JPH06338380A - ヒーター及びその製造方法 - Google Patents
ヒーター及びその製造方法Info
- Publication number
- JPH06338380A JPH06338380A JP12710293A JP12710293A JPH06338380A JP H06338380 A JPH06338380 A JP H06338380A JP 12710293 A JP12710293 A JP 12710293A JP 12710293 A JP12710293 A JP 12710293A JP H06338380 A JPH06338380 A JP H06338380A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- heater
- diamond
- substrate
- film
- resistance layer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Landscapes
- Resistance Heating (AREA)
- Fixing For Electrophotography (AREA)
- Control Of Resistance Heating (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 絶縁性基板上に設けた抵抗層により加熱を行
うヒーターにおいて、前記抵抗層を熱伝導率及び硬度の
高い保護層によって覆い、ヒーターの熱効率や耐久性を
向上すること。 【構成】 絶縁性基板2と、該絶縁性基板に支持され通
電により発熱する抵抗層3と、抵抗層端部に設けられた
電極端子部12を有するヒーターにおいて、前記抵抗層
3の保護層として気相合成法により形成したダイヤモン
ド層6を用いた。
うヒーターにおいて、前記抵抗層を熱伝導率及び硬度の
高い保護層によって覆い、ヒーターの熱効率や耐久性を
向上すること。 【構成】 絶縁性基板2と、該絶縁性基板に支持され通
電により発熱する抵抗層3と、抵抗層端部に設けられた
電極端子部12を有するヒーターにおいて、前記抵抗層
3の保護層として気相合成法により形成したダイヤモン
ド層6を用いた。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、複写機、レーザービー
ムプリンタ等の画像形成装置に用いられるヒーターに関
し、特に未定着画像の加熱定着に用いられるヒーターに
関するものである。
ムプリンタ等の画像形成装置に用いられるヒーターに関
し、特に未定着画像の加熱定着に用いられるヒーターに
関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、特開昭63−313182号公報
等で固定ヒーターと、このヒーターと摺動する薄膜フィ
ルムを用いた加熱装置が提案されている。
等で固定ヒーターと、このヒーターと摺動する薄膜フィ
ルムを用いた加熱装置が提案されている。
【0003】このようなヒーターに関し、本発明に係る
ヒーターを示す図1、図2を参照して説明する。ヒータ
ー1は、電気絶縁性・耐熱性・低熱容量の細長い基板2
と、この基板2の一方面側(表面側)の基板幅方向中央
部に基板長手に沿って直線細帯状に形成した通電発熱体
3と、この通電発熱抵抗体の両端部にそれぞれ導通させ
て基板面に形成した電極端子(接続端子)4・5と、基
板2の通電発熱抵抗体形成面を被覆させたヒーター表面
保護層としてのガラス等の電気絶縁性保護層6と、基板
2の他方面側(背面側)に設けたサーミスター等の温度
検出素子7を有する。基板2は、例えば、幅10mm・
厚さ1mm・長さ240mmのAl2 O3 、AlN、S
iC等のセラミック板等である。通電発熱抵抗体3は、
例えば厚さ10μm・幅1mmの、スクリーン印刷等で
塗工したAg/Pd(銀パラジウム合金)、RuO2 、
Ta2 N等を大気焼成して形成したパターン層である。
電極端子(接続端子)4・5は、通常厚さ10μmのス
クリーン印刷等で塗工したAgを大気焼成して形成した
パターン層であり、この電極4・5に通常は、コネクタ
ー(不図示)を介して電線を接続し給電する。
ヒーターを示す図1、図2を参照して説明する。ヒータ
ー1は、電気絶縁性・耐熱性・低熱容量の細長い基板2
と、この基板2の一方面側(表面側)の基板幅方向中央
部に基板長手に沿って直線細帯状に形成した通電発熱体
3と、この通電発熱抵抗体の両端部にそれぞれ導通させ
て基板面に形成した電極端子(接続端子)4・5と、基
板2の通電発熱抵抗体形成面を被覆させたヒーター表面
保護層としてのガラス等の電気絶縁性保護層6と、基板
2の他方面側(背面側)に設けたサーミスター等の温度
検出素子7を有する。基板2は、例えば、幅10mm・
厚さ1mm・長さ240mmのAl2 O3 、AlN、S
iC等のセラミック板等である。通電発熱抵抗体3は、
例えば厚さ10μm・幅1mmの、スクリーン印刷等で
塗工したAg/Pd(銀パラジウム合金)、RuO2 、
Ta2 N等を大気焼成して形成したパターン層である。
電極端子(接続端子)4・5は、通常厚さ10μmのス
