JPH06331312A - 画像処理によるターゲットマークの中心位置検出方法 - Google Patents
画像処理によるターゲットマークの中心位置検出方法Info
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- JPH06331312A JPH06331312A JP5124181A JP12418193A JPH06331312A JP H06331312 A JPH06331312 A JP H06331312A JP 5124181 A JP5124181 A JP 5124181A JP 12418193 A JP12418193 A JP 12418193A JP H06331312 A JPH06331312 A JP H06331312A
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-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/0011—Working of insulating substrates or insulating layers
- H05K3/0044—Mechanical working of the substrate, e.g. drilling or punching
Landscapes
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
- Image Analysis (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Detection And Correction Of Errors (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Compression Of Band Width Or Redundancy In Fax (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 エッジ計測によってターゲットマークの中心
を正確に計測する。 【構成】 ワークのターゲットマーク11を撮影部で撮影
し、且つ画像処理部で２値化してモニタ４画面内に映し
出す。カーソル中心13’がその２値化データ内にある時
にカーソル中心13’上をＸ軸方向またはＹ軸方向に１画
素ピッチ宛走査して得られる白黒反転座標値でその方向
のエッジイ１、イ２を計測する。エッジイ１、イ２の中
点座標位置上を他方の軸方向に１画素ピッチ宛走査して
得られる白黒反転座標値でその軸方向のエッジロ１、ロ
２を計測する。エッジロ１、ロ２の中点座標位置上を前
記エッジイ１、イ２と平行する方向に１画素ピッチ宛走
査して得られる白黒反転座標でエッジイ１’、イ２’を
計測し記憶部に内蔵されたターゲットマーク11のＸ軸、
Ｙ軸方向の直径基準値とエッジロ１、ロ２間距離及びエ
ッジイ１’、イ２’間距離とが適合してエッジロ１、ロ
２の中点座標位置を前記ターゲットマーク11の中心とす
る。
を正確に計測する。 【構成】 ワークのターゲットマーク11を撮影部で撮影
し、且つ画像処理部で２値化してモニタ４画面内に映し
出す。カーソル中心13’がその２値化データ内にある時
にカーソル中心13’上をＸ軸方向またはＹ軸方向に１画
素ピッチ宛走査して得られる白黒反転座標値でその方向
のエッジイ１、イ２を計測する。エッジイ１、イ２の中
点座標位置上を他方の軸方向に１画素ピッチ宛走査して
得られる白黒反転座標値でその軸方向のエッジロ１、ロ
２を計測する。エッジロ１、ロ２の中点座標位置上を前
記エッジイ１、イ２と平行する方向に１画素ピッチ宛走
査して得られる白黒反転座標でエッジイ１’、イ２’を
計測し記憶部に内蔵されたターゲットマーク11のＸ軸、
Ｙ軸方向の直径基準値とエッジロ１、ロ２間距離及びエ
ッジイ１’、イ２’間距離とが適合してエッジロ１、ロ
２の中点座標位置を前記ターゲットマーク11の中心とす
る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はプリント基板等の板材に
印刷等所望の手段で付設した穿孔用のターゲットマーク
の中心位置を検出する画像処理によるターゲットマーク
の中心位置検出方法に関するものである。
