JPH06302016A - Optical disc substrate manufacturing method - Google Patents
Optical disc substrate manufacturing methodInfo
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- JPH06302016A JPH06302016A JP5093389A JP9338993A JPH06302016A JP H06302016 A JPH06302016 A JP H06302016A JP 5093389 A JP5093389 A JP 5093389A JP 9338993 A JP9338993 A JP 9338993A JP H06302016 A JPH06302016 A JP H06302016A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、光ディスクスタンパー
を製造する光ディスク基板の製造方法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical disk substrate manufacturing method for manufacturing an optical disk stamper.
【0002】[0002]
【従来の技術】例えば、光ディスクや光磁気ディスク等
を2P法によって製造するに際して用いられる光ディス
クスタンパーを製造するには、以下の手順に従って行わ
れる。先ず、図4のフローチャートに示すように、ステ
ップST101で原盤となるガラス基板を精密洗浄す
る。2. Description of the Related Art For example, an optical disk stamper used for manufacturing an optical disk, a magneto-optical disk or the like by the 2P method is manufactured according to the following procedure. First, as shown in the flowchart of FIG. 4, in step ST101, the glass substrate to be the master is precisely cleaned.
【0003】次に、ステップST102でガラス基板を
ベークする。続いて、ステップST103でガラス基板
の一主面にレジストを塗布する。Next, in step ST102, the glass substrate is baked. Subsequently, in step ST103, a resist is applied to one main surface of the glass substrate.
【0004】そして、かかるガラス基板をステップST
104でプリベークした後、ステップST105で信号
情報をレーザーカッティングする。次に、ステップST
106で現像する。この結果、プリフォーマットデータ
パターンに応じた部分のレジストが除去されることにな
る。Then, the glass substrate is subjected to step ST.
After prebaking in 104, the signal information is laser-cut in step ST105. Next, step ST
Develop at 106. As a result, the resist in the portion corresponding to the preformatted data pattern is removed.
【0005】次いで、ステップST107で100℃,
60分にてポストベークを行う。しかる後、ステップS
T108で無電解メッキを行い、続いてステップST1
09で電解メッキを施す。次に、ステップST110で
ガラス基板の裏面を研磨した後、ガラス基板からスタン
パーを剥離する。Then, in step ST107, 100 ° C.
Post bake at 60 minutes. After that, step S
Electroless plating is performed at T108, and then step ST1
Electroplating is performed at 09. Next, after polishing the back surface of the glass substrate in step ST110, the stamper is peeled off from the glass substrate.
【0006】次に、ステップST111でスタンパーに
付着したレジストを除去する。この結果、ステップST
112でスタンパーが作製される。Next, in step ST111, the resist attached to the stamper is removed. As a result, step ST
A stamper is made at 112.
【0007】なお、ステップST113でガラス基板を
再生するために、ステップST114でNiを除去す
る。そして、ステップST115でアルカリ処理した
後、ステップST116でポリッシングしてガラス基板
を再生する。再生したガラス基板は、ステップST10
1に戻り、前述の工程を順次繰り返して再度スタンパー
の作製に供される。Incidentally, in order to regenerate the glass substrate in step ST113, Ni is removed in step ST114. Then, after alkali treatment in step ST115, polishing is performed in step ST116 to regenerate the glass substrate. Reclaimed glass substrate, step ST10
Returning to step 1, the above steps are sequentially repeated and the stamper is manufactured again.
【0008】[0008]
【発明が解決しようとする課題】ところで、現状の工程
では、ガラス基板とレジストとの密着力が不足している
ため、カッティング済のガラス基板(レジスト原盤)か
らスタンパーを剥離する際に、レジスト層が破壊され、
スタンパーに付着するという不都合がある。したがっ
て、剥離後にスタンパーに付着したレジストをアセトン
等で溶かす工程が必要となる。By the way, in the present process, since the adhesion between the glass substrate and the resist is insufficient, the resist layer is removed when the stamper is peeled from the cut glass substrate (resist master). Was destroyed,
There is a disadvantage that it adheres to the stamper. Therefore, a step of dissolving the resist attached to the stamper with acetone or the like after peeling is required.