クリーン印刷等で塗工したAgを大気焼成して形成した
パターン層であり、この電極4・5に通常は、コネクタ
ー(不図示)を介して電線を接続し給電する。
【0004】ヒーター1は定着面の温度を管理・制御す
るために装置の横断面において、通電発熱抵抗体3を定
着ニップ部15(合接ニップ部、加圧部)の幅領域の略
中央部に位置させる構造となっている。ヒーター1の絶
縁保護層6側がフィルム接触摺動面側である。ヒーター
1は通電発熱抵抗体3の両端電極端子4・5間に交流電
源12より電圧印加され、該通電発熱抵抗体3が発熱す
ることで昇温する。ヒーター1の温度は基板背面の温度
検出素子7で検出されてその検出情報が通電制御回路1
3へフィードバックされて、交流電源12から通電発熱
抵抗体3への通電が制御され、ヒーター1が所定の温度
に温度制御される。ヒーター1の温度検出素子7は熱応
答性の最も良い定着面、つまりヒーター基板表面側の通
電発熱抵抗体3の形成位置に対応する基板背面側部分位
置(通電発熱抵抗体3の直下に対応する基板背面側部分
位置)に配設される。
るために装置の横断面において、通電発熱抵抗体3を定
着ニップ部15(合接ニップ部、加圧部)の幅領域の略
中央部に位置させる構造となっている。ヒーター1の絶
縁保護層6側がフィルム接触摺動面側である。ヒーター
1は通電発熱抵抗体3の両端電極端子4・5間に交流電
源12より電圧印加され、該通電発熱抵抗体3が発熱す
ることで昇温する。ヒーター1の温度は基板背面の温度
検出素子7で検出されてその検出情報が通電制御回路1
3へフィードバックされて、交流電源12から通電発熱
抵抗体3への通電が制御され、ヒーター1が所定の温度
に温度制御される。ヒーター1の温度検出素子7は熱応
答性の最も良い定着面、つまりヒーター基板表面側の通
電発熱抵抗体3の形成位置に対応する基板背面側部分位
置(通電発熱抵抗体3の直下に対応する基板背面側部分
位置)に配設される。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】未定着画像を定着する
ためには、ヒーター上の絶縁性保護層並びにフィルム接
触摺動面を介してヒーターの熱を伝熱させて熱定着す
る。しかしながら、絶縁性保護層とフィルムとの接触摺
動時の摩耗により、接触摺動距離が約60kmに達する
とフィルムの摩耗が激しくなってくる。このとき生じる
摩耗粉が、フィルムを駆動するローラーに不均一に付着
することから、フィルムの駆動速度が不規則となり、結
果として未定着画像の定着が不均一になるという問題が
発生する。絶縁保護膜に使用されているガラス質層は低
軟化点ガラスを印刷、焼成することにより形成される。
このガラス質層とフィルムの表面形状差(摩擦係数
差)、硬度差により、フィルムの摩耗が生じるものと考
えられる。このため、耐熱性のポリミドフィルムにフィ
ラーを混入したり、テフロンコーティング等を施して摩
擦係数を小さくし、フィルムの摩擦を防いでいるが、十
分な効果を得るに至っていない。
ためには、ヒーター上の絶縁性保護層並びにフィルム接
触摺動面を介してヒーターの熱を伝熱させて熱定着す
る。しかしながら、絶縁性保護層とフィルムとの接触摺
動時の摩耗により、接触摺動距離が約60kmに達する
とフィルムの摩耗が激しくなってくる。このとき生じる
摩耗粉が、フィルムを駆動するローラーに不均一に付着
することから、フィルムの駆動速度が不規則となり、結
果として未定着画像の定着が不均一になるという問題が
発生する。絶縁保護膜に使用されているガラス質層は低
軟化点ガラスを印刷、焼成することにより形成される。
このガラス質層とフィルムの表面形状差(摩擦係数
差)、硬度差により、フィルムの摩耗が生じるものと考
えられる。このため、耐熱性のポリミドフィルムにフィ
ラーを混入したり、テフロンコーティング等を施して摩
擦係数を小さくし、フィルムの摩擦を防いでいるが、十
分な効果を得るに至っていない。
【0006】また、保護層がガラス等の熱伝導率の小さ
い材料であるため、ヒーターの熱が効率的に未定着画像
に供給されず、定着に過大な熱量を必要とする。通電電
流を大きくすると、図3に示すようなコネクターを形成
しているバネ材(一般にはリン青銅)が高温クリープに
より劣化し、コンタクト圧力の低下、接続抵抗値の上
昇、更には熱暴走を引き起こす結果、接続部及び装置の
信頼性に問題を生じることになる。このため、定着速度
の高速化と定着ボリュームの増大に対応することができ
ず、より長寿命(接触摺動距離の長い)の加熱定着装置
が求められている。
い材料であるため、ヒーターの熱が効率的に未定着画像
に供給されず、定着に過大な熱量を必要とする。通電電
流を大きくすると、図3に示すようなコネクターを形成
しているバネ材(一般にはリン青銅)が高温クリープに
より劣化し、コンタクト圧力の低下、接続抵抗値の上
昇、更には熱暴走を引き起こす結果、接続部及び装置の
信頼性に問題を生じることになる。このため、定着速度
の高速化と定着ボリュームの増大に対応することができ
ず、より長寿命(接触摺動距離の長い)の加熱定着装置
が求められている。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は、ヒーターの保
