JPH0629583A - 超伝導装置 - Google Patents
超伝導装置Info
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- JPH0629583A JPH0629583A JP5131361A JP13136193A JPH0629583A JP H0629583 A JPH0629583 A JP H0629583A JP 5131361 A JP5131361 A JP 5131361A JP 13136193 A JP13136193 A JP 13136193A JP H0629583 A JPH0629583 A JP H0629583A
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- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims abstract description 60
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 57
- 239000012528 membrane Substances 0.000 claims abstract description 36
- 238000005304 joining Methods 0.000 claims abstract description 6
- 230000005291 magnetic effect Effects 0.000 claims description 13
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 claims description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 4
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 claims description 3
- 238000010276 construction Methods 0.000 abstract description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 2
- 239000010408 film Substances 0.000 description 16
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 13
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 8
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 6
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 5
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 5
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 5
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 4
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 4
- 229910002480 Cu-O Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 3
- 230000008859 change Effects 0.000 description 3
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 3
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 2
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 2
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 230000009021 linear effect Effects 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 2
- -1 metal oxide compounds Chemical class 0.000 description 2
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 2
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 2
- 239000002887 superconductor Substances 0.000 description 2
- 229910021521 yttrium barium copper oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 241000238366 Cephalopoda Species 0.000 description 1
- 229910002367 SrTiO Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052784 alkaline earth metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001342 alkaline earth metals Chemical class 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000005489 elastic deformation Effects 0.000 description 1
- 238000000407 epitaxy Methods 0.000 description 1
- 239000003302 ferromagnetic material Substances 0.000 description 1
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 1
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 1
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 210000001624 hip Anatomy 0.000 description 1
- 230000005415 magnetization Effects 0.000 description 1
- 238000004377 microelectronic Methods 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N novaluron Chemical compound C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(OC(F)(F)F)F)=CC=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 238000005240 physical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 238000001556 precipitation Methods 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 229910052761 rare earth metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002910 rare earth metals Chemical class 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