【0009】このように、上述の製造方法では、1枚の
ガラス基板から1枚のスタンパーしか製造することがで
きず、スタンパーを量産する上で極めて不利であり、ま
た精密洗浄から現像までの工程(ステップST101〜
ステップST106までの工程)の工数(3日間程度)
がかかる。As described above, according to the above-described manufacturing method, only one stamper can be manufactured from one glass substrate, which is extremely disadvantageous in mass production of the stamper, and the steps from precision cleaning to development. (Step ST101-
Man-hours (processes up to step ST106) (about 3 days)
Takes.
【0010】そこで本発明は、かかる従来の実情に鑑み
て提案されたものであり、1枚のマスター基板から同一
特性のスタンパーを複数枚製造可能となす高品質且つ生
産性に優れた光ディスク基板の製造方法を提供すること
を目的とする。Therefore, the present invention has been proposed in view of the above conventional circumstances, and provides an optical disk substrate of high quality and excellent productivity that allows a plurality of stampers having the same characteristics to be manufactured from one master substrate. It is intended to provide a manufacturing method.
【0011】[0011]
【課題を解決するための手段】上述の目的を達成するた
めに、本発明は、予め信号情報をレーザーカッティング
により記録してなるガラス基板をマスター基板とし、こ
のマスター基板から転写により光ディスクスタンパーを
製造する光ディスク基板の製造方法において、上記マス
ター基板は、レーザーカッティング・現像処理後、紫外
線照射及びベーキング処理が施されていることを特徴と
するものである。In order to achieve the above object, the present invention uses a glass substrate on which signal information is recorded by laser cutting in advance as a master substrate, and an optical disk stamper is manufactured by transferring from the master substrate. In the method for manufacturing an optical disc substrate described above, the master substrate is subjected to ultraviolet irradiation and baking treatment after laser cutting and developing treatment.
【0012】[0012]
【作用】本発明においては、レーザーカッティング・現
像処理が施されたマスター基板を、紫外線照射するとフ
ォトレジストが重合し、高分子化する。続いて、これを
ベーキング処理すると、ガラスとレジストとの密着力が
高まる。したがって、その後にマスター基板からスタン
パーを剥離しても、スタンパーにレジストが付着するよ
うなことがなく、何度でもマスター基板の再利用が図ら
れる。In the present invention, when the master substrate subjected to the laser cutting / developing treatment is irradiated with ultraviolet rays, the photoresist is polymerized and polymerized. Subsequently, when this is baked, the adhesion between the glass and the resist is enhanced. Therefore, even if the stamper is subsequently peeled off from the master substrate, the resist does not adhere to the stamper, and the master substrate can be reused many times.
【0013】[0013]
【実施例】以下、本発明を適用した具体的な実施例につ
いて図面を参照しながら詳細に説明する。本実施例で
は、光ディスク基板の製造工程を図1に示すフローチャ
ートに沿って説明する。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Specific embodiments to which the present invention is applied will be described in detail below with reference to the drawings. In this embodiment, a manufacturing process of an optical disk substrate will be described with reference to the flowchart shown in FIG.
【0014】光ディスクスタンパーとなる光ディスク基
板を製造するには、先ず、ステップST1で円盤状をな
すガラス基板(直径220mm)を精密洗浄する。具体
的には、シラン処理をした後に、IPA乾燥を行う。次
に、ステップST2で120℃,120分の条件の下に
ガラスベークをする。In order to manufacture an optical disk substrate to be an optical disk stamper, first, in step ST1, a disk-shaped glass substrate (diameter 220 mm) is precisely cleaned. Specifically, IPA drying is performed after the silane treatment. Next, in step ST2, glass baking is performed under the conditions of 120 ° C. and 120 minutes.