護層として気相合成法で形成した電気絶縁性が高く、高
熱伝導率、高硬度、低摩擦係数であるダイヤモンド膜を
用いることにより、上述の問題を解決したものである。
護層として気相合成法で形成した電気絶縁性が高く、高
熱伝導率、高硬度、低摩擦係数であるダイヤモンド膜を
用いることにより、上述の問題を解決したものである。
【0008】以下、本発明に関して詳細に説明する。本
発明に係るダイヤモンド結晶は、熱伝導率が600〜2
100W/m・k、電気抵抗(体積抵抗率)1010〜1
016Ωcm、硬度10000kgf/mm2 等に代表さ
れる物理的性質を有するものである。
発明に係るダイヤモンド結晶は、熱伝導率が600〜2
100W/m・k、電気抵抗(体積抵抗率)1010〜1
016Ωcm、硬度10000kgf/mm2 等に代表さ
れる物理的性質を有するものである。
【0009】本発明においてダイヤモンド膜を形成する
ための基板としては、ダイヤモンド結晶を形成するため
に適した材料であると同時に、機械的研磨、エッチング
が可能であることが好ましい。このような材料として
は、Si、Ta、Mo、W、SiC、WC、SiO2 、
Al2 O3 、Si3 N4 等が挙げられる。
ための基板としては、ダイヤモンド結晶を形成するため
に適した材料であると同時に、機械的研磨、エッチング
が可能であることが好ましい。このような材料として
は、Si、Ta、Mo、W、SiC、WC、SiO2 、
Al2 O3 、Si3 N4 等が挙げられる。
【0010】本発明で用いるダイヤモンド結晶の気相合
成法は、熱フィラメントCVD法、マイクロ波プラズマ
CVD法、直流プラズマCVD法、高周波プラズマCV
D法、有磁場マイクロ波プラズマCVD法、燃焼炎法等
を挙げることができる。このとき用いる原料ガスは、炭
素源としてメタン、エタン、プロパン、エチレン、ベン
ゼン、アセチレン等の炭化水素;塩化メチレン、四塩化
炭素、クロロホルム、トリクロルエタン等のハロゲン化
炭化水素;メチルアルコール、エチルアルコール等のア
ルコール類;(CH3 )2 CO、(C6 H5 )2 CO等
のケトン類;CO、CO2 等のガス、及びこれらのガス
にN2 ,H2 ,O2 ,H2 O,Ar等のガスを混合した
ものが挙げられる。
成法は、熱フィラメントCVD法、マイクロ波プラズマ
CVD法、直流プラズマCVD法、高周波プラズマCV
D法、有磁場マイクロ波プラズマCVD法、燃焼炎法等
を挙げることができる。このとき用いる原料ガスは、炭
素源としてメタン、エタン、プロパン、エチレン、ベン
ゼン、アセチレン等の炭化水素;塩化メチレン、四塩化
炭素、クロロホルム、トリクロルエタン等のハロゲン化
炭化水素;メチルアルコール、エチルアルコール等のア
ルコール類;(CH3 )2 CO、(C6 H5 )2 CO等
のケトン類;CO、CO2 等のガス、及びこれらのガス
にN2 ,H2 ,O2 ,H2 O,Ar等のガスを混合した
ものが挙げられる。
【0011】ダイヤモンド結晶の合成条件は、例えば、
原料ガスに水素−メタン系を用いたマイクロ波プラズマ
CVD法では、通常メタンガス濃度を0.1〜1.0
%、基板温度を600℃〜900℃、ガス圧を1.33
〜26.6kPa、全ガス流量を100〜1000ml
/min.とする。なお、ダイヤモンド結晶の形成条件
は、合成方法により異なる。
原料ガスに水素−メタン系を用いたマイクロ波プラズマ
CVD法では、通常メタンガス濃度を0.1〜1.0
%、基板温度を600℃〜900℃、ガス圧を1.33
〜26.6kPa、全ガス流量を100〜1000ml
/min.とする。なお、ダイヤモンド結晶の形成条件
は、合成方法により異なる。
【0012】本発明で述べるダイヤモンド結晶とは、例
えば、X線回折や電子線回折、ラマン分光等の分析方法
でダイヤモンド結晶として確認できるものである。例え
ばラマン分光分析法では、図4に示すように1333c
m-1付近にダイヤモンドの鋭いピークを持ち、1360
cm-1及び1550cm-1付近に非ダイヤモンド成分の
炭素質に起因するブロードなピークを僅かに持つもので
ある。ダイヤモンド結晶の熱伝導率は、ダイヤモンドの
結晶性に大きく依存し、結晶性が良好で不純物の少ない
結晶ほど熱伝導率は良好である。(大きくなる。)従っ
て、ラマンスペクトルにおいて1360cm-1及び15
50cm-1付近に見られるブロードなピークが観測され
ないものが良く、ダイヤモンドと非晶質炭素の存在の割
合をラマン分光分析の非晶質炭素ピーク(1550cm
-1付近のブロードなピーク)とダイヤモンドピーク(1
333cm-1)との強度比(I1550/I1333)で表す
と、0≦I1550/I1333≦1であることが理想的であ
る。I1550/I1333>1では、ダイヤモンドの結晶性が
劣化し、熱伝導率が低下する。更に、ダイヤモンドの結
晶性は、成膜条件における原料ガスの種類や濃度と相関
が大きい。例えば、メタン−水素系ではメタン濃度が低
下するにしたがい結晶性が向上し、これにともない熱伝
導率も高くなる。あるいは、メタン−水素−酸素系で
は、原料ガス中の炭素と酸素の原子数比をO/C=0.