印刷等所望の手段で付設した穿孔用のターゲットマーク
の中心位置を検出する画像処理によるターゲットマーク
の中心位置検出方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】プリント基板等では基準孔を穿孔するた
め、銅箔を印刷したターゲットマークが４隅に付設さ
れ、該プリント基板を、各ターゲットマークが撮影部直
下に位置するように移動機構を介して移動させると共
に、そのターゲットマークの中心を所定の手段で計測
し、その計測された中心との誤差量だけドリルをＸ、Ｙ
軸送り機構を介してＸ軸、Ｙ軸方向に微動（補正動）さ
せてそのドリルの中芯とターゲットマークの中心とを一
致させ、その位置からＺ方向にドリルを上昇させてター
ゲットマークの中心を孔芯とする基準孔を穿孔してい
る。ちなみに上記基準孔はプリント基板にプリント配線
する場合等の基準とされ、理論上の位置に精確に穿孔す
る必要がある。従来、ターゲットマークの中心は撮影部
で撮影されたターゲットマークの濃淡画像信号をＡ／Ｄ
変換部でディジタル信号に変換すると共に画像処理部で
２値化してモニタ（ＣＲＴ）に映し出し、ダイナミック
ウインドウ方式による重心計測によって求められてい
る。
め、銅箔を印刷したターゲットマークが４隅に付設さ
れ、該プリント基板を、各ターゲットマークが撮影部直
下に位置するように移動機構を介して移動させると共
に、そのターゲットマークの中心を所定の手段で計測
し、その計測された中心との誤差量だけドリルをＸ、Ｙ
軸送り機構を介してＸ軸、Ｙ軸方向に微動（補正動）さ
せてそのドリルの中芯とターゲットマークの中心とを一
致させ、その位置からＺ方向にドリルを上昇させてター
ゲットマークの中心を孔芯とする基準孔を穿孔してい
る。ちなみに上記基準孔はプリント基板にプリント配線
する場合等の基準とされ、理論上の位置に精確に穿孔す
る必要がある。従来、ターゲットマークの中心は撮影部
で撮影されたターゲットマークの濃淡画像信号をＡ／Ｄ
変換部でディジタル信号に変換すると共に画像処理部で
２値化してモニタ（ＣＲＴ）に映し出し、ダイナミック
ウインドウ方式による重心計測によって求められてい
る。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし、重心計測の場
合、ターゲットマーク以外のパターンが２値化によって
白黒変換されると白黒変換座標系に大きく影響を及ぼ
し、ターゲットマークの中心が正確に計測できない問題
が生じる。
合、ターゲットマーク以外のパターンが２値化によって
白黒変換されると白黒変換座標系に大きく影響を及ぼ
し、ターゲットマークの中心が正確に計測できない問題
が生じる。
【０００４】本発明は、従来事情に鑑みてなされたもの
で、その目的とする処はエッジ計測によってターゲット
マークの中心を正確に計測する画像処理によるターゲッ
トマークの中心位置検出方法を提供することにある。
で、その目的とする処はエッジ計測によってターゲット
マークの中心を正確に計測する画像処理によるターゲッ
トマークの中心位置検出方法を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に講じた技術的手段は穿孔用のターゲットマークを付設
したワークのそのターゲットマークを撮影部で撮影し、
該濃淡画像信号を画像処理部で２値化して、その２値化
データをモニタ画面内に映し出し、カーソル中心がター
ゲットマークの２値化データ内にある時にカーソル中心
上をＸ軸方向またはＹ軸方向に１画素ピッチ宛走査して
得られる白黒反転座標値でその方向のエッジイ１、イ２
をまず計測し、次に該エッジイ１、イ２の中点座標位置
上を他方の軸方向に１画素ピッチ宛走査して得られる白
黒反転座標値でその軸方向のエッジロ１、ロ２を計測
し、そして該エッジロ１、ロ２の中点座標位置上を前記
エッジイ１、イ２と平行する方向に前記１画素ピッチ宛
走査して得られる白黒反転座標値でエッジイ１’、イ
２’を計測し、記憶部に記憶されたターゲットマークの
Ｘ軸、Ｙ軸方向の直径基準値とエッジロ１、ロ２間距離
及びエッジイ１’、イ２’間距離とが適合してエッジロ
１、ロ２の中点座標位置を前記ターゲットマークの中心
とすることを要旨とする。
に講じた技術的手段は穿孔用のターゲットマークを付設
したワークのそのターゲットマークを撮影部で撮影し、
