JPH0632901B2 - 研削盤の砥石微少接触検知装置 - Google Patents
研削盤の砥石微少接触検知装置Info
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- JPH0632901B2 JPH0632901B2 JP62196988A JP19698887A JPH0632901B2 JP H0632901 B2 JPH0632901 B2 JP H0632901B2 JP 62196988 A JP62196988 A JP 62196988A JP 19698887 A JP19698887 A JP 19698887A JP H0632901 B2 JPH0632901 B2 JP H0632901B2
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 239000002826 coolant Substances 0.000 description 4
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- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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- Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)
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- Constituent Portions Of Griding Lathes, Driving, Sensing And Control (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 ＜産業上の利用分野＞ この発明は、加工中における研削盤の砥石とワークの接
触を検知して接触検知信号を出力する研削盤の砥石微少
接触検知装置に関する。
触を検知して接触検知信号を出力する研削盤の砥石微少
接触検知装置に関する。
＜従来の技術＞ 研削盤において、ワークの研削に入る場合、砥石微少接
触検知装置によって砥石がワークに接触したか否かを監
視し、砥石がワークに接触するまでの空研削時には砥石
の送り速度を速くし、砥石がワークに接触して上記砥石
微少接触検知装置が接触検知信号を出力すると、この検
知信号に基づいて砥石の送り速度を所定の速度まで遅く
してワークの研削に入るようにし、空研削時間を短くし
てサイクルタイムを短縮するようにしている。
触検知装置によって砥石がワークに接触したか否かを監
視し、砥石がワークに接触するまでの空研削時には砥石
の送り速度を速くし、砥石がワークに接触して上記砥石
微少接触検知装置が接触検知信号を出力すると、この検
知信号に基づいて砥石の送り速度を所定の速度まで遅く
してワークの研削に入るようにし、空研削時間を短くし
てサイクルタイムを短縮するようにしている。
従来、上述のように用いられる研削盤の砥石微少接触検
知装置としては第４図のようなものがある。この砥石微
少検知装置は、ワーク台２にアコースティックエミッシ
ョンセンサ(以下、ＡＥセンサと言う)３を取り付け、ワ
ーク１に研削盤の砥石１０が接触したときに発生する超
音波エネルギーをＡＥセンサ３で検出し、この検出信号
を前置増幅部４で増幅する。さらに、増幅された信号を
弁別部５でノイズ音を除去して接触音のみを通し、検波
部６で直流レベルに変換し、可変増幅部７で接触レベル
の増幅度(検出感度)を変える。そして、比較部８で可変
増幅部７からの検出信号と接触レベル信号を比較して、
検出信号のレベルが接触レベル信号のレベルより高くな
ると接触信号を出力し、アンドゲート９はこの接触信号
を測定中であることを表わす信号とが入力されると接触
検知信号を出力する。
知装置としては第４図のようなものがある。この砥石微
少検知装置は、ワーク台２にアコースティックエミッシ