8とすることにより結晶性の良いダイヤモンド膜を得る
ことができる。なお、ダイヤモンドの結晶性が良好にな
ることは、前述のダイヤモンドの有する物理的性質を満
足することであり、高熱伝導率に加え高絶縁性等の性質
も同時に実現するものである。
えば、X線回折や電子線回折、ラマン分光等の分析方法
でダイヤモンド結晶として確認できるものである。例え
ばラマン分光分析法では、図4に示すように1333c
m-1付近にダイヤモンドの鋭いピークを持ち、1360
cm-1及び1550cm-1付近に非ダイヤモンド成分の
炭素質に起因するブロードなピークを僅かに持つもので
ある。ダイヤモンド結晶の熱伝導率は、ダイヤモンドの
結晶性に大きく依存し、結晶性が良好で不純物の少ない
結晶ほど熱伝導率は良好である。(大きくなる。)従っ
て、ラマンスペクトルにおいて1360cm-1及び15
50cm-1付近に見られるブロードなピークが観測され
ないものが良く、ダイヤモンドと非晶質炭素の存在の割
合をラマン分光分析の非晶質炭素ピーク(1550cm
-1付近のブロードなピーク)とダイヤモンドピーク(1
333cm-1)との強度比(I1550/I1333)で表す
と、0≦I1550/I1333≦1であることが理想的であ
る。I1550/I1333>1では、ダイヤモンドの結晶性が
劣化し、熱伝導率が低下する。更に、ダイヤモンドの結
晶性は、成膜条件における原料ガスの種類や濃度と相関
が大きい。例えば、メタン−水素系ではメタン濃度が低
下するにしたがい結晶性が向上し、これにともない熱伝
導率も高くなる。あるいは、メタン−水素−酸素系で
は、原料ガス中の炭素と酸素の原子数比をO/C=0.
8とすることにより結晶性の良いダイヤモンド膜を得る
ことができる。なお、ダイヤモンドの結晶性が良好にな
ることは、前述のダイヤモンドの有する物理的性質を満
足することであり、高熱伝導率に加え高絶縁性等の性質
も同時に実現するものである。
【0013】ダイヤモンド層の厚さは、ヒーター使用条
件において十分な絶縁耐圧と定着時の押圧力からヒータ
ーを保護できる機械的強度を保証することのできる厚さ
で、数μm〜数1000μmの範囲であれば良い。好ま
しくは、数10μm〜数100μmが好適である。
件において十分な絶縁耐圧と定着時の押圧力からヒータ
ーを保護できる機械的強度を保証することのできる厚さ
で、数μm〜数1000μmの範囲であれば良い。好ま
しくは、数10μm〜数100μmが好適である。
【0014】前述の基板にダイヤモンド膜又は層を形成
した後、ヒーターとなる発熱抵抗体をスパッタリング法
等のPVD法により形成し、抵抗値を測定して必要によ
りトリミングを行う。同様に、Au、Ag、Cuをスパ
ッタリング法により電極端子を形成する。次に、ダイヤ
モンド膜、発熱抵抗体、電極端子の上にセラミックス系
のペースト(接着剤)をスクリーン印刷等で形成した
後、セラミックス製絶縁性基板を貼り合わせ、焼成する
ことにより接着する。なお、発熱抵抗体、電極端子の形
成方法は、スパッタリング法、真空蒸着法、イオンプレ
ーティング法等のPVD法に限定されるものではなく、
CVD法やメッキ、スクリーン印刷等の方法を用いても
良い。この後、ダイヤモンド膜形成用基板を機械的研磨
あるいは化学的なエッチングにより除去する。ここで、
ダイヤモンド膜の表面は、多結晶性を反映し結晶性が良
好であるほど表面粗度が大きく、Rmax.で数100
0Å〜数μmである。しかしながら、基板除去後のダイ
ヤモンド膜の表面粗度は、ダイヤモンド膜の形成に用い
た基板の表面粗度と同等であるため、オーバーコート層
の表面粗さは、Rmax.で数100Å以下にすること
ができる。更に、電極端子に電極タブをロウ付け等によ
り取り付け、電極タブにワイヤーを圧接しヒーターをヒ
ーターホルダーに接着して、本発明のヒーターを完成す
る。
した後、ヒーターとなる発熱抵抗体をスパッタリング法
等のPVD法により形成し、抵抗値を測定して必要によ
りトリミングを行う。同様に、Au、Ag、Cuをスパ
ッタリング法により電極端子を形成する。次に、ダイヤ
モンド膜、発熱抵抗体、電極端子の上にセラミックス系
のペースト(接着剤)をスクリーン印刷等で形成した
後、セラミックス製絶縁性基板を貼り合わせ、焼成する
ことにより接着する。なお、発熱抵抗体、電極端子の形
成方法は、スパッタリング法、真空蒸着法、イオンプレ
ーティング法等のPVD法に限定されるものではなく、
CVD法やメッキ、スクリーン印刷等の方法を用いても
良い。この後、ダイヤモンド膜形成用基板を機械的研磨
あるいは化学的なエッチングにより除去する。ここで、
ダイヤモンド膜の表面は、多結晶性を反映し結晶性が良
好であるほど表面粗度が大きく、Rmax.で数100
0Å〜数μmである。しかしながら、基板除去後のダイ
ヤモンド膜の表面粗度は、ダイヤモンド膜の形成に用い
た基板の表面粗度と同等であるため、オーバーコート層
の表面粗さは、Rmax.で数100Å以下にすること
ができる。更に、電極端子に電極タブをロウ付け等によ
り取り付け、電極タブにワイヤーを圧接しヒーターをヒ
ーターホルダーに接着して、本発明のヒーターを完成す
る。
【0015】本発明は、ヒーターの保護層として気相合