- 229910052723 transition metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000003624 transition metals Chemical class 0.000 description 1
- 229910052727 yttrium Inorganic materials 0.000 description 1
- VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N yttrium atom Chemical compound [Y] VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N60/00—Superconducting devices
- H10N60/80—Constructional details
- H10N60/84—Switching means for devices switchable between superconducting and normal states
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N60/00—Superconducting devices
- H10N60/10—Junction-based devices
- H10N60/12—Josephson-effect devices
- H10N60/124—Josephson-effect devices comprising high-Tc ceramic materials
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Superconductor Devices And Manufacturing Methods Thereof (AREA)
- Inorganic Compounds Of Heavy Metals (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 接合域の構成のためにμm程度の寸法を有す
るパターンを用いて容易に製造できるようにし、また接
合域の超伝導特性を容易に調節できるようにする。 【構成】 高温超伝導材料から成る二つの導体片3a、
3bと、これらの導体片間3a、3bに置かれ所定の超
伝導特性を備える接合域4と、この接合域4のそばに設
けた電気ひずみ性又は磁気ひずみ性材料から成る少なく
とも一つの膜帯6とを備え、この膜帯6により接合域4
中に機械的応力を生ぜしめ、接合域4中の超伝導特性を
調節する。
るパターンを用いて容易に製造できるようにし、また接
合域の超伝導特性を容易に調節できるようにする。 【構成】 高温超伝導材料から成る二つの導体片3a、
3bと、これらの導体片間3a、3bに置かれ所定の超
伝導特性を備える接合域4と、この接合域4のそばに設
けた電気ひずみ性又は磁気ひずみ性材料から成る少なく
とも一つの膜帯6とを備え、この膜帯6により接合域4
中に機械的応力を生ぜしめ、接合域4中の超伝導特性を
調節する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、高い臨界温度を有す
る超伝導材料から成る二つの導体片と、これらの導体片
の間に存在する接合域とを備える超伝導装置に関する。
る超伝導材料から成る二つの導体片と、これらの導体片
の間に存在する接合域とを備える超伝導装置に関する。
【0002】
【従来の技術】高い臨界温度を有する金属酸化物超伝導
材料から成る二つの導体片と、これらの導体片を結合し
所定の超伝導特性を有する狭い接合域とを備える超伝導
装置は、例えばドイツ連邦共和国特許第3815183 号明細
書に記載されている。
材料から成る二つの導体片と、これらの導体片を結合し
所定の超伝導特性を有する狭い接合域とを備える超伝導
装置は、例えばドイツ連邦共和国特許第3815183 号明細
書に記載されている。
【0003】望ましくは77Kを超える高い臨界温度T
C を有しそれゆえに液体窒素により標準大気圧で冷却す
ることができる超伝導性金属酸化化合物が一般に知られ
ている。特に第二銅酸塩である相応の金属酸化化合物は
例えばMe1−Me2−Cu−Oの形式の物質系に基づ
き、その際成分Me1は希土類金属又はイットリウムを
含み、Me2はアルカリ土金属を少なくとも含む。これ
らの群を代表するものは4成分物質系Y−Ba−Cu−
O(略称YBCO)である。そのほかに例えば物質系B
i−Sr−Ca−Cu−O(略称BSCCO)又はTl
−Ba−Ca−Cu−O(略称TBCCO)のような、
5以上の成分から成り希土類を含まない第二銅酸塩の相
も明らかに77Kを超える臨界温度TC を有する。
C を有しそれゆえに液体窒素により標準大気圧で冷却す
ることができる超伝導性金属酸化化合物が一般に知られ
ている。特に第二銅酸塩である相応の金属酸化化合物は
例えばMe1−Me2−Cu−Oの形式の物質系に基づ
き、その際成分Me1は希土類金属又はイットリウムを
含み、Me2はアルカリ土金属を少なくとも含む。これ
らの群を代表するものは4成分物質系Y−Ba−Cu−
O(略称YBCO)である。そのほかに例えば物質系B
i−Sr−Ca−Cu−O(略称BSCCO)又はTl
−Ba−Ca−Cu−O(略称TBCCO)のような、
5以上の成分から成り希土類を含まない第二銅酸塩の相
も明らかに77Kを超える臨界温度TC を有する。
【0004】高い臨界電流密度(電流容量)を保証する
これらの高温超伝導材料から成る薄い層を特殊な物理的
蒸着法又は化学的蒸着法により製造することは成功して
いる。それゆえにこの種の薄い層によりジョセフソン接
触素子又は制御可能な超伝導装置特にトランジスタに類
似の素子を構成することが研究されており、これらの素
子では接合域の超伝導電流又は一般に特性が電圧又は電
流あるいは電界又は磁界により安定して調節又は制御さ
れる。しかしながらこの場合に液体ヘリウムにより冷却
しなければならない従来の金属超伝導材料とは対照的
に、公知の金属酸化物高温超伝導材料は短いコヒーレン
ス長しか有せずまた強い異方性を有するという問題点が
生じる。
これらの高温超伝導材料から成る薄い層を特殊な物理的
蒸着法又は化学的蒸着法により製造することは成功して
いる。それゆえにこの種の薄い層によりジョセフソン接
触素子又は制御可能な超伝導装置特にトランジスタに類
似の素子を構成することが研究されており、これらの素
子では接合域の超伝導電流又は一般に特性が電圧又は電
流あるいは電界又は磁界により安定して調節又は制御さ
れる。しかしながらこの場合に液体ヘリウムにより冷却
しなければならない従来の金属超伝導材料とは対照的
に、公知の金属酸化物高温超伝導材料は短いコヒーレン
ス長しか有せずまた強い異方性を有するという問題点が
生じる。
【0005】短いコヒーレンス長は、例えば格子欠陥又
は酸素の空格子点のような高温超伝導材料中の小さい欠
陥でも超伝導の著しい局部的障害を生じさせるというこ
とを招く。それゆえに長さ寸法がコヒーレンス長の程度
の大きさであるジョセフソン接触を析出の無い粒界のよ
うな組織欠陥だけによっても作り出すことができる。し
かしながらそのような粒界の特性は、超伝導が点状欠陥
に関係するゆえに再現性のある調節が困難でありまた更
に変更が困難である。例えば約1〜10nm厚の絶縁層
による従来の方法では、高温超伝導材料を用いてジョセ
フソン接触を入手することは不可能である。
は酸素の空格子点のような高温超伝導材料中の小さい欠
陥でも超伝導の著しい局部的障害を生じさせるというこ
