JPH06293376A - Icデバイス搬送用キャリア - Google Patents
Icデバイス搬送用キャリアInfo
- Publication number
- JPH06293376A JPH06293376A JP5095096A JP9509693A JPH06293376A JP H06293376 A JPH06293376 A JP H06293376A JP 5095096 A JP5095096 A JP 5095096A JP 9509693 A JP9509693 A JP 9509693A JP H06293376 A JPH06293376 A JP H06293376A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- carrier
- lead
- lid
- contact
- test head
- Prior art date
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- Packaging Of Annular Or Rod-Shaped Articles, Wearing Apparel, Cassettes, Or The Like (AREA)
- Packaging Frangible Articles (AREA)
- Warehouses Or Storage Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 搬送中にはデバイスを安定的に保持し、かつ
テストヘッドに接続する際には、リードを確実にコンタ
クトピンにコンタクトできるようにする。 【構成】 デバイスDを収容するキャリア本体10の台
座部12の左右両側は、そのリードLが臨む開口13,
13が形成されており、キャリア本体10には蓋体20
が連結ピン16により開閉可能に連結されている。蓋体
20にはリード押え30が装着されており、このリード
押え30はリードL上部に当接する一対のパッド31,
31を備え、これら両パッド31は連結板32,32に
より連結されており、この連結板32の中間部はピン3
3によって蓋体20に揺動自在に連結されている。キャ
リア本体10にデバイスDを収容さて、蓋体20を閉鎖
すると、デバイスDは搬送時等に位置ずれせず、またテ
ストヘッド40のコンタクトピン40aを開口13を介
してデバイスDのリードLにコンタクトさせる際には、
リードLはコンタクトピン40aとリード押え30のパ
ッド31とに挟み込まれる。
テストヘッドに接続する際には、リードを確実にコンタ
クトピンにコンタクトできるようにする。 【構成】 デバイスDを収容するキャリア本体10の台
座部12の左右両側は、そのリードLが臨む開口13,
13が形成されており、キャリア本体10には蓋体20
が連結ピン16により開閉可能に連結されている。蓋体
20にはリード押え30が装着されており、このリード
押え30はリードL上部に当接する一対のパッド31,
31を備え、これら両パッド31は連結板32,32に
より連結されており、この連結板32の中間部はピン3
3によって蓋体20に揺動自在に連結されている。キャ
リア本体10にデバイスDを収容さて、蓋体20を閉鎖
すると、デバイスDは搬送時等に位置ずれせず、またテ
ストヘッド40のコンタクトピン40aを開口13を介
してデバイスDのリードLにコンタクトさせる際には、
リードLはコンタクトピン40aとリード押え30のパ
ッド31とに挟み込まれる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ICデバイスの電気的
特性の試験・測定を行うために、ICデバイス(集積回
路素子)をテストヘッドに供給したり、またテストヘッ
ドから送り出して、次工程に移行させるため等として用
いられるICデバイス搬送用キャリアに関するものであ
る。
特性の試験・測定を行うために、ICデバイス(集積回
路素子)をテストヘッドに供給したり、またテストヘッ
ドから送り出して、次工程に移行させるため等として用
いられるICデバイス搬送用キャリアに関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】ICデバイス(以下、単にデバイスとい
う)の電気的特性の試験・測定を行うための試験・測定
装置は、ICテスタとICハンドラとから構成される。
ICハンドラは、デバイスをICテスタのテストヘッド
に供給して、このICテスタによる試験・測定を行わ
せ、また試験・測定が終了した後のデバイスを分類分け
するための機構として用いられる。
う)の電気的特性の試験・測定を行うための試験・測定
装置は、ICテスタとICハンドラとから構成される。
ICハンドラは、デバイスをICテスタのテストヘッド
に供給して、このICテスタによる試験・測定を行わ
せ、また試験・測定が終了した後のデバイスを分類分け
するための機構として用いられる。
【0003】ICハンドラにおけるデバイスの搬送方式
