JPH0632363B2 - 銅若しくは銅ベース合金の導体とその菫青石セラミック基板との同時焼結方法 - Google Patents
銅若しくは銅ベース合金の導体とその菫青石セラミック基板との同時焼結方法Info
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Description
【発明の詳細な説明】 発明の技術分野 本発明は、優れた導電体である銅若しくは銅ベース合金
と、低温(1100℃以下)で焼結した菫青石(cordierit
e)タイプの絶縁セラミック基板とを同時焼結(co-sint
ering)する方法に関する。本発明は更に特定すると、
これらに限定されるわけではないが、厚膜及び多層配列
と称される方法を使用する、ハイブリッド電子回路、相
互接続回路若しくはボックスの製造に適用される。
と、低温(1100℃以下)で焼結した菫青石(cordierit
e)タイプの絶縁セラミック基板とを同時焼結(co-sint
ering)する方法に関する。本発明は更に特定すると、
これらに限定されるわけではないが、厚膜及び多層配列
と称される方法を使用する、ハイブリッド電子回路、相
互接続回路若しくはボックスの製造に適用される。
従来技術の説明 例えばアルミナの絶縁セラミック基板上にある電子主回
路は、そのセラミック基板に導体部品をアルミナ基板を
濡らす液相共晶Cu-Cu2O(融点1065℃)の生成から生じ
る結合によって定着させ、恐らくスピネル相CuAl2O4若
しくは化合物CuAlO2を形成させることによって製造され
ることが公知である(M.WITIMER,C.R.BOER,P.GUDMUNDSON
及びJ.CARISON,J.によるAm.Ceram.Soc.65(3)149-153,19
82)。
路は、そのセラミック基板に導体部品をアルミナ基板を
濡らす液相共晶Cu-Cu2O(融点1065℃)の生成から生じ
る結合によって定着させ、恐らくスピネル相CuAl2O4若
しくは化合物CuAlO2を形成させることによって製造され
ることが公知である(M.WITIMER,C.R.BOER,P.GUDMUNDSON
及びJ.CARISON,J.によるAm.Ceram.Soc.65(3)149-153,19
82)。
絶縁基板と集積回路及び多層回路のための支持体とを製
造するために、菫青石ベースのセラミックから成る基板
を使用することも公知である。このようなセラミック
は、菫青石に近い組成の粉末を1350℃程度の温度でP2O5
のような焼結剤を加えて焼結させることによって製造さ
れる。このようなセラミックは、例えばK.WATANABE及び
E.GIESSによってAm.Ceram.Soc.68(4),C-102,C-103,1985
に記述されている。菫青石の基本式は2MgO,2Al2O3,5Si
O2であることを記しておく。
造するために、菫青石ベースのセラミックから成る基板
を使用することも公知である。このようなセラミック
は、菫青石に近い組成の粉末を1350℃程度の温度でP2O5
のような焼結剤を加えて焼結させることによって製造さ
れる。このようなセラミックは、例えばK.WATANABE及び
E.GIESSによってAm.Ceram.Soc.68(4),C-102,C-103,1985
に記述されている。菫青石の基本式は2MgO,2Al2O3,5Si
O2であることを記しておく。
しかし、1350℃の温度ではハイブリット回路に通常使用
される導体材料(銅及び銀)は融解し、耐熱金属を使用
するか又は以下の2段階の操作が必要である。即ち、セ
ラミック基板を高温で焼結し、次いで冷却してから、例
えば液体媒質中に微細金属粉末を分散させることによっ
て製造されるインキの形態で金属導体を塗布し、約1065
〜1070℃で新たに焼付けして、銅−アルミナ結合を生成
する化合物Cu/Cu2O/Al2O3を形成させる。この種の方法
は特に米国特許第3 994 430号(General Electric Comp
any)に記述されており、ここでは基板はアルミナのよ
うな事前に焼結してあるセラミックであり(第25図、第
5列)、導体は、第二段階で銅−酸化銅共晶の形成によ
って銅をアルミナに結合させて形成することができる。
この方法の半導体パワーボックスへの適用が米国特許第
4 129 243号(同上名義)に記述されている。
される導体材料(銅及び銀)は融解し、耐熱金属を使用
