JPH0628743U - 電子部品試験用クリップ装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】リード端子の曲りや位置ずれを吸収し、接触抵
抗の増大、リード端子に対する荷重負荷を回避し得る電
子部品試験用クリップ装置を提供する。 【構成】クリップ端子２、３は、導電材料で構成され、
少なくとも一対備えられ、それぞれが間隔を隔てて互い
に対向するように配置されている。クリップ端子２は、
第１の部材２１が、駆動装置１により、他のクリップ端
子３に近づく方向に駆動され、第２の部材２２が他のク
リップ端子３の端部３３との間で挟口Ｇを構成する端部
２３を有すると共に、挟口Ｇを縮小しまたは拡大する方
向に動作可能な状態で、第１の部材２１上に取付けられ
ている。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

本考案は、リード端子を有する電子部品の試験に用いられるクリップ装置に関 する。

【０００２】

【従来の技術】

電子部品は外部回路との接続のためにリード端子を備える。これらの電子部品 の試験に当っては、リード端子を、クリップ装置に備えられたクリップ端子によ って挟み込み、クリップ端子を介して電子部品のリード端子に通電しまたは導通 させて、電子部品の特性等を試験する。

【０００３】 従来より知られるクリップ装置は、駆動装置とクリップ端子とを含んでいる。 駆動装置はクリップ端子を駆動する直線運動出力装置、例えば空気圧もしくは油 圧によって、シリンダ内のピストンを直線的に駆動するもの、または、ソレノイ ド等である。クリップ端子は、導電材料で構成され、少なくとも一対が間隔を隔 てて互いに対向するように配置され、駆動装置によって挟口の間隔を縮小する方 向に駆動される。このクリップ端子によって、電子部品に備えられたリード端子 を挟み込み、通電しもしくは導通させて、電子部品の試験を行なう。

【０００４】

【考案が解決しようとする課題】

しかしながら、従来のクリップ装置は、リード端子が曲がっていたり、挟み込 みに位置ずれを生じた場合に、リード端子を正確に挟むことができず、接触抵抗 の増大、リード端子に対する荷重負荷を加えてしまうという問題点があった。

【０００５】 そこで、本考案の課題は、上述する従来の問題点を解決し、リード端子の曲り や位置ずれを吸収し、接触抵抗の増大、リード端子に対する荷重負荷を回避し得 る電子部品試験用クリップ装置を提供することである。

【０００６】

【課題を解決するための手段】

上述した課題解決のため、本考案は、駆動装置と、クリップ端子とを含む電子 部品試験用クリップ装置であって、 前記駆動装置は、前記クリップ端子を駆動するものであり、 前記クリップ端子は、導電材料で構成され、少なくとも一対備えられ、それぞ れが間隔を隔てて互いに対向するように配置されており、 前記クリップ端子の少なくとも一方は、第１の部材と、第２の部材とを有し、 前記第１の部材が、前記駆動装置により、他のクリップ端子に近づく方向に駆動 され、前記第２の部材が、他のクリップ端子の端部との間で挟口を構成する端部 を有すると共に、前記挟口を縮小しまたは拡大する方向に動作可能な状態で前記 第１の部材上に取付けられている。

【０００７】

【作用】

クリップ端子の少なくとも一方は、第１の部材が、駆動装置により、他のクリ ップ端子に近づく方向に駆動され、第２の部材が他のクリップ端子の端部との間 で挟口を構成する端部を有し、第１の部材上に取付けられているから、第１の部 材が駆動装置により他のクリップ端子に近づく方向に駆動された場合、挟口を構 成する端部間で電子部品に備えられたリード端子を挟み込むことができる。

【０００８】 クリップ端子の少なくとも一方は、第２の部材が挟口を縮小しまたは拡大する 方向に動作可能な状態で第１の部材上に取付けられているから、リード端子が曲 がっていたり、挟み込みに位置ずれを生じた場合に、その状態に対応して第２の 部材が挟口を縮小しまたは拡大する方向に動き、リード端子の曲りや挟み込み位 置ずれを吸収する。

【０００９】 クリップ端子は、導電材料で構成されているから、クリップ端子によって、電 子部品のリード端子を挟み込みながら、通電または導通の試験を行なうことがで きる。リード端子の曲りや挟み込み位置ずれがクリップ端子の前述した作用によ って吸収されているから、リード端子の曲りや挟み込み位置ずれによる影響を受 けることなく試験を行なうことができる。

