JPH0634020B2 - インピ−ダンス測定回路 - Google Patents
インピ−ダンス測定回路Info
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- JPH0634020B2 JPH0634020B2 JP57502157A JP50215782A JPH0634020B2 JP H0634020 B2 JPH0634020 B2 JP H0634020B2 JP 57502157 A JP57502157 A JP 57502157A JP 50215782 A JP50215782 A JP 50215782A JP H0634020 B2 JPH0634020 B2 JP H0634020B2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
- G01D5/12—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means
- G01D5/14—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L9/00—Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means
- G01L9/12—Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means by making use of variations in capacitance, i.e. electric circuits therefor
- G01L9/125—Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means by making use of variations in capacitance, i.e. electric circuits therefor with temperature compensating means
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- Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
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- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 （発明の分野） この発明は、所望のパラメータを表わす信号を提供する
ために、可変インピーダンスセンサと共に使用するため
の双Ｔ（ティー）すなわち並列Ｔ発振回路に関する。
ために、可変インピーダンスセンサと共に使用するため
の双Ｔ（ティー）すなわち並列Ｔ発振回路に関する。
（発明の概要） この発明は、リアクタンスセンサを含む周波数決定手段
よりなり、発振周波数信号を提供する並列Ｔ回路を開示
するものである。
よりなり、発振周波数信号を提供する並列Ｔ回路を開示
するものである。
周波数決定手段は増幅器と共に発振回路を構成するよう
に接続されている。そして、該増幅器からの出力信号
は、該周波数決定手段が発振を持続するのに必要な適当
なゲインと位相シフトを生ずるように、該周波数決定手
段を駆動する。信号検波器もまた増幅器に接続され、同
様に周波数決定手段に接続されている制御手段に出力制
御信号を提供する。制御手段は制御信号に応答し、発振
周波数信号が、周波数決定手段のリアクタンスセンサに
よって感知されているパラメータを表わす周波数になる
ように、周波数決定手段の特性インピーダンスを制御す
る。
に接続されている。そして、該増幅器からの出力信号
は、該周波数決定手段が発振を持続するのに必要な適当
なゲインと位相シフトを生ずるように、該周波数決定手
段を駆動する。信号検波器もまた増幅器に接続され、同
様に周波数決定手段に接続されている制御手段に出力制
御信号を提供する。制御手段は制御信号に応答し、発振
周波数信号が、周波数決定手段のリアクタンスセンサに
よって感知されているパラメータを表わす周波数になる
ように、周波数決定手段の特性インピーダンスを制御す
る。
このように、増幅器からの出力信号は、そのようなパラ
メータを表わし、該出力信号は以下に説明されるよう
に、またこの発明の開示から当業者には明らかなように
数個の具体的応用例に有益である。
メータを表わし、該出力信号は以下に説明されるよう
に、またこの発明の開示から当業者には明らかなように
数個の具体的応用例に有益である。