としては、従来は自重滑走方式が主流であったが、近年
においては、例えばSOP(Small Outline Package) 型
のものや、QFP(Quad Flat Package) 型のデバイス、
さらにはSOJ(Small Outline J-leaded Package)型の
デバイス等のように、自重滑走に適しない形状を持った
パッケージ方式のデバイスが実用化されてきており、こ
れらのデバイスは強制搬送方式により搬送する。即ち、
デバイスをパレット等に収納しておき、このパレットか
らデバイスを1個ずつ取り出して、搬送用キャリアに搭
載して、この搬送用キャリアをコンベアや駒送り等の手
段によりテストヘッドの位置まで搬送して、キャリアに
搭載したままの状態で、デバイスをテストヘッドに装架
する。テストが終了した後には、キャリアに搭載したま
ま所定の位置まで搬送するようにしている。
としては、従来は自重滑走方式が主流であったが、近年
においては、例えばSOP(Small Outline Package) 型
のものや、QFP(Quad Flat Package) 型のデバイス、
さらにはSOJ(Small Outline J-leaded Package)型の
デバイス等のように、自重滑走に適しない形状を持った
パッケージ方式のデバイスが実用化されてきており、こ
れらのデバイスは強制搬送方式により搬送する。即ち、
デバイスをパレット等に収納しておき、このパレットか
らデバイスを1個ずつ取り出して、搬送用キャリアに搭
載して、この搬送用キャリアをコンベアや駒送り等の手
段によりテストヘッドの位置まで搬送して、キャリアに
搭載したままの状態で、デバイスをテストヘッドに装架
する。テストが終了した後には、キャリアに搭載したま
ま所定の位置まで搬送するようにしている。
【0004】図3に従来技術によるデバイス搬送用キャ
リアの断面を示す。同図から明らかなように、キャリア
1は、デバイスDを収容するデバイス収容部2を備え、
このデバイス収容部2の底部はパッケージ部Pが当接す
る台座部3となっている。そして、この台座部3の左右
両側には開口4が形成されて、リードLはこの開口4に
臨んでいる。そして、このキャリア1における所定の位
置にデバイスDを搭載する作業を容易に行うために、デ
バイス収容部2の上方の壁部は所定角度傾斜した呼び込
み部5が形成されている。
リアの断面を示す。同図から明らかなように、キャリア
1は、デバイスDを収容するデバイス収容部2を備え、
このデバイス収容部2の底部はパッケージ部Pが当接す
る台座部3となっている。そして、この台座部3の左右
両側には開口4が形成されて、リードLはこの開口4に
臨んでいる。そして、このキャリア1における所定の位
置にデバイスDを搭載する作業を容易に行うために、デ
バイス収容部2の上方の壁部は所定角度傾斜した呼び込
み部5が形成されている。
【0005】キャリア1には、予めデバイスDを収容し
た状態で、適宜の搬送手段によりICテスタのテストヘ
ッド6の位置にまで搬送されて、このキャリア1に収容
させたままで、デバイスDをテストヘッド6と接続する
ようになされている。而して、デバイスDには多数のリ
ードLが設けられていることから、これら各リードLを
テストヘッド6におけるコンタクトピン6aに確実に当
接させなければならない。このために、デバイスDをキ
ャリア1内で正確に位置決めを行い、かつリードLに所
定の加圧力を作用させる必要がある。このために、テス
トヘッド6の上方位置には、クランプ部材7が配置され
ている。このクランプ部材7は、キャリア1の外周部に
嵌合する枠体部7aと、キャリア1に搭載したデバイス
Dのパッケージ部Pに当接して、パッケージ部Pを台座
部3に押し付ける加圧部7bと、リードLに当接するリ
ード押え7cとを備えている。
た状態で、適宜の搬送手段によりICテスタのテストヘ
ッド6の位置にまで搬送されて、このキャリア1に収容
させたままで、デバイスDをテストヘッド6と接続する
ようになされている。而して、デバイスDには多数のリ
ードLが設けられていることから、これら各リードLを
テストヘッド6におけるコンタクトピン6aに確実に当
接させなければならない。このために、デバイスDをキ
ャリア1内で正確に位置決めを行い、かつリードLに所
定の加圧力を作用させる必要がある。このために、テス
トヘッド6の上方位置には、クランプ部材7が配置され
ている。このクランプ部材7は、キャリア1の外周部に
嵌合する枠体部7aと、キャリア1に搭載したデバイス
Dのパッケージ部Pに当接して、パッケージ部Pを台座
部3に押し付ける加圧部7bと、リードLに当接するリ
ード押え7cとを備えている。
【0006】従って、キャリア1がテストヘッド6の位
置にまで搬送されると、まずクランプ部材7が下降し
て、枠体部7aがキャリア1に嵌合することによって、
クランプ部材7とキャリア1との間を相対的に位置合わ
せする。そして、加圧部7bがパッケージ部Pに当接す
ることによって、デバイスDが固定的に保持されると共
