図乃至第２５は本発明の実施例の説明図で
あり、第１図は基本的構造例を示す中央縦断面
図、第２図および第３図はその変形例を示す中央
縦断面図、第４図は第３図の要部説明図である。
第５図は校正用分銅４をハウジング突出部１２の
空間内に配置した実施例を示す中央縦断面図、第
６図は校正用分銅４の上下動機構の他の実施例の
説明図、第７図は校正用分銅４を試料皿２内に収
納した例の中央縦断面図、第８図は校正用分銅４
の上下動機構を変形した例の中央縦断面図、第９
図はその要部分解斜視図、第１０図は校正用分銅
４の上下動機構を更に変形した例の中央断面図、
第１１図はその要部分解斜視図、第１２図乃至第
１５図は更にまたその変形例を示す中央縦断面
図、第１６図は第１５図の要部平面断面図、第１
７図は更にその変形例を示す中央縦断面図、第１
８図はその要部平面図である。第１９図および第
２０図は分銅受け５を上下動させる機構を用いた
実施例を示す中央縦断面図である。第２１図乃至
第２５図は試料皿２を上下動させる機構を用いた
実施例を示す図で、第２１図はその基本的構造例
を示す中央縦断面図、第２２図および第２３図は
その変形例を示す中央縦断面図、第２４図は更に
その変形例の要部縦断面図、第２５は更にまたそ
の変形例を示す中央縦断面図である。第２６図は
環状以外の校正用分銅を使用した実施例の説明図
である。 １……ハウジング、１ａ……孔、１２……突出
部、２……試料皿、２ａ……皿、２ｂ……皿受
け、３……受感部材、４……校正用分銅、５……
分銅受け、６ａ，６ｂ……押上げ棒。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ ハウジング内に配設された荷重検出機構の受
   感部材が、上記ハウジング上面に形成された孔を
   介して外部に臨み、その受感部材に、上記ハウジ
   ング外部に配設された試料皿が係合されてなる天
   びんにおいて、上記ハウジングの上面と上記試料
   皿との間に形成された空間に校正用分銅を配設す
   るとともに、その校正用分銅を上記試料皿もしく
   は受感部材上端部近傍に形成された分銅受けに対
   して負荷／負荷解除するための機構を備えたこと
   を特徴とする、電子天びん。 ２ 請求項第１項記載の電子天びんにおいて、上
   記校正用分銅を、上記ハウジング上面と試料皿の
   間に形成される空間に代えて下記の空間に配設し
   たことを特徴とする電子天びん。 上記試料皿の直下のハウジング壁体を、上記試
   料皿の下面に形成された凹部内に突出させ、その
   突出によつて形成されたハウジング内部上端の空
   間。