するか又は以下の2段階の操作が必要である。即ち、セ
ラミック基板を高温で焼結し、次いで冷却してから、例
えば液体媒質中に微細金属粉末を分散させることによっ
て製造されるインキの形態で金属導体を塗布し、約1065
〜1070℃で新たに焼付けして、銅−アルミナ結合を生成
する化合物Cu/Cu2O/Al2O3を形成させる。この種の方法
は特に米国特許第3 994 430号(General Electric Comp
any)に記述されており、ここでは基板はアルミナのよ
うな事前に焼結してあるセラミックであり(第25図、第
5列)、導体は、第二段階で銅−酸化銅共晶の形成によ
って銅をアルミナに結合させて形成することができる。
この方法の半導体パワーボックスへの適用が米国特許第
4 129 243号(同上名義)に記述されている。
米国特許第4 413 061号(I.B.M Corp.)では、多孔質で
はないが1000℃以下の温度で焼結することができる「ガ
ラス質セラミック」から成るキャリヤを多層回路のため
に使用することを提示している。「ガラス質セラミッ
ク」はβ−ゆう輝石(spodumene)及び菫青石αから選
択され、そのガラス化は、P2O5、ZrO2、TiO2、SnO2、Li
O2及びB2O3といった添加物少量で促進される。しかし、
焼結操作の過程でこれらの添加物は、セラミック材料の
電気的、熱的及び機械的特性の劣化の一部原因となる相
を引き起こす。
はないが1000℃以下の温度で焼結することができる「ガ
ラス質セラミック」から成るキャリヤを多層回路のため
に使用することを提示している。「ガラス質セラミッ
ク」はβ−ゆう輝石(spodumene)及び菫青石αから選
択され、そのガラス化は、P2O5、ZrO2、TiO2、SnO2、Li
O2及びB2O3といった添加物少量で促進される。しかし、
焼結操作の過程でこれらの添加物は、セラミック材料の
電気的、熱的及び機械的特性の劣化の一部原因となる相
を引き起こす。
本発明は、この種のセラミックの電気的及び熱的特性を
良好に維持する菫青石の基板を提供することで上記欠点
を排除することを目的としており、導体が外側表面上に
設置されている場合も導体が2つの絶縁層間に設置され
ている場合(多層配列の場合)も、導体をそのセラミッ
ク支持体と一緒に同時焼結することができる。
良好に維持する菫青石の基板を提供することで上記欠点
を排除することを目的としており、導体が外側表面上に
設置されている場合も導体が2つの絶縁層間に設置され
ている場合(多層配列の場合)も、導体をそのセラミッ
ク支持体と一緒に同時焼結することができる。
発明の要旨 本発明の要旨は、銅若しくはその合金(例えば銅−ニッ
ケル)から選択される非貴金属導体と、前記金属若しく
は合金の融点(即ちCuであれば1083℃)より低い温度で
焼結することができるセラミックの基板とを同時焼結す
る方法である。導体は、外側表面上に設置される場合に
は支持体に固定されねばならず、即ちこの場合には金属
−セラミック結合がなければならない。しかし、特に高
周波用途のために導体が内部にあるときはこのような結
合は避けるのが有利であろう。本発明は、かかる導体の
パターンを好適に達成できる。
ケル)から選択される非貴金属導体と、前記金属若しく
は合金の融点(即ちCuであれば1083℃)より低い温度で
焼結することができるセラミックの基板とを同時焼結す
る方法である。導体は、外側表面上に設置される場合に
は支持体に固定されねばならず、即ちこの場合には金属
−セラミック結合がなければならない。しかし、特に高
周波用途のために導体が内部にあるときはこのような結
合は避けるのが有利であろう。本発明は、かかる導体の
パターンを好適に達成できる。
本発明を実施するために選択されるセラミック材料の基
板は、その基本組成が(2MgO,2Al2O3,5SiO2)である「菫
青石」タイプであり、焼結添加剤若しくは補助剤がなく
とも950℃に等しいか若しくはそれより低い温度で焼結
し得る2MgO,2Al2O3,5SiO2(純菫青石)と3Al2O3,2SiO2
(ムライト)との中間の使用可能な組成に特別の方法で
製造される。
板は、その基本組成が(2MgO,2Al2O3,5SiO2)である「菫
青石」タイプであり、焼結添加剤若しくは補助剤がなく
とも950℃に等しいか若しくはそれより低い温度で焼結