【００１０】

【実施例】

図１は本考案に係る電子部品試験用クリップ装置の正面断面図である。図にお いて、１は駆動装置、２、３はクリップ端子。駆動装置１はクリップ端子２、３ を駆動するものである。図示の駆動装置１は、例えば空気圧もしくは油圧によっ て、シリンダ１１内のピストン１２を直線的に駆動するタイプのものである。こ の外、ソレノイド形の駆動装置１を用いることもできる。１２１、１２２はピス トン１２の端部、１３はＯリング、１４は受板、１５、１６は軸である。

【００１１】 クリップ端子２、３は、金属等の導電材料で構成されている。図示は一対のク リップ端子２、３を示すだけであるが、より多数対の組合せを含むことができる 。クリップ端子２、３のそれぞれは、間隔を隔てて互いに対向するように配置さ れている。

【００１２】 クリップ端子２、３の少なくとも一方、例えばクリップ端子２は、第１の部材 ２１と、第２の部材２２とを有する。第１の部材２１は、駆動装置１により、他 のクリップ端子３に近づく方向に駆動される。第２の部材２２は他のクリップ端 子３の端部３３との間で挟口Ｇを構成する端部２３を有し、挟口Ｇを縮小しまた は拡大する方向に動作可能な状態で、第１の部材２１上に取付けられている。図 示では、クリップ端子３も、クリップ端子２と同様に、第１の部材３１及び第２ の部材３２を有する。第１の部材２１、３１は軸１５、１６により、駆動装置側 に設けられた受板１４に回転可能に取り付けられている。

【００１３】 図２〜図５は本考案に係る電子部品試験用クリップ装置の使用状態を示す図で ある。試験に当り、電子部品４に備えられたリード端子５が、挟口Ｇに位置する ように、位置合せを行なう（図２参照）。次に、図３の矢印ａに示すごとく、駆 動装置１のシリンダ１１内に空気等を導入する。これにより、ピストン１２が矢 印ａに示す方向に駆動される。クリップ端子２は、第１の部材２１が、駆動装置 １により、クリップ端子３に近づく方向に駆動される。第２の部材２２は、クリ ップ端子３の端部との間で挟口Ｇを構成する端部２３を有し、第１の部材３１上 に取付けられているから、第１の部材２１が駆動装置１によりクリップ端子３に 近づく方向に駆動された場合、挟口Ｇを構成する端部２３ー３３間で電子部品に 備えられたリード端子５を挟み込むことができる（図３参照）。

【００１４】 クリップ端子２は、第２の部材２２が挟口Ｇを縮小しまたは拡大する方向に動 作可能な状態で第１の部材２１上に取付けられている。このため、図４に示すよ うに、電子部品４のリード端子５が、本来の位置から△Ｐ０だけ位置ずれを生じ ても、あるいは、図５に示すように、リード端子５が曲がっていても、その状態 に対応して第２の部材２２が挟口Ｇを縮小しまたは拡大する方向に動き、リード 端子５の曲りや挟み込み位置ずれを吸収する。

【００１５】 クリップ端子２、３は、導電材料で構成されている。従って、クリップ端子２ 、３によって、電子部品４のリード端子５を挟み込みながら、通電または導通の 試験を行なうことができる。リード端子５の曲りや挟み込み位置ずれがクリップ 端子２、３の前述した作用によって吸収されているから、リード端子５の曲りや 挟み込み位置ずれによる影響を受けることなく試験を行なうことができる。

【００１６】 再び、図１を参照すると、クリップ端子２は、結合手段２４と、第１のバネ２ ５とを含んでいる。結合手段２４は、棒体２４１と、点状接触部材２４２と、第 ２のバネ部２４３とを含む。棒体２４１は第１の部材２１及び第２の部材２２を 貫通して両者を結合している。点状接触部材２４２は第１の部材２１及び第２の 部材の間に介在して設けられ、かつ、棒体２４１を貫通させてある。第２のバネ ２４３は第１の部材２１及び第２の部材２２を互いに近づける方向のバネ圧を加 えている。第１のバネ２５は第１の部材２１及び第２の部材２２を互いに遠ざけ る方向のバネ圧を加えている。