【0015】次いで、ステップST3でガラス基板の一
主面にレジストを塗布する。レジストを塗布するに際し
ては、後述の工程で行う紫外線照射後のベーキングが2
00℃とかなりハードなために、フォトレジストの膜べ
り量を計算に入れ、レジストは少し厚めに塗布する。こ
れまでの手法では、103±1nmであるが、本実施例
では108±1nm程度にする。Next, in step ST3, a resist is applied to one main surface of the glass substrate. When applying the resist, baking after UV irradiation, which is performed in the process described below, is required.
Since it is quite hard at 00 ° C, the film thickness of the photoresist is taken into account and the resist is applied a little thicker. In the method so far, it is 103 ± 1 nm, but in this embodiment, it is about 108 ± 1 nm.
【0016】次に、ステップST4でレジストが形成さ
れたガラス基板に対して60℃,60分の条件の下にプ
リベークを行う。しかる後、ステップST5で信号情報
をレーザーカッティングする。次に、ステップST6で
現像する。すると、プリフォーマットデータパターンに
応じた部分のレジストが除去されることになる。Next, the glass substrate on which the resist has been formed in step ST4 is prebaked under the conditions of 60 ° C. and 60 minutes. Then, in step ST5, the signal information is laser-cut. Next, in step ST6, development is performed. Then, the resist in the portion corresponding to the preformatted data pattern is removed.
【0017】かかる現像が終了した後、ステップST7
で残存したレジストに対して紫外線(UV)をN2 中で
約30秒間照射する。紫外線を照射するに際しては、図
2に示すように、矢印Xで示す左右方向に±25mm移
動可能となされたステージ1(400×400mm)上
に、現像後のガラス基板2を載置し、このガラス基板2
と相対向して所定距離隔てて設けられる光源3から、紫
外線を当該ガラス基板2上のレジストに対して照射す
る。After the development is completed, step ST7
Ultraviolet rays (UV) are radiated in N 2 for about 30 seconds on the resist remaining in step 2 . When irradiating with ultraviolet rays, as shown in FIG. 2, the glass substrate 2 after development is mounted on the stage 1 (400 × 400 mm) which is movable ± 25 mm in the left-right direction indicated by the arrow X. Glass substrate 2
The resist on the glass substrate 2 is irradiated with ultraviolet rays from a light source 3 provided facing each other with a predetermined distance.
【0018】光源3には、185,254nmの短波長
の100Wの低圧直管型水銀灯が7つ用いられる。例え
ば、この装置において、ガラス基板2の厚みを10mm
とし、そのガラス基板2のレジストが形成される上面と
光源3との対向距離を15mmとしたときの光強度は、
7〜8mW/cm2 となる。このときの紫外線の照射量
は、約30秒の照射で210〜240mJ/cm2 とな
る。As the light source 3, seven 100 W low pressure straight tube mercury lamps with a short wavelength of 185,254 nm are used. For example, in this device, the glass substrate 2 has a thickness of 10 mm.
And the light intensity when the facing distance between the light source 3 and the upper surface of the glass substrate 2 on which the resist is formed is 15 mm,
It becomes 7-8 mW / cm 2 . The irradiation amount of ultraviolet rays at this time becomes 210 to 240 mJ / cm 2 after irradiation for about 30 seconds.
【0019】N2 量は、例えば20〜50リットル/分
程度とされ、導入圧は約3kg/cm2 程度とされる。
なお、ステージ1には、温度上昇防止のため冷却水(5
リットル/分)が流される。The amount of N 2 is, for example, about 20 to 50 liters / minute, and the introduction pressure is about 3 kg / cm 2 .
In addition, the cooling water (5
L / min) is flushed.