し得る2MgO,2Al2O3,5SiO2(純菫青石)と3Al2O3,2SiO2
(ムライト)との中間の使用可能な組成に特別の方法で
製造される。
金属若しくは合金、特に銅は、微粉末を液体媒質中に分
散して形成されるインキの形態で塗布される。低温(<
950℃)で焼結することができる菫青石は、例えばCNRS
名義で1985年7月16日出願の仏国特許出願第2 585 015
号明細書に記述された方法によって製造され、相互接続
基板としてのその使用は次いでXERAM名義で上記と同日
出願の仏国特許出願第2 585 181号明細書に記述されて
いるが、この明細書の製品は外部導体を全く持たない。
散して形成されるインキの形態で塗布される。低温(<
950℃)で焼結することができる菫青石は、例えばCNRS
名義で1985年7月16日出願の仏国特許出願第2 585 015
号明細書に記述された方法によって製造され、相互接続
基板としてのその使用は次いでXERAM名義で上記と同日
出願の仏国特許出願第2 585 181号明細書に記述されて
いるが、この明細書の製品は外部導体を全く持たない。
発明の説明 本発明は、仏国特許出願第2 585 015号明細書に従って
製造される粉末又はそれと等価の以下の特性を有する粉
末を使用することによって実現される: −粒径0.5〜10マイクロメートル、 −非晶質ガラス型構造、 −50m2/g以上の比表面積、 −非晶質相において800〜950℃で焼結し、1050℃で15分
後には少なくとも95%の密度増加を示し、その結果少な
くとも1つの結晶相ができる、 −組成2Al2O3,2MgO,5SiO2(純菫青石)及び、第1図の
三成分図Al2O3,MgO,SiO2における斜線領域に対応する菫
青石と3Al2O3,2SiO2(ムライト)との中間の組成。
製造される粉末又はそれと等価の以下の特性を有する粉
末を使用することによって実現される: −粒径0.5〜10マイクロメートル、 −非晶質ガラス型構造、 −50m2/g以上の比表面積、 −非晶質相において800〜950℃で焼結し、1050℃で15分
後には少なくとも95%の密度増加を示し、その結果少な
くとも1つの結晶相ができる、 −組成2Al2O3,2MgO,5SiO2(純菫青石)及び、第1図の
三成分図Al2O3,MgO,SiO2における斜線領域に対応する菫
青石と3Al2O3,2SiO2(ムライト)との中間の組成。
基板を成形する操作は2つの方法で実施することができ
る。
る。
−150MPa程度(50〜400MPa)の圧力で粉末を圧縮するこ
とによって形成する方法、及び −少なくとも35重量%の鉱物粉末を含有していて、残り
が、通常この方法に使用される種類の溶媒、結合剤、可
塑剤及び分散剤から成る、有機媒質若しくは水性媒質中
の前記粉末のスリップをキャスティングするために使用
される「ドクターブレード」タイプの方法であって、溶
剤若しくは水を蒸発させた後に、厚さ50〜300μmのス
トリップを得る方法。
とによって形成する方法、及び −少なくとも35重量%の鉱物粉末を含有していて、残り
が、通常この方法に使用される種類の溶媒、結合剤、可
塑剤及び分散剤から成る、有機媒質若しくは水性媒質中
の前記粉末のスリップをキャスティングするために使用
される「ドクターブレード」タイプの方法であって、溶
剤若しくは水を蒸発させた後に、厚さ50〜300μmのス
トリップを得る方法。
前記方法は以下の条件下で実施されることに留意された
い。即ち、スリップは、一方の側部が、懸濁液が流出す
る調整された開口を形成するように鉛直に変位すること
ができる槽に導入する。槽は、ストリップ状の磨かれた
金属、又はポリマーフィルム(例えばナイロン若しくは
ポリエチレン)、又はガラスプレート上に設置する。槽
はその支持体上を滑動するが、この運動は、槽を変位さ
せるか又は支持体を運動させるかによって生成され得
る。開口を調節することによってストリップを生成する
ことができ、その乾燥後の厚さは20〜300μmである。
い。即ち、スリップは、一方の側部が、懸濁液が流出す
る調整された開口を形成するように鉛直に変位すること
ができる槽に導入する。槽は、ストリップ状の磨かれた
金属、又はポリマーフィルム(例えばナイロン若しくは
ポリエチレン)、又はガラスプレート上に設置する。槽
はその支持体上を滑動するが、この運動は、槽を変位さ
せるか又は支持体を運動させるかによって生成され得