成法で形成したダイヤモンド膜を用いることにより、ヒ
ーター部の熱効率を向上させ、消費電力を低減すると共
に、保護層としての耐摩耗性と摺動性に優れたヒーター
を実現するものである。
成法で形成したダイヤモンド膜を用いることにより、ヒ
ーター部の熱効率を向上させ、消費電力を低減すると共
に、保護層としての耐摩耗性と摺動性に優れたヒーター
を実現するものである。
【0016】
【実施例】以下、図面を参照しながら本発明の具体的実
施例を説明する。
施例を説明する。
【0017】<実施例1>図5は、本発明の実施例のヒ
ーターを用いた加熱定着装置の部分拡大断面図である。
ヒーター1は、断熱性のヒーターホルダー8を介してヒ
ーター支持部9に固定支持されている。10は、例えば
厚さ40μm程度のポリイミド等のエンドレスベルト
状、あるいは長尺ウェブ状の耐熱性フィルム、11はこ
のフィルムをヒーター1に対して押圧する加圧部材とし
ての回転加圧ローラーである。フィルム10は、不図示
の駆動部材により或は加圧ローラー11の回転力によ
り、所定の速度で矢印の方向にヒーター1面に密着した
状態でヒーター1面を摺動しながら回転或は走行移動す
る。ヒーター1の通電発熱抵抗体3に対する通電により
ヒーター1を所定温度に昇温させ、またフィルム10を
移動駆動させた状態である定着ニップ部15に被加熱材
として記録材16を未定着トナー画像面をフィルム10
面側にして導入することで、記録材16がフィルム10
面に密着してフィルム10と共に定着ニップ部15を移
動通過し、その移動通過過程でヒーター1からフィルム
10を介して記録材16に熱エネルギーが付与されて記
録材16上の未定着トナー画像17が加熱溶融定着され
る。
ーターを用いた加熱定着装置の部分拡大断面図である。
ヒーター1は、断熱性のヒーターホルダー8を介してヒ
ーター支持部9に固定支持されている。10は、例えば
厚さ40μm程度のポリイミド等のエンドレスベルト
状、あるいは長尺ウェブ状の耐熱性フィルム、11はこ
のフィルムをヒーター1に対して押圧する加圧部材とし
ての回転加圧ローラーである。フィルム10は、不図示
の駆動部材により或は加圧ローラー11の回転力によ
り、所定の速度で矢印の方向にヒーター1面に密着した
状態でヒーター1面を摺動しながら回転或は走行移動す
る。ヒーター1の通電発熱抵抗体3に対する通電により
ヒーター1を所定温度に昇温させ、またフィルム10を
移動駆動させた状態である定着ニップ部15に被加熱材
として記録材16を未定着トナー画像面をフィルム10
面側にして導入することで、記録材16がフィルム10
面に密着してフィルム10と共に定着ニップ部15を移
動通過し、その移動通過過程でヒーター1からフィルム
10を介して記録材16に熱エネルギーが付与されて記
録材16上の未定着トナー画像17が加熱溶融定着され
る。
【0018】図6は、第1実施例を示す断面模式図であ
る。図中1はヒーター、2はセラミックス基板、3はA
g/Pdからなる発熱抵抗体、4はCuからなる電極端
子部、5はダイヤモンド膜形成用のSi等の基板、6は
多結晶ダイヤモンド膜からなる保護層、8はヒーターホ
ルダー、12は電極タブ、13はAuSiからなるロウ
材、14はワイヤーである。
る。図中1はヒーター、2はセラミックス基板、3はA
g/Pdからなる発熱抵抗体、4はCuからなる電極端
子部、5はダイヤモンド膜形成用のSi等の基板、6は
多結晶ダイヤモンド膜からなる保護層、8はヒーターホ
ルダー、12は電極タブ、13はAuSiからなるロウ
材、14はワイヤーである。
【0019】本実施例において、まずダイヤモンド膜形
成用Si基板5上に多結晶ダイヤモンド膜6を形成した
(図6の(a))。Si基板上でダイヤモンド膜を形成
しない部分には、予めレジストでマスキングを行ってお
いた。この基板を15〜30μmのダイヤモンド砥粒を
分散させたアルコール溶液中に入れ、超音波発振器を用
いて傷つけ処理を行った後、マスクのレジストを除去し
た。この基板を図7に示す装置に設置し、ダイヤモンド
膜の形成を行った。図7は、ダイヤモンドを形成する熱
フィラメントCVD装置の模式図であり、図中20は石
英反応管、21は電気炉、22はタンタル製フィラメン
ト、23は基板、24は原料ガス導入口で不図示のガス
ボンベ、ガス流量調節器、バルブに接続されている。2
5はガス排気口で不図示のメカニカルブースターポン
プ、ロータリーポンプ、及びバルブに接続されている。
基板を図7の装置に設置し、不図示の真空ポンプで排気
した後、不図示のガスボンベより、メタン1ml/mi
n.、水素999ml/min.の流量で石英製反応管
に導入し、反応管内の圧力を不図示の圧力調整バルブで
6.00kPaに調整し、電気炉21を用いて反応管内
を900℃に、更にフィラメントを2100℃に加熱し
てダイヤモンド膜を形成した。このときの合成時間は2
0時間で、得られたダイヤモンド膜の厚さは40μmで
あった。形成したダイヤモンド膜の走査電子顕微鏡(S
EM)観察によれば、自形面の明瞭な多結晶膜であっ
た。また、ラマン分光分析によれば1333cm-1付近
にダイヤモンドの鋭いピークが観測され、非晶質炭素ピ
ークとダイヤモンドピークとの強度比はI1550/I1333
