JPH0633581Y2 - 波形解析回路 - Google Patents
波形解析回路Info
- Publication number
- JPH0633581Y2 JPH0633581Y2 JP19887685U JP19887685U JPH0633581Y2 JP H0633581 Y2 JPH0633581 Y2 JP H0633581Y2 JP 19887685 U JP19887685 U JP 19887685U JP 19887685 U JP19887685 U JP 19887685U JP H0633581 Y2 JPH0633581 Y2 JP H0633581Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- edge
- window
- circuit
- read signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Manipulation Of Pulses (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は、光ディスクなどの記録特性（性能）を調べる
光ディスクテスタにおいて、入力信号がいかに忠実に記
録されているかを検出するために使用される波形解析回
路の改良に関するものである。
光ディスクテスタにおいて、入力信号がいかに忠実に記
録されているかを検出するために使用される波形解析回
路の改良に関するものである。
一般に、光ディスクの記録特性を検査するためには、一
定の基準信号（“1"“0"周期波形）で書き込みを行なっ
た後、これを読み出すとともに、この読出し信号におけ
る基準信号との差（エラー）を検出して、エラーの数
（エラーレート）によりその特性を判別している。波形
解析回路はこのようなエラーの検出に際して、読出し信
号が基準信号における正常波形の範囲に入っているか否
かを検出するものである。
定の基準信号（“1"“0"周期波形）で書き込みを行なっ
た後、これを読み出すとともに、この読出し信号におけ
る基準信号との差（エラー）を検出して、エラーの数
（エラーレート）によりその特性を判別している。波形
解析回路はこのようなエラーの検出に際して、読出し信
号が基準信号における正常波形の範囲に入っているか否
かを検出するものである。
従来、この種の波形解析回路には、FM復調方式を応用し
た検出回路が多く使用されている。第３図はこのような
波形解析回路における検出原理を示す波形図である。図
において、（ａ）は書込みに使用される基準信号Ss、
（ｂ）はFM復調方式の応用により、パルス波形の一定範
囲を観測するためのウィンドウ信号Sw、（Ｃ）は読出し
信号Srの一例、（ｄ）は検出結果に応じて得られる出力
信号Soをそれぞれ示している。図に示されるように、こ
の方式の波形解析回路は、ウィンドウ信号Swに応じた期
間内（以下、これをウィンドウ期間という）において、
読出し信号Srにおける状態変化を観測するもので、例え
ば、この期間内に読出し信号Srの立下りが観測された場
合には、パルス幅の不足として出力信号So（エラー信
号）が発生される。
た検出回路が多く使用されている。第３図はこのような
波形解析回路における検出原理を示す波形図である。図
において、（ａ）は書込みに使用される基準信号Ss、
（ｂ）はFM復調方式の応用により、パルス波形の一定範
囲を観測するためのウィンドウ信号Sw、（Ｃ）は読出し
信号Srの一例、（ｄ）は検出結果に応じて得られる出力
信号Soをそれぞれ示している。図に示されるように、こ
の方式の波形解析回路は、ウィンドウ信号Swに応じた期
間内（以下、これをウィンドウ期間という）において、
読出し信号Srにおける状態変化を観測するもので、例え
ば、この期間内に読出し信号Srの立下りが観測された場
合には、パルス幅の不足として出力信号So（エラー信
号）が発生される。
しかしながら、このような波形解析回路においては、ウ
ィンドウ期間内における読出し信号Srの状態変化の有無
を観測しているので、前記第３図（ｃ）に示す如く、パ
ルス幅が極端に狭かったり、広かったりして、明らかに
不適当な読出し信号Srであった場合にも、ウィンドウ期
間内において状態が変化しないものは、エラーとして検
出することができない。
ィンドウ期間内における読出し信号Srの状態変化の有無
を観測しているので、前記第３図（ｃ）に示す如く、パ
ルス幅が極端に狭かったり、広かったりして、明らかに
不適当な読出し信号Srであった場合にも、ウィンドウ期