に、リード押え7cがリードLに当接する。そして、ク
ランプ部材7と係合した状態で、キャリア1をテストヘ
ッド6側に移動させることによって、テストヘッド6の
コンタクトピン6aが開口4内に進入してリードLに当
接する。ここで、リードLにはリード押え7cが上方か
ら当接しているので、テストヘッド6の全てのコンタク
トピン6aは確実にリードLにコンタクトして、このデ
バイスDの電気的特性の試験・測定が円滑に行われる。
そして、試験・測定が終了すると、クランプ部材7に連
結したままの状態でキャリア1が上昇して、テストヘッ
ド6から離間すると共に、元の搬送路に戻された後に、
クランプ部材7をキャリア1から離間させることによっ
て、キャリア1は分類分け部に移行せしめられる。
置にまで搬送されると、まずクランプ部材7が下降し
て、枠体部7aがキャリア1に嵌合することによって、
クランプ部材7とキャリア1との間を相対的に位置合わ
せする。そして、加圧部7bがパッケージ部Pに当接す
ることによって、デバイスDが固定的に保持されると共
に、リード押え7cがリードLに当接する。そして、ク
ランプ部材7と係合した状態で、キャリア1をテストヘ
ッド6側に移動させることによって、テストヘッド6の
コンタクトピン6aが開口4内に進入してリードLに当
接する。ここで、リードLにはリード押え7cが上方か
ら当接しているので、テストヘッド6の全てのコンタク
トピン6aは確実にリードLにコンタクトして、このデ
バイスDの電気的特性の試験・測定が円滑に行われる。
そして、試験・測定が終了すると、クランプ部材7に連
結したままの状態でキャリア1が上昇して、テストヘッ
ド6から離間すると共に、元の搬送路に戻された後に、
クランプ部材7をキャリア1から離間させることによっ
て、キャリア1は分類分け部に移行せしめられる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】ところで、前述した従
来技術によるデバイス搬送用キャリアは、その上部が開
放されているので、その搬送中の振動等によって位置が
ずれたり、甚だしい場合にはデバイスがキャリアから飛
び出してしまう等といった問題点がある。
来技術によるデバイス搬送用キャリアは、その上部が開
放されているので、その搬送中の振動等によって位置が
ずれたり、甚だしい場合にはデバイスがキャリアから飛
び出してしまう等といった問題点がある。
【0008】本発明は以上の点に鑑みてなされたもので
あって、その目的とするところは、キャリアの搬送中に
はデバイスを安定的に保持し、かつテストヘッドに接続
する際には、リードを確実にコンタクトピンにコンタク
トできるようにすることにある。
あって、その目的とするところは、キャリアの搬送中に
はデバイスを安定的に保持し、かつテストヘッドに接続
する際には、リードを確実にコンタクトピンにコンタク
トできるようにすることにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】前述した目的を達成する
ために、本発明は、ICデバイスを搬送するキャリア本
体に蓋体を開閉可能に装着し、キャリア本体のデバイス
収容部にICデバイスを収容させたときに、このICデ
バイスのリードと接触して、上方から所定の加圧力で押
圧するリード押えを前記蓋体に揺動自在に設ける構成と
したことをその特徴とするものである。
ために、本発明は、ICデバイスを搬送するキャリア本
体に蓋体を開閉可能に装着し、キャリア本体のデバイス
収容部にICデバイスを収容させたときに、このICデ
バイスのリードと接触して、上方から所定の加圧力で押
圧するリード押えを前記蓋体に揺動自在に設ける構成と
したことをその特徴とするものである。
【0010】
【作用】而して、蓋体を開いた状態で、キャリア本体に
おけるデバイス収容部にデバイスを収容させ、然る後に
蓋体を閉鎖する。これによって、デバイスはキャリア本
体の内部において安定した状態に保持され、みだりに位
置ずれする等の不都合を生じることはない。しかも、こ
の蓋体にはリード押えが設けられているから、従来技術
のようにクランプ部材を用いなくとも、リードの上方へ
の動きを規制できるようになり、テストヘッドのコンタ
クトピンがリードに当接した時には、確実にコンタクト
させることができる。
おけるデバイス収容部にデバイスを収容させ、然る後に
蓋体を閉鎖する。これによって、デバイスはキャリア本
体の内部において安定した状態に保持され、みだりに位
置ずれする等の不都合を生じることはない。しかも、こ
の蓋体にはリード押えが設けられているから、従来技術
のようにクランプ部材を用いなくとも、リードの上方へ
の動きを規制できるようになり、テストヘッドのコンタ
クトピンがリードに当接した時には、確実にコンタクト
させることができる。
【0011】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細
に説明する。図1はキャリアの断面図であり、図2は分