る。開口を調節することによってストリップを生成する
ことができ、その乾燥後の厚さは20〜300μmである。
次いで基板上に堆積される銅ベース導電インキは主に、
銅を含有する粉末状のピグメント、セラミック粉末充填
剤及び担体として使用される有機相によって形成され
る。焼結後層を与える銅含有ピグメントの電気特性は、
3つの形態; P1:酸化されていない銅(若しくは銅ベース合金)の粉
末 P2:一部酸化された銅(若しくは銅ベース合金)の粉
末、 P3:CuO2、CuO又は両者の混合物のいずれかの形態の銅酸
化物の粉末、 から選択される。
銅を含有する粉末状のピグメント、セラミック粉末充填
剤及び担体として使用される有機相によって形成され
る。焼結後層を与える銅含有ピグメントの電気特性は、
3つの形態; P1:酸化されていない銅(若しくは銅ベース合金)の粉
末 P2:一部酸化された銅(若しくは銅ベース合金)の粉
末、 P3:CuO2、CuO又は両者の混合物のいずれかの形態の銅酸
化物の粉末、 から選択される。
銅ベース合金のなかでも、例えばニッケル0.1 〜10重量
%を含有する銅−ニッケルは純銅よりも高い融点を有し
ており、これは、同時焼結熱処理を実施する上で極めて
好都合な長所と言える。
%を含有する銅−ニッケルは純銅よりも高い融点を有し
ており、これは、同時焼結熱処理を実施する上で極めて
好都合な長所と言える。
できるだけ球形に近い形態を有する前記銅を含有する粉
末は、平均粒径が、 −粉末P1及びP2に対しては0.1〜6μm、好ましくは0.2
〜3μm、及び −粉末P3に対しては0.2〜10μm、好ましくは0.5〜6μ
m、 の2つの限度内にあるように粒径を管理する。
末は、平均粒径が、 −粉末P1及びP2に対しては0.1〜6μm、好ましくは0.2
〜3μm、及び −粉末P3に対しては0.2〜10μm、好ましくは0.5〜6μ
m、 の2つの限度内にあるように粒径を管理する。
セラミック粉末充填剤は、基板に使用される粉末と同じ
特性を有する菫青石によって形成され、導入される量
は、例えば銅ベース粉末の質量の0.5〜20%、好ましく
は1〜15%である。
特性を有する菫青石によって形成され、導入される量
は、例えば銅ベース粉末の質量の0.5〜20%、好ましく
は1〜15%である。
銅をベースにしたピグメント及び菫青石粉末の量は、イ
ンキの全質量の45〜80%、好ましくは55〜70%である。
導電層に通常使用される種類の、溶剤、結合剤、可塑剤
及び分散剤から成る有機相によって、スクリーン印刷に
必要な流動学的特性を与えることができる。有機相はイ
ンキの全重量の20〜55%である。
ンキの全質量の45〜80%、好ましくは55〜70%である。
導電層に通常使用される種類の、溶剤、結合剤、可塑剤
及び分散剤から成る有機相によって、スクリーン印刷に
必要な流動学的特性を与えることができる。有機相はイ
ンキの全重量の20〜55%である。
インキを堆積させる方法は好ましくはスクリーン印刷タ
イプである。
イプである。
銅の堆積操作の後には熱処理を実施する必要があり、こ
れによって同時焼結が行われる。導体の位置及びインキ
のピグメントの性質の従ってこのような処理を規定する
パラメータを以下に記す。
れによって同時焼結が行われる。導体の位置及びインキ
のピグメントの性質の従ってこのような処理を規定する
パラメータを以下に記す。
a)製造されるべき製品が外部回路のみを有する場合に
は、ピグメントは上記3種類の形態P1〜P3から選択さ
れ、実施されるべき熱処理T1は以下のように定義され
る: −インキ及び基板の有機成分を蒸発及び燃焼によって除
去するために、空気中で、温度を20K・時間-1を越えない
割合でゆっくり上昇させ、少なくとも1回は温度200〜5
00℃に短くとも2時間維持して加熱すると、インキ中に
存在した金属銅の少なくとも一部は酸化され、主にCuO
の状態となり、 −周囲の温度に冷却した後に、還元雰囲気中、主に水素
雰囲気中で、好ましくは温度を100〜800K・時間-1の割合
で上昇させ、最高処理温度(120〜350℃)で10分〜3時
間維持し、必要によっては途中で温度を一定に維持しな
がら加熱することによって銅を再生し(不活性ガスで希
釈された水素雰囲気中で操作することも可能である)、 −温度を720K・時間-1(好ましくは500〜1000K・時間-1)
の割合で1070℃に上昇させながら、アルゴンを水中に吹