（実施例の説明） 第１図は、好ましくは抵抗−容量（ＲＣ）回路網からな
る周波数弁別手段１２を含む回路１０を示す。この周波
数弁別手段１２は、抵抗−インダクタ（ＲＬ）回路網あ
るいは抵抗−容量−インダクタ（ＲＣＬ）回路網であっ
てもよい。これらの回路網は、一般に、並列Ｔ又は双Ｔ
回路網と呼ばれるものである。
る周波数弁別手段１２を含む回路１０を示す。この周波
数弁別手段１２は、抵抗−インダクタ（ＲＬ）回路網あ
るいは抵抗−容量−インダクタ（ＲＣＬ）回路網であっ
てもよい。これらの回路網は、一般に、並列Ｔ又は双Ｔ
回路網と呼ばれるものである。
弁別手段１２は可変インピーダンスセンサＣＶを含んで
いる。この可変インピーダンスセンサＣＶは、好ましく
は、刺激に応答して変化する少くとも１個の可変容量で
構成されている。しかし、少くとも１個のインダクタと
少くとも１個の可変容量を結合したもの、あるいは少く
とも１個の容量と少くとも１個の可変インダクタを結合
したもの、もしくは少くとも１個の可変インダクタと抵
抗とを結合したものであってもよい。
いる。この可変インピーダンスセンサＣＶは、好ましく
は、刺激に応答して変化する少くとも１個の可変容量で
構成されている。しかし、少くとも１個のインダクタと
少くとも１個の可変容量を結合したもの、あるいは少く
とも１個の容量と少くとも１個の可変インダクタを結合
したもの、もしくは少くとも１個の可変インダクタと抵
抗とを結合したものであってもよい。
前記した刺激は、好ましくは、例えば、圧力、温度、加
速度、力あるいは他の感知できる物理量である。
速度、力あるいは他の感知できる物理量である。
弁別器１２の出力信号は、ライン１４によって、周波数
信号を増幅する増幅手段４０に送られる。増幅手段４０
の出力は、ライン４２によって、弁別手段１２の入力お
よび振幅検波手段７０に結合される。振幅検波手段７０
は、ライン４２を通って増幅手段４０から送られてくる
ＡＣ出力信号のｐ−ｐ値（ピーク・ピーク値）を検出
し、このＡＣ出力信号を整流して直流制御信号にする。
信号を増幅する増幅手段４０に送られる。増幅手段４０
の出力は、ライン４２によって、弁別手段１２の入力お
よび振幅検波手段７０に結合される。振幅検波手段７０
は、ライン４２を通って増幅手段４０から送られてくる
ＡＣ出力信号のｐ−ｐ値（ピーク・ピーク値）を検出
し、このＡＣ出力信号を整流して直流制御信号にする。
この直流制御信号は、制御手段９０に結合されたライン
５８とライン８２を経て該制御手段９０に印加される。
制御手段９０はライン９２によって弁別手段１２に結合
され、弁別手段１２のセンサＣＶおよび他の周波数決定
要素によって規定される予定範囲内の周波数で、後述す
るようにして回路１０を発振させる。
５８とライン８２を経て該制御手段９０に印加される。
制御手段９０はライン９２によって弁別手段１２に結合
され、弁別手段１２のセンサＣＶおよび他の周波数決定
要素によって規定される予定範囲内の周波数で、後述す
るようにして回路１０を発振させる。
第１図の実施例においては、回路１０はまた、増幅手段
４０の出力を絶縁するためのアイソレータ１２０を含ん
でいる。
４０の出力を絶縁するためのアイソレータ１２０を含ん
でいる。
並列Ｔあるいは双Ｔ回路網は他の形式のものでもよい
が、第１図の実施例では、弁別手段１２は、一端がライ
ン１６によって接地され、他端がライン１８によって２
個の固定抵抗２０と２２の間に接続された可変インピー
ダンスセンサＣＶを有する。前記２個の固定抵抗２０と
２２は、弁別器入力ライン（オペアンプ４４の出力ライ
ン）４２とその出力ライン１４間にあり、好ましくは容
量からなる一対の固定インピーダンス素子２４，２８と
並列に接続されている。回路素子２４と２８は固定容量
が望ましいが、インダクタ単体、あるいは容量とインダ
クタとを結合したものであってもよい。
が、第１図の実施例では、弁別手段１２は、一端がライ
ン１６によって接地され、他端がライン１８によって２
個の固定抵抗２０と２２の間に接続された可変インピー
ダンスセンサＣＶを有する。前記２個の固定抵抗２０と
２２は、弁別器入力ライン（オペアンプ４４の出力ライ
ン）４２とその出力ライン１４間にあり、好ましくは容
量からなる一対の固定インピーダンス素子２４，２８と
並列に接続されている。回路素子２４と２８は固定容量
が望ましいが、インダクタ単体、あるいは容量とインダ
クタとを結合したものであってもよい。
固定抵抗３０の一端はインピーダンス素子２４と２８間
のライン２６に接続されている。抵抗２０と２２は固定
抵抗であるのが好ましく、またインピーダンス素子２４
と２８は固定インピーダンスであるのが好ましい。しか
も、もしこれらが別個にあるいは互いに関連して、温度