≦0.1であった。更に、同条件で作製したダイヤモン
ド膜の熱伝導率を放射冷却法により測定した結果、90
0W/m・kであった。
成用Si基板5上に多結晶ダイヤモンド膜6を形成した
(図6の(a))。Si基板上でダイヤモンド膜を形成
しない部分には、予めレジストでマスキングを行ってお
いた。この基板を15〜30μmのダイヤモンド砥粒を
分散させたアルコール溶液中に入れ、超音波発振器を用
いて傷つけ処理を行った後、マスクのレジストを除去し
た。この基板を図7に示す装置に設置し、ダイヤモンド
膜の形成を行った。図7は、ダイヤモンドを形成する熱
フィラメントCVD装置の模式図であり、図中20は石
英反応管、21は電気炉、22はタンタル製フィラメン
ト、23は基板、24は原料ガス導入口で不図示のガス
ボンベ、ガス流量調節器、バルブに接続されている。2
5はガス排気口で不図示のメカニカルブースターポン
プ、ロータリーポンプ、及びバルブに接続されている。
基板を図7の装置に設置し、不図示の真空ポンプで排気
した後、不図示のガスボンベより、メタン1ml/mi
n.、水素999ml/min.の流量で石英製反応管
に導入し、反応管内の圧力を不図示の圧力調整バルブで
6.00kPaに調整し、電気炉21を用いて反応管内
を900℃に、更にフィラメントを2100℃に加熱し
てダイヤモンド膜を形成した。このときの合成時間は2
0時間で、得られたダイヤモンド膜の厚さは40μmで
あった。形成したダイヤモンド膜の走査電子顕微鏡(S
EM)観察によれば、自形面の明瞭な多結晶膜であっ
た。また、ラマン分光分析によれば1333cm-1付近
にダイヤモンドの鋭いピークが観測され、非晶質炭素ピ
ークとダイヤモンドピークとの強度比はI1550/I1333
≦0.1であった。更に、同条件で作製したダイヤモン
ド膜の熱伝導率を放射冷却法により測定した結果、90
0W/m・kであった。
【0020】このダイヤモンド膜の上に発熱抵抗体3と
してTiを200Å、Auを10μm、順次スパッタリ
ング法により形成した。発熱抵抗体の抵抗値を測定し、
必要によりトリミングを行い所望の抵抗値とした。引き
続き、Cuをスパッタリングして電極端子部4を形成し
た(以上、図6の(a))。この後、アルミナ系ペース
ト(接着剤)を塗工し、アルミナ製セラミックス基板2
を貼り合わせ、焼成することにより一体化した(図6の
(b))。この段階で、Si基板を機械研磨とSiのエ
ッチャント(例えば、HF/HNO3 /CH3 COO
H)を用いて除去した(図6の(c))。
してTiを200Å、Auを10μm、順次スパッタリ
ング法により形成した。発熱抵抗体の抵抗値を測定し、
必要によりトリミングを行い所望の抵抗値とした。引き
続き、Cuをスパッタリングして電極端子部4を形成し
た(以上、図6の(a))。この後、アルミナ系ペース
ト(接着剤)を塗工し、アルミナ製セラミックス基板2
を貼り合わせ、焼成することにより一体化した(図6の
(b))。この段階で、Si基板を機械研磨とSiのエ
ッチャント(例えば、HF/HNO3 /CH3 COO
H)を用いて除去した(図6の(c))。
【0021】Si基板を取り除いたヒーター基板又は絶
縁性基板において、AuSiからなるロウ材13を用い
て電極端子4と銅合金からなる電極タブ12及びセラミ
ック基板2とをロウ材の融点370℃以上に加熱してロ
ウ付けして合金化した(図6の(d))。取りつけた電
極タブ12にワイヤー14を圧接し(図6の(e))、
ヒーター1をヒーターホルダー8に接着した(図6の
(f))。なお、ヒーター1の製作時に電極端子部4の
表面にAuをフラッシュメッキすることにより、ロウ付
け時にロウ材の濡れ性を向上させ、安定した接続信頼性
を得ることができる。電極タブ材料としては、銅合金の
ほかにコバール、42アロイ、リン青銅等の金属が使用
できる。ロウ材は、融点250℃以上のものが好まし
く、AuSiの他にAuGe,AuSu等を用いること
ができる。また、Cu電極端子部の表面にロウ付けまで
における表面酸化防止やSi基板除去時の化学的耐性を
持たせる目的から、Au、Ni、Au/Niをフラッシ
ュメッキ等で形成することにより、より安定したロウ付
けが実現できる。この時、Ni層を形成する目的は、ロ
ウ材中にCuが過度に拡散することを防ぐためである。
縁性基板において、AuSiからなるロウ材13を用い
て電極端子4と銅合金からなる電極タブ12及びセラミ
ック基板2とをロウ材の融点370℃以上に加熱してロ
ウ付けして合金化した(図6の(d))。取りつけた電
極タブ12にワイヤー14を圧接し(図6の(e))、
ヒーター1をヒーターホルダー8に接着した(図6の
(f))。なお、ヒーター1の製作時に電極端子部4の
表面にAuをフラッシュメッキすることにより、ロウ付
け時にロウ材の濡れ性を向上させ、安定した接続信頼性
を得ることができる。電極タブ材料としては、銅合金の
ほかにコバール、42アロイ、リン青銅等の金属が使用
できる。ロウ材は、融点250℃以上のものが好まし
く、AuSiの他にAuGe,AuSu等を用いること
ができる。また、Cu電極端子部の表面にロウ付けまで
における表面酸化防止やSi基板除去時の化学的耐性を
持たせる目的から、Au、Ni、Au/Niをフラッシ