該濃淡画像信号を画像処理部で２値化して、その２値化
データをモニタ画面内に映し出し、カーソル中心がター
ゲットマークの２値化データ内にある時にカーソル中心
上をＸ軸方向またはＹ軸方向に１画素ピッチ宛走査して
得られる白黒反転座標値でその方向のエッジイ１、イ２
をまず計測し、次に該エッジイ１、イ２の中点座標位置
上を他方の軸方向に１画素ピッチ宛走査して得られる白
黒反転座標値でその軸方向のエッジロ１、ロ２を計測
し、そして該エッジロ１、ロ２の中点座標位置上を前記
エッジイ１、イ２と平行する方向に前記１画素ピッチ宛
走査して得られる白黒反転座標値でエッジイ１’、イ
２’を計測し、記憶部に記憶されたターゲットマークの
Ｘ軸、Ｙ軸方向の直径基準値とエッジロ１、ロ２間距離
及びエッジイ１’、イ２’間距離とが適合してエッジロ
１、ロ２の中点座標位置を前記ターゲットマークの中心
とすることを要旨とする。
【０００６】
【作用】上記技術的手段によればターゲットマークの白
黒反転座標系をカーソル中心から例えばＸ軸方向に１画
素ピッチ宛走査し、得られた白黒変換座標値でＸ軸方向
のエッジを計測してまずその中点を求めてその中点をタ
ーゲットマークにおけるＸ軸方向を中心とする。これを
基準点としてＹ軸方向に１画素ピッチ宛走査し、上述と
同様に白黒反転座標値でＹ軸方向のエッジ計測を行う。
これによってＹ軸方向のターゲットマークのエッジ間距
離、即ちＹ軸方向の直径が求められる。そしてその中点
（仮定中心）を今度は前記Ｘ軸方向に１画素ピッチ宛走
査して白黒反転座標値でＸ軸方向のエッジ計測を行い。
これによってＸ軸方向のエッジ間距離、即ちＸ軸方向の
直径が求められる。最後に記憶部に記憶されたターゲッ
トマークのＸ軸、Ｙ軸方向の直径基準値と上記するＸ軸
方向のエッジ間距離及びＹ軸方向のエッジ間距離（計測
された直径）との照合の結果、その直径基準値の基準範
囲（許容範囲）内に適合して初めて正規の面積のターゲ
ットマークであることを認定し、前記仮定中心を実際の
中心として決定する。
黒反転座標系をカーソル中心から例えばＸ軸方向に１画
素ピッチ宛走査し、得られた白黒変換座標値でＸ軸方向
のエッジを計測してまずその中点を求めてその中点をタ
ーゲットマークにおけるＸ軸方向を中心とする。これを
基準点としてＹ軸方向に１画素ピッチ宛走査し、上述と
同様に白黒反転座標値でＹ軸方向のエッジ計測を行う。
これによってＹ軸方向のターゲットマークのエッジ間距
離、即ちＹ軸方向の直径が求められる。そしてその中点
（仮定中心）を今度は前記Ｘ軸方向に１画素ピッチ宛走
査して白黒反転座標値でＸ軸方向のエッジ計測を行い。
これによってＸ軸方向のエッジ間距離、即ちＸ軸方向の
直径が求められる。最後に記憶部に記憶されたターゲッ
トマークのＸ軸、Ｙ軸方向の直径基準値と上記するＸ軸
方向のエッジ間距離及びＹ軸方向のエッジ間距離（計測
された直径）との照合の結果、その直径基準値の基準範
囲（許容範囲）内に適合して初めて正規の面積のターゲ
ットマークであることを認定し、前記仮定中心を実際の
中心として決定する。
【０００７】
【発明の効果】本発明は以上にようにカーソル中心から
２値化されたターゲットマーク内をＸ軸またはＹ軸の一
方向に１画素ピッチ宛走査して白黒反転するその白黒反
転座標値でその方向のエッジ（Ｘ軸またはＹ軸方向のエ
ッジ）を計測してその中点を基準点とし、その基準点上
をＸ軸またはＹ軸の他方向に１画素ピッチ宛走査して同
様に白黒反転する白黒反転座標値でその方向のエッジを
計測してその中点を仮定中心とし、この仮定中心を再度
前記一方向に同様に１画素ピッチ宛走査して白黒反転す
る白黒反転座標値でその方向のエッジ（Ｙ軸またはＸ軸
のエッジ）を計測して記憶部内の直径基準値と照合した
結果で上記仮定中心をターゲットマークの中心とする方
法であるから、ターゲットマーク以外のパターンの影響
を受けたり誤認することなく確実にターゲットマークの
中心位置を検出することができる。
２値化されたターゲットマーク内をＸ軸またはＹ軸の一
方向に１画素ピッチ宛走査して白黒反転するその白黒反
転座標値でその方向のエッジ（Ｘ軸またはＹ軸方向のエ
ッジ）を計測してその中点を基準点とし、その基準点上
をＸ軸またはＹ軸の他方向に１画素ピッチ宛走査して同
様に白黒反転する白黒反転座標値でその方向のエッジを
計測してその中点を仮定中心とし、この仮定中心を再度