のようなパラメータによってわずかに変化可能であり、
しかもこれらが所望の変化方向および大きさを持つよう
に選択されているならば、センサＣＶを含む回路１０全
体のパラメータ（温度）係数が改善されるであろう。
のライン２６に接続されている。抵抗２０と２２は固定
抵抗であるのが好ましく、またインピーダンス素子２４
と２８は固定インピーダンスであるのが好ましい。しか
も、もしこれらが別個にあるいは互いに関連して、温度
のようなパラメータによってわずかに変化可能であり、
しかもこれらが所望の変化方向および大きさを持つよう
に選択されているならば、センサＣＶを含む回路１０全
体のパラメータ（温度）係数が改善されるであろう。
実際には、現存する抵抗と容量の値は正確に固定でな
く、温度のような外部パラメータに応答して変化するの
で、回路１０は温度係数をもっている。固定ではなく、
あるパラメータ（通常は温度）に応答して意図的に変化
する抵抗２０，２２あるいはインピーダンス素子２４，
２８のいずれか一方、あるいは両方を適切に選択するこ
とが望まれる。
く、温度のような外部パラメータに応答して変化するの
で、回路１０は温度係数をもっている。固定ではなく、
あるパラメータ（通常は温度）に応答して意図的に変化
する抵抗２０，２２あるいはインピーダンス素子２４，
２８のいずれか一方、あるいは両方を適切に選択するこ
とが望まれる。
弁別手段１２の出力ライン１４は、好ましくは、オペア
ンプ４４の第１の入力４１からなる増幅手段４０の入力
に接続されている。オペアンプ４４は、好ましくはナシ
ョナル セミコンダクタ社製のＬＭ１１８がよい。ある
いは、トランジスタ、抵抗、容量等を含む個別の電気部
品によって作られてもよく、またＦＥＴあるいはその他
の適当な増幅器であってもよい。
ンプ４４の第１の入力４１からなる増幅手段４０の入力
に接続されている。オペアンプ４４は、好ましくはナシ
ョナル セミコンダクタ社製のＬＭ１１８がよい。ある
いは、トランジスタ、抵抗、容量等を含む個別の電気部
品によって作られてもよく、またＦＥＴあるいはその他
の適当な増幅器であってもよい。
外部電源４６は、一対の端子４８と５０を介して前記回
路１０に電力を供給する。２個の直列接続された抵抗５
２と５４は、ライン５６と５８によって端子４８と５０
に接続された分圧器５１を構成する。分圧器５１は、通
常使用されている双極性の電源、すなわち正と負の電圧
を発生する電源に代えて、１個の外部電源を用いること
ができるように、電源４６の電圧を分圧し、増幅器４４
の第２の入力（非反転入力）６０に、動作基準電圧を供
給する。
路１０に電力を供給する。２個の直列接続された抵抗５
２と５４は、ライン５６と５８によって端子４８と５０
に接続された分圧器５１を構成する。分圧器５１は、通
常使用されている双極性の電源、すなわち正と負の電圧
を発生する電源に代えて、１個の外部電源を用いること
ができるように、電源４６の電圧を分圧し、増幅器４４
の第２の入力（非反転入力）６０に、動作基準電圧を供
給する。
非反転入力６０とライン５８の間に接続されている容量
６２は、動作電圧インピーダンスが低くなることを保証
する。ライン５６と５８の間に接続されている容量６４
は、端子４８と５０に印加される電源４６の低ＡＣイン
ピーダンスを保証する。したがって、２個の容量６２と
６４は増幅器のスプリアス発振を防止する。１対の入力
４１および６０における信号に応答して、増幅器４４か
ら出力される信号は、ライン４２を径て、弁別手段１２
および検波手段７０のそれぞれの入力に供給される。
６２は、動作電圧インピーダンスが低くなることを保証
する。ライン５６と５８の間に接続されている容量６４
は、端子４８と５０に印加される電源４６の低ＡＣイン
ピーダンスを保証する。したがって、２個の容量６２と
６４は増幅器のスプリアス発振を防止する。１対の入力
４１および６０における信号に応答して、増幅器４４か
ら出力される信号は、ライン４２を径て、弁別手段１２
および検波手段７０のそれぞれの入力に供給される。
検波手段７０は、増幅器４４の出力信号（すなわち、検
波手段７０の入力信号）からＤＣ動作レベルを遮断する
と共に、第１のダイオード７４と第２のダイオード７６
にライン４２上のＡＣ成分を供給するための、容量７２
を有する。ダイオード７４と７６は、普通の方法で、ラ
イン４２上の信号のＡＣ成分をＤＣ制御信号に整流し、
これをライン８２と５８間に接続された抵抗７８に、電
圧制御信号として印加する整流器を構成する。抵抗７８
と並列接続された容量８０は、リップルフィルタの働き
をする。その時定数を小さく選ぶことによって、該制御
信号は急激な変化に追随することができる。