とを招く。それゆえに長さ寸法がコヒーレンス長の程度
の大きさであるジョセフソン接触を析出の無い粒界のよ
うな組織欠陥だけによっても作り出すことができる。し
かしながらそのような粒界の特性は、超伝導が点状欠陥
に関係するゆえに再現性のある調節が困難でありまた更
に変更が困難である。例えば約1〜10nm厚の絶縁層
による従来の方法では、高温超伝導材料を用いてジョセ
フソン接触を入手することは不可能である。
【0006】ジョセフソン接触素子に対し適当な粒界を
作り出すために種々の方法が提案されている。例えば欧
州特許出願公開第0364101 号明細書により提案された接
触素子の場合には、膜面に関してc結晶軸を垂直に整列
させた金属酸化物高温超伝導材料から成る薄膜は、基板
表面の十分に平らな凹凸部上には欠陥無しに成長するこ
とができるがしかしながら特別の欠陥構造の急傾斜の側
面では粒界を形成する、という事実が利用される。それ
に応じて提案された接触素子の場合には、平らな基板上
に本来のジョセフソン接触を作ろうとする領域いわゆる
ジョセフソン接触領域の中に、二つの側面の間に中央の
頂部領域を備え基板の結晶構造を乱す尾根状の隆起が析
出される。これらの側面は十分に大きい傾斜を有する頂
部領域で相隣接し、他方では側面の縁は少なくともほぼ
滑らかに基板面へ移行する。そしてこの種の構造上にエ
ピタキシーにより高温超伝導薄膜が成長すると、この薄
膜中には頂部領域において粒界の形の結晶方位の急激な
変化が作り込まれる。本来のジョセフソン接触域を形成
する粒界は電気的特性(特に臨界電流密度)が明らかに
低下している弱点個所である。頂部領域を越えて延びる
導体路は、良好な超伝導特性を有しジョセフソン接触域
の弱点個所を介して相互に結合された二つの高温超伝導
導体片へ分かれる。
作り出すために種々の方法が提案されている。例えば欧
州特許出願公開第0364101 号明細書により提案された接
触素子の場合には、膜面に関してc結晶軸を垂直に整列
させた金属酸化物高温超伝導材料から成る薄膜は、基板
表面の十分に平らな凹凸部上には欠陥無しに成長するこ
とができるがしかしながら特別の欠陥構造の急傾斜の側
面では粒界を形成する、という事実が利用される。それ
に応じて提案された接触素子の場合には、平らな基板上
に本来のジョセフソン接触を作ろうとする領域いわゆる
ジョセフソン接触領域の中に、二つの側面の間に中央の
頂部領域を備え基板の結晶構造を乱す尾根状の隆起が析
出される。これらの側面は十分に大きい傾斜を有する頂
部領域で相隣接し、他方では側面の縁は少なくともほぼ
滑らかに基板面へ移行する。そしてこの種の構造上にエ
ピタキシーにより高温超伝導薄膜が成長すると、この薄
膜中には頂部領域において粒界の形の結晶方位の急激な
変化が作り込まれる。本来のジョセフソン接触域を形成
する粒界は電気的特性(特に臨界電流密度)が明らかに
低下している弱点個所である。頂部領域を越えて延びる
導体路は、良好な超伝導特性を有しジョセフソン接触域
の弱点個所を介して相互に結合された二つの高温超伝導
導体片へ分かれる。
【0007】ジョセフソン特性を有する粒界の適当な形
成の別の形式は、例えば名称「階段状縁接合」又は「縁
接合」又は「双結晶接合」の名称のもとに一般に知られ
ている(例えば「スクイドの原理と応用(Principles a
nd Applications of Superconducting Quantum Interfe
rence Devices )」発行元、バローン(A. Barone )、
ワールド・サイエンティフィック出版社、シンガポー
ル、1991年の中のグロス(R. Gross)及びチャウド
ハリ(P. Chaudhari)の寄稿論文前刷「高温超伝導体に
おける直流スクイドの現状(Status of dc-SQUIGDs in
the High Temperature Superconductors)」参照)。
成の別の形式は、例えば名称「階段状縁接合」又は「縁
接合」又は「双結晶接合」の名称のもとに一般に知られ
ている(例えば「スクイドの原理と応用(Principles a
nd Applications of Superconducting Quantum Interfe
rence Devices )」発行元、バローン(A. Barone )、
ワールド・サイエンティフィック出版社、シンガポー
ル、1991年の中のグロス(R. Gross)及びチャウド
ハリ(P. Chaudhari)の寄稿論文前刷「高温超伝導体に
おける直流スクイドの現状(Status of dc-SQUIGDs in
the High Temperature Superconductors)」参照)。
【0008】前記ドイツ連邦共和国特許第3815183 号明
細書には、例えば論理回路中の結合素子として用いるこ
とのできる制御可能な超伝導ゲート素子が記載されてい
る。この素子は段付基板の分離された面上に置かれ組織
化された高温超伝導材料から成る二つの導体片を含む。
これらの導体片は組織化された高温超伝導層により形成
された接合域を介して相互に結合され、接合域は導体片
の両平面に垂直に向いた段側面に接触する。常伝導材料
から成る帯状の導体路の形の制御線がこの接合域を越え
て導かれ、この制御線により制御磁界を相応の制御電流
に基づき発生させることができる。従って接合域中にこ
の磁界により引き起こされる磁束は接合域上の制御可能
な電圧降下に影響を与える。この種の制御は極めて小さ
いスイッチング時間により実施することができる。しか
しながら段付基板上に相応の素子を作るための調整費は
比較的高い。
細書には、例えば論理回路中の結合素子として用いるこ
とのできる制御可能な超伝導ゲート素子が記載されてい
る。この素子は段付基板の分離された面上に置かれ組織
化された高温超伝導材料から成る二つの導体片を含む。
これらの導体片は組織化された高温超伝導層により形成
された接合域を介して相互に結合され、接合域は導体片
の両平面に垂直に向いた段側面に接触する。常伝導材料
から成る帯状の導体路の形の制御線がこの接合域を越え
て導かれ、この制御線により制御磁界を相応の制御電流
に基づき発生させることができる。従って接合域中にこ
の磁界により引き起こされる磁束は接合域上の制御可能
な電圧降下に影響を与える。この種の制御は極めて小さ
いスイッチング時間により実施することができる。しか
しながら段付基板上に相応の素子を作るための調整費は
比較的高い。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】この発明の課題は、公
知の装置の場合に生じるこれらの製造技術上の困難が少
なくとも軽減されるように前記の超伝導装置を改良する
ことにある。その際公知のジョセフソン接触素子の構成
のために必要であると考えられるような1nm以下の通
電方向の寸法を有するパターンではなく、μm域の寸法
を有するパターンを用いることができるようにしようと
するものである。同時に接合域の超伝導特性の調節のた
めの比較的簡単な可能性を提供しようとするものであ
る。
知の装置の場合に生じるこれらの製造技術上の困難が少
なくとも軽減されるように前記の超伝導装置を改良する
ことにある。その際公知のジョセフソン接触素子の構成
のために必要であると考えられるような1nm以下の通
電方向の寸法を有するパターンではなく、μm域の寸法
を有するパターンを用いることができるようにしようと
するものである。同時に接合域の超伝導特性の調節のた
めの比較的簡単な可能性を提供しようとするものであ
る。
【0010】
【課題を解決するための手段】この課題はこの発明に基
づき、十分な電気ひずみ性又は磁気ひずみ性を有する材
料から成る少なくとも一つの膜帯が設けられ、この膜帯
により接合域中にこの接合域の所定の超伝導特性を調節
する機械的応力が発生させられることにより解決され
る。その際自明のように機械的応力に伴う拡張又は圧縮
もしくは原子間隔変化が物理的に有効である。