き込んで湿潤アルゴン(若しくは不活性ガス、例えば湿
潤N2若しくはHe(露点20℃))を流れにアレンジメント
を当て(不活性ガスに加える水は、少量の、即ち数容積
ppm例えば5容積ppmの酸素に替えてよい)、 −同時焼結の達成と共に、外部導体を支持体に定着させ
且つ内部導体を基板に結合させないようにするために、
温度1065〜1080℃、最適には1070℃近傍で15分〜2時間
温度を維持し、更に −約3時間(好ましくは1〜4時間)で周囲の温度に戻
す。
は、ピグメントは上記3種類の形態P1〜P3から選択さ
れ、実施されるべき熱処理T1は以下のように定義され
る: −インキ及び基板の有機成分を蒸発及び燃焼によって除
去するために、空気中で、温度を20K・時間-1を越えない
割合でゆっくり上昇させ、少なくとも1回は温度200〜5
00℃に短くとも2時間維持して加熱すると、インキ中に
存在した金属銅の少なくとも一部は酸化され、主にCuO
の状態となり、 −周囲の温度に冷却した後に、還元雰囲気中、主に水素
雰囲気中で、好ましくは温度を100〜800K・時間-1の割合
で上昇させ、最高処理温度(120〜350℃)で10分〜3時
間維持し、必要によっては途中で温度を一定に維持しな
がら加熱することによって銅を再生し(不活性ガスで希
釈された水素雰囲気中で操作することも可能である)、 −温度を720K・時間-1(好ましくは500〜1000K・時間-1)
の割合で1070℃に上昇させながら、アルゴンを水中に吹
き込んで湿潤アルゴン(若しくは不活性ガス、例えば湿
潤N2若しくはHe(露点20℃))を流れにアレンジメント
を当て(不活性ガスに加える水は、少量の、即ち数容積
ppm例えば5容積ppmの酸素に替えてよい)、 −同時焼結の達成と共に、外部導体を支持体に定着させ
且つ内部導体を基板に結合させないようにするために、
温度1065〜1080℃、最適には1070℃近傍で15分〜2時間
温度を維持し、更に −約3時間(好ましくは1〜4時間)で周囲の温度に戻
す。
b)製造されるべき製品が、内部及び外部両方の導体を包
含する多層基板である場合には、インキ中のピグメント
は3種類の形態P1〜P3から選択されるが、外部導体につ
いては形態P3のインキが好ましく、以下のような熱処理
タイプT2を使用する: −200〜500℃の空気中で加熱し、 −周囲の温度に冷却した後に、水素中で、温度を100〜8
00K・時間-1の割合で上昇させ、最高処理温度で10分〜3
時間維持し、必要によっては途中で温度を一定に維持し
ながら加熱することによって銅を再生し(不活性ガスで
希釈された水素雰囲気中で操作することも可能であ
る)、 −温度を720K・時間-1(好ましくは500〜1000K・時間-1)
の割合で950℃に上昇させながら、アレンジメントをア
ルゴ(若しくは不活性ガス)の流れに当て、 −温度を上昇させた段階で使用したのと同じ雰囲気中
で、15分〜2時間温度950℃(好ましくは900〜1000℃)
に維持し、 −温度維持の最後にアレンジメントを湿潤な(露点20
℃)中性ガス(例えばアルゴン)の流れに当て、 −湿潤中性ガス中で温度を少なくとも500K・時間-1の割
合で1070℃に上昇させ、 −同じ雰囲気内で1065〜1080℃、最適には1070℃近傍の
温度で15分〜2時間維持し、更に −約3時間(好ましくは1〜4時間)で周囲の温度に戻
す。
含する多層基板である場合には、インキ中のピグメント
は3種類の形態P1〜P3から選択されるが、外部導体につ
いては形態P3のインキが好ましく、以下のような熱処理
タイプT2を使用する: −200〜500℃の空気中で加熱し、 −周囲の温度に冷却した後に、水素中で、温度を100〜8
00K・時間-1の割合で上昇させ、最高処理温度で10分〜3
時間維持し、必要によっては途中で温度を一定に維持し
ながら加熱することによって銅を再生し(不活性ガスで
希釈された水素雰囲気中で操作することも可能であ
る)、 −温度を720K・時間-1(好ましくは500〜1000K・時間-1)
の割合で950℃に上昇させながら、アレンジメントをア
ルゴ(若しくは不活性ガス)の流れに当て、 −温度を上昇させた段階で使用したのと同じ雰囲気中
で、15分〜2時間温度950℃(好ましくは900〜1000℃)
に維持し、 −温度維持の最後にアレンジメントを湿潤な(露点20
