JPH0631434Y2 - 実装基板テスト治具 - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 産業上の利用分野 この考案は、電子部品を実装した回路基板の導通テスト
を行なう際に用いる治具に関するものである。

従来の技術 電子部品等を実装したプリント基板等の導通テストの際
には、基板上に形成されたプリント配線パターン上の複
数のテストポイントにプローブピンの先端をそれぞれ当
接させる必要がある。そのため従来においては、第５図
に示すように、アクリル板等の絶縁性の基材１に、検査
する各基板のプリント配線パターンに合せて複数のプロ
ーブピン２をそれぞれ所定の位置に垂直に植設した専用
のピンボード３，３′を作製して使用していた。

発明が解決しようとする課題 しかし、前述の各基板専用のピンボードを使用する従来
の検査方法では、検査する基板の種類と同じ数だけそれ
ぞれ専用のピンボード３，３′が必要であるとともに、
計測機４側にも測定ボード５への信号切替えを行なうス
キャナリレー６がピンボード３と同数必要となり、設備
が大型化し、また設備費も高くなるという問題があっ
た。

また、実装基板の検査ラインが多品種混合ラインの場合
には、基板の識別および分配のために設備が複雑かつ大
型となるという問題があった。

また、特開昭５９−１７１８７３号公報には、基板の種
類ごとに用意されたマスク板により必要なプローブピン
のみを導通させる検査装置用アダプタについて記載され
ている。しかし、この検査装置用アダプタの場合には、
プローブピンの接点の位置が固定され、マスク板を交換
してもプローブピンの間隔や配列方向等を変更できない
ため、プローブピンの配列とテストポイントの間隔や位
置が一致している基板の場合にしか検査できないという
不都合があった。また特開昭６２−１３４５７８号公報
には、基板の種類ごとにピンボードを交換する検査装置
について記載されている。これは各基板に合わせてプロ
ーブピンを設けたピンボードの交換を容易にするととも
に、リード線の誤接続を防止したもので、やはり各基板
専用のピンボードが必要とされるとともに、ピンボード
の交換に伴い電気的な接続替えが必要な点では同じであ
った。

この考案は上記した技術的背景の下になされたもので、
プローブピンの位置および間隔が任意に設定でき、複数
種類の実装基板を検査可能な実装基板テスト治具を提供
することを目的としている。

課題を解決するための手段 上記課題を解決するための手段としてこの考案の実装基
板テスト治具は、可撓性を有する支柱の先端にコンタク
ト部材を伸長方向に弾性的に付勢して縮退可能に取付け
た多数のプローブピンを、所定の間隔でほぼ垂直に植設
したピンボードと、このピンボードに植設された多数の
プローブピンの全てにそれぞれ対応する位置に下端を開
口しかつプローブピンの長さより若干短く形成したガイ
ド孔を有し、前記各プローブピンを前記ガイド孔に抜き
差しして、ピンボードに着脱可能としたガイド部材とを
備え、このガイド部材の前記ガイド孔のうち特定の複数
のガイド孔を上面側に貫通させ、他のガイド孔を非貫通
状態に形成するとともに、上面側へ貫通させた前記ガイ
ド孔のうち１個以上を曲線状に形成してその上端の開口
位置を下端の開口位置の垂直方向上方から偏位させてあ
ることを特徴としている。

作用 上記のように構成することにより、ガイド部材には、貫
通させた各ガイド孔の上端の開口位置が、被検査体であ
る基板のテストポイントの位置とそれぞれ対応するよう
に必要に応じてガイド孔を曲線状に形成してある。した
がって、ピンボードに植設された全てのプローブピンを
ガイド部材のそれぞれ対応するガイド孔に挿入すると、
非貫通状態のガイド孔に挿入されたプローブピンは、各
ガイド孔の上底部に先端が当接し、先端のコンタクト部
材が押し縮められる。また、貫通したガイド孔に挿入さ
れたプローブピンは、その上端開口から先端のコンタク
ト部材が延出する。また、貫通したガイド孔が曲線状に
穿設されている場合には、プローブピンの支柱部が可撓
性を有するため、ガイド孔の曲り形状に合わせて湾曲し
ながら案内され、ガイド部材の上面の所定の位置に形成
された上端の開口からコンタクト部材を延出する。そし
て、延出した各コンタクト部材の先端は、上方に配設さ
れた基板の各テストポイントの位置に正確に位置合わせ
されるとともに、各テストポイントに弾性的に当接して
電気的に接続され、導通して実装基板のテストが行われ
る。