波手段７０の入力信号）からＤＣ動作レベルを遮断する
と共に、第１のダイオード７４と第２のダイオード７６
にライン４２上のＡＣ成分を供給するための、容量７２
を有する。ダイオード７４と７６は、普通の方法で、ラ
イン４２上の信号のＡＣ成分をＤＣ制御信号に整流し、
これをライン８２と５８間に接続された抵抗７８に、電
圧制御信号として印加する整流器を構成する。抵抗７８
と並列接続された容量８０は、リップルフィルタの働き
をする。その時定数を小さく選ぶことによって、該制御
信号は急激な変化に追随することができる。
抵抗７８の両端に現われるＤＣ制御信号は、ライン５８
とライン８２とによって、制御手段９０に結合される。
とライン８２とによって、制御手段９０に結合される。
本実施例においては、制御手段９０はディプレッション
モードのＦＥＴ９３であり、ライン８２に接続されたゲ
ート９４、ライン９２をへて固定抵抗３０の他端に接続
されたドレイン９６、およびライン５８に接続されたソ
ース９８よりなる。前記ＤＣ制御信号は制御手段９０の
内部抵抗を変化させる。すなわち、ＦＥＴ９３は、ドレ
イン９６からソース９８をみた電圧が相対的に低い値
（好ましくは１０分の数ボルト以下）の時、ソース９８
の電圧に対してゲート９４を制御することにより、電圧
制御抵抗として使用される。
モードのＦＥＴ９３であり、ライン８２に接続されたゲ
ート９４、ライン９２をへて固定抵抗３０の他端に接続
されたドレイン９６、およびライン５８に接続されたソ
ース９８よりなる。前記ＤＣ制御信号は制御手段９０の
内部抵抗を変化させる。すなわち、ＦＥＴ９３は、ドレ
イン９６からソース９８をみた電圧が相対的に低い値
（好ましくは１０分の数ボルト以下）の時、ソース９８
の電圧に対してゲート９４を制御することにより、電圧
制御抵抗として使用される。
増幅器４４の出力信号は、またアイソレータ１２０にも
結合される。アイソレータ１２０は、ライン４２に接続
されたゲート１２４、ライン５６に接続されたドレイン
１２６、およびソース１２８をもつＦＥＴ１２２を有す
る。ソース１２８は２個の抵抗１３０と１３２を通して
ライン５８に接続される。アイソレータ１２０の出力
は、好ましくは抵抗１３０と１３２の間から引出された
ライン１３３に、周波数信号として伝えられる。それ故
に、アイソレータ１２０の出力は、適当な端子１３４お
よび接地基準端子５０から繰出し回路、処理回路あるい
は他の適当な回路に送られて利用される。
結合される。アイソレータ１２０は、ライン４２に接続
されたゲート１２４、ライン５６に接続されたドレイン
１２６、およびソース１２８をもつＦＥＴ１２２を有す
る。ソース１２８は２個の抵抗１３０と１３２を通して
ライン５８に接続される。アイソレータ１２０の出力
は、好ましくは抵抗１３０と１３２の間から引出された
ライン１３３に、周波数信号として伝えられる。それ故
に、アイソレータ１２０の出力は、適当な端子１３４お
よび接地基準端子５０から繰出し回路、処理回路あるい
は他の適当な回路に送られて利用される。
第１図の回路１０は、その発振周波数が可変インピーダ
ンスセンサＣＶによって変化する発振器を構成する。セ
ンサＣＶは、抵抗２０と２２の間でアースへ分路してい
る。好ましくは、抵抗３０は固定抵抗値ＲＦを有し、一
方制御手段９０は可変抵抗であって可変抵抗値Ｒｖを有
する。制御手段９０は抵抗３０と直列に接続され、ライ
ン２６からライン５８に至る分路抵抗値Ｒｓを形成す
る。ライン５８は接地される。
ンスセンサＣＶによって変化する発振器を構成する。セ
ンサＣＶは、抵抗２０と２２の間でアースへ分路してい
る。好ましくは、抵抗３０は固定抵抗値ＲＦを有し、一
方制御手段９０は可変抵抗であって可変抵抗値Ｒｖを有
する。制御手段９０は抵抗３０と直列に接続され、ライ
ン２６からライン５８に至る分路抵抗値Ｒｓを形成す
る。ライン５８は接地される。
回路１０の動作は、次のような関係が回路要素に対して
満されるとき、最良になる。
満されるとき、最良になる。
Ｒ２０＝Ｒ２２ ……… （式１） Ｚ２４＝Ｚ２８ ……… （式２） Ｚ２４＝ＣＶ１×1/2 ……… （式３） Ｒｓ＝Ｒ２０×1/2 ……… （式４） ここで、Ｒ２０＝抵抗２０の値 Ｒ２２＝抵抗２２の値 Ｚ２４＝インピーダンス要素２４の値 Ｚ２８＝インピーダンス要素２８の値 ＣＶ１＝可変インピーダンスＣＶの最小値の時のインピ
ーダンス値 Ｒｓ ＝［抵抗３０（ＲＦ）の実効抵抗値］＋［制御手
段９０（Ｒｖ）の実効抵抗値］ …… （式５） 発振器としての回路１０のライン１４，４２上における
初期発振器周波数ｆ１（Ｈｚ）は次式に従って決定され
る。
ーダンス値 Ｒｓ ＝［抵抗３０（ＲