JPH06290586A - 半導体記憶装置 - Google Patents

半導体記憶装置

Info

Publication number
JPH06290586A
JPH06290586A JP5075588A JP7558893A JPH06290586A JP H06290586 A JPH06290586 A JP H06290586A JP 5075588 A JP5075588 A JP 5075588A JP 7558893 A JP7558893 A JP 7558893A JP H06290586 A JPH06290586 A JP H06290586A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pulse
signal
power
internal circuit
circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP5075588A
Other languages
English (en)
Inventor
Mikio Sakurai
幹夫 桜井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP5075588A priority Critical patent/JPH06290586A/ja
Publication of JPH06290586A publication Critical patent/JPH06290586A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Dram (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 電源投入後、ダミーサイクルなしに使えるよ
うにする。 【構成】 電源投入信号を受けて内部回路3にリセット
信号を送るパワーオンリセット回路(POR)1の出力
信号(/POR信号)により制御されるリングオシレー
ター4を用いて、内部的にダミーサイクル相当の信号を
発生させる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、DRAM等の半導体
記憶装置に関するものである。そして、特に、電源投入
後ダミーサイクルなしに使用することを可能とした半導
体記憶装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、半導体記憶装置は、より一層の低
消費電力化、高速化が求められている。そこで、電源投
入後少しでも早くスタンバイ状態にして、できるだけ早
く使用できるようにしたいと要望されている。
【0003】従来の半導体記憶装置の構成について図7
を参照しながら説明する。図7は、従来の半導体記憶装
置を示す図である。
【0004】図7において、1は電源の投入信号を受け
て半導体記憶装置の所定の内部回路にリセット信号(/
POR信号)を送るパワーオンリセット回路(PO
R)、2は外部より/RAS信号を受けて内部/RAS
信号(φ1信号)を発生する/RASバッファ、3は内
部回路である。
【0005】次に、従来の半導体記憶装置の動作につい
て図8を参照しながら説明する。図8は、従来の半導体
記憶装置の動作を示すタイミングチャートである。図8
において、(a)は電源電圧Vcc、(b)は/RAS
信号、(c)はφ1信号、(d)は/POR信号をそれ
ぞれ示す。
【0006】パワーオンリセット回路1は、外部電源を
もとに供給されるVcc電源をうけ、この電源電圧Vc
cの立ち上がりをうけて半導体記憶装置の所定の内部回
路3にワンショットパルスを与えて所定の内部回路3を
リセットする回路である。この時、所定の内部回路3に
与える信号は/POR信号と呼ばれる。
【0007】図8(a)に示すように、まず、電源投入
時に電源電圧Vccが“L”から“H”に立上がる。す
ると/POR信号は電源投入時は“L”のままで半導体
記憶装置の所定の内部回路3をリセットする。そして、
図8(d)に示すように、/POR信号はイニシャルポ
ーズ期間内に自分で“H”に切換わり、所定の内部回路
3のリセットを終了する。
【0008】ユーザーは電源を投入してイニシャルポー
ズ期間後、半導体記憶装置を使用するためには/RAS
信号によるダミーサイクルを規定回数入れなければなら
ないという決まり(仕様)がある。このため、図8
(b)及び(c)に示すように、/RAS信号によるダ
ミーサイクルを規定回数入れたあと、ノーマルサイクル
として通常使用が可能となる。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】上述したような従来の
半導体記憶装置では、ユーザーが通常使用をはじめる前
に、イニシャルポーズ期間後のダミーサイクルを規定回
数必ず入れる必要があり、ダミーサイクルを入れている