実施例 以下、この考案の一実施例を第１図ないし第４図に基づ
いて説明する。

電子部品を実装したプリント基板について、実装されて
いる電子部品の導通検査等を行なうテスト治具１１は、
ピンボード１２とガイド部材１３とから構成されてい
る。

ピンボード１２は、例えばガラス繊維強化エポキシ樹脂
製の絶縁ボード１２ａに、５mmピッチの格子の各交点に
それぞれ穴を明け、この穴に導通テストを行なう際の接
触端子となるプローブピン１４をそれぞれ挿通して全て
同じ高さとなるように植設したもので、このプローブピ
ン１４は、検査を行なうプリント基板Ｗのプリント配線
が施された部分全体をカバーするように、対応する範囲
に等間隔に多数設けられている。このプローブピン１４
は、弾性を有する鋼製の支柱部１４ａを絶縁ボード１２
ａにそれぞれ垂直に貫通させてその下端側を固定されて
おり、各プローブピン１４の絶縁ボード１２ａの上面側
に延出された部分の先端（第３図において上端）に円筒
状の摺動鞘１４ｂが設けられ、この摺動鞘１４ｂ内には
金メッキを施したコンタクト部材１４ｃが、摺動鞘１４
ｂ内に縮設されたコイルスプリング１４ｄの弾性力によ
って、伸長方向（第３図において上方）に付勢されると
ともに、縮退可能に嵌挿されている。また各プローブピ
ン１４の絶縁ボード１２ａの下面側に延出された基端側
にはリード線１５がそれぞれ接続されており、各リード
線１５は収束されてコネクタ１６を介して中継ケーブル
１７に接続されるとともに、さらに中継ケーブル１７を
経由し、コネクタ１８を介して計測機１９のスキャナリ
レー１９ａを通り測定ボード１９ｂに接続されている
（第４図参照）。

一方、前記ガイド部材１３は、フェノール樹脂等の絶縁
性を有する樹脂製の直方体のブロックで、その底面はピ
ンボード１２のプローブピン１４が植設されている部分
の面積よりひと回り大きく、またその高さは、先端にコ
ンタクト部材１４ｃを備えたプローブピン１４の絶縁ボ
ード１２ａの上面側に延出された部分の長さより若干短
い高さに形成されている。また、このガイド部材１３の
下面には、ピンボード１２に植設された各プローブピン
１４とそれぞれ対応するように、５mmピッチの格子の各
交点にそれぞれ穴を明けて、プローブピン１４の本数と
同数形成されたガイド孔２０の下端が開口しており、ま
た上面の四隅には、被検査基板であるプリント基板Ｗを
所定の位置に水平に保持する位置決めホルダ２１がそれ
ぞれ設けられている。

そして、ガイド部材１３の下面に開口する多数のガイド
孔２０には上面側に貫通した貫通ガイド孔２０ａと、上
面側に貫通していない非貫通ガイド孔２０ｂとがあり、
貫通ガイド孔２０ａは、検査するプリント基板Ｗの種類
ごとに、それぞれのテストポイント、すなわち各プリン
ト基板Ｗに搭載されている電子部品Ｅ_１，Ｅ_２…の各接
続端子の位置と対応する位置にその上端がそれぞれ開口
するように、必要に応じて緩い曲線状に形成されてい
る。また、この貫通ガイド孔２０ａ以外の貫通ガイド孔
２０は全て非貫通ガイド孔２０ｂで、この非貫通ガイド
孔２０ｂはそれぞれほぼ垂直に形成されるとともに、プ
ローブピン１４の絶縁ボード１２ａの上面から摺動鞘１
４ｂの上端までの長さより若干深く形成されている。