【0020】レジストに紫外線が照射されると、フォト
レジストが重合し、高分子化する。この結果、次工程の
ポストベーク1でよりハードなベーキング条件が可能と
なる。When the resist is irradiated with ultraviolet rays, the photoresist is polymerized and polymerized. As a result, harder baking conditions are possible in the post-baking 1 in the next step.
【0021】続いて、ガラスとレジストとの密着力を高
めるために、ステップST8で従来手法での温度(10
0℃)の倍、つまり200℃,3時間の条件の下にベー
キングを行う。ベーキングは、N2 流量20リットル/
分,導入圧3〜5kg/cm2 の下に、紫外線照射した
ガラス基板2をガラスケースに入れ、フタをしたままベ
ーキングする。温度は、図3に示すように、約1時間か
けて200℃まで上昇させ、そのまま3時間その温度に
保ち、その後は5〜6時間かけて常温まで窒素冷却し、
そのまま保存する。なお、図3中、Aで示す破線は実際
の温度状態を示す。Then, in order to increase the adhesion between the glass and the resist, the temperature (10
Baking is performed under the condition of twice (0 ° C.), that is, 200 ° C. for 3 hours. Baking is N 2 flow 20 liters /
The UV-irradiated glass substrate 2 is placed in a glass case under an introduction pressure of 3 to 5 kg / cm 2 and baked with the lid kept. As shown in FIG. 3, the temperature is raised to 200 ° C. in about 1 hour, kept at that temperature for 3 hours, and then cooled to room temperature in 5 to 6 hours with nitrogen,
Save as is. In FIG. 3, the broken line indicated by A indicates the actual temperature state.
【0022】かかる紫外線照射とベーキング処理を施す
ことにより、ガラスとレジストとの密着力が高まる。By performing the ultraviolet irradiation and the baking treatment, the adhesion between the glass and the resist is enhanced.
【0023】次に、化学メッキを行うわけであるが、ポ
ストベークを強化しているために、レジスト表面が疎水
性になっているので、ステップST9で化学メッキ前処
理として、約1N−HClでレジスト面を親水性にす
る。続いて、親水性の触媒(キャタリスト9F)を付与
し、アクセレレーターで活性化する。Next, chemical plating is performed, but since the resist surface is hydrophobic because the post-bake is strengthened, the chemical plating pretreatment is performed with about 1N-HCl in step ST9. Make the resist surface hydrophilic. Then, a hydrophilic catalyst (catalyst 9F) is applied and activated with an accelerator.
【0024】そして、ステップST10で化学メッキを
行う。化学メッキは、次工程で電解メッキをする際に、
電極との通電を図るために行うものである。かかる無電
解メッキは、ガラス基板2の側面から裏面の一部に亘っ
て行うと共に、レジスト表面に1000Åメッキする。Then, in step ST10, chemical plating is performed. Chemical plating, when performing electrolytic plating in the next step,
This is done in order to energize the electrodes. The electroless plating is performed from the side surface of the glass substrate 2 to a part of the back surface thereof, and the resist surface is plated with 1000 liters.
【0025】次に、ステップST11でスタンパーを形
成するための無電解メッキを行う。本実施例では、無電
解メッキを300mm厚となるようにした。Next, in step ST11, electroless plating for forming a stamper is performed. In this embodiment, the electroless plating is made to have a thickness of 300 mm.
【0026】次いで、ステップST12でガラス基板2
の裏面を研磨(ラッピング)し、電極との通電のための
メッキを取り除く。そして、ステップST13でガラス
基板2からスタンパーを剥離する。このとき、レジスト
はガラス基板2に対して強固に固定されているので、ス
タンパーをガラス基板2から剥離してもスタンパーにレ
ジストが残存しない。つまり、レジストはそのままガラ
ス基板2に設けられたままとなる。Next, in step ST12, the glass substrate 2
The back surface of is polished (lapping) to remove the plating for energizing the electrodes. Then, in step ST13, the stamper is peeled off from the glass substrate 2. At this time, since the resist is firmly fixed to the glass substrate 2, even if the stamper is peeled from the glass substrate 2, the resist does not remain on the stamper. That is, the resist is still provided on the glass substrate 2.