ュメッキ等で形成することにより、より安定したロウ付
けが実現できる。この時、Ni層を形成する目的は、ロ
ウ材中にCuが過度に拡散することを防ぐためである。
【0022】以上のようにして製作したヒーター1は、
通電により発生する熱を効率的に記録材側に供給するこ
とが可能となり、ヒーター構成部材の熱的劣化を生じる
ことなく安定したヒーター性能を実現することができ
た。
通電により発生する熱を効率的に記録材側に供給するこ
とが可能となり、ヒーター構成部材の熱的劣化を生じる
ことなく安定したヒーター性能を実現することができ
た。
【0023】<実施例2>実施例1と同様にして、Si
基板上に多結晶ダイヤモンド膜を形成した。ダイヤモン
ド形成に用いたマイクロ波プラズマCVD装置の模式図
を図8に示す。図中26は石英反応管、27はSi基
板、28は原料ガス導入系、29はマイクロ波電源、3
0はマイクロ波導波管、31は真空排気系である。
基板上に多結晶ダイヤモンド膜を形成した。ダイヤモン
ド形成に用いたマイクロ波プラズマCVD装置の模式図
を図8に示す。図中26は石英反応管、27はSi基
板、28は原料ガス導入系、29はマイクロ波電源、3
0はマイクロ波導波管、31は真空排気系である。
【0024】ダイヤモンド砥粒で傷つけ処理を施したS
i基板を図8の装置に入れ、真空排気系31で排気した
後、原料ガス導入系より一酸化炭素25ml/mi
n.、水素375ml/min.の流量で石英反応管に
導入し、反応管内の圧力を圧力調整バルブで5.3kP
aに調整し、マイクロ波電源29よりマイクロ波出力4
kW、基板温度900℃でダイヤモンド膜を合成した。
このときの合成時間は10時間で、膜厚は150μmで
あった。同様にして合成したダイヤモンド膜は、SEM
観察の結果、自形面の明瞭な多結晶膜で、放射冷却法で
測定した熱伝導率は1500W/m・kであった。
i基板を図8の装置に入れ、真空排気系31で排気した
後、原料ガス導入系より一酸化炭素25ml/mi
n.、水素375ml/min.の流量で石英反応管に
導入し、反応管内の圧力を圧力調整バルブで5.3kP
aに調整し、マイクロ波電源29よりマイクロ波出力4
kW、基板温度900℃でダイヤモンド膜を合成した。
このときの合成時間は10時間で、膜厚は150μmで
あった。同様にして合成したダイヤモンド膜は、SEM
観察の結果、自形面の明瞭な多結晶膜で、放射冷却法で
測定した熱伝導率は1500W/m・kであった。
【0025】このダイヤモンド膜上に、Ag/Pdから
なるペーストを所定の位置に発熱抵抗体3となるように
スクリーン印刷により塗工し、形成した。発熱抵抗体の
抵抗値を測定し、必要によりトリミングを行い所望の抵
抗値とした。次に、Cuペーストをスクリーン印刷によ
り塗工し、電極端子部4を形成した。この後、アルミナ
系のペースト(接着剤)を塗工し、アルミナ製セラミッ
クス基板2を貼り合わせ、焼成することにより一体化し
た。実施例1と同様にしてSi基板を除去してヒーター
を作製した。更に、電極端子部に、電極タブ、ワイヤー
を接続した後、ヒーターホルダー部に接着してヒーター
を完成した。このヒーターを用い、実施例1と同様に記
録材の熱定着を行った結果、実施例1と同様の安定した
定着を実現できた。
なるペーストを所定の位置に発熱抵抗体3となるように
スクリーン印刷により塗工し、形成した。発熱抵抗体の
抵抗値を測定し、必要によりトリミングを行い所望の抵
抗値とした。次に、Cuペーストをスクリーン印刷によ
り塗工し、電極端子部4を形成した。この後、アルミナ
系のペースト(接着剤)を塗工し、アルミナ製セラミッ
クス基板2を貼り合わせ、焼成することにより一体化し
た。実施例1と同様にしてSi基板を除去してヒーター
を作製した。更に、電極端子部に、電極タブ、ワイヤー
を接続した後、ヒーターホルダー部に接着してヒーター
を完成した。このヒーターを用い、実施例1と同様に記
録材の熱定着を行った結果、実施例1と同様の安定した
定着を実現できた。
【0026】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、熱定着
による画像形成装置で使用される熱定着用ヒーターにお
いて、ヒーターの保護層を気相合成法で形成したダイヤ
モンド膜とすることにより、保護層の熱伝導率を上げ、
ヒーター部の熱効率の向上と消費電力の低減を実現する
ことができる。併せて、保護層としての耐摩耗性、摺動
性を向上させることができ、極めて信頼性の高いヒータ
ーを提供することができる。この結果、大電流を安定的
に供給することが可能となり、定着スピードの高速化、
定着サイズの大型化が実現できる。
による画像形成装置で使用される熱定着用ヒーターにお
いて、ヒーターの保護層を気相合成法で形成したダイヤ
モンド膜とすることにより、保護層の熱伝導率を上げ、
ヒーター部の熱効率の向上と消費電力の低減を実現する
ことができる。併せて、保護層としての耐摩耗性、摺動
性を向上させることができ、極めて信頼性の高いヒータ
ーを提供することができる。この結果、大電流を安定的
に供給することが可能となり、定着スピードの高速化、
定着サイズの大型化が実現できる。
【図1】本発明に係るヒーターの発熱抵抗体側の平面図