間内において状態が変化しないものは、エラーとして検
出することができない。
本考案は、上記のような従来装置の欠点をなくし、読出
し信号におけるどのような状態のエラーでも確実に検出
することのできる波形解析回路を簡単な構成により実現
することを目的としたものである。
し信号におけるどのような状態のエラーでも確実に検出
することのできる波形解析回路を簡単な構成により実現
することを目的としたものである。
本考案の波形解析回路は、読出し信号における立上りお
よび立下りのそれぞれに対してウィンドウ信号を設け、
これらのウィンドウ信号の期間内においてそれぞれ立上
りおよび立下りが観測された時にのみ、読出し信号を正
常と判断するようにしたものである。
よび立下りのそれぞれに対してウィンドウ信号を設け、
これらのウィンドウ信号の期間内においてそれぞれ立上
りおよび立下りが観測された時にのみ、読出し信号を正
常と判断するようにしたものである。
このように、読出し信号における立上りおよび立下りの
それぞれに対してウィンドウ信号を設けるようにする
と、読出し信号のパルス幅が極端に狭かったり、広かっ
たりした場合には、どちらかのウィンドウ期間において
エラーが検出されるので、読出し信号におけるどのよう
な状態のエラーでも確実に検出することができる。
それぞれに対してウィンドウ信号を設けるようにする
と、読出し信号のパルス幅が極端に狭かったり、広かっ
たりした場合には、どちらかのウィンドウ期間において
エラーが検出されるので、読出し信号におけるどのよう
な状態のエラーでも確実に検出することができる。
第１図は本考案の波形解析回路の一実施例を示す構成図
である。図において、１は読出し信号Srにおける立上り
および立下りを検出して、エッジ信号Peを発生するエッ
ジ検出回路、２は書込みに使用された基準信号を基にし
て読出し信号Srにおける立上りおよび立下りの正常範囲
をそれぞれ規定するウィンドウ信号Sw1,Sw2を発生する
ウィンドウ信号発生回路、3,4は例えば立上りおよび立
下りのウィンドウ信号Sw1,Sw2によりそれぞれの計数動
作が制御されるカウンタよりなり、それぞれのウィンド
ウ期間内に印加されるエッジ信号Peの有無を検出するエ
ッジ信号検出回路、５はエッジ信号検出回路3,4の各検
出出力P1,P2を加算出力するアオ回路である。
である。図において、１は読出し信号Srにおける立上り
および立下りを検出して、エッジ信号Peを発生するエッ
ジ検出回路、２は書込みに使用された基準信号を基にし
て読出し信号Srにおける立上りおよび立下りの正常範囲
をそれぞれ規定するウィンドウ信号Sw1,Sw2を発生する
ウィンドウ信号発生回路、3,4は例えば立上りおよび立
下りのウィンドウ信号Sw1,Sw2によりそれぞれの計数動
作が制御されるカウンタよりなり、それぞれのウィンド
ウ期間内に印加されるエッジ信号Peの有無を検出するエ
ッジ信号検出回路、５はエッジ信号検出回路3,4の各検
出出力P1,P2を加算出力するアオ回路である。
以下、上記のように構成された波形解析回路の動作を第
２図の波形図を参照しながら説明する。なお、第２図
（ｂ）には読出し信号Srにおける各種の波形パターンを
示した。
２図の波形図を参照しながら説明する。なお、第２図
（ｂ）には読出し信号Srにおける各種の波形パターンを
示した。
読出し信号Srにおける（１）のパターンは、正常な波形
状態である。また、エッジ信号Peはt1,t2のタイミング
で発生される。この時、立上りに応じたエッジ信号Pe
（t1）はウィンドウ信号Sw1のウィンドウ期間内にるの
で、立上り側のエッジ信号検出回路３はエッジ信号Pe
（t1）に応じた検出出力P1を発生する。同様に、立下り
に応じたエッジ信号Pe（t2）もウィンドウ信号Sw2のウ
ィンドウ期間内にあるので、立下り側のエッジ信号検出
回路４はエッジ信号Pe（t2）に応じた検出出力P2を発生
する。したがって、オア回路５からは読出し信号Srの立
上りおよび立下りに応じた２つの出力信号（パルス信
号）Soが出力される。ここで、本波形解析回路において
は、読出し信号Srの立上りおよび立下りに対して、それ
ぞれ１つづつの出力信号Soが発生された場合に、読出し
信号Srが正常な波形状態であったと判断するものであ
る。
状態である。また、エッジ信号Peはt1,t2のタイミング
で発生される。この時、立上りに応じたエッジ信号Pe
（t1）はウィンドウ信号Sw1のウィンドウ期間内にるの
で、立上り側のエッジ信号検出回路３はエッジ信号Pe
（t1）に応じた検出出力P1を発生する。同様に、立下り
に応じたエッジ信号Pe（t2）もウィンドウ信号Sw2のウ