前記一方向に同様に１画素ピッチ宛走査して白黒反転す
る白黒反転座標値でその方向のエッジ（Ｙ軸またはＸ軸
のエッジ）を計測して記憶部内の直径基準値と照合した
結果で上記仮定中心をターゲットマークの中心とする方
法であるから、ターゲットマーク以外のパターンの影響
を受けたり誤認することなく確実にターゲットマークの
中心位置を検出することができる。
【０００８】
【実施例】次に、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。図１乃至図３は本発明画像処理によるターゲット
マークの中心位置検出方法の第１実施例を、また図４及
び図５は同第２実施例を各々示している。まず第１実施
例について説明する。
する。図１乃至図３は本発明画像処理によるターゲット
マークの中心位置検出方法の第１実施例を、また図４及
び図５は同第２実施例を各々示している。まず第１実施
例について説明する。
【０００９】図１は本実施例中心位置検出方法を実行す
る装置を、図２はエッジ計測状態を、また図３はフロー
チャートを各々示している。図１において、符号１は穿
孔対象となるプリント基板であり、４隅に基準孔穿孔用
のターゲットマーク11が付設してある。このターゲット
マーク11は銅箔を印刷によって施してなり、直径を１ｍ
ｍ程度とし、撮影部３、即ちカメラ直下にターゲットマ
ーク11が位置するようにその都度自動制御でもって移動
させることができるようになっている。
る装置を、図２はエッジ計測状態を、また図３はフロー
チャートを各々示している。図１において、符号１は穿
孔対象となるプリント基板であり、４隅に基準孔穿孔用
のターゲットマーク11が付設してある。このターゲット
マーク11は銅箔を印刷によって施してなり、直径を１ｍ
ｍ程度とし、撮影部３、即ちカメラ直下にターゲットマ
ーク11が位置するようにその都度自動制御でもって移動
させることができるようになっている。
【００１０】符号２は画像処理部であり、Ａ／Ｄ変換器
（図示せず）によってディジタル信号に変換された映像
情報（濃淡画像信号の映像情報）を２値化等の演算処理
をする画像処理回路12と、その２値化データを記憶する
画像メモリ22と、所定の制御プログラムを実行する中央
処理装置32と、その中央処理装置32への必要なデータを
記憶する記憶部42等とを備えており、上記ターゲットマ
ーク11の濃淡画像信号を画像処理回路12で２値化して、
画像メモリ22内に書き込むことができるようになってい
る。
（図示せず）によってディジタル信号に変換された映像
情報（濃淡画像信号の映像情報）を２値化等の演算処理
をする画像処理回路12と、その２値化データを記憶する
画像メモリ22と、所定の制御プログラムを実行する中央
処理装置32と、その中央処理装置32への必要なデータを
記憶する記憶部42等とを備えており、上記ターゲットマ
ーク11の濃淡画像信号を画像処理回路12で２値化して、
画像メモリ22内に書き込むことができるようになってい
る。
【００１１】符号４はモニタであり、上記する画像メモ
リ22のその画像を映し出し、後述するＸ、Ｙ軸方向にそ
の座標系を走査する。
リ22のその画像を映し出し、後述するＸ、Ｙ軸方向にそ
の座標系を走査する。
【００１２】上記走査は、前記画像処理回路12で２値化
された画像メモリ22内の２値化データ（ターゲットマー
クの２値化データ）の任意部位にカーソル13、13の中心
13’が位置する時にカーソル13、13の中心13’上からＸ
軸またはＹ軸の一方向に１画素ピッチ宛走査して０−１
または１−０に白黒変換する座標値をその方向のエッジ
として検出し、且つそのエッジの中点座標位置上から他
方の軸方向に１画素ピッチ宛走査して０−１または１−
０に白黒変換する座標値をその方向のエッジとして検出
し、更にそのエッジの中点座標位置（仮定中心）上から
前記一方向に同様に１画素ピッチ宛走査して０−１また
は１−０に白黒変換する座標値をその方向のエッジとし
て検出するようにする。
された画像メモリ22内の２値化データ（ターゲットマー
クの２値化データ）の任意部位にカーソル13、13の中心
13’が位置する時にカーソル13、13の中心13’上からＸ
軸またはＹ軸の一方向に１画素ピッチ宛走査して０−１
または１−０に白黒変換する座標値をその方向のエッジ
として検出し、且つそのエッジの中点座標位置上から他
方の軸方向に１画素ピッチ宛走査して０−１または１−