℃)中性ガス(例えばアルゴン)の流れに当て、 −湿潤中性ガス中で温度を少なくとも500K・時間-1の割
合で1070℃に上昇させ、 −同じ雰囲気内で1065〜1080℃、最適には1070℃近傍の
温度で15分〜2時間維持し、更に −約3時間(好ましくは1〜4時間)で周囲の温度に戻
す。
上記方法をまとめて表1に示す。上記記述は、方法の説
明と共にその使用の例を表しており、外部導体は支持体
上にしっかりと定着しており且つ内部導体は菫青石に結
合していない基板ができる。このような製品は、 −金属−セラミック結合点がないので内部導体のインピ
ーダンスの増大が回避され、基板の表面にCuの化合物を
持たないので表面のざらつきが小さく、且つ、 −菫青石は低誘電率(5未満)を有することから高周波
用途に特に適している。
明と共にその使用の例を表しており、外部導体は支持体
上にしっかりと定着しており且つ内部導体は菫青石に結
合していない基板ができる。このような製品は、 −金属−セラミック結合点がないので内部導体のインピ
ーダンスの増大が回避され、基板の表面にCuの化合物を
持たないので表面のざらつきが小さく、且つ、 −菫青石は低誘電率(5未満)を有することから高周波
用途に特に適している。
添付の第1図は、本発明に使用されるセラミック材料の
成分組成を示す三成分図である。
成分組成を示す三成分図である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 クロード・ドラピエ フランス国、92420・ボークレソン、ルー ト・デ・ピユイ、53 (56)参考文献 特開 昭62−21257(JP,A) 特開 昭52−45059(JP,A) 特開 昭61−292392(JP,A)
Claims (16)
- 【請求項1】銅若しくは銅合金の導体とセラミック基板
とを同時焼結する方法であって、前記基板が、950℃以
下の焼結温度、 50m2/g以上の比表面積、及び2Al2
O3,2MgO,5SiO2(純菫青石)と3Al2O
3,2SiO2(ムライト)との間の化学的組成を有す
る菫青石タイプのセラミック粉末から製造され、 a)前記粉末から前記セラミック基板を成形するステッ
プと、 b)銅ベースインキを使用して前記セラミック基板上に
銅を堆積するステップと、 c)同時焼結処理を行なうステップとを有する方法にお
いて、 前記銅堆積ステップb)を、少なくとも銅をベースとす
る粉末ピグメントと菫青石粉末とを含有するインキを使
用して実施することと、 前記熱処理ステップc)が、 (1)前記セラミック基板中及び/又は前記インキ中に存
在する有機化合物を、 500℃を越えない温度の酸化雰囲
気中で前記有機化合物を分解することによって除去する
段階と、 (2)還元雰囲気中で銅を再生する段階と、 (3)1065〜1080℃の一定の温度に維持することを含む、
湿潤不活性ガスの流れ中で全部若しくは一部を同時焼結
する段階とから成ることを特徴とする方法。 - 【請求項2】前記銅を、未酸化の銅若しくは銅合金をベ
ースとする粉末の形態で前記インキ中に導入する請求項
1に記載の方法。 - 【請求項3】前記銅を、一部酸化された銅若しくは銅合
金をベースとする粉末の形態で前記インキ中に導入する
請求項1に記載の方法。 - 【請求項4】前記銅をCu2O タイプ及びCuO タイプの少
なくとも一方の酸化銅の粉末の形態で前記インキ中に導
入する請求項1に記載の方法。 - 【請求項5】前記銅粉末の平均粒径が 0.1〜6 μmであ
る請求項2又は3に記載の方法。 - 【請求項6】前記酸化銅粉末の平均粒径が 0.2〜10μm
である請求項4に記載の方法。 - 【請求項7】前記インキが、前記基板に使用したのと同
じ性質をもつ菫青石粉末を、銅ベースピグメントの 0.5
〜20重量%の量で含有する請求項5又は6に記載の方
法。 - 【請求項8】前記インキが、銅をベースとするピグメン
トと菫青石粉末とを、該インキの全質量の45〜80%の量
で含有する請求項7に記載の方法。 - 【請求項9】前記有機化合物を除去する段階を、空気中
で、温度を20K・時間-1を越えない割合でゆっくり上昇
させ、少なくとも1回は 200〜500 ℃の一定温度に少な
くとも2時間維持して実施する請求項1〜8のいずれか
一項に記載の方法。 - 【請求項10】前記銅を再生する段階を純水素若しくは
不活性ガスで希釈した水素雰囲気中 120〜350 ℃の温度