期間の分、通常使用開始時間が遅れてしまうという問題
点があった。
【0010】この発明は、前述した問題点を解決するた
めになされたもので、電源を投入してイニシャルポーズ
期間の後にダミーサイクルを入れることなく、直ぐにノ
ーマルサイクルに入ることができる半導体記憶装置を得
ることを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】この発明の請求項1に係
る半導体記憶装置は、次に掲げる手段を備えたものであ
る。 〔1〕 電源の投入を受けて内部回路にリセット信号を
送るパワーオンリセット回路。 〔2〕 前記リセット信号に基づいてイニシャルポーズ
期間に一定周期のパルスを出力するリングオシレータ
ー。 〔3〕 前記一定周期のパルスと外部/RAS信号の論
理和をとり前記内部回路に送る論理和手段。
【0012】この発明の請求項2に係る半導体記憶装置
は、次に掲げる手段を備えたものである。 〔1〕 電源の投入を受けて内部回路にリセット信号を
送るパワーオンリセット回路。 〔2〕 前記リセット信号に基づいてイニシャルポーズ
期間に一定周期のパルスを出力するリングオシレータ
ー。 〔3〕 前記一定周期のパルスを計数して前記リングオ
シレーターの動作期間を制御するカウンタ。 〔4〕 前記一定周期のパルスと外部/RAS信号の論
理和をとり前記内部回路に送る論理和手段。
【0013】
【作用】この発明の請求項1に係る半導体記憶装置にお
いては、パワーオンリセット回路によって、電源の投入
を受けて内部回路にリセット信号が送られる。また、リ
ングオシレーターによって、前記リセット信号に基づい
てイニシャルポーズ期間に一定周期のパルスが出力され
る。さらに、論理和手段によって、前記一定周期のパル
スと外部/RAS信号の論理和がとられ前記内部回路に
送られる。
【0014】この発明の請求項2に係る半導体記憶装置
においては、パワーオンリセット回路によって、電源の
投入を受けて内部回路にリセット信号が送られる。ま
た、リングオシレーターによって、前記リセット信号に
基づいてイニシャルポーズ期間に一定周期のパルスが出
力される。さらに、カウンタによって、前記一定周期の
パルスが計数されて前記リングオシレーターの動作期間
が制御される。そして、論理和手段によって、前記一定
周期のパルスと外部/RAS信号の論理和がとられ前記
内部回路に送られる。
【0015】
【実施例】
実施例1.以下、この発明の実施例1の構成について図
1を参照しながら説明する。図1は、この発明の実施例
1の構成を示すブロック図であり、パワーオンリセット
回路1〜内部回路3は上述した従来装置のものと同様で
ある。なお、各図中、同一符号は同一又は相当部分を示
している。
【0016】図1において、4はリングオシレーターで
あり、動作は/POR信号により制御されている。
【0017】ところで、この発明の論理和手段は、この
実施例1では/RASバッファ2に相当する。
【0018】次に、この発明の実施例1の動作について
図2を参照しながら説明する。図2は、この発明の実施
例1の動作を示すタイミングチャートである。図2にお
いて、(a)は電源電圧Vcc、(b)は/RAS信
号、(c)はパルスφ1、(d)はパルスφ2、(e)は
/POR信号をそれぞれ示す。
【0019】電源投入時、図2(a)に示すように、電
源電圧Vccが“L”から“H”に立上がる。/POR
信号は電源投入時は“L”のままで半導体記憶装置の所
定の内部回路3をリセットする。この発明の実施例1に
おいては、/POR信号はリングオシレーター4にも入
力されている。
【0020】リングオシレーター4は/POR信号をう
けて、イニシャルポーズ期間の間に/POR信号が
“H”にきりかわるまで/RASバッファ2に周期的な
パルスφ2を送り続ける。/RASバッファ2は、動作
的に外部/RAS信号とのORのロジックを組んである
ためパルスφ2をうけてパルスφ1が内部回路3に与えら
れる。
【0021】これにより、イニシャルポーズ期間の間に
パルスφ2により内部的にダミーサイクル相当の動作を
内部回路3におこすことになる。従って、ユーザーはイ
ニシャルポーズ期間後、外部からダミーサイクルを与え
ることなく、すぐに通常使用することが可能となる。
【0022】この発明の実施例1は、前述したように、
電源電圧Vccの投入を受けて内部回路3にリセット信
号(/POR信号)を送るパワーオンリセット回路1
と、前記リセット信号を制御信号として動作するリング
オシレーター4とを備えたものである。前記リングオシ
レーター4の出力信号(φ2)を用いて、電源投入後し
ばらくの間内部的にダミーサイクル相当の動作をおこす
ための信号(φ1)を内部回路3に与えるようにしたも
のである。その結果、イニシャルポーズ期間内に内部的
にダミーサイクル相当の動作を行うようにしたので、イ
ニシャルポーズ期間後、ユーザーは、ダミーサイクルを
外部より行うことなくすぐに通常使用が可能となる。
【0023】実施例2.この発明の実施例2の構成につ
いて図3を参照しながら説明する。図3は、この発明の
実施例2の構成を示すブロック図である。
【0024】図3において、従来装置と同一符号は同一
のもの若しくは相当するものを示している。4はリング
オシレーターであり、動作は/POR信号により制御さ
れている。5はカウンターであり、リングオシレーター
4の動作をうけてパルスφ2をカウントし、このカウン
ター5の出力(/φ3)によりリングオシレーター4の
動作期間を制御する。
【0025】次に、この発明の実施例2の動作について
図4を参照しながら説明する。図4は、この発明の実施
例2の動作を示すタイミングチャートである。図4にお
いて、(a)は電源電圧Vcc、(b)は/RAS信
号、(c)はパルスφ2、(d)はパルスφ1、(e)は
/φ3信号、(f)は、/POR信号をそれぞれ示す。
【0026】電源投入時、図4(a)に示すように、電
源電圧Vccが“L”から“H”に立上がる。同図
(f)に示すように、/POR信号は電源投入時は
“L”のままで、半導体記憶装置の所定の内部回路3を
リセットする。
【0027】この発明の実施例2においては、パルスφ
2はカウンター5に入力されている。カウンター5から
は/φ3が出力されており、リングオシレーター4の動
作を制御している。リングオシレーター4は、/POR
信号をうけてイニシャルポーズ期間の間に、/RASバ
ッファ2に周期的なパルスφ2を送信する。それと同時
にパルスφ2をうけてカウンター5がφ2のパルス数をカ
ウントする。
【0028】カウンター5は、所定のカウント数にパル
スφ2のパルス数が達すると、図4(e)に示すよう
に、出力/φ3を“L”→“H”にして、リングオシレ
ーター4の動作を停止させる。所定のカウント数として
は、ダミーサイクルとして規定されているパルスφ1の
パルス数を生成するのに充分であればよい。
【0029】これにより、イニシャルポーズ期間の間
に、パルスφ2により内部的にダミーサイクル相当の動
作を内部回路3におこすことになる。従って、ユーザー
はイニシャルポーズ期間後、外部からダミーサイクルを
与えることなく、すぐに通常使用することが可能とな
る。
【0030】実施例3.なお、上記2つの実施例1及び
2においては、リングオシレーター4のパルスφ2は/
RASバッファ2に入力されていたが、図5に示すよう
に、ORゲート6により、/RASバッファ2のパルス
φ1とパルスφ2のORロジックを構成して内部回路3に
供給してもよい。
【0031】実施例4.また、図6に示すように、イニ
シャルポーズ期間はANDゲート8によりパワーオンリ
セット回路からの/POR信号とANDロジックをとり
/RAS信号を無視して、パルスφ2を優先させるよう
にしても、内部回路3にダミーサイクル相当の動作をお
こさせるという目的は達成される。
【0032】
【発明の効果】この発明の請求項1に係る半導体記憶装
置は、以上説明したとおり、電源の投入を受けて内部回
路にリセット信号を送るパワーオンリセット回路と、前
記リセット信号に基づいてイニシャルポーズ期間に一定
周期のパルスを出力するリングオシレーターと、前記一
定周期のパルスと外部/RAS信号の論理和をとり前記
内部回路に送る論理和手段とを備えたので、イニシャル
ポーズ期間後、ユーザーはダミーサイクルを外部より入
れて時間的なロスをすることなく、すぐにノーマル使用
することができるという効果を奏する。
【0033】この発明の請求項2に係る半導体記憶装置
は、以上説明したとおり、電源の投入を受けて内部回路
にリセット信号を送るパワーオンリセット回路と、前記
リセット信号に基づいてイニシャルポーズ期間に一定周
期のパルスを出力するリングオシレーターと、前記一定
周期のパルスを計数して前記リングオシレーターの動作
期間を制御するカウンタと、前記一定周期のパルスと外
部/RAS信号の論理和をとり前記内部回路に送る論理
和手段を備えたので、イニシャルポーズ期間後、ユーザ
ーはダミーサイクルを外部より入れて時間的なロスをす
ることなく、すぐにノーマル使用することができるとい
う効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の実施例1の構成を示すブロック図で
ある。
【図2】この発明の実施例1の動作を示すタイミングチ
ャートである。
【図3】この発明の実施例2の構成を示すブロック図で
ある。
【図4】この発明の実施例2の動作を示すタイミングチ
ャートである。
【図5】この発明の実施例3の構成を示す図である。
【図6】この発明の実施例4の構成を示す図である。
【図7】従来の半導体記憶装置の構成を示すブロック図
である。
【図8】従来の半導体記憶装置の動作を示すタイミング
チャートである。
【符号の説明】
1 パワーオンリセット回路 2 /RASバッファ 3 内部回路 4 リングオシレーター 5 カウンター

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電源の投入を受けて内部回路にリセット
    信号を送るパワーオンリセット回路、前記リセット信号
    に基づいてイニシャルポーズ期間に一定周期のパルスを
    出力するリングオシレーター、及び前記一定周期のパル
    スと外部/RAS信号の論理和をとり前記内部回路に送
    る論理和手段を備えたことを特徴とする半導体記憶装
    置。
  2. 【請求項2】 電源の投入を受けて内部回路にリセット
    信号を送るパワーオンリセット回路、前記リセット信号
    に基づいてイニシャルポーズ期間に一定周期のパルスを
    出力するリングオシレーター、前記一定周期のパルスを
    計数して前記リングオシレーターの動作期間を制御する
    カウンタ、及び前記一定周期のパルスと外部/RAS信
    号の論理和をとり前記内部回路に送る論理和手段を備え
    たことを特徴とする半導体記憶装置。
JP5075588A 1993-04-01 1993-04-01 半導体記憶装置 Pending JPH06290586A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5075588A JPH06290586A (ja) 1993-04-01 1993-04-01 半導体記憶装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5075588A JPH06290586A (ja) 1993-04-01 1993-04-01 半導体記憶装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH06290586A true JPH06290586A (ja) 1994-10-18

Family

ID=13580517

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5075588A Pending JPH06290586A (ja) 1993-04-01 1993-04-01 半導体記憶装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH06290586A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6075747A (en) * 1998-06-29 2000-06-13 Hyundai Electronics Industries Co., Ltd. Method of controlling a row address strobe path
US6417704B1 (en) 1998-12-11 2002-07-09 Nec Corporation Power-on circuit and resetting method
US6950370B2 (en) 2003-04-30 2005-09-27 Hynix Semiconductor Inc. Synchronous memory device for preventing erroneous operation due to DQS ripple

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6075747A (en) * 1998-06-29 2000-06-13 Hyundai Electronics Industries Co., Ltd. Method of controlling a row address strobe path
US6417704B1 (en) 1998-12-11 2002-07-09 Nec Corporation Power-on circuit and resetting method
US6950370B2 (en) 2003-04-30 2005-09-27 Hynix Semiconductor Inc. Synchronous memory device for preventing erroneous operation due to DQS ripple

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3871148B2 (ja) 半導体メモリ装置のデータ出力バッファ
US5768213A (en) Clock generating circuit for use in semiconductor memory device
US5920511A (en) High-speed data input circuit for a synchronous memory device
US5535171A (en) Data output buffer of a semiconducter memory device
US5555526A (en) Synchronous semiconductor memory device having an auto-precharge function
JPH0773668A (ja) 半導体メモリ装置のセルフリフレッシュ周期調節回路
US5208779A (en) Circuit for providing synchronous refresh cycles in self-refreshing interruptable DRAMs
US6002615A (en) Clock shift circuit and synchronous semiconductor memory device using the same
KR20000070999A (ko) 메모리 디바이스 명령 신호 발생기
KR20220168520A (ko) 리프레쉬 동작 주기를 조절하는 전자장치
US6026041A (en) Semiconductor memory device
GB2332966A (en) A memory with control of data output buffer
JPH06290586A (ja) 半導体記憶装置
USRE36532E (en) Synchronous semiconductor memory device having an auto-precharge function
KR0149225B1 (ko) 전력소모를 절감하기 위한 직류전압 발생회로
JP2928739B2 (ja) パルス発生器
US5963501A (en) Dynamic clock signal generating circuit for use in synchronous dynamic random access memory devices
KR100449638B1 (ko) 스토리지 커패시터를 포함하는 셀을 갖는 에스램의리프레쉬장치 및 그 방법
JP4198770B2 (ja) 半導体メモリ装置のデータ入力回路及びデータ入力方法
KR100246787B1 (ko) 디램 리프레쉬신호 발생장치
JPS6055916B2 (ja) タイミング回路
KR100200767B1 (ko) 동기식 반도체 장치의 칼럼 어드레스 버퍼 제어회로
JP2695547B2 (ja) 復帰入力回路
KR19990031403A (ko) 디램의 셀프 리프레쉬 제어장치 및 방법
JP3190121B2 (ja) 制御装置