０に白黒変換する座標値をその方向のエッジとして検出
し、更にそのエッジの中点座標位置（仮定中心）上から
前記一方向に同様に１画素ピッチ宛走査して０−１また
は１−０に白黒変換する座標値をその方向のエッジとし
て検出するようにする。
【００１３】中央処理装置32は、図３のフローチャート
に示す制御プログラムを順に実行する。
に示す制御プログラムを順に実行する。
【００１４】次に、本実施例における画像処理によるタ
ーゲットマークの中心位置検出方法を上記走査及び図面
（図２及び図３）に基づいて詳細に説明する。まず、タ
ーゲットマーク11が撮影部３の真下に位置するようにプ
リント基板１を移動させてセットし、撮影部３で撮影さ
れた濃淡画像信号を画像処理回路12で２値化して画像メ
モリ22に書き込みし、その２値化データをモニタ４に映
し出す。この時、カーソル13、13の中心13’が２値化し
たターゲットマーク11の２値化データ内に位置している
かどうか判断する。まずカーソル13、13の中心13’が２
値化されたターゲットマーク11の白黒変換座標系内にな
い場合（ターゲットマーク11の撮影部３直下への移動が
不適切でターゲットマーク11が撮影されない場合等を考
慮して）にはエラー処理され、カーソル13、13の中心1
3’がその白黒変換座標系内にある場合には中心13’上
をＸ軸方向に１画素ピッチ宛走査して１−０または０−
１に白黒変換するその座標値で一方のエッジＸ１（イ
１）を検出する。そのエッジＸ１の検出が終了すると上
記中心13’上をＸ軸方向に逆側に１画素ピッチ宛走査し
て上記と同様に白黒変換するその座標値で他方のエッジ
Ｘ２（イ２）を検出する。次にエッジＸ１、Ｘ２の中点
座標位置をターゲットマーク11のＸ軸の中心として記憶
部42、即ちＲＡＭに記憶する。そして、上記ターゲット
マーク11の、そのＸ１、Ｘ２の中点座標位置上をＹ軸方
向に１画素ピッチ宛走査してエッジＹ１（ロ１）、Ｙ２
（ロ２）を各々検出し、その中点座標位置（仮定中心
Ｏ）を上記記憶部42に記憶する。次に上記するエッジＹ
１、Ｙ２の中点座標位置上をＸ軸方向に１画素ピッチ宛
走査して白黒変換する白黒変換座標値でエッジＸ１’
（イ１’）、Ｘ２’（イ２’）を検出する。更に、記憶
部42にティーチングで記憶されている直径基準値とエッ
ジＹ１（ロ１）、Ｙ２（ロ２）間距離及びエッジＸ１’
（イ１’）、Ｘ２’（イ２’）間距離とを照合して直径
基準値の基準範囲（許容範囲）に両エッジ間距離が適合
すればエッジＹ１（ロ１）、Ｙ２（ロ２）の中点座標値
（仮定中心Ｏ）をターゲットマーク11の中心として認定
し、両エッジ間距離が上記直径基準値の基準範囲（許容
範囲）外となって適合しない場合にはターゲットマーク
11は適正の大きさ及び形状のものではないものとしてエ
ラー処理する。
ーゲットマークの中心位置検出方法を上記走査及び図面
（図２及び図３）に基づいて詳細に説明する。まず、タ
ーゲットマーク11が撮影部３の真下に位置するようにプ
リント基板１を移動させてセットし、撮影部３で撮影さ
れた濃淡画像信号を画像処理回路12で２値化して画像メ
モリ22に書き込みし、その２値化データをモニタ４に映
し出す。この時、カーソル13、13の中心13’が２値化し
たターゲットマーク11の２値化データ内に位置している
かどうか判断する。まずカーソル13、13の中心13’が２
値化されたターゲットマーク11の白黒変換座標系内にな
い場合（ターゲットマーク11の撮影部３直下への移動が
不適切でターゲットマーク11が撮影されない場合等を考
慮して）にはエラー処理され、カーソル13、13の中心1
3’がその白黒変換座標系内にある場合には中心13’上
をＸ軸方向に１画素ピッチ宛走査して１−０または０−
１に白黒変換するその座標値で一方のエッジＸ１（イ
１）を検出する。そのエッジＸ１の検出が終了すると上
記中心13’上をＸ軸方向に逆側に１画素ピッチ宛走査し
て上記と同様に白黒変換するその座標値で他方のエッジ
Ｘ２（イ２）を検出する。次にエッジＸ１、Ｘ２の中点
座標位置をターゲットマーク11のＸ軸の中心として記憶
部42、即ちＲＡＭに記憶する。そして、上記ターゲット
マーク11の、そのＸ１、Ｘ２の中点座標位置上をＹ軸方
向に１画素ピッチ宛走査してエッジＹ１（ロ１）、Ｙ２
（ロ２）を各々検出し、その中点座標位置（仮定中心