ィンドウ期間内にあるので、立下り側のエッジ信号検出
回路４はエッジ信号Pe（t2）に応じた検出出力P2を発生
する。したがって、オア回路５からは読出し信号Srの立
上りおよび立下りに応じた２つの出力信号（パルス信
号）Soが出力される。ここで、本波形解析回路において
は、読出し信号Srの立上りおよび立下りに対して、それ
ぞれ１つづつの出力信号Soが発生された場合に、読出し
信号Srが正常な波形状態であったと判断するものであ
る。
読出し信号Srにおける（２）〜（４）のパターンはそれ
ぞれエラー状態を示すものである。すなわち、（２），
（３）のパターンにおいては、読出し信号Srのパルス幅
が狭く、読出し信号Srの立下りに応じたエッジ信号Pe
（t4），（t6）がウィンドウ信号Sw2のウィンドウ期間
内に、エッジ信号検出回路４に印加されないので、エッ
ジ信号検出回路４からは検出出力P2が発生されず、出力
信号Soのパルス数が１つのみとなり、読出し信号Srのエ
ラーが検出される。また、（４）のパターンにおいて
は、読出し信号Srのパルス幅が広く、読出し信号Srの立
下りに応じたエッジ信号Peがウィンドウ信号Sw2のウィ
ンドウ期間内に、エッジ信号検出回路４に印加されない
ので、前記と同様に、エッジ信号検出回路４からは検出
出力P2が発生されず、読出し信号Srのエラーが検出され
る。
ぞれエラー状態を示すものである。すなわち、（２），
（３）のパターンにおいては、読出し信号Srのパルス幅
が狭く、読出し信号Srの立下りに応じたエッジ信号Pe
（t4），（t6）がウィンドウ信号Sw2のウィンドウ期間
内に、エッジ信号検出回路４に印加されないので、エッ
ジ信号検出回路４からは検出出力P2が発生されず、出力
信号Soのパルス数が１つのみとなり、読出し信号Srのエ
ラーが検出される。また、（４）のパターンにおいて
は、読出し信号Srのパルス幅が広く、読出し信号Srの立
下りに応じたエッジ信号Peがウィンドウ信号Sw2のウィ
ンドウ期間内に、エッジ信号検出回路４に印加されない
ので、前記と同様に、エッジ信号検出回路４からは検出
出力P2が発生されず、読出し信号Srのエラーが検出され
る。
このように、読出し信号Srにおける立上りおよび立下り
のそれぞれに対してウィンドウ信号Sw1,Sw2を設けると
ともに、各ウィンドウ期間内にそれぞれエッジ信号Peが
印加された時にのみ、読出し信号Srの波形状態が正常で
あると判断しているので、読出し信号Srにおけるどのよ
うな状態のエラーでも確実に検出することができる。
のそれぞれに対してウィンドウ信号Sw1,Sw2を設けると
ともに、各ウィンドウ期間内にそれぞれエッジ信号Peが
印加された時にのみ、読出し信号Srの波形状態が正常で
あると判断しているので、読出し信号Srにおけるどのよ
うな状態のエラーでも確実に検出することができる。
なお、上記の説明において、立上りおよび立下りのウィ
ンドウ信号Sw1,Sw2におけるパルス幅は、読出し信号Sr
における立上りおよび立下りの許容範囲に応じて定めら
れるもので、図示の状態に限定されるものではない。ま
た、立上りおよび立下りのウィンドウ期間を読出し信号
Sr（基準信号Ss）の１／２周期とした場合には、ウィン
ドウ信号発生回路２を例えばPLL（フェイズ・ロックド
・ループ）回路と位相反転回路とによる簡単な回路で構
成することができる。
ンドウ信号Sw1,Sw2におけるパルス幅は、読出し信号Sr
における立上りおよび立下りの許容範囲に応じて定めら
れるもので、図示の状態に限定されるものではない。ま
た、立上りおよび立下りのウィンドウ期間を読出し信号
Sr（基準信号Ss）の１／２周期とした場合には、ウィン
ドウ信号発生回路２を例えばPLL（フェイズ・ロックド
・ループ）回路と位相反転回路とによる簡単な回路で構
成することができる。
以上説明したように、本考案の波形解析回路では、読出
し信号における立上りおよび立下りのそれぞれに対して
ウィンドウ信号を設け、これらのウィンドウ信号の期間
内においてそれぞれ立上りおよび立下りが観測された時
にのみ、読出し信号を正常と判断するようにしているの
で、読出し信号のパルス幅が極端に狭かったり、広かっ
たりした場合には、どちらかのウィンドウ期間において
エラーが検出されることになり、読出し信号におけるど
のような状態のエラーでも確実に検出することのできる
波形解析回路を簡単な構成により実現することができ
る。
し信号における立上りおよび立下りのそれぞれに対して
ウィンドウ信号を設け、これらのウィンドウ信号の期間