【図2】本発明に係るヒーターの背面側の平面図
【図3】本発明に係るヒーターの断面図
【図4】本発明に係るダイヤモンド結晶のラマンスペク
トルの測定データ
トルの測定データ
【図5】本発明の実施例におけるヒーターを用いた定着
装置の断面図
装置の断面図
【図6】本発明の実施例におけるヒーターの部分断面図
【図7】本発明の実施例でダイヤモンド形成に用いた熱
フィラメントCVD装置の模式図
フィラメントCVD装置の模式図
【図8】本発明の実施例でダイヤモンド形成に用いたマ
イクロ波プラズマCVD装置の模式図
イクロ波プラズマCVD装置の模式図
1…ヒーター 2…セラミックス
基板 3…発熱抵抗体 4…電極端子部 5…Si基板 6…絶縁保護層 7…温度測定素子 8…ヒーターホル
ダー 9…裏面断熱層 10…耐熱性フィル
ム 11…加圧ローラー 12…電極タブ 13…ロウ材 14…ワイヤー 15…定着ニップ 16…記録材 17…未定着トナー 20…石英反応管 21…電気炉 22…タンタル製
フィラメント 23…基板 24…ガス導入口 25…排気口 26…石英反応管 27…基板 28…ガス導入系 29…マイクロ波電源 30…マイクロ波
導波管 31…真空排気系
基板 3…発熱抵抗体 4…電極端子部 5…Si基板 6…絶縁保護層 7…温度測定素子 8…ヒーターホル
ダー 9…裏面断熱層 10…耐熱性フィル
ム 11…加圧ローラー 12…電極タブ 13…ロウ材 14…ワイヤー 15…定着ニップ 16…記録材 17…未定着トナー 20…石英反応管 21…電気炉 22…タンタル製
フィラメント 23…基板 24…ガス導入口 25…排気口 26…石英反応管 27…基板 28…ガス導入系 29…マイクロ波電源 30…マイクロ波
導波管 31…真空排気系
Claims (2)
- 【請求項1】 絶縁性基板と、該絶縁性基板に支持され
通電により発熱する抵抗層と、抵抗層端部に設けられた
電極端子部を有するヒーターにおいて、前記抵抗層の保
護層として気相合成法により形成したダイヤモンド層を
用いることを特徴とするヒーター。 - 【請求項2】 絶縁性基板と、該絶縁性基板に支持され
通電により発熱する抵抗層と、抵抗層端部に設けられた
電極端子部を有するヒーターの製造方法において、前記
抵抗層の保護層としてダイヤモンド層を気相合成法によ
り形成することを特徴とするヒーターの製造方法。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12710293A JPH06338380A (ja) | 1993-05-28 | 1993-05-28 | ヒーター及びその製造方法 |
| CN94105572A CN1112612C (zh) | 1993-05-28 | 1994-05-27 | 加热器及应用该加热器的图象加热装置 |
| DE1994612007 DE69412007T2 (de) | 1993-05-28 | 1994-05-27 | Heizelement und dieses Element verwendende Bildheizvorrichtung |
| EP19940108189 EP0632344B1 (en) | 1993-05-28 | 1994-05-27 | Heater and image heating device utilizing the same |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12710293A JPH06338380A (ja) | 1993-05-28 | 1993-05-28 | ヒーター及びその製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06338380A true JPH06338380A (ja) | 1994-12-06 |
Family
ID=14951651
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12710293A Pending JPH06338380A (ja) | 1993-05-28 | 1993-05-28 | ヒーター及びその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06338380A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004309123A (ja) * | 2003-04-08 | 2004-11-04 | Lg Electronics Inc | 熱交換器の除霜装置及びその製造方法 |
-
1993
- 1993-05-28 JP JP12710293A patent/JPH06338380A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004309123A (ja) * | 2003-04-08 | 2004-11-04 | Lg Electronics Inc | 熱交換器の除霜装置及びその製造方法 |
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