づき、十分な電気ひずみ性又は磁気ひずみ性を有する材
料から成る少なくとも一つの膜帯が設けられ、この膜帯
により接合域中にこの接合域の所定の超伝導特性を調節
する機械的応力が発生させられることにより解決され
る。その際自明のように機械的応力に伴う拡張又は圧縮
もしくは原子間隔変化が物理的に有効である。
【0011】超伝導装置のこの構成の場合には、高TC
の第二銅酸塩から成る導体の超伝導特性がこの導体上に
働く機械的応力に関係するという、それ自体公知の事実
が利用される(例えば「フィジカル レビュー B編
(Phys. Rev. B)」、第44巻、第18号、1991年
11月1日−II、第10117〜10120ページ参
照)。この発明による手段に伴う長所は特に、電気ひず
み性又は磁気ひずみ性膜帯の分極又は磁化を非常に正確
かつ簡単に調節でき、従って相応に良好に規定された圧
縮又は引張応力を接合域中に加えることができるという
ことにある。この機械的応力は相応の方法でこの領域の
特性曲線特に超伝導電流に影響を与える。その際接合域
は高温超伝導材料から成る二つの導体片の間に必ずしも
最初から構成される必要はない。むしろ電気ひずみ性又
は磁気ひずみ性膜帯を用いて初めて、当初は連続する超
伝導導体路中で選択可能な狭い領域上に働く調節可能な
力により、この領域で調節可能な超伝導特性を獲得する
非常に簡単な可能性が得られるので有利である。この種
の場合には当初は連続する超伝導導体路が、電気ひずみ
性又は磁気ひずみ性膜帯により発生させられた機械的応
力の領域により初めて二つの導体片へ分割され、その際
機械的応力のこの領域はこれらの導体片の間の接合域を
形成する。従ってこの発明に基づく手段により、電気回
路中の調節可能なトランジスタ機能特にスイッチング機
能を有する超伝導装置を、あるいは接合域又は接触域の
良好に規定された電気的特性を有するジョセフソン接触
素子又はスクイドを構成することができるので有利であ
る。その際例えば平らな基板上に任意の数のこの種の超
伝導装置をほぼ自由に選択可能な個所に、例えばアレー
の形で構成するという可能性も基本的に存在する。
の第二銅酸塩から成る導体の超伝導特性がこの導体上に
働く機械的応力に関係するという、それ自体公知の事実
が利用される(例えば「フィジカル レビュー B編
(Phys. Rev. B)」、第44巻、第18号、1991年
11月1日−II、第10117〜10120ページ参
照)。この発明による手段に伴う長所は特に、電気ひず
み性又は磁気ひずみ性膜帯の分極又は磁化を非常に正確
かつ簡単に調節でき、従って相応に良好に規定された圧
縮又は引張応力を接合域中に加えることができるという
ことにある。この機械的応力は相応の方法でこの領域の
特性曲線特に超伝導電流に影響を与える。その際接合域
は高温超伝導材料から成る二つの導体片の間に必ずしも
最初から構成される必要はない。むしろ電気ひずみ性又
は磁気ひずみ性膜帯を用いて初めて、当初は連続する超
伝導導体路中で選択可能な狭い領域上に働く調節可能な
力により、この領域で調節可能な超伝導特性を獲得する
非常に簡単な可能性が得られるので有利である。この種
の場合には当初は連続する超伝導導体路が、電気ひずみ
性又は磁気ひずみ性膜帯により発生させられた機械的応
力の領域により初めて二つの導体片へ分割され、その際
機械的応力のこの領域はこれらの導体片の間の接合域を
形成する。従ってこの発明に基づく手段により、電気回
路中の調節可能なトランジスタ機能特にスイッチング機
能を有する超伝導装置を、あるいは接合域又は接触域の
良好に規定された電気的特性を有するジョセフソン接触
素子又はスクイドを構成することができるので有利であ
る。その際例えば平らな基板上に任意の数のこの種の超
伝導装置をほぼ自由に選択可能な個所に、例えばアレー
の形で構成するという可能性も基本的に存在する。
【0012】
【実施例】次にこの発明に基づく超伝導装置の複数の実
施例を示す図面により、この発明を詳細に説明する。
施例を示す図面により、この発明を詳細に説明する。
【0013】図1及び図2によれば、例えば平らな基板
2上に薄膜技術で、望ましくは77Kを超える臨界温度
TC を有する例えばYBCO又はBSCCOのような公
知の高温超伝導材料から成る二つの導体片3a、3bが
被覆されている。その際特に基板として、選ばれた高温
超伝導材料を公知の方法によりエピタキシアル成長させ
ることができるような材料から成る支持体が用いられ
る。従って基板として特にSrTiO3 又はMgOが用
いられる。拡散抑制被膜いわゆる「バッファ層」を備え
るSi基板もまた適している。図示の実施例によれば、
両超伝導導体片3a、3bは最初から非常に狭い接合域
4で予定弱点個所により相互に分離されている。流そう
とする電流I(図2参照)の方向におけるこの領域の寸
法aは0.2〜1nmとするのが有利である。相応の予
定弱点個所は特に粒界又は立体的なくびれ又は機械的応
力集中のためのその他の形状付与により構成することが
できる。接合域4は、超伝導導体片3a、3b中で与え
られる特に臨界電流密度のような良好な超伝導導体特性
が接合域中では比較して明らかに低下させられていると
いう特徴を持っている。
2上に薄膜技術で、望ましくは77Kを超える臨界温度
TC を有する例えばYBCO又はBSCCOのような公
知の高温超伝導材料から成る二つの導体片3a、3bが
被覆されている。その際特に基板として、選ばれた高温
超伝導材料を公知の方法によりエピタキシアル成長させ
ることができるような材料から成る支持体が用いられ
る。従って基板として特にSrTiO3 又はMgOが用
いられる。拡散抑制被膜いわゆる「バッファ層」を備え
るSi基板もまた適している。図示の実施例によれば、
両超伝導導体片3a、3bは最初から非常に狭い接合域
4で予定弱点個所により相互に分離されている。流そう
とする電流I(図2参照)の方向におけるこの領域の寸
法aは0.2〜1nmとするのが有利である。相応の予
定弱点個所は特に粒界又は立体的なくびれ又は機械的応
力集中のためのその他の形状付与により構成することが
できる。接合域4は、超伝導導体片3a、3b中で与え
られる特に臨界電流密度のような良好な超伝導導体特性
が接合域中では比較して明らかに低下させられていると
いう特徴を持っている。
【0014】この発明に基づきこの予定弱点個所上に例
えば超伝導導体片3a、3bの主拡張方向に対し直角
に、特別の材料から成る少なくとも一つの薄い膜帯が置
かれ、その際この膜帯は接合域4の下地及び/又は導体
片3a、3bの接合域に隣接する端部と強固にすなわち
力伝達し得るように結合されている。導体片の通電方向
におけるこの膜帯の寸法(ここでは幅)bは1〜10μ
mの程度の大きさとすることができるので有利である。
膜帯のための材料としては、超伝導装置の選ばれた運転
条件の場合に比較的大きい電気ひずみ係数Q又は比較的
大きい磁気ひずみ係数λにより優れている電気ひずみ性
又は磁気ひずみ性材料が適している。その際電気ひずみ
性材料とは、電気分極に関し二次形及び/又は線形であ
る材料を指す。明確に二次形の効果を有する材料はしば
しば本来の電気ひずみ性材料であると見なされる。これ
に反して明確に線形効果を有する材料は圧電性材料、さ
らに正確に言えば可逆的圧電性効果を有する材料である
(例えば「自然科学及び技術百科事典(Enzyklopaedie
Naturwissenschaft und Technik )」近代工業出版社
(Verlag Moderne Industrie)、1980年、第111
3ページ参照)。この効果は特殊な強誘電性材料で特に
大きくすることができる。電気ひずみ性材料として、電
気ひずみ係数Qの数値が約77Kの温度の際に|1×1
0-2m4 C-2|を超える材料が用いられると有利であ
る。この要求を満たすことができる材料に対する例はS
rTiO3 、BaTiO3 又はPb(Mg0.33N
b0.67)O3 のような特殊のペロブスカイトである(例
えば「ジャーナル オブ マテリアル サイエンス(Jo