【0027】次に、作製されたスタンパーをステップS
T14でレジスト洗浄する。レジスト洗浄は、アセトン
で行う。これで1枚目のスタンパーが完成する。なお、
スタンパーの乾燥方法については、アセトンからIPA
に置換し、高速(500rpm)で振り切り乾燥させ
る。Next, the produced stamper is subjected to step S.
The resist is washed at T14. The resist is washed with acetone. This completes the first stamper. In addition,
For the stamper drying method, use acetone to IPA
And shake off at high speed (500 rpm) to dry.
【0028】そして、ステップST15で作製されたス
タンパーの厚みをチェックした後、ステップST16で
スタンパー表面の凹凸をチェックするディフェクトチェ
ックを行う。次に、ステップST17で2Pディスクと
し、その後ステップST18で実際にドライブにかけて
信号をチェックするシグナルチェックを行う。Then, after checking the thickness of the stamper produced in step ST15, a defect check for checking the unevenness of the stamper surface is performed in step ST16. Next, in step ST17, a 2P disc is formed, and then in step ST18, a signal check is performed for actually driving the drive to check the signal.
【0029】次いで、ステップST19でトリミングす
ることによりスタンパーが完成する。Next, the stamper is completed by trimming in step ST19.
【0030】一方、スタンパーを剥離したガラス基板2
を以下の手順に従って再生する。なお、本実施例では、
レーザーカッティング・現像後のガラス基板2を、ステ
ップST20以降ガラスマスターと称する。ガラスマス
ターは、溶剤には不溶となっているので、ステップST
21でアセトン洗浄を行い、IPAスピン乾燥させる。On the other hand, the glass substrate 2 from which the stamper has been peeled off
Is reproduced according to the following procedure. In this example,
The glass substrate 2 after laser cutting and developing is referred to as a glass master after step ST20. Since the glass master is insoluble in solvents, step ST
Acetone wash at 21 and IPA spin dry.
【0031】次に、ステップST22で保護膜(クリー
ンコートS)をレジスト面に塗布する。これは、塩鉄に
よる影響(しみ等)を無くすためである。次に、ステッ
プST23でNiを除去する。これは、ガラスマスター
の端,裏面のNiを除去するために塩化第二鉄溶液中に
約1〜2時間浸す。そして、ステップST24で保護膜
を剥がし、かかる保護膜の残り等を洗浄するために、も
う一度ステップST25でIPAスピン乾燥を行う。Next, in step ST22, a protective film (clean coat S) is applied to the resist surface. This is to eliminate the effects (stains, etc.) of salt iron. Next, in step ST23, Ni is removed. It is soaked in a ferric chloride solution for about 1-2 hours to remove Ni on the edges and back of the glass master. Then, in step ST24, the protective film is peeled off, and in order to wash the rest of the protective film and the like, IPA spin drying is performed again in step ST25.
【0032】次に、ステップST26でポストベーク2
を行う。ここでは、200℃,3時間の条件の下にガラ
スマスターの再ベーキングを行う。そして最後に、ステ
ップST27で化学メッキ前処理に入るが、ガラスマス
ターは端面を一度削ってあるので、シラン(0.1%程
度)をベンコットでしみこませ、手で端面,裏面を擦
る。Next, in step ST26, post bake 2 is performed.
I do. Here, the glass master is rebaked under the conditions of 200 ° C. and 3 hours. Finally, in step ST27, pretreatment for chemical plating is started. Since the end surface of the glass master is once shaved, silane (about 0.1%) is soaked in with bencot and the end surface and the back surface are rubbed by hand.