このように、ガイド部材１３は、多数のガイド孔２０の
うちの貫通ガイド孔２０ａを、各プリント基板Ｗの種類
ごとに、それぞれテストポイントと対向する位置に上端
が開口するように形成されて、各プリント基板Ｗの種類
ごとにそれぞれ専用のガイド部材１３として製作されて
いる。

したがって、ピンボード１２に多数植設されたプローブ
ピン１４の全てを、ガイド部材１３の各ガイド孔２０
（貫通ガイド孔２０ａおよび非貫通ガイド孔２０ｂ）内
にそれぞれ挿入すると、各プローブピン１４は、各ガイ
ド孔２０の内周面にそれぞれ案内されながら深く挿入さ
れ、貫通ガイド孔２０ａに挿入されたプローブピン１４
のコンタクト部材１４ｃのみが、自動的にテストポイン
トと対向する位置に突出するようになっている。そし
て、プリント基板Ｗの各テストポイントの間隔および配
列方向が、ピンボード１２に植設されたプローブピンの
配列状態と異なっている場合には、曲線状に形成されて
いる貫通ガイド孔２０ａの内周面に案内されて、プロー
ブピン１４の支柱部１４ａがその弾性範囲内で撓んで湾
曲し、それぞれのテストポイントと対峙する位置に先端
のコンタクト部材１４ｃが所定の位置に自動的に位置合
わせされるようになっている。また、貫通ガイド孔２０
ａに案内されて湾曲したプローブピン１４は、ガイド部
材１３を外すと弾性により直線状に戻るようになってい
る。

次に、上記のように構成されるこの実施例の作用を説明
する。

実装されたプリント基板Ｗのテストを行なう場合には、
先ず、テストするプリント基板Ｗ上に搭載されている電
子部品Ｅ_１，Ｅ_２……の種類および搭載位置に合せて製
作されたそのプリント基板Ｗ専用のガイド部材１３を選
びだし、このガイド部材１３をピンボード１２上にセッ
トする。

ガイド部材１３のセットは、ガイド部材１３に形成され
た多数のガイド孔２０に、ピンボード１２に植設された
各プローブピン１４をそれぞれ下面側から挿入する。

そして、多数のガイド孔２０のうちの大半を占める非貫
通ガイド孔２０ｂに挿入された各プローブピン１４は、
それぞれの先端のコンタクト部材１４ｃが孔の底に当接
するとともに、さらに深く挿入されてコイルスプリング
１４ｄが圧縮されてコンタクト部材１４ｃが短縮方向に
摺動して摺動鞘１４ｂ内に収納される。一方、ガイド孔
２０のうちの残りの貫通ガイド孔２０ａにそれぞれ挿入
された各プローブピン１４は、曲線状あるいは直線状に
形成された貫通ガイド孔２０ａの内周面に案内されて、
プリント基板Ｗのテストポイントに対向する位置の開口
まで自動的に導かれ、この上端の開口からコンタクト部
材１４ｃの先端側が突出する。

次に、ガイド部材１３の上部の四隅に設けられた位置決
めホルダ２１上に、テストを行なうプリント基板Ｗを載
置すると、ガイド部材１３の上面から突出している各プ
ローブピン１４のコンタクト部材１４ｃの先端が、プリ
ント基板Ｗのテストポイント、すなわちプリント基板Ｗ
に搭載されている各電子部品Ｅ_１，Ｅ_２……の基板下面
に延出してプリント配線にハンダ付けされた接続端子の
位置に対峙するとともに、各コンタクト部材１４ｃを、
コイルスプリング１４ｄの弾性力に抗して下方に押圧す
る。そのため、各貫通ガイド孔２０ａに挿入されたプロ
ーブピン１４だけが、コンタクト部材１４ｃの先端をそ
れぞれプリント基板Ｗの下面のテストポイントに押し付
けられて電気的に接続される。

以上の準備作業を完了した後、計測機１９のスイッチを
入れると、スキャナリレーによって、中継ケーブル１
７、コネクタ１６および各リード線１５を介してテスト
ポイントに接続されたプローブピン１４、すなわち導通
しているプローブピン１４の位置が検出され、その検出
されたプローブピン１４の位置が測定ボード１９ｂ上に
表示され、電子部品Ｅ_１，Ｅ_２……の接続不良等の検査
が行なわれる。

また、検査を行なうプリント基板Ｗの種類を変更する場
合には、新たな種類のプリント基板Ｗに合せて製作され
ているそのプリント基板Ｗ専用のガイド部材１３を選択
し、交換してピンボード１２上にセットして行なう。

したがって、このテスト治具１１の各ガイド部材１３
は、樹脂ブロックにガイド孔２０を形成した単純な構造
のため壊れにくく、従来のテスト治具のようにプローブ
ピンを植設したピンボードを交換する際にプローブピン
の折損等の事故が発生することがない。またプリント基
板Ｗの種類を変更する場合には、ガイド部材１３を別の
専用ガイド部材１３に交換するだけでよく、しかも、電
気的な接続替えを伴わないため、配線の誤接続が発生す
る虞れがない。

考案の効果 以上説明したようにこの考案の実装基板テスト治具は、
先端にコンタクト部材を伸長方向に付勢して取付けたプ
ローブピンを多数植設したピンボードと、このピンボー
ドの全プローブピンをそれぞれ挿入するとともに、テス
トポイントに対応する位置のプローブピンのみが上面側
の所定の位置に延出可能となるように形成したガイド孔
を備え、前記ピンボードに着脱可能に取付けられるガイ
ド部材とを有し、各ガイド孔にプローブピンを挿入する
ことにより特定のプローブピンの先端のコンタクト部材
の位置を任意の位置に自動的に案内できるので、テスト
ポイントの間隔および配列方向等と、ピンボードに植設
されたプローブピンの配列状態とが異なっていてもテス
トが可能となる。

また、テストを行なう実装基板の種類ごとにそれぞれ専
用のガイド部材を準備することにより、単一のピンボー
ドおよび単一のスキャナリレーでテストでき、設備の汎
用化が図れるとともに、設備の小型化・単純化が図れる
等の効果を有する。

【図面の簡単な説明】

第１図ないし第４図はこの考案の一実施例を示すもの
で、第１図はテスト治具の断面正面図、第２図はテスト
治具の分解斜視図、第３図はプローブピンの一部断面拡
大図、第４図は実装基板テスト装置の構成を示す図、第
５図は従来の実装基板テスト装置の構成を示す図であ
る。 １１……テスト治具、１２……ピンボード、１３……ガ
イド部材、１４……プローブピン、１４ａ……支柱部、
１４ｃ……コンタクト部材、１４ｄ……コイルスプリン
グ、１５……リード線、１６……コネクタ、１９……計
測機、２０……ガイド孔、２０ａ……貫通ガイド孔、２
０ｂ……非貫通ガイド孔、Ｗ……プリント基板、Ｅ_１，
Ｅ_２……電子部品。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】可撓性を有する支柱の先端にコンタクト部
   材を伸長方向に弾性的に付勢して縮退可能に取付けた多
   数のプローブピンを、所定の間隔でほぼ垂直に植設した
   ピンボートと、このピンボードに植設された多数のプロ
   ーブピンの全てにそれぞれ対応する位置に下端を開口し
   かつプローブピンの長さより若干短く形成したガイド孔
   を有し、前記各プローブピンを前記ガイド孔に抜き差し
   してピンボードに着脱可能としたガイド部材とを備え、
   このガイド部材の前記ガイド孔のうち特定の複数のガイ
   ド孔を上面側に貫通させ、他のガイド孔を非貫通状態に
   形成するとともに、上面側へ貫通させた前記ガイド孔の
   うち１個以上を曲線状に形成してその上端の開口位置を
   下端の開口位置の垂直方向上方から偏位させてあること
   を特徴とする実装基板テスト治具。