Ｏ）を上記記憶部42に記憶する。次に上記するエッジＹ
１、Ｙ２の中点座標位置上をＸ軸方向に１画素ピッチ宛
走査して白黒変換する白黒変換座標値でエッジＸ１’
（イ１’）、Ｘ２’（イ２’）を検出する。更に、記憶
部42にティーチングで記憶されている直径基準値とエッ
ジＹ１（ロ１）、Ｙ２（ロ２）間距離及びエッジＸ１’
（イ１’）、Ｘ２’（イ２’）間距離とを照合して直径
基準値の基準範囲（許容範囲）に両エッジ間距離が適合
すればエッジＹ１（ロ１）、Ｙ２（ロ２）の中点座標値
（仮定中心Ｏ）をターゲットマーク11の中心として認定
し、両エッジ間距離が上記直径基準値の基準範囲（許容
範囲）外となって適合しない場合にはターゲットマーク
11は適正の大きさ及び形状のものではないものとしてエ
ラー処理する。
【００１５】これにより正規の面積及び平面視形状をも
って印刷されたターゲットマーク11の中心位置がエッジ
計測で求められる。
って印刷されたターゲットマーク11の中心位置がエッジ
計測で求められる。
【００１６】ちなみに、その結果をＩ／Ｏポート５を介
して外部機器であるＸ、Ｙ軸ドライバ回路６に指令を与
え、そのＸ、Ｙドライバ回路６がＸ、Ｙ軸送り機構７の
送り量を制御して穿孔具８（ドリル）を上記するターゲ
ットマーク11の中心Ｏ直下に送り、その位置からソレノ
イド、エアーシリンダからなるＺ軸送り機構９で穿孔具
（ドリル）８を上昇させて基準孔（図示せず）を穿孔す
る。
して外部機器であるＸ、Ｙ軸ドライバ回路６に指令を与
え、そのＸ、Ｙドライバ回路６がＸ、Ｙ軸送り機構７の
送り量を制御して穿孔具８（ドリル）を上記するターゲ
ットマーク11の中心Ｏ直下に送り、その位置からソレノ
イド、エアーシリンダからなるＺ軸送り機構９で穿孔具
（ドリル）８を上昇させて基準孔（図示せず）を穿孔す
る。
【００１７】次に図４及び図５に示す第２実施例を説明
すると、この実施例は第１実施例のエッジ計測で求めら
れたターゲットマーク11の中心Ｏを仮中心として前記す
るエッジＹ１（ロ１）、Ｙ２（ロ２）間距離及びエッジ
Ｘ１’（イ１’）、Ｘ２’（イ２’）間距離よりも僅か
に大きめのウインドウ10を開き、そしてそのウインドウ
10範囲のモニタ４画面の重心計測を行って更に精確なタ
ーゲットマーク11の中心を追求するものである。無論、
ウインドウ10範囲外はマスクして計測範囲から除外す
る。
すると、この実施例は第１実施例のエッジ計測で求めら
れたターゲットマーク11の中心Ｏを仮中心として前記す
るエッジＹ１（ロ１）、Ｙ２（ロ２）間距離及びエッジ
Ｘ１’（イ１’）、Ｘ２’（イ２’）間距離よりも僅か
に大きめのウインドウ10を開き、そしてそのウインドウ
10範囲のモニタ４画面の重心計測を行って更に精確なタ
ーゲットマーク11の中心を追求するものである。無論、
ウインドウ10範囲外はマスクして計測範囲から除外す
る。
【００１８】尚、上述する実施例ではカーソル13、13の
中心13’上をＸ軸方向に１画素ピッチ宛走査することか
ら開始しているが、逆にその中心13’上をＹ軸方向に１
画素ピッチ宛走査してエッジＹ１から検出しても構わな
い。この場合には図３及び図５に示すフローチャートの
ＸとＹとが単に入れ替わる図になるだけであるため、そ
のフローチャートは省略する。
中心13’上をＸ軸方向に１画素ピッチ宛走査することか
ら開始しているが、逆にその中心13’上をＹ軸方向に１
画素ピッチ宛走査してエッジＹ１から検出しても構わな
い。この場合には図３及び図５に示すフローチャートの
ＸとＹとが単に入れ替わる図になるだけであるため、そ
のフローチャートは省略する。
【図１】第１実施例の画像処理によるターゲットマーク
の中心位置検出方法を実施する装置のブロック図。
の中心位置検出方法を実施する装置のブロック図。
【図２】モニタ画面、２値化データ、カーソルの３者関
係を示すエッジ計測の状態図。
係を示すエッジ計測の状態図。
【図３】第１実施例のフローチャート
【図４】第２実施例のモニタ画面、２値化データ、カー
ソル、ウインドウとの４者関係を示す重心計測の状態図
ソル、ウインドウとの４者関係を示す重心計測の状態図
【図５】第２実施例のフローチャート。
11：ターゲットマーク １：ワーク（プ
リント基板） ４：モニタ ３：撮影部（カ
メラ） 13、13：カーソル 13’：カーソル
の中心 ２：画像処理部 42：記憶部
リント基板） ４：モニタ ３：撮影部（カ