urn. of Mat. Sci. )」第16巻、1981年、第56
9〜578ぺージ、又は「日本応用物理学会誌」第19
巻、第11号、1980年11月、第2099〜210
3ページ参照)。ペロブスカイト構造を有する材料は更
に、高温超伝導材料の結晶構造を乱すことなく相応にパ
ターン形成された台座上に良好に付着して被覆できると
いう長所を有する。
えば超伝導導体片3a、3bの主拡張方向に対し直角
に、特別の材料から成る少なくとも一つの薄い膜帯が置
かれ、その際この膜帯は接合域4の下地及び/又は導体
片3a、3bの接合域に隣接する端部と強固にすなわち
力伝達し得るように結合されている。導体片の通電方向
におけるこの膜帯の寸法(ここでは幅)bは1〜10μ
mの程度の大きさとすることができるので有利である。
膜帯のための材料としては、超伝導装置の選ばれた運転
条件の場合に比較的大きい電気ひずみ係数Q又は比較的
大きい磁気ひずみ係数λにより優れている電気ひずみ性
又は磁気ひずみ性材料が適している。その際電気ひずみ
性材料とは、電気分極に関し二次形及び/又は線形であ
る材料を指す。明確に二次形の効果を有する材料はしば
しば本来の電気ひずみ性材料であると見なされる。これ
に反して明確に線形効果を有する材料は圧電性材料、さ
らに正確に言えば可逆的圧電性効果を有する材料である
(例えば「自然科学及び技術百科事典(Enzyklopaedie
Naturwissenschaft und Technik )」近代工業出版社
(Verlag Moderne Industrie)、1980年、第111
3ページ参照)。この効果は特殊な強誘電性材料で特に
大きくすることができる。電気ひずみ性材料として、電
気ひずみ係数Qの数値が約77Kの温度の際に|1×1
0-2m4 C-2|を超える材料が用いられると有利であ
る。この要求を満たすことができる材料に対する例はS
rTiO3 、BaTiO3 又はPb(Mg0.33N
b0.67)O3 のような特殊のペロブスカイトである(例
えば「ジャーナル オブ マテリアル サイエンス(Jo
urn. of Mat. Sci. )」第16巻、1981年、第56
9〜578ぺージ、又は「日本応用物理学会誌」第19
巻、第11号、1980年11月、第2099〜210
3ページ参照)。ペロブスカイト構造を有する材料は更
に、高温超伝導材料の結晶構造を乱すことなく相応にパ
ターン形成された台座上に良好に付着して被覆できると
いう長所を有する。
【0015】電気ひずみ性材料の特殊例としての圧電性
材料が一般に知られている(例えば「アドバーンスト
マテリアルズ(Advanced Materials)」第2巻、第10
号、1990年、第458〜463ページ参照)。特に
良好に高温超伝導材料に適合する材料のための例として
BaTiO3 又はPb(Zr,Ti)O3 の混晶が挙げ
られる。その際これらの材料の個々の元素の置換によ
り、強誘電体についての特性例えば格子定数又は秩序化
温度を特殊な要求に適合させることが可能である。圧電
定数の一般的な大きさは10-9〜10-10 m/Vであ
る。
材料が一般に知られている(例えば「アドバーンスト
マテリアルズ(Advanced Materials)」第2巻、第10
号、1990年、第458〜463ページ参照)。特に
良好に高温超伝導材料に適合する材料のための例として
BaTiO3 又はPb(Zr,Ti)O3 の混晶が挙げ
られる。その際これらの材料の個々の元素の置換によ
り、強誘電体についての特性例えば格子定数又は秩序化
温度を特殊な要求に適合させることが可能である。圧電
定数の一般的な大きさは10-9〜10-10 m/Vであ
る。
【0016】明確な電気ひずみ性を有する材料の代わり
に、磁気ひずみ係数λの数値が約77Kの温度の際に少
なくとも|5×10-6|、望ましくは|20×10-6|
を超える磁気ひずみ性材料も同様に好適である。例えば
希土類及び遷移金属から成る合金がこの要求を満たす。
例えばPr2 Co17のための磁気ひずみ係数λは|30
0×10-6|を超える値を有する(例えば専門書「強磁
性材料(Ferromagnetic Materials )」第1巻、発行
元、ボールハルト(E.P. Wohlfarth)、北部オランダ出
版社(North-Holland Pub. Co.)、アムステルダム、1
980年、第540〜552ページ参照)。いわゆる
「テルフェノール(Terfenole )」は特に適している
(例えばミクロエレクトロニク(Mikroelektronik )」
第4巻、第6号、1990年、専門分野付録「ミクロペ
リフェリク(Mikroperipherik )」第XCII〜XCVIページ
参照)。
に、磁気ひずみ係数λの数値が約77Kの温度の際に少
なくとも|5×10-6|、望ましくは|20×10-6|
を超える磁気ひずみ性材料も同様に好適である。例えば
希土類及び遷移金属から成る合金がこの要求を満たす。
例えばPr2 Co17のための磁気ひずみ係数λは|30
0×10-6|を超える値を有する(例えば専門書「強磁
性材料(Ferromagnetic Materials )」第1巻、発行
元、ボールハルト(E.P. Wohlfarth)、北部オランダ出
版社(North-Holland Pub. Co.)、アムステルダム、1
980年、第540〜552ページ参照)。いわゆる
「テルフェノール(Terfenole )」は特に適している
(例えばミクロエレクトロニク(Mikroelektronik )」
第4巻、第6号、1990年、専門分野付録「ミクロペ
リフェリク(Mikroperipherik )」第XCII〜XCVIページ
参照)。
【0017】図1及び図2に示す実施例のために、例え
ばBaTiO3 のような電気ひずみ性望ましくは圧電性
材料から成る膜帯6を選ぶこととする。この膜帯は例え
ば0.1〜5μmの厚さdを有する。この膜帯は接合域
4又は予定弱点個所において電界Eが加わる。矢印によ
り示されたこの電界Eは、膜帯6を間に挟む二つの層状
金属電極7、8により引き起こされる。その際超伝導導
体片3a、3b側の下側の電極7はこれらの導体片3
a、3bに対して薄い絶縁層9により絶縁されている。
電極7、8に印加する電圧はできるだけ小さくすべきで
あり、理想的にはいわゆるギャップ電圧以下である。こ
の種の膜帯6に電界Eが加えられると膜帯はその電気ひ
ずみ性に応じて寸法を変え、膜帯と結合され膜帯の下に
配置された接合域4を電気ひずみの符号に応じて相応の
圧縮又は引張応力のもとに置く。場合によっては力作用
を増強するために、複数の膜帯6をサンドイッチ状に一
つの束となるように配置することも可能である。圧縮又
は引張応力が発生させられた場合に図1及び図2に示す
実施例によれば横効果が利用される。電界Eにより最初
は例えば膜帯の主拡張方向の伸びがもたらされる。しか
し横方向における接合域の相応の圧縮を引き起こす横方
向収縮もこれに伴って生じる。そしてこれらの機械的応
力が領域4中の超伝導特性特に超伝導電流又は臨界電流
密度の相応の変化をもたらし、それゆえに領域4は弱点
個所と見なすことができる。この変化は膜帯6に印加さ
れる電界状態の変更により相応に影響を与え場合により
制御することさえ可能である。その際個々の層の与えら
れた弾性限界を一般に超えるべきでない。こうして接合
域4をそのつどの用途に関係して電気的パラメータの目
標値を選択可能に調節した弱点個所として構成すること
が可能である。その際目標値の調節は制御可能とするこ
とができる。更に特にジョセフソン接触素子の接触域を
作り出すために、目標値を一度限りで確実に設定するこ
とができる。その際相応の調節効果は接合域の特別の形
状付与により例えば断面絞り込みにより更に一層強める
ことができる。そのように作られた超伝導装置が図1及
び図2に全体を符号10により示されている。
ばBaTiO3 のような電気ひずみ性望ましくは圧電性
材料から成る膜帯6を選ぶこととする。この膜帯は例え