解斜視図である。図中において、10はキャリア本体、
20は蓋体、30はリード押えをそれぞれ示す。キャリ
ア本体10には、デバイスDを収容するデバイス収容部
11が凹設されており、このデバイス収容部11にはデ
バイスDのパッケージ部Pを当接させたように収容する
台座部12が形成されている。台座部12の左右両側は
開口13,13が形成されており、デバイスDをデバイ
ス収容部11に収容させた時には、このデバイスDの左
右に設けた多数のリードLがこの開口13に臨むように
なる。また、デバイス収容部11の上部の壁部は傾斜し
ており、これによってデバイスDを載置する際における
呼び込み部14となっている。以上の点では、前述した
従来技術のものと格別の差異はない。
に説明する。図1はキャリアの断面図であり、図2は分
解斜視図である。図中において、10はキャリア本体、
20は蓋体、30はリード押えをそれぞれ示す。キャリ
ア本体10には、デバイスDを収容するデバイス収容部
11が凹設されており、このデバイス収容部11にはデ
バイスDのパッケージ部Pを当接させたように収容する
台座部12が形成されている。台座部12の左右両側は
開口13,13が形成されており、デバイスDをデバイ
ス収容部11に収容させた時には、このデバイスDの左
右に設けた多数のリードLがこの開口13に臨むように
なる。また、デバイス収容部11の上部の壁部は傾斜し
ており、これによってデバイスDを載置する際における
呼び込み部14となっている。以上の点では、前述した
従来技術のものと格別の差異はない。
【0012】一方、蓋体20は、水平板部21と、この
水平板部21を略90°曲折することにより形成される
連結部22とから構成されている。この連結部22は、
キャリア本体10に形成した切欠部15内に配置して、
連結ピン16を用いて開閉可能に連結している。また、
水平板部21の先端にはフック23が回動可能に装着さ
れており、このフック23はキャリア本体10に設けた
係止凹部17に係脱可能となっている。そして、フック
23はばね等の付勢手段により常時係止凹部17に係合
する方向に付勢されており、またこのフック23には押
動部23aが形成されて、この押動部23aを押圧する
と、フック23が係止凹部17から離脱するようになっ
ている。さらに、蓋体10には、その水平板部21の内
面にパッケージ部Pに当接して、デバイスDを押圧する
加圧部24が設けられている。
水平板部21を略90°曲折することにより形成される
連結部22とから構成されている。この連結部22は、
キャリア本体10に形成した切欠部15内に配置して、
連結ピン16を用いて開閉可能に連結している。また、
水平板部21の先端にはフック23が回動可能に装着さ
れており、このフック23はキャリア本体10に設けた
係止凹部17に係脱可能となっている。そして、フック
23はばね等の付勢手段により常時係止凹部17に係合
する方向に付勢されており、またこのフック23には押
動部23aが形成されて、この押動部23aを押圧する
と、フック23が係止凹部17から離脱するようになっ
ている。さらに、蓋体10には、その水平板部21の内
面にパッケージ部Pに当接して、デバイスDを押圧する
加圧部24が設けられている。
【0013】次に、リード押え30は一対のパッド3
1,31を備え、これら各パッド31はデバイスDの両
側に延在させたリードLの上部に当接するようになって
いる。これら両パッド31は連結板32,32により連
結されており、この連結板32の中間部はピン33によ
って蓋体20に揺動自在に連結されている。なお、図1
において、40はICテスタのテストヘッド、40aは
リードLに接続されるコンタクトピンをそれぞれ示す。
1,31を備え、これら各パッド31はデバイスDの両
側に延在させたリードLの上部に当接するようになって
いる。これら両パッド31は連結板32,32により連
結されており、この連結板32の中間部はピン33によ
って蓋体20に揺動自在に連結されている。なお、図1
において、40はICテスタのテストヘッド、40aは
リードLに接続されるコンタクトピンをそれぞれ示す。
【0014】本実施例は以上のように構成されるもので
あって、次にその作用について説明する。まず、蓋体2
0を開放した状態で、キャリア本体10のデバイス収容
部11にデバイスDを収容させる。ここで、デバイスD
は、例えばそのパッケージ部Pを真空吸着等の移載手段
によりパレット等から取り出されて、キャリア本体10
に移載される。キャリア本体10には呼び込み部14が
形成されているので、デバイスDを円滑にキャリア本体
10に収容させることができる。デバイスDがキャリア
本体10に収容されると、蓋体20を閉鎖する。而し
て、この蓋体20の水平板部21には加圧部24が設け
られており、この加圧部24がキャリア本体10内のデ
バイスDにおけるパッケージ部Pに当接して、デバイス
Dはそれと台座部12との間に挾持されるようにして固
定される。また、蓋体20にはリード押え30が設けら