内においてそれぞれ立上りおよび立下りが観測された時
にのみ、読出し信号を正常と判断するようにしているの
で、読出し信号のパルス幅が極端に狭かったり、広かっ
たりした場合には、どちらかのウィンドウ期間において
エラーが検出されることになり、読出し信号におけるど
のような状態のエラーでも確実に検出することのできる
波形解析回路を簡単な構成により実現することができ
る。
第１図は本考案の波形解析回路の一実施例を示す構成
図、第２図は第１図の波形解析回路の動作を説明する波
形図、第３図は従来の波形解析回路における動作の一例
を示す波形図である。 １……エッジ検出回路、２……ウィンドウ信号発生回
路、3,4……エッジ信号検出回路、５……オア回路。
図、第２図は第１図の波形解析回路の動作を説明する波
形図、第３図は従来の波形解析回路における動作の一例
を示す波形図である。 １……エッジ検出回路、２……ウィンドウ信号発生回
路、3,4……エッジ信号検出回路、５……オア回路。
Claims (1)
- 【請求項１】読出し信号における立上りおよび立下りを
検出してエッジ信号を発生するエッジ検出回路と、書込
みに使用された基準信号を基にして前記読出し信号にお
ける立上りおよび立下りの正常範囲をそれぞれ規定する
２つのウィンドウ信号を発生するウィンドウ信号発生回
路と、前記立上りおよび立下りのウィンドウ信号におけ
るそれぞれのウィンドウ期間内に印加される前記エッジ
信号の有無を検出するエッジ信号検出回路と、このエッ
ジ信号検出回路の各検出出力を加算出力するオア回路と
を具備してなる波形解析回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19887685U JPH0633581Y2 (ja) | 1985-12-24 | 1985-12-24 | 波形解析回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19887685U JPH0633581Y2 (ja) | 1985-12-24 | 1985-12-24 | 波形解析回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62106361U JPS62106361U (ja) | 1987-07-07 |
| JPH0633581Y2 true JPH0633581Y2 (ja) | 1994-08-31 |
Family
ID=31159974
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19887685U Expired - Lifetime JPH0633581Y2 (ja) | 1985-12-24 | 1985-12-24 | 波形解析回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0633581Y2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US12087481B2 (en) * | 2022-10-13 | 2024-09-10 | Baotou Jinshan Magnetic Material Co., Ltd. | Auxiliary alloy casting piece, high-remanence and high-coercive force NdFeB permanent magnet, and preparation methods thereof |
-
1985
- 1985-12-24 JP JP19887685U patent/JPH0633581Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US12087481B2 (en) * | 2022-10-13 | 2024-09-10 | Baotou Jinshan Magnetic Material Co., Ltd. | Auxiliary alloy casting piece, high-remanence and high-coercive force NdFeB permanent magnet, and preparation methods thereof |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62106361U (ja) | 1987-07-07 |
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