メラ） 13、13：カーソル 13’：カーソル
の中心 ２：画像処理部 42：記憶部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｈ０５Ｋ 13/08 Ａ 8315−4Ｅ
Claims (1)
- 【請求項１】 穿孔用のターゲットマークを付設したワ
ークのそのターゲットマークを撮影部で撮影し、該濃淡
画像信号を画像処理部で２値化して、その２値化データ
をモニタ画面内に映し出し、カーソル中心がターゲット
マークの２値化データ内にある時にカーソル中心上をＸ
軸方向またはＹ軸方向に１画素ピッチ宛走査して得られ
る白黒反転座標値でその方向のエッジイ１、イ２をまず
計測し、次に該エッジイ１、イ２の中点座標位置上を他
方の軸方向に１画素ピッチ宛走査して得られる白黒反転
座標値でその軸方向のエッジロ１、ロ２を計測し、そし
て該エッジロ１、ロ２の中点座標位置上を前記エッジイ
１、イ２と平行する方向に前記１画素ピッチ宛走査して
得られる白黒反転座標値でエッジイ１’、イ２’を計測
し、記憶部に記憶されたターゲットマークのＸ軸、Ｙ軸
方向の直径基準値と前記エッジロ１、ロ２間距離及びエ
ッジイ１’、イ２’間距離とが適合してエッジロ１、ロ
２の中点座標位置を前記ターゲットマークの中心とする
ことを特徴とするターゲットマークの中心位置検出方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5124181A JPH06331312A (ja) | 1993-05-26 | 1993-05-26 | 画像処理によるターゲットマークの中心位置検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5124181A JPH06331312A (ja) | 1993-05-26 | 1993-05-26 | 画像処理によるターゲットマークの中心位置検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06331312A true JPH06331312A (ja) | 1994-12-02 |
Family
ID=14878987
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5124181A Pending JPH06331312A (ja) | 1993-05-26 | 1993-05-26 | 画像処理によるターゲットマークの中心位置検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06331312A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114589077A (zh) * | 2022-03-25 | 2022-06-07 | 飓蜂科技(苏州)有限公司 | 侧边点胶方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0350608A (ja) * | 1989-07-18 | 1991-03-05 | Fujitsu Ltd | トラツキング方法 |
| JPH04171585A (ja) * | 1990-11-06 | 1992-06-18 | Toshiba Eng Co Ltd | 画像処理装置 |
-
1993
- 1993-05-26 JP JP5124181A patent/JPH06331312A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0350608A (ja) * | 1989-07-18 | 1991-03-05 | Fujitsu Ltd | トラツキング方法 |
| JPH04171585A (ja) * | 1990-11-06 | 1992-06-18 | Toshiba Eng Co Ltd | 画像処理装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114589077A (zh) * | 2022-03-25 | 2022-06-07 | 飓蜂科技(苏州)有限公司 | 侧边点胶方法 |
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