ョンセンサ(以下、ＡＥセンサと言う)３を取り付け、ワ
ーク１に研削盤の砥石１０が接触したときに発生する超
音波エネルギーをＡＥセンサ３で検出し、この検出信号
を前置増幅部４で増幅する。さらに、増幅された信号を
弁別部５でノイズ音を除去して接触音のみを通し、検波
部６で直流レベルに変換し、可変増幅部７で接触レベル
の増幅度(検出感度)を変える。そして、比較部８で可変
増幅部７からの検出信号と接触レベル信号を比較して、
検出信号のレベルが接触レベル信号のレベルより高くな
ると接触信号を出力し、アンドゲート９はこの接触信号
を測定中であることを表わす信号とが入力されると接触
検知信号を出力する。
＜発明が解決しようとする問題点＞ しかしながら、上記従来の研削盤の砥石微少接触検知装
置は、ＡＥセンサ３からの検出信号と一つのしきい値
(接触レベル信号)とを比較部８で比較して、検出信号の
レベルがしきい値よりも高くなった場合に接触検知信号
を出力するようにしているので、研削初期の検出信号と
同程度のレベルを持つ突発的なノイズ信号(水、あるい
はワーク測定子などからのノイズ)によって誤動作を
し、砥石がまだワークに接触する前に砥石の送り速度を
研削時における所定の速度まで遅くしてしまい、空研削
時間が長くなるという問題がある。
置は、ＡＥセンサ３からの検出信号と一つのしきい値
(接触レベル信号)とを比較部８で比較して、検出信号の
レベルがしきい値よりも高くなった場合に接触検知信号
を出力するようにしているので、研削初期の検出信号と
同程度のレベルを持つ突発的なノイズ信号(水、あるい
はワーク測定子などからのノイズ)によって誤動作を
し、砥石がまだワークに接触する前に砥石の送り速度を
研削時における所定の速度まで遅くしてしまい、空研削
時間が長くなるという問題がある。
そこで、この発明の目的は、高レベルしきい値と低レベ
ルしきい値の２つのしきい値を設け、検出信号のレベル
が、高レベルしきい値を越えてから低レベルしきい値よ
り低下するまでの持続性を判定することにより、ノイズ
信号に影響されず正しい接触検知信号のみを出力するこ
とができる研削盤の砥石微少接触検知装置を提供するこ
とにある。
ルしきい値の２つのしきい値を設け、検出信号のレベル
が、高レベルしきい値を越えてから低レベルしきい値よ
り低下するまでの持続性を判定することにより、ノイズ
信号に影響されず正しい接触検知信号のみを出力するこ
とができる研削盤の砥石微少接触検知装置を提供するこ
とにある。
＜問題点を解決するための手段＞ 上記目的を達成するため、この発明は砥石の接触信号は
ノイズ信号に比較して一定レベル以上の持続時間が長い
ということに基づいてなしたものである。すなわち、こ
の発明の研削盤の砥石微少接触検知装置は、研削盤の砥
石がワークに接触する直前および研削盤の砥石がワーク
に接触しているときに生ずる信号を検出するセンサと、
上記センサからの信号に基づいて、研削初期における上
記信号の正常なレベルと研削開始直前に発生する突発的
なノイズのレベルとのしきい値である高レベルしきい値
と砥石がワークに接触している際における上記信号のレ
ベルと砥石がワークから離れている際における上記信号
のレベルとのしきい値である低レベルしきい値を出力す
る変動しきい値回路と、セットされた状態を保持する状
態保持手段と、上記センサからの信号と上記高レベルし
きい値とを比較して、上記信号のレベルが高レベルしき
い値より高くなった場合に、上記状態保持手段をセット
する信号を出力する第１比較器と、上記センサからの信
号と上記低レベルしきい値とを比較して、上記信号のレ
ベルが低レベルしきい値より低くなった場合に、上記状
態保持手段をリセットする信号を出力する第２比較器
と、上記状態保持手段のセット状態の持続時間が所定時
間以上になったか否かを判別して、セット状態の持続時
間が所定時間以上になった場合に、接触検知信号を出力
する接触判別手段を備えたことを特徴としている。
ノイズ信号に比較して一定レベル以上の持続時間が長い
ということに基づいてなしたものである。すなわち、こ
の発明の研削盤の砥石微少接触検知装置は、研削盤の砥