ば0.1〜5μmの厚さdを有する。この膜帯は接合域
4又は予定弱点個所において電界Eが加わる。矢印によ
り示されたこの電界Eは、膜帯6を間に挟む二つの層状
金属電極7、8により引き起こされる。その際超伝導導
体片3a、3b側の下側の電極7はこれらの導体片3
a、3bに対して薄い絶縁層9により絶縁されている。
電極7、8に印加する電圧はできるだけ小さくすべきで
あり、理想的にはいわゆるギャップ電圧以下である。こ
の種の膜帯6に電界Eが加えられると膜帯はその電気ひ
ずみ性に応じて寸法を変え、膜帯と結合され膜帯の下に
配置された接合域4を電気ひずみの符号に応じて相応の
圧縮又は引張応力のもとに置く。場合によっては力作用
を増強するために、複数の膜帯6をサンドイッチ状に一
つの束となるように配置することも可能である。圧縮又
は引張応力が発生させられた場合に図1及び図2に示す
実施例によれば横効果が利用される。電界Eにより最初
は例えば膜帯の主拡張方向の伸びがもたらされる。しか
し横方向における接合域の相応の圧縮を引き起こす横方
向収縮もこれに伴って生じる。そしてこれらの機械的応
力が領域4中の超伝導特性特に超伝導電流又は臨界電流
密度の相応の変化をもたらし、それゆえに領域4は弱点
個所と見なすことができる。この変化は膜帯6に印加さ
れる電界状態の変更により相応に影響を与え場合により
制御することさえ可能である。その際個々の層の与えら
れた弾性限界を一般に超えるべきでない。こうして接合
域4をそのつどの用途に関係して電気的パラメータの目
標値を選択可能に調節した弱点個所として構成すること
が可能である。その際目標値の調節は制御可能とするこ
とができる。更に特にジョセフソン接触素子の接触域を
作り出すために、目標値を一度限りで確実に設定するこ
とができる。その際相応の調節効果は接合域の特別の形
状付与により例えば断面絞り込みにより更に一層強める
ことができる。そのように作られた超伝導装置が図1及
び図2に全体を符号10により示されている。
【0018】図2に示す超伝導装置10の図には、更に
二つの電圧タップ11a、11bが超伝導導体片3a、
3bの共通な接合域4に向かう端部に示されている。更
に下側金属電極7及び上側金属電極8に印加する電圧の
ための二つの端子片12a、12bが示されている。
二つの電圧タップ11a、11bが超伝導導体片3a、
3bの共通な接合域4に向かう端部に示されている。更
に下側金属電極7及び上側金属電極8に印加する電圧の
ための二つの端子片12a、12bが示されている。
【0019】例えば制御可能な超伝導装置10の図1に
示された実施例とは異なって、長手方向断面図として示
された図3の実施例によれば、相応の超伝導装置15の
接合域又は弱点個所領域を電気ひずみ性膜帯6により初
めて作り出すこともできる。それに応じて図3に示すよ
うに基板2上にまず高温超伝導材料から成る連続する導
体路16が作られる。続いて、形成しようとする接合域
の個所に膜帯6が金属電極7、8及び絶縁層9と共に図
1に示すように被覆される。この膜帯の電気ひずみ特性
に基づいてその下に置かれた超伝導導体路16中に機械
的応力の領域が発生させられる。そしてこの領域は例え
ば超伝導装置15の電気的特性の制御可能な調節性を備
え図に示され符号18を付けられた所望の接合域であ
る。この接合域18はジョセフソン接触素子の弱い連結
特性を有する接触域とすることができる。従って領域1
8は超伝導導体路16を二つの導体片16a、16bへ
分割する。図3に示す実施例に対しては、構成しようと
する超伝導装置15の領域で導体路16が最初から断面
減少部又は狭隘部を有するのが特に有利である。
示された実施例とは異なって、長手方向断面図として示
された図3の実施例によれば、相応の超伝導装置15の
接合域又は弱点個所領域を電気ひずみ性膜帯6により初
めて作り出すこともできる。それに応じて図3に示すよ
うに基板2上にまず高温超伝導材料から成る連続する導
体路16が作られる。続いて、形成しようとする接合域
の個所に膜帯6が金属電極7、8及び絶縁層9と共に図
1に示すように被覆される。この膜帯の電気ひずみ特性
に基づいてその下に置かれた超伝導導体路16中に機械
的応力の領域が発生させられる。そしてこの領域は例え
ば超伝導装置15の電気的特性の制御可能な調節性を備
え図に示され符号18を付けられた所望の接合域であ
る。この接合域18はジョセフソン接触素子の弱い連結
特性を有する接触域とすることができる。従って領域1
8は超伝導導体路16を二つの導体片16a、16bへ
分割する。図3に示す実施例に対しては、構成しようと
する超伝導装置15の領域で導体路16が最初から断面
減少部又は狭隘部を有するのが特に有利である。
【0020】図1ないし図3に示すこの発明に基づく超
伝導装置10、15の実施例の場合には、機械的応力を
引き起こす少なくとも一つの膜帯6が電気ひずみ性特に
圧電性材料から成ることを出発点とした。しかしながら
膜帯の相応の効果は少なくとも一つの相応の膜帯の材料
の十分な磁気ひずみによっても同様に良好に達成するこ
とができる。その場合には制御する磁界を例えば超伝導
導体路により損失無く加えることができる。しかしなが
ら超伝導装置を磁気ひずみ性材料の漂遊磁界及び制御電
流の磁界から守らなければならない。励起された磁界が
十分に接合域から遠く離れておりかつ漂遊磁界が磁気回
路の閉じられた構造に基づきほぼ抑制されるような、閉
鎖磁気回路の一部としての磁気ひずみ性膜帯を備える実
施例が図4に斜視図で示されている。その際場合によっ
ては更に必要な遮蔽の図示は省略されている。図4では
図2と異なって超伝導装置20のために、磁気ひずみ性
材料から成り接合域4の上方を絶縁されて通り過ぎる膜
帯21が設けられている。この膜帯は接合域4の領域の
外部でそれ自体閉じた導体ループ22となるように形成
されている。この導体ループの接合域から最も離れた領
域では膜帯の周囲にコイル23が配置され、コイル23
により制御電流IS を用いて導体ループ中に磁束φを発
生させることができる。この磁束は特に接合域4の範囲
で膜帯21の目指す磁気ひずみをもたらす。
伝導装置10、15の実施例の場合には、機械的応力を
引き起こす少なくとも一つの膜帯6が電気ひずみ性特に
圧電性材料から成ることを出発点とした。しかしながら
膜帯の相応の効果は少なくとも一つの相応の膜帯の材料
の十分な磁気ひずみによっても同様に良好に達成するこ
とができる。その場合には制御する磁界を例えば超伝導
導体路により損失無く加えることができる。しかしなが
ら超伝導装置を磁気ひずみ性材料の漂遊磁界及び制御電
流の磁界から守らなければならない。励起された磁界が
十分に接合域から遠く離れておりかつ漂遊磁界が磁気回
路の閉じられた構造に基づきほぼ抑制されるような、閉
鎖磁気回路の一部としての磁気ひずみ性膜帯を備える実
施例が図4に斜視図で示されている。その際場合によっ
ては更に必要な遮蔽の図示は省略されている。図4では
図2と異なって超伝導装置20のために、磁気ひずみ性
材料から成り接合域4の上方を絶縁されて通り過ぎる膜
帯21が設けられている。この膜帯は接合域4の領域の
外部でそれ自体閉じた導体ループ22となるように形成
されている。この導体ループの接合域から最も離れた領
域では膜帯の周囲にコイル23が配置され、コイル23
により制御電流IS を用いて導体ループ中に磁束φを発
生させることができる。この磁束は特に接合域4の範囲
で膜帯21の目指す磁気ひずみをもたらす。
【0021】図1ないし図4に示す場合によっては制御
可能な超伝導装置10、15、20の実施例の場合に
は、接合域4又は18で機械的応力がそれぞれ電気ひず
み性又は磁気ひずみ性材料から成り各接合域の上方を通
り過ぎるただ一つの膜帯により発生させられることを前
提とした。自明のように相応の力を接合域上に、例えば
接合域の両側に延び接合域に隣接する二つの電気ひずみ
性又は磁気ひずみ性膜帯によって加えることも同様に可