れており、このリード押え30におけるパッド31がデ
バイスDのリードLと当接する。
あって、次にその作用について説明する。まず、蓋体2
0を開放した状態で、キャリア本体10のデバイス収容
部11にデバイスDを収容させる。ここで、デバイスD
は、例えばそのパッケージ部Pを真空吸着等の移載手段
によりパレット等から取り出されて、キャリア本体10
に移載される。キャリア本体10には呼び込み部14が
形成されているので、デバイスDを円滑にキャリア本体
10に収容させることができる。デバイスDがキャリア
本体10に収容されると、蓋体20を閉鎖する。而し
て、この蓋体20の水平板部21には加圧部24が設け
られており、この加圧部24がキャリア本体10内のデ
バイスDにおけるパッケージ部Pに当接して、デバイス
Dはそれと台座部12との間に挾持されるようにして固
定される。また、蓋体20にはリード押え30が設けら
れており、このリード押え30におけるパッド31がデ
バイスDのリードLと当接する。
【0015】ところで、蓋体20はその連結部22にお
ける連結ピン16を中心として回動することにより開閉
するものであるが、加圧部24をパッケージ部Pに当接
させた時に、この加圧部24の当接面が連結ピン16を
含む水平面とほぼ一致するようにしておけば、蓋体20
を閉鎖した時に、加圧部24がパッケージ部Pに面接触
し、片当り等が発生するおそれはない。また、蓋体20
の回動軌跡の中で、まず連結部22側の位置のパッド3
1がデバイスDのリードLと当接するが、リード押え3
0は連結板32におけるピン32の装着部を中心として
揺動可能となっているから、パッド31がリードLに当
接した後に、リード押え30全体がピン32を中心とし
て揺動変位するので、蓋体20の閉鎖に対する障害とな
ることはない。しかも、蓋体20が完全に閉鎖される
と、リード押え30は、その左右のパッド31,31の
重量バランスが取れた状態になるから、両パッド31は
確実にリードLに当接することになる。
ける連結ピン16を中心として回動することにより開閉
するものであるが、加圧部24をパッケージ部Pに当接
させた時に、この加圧部24の当接面が連結ピン16を
含む水平面とほぼ一致するようにしておけば、蓋体20
を閉鎖した時に、加圧部24がパッケージ部Pに面接触
し、片当り等が発生するおそれはない。また、蓋体20
の回動軌跡の中で、まず連結部22側の位置のパッド3
1がデバイスDのリードLと当接するが、リード押え3
0は連結板32におけるピン32の装着部を中心として
揺動可能となっているから、パッド31がリードLに当
接した後に、リード押え30全体がピン32を中心とし
て揺動変位するので、蓋体20の閉鎖に対する障害とな
ることはない。しかも、蓋体20が完全に閉鎖される
と、リード押え30は、その左右のパッド31,31の
重量バランスが取れた状態になるから、両パッド31は
確実にリードLに当接することになる。
【0016】以上のように、デバイスDをキャリア本体
10内に収容させて、蓋体20を閉鎖することによっ
て、このデバイスDを確実に位置決めした状態にするこ
とによって、例えばコンベア等の搬送手段によって、搬
送用キャリアをICテスタのテストヘッド40に対面す
る位置にまで搬送する。この搬送時に、たとえキャリア
が振動したとしても、そのキャリア本体10内のデバイ
スDは極めて安定した状態を保持し、みだりに位置ずれ
するようなことはない。
10内に収容させて、蓋体20を閉鎖することによっ
て、このデバイスDを確実に位置決めした状態にするこ
とによって、例えばコンベア等の搬送手段によって、搬
送用キャリアをICテスタのテストヘッド40に対面す
る位置にまで搬送する。この搬送時に、たとえキャリア
が振動したとしても、そのキャリア本体10内のデバイ
スDは極めて安定した状態を保持し、みだりに位置ずれ
するようなことはない。
【0017】キャリアがテストヘッド40に対面する位
置に配置されると、キャリアまたはテストヘッド40を
変位させて、開口13を介してデバイスDのリードLに
テストヘッド40のコンタクトピン40aをコンタクト
させる。ここで、リードLはリード押え30のパッド3
1に当接しているので、リードLはこのパッド31とコ
ンタクトピン40aとの間に挟み込まれた状態になるか
ら、確実にコンタクトを行わせることができる。
置に配置されると、キャリアまたはテストヘッド40を
変位させて、開口13を介してデバイスDのリードLに
テストヘッド40のコンタクトピン40aをコンタクト
させる。ここで、リードLはリード押え30のパッド3
1に当接しているので、リードLはこのパッド31とコ
ンタクトピン40aとの間に挟み込まれた状態になるか
ら、確実にコンタクトを行わせることができる。
【0018】デバイスDの試験・測定が終了すると、コ
ンタクトピン40aとリードLとが離間して、搬送用キ
ャリアを搬送して、分類分け部に搬送して、試験・測定
結果に基づく分類に分ける。ここで、分類分け部におい
ては、デバイスDをキャリアに収容させたままにしても