石がワークに接触する直前および研削盤の砥石がワーク
に接触しているときに生ずる信号を検出するセンサと、
上記センサからの信号に基づいて、研削初期における上
記信号の正常なレベルと研削開始直前に発生する突発的
なノイズのレベルとのしきい値である高レベルしきい値
と砥石がワークに接触している際における上記信号のレ
ベルと砥石がワークから離れている際における上記信号
のレベルとのしきい値である低レベルしきい値を出力す
る変動しきい値回路と、セットされた状態を保持する状
態保持手段と、上記センサからの信号と上記高レベルし
きい値とを比較して、上記信号のレベルが高レベルしき
い値より高くなった場合に、上記状態保持手段をセット
する信号を出力する第１比較器と、上記センサからの信
号と上記低レベルしきい値とを比較して、上記信号のレ
ベルが低レベルしきい値より低くなった場合に、上記状
態保持手段をリセットする信号を出力する第２比較器
と、上記状態保持手段のセット状態の持続時間が所定時
間以上になったか否かを判別して、セット状態の持続時
間が所定時間以上になった場合に、接触検知信号を出力
する接触判別手段を備えたことを特徴としている。
＜作用＞ 研削盤の砥石がワークに接触する直前および研削盤の砥
石がワークに接触しているときに発生する信号がセンサ
によって検出されると、この信号に基づいて研削初期に
おける上記信号の正常なレベルと研削開始直前に発生す
る突発的なノイズのレベルとのしきい値である高レベル
しきい値と砥石がワークに接触している際における上記
信号のレベルと砥石がワークから離れている際における
上記信号のレベルとのしきい値である低レベルしきい値
が変動しきい値回路から出力される。そして、上記セン
サからの信号と上記高レベルしきい値とが第１比較器に
よって比較され、上記信号のレベルが高レベルしきい値
より高くなると状態保持手段をセットする信号が出され
る一方、上記センサからの信号と上記低レベルしきい値
とが第２比較器によって比較され、上記信号のレベルが
低レベルしきい値より低くなると状態保持手段をリセッ
トする信号が出力される。
石がワークに接触しているときに発生する信号がセンサ
によって検出されると、この信号に基づいて研削初期に
おける上記信号の正常なレベルと研削開始直前に発生す
る突発的なノイズのレベルとのしきい値である高レベル
しきい値と砥石がワークに接触している際における上記
信号のレベルと砥石がワークから離れている際における
上記信号のレベルとのしきい値である低レベルしきい値
が変動しきい値回路から出力される。そして、上記セン
サからの信号と上記高レベルしきい値とが第１比較器に
よって比較され、上記信号のレベルが高レベルしきい値
より高くなると状態保持手段をセットする信号が出され
る一方、上記センサからの信号と上記低レベルしきい値
とが第２比較器によって比較され、上記信号のレベルが
低レベルしきい値より低くなると状態保持手段をリセッ
トする信号が出力される。
そうすると、上記状態保持手段のセット状態の持続時間
が所定時間以上になったか否かが、接触判別手段によっ
て判別され、その結果、セット状態の持続時間が所定時
間以上になった場合に、接触検知信号が出力される。し
たがって、上記センサから出力されるノイズ信号を含ん
だ信号から接触信号のみを検出して、正しい接触検知信
号のみを出力することができる。
が所定時間以上になったか否かが、接触判別手段によっ
て判別され、その結果、セット状態の持続時間が所定時
間以上になった場合に、接触検知信号が出力される。し
たがって、上記センサから出力されるノイズ信号を含ん
だ信号から接触信号のみを検出して、正しい接触検知信
号のみを出力することができる。
＜実施例＞ 以下、この発明を図示の実施例により詳細に説明する。
第１図はこの発明の一実施例を示すブロック図である。
ＡＥセンサ２１はワークに砥石(図示せず)が接触したと
きに発生する超音波エネルギーを検出し検出信号を出力
するものであり、図示しないワーク台に取り付けられ
る。上記ＡＥセンサから出力された検出信号はアンプリ
ファイア２２で増幅され、一方は第１フィルタ２３に入
力され、他方は第２フィルタ２４に入力される。上記第
１フィルタは入力された信号のうち研削中に強いレベル
を持つ周波数帯(５０ＫＨz以下)のみを通して第１包絡
線検波回路２５に入力する。また、上記第２フィルタは
入力された信号のうち研削が進むにつれてレベルが上が
る周波数帯(２００ＫＨz付近)のみを通して第２包絡線
検波回路２６に入力する。この第２包絡線検波回路２６
から出力される第２包絡線検波信号は、上記第１包絡線
検波回路２５から出力される第１包絡線検波信号と共に
加算器２７で加算され、加算された検出信号a は変動し
きい値回路２８と第１比較器２９と第２比較器３０に入
力される。
ＡＥセンサ２１はワークに砥石(図示せず)が接触したと
きに発生する超音波エネルギーを検出し検出信号を出力
するものであり、図示しないワーク台に取り付けられ
る。上記ＡＥセンサから出力された検出信号はアンプリ
ファイア２２で増幅され、一方は第１フィルタ２３に入
力され、他方は第２フィルタ２４に入力される。上記第
１フィルタは入力された信号のうち研削中に強いレベル
を持つ周波数帯(５０ＫＨz以下)のみを通して第１包絡
線検波回路２５に入力する。また、上記第２フィルタは
入力された信号のうち研削が進むにつれてレベルが上が
る周波数帯(２００ＫＨz付近)のみを通して第２包絡線
検波回路２６に入力する。この第２包絡線検波回路２６
から出力される第２包絡線検波信号は、上記第１包絡線
検波回路２５から出力される第１包絡線検波信号と共に
加算器２７で加算され、加算された検出信号a は変動し
きい値回路２８と第１比較器２９と第２比較器３０に入
力される。
上記変動しきい値回路２８は、加算器２７から入力され
る検出信号aを積分回路で積分して求めた平均値信号
に、第１基準値設定回路２８aからの出力信号を加算し
て高レベルしきい値ＶHを出力し、同様に、加算器２７
から入力される検出信号aを積分回路で積分して求めた
平均値信号に、第２基準値設定回路２８bの出力信号を
加算して低レベルしきい値ＶLを出力する。
る検出信号aを積分回路で積分して求めた平均値信号
に、第１基準値設定回路２８aからの出力信号を加算し
て高レベルしきい値ＶHを出力し、同様に、加算器２７
から入力される検出信号aを積分回路で積分して求めた
平均値信号に、第２基準値設定回路２８bの出力信号を
加算して低レベルしきい値ＶLを出力する。
ここで、上記高レベルしきい値ＶHは、研削初期におけ
る正常な検出信号a と研削開始直前に発生する突発的な
ノイズ信号のレベルとのしきい値である。また、上記低
レベルしきい値ＶLは、砥石がワークに接触している場
合の検出値a のレベルと砥石がワークから離れている場
合の検出信号a のレベルとのしきい値である。
る正常な検出信号a と研削開始直前に発生する突発的な
ノイズ信号のレベルとのしきい値である。また、上記低
レベルしきい値ＶLは、砥石がワークに接触している場
合の検出値a のレベルと砥石がワークから離れている場
合の検出信号a のレベルとのしきい値である。
上記加算器２７からの検出信号aは上記高レベルしきい
値ＶHと第１比較器２９によって比較され、上記検出信
号aのレベルが高レベルしきい値より高くなった場合
は、研削開始直前に突発的なノイズが発生したので状態
保持手段であるフリップフロップ３１をセットする信号
が出力される。また、上記加算器２７からの検出信号a
は上記低レベルしきい値ＶLと第２比較器３０によって
比較され、上記検出信号a のレベルが低レベルしきい値
より低くなった場合は、砥石がワークから離れたことを
表わすために第１ワンショット回路を“Ｈ”にする信号
が出力される。
値ＶHと第１比較器２９によって比較され、上記検出信
号aのレベルが高レベルしきい値より高くなった場合
は、研削開始直前に突発的なノイズが発生したので状態
保持手段であるフリップフロップ３１をセットする信号
が出力される。また、上記加算器２７からの検出信号a
は上記低レベルしきい値ＶLと第２比較器３０によって
比較され、上記検出信号a のレベルが低レベルしきい値
より低くなった場合は、砥石がワークから離れたことを
表わすために第１ワンショット回路を“Ｈ”にする信号
が出力される。
上記フリップフロップ３１は、第１比較器２９からの信
号により端子Ｓのレベルが“Ｈ”となるとセットされて
端子Ｑは“Ｈ”の信号bを出力し、第２ワンショット回
路３３が“Ｈ”の信号dを出力する。そうすると、アン
ドゲート３４は“Ｌ”の接触検知信号eを出力する。ま
た、上記第２ワンショット回路３３はレベル“Ｈ”の持
続時間を任意に設定することができ、設定された持続時
間が経過すると“Ｌ”の信号dを出力する。そうする
と、アンドゲート３４は“Ｈ”の接触検知信号eを出力
する。一方、フリップフロップ３１は第１ワンショット
回路３２からの“Ｈ”の信号cにより端子Ｒが“Ｈ”と
なるとリセットされて、端子Ｑは“Ｌ”の信号b を出力
し、アンドゲート３４は“Ｌ”の接触検知信号eを出力
する。
号により端子Ｓのレベルが“Ｈ”となるとセットされて
端子Ｑは“Ｈ”の信号bを出力し、第２ワンショット回
路３３が“Ｈ”の信号dを出力する。そうすると、アン
ドゲート３４は“Ｌ”の接触検知信号eを出力する。ま
た、上記第２ワンショット回路３３はレベル“Ｈ”の持
続時間を任意に設定することができ、設定された持続時
間が経過すると“Ｌ”の信号dを出力する。そうする
と、アンドゲート３４は“Ｈ”の接触検知信号eを出力
する。一方、フリップフロップ３１は第１ワンショット
回路３２からの“Ｈ”の信号cにより端子Ｒが“Ｈ”と
なるとリセットされて、端子Ｑは“Ｌ”の信号b を出力
し、アンドゲート３４は“Ｌ”の接触検知信号eを出力
する。
第２図は第１図における各部の出力信号a,b,c,d,eの波
形を示す。以下、上記研削盤の砥石接触微少検知装置の
動作を第２図にしたがって説明する。第２図aは第１図
の加算器２７から出力される検出信号の波形であり、こ
の検出信号aのレベルが高レベルしきい値ＶHより高くな
ると第１比較器２９の動作によって第２図bに示すよう
にフリップフロップ３１はセットされる。一方、検出信
号aのレベルが低レベルしきい値ＶLより低くなると、第
２比較器３０の動作による第１ワッショット回路３２の
出力信号cによって（第２図c）フリップフロップ３１は
リセットされる。
形を示す。以下、上記研削盤の砥石接触微少検知装置の
動作を第２図にしたがって説明する。第２図aは第１図
の加算器２７から出力される検出信号の波形であり、こ
の検出信号aのレベルが高レベルしきい値ＶHより高くな
ると第１比較器２９の動作によって第２図bに示すよう
にフリップフロップ３１はセットされる。一方、検出信
号aのレベルが低レベルしきい値ＶLより低くなると、第
２比較器３０の動作による第１ワッショット回路３２の
出力信号cによって（第２図c）フリップフロップ３１は
リセットされる。
フリップフロップ３１がセットされると同時に第２図d
に示すように第２ワンショット回路３３の出力信号dは
“Ｈ”となり、設定された持続時間が過ぎると研削開始
直前に突発的なノイズが発生する期間は過じたとして信
号dは“Ｌ”となる。したがって、アンドゲート３４は
第２図eに示すように、フリップフロップ３１の出力信
号bが“Ｈ”であって第２ワンショット回路33の出力信
号dが“Ｌ”のときのみ“Ｈ”の接触検知信号eを出力す
る。
に示すように第２ワンショット回路３３の出力信号dは
“Ｈ”となり、設定された持続時間が過ぎると研削開始
直前に突発的なノイズが発生する期間は過じたとして信
号dは“Ｌ”となる。したがって、アンドゲート３４は
第２図eに示すように、フリップフロップ３１の出力信
号bが“Ｈ”であって第２ワンショット回路33の出力信
号dが“Ｌ”のときのみ“Ｈ”の接触検知信号eを出力す
る。
換言すれば、検出信号aのレベルが高レベルしきい値ＶH
を越えてから低レベルしきい値ＶLより低下するまでの
接触時間が、第２ワンショット回路３３で設定された接
触時間を越えたときに、“Ｈ”の接触検知信号eが出力
されるのである。
を越えてから低レベルしきい値ＶLより低下するまでの
接触時間が、第２ワンショット回路３３で設定された接
触時間を越えたときに、“Ｈ”の接触検知信号eが出力
されるのである。
ここで、砥石が、ワークに接触したときの接触信号の波
形とノイズ信号の波形には、第３図に示すような差異が
ある。第３図Ａは、研削時においてクーラントを使用
し、砥石を駆動させ、ワーク台を前進させたときの、ま
だ砥石がワークに接触する前におけるクーラント等によ
るノイズ信号の波形を示したものである。図中下側に示
したパルスは、上側のノイズ波形を所定のレベルでパル
ス化したものである。同様に、第３図Ｂは、研削時にお
いて、砥石がワークに接触して研削を行なっている場合
の接触信号の波形を示したものである。第３図より、ク
ーラント等によるノイズ信号の波形が数１００μsecの
パルス幅であるのに対して、研削時の接触信号の波形は
数msecのパルス幅である。すなわち、第１図の第２ワン
ショット回路３３の持続時間を、ノイズ信号波形に基づ
くパルス幅よりも長く、接触信号波形に基づくパルス幅
よりも短かく設定すれば、検出信号aとしてノイズ信号
が入力された場合、検出信号aのレベルが高レベルしき
い値ＶHを越えてから低レベルしきい値ＶLより低下する
までの持続時間が、第２ワンショット回路３３で設定さ
れた持続時間を越えないので、接触検知信号eは出力さ
れないのである。
形とノイズ信号の波形には、第３図に示すような差異が
ある。第３図Ａは、研削時においてクーラントを使用
し、砥石を駆動させ、ワーク台を前進させたときの、ま
だ砥石がワークに接触する前におけるクーラント等によ
るノイズ信号の波形を示したものである。図中下側に示
したパルスは、上側のノイズ波形を所定のレベルでパル
ス化したものである。同様に、第３図Ｂは、研削時にお
いて、砥石がワークに接触して研削を行なっている場合
の接触信号の波形を示したものである。第３図より、ク
ーラント等によるノイズ信号の波形が数１００μsecの
パルス幅であるのに対して、研削時の接触信号の波形は
数msecのパルス幅である。すなわち、第１図の第２ワン
ショット回路３３の持続時間を、ノイズ信号波形に基づ
くパルス幅よりも長く、接触信号波形に基づくパルス幅
よりも短かく設定すれば、検出信号aとしてノイズ信号
が入力された場合、検出信号aのレベルが高レベルしき
い値ＶHを越えてから低レベルしきい値ＶLより低下する
までの持続時間が、第２ワンショット回路３３で設定さ
れた持続時間を越えないので、接触検知信号eは出力さ
れないのである。
このように、高レベルしきい値と低レベルしきい値の２
つのしきい値を設け、検知信号aのレベルが高レベルし
きい値ＶHを越えてから低レベルしきい値ＶLより低下す
るまでの持続時間によって砥石のワークへの接触を検知
するので、ノイズを含んだ検出信号aから接触信号のみ
を検出して、正しい接触検知信号eを出力することがで
きる。
つのしきい値を設け、検知信号aのレベルが高レベルし
きい値ＶHを越えてから低レベルしきい値ＶLより低下す
るまでの持続時間によって砥石のワークへの接触を検知
するので、ノイズを含んだ検出信号aから接触信号のみ
を検出して、正しい接触検知信号eを出力することがで
きる。
上記実施例では、第１比較器２９，第２比較器３０，第
１ワンショット回路３２，第２ワンショット回路３３，
フリップフロップ３１およびアンドゲート３４を用いて
検知信号aのレベル判定と持続時間の判定を行なってい
るが、これに限定されるものではなく、クロックカウン
タと判別手段等によって実施してもよい。
１ワンショット回路３２，第２ワンショット回路３３，
フリップフロップ３１およびアンドゲート３４を用いて
検知信号aのレベル判定と持続時間の判定を行なってい
るが、これに限定されるものではなく、クロックカウン
タと判別手段等によって実施してもよい。
＜発明の効果＞ 以上より明らかなように、この発明の研削盤の砥石微少
接触検知装置は、研削初期における上記信号の正常なレ
ベルと研削開始直前に発生する突発的なノイズのレベル
とのしきい値である高レベルしきい値と砥石がワークに
接触している際における上記信号のレベルと砥石がワー
クから離れている際における上記信号のレベルとのしき
い値である低レベルしきい値を出力する変動しきい値回
路と、センサからの信号のレベルが上記高レベルしきい
値よりも高くなった場合に、状態保持手段をセットする
第１比較器と、センサからの信号のレベルが上記低レベ
ルしきい値より低くなった場合に、状態保持手段をリセ
ットする第２比較器と、上記状態保持手段が所定時間以
上セット状態にあるときに接触検知信号を出力する接触
判別手段を備えたので、センサからの信号のレベルが高
レベルしきい値を越えてから低レベルしきい値より低下
するまでの持続時間に基づいて、ノイズに影響されずに
正しい接触検知信号のみを出力することができる。した
がって、この研削盤の砥石微少接触検知装置を用いれ
ば、研削時においてノイズ信号による誤動作で空研削時
間が必要以上に長くなることがなく、サイクルタイムを
短縮することができる。
接触検知装置は、研削初期における上記信号の正常なレ
ベルと研削開始直前に発生する突発的なノイズのレベル
とのしきい値である高レベルしきい値と砥石がワークに
接触している際における上記信号のレベルと砥石がワー
クから離れている際における上記信号のレベルとのしき
い値である低レベルしきい値を出力する変動しきい値回
路と、センサからの信号のレベルが上記高レベルしきい
値よりも高くなった場合に、状態保持手段をセットする
第１比較器と、センサからの信号のレベルが上記低レベ
ルしきい値より低くなった場合に、状態保持手段をリセ
ットする第２比較器と、上記状態保持手段が所定時間以
上セット状態にあるときに接触検知信号を出力する接触
判別手段を備えたので、センサからの信号のレベルが高
レベルしきい値を越えてから低レベルしきい値より低下
するまでの持続時間に基づいて、ノイズに影響されずに
正しい接触検知信号のみを出力することができる。した
がって、この研削盤の砥石微少接触検知装置を用いれ
ば、研削時においてノイズ信号による誤動作で空研削時
間が必要以上に長くなることがなく、サイクルタイムを
短縮することができる。
第１図はこの発明の一実施例を示すブロック図、第２図
は第１図における各部の出力信号波形を示す図、第３図
は研削時の砥石とワークが接触したときの接触信号とク
ーラントによるノイズ信号の説明図、第４図は従来例の
ブロック図である。 ２１……ＡＥセンサ、２２……アンプ、 ２３，２４……フィルタ、２５，２６……包絡線検波回
路、 ２７……加算器、２８……変動しきい値回路、 ２９……第１比較器、３０……第２比較器、 ３１……フリップフロップ、 ３２，３３……ワンショット回路、 ３４……アンドゲート。
は第１図における各部の出力信号波形を示す図、第３図
は研削時の砥石とワークが接触したときの接触信号とク
ーラントによるノイズ信号の説明図、第４図は従来例の
ブロック図である。 ２１……ＡＥセンサ、２２……アンプ、 ２３，２４……フィルタ、２５，２６……包絡線検波回
路、 ２７……加算器、２８……変動しきい値回路、 ２９……第１比較器、３０……第２比較器、 ３１……フリップフロップ、 ３２，３３……ワンショット回路、 ３４……アンドゲート。
Claims (1)
- 【請求項１】研削盤の砥石がワークに接触する直前およ
び研削盤の砥石がワークに接触しているときに生ずる信
号を検出するセンサと、 上記センサからの信号に基づいて、研削初期における上
記信号の正常なレベルと研削開始直前に発生する突発的
なノイズのレベルとのしきい値である高レベルしきい値
と砥石がワークに接触している際における上記信号のレ
ベルと砥石がワークから離れている際における上記信号
のレベルとのしきい値である低レベルしきい値を出力す
る変動しきい値回路と、 セットされた状態を保持する状態保持手段と、 上記センサからの信号と上記高レベルしきい値とを比較
して、上記信号のレベルが高レベルしきい値より高くな
った場合に、上記状態保持手段をセットする信号を出力
する第１比較器と 上記センサからの信号と上記低レベルしきい値とを比較
して、上記信号のレベルが低レベルしきい値より低くな
った場合に、上記状態保持手段をリセットする信号を出