能である。相応の実施例が図5の平面図に示されてい
る。図1に示す実施例の場合と同様に全体を符号25で
示され場合によっては制御可能な又はジョセフソン接触
素子を形成するようなこの超伝導装置の場合には、二つ
の超伝導導体片3a、3bが接合域4の予定弱点個所を
介して相互に結合されている。この領域ではそれぞれ電
気ひずみ性又は磁気ひずみ性膜帯26又は27の一部が
弱点個所の向かい合う短辺に隣接し、これらの部分によ
り一緒に所望の機械的応力を弱点個所領域中に発生させ
ることができる。これらの膜帯部分は共通な接合域4を
含む超伝導導体片3a、3bと部分的に重なることもで
きる。
可能な超伝導装置10、15、20の実施例の場合に
は、接合域4又は18で機械的応力がそれぞれ電気ひず
み性又は磁気ひずみ性材料から成り各接合域の上方を通
り過ぎるただ一つの膜帯により発生させられることを前
提とした。自明のように相応の力を接合域上に、例えば
接合域の両側に延び接合域に隣接する二つの電気ひずみ
性又は磁気ひずみ性膜帯によって加えることも同様に可
能である。相応の実施例が図5の平面図に示されてい
る。図1に示す実施例の場合と同様に全体を符号25で
示され場合によっては制御可能な又はジョセフソン接触
素子を形成するようなこの超伝導装置の場合には、二つ
の超伝導導体片3a、3bが接合域4の予定弱点個所を
介して相互に結合されている。この領域ではそれぞれ電
気ひずみ性又は磁気ひずみ性膜帯26又は27の一部が
弱点個所の向かい合う短辺に隣接し、これらの部分によ
り一緒に所望の機械的応力を弱点個所領域中に発生させ
ることができる。これらの膜帯部分は共通な接合域4を
含む超伝導導体片3a、3bと部分的に重なることもで
きる。
【0022】この発明に基づく手段は電気ひずみ性又は
磁気ひずみ性膜帯による弱点個所領域の弾性変形に制限
されない。場合によっては少なくとも一つのこの種の膜
帯により塑性変形をもたらすこともできる。図6及び図
7には、全体を符号28で示されたこの発明に基づく超
伝導装置の相応の実施例がそれぞれ斜視図又は平面図で
示されている。その際図3と同様に当初連続している超
伝導導体路16を有する構成を基とする。この導体路に
は狭隘部30を設ける(図7参照)。導体路は少なくと
もこの狭隘部の領域では例えば電気ひずみ性膜帯6によ
り覆われている。狭隘部領域の両側には膜帯上に二つの
電極31、32が横に延びて取り付けられている。これ
らの電極に印加された電圧は、例えば膜帯6の膨張をも
たらす電界Eを引き起こす。膨張によりその下に置かれ
た導体路16上に加えられる機械的応力は、特に狭隘部
30の範囲で導体路の塑性変形をもたらし、場合によっ
てはこの範囲で(微細亀裂を形成しながら)相互引き寄
せまたは相互引き離しさえももたらすほど大きくするこ
とができる。そのとき電界Eの極性切り換えにより逆方
向の機械的応力を引き起こすことができ、この応力は狭
隘部30の範囲に圧縮又は圧縮接触をもたらし、従って
図3に示す接合域18の形成をもたらす。
磁気ひずみ性膜帯による弱点個所領域の弾性変形に制限
されない。場合によっては少なくとも一つのこの種の膜
帯により塑性変形をもたらすこともできる。図6及び図
7には、全体を符号28で示されたこの発明に基づく超
伝導装置の相応の実施例がそれぞれ斜視図又は平面図で
示されている。その際図3と同様に当初連続している超
伝導導体路16を有する構成を基とする。この導体路に
は狭隘部30を設ける(図7参照)。導体路は少なくと
もこの狭隘部の領域では例えば電気ひずみ性膜帯6によ
り覆われている。狭隘部領域の両側には膜帯上に二つの
電極31、32が横に延びて取り付けられている。これ
らの電極に印加された電圧は、例えば膜帯6の膨張をも
たらす電界Eを引き起こす。膨張によりその下に置かれ
た導体路16上に加えられる機械的応力は、特に狭隘部
30の範囲で導体路の塑性変形をもたらし、場合によっ
てはこの範囲で(微細亀裂を形成しながら)相互引き寄
せまたは相互引き離しさえももたらすほど大きくするこ
とができる。そのとき電界Eの極性切り換えにより逆方
向の機械的応力を引き起こすことができ、この応力は狭
隘部30の範囲に圧縮又は圧縮接触をもたらし、従って
図3に示す接合域18の形成をもたらす。
【0023】図6及び図7に示す装置は、一たび弱点個
所が狭隘部30の範囲に発生させられた後に自明のよう
に弾性領域で作動させることもできる。
所が狭隘部30の範囲に発生させられた後に自明のよう
に弾性領域で作動させることもできる。
【0024】二つの電気ひずみ性又は磁気ひずみ性膜帯
を備える制御可能な超伝導装置の別の実施例が図8に示
されている。断面図として示され全体に符号35を付け
られた装置は例えばスイッチングマトリックスの一つの
スイッチング素子とすることができ、スイッチングマト
リックスはこの種の素子のアレー全体を含む。基板2上
には高温超伝導材料から成る第1の(下側の)導体片3
6aが延び、導体片36aは相応の第2の(上側の)導
体片36bと交差する。交差領域中にこれら両導体片の
間に接合域37として予定弱点個所が構成される。この
予定弱点個所は図中に太い線で示されている。上側の第
2の導体片36bはこの予定弱点個所の範囲では二つの
制御線の間に力結合されて配置されている。これらの制
御線はそれぞれ図1又は図2に示す構造により電気ひず
み性又は磁気ひずみ性材料から成る膜帯38、39によ
り構成されている。必要な金属電極は図8では示されて
いない。これらの膜帯により接合域37中には圧縮接触
の場合と同様に機械的応力を発生させることができ、こ
の応力は弱点個所の特性曲線に相応に影響を与え従って
スイッチング機能をもたらす。図に示された構造は更に
通常は絶縁性カバー層40により覆われている。
を備える制御可能な超伝導装置の別の実施例が図8に示
されている。断面図として示され全体に符号35を付け
られた装置は例えばスイッチングマトリックスの一つの
スイッチング素子とすることができ、スイッチングマト
リックスはこの種の素子のアレー全体を含む。基板2上
には高温超伝導材料から成る第1の(下側の)導体片3
6aが延び、導体片36aは相応の第2の(上側の)導
体片36bと交差する。交差領域中にこれら両導体片の
間に接合域37として予定弱点個所が構成される。この
予定弱点個所は図中に太い線で示されている。上側の第
2の導体片36bはこの予定弱点個所の範囲では二つの
制御線の間に力結合されて配置されている。これらの制
御線はそれぞれ図1又は図2に示す構造により電気ひず
み性又は磁気ひずみ性材料から成る膜帯38、39によ
り構成されている。必要な金属電極は図8では示されて
いない。これらの膜帯により接合域37中には圧縮接触
の場合と同様に機械的応力を発生させることができ、こ
の応力は弱点個所の特性曲線に相応に影響を与え従って
スイッチング機能をもたらす。図に示された構造は更に
通常は絶縁性カバー層40により覆われている。
【図1】この発明に基づく超伝導装置の一実施例の縦断
面図である。
面図である。
【図2】図1に示す装置の斜視図である。
【図3】異なる実施例の縦断面図である。
【図4】異なる実施例の斜視図である。
【図5】異なる実施例の平面図である。
【図6】異なる実施例の縦断面を含む斜視図である。
【図7】図6に示す装置の平面図である。
【図8】異なる実施例の縦断面図である。
3a、3b、16a、16b、36a、36b 超伝導
導体片 4、18、37 接合域 6、21、26、27、38、39 膜帯 10、15、20、25、28、35 超伝導装置 16 超伝導導体路 30 狭隘部
導体片 4、18、37 接合域 6、21、26、27、38、39 膜帯 10、15、20、25、28、35 超伝導装置 16 超伝導導体路 30 狭隘部
Claims (12)
- 【請求項1】 高い臨界温度を有する金属酸化物超伝導
材料から成る二つの導体片と、これらの導体片を結合し
所定の超伝導特性を備える狭い接合域と、十分な電気ひ
ずみ特性又は磁気ひずみ特性を有する材料から成る少な