【0033】以後、塩酸をプラスした先のステップST
9の処理を行い、化学メッキに入る。さらに、ステップ
ST11の電解メッキからステップST13のスタンパ
ーの剥離までの工程を繰り返し、2枚目のスタンパーを
作製する。作製された2枚目のスタンパーは、1枚目の
スタンパーを製造した同一のガラスマスターから転写さ
れて得られるので、同じ特性を有するという利点があ
る。After that, the above step ST to which hydrochloric acid was added
Process 9 is performed, and then chemical plating is started. Further, the process from the electroplating in step ST11 to the peeling of the stamper in step ST13 is repeated to manufacture the second stamper. The second stamper produced has the advantage that it has the same characteristics because it is obtained by being transferred from the same glass master that produced the first stamper.
【0034】以上のフローを繰り返すことにより、同一
特性を有した複数枚のスタンパーを効率良く製造するこ
とができる。つまり、ステップST1の精密洗浄からス
テップST6の現像までの工程のコスト、時間(3日間
程度かかる)等を減少させることができ、その結果スタ
ンパーのコストダウンが図れる。By repeating the above flow, it is possible to efficiently manufacture a plurality of stampers having the same characteristics. That is, it is possible to reduce the cost of the process from the precision cleaning in step ST1 to the development in step ST6, the time (which takes about 3 days), and the like, and as a result, the cost of the stamper can be reduced.
【0035】ここで実際に、直径を略64mmとなし、
楽音信号で略74分の記録を可能となす光ディスク又は
光磁気ディスクを製造するに際して用いられるスタンパ
ーを、前述のフローに従って作製した。なお、比較例と
して従来の手法によって同様のスタンパーを作製し、こ
れらスタンパーの2P評価での信号特性を調べてみた。
その結果を表1に示す。なお、表1中、P−Pはグルー
ブ又はピットの幅、RCはグルーブ又はピットの高さを
示す。Actually, the diameter is set to about 64 mm,
A stamper used for manufacturing an optical disk or a magneto-optical disk capable of recording about 74 minutes with a tone signal was manufactured according to the above-mentioned flow. As a comparative example, similar stampers were manufactured by a conventional method, and the signal characteristics of these stampers in 2P evaluation were examined.
The results are shown in Table 1. In Table 1, PP indicates the width of the groove or pit, and RC indicates the height of the groove or pit.
【0036】[0036]
【表1】 [Table 1]
【0037】この結果からわかるように、レジストの厚
さとレーザーカッティングの条件を管理することによ
り、従来品のスタンパーと同等の信号特性が得られた。
また、本発明に係るガラスマスターにより作製されたス
タンパーの1枚目と2枚目の信号特性は、いずれも略同
じ結果であり、非常に再現性が良いことが判る。また、
グルーブ形状については、SEM観察において、従来品
のものと比較しても数段に滑らかになっている。これ
は、ハードなベーキングの差と考えられる。As can be seen from these results, by controlling the resist thickness and the laser cutting conditions, the signal characteristics equivalent to those of the conventional stamper were obtained.
Further, the signal characteristics of the first sheet and the second sheet of the stamper produced by the glass master according to the present invention are substantially the same, and it can be seen that the reproducibility is very good. Also,
The groove shape is much smoother than that of the conventional product in SEM observation. This is considered a hard baking difference.
【0038】以上、本発明を適用した具体的な実施例に
ついて説明したが、本発明は上述の実施例に限定される
ことなく種々の変更が可能である。例えば、本発明の方
法は、5.25インチの光磁気ディスク、3.5インチ
の光磁気ディスク、追記型光ディスク等のあらゆる光デ
ィスクを製造するに際して用いられるスタンパーの製造
に適用することができる。The specific embodiments to which the present invention is applied have been described above, but the present invention is not limited to the above-described embodiments, and various modifications can be made. For example, the method of the present invention can be applied to manufacture of a stamper used in manufacturing all kinds of optical disks such as a 5.25-inch magneto-optical disk, a 3.5-inch magneto-optical disk, and a write-once optical disk.
【0039】[0039]
【発明の効果】以上の説明からも明らかなように、本発
明の方法によれば、レーザーカッティング・現像処理が
施されたマスター基板を紫外線照射した後、ベーキング
処理しているので、ガラスとレジストとの密着力が高ま
り、その後の工程でマスター基板からスタンパーを剥離
した際にスタンパーにレジストが付着するのが回避さ
れ、何度でもマスター基板を再利用することができる。
したがって、1枚のマスター基板から複数枚の同じ特性
を持つスタンパーを製造することができ、工程の品質保
証上もスムーズに管理することができる。As is clear from the above description, according to the method of the present invention, the master substrate which has been subjected to the laser cutting / developing treatment is irradiated with ultraviolet rays and then subjected to the baking treatment. The adhesion to the stamper is increased, the resist is prevented from adhering to the stamper when the stamper is peeled from the master substrate in the subsequent step, and the master substrate can be reused many times.
Therefore, it is possible to manufacture a plurality of stampers having the same characteristics from one master substrate, and it is possible to smoothly manage the quality assurance of the process.
【0040】また、本発明の方法によれば、スタンパー
製造工程においての精密洗浄から現像までの工程が省略
でき、生産性の大幅な向上を図ることもできる。さら
に、今まで高価であったスタンパーの価格も、本発明を
利用することにより、大幅にコストダウンを図ることが
できる。Further, according to the method of the present invention, the steps from the precision cleaning to the development in the stamper manufacturing process can be omitted, and the productivity can be greatly improved. Further, the cost of the stamper, which has been expensive until now, can be significantly reduced by using the present invention.
【図1】スタンパーを製造する工程を順次示すフローチ
ャート図である。FIG. 1 is a flow chart diagram sequentially showing steps of manufacturing a stamper.
【図2】スタンパーを製造する工程のうちレジストに紫
外線を照射する工程を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing a step of irradiating a resist with ultraviolet rays in a step of manufacturing a stamper.
【図3】スタンパーを製造する工程のうちレーザーカッ
ティング後のベーキング処理工程における処理温度と時
間を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing a processing temperature and time in a baking processing step after laser cutting in a step of manufacturing a stamper.
【図4】従来の方法によりスタンパーを製造する工程を
順次示すフローチャート図である。FIG. 4 is a flowchart sequentially showing steps of manufacturing a stamper by a conventional method.
1・・・ステージ 2・・・ガラス基板 3・・・光源 1 ... Stage 2 ... Glass substrate 3 ... Light source
Claims (1)
より記録してなるガラス基板をマスター基板とし、この
マスター基板から転写により光ディスクスタンパーを製
造する光ディスク基板の製造方法において、 上記マスター基板は、レーザーカッティング・現像処理
後、紫外線照射及びベーキング処理が施されていること
を特徴とする光ディスク基板の製造方法。1. A method of manufacturing an optical disk substrate, wherein a glass substrate on which signal information is recorded by laser cutting in advance is used as a master substrate, and an optical disk stamper is manufactured by transfer from this master substrate, wherein the master substrate is laser cutting / developing. After the treatment, an ultraviolet ray irradiation and a baking treatment are applied to the optical disc substrate manufacturing method.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP09338993A JP3428064B2 (en) | 1993-04-20 | 1993-04-20 | Manufacturing method of optical disk substrate |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP09338993A JP3428064B2 (en) | 1993-04-20 | 1993-04-20 | Manufacturing method of optical disk substrate |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
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| US6423477B1 (en) * | 1997-10-07 | 2002-07-23 | Odme International B.V. | Method of manufacturing a stamper for producing optical discs, a stamper thus obtained and an optical disc obtained by using such a stamper |
| USRE39434E1 (en) * | 1997-10-07 | 2006-12-19 | Otb Group B.V. | Method of manufacturing a stamper for producing optical discs, a stamper thus obtained and an optical disc obtained by using such a stamper |
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