力する第２比較器と 上記状態保持手段のセット状態の持続時間が所定時間以
上になったか否かを判別して、セット状態の持続時間が
所定時間以上になった場合に、接触検知信号を出力する
接触判別手段を備えたことを特徴とする研削盤の砥石微
小接触検知装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62196988A JPH0632901B2 (ja) | 1987-08-06 | 1987-08-06 | 研削盤の砥石微少接触検知装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62196988A JPH0632901B2 (ja) | 1987-08-06 | 1987-08-06 | 研削盤の砥石微少接触検知装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6440270A JPS6440270A (en) | 1989-02-10 |
| JPH0632901B2 true JPH0632901B2 (ja) | 1994-05-02 |
Family
ID=16366962
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62196988A Expired - Fee Related JPH0632901B2 (ja) | 1987-08-06 | 1987-08-06 | 研削盤の砥石微少接触検知装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0632901B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0829494B2 (ja) * | 1992-01-20 | 1996-03-27 | 功 村上 | 回転砥石の接触状態検出方法及びその装置 |
| JP3913456B2 (ja) * | 2000-09-28 | 2007-05-09 | 株式会社ジェイテクト | 研削装置 |
| JP4345322B2 (ja) * | 2003-02-25 | 2009-10-14 | 株式会社ジェイテクト | 研削装置及びその制御方法 |
| JP5106121B2 (ja) * | 2006-01-12 | 2012-12-26 | 株式会社東京精密 | 加工システム、接触検出方法及びａｅ接触検出装置 |
| JP5159399B2 (ja) * | 2008-04-07 | 2013-03-06 | 株式会社東京精密 | 接触検出装置、加工装置及び接触検出方法 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57173462A (en) * | 1981-04-15 | 1982-10-25 | Yoshiaki Shiono | Detector for instant when tool and material to be worked start to contact with each other |
| JPS61132861A (ja) * | 1984-11-30 | 1986-06-20 | Omron Tateisi Electronics Co | 工具折損検出装置 |
| JPS63114876A (ja) * | 1986-10-30 | 1988-05-19 | Koyo Seiko Co Ltd | 工具接触検出装置 |
-
1987
- 1987-08-06 JP JP62196988A patent/JPH0632901B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6440270A (en) | 1989-02-10 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
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