くとも一つの膜帯(6、21、26、27、38、3
9)とを備え、この膜帯により接合域(4、18、3
7)中に機械的応力が、この接合域の所定の超伝導特性
を調節するために引き起こされることを特徴とする超伝
導装置。 - 【請求項2】 少なくとも一つの膜帯(21、26、2
7、38、39)の材料が磁気ひずみ係数λ≧|5×1
0-6|を有することを特徴とする請求項1記載の装置。 - 【請求項3】 少なくとも一つの膜帯(6、26、2
7、38、39)の材料が電気ひずみ係数Q≧|1×1
0-2m4 C-2|を有することを特徴とする請求項1記載
の装置。 - 【請求項4】 接合域(4)が、隣接する超伝導導体片
(3a、3b、36a、36b)に比べて低下した超伝
導特性を有する既存の弱点個所に沿って形成されている
ことを特徴とする請求項1ないし3の一つに記載の装
置。 - 【請求項5】 弱点個所が粒界又は特別の形状付与によ
り作られていることを特徴とする請求項4記載の装置。 - 【請求項6】 超伝導導体片(16a、16b)の間の
接合域(18)が、当初は連続した超伝導導体路(1
6)中に電気ひずみ性又は磁気ひずみ性材料から成る少
なくとも一つの膜帯(6)により引き起こされた機械的
応力によって初めて形成されることを特徴とする請求項
1ないし3の一つに記載の装置。 - 【請求項7】 超伝導導体路(16)が接合域(18)
の範囲に狭隘部(30)を有することを特徴とする請求
項6記載の装置。 - 【請求項8】 超伝導導体路(16)が接合域(18)
の範囲で機械的応力に基づき塑性変形する及び/又は微
細亀裂を持つことを特徴とする請求項6又は7記載の装
置。 - 【請求項9】 電気ひずみ性又は磁気ひずみ性材料から
成る二つの膜帯(26、27、38、39)の間に接合
域(4、37)が延びることを特徴とする請求項1ない
し8の一つに記載の装置。 - 【請求項10】 接合域(4、18、37)の超伝導特
性を制御可能に調節する装置が設けられ、その際少なく
とも一つの膜帯(6、21、26、27、38、39)
が制御線として用いられることを特徴とする請求項1な
いし9の一つに記載の装置。 - 【請求項11】 スイッチングマトリックスのアレー中
の一つのスイッチング素子として配置されていることを
特徴とする請求項10記載の装置。 - 【請求項12】 接合域(4、18、37)がジョセフ
ソン接触素子のジョセフソン接触域であることを特徴と
する請求項1ないし9の一つに記載の装置。
Applications Claiming Priority (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE4215483.9 | 1992-05-11 | ||
| DE4215482.0 | 1992-05-11 | ||
| DE4215483 | 1992-05-11 | ||
| DE4215482 | 1992-05-11 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0629583A true JPH0629583A (ja) | 1994-02-04 |
Family
ID=25914712
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5131361A Withdrawn JPH0629583A (ja) | 1992-05-11 | 1993-05-07 | 超伝導装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0569781A1 (ja) |
| JP (1) | JPH0629583A (ja) |
| CA (1) | CA2095796A1 (ja) |
| DE (1) | DE4315536A1 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4433331C2 (de) * | 1994-09-19 | 2002-06-20 | Siemens Ag | Magnetfeldempfindliche SQUID-Sensoreinrichtung mit Flußtransformator unter Verwendung von Hoch-T¶c¶-Supraleitermaterial |
| DE19505060C2 (de) * | 1995-02-15 | 2003-04-10 | Siemens Ag | Magnetfeldempfindliche SQUID-Einrichtung mit Leiterteilen aus Hoch-T¶c¶-Supraleitermaterialien |
| DE19509230C2 (de) * | 1995-03-17 | 2003-04-17 | Siemens Ag | Hochsymmetrische Gradiometer-SQUID-Einrichtung mit Leiterbahnen aus Hoch-T¶c¶-Supraleitermaterial |
| US20220123194A1 (en) * | 2020-10-17 | 2022-04-21 | Carlo A. Trugenberger | High Temperature Superconducting Device |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3815183A1 (de) * | 1987-08-20 | 1989-03-02 | Siemens Ag | Supraleitendes gatterelement fuer eine logische schaltung |
| JPH01152771A (ja) * | 1987-12-10 | 1989-06-15 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | ジョセフソン素子 |
| JPH0812935B2 (ja) * | 1988-02-09 | 1996-02-07 | 日本電気株式会社 | 超電導体電子装置 |
| US5039656A (en) * | 1988-02-29 | 1991-08-13 | Yasuharu Hidaka | Superconductor magnetic memory using magnetic films |
| JPH02183583A (ja) * | 1989-01-10 | 1990-07-18 | Seiko Epson Corp | 超伝導制御素子 |
| JPH02260474A (ja) * | 1989-03-31 | 1990-10-23 | Canon Inc | 平面型マイクロブリッジジョセフソン接合素子及びその特性制御法 |
-
1993
- 1993-04-28 EP EP93106909A patent/EP0569781A1/de not_active Withdrawn
- 1993-05-07 CA CA002095796A patent/CA2095796A1/en not_active Abandoned
- 1993-05-07 JP JP5131361A patent/JPH0629583A/ja not_active Withdrawn
- 1993-05-10 DE DE4315536A patent/DE4315536A1/de not_active Ceased
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0569781A1 (de) | 1993-11-18 |
| DE4315536A1 (de) | 1993-11-18 |
| CA2095796A1 (en) | 1993-11-12 |
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