で、 100〜800K・時間-1の割合で温度を上昇させ、温度
を処理温度に10分から3時間維持して実施する請求項1
〜9のいずれか一項に記載の方法。 - 【請求項11】全部若しくは一部を湿潤不活性ガスの流
れの中で行ない且つ1065〜1080℃の一定の温度に維持す
ることを含む前記同時焼結の段階を、温度を 500〜1000
K・時間-1の割合で上昇させ、温度を処理温度に15分か
ら2時間維持して実施する請求項1〜10のいずれか一項
に記載の方法。 - 【請求項12】前記同時焼結を実施する段階を湿潤アル
ゴンの流れ中で実施する請求項11に記載の方法。 - 【請求項13】前記湿潤不活性ガスの流れを、前記還元
雰囲気で銅を再生する段階の最後から導入する請求項11
に記載の方法。 - 【請求項14】前記湿潤不活性ガスの流れを 950℃から
のみ導入し、前記銅を再生する段階の終わりから950℃
になるまでの前記同時焼結段階の雰囲気が、不活性ガス
で生成される請求項11に記載の方法。 - 【請求項15】外部導体のみを有するセラミック基板の
製造のために請求項13に記載の方法。 - 【請求項16】内部導体及び外部導体を有するセラミッ
ク材料の多層基板を製造するための請求項14に記載の方
法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FR8801136A FR2626270B1 (fr) | 1988-01-22 | 1988-01-22 | Procede de cofrittage, de conducteurs en cuivre ou en alliages a base de cuivre et de leur substrat ceramique en cordierite |
| FR8801136 | 1988-01-22 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01238191A JPH01238191A (ja) | 1989-09-22 |
| JPH0632363B2 true JPH0632363B2 (ja) | 1994-04-27 |
Family
ID=9362822
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1011767A Expired - Lifetime JPH0632363B2 (ja) | 1988-01-22 | 1989-01-20 | 銅若しくは銅ベース合金の導体とその菫青石セラミック基板との同時焼結方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4915899A (ja) |
| EP (1) | EP0326499A1 (ja) |
| JP (1) | JPH0632363B2 (ja) |
| FR (1) | FR2626270B1 (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4100145A1 (de) * | 1990-01-10 | 1991-07-11 | Murata Manufacturing Co | Substrat fuer die montage von integrierten schaltkreisen und es umfassendes elektronisches bauteil |
| TW215079B (ja) * | 1990-10-11 | 1993-10-21 | Boc Group Inc | |
| US5230846A (en) * | 1990-10-11 | 1993-07-27 | The Boc Group, Inc. | Method for preparing multilayered ceramic with internal copper conductor |
| JPH0747793B2 (ja) * | 1991-04-26 | 1995-05-24 | 株式会社クボタ | 酸化物分散強化耐熱焼結合金 |
| US5682018A (en) * | 1991-10-18 | 1997-10-28 | International Business Machines Corporation | Interface regions between metal and ceramic in a metal/ceramic substrate |
| CN101628195B (zh) * | 2009-07-22 | 2014-01-15 | 河北理工大学 | 一种高温气体过滤器支撑体及其制备方法 |
| CH711817A1 (de) * | 2015-11-27 | 2017-05-31 | Lakeview Innovation Ltd | Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung von Keramikteilen. |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3994430A (en) * | 1975-07-30 | 1976-11-30 | General Electric Company | Direct bonding of metals to ceramics and metals |
| JPS5826680B2 (ja) * | 1975-10-07 | 1983-06-04 | 富士通株式会社 | セラミツクカイロキバンノセイゾウホウホウ |
| US4340436A (en) * | 1980-07-14 | 1982-07-20 | International Business Machines Corporation | Process for flattening glass-ceramic substrates |
| JPS60250686A (ja) * | 1984-05-25 | 1985-12-11 | 日本碍子株式会社 | セラミツク配線基板の製造方法 |
| JPS61292392A (ja) * | 1985-06-20 | 1986-12-23 | 松下電器産業株式会社 | セラミツク配線基板の製造方法 |
| FR2585015A1 (fr) * | 1985-07-16 | 1987-01-23 | Centre Nat Rech Scient | Poudre ceramique de type cordierite frittable a basse temperature, procede de preparation et composition ceramique obtenue par frittage de cette poudre |
| FR2585181B1 (fr) * | 1985-07-16 | 1988-11-18 | Interconnexions Ceramiques | Procede de fabrication d'un substrat d'interconnexion pour composants electroniques, et substrat obtenu par sa mise en oeuvre |
| JPS62113758A (ja) * | 1985-10-25 | 1987-05-25 | 株式会社住友金属セラミックス | 低温焼成セラミツクス |
-
1988
- 1988-01-22 FR FR8801136A patent/FR2626270B1/fr not_active Expired - Fee Related
-
1989
- 1989-01-19 EP EP89420017A patent/EP0326499A1/fr not_active Withdrawn
- 1989-01-20 JP JP1011767A patent/JPH0632363B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1989-01-23 US US07/299,335 patent/US4915899A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4915899A (en) | 1990-04-10 |
| EP0326499A1 (fr) | 1989-08-02 |
| JPH01238191A (ja) | 1989-09-22 |
| FR2626270A1 (fr) | 1989-07-28 |
| FR2626270B1 (fr) | 1992-04-30 |
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