良いが、デバイスDをキャリアから取り出すこともでき
る。デバイスDをキャリアから取り出すには、まずフッ
ク23の押動部23aを押圧することによって、このフ
ック23の係止凹部17への係合を解除することによっ
て、蓋体20を容易に開放することができる。
ンタクトピン40aとリードLとが離間して、搬送用キ
ャリアを搬送して、分類分け部に搬送して、試験・測定
結果に基づく分類に分ける。ここで、分類分け部におい
ては、デバイスDをキャリアに収容させたままにしても
良いが、デバイスDをキャリアから取り出すこともでき
る。デバイスDをキャリアから取り出すには、まずフッ
ク23の押動部23aを押圧することによって、このフ
ック23の係止凹部17への係合を解除することによっ
て、蓋体20を容易に開放することができる。
【0019】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、キャリ
ア本体に蓋体を開閉可能に装着して、キャリア本体のデ
バイス収容部にICデバイスを収容させたときに、この
ICデバイスのリードと接触して、上方から所定の加圧
力で押圧するリード押えを蓋体に揺動自在に設ける構成
としたので、試験・測定部に搬送する際、及び試験・測
定部から搬出する際に、デバイスを確実に固定でき、振
動等があってもみだりに位置ずれする等の不都合を生じ
ない。
ア本体に蓋体を開閉可能に装着して、キャリア本体のデ
バイス収容部にICデバイスを収容させたときに、この
ICデバイスのリードと接触して、上方から所定の加圧
力で押圧するリード押えを蓋体に揺動自在に設ける構成
としたので、試験・測定部に搬送する際、及び試験・測
定部から搬出する際に、デバイスを確実に固定でき、振
動等があってもみだりに位置ずれする等の不都合を生じ
ない。
【図1】本発明の一実施例を示すデバイス搬送用キャリ
アの断面図である。
アの断面図である。
【図2】図1の分解斜視図である。
【図3】従来技術によるデバイス搬送用キャリアの断面
図である。
図である。
10 キャリア本体 11 デバイス収容部 12 台座部 13 開口 20 蓋体 23 フック 24 加圧部 30 リード押え 31 パッド 40 テストヘッド 40a コンタクトピン
Claims (1)
- 【請求項1】 ICデバイスを搬送するキャリア本体に
蓋体を開閉可能に装着し、キャリア本体のデバイス収容
部にICデバイスを収容させたときに、このICデバイ
スのリードと接触して、上方から所定の加圧力で押圧す
るリード押えを前記蓋体に揺動自在に設ける構成とした
ことを特徴とするICデバイス搬送用キャリア。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5095096A JP3021228B2 (ja) | 1993-03-31 | 1993-03-31 | Icデバイス搬送用キャリア |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5095096A JP3021228B2 (ja) | 1993-03-31 | 1993-03-31 | Icデバイス搬送用キャリア |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06293376A true JPH06293376A (ja) | 1994-10-21 |
| JP3021228B2 JP3021228B2 (ja) | 2000-03-15 |
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ID=14128366
Family Applications (1)
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Citations (1)
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|---|---|---|---|---|
| JPH0225258A (ja) * | 1988-07-14 | 1990-01-26 | Kawasaki Steel Corp | 金属管の水平連続鋳造方法 |
-
1993
- 1993-03-31 JP JP5095096A patent/JP3021228B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0225258A (ja) * | 1988-07-14 | 1990-01-26 | Kawasaki Steel Corp | 金属管の水平連続鋳造方法 |
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| Publication number | Publication date |
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