【００１７】 図示では、クリップ端子３も、クリップ端子２と同様の構成になり、結合手段 ３４が棒体３４１と、点状接触部材３４２と、第２のバネ部３４３とを含む。棒 体３４１は第１の部材３１及び第２の部材３２を貫通して両者を結合している。 点状接触部材３４２は第１の部材３１及び第２の部材３２の間に介在して設けら れ、かつ、棒体３４１を貫通させてある。第２のバネ３４３は第１の部材３１及 び第２の部材３２を互いに近づける方向のバネ圧を加えている。第１のバネ３５ は第１の部材３１及び第２の部材３２を互いに遠ざける方向のバネ圧を加えてい る。２４４、３４４は点状接触部材、２４５、３４５は止め具、２４６、３４６ は止め具である。

【００１８】 第２の部材２２、３２は、点状接触部材２４２、３４２により、第１の部材２ １、３１に対して、少ない接触摩擦抵抗を保って、接触すると共に、第１のバネ ２５、３５及び第２のバネ２４３、３４３のバネ圧を受けながら、挟口Ｇを縮小 しまたは拡大する方向に動作する。第２の部材３２の端部２３、３３は曲面状に 形成するのが望ましい。曲面であると、リード端子５に対する接触状態を常に同 じ条件に保つことができる。

【００１９】

【考案の効果】

以上述べたように、本考案によれば、次のような効果を得ることができる。 （ａ）クリップ端子の少なくとも一方は、第１の部材が、駆動装置により、他の クリップ端子に近づく方向に駆動され、第２の部材が他のクリップ端子の端部と の間で挟口を構成する端部を有し、第１の部材上に取付けられているから、挟口 を構成する端部間で電子部品に備えられたリード端子を挟み込んで試験を行なう ことの可能な電子部品試験用クリップ装置を提供できる。 （ｂ）クリップ端子の少なくとも一方は、第２の部材が挟口を縮小しまたは拡大 する方向に動作可能な状態で第１の部材上に取付けられているから、リード端子 の曲りや挟み込み位置ずれを吸収し得る電子部品試験用クリップ装置を提供でき る。 （ｃ）クリップ端子は、導電材料で構成されているから、リード端子の曲りや挟 み込み位置ずれによる影響を受けることなく、通電または導通の試験を行なうこ との可能な電子部品試験用クリップ装置を提供できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案に係る電子部品試験用クリップ装置の正
面断面図である。

【図２】本考案に係る電子部品試験用クリップ装置の使
用状態を示す図である。

【図３】本考案に係る電子部品試験用クリップ装置の使
用状態を示す図である。

【図４】本考案に係る電子部品試験用クリップ装置の使
用状態を示す図である。

【図５】本考案に係る電子部品試験用クリップ装置の使
用状態を示す図である。

【符号の説明】

１ 駆動装置 ２、３ クリップ端子 ２１、３１ 第１の部材 ２２、３２ 第２の部材 ２３、３３ 端部

Claims (2)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 駆動装置と、クリップ端子とを含む電子
   部品試験用クリップ装置であって、 前記駆動装置は、前記クリップ端子を駆動するものであ
   り、 前記クリップ端子は、導電材料で構成され、少なくとも
   一対備えられ、それぞれが間隔を隔てて互いに対向する
   ように配置されており、 前記クリップ端子の少なくとも一方は、第１の部材と、
   第２の部材とを有し、前記第１の部材が、前記駆動装置
   により、他のクリップ端子に近づく方向に駆動され、前
   記第２の部材が、他のクリップ端子の端部との間で挟口
   を構成する端部を有すると共に、前記挟口を縮小しまた
   は拡大する方向に動作可能な状態で前記第１の部材上に
   取付けられている電子部品試験用クリップ装置。
2. 【請求項２】 前記クリップ端子の一方は、結合手段
   と、第１のバネとを含んでおり、 前記結合手段は、棒体と、点状接触部材と、第２のバネ
   部とを含み、前記棒体が前記第１の部材及び第２の部材
   を貫通して両者を結合し、前記点状接触部材が前記第１
   の部材及び前記第２の部材の間に介在して設けられ前記
   棒体を貫通させ、前記第２のバネが前記第１の部材及び
   前記第２の部材を互いに近づける方向のバネ圧を加えて
   おり、 前記第１のバネが前記第１の部材及び前記第２の部材を
   互いに遠ざける方向のバネ圧を加える請求項１に記載の
   電子部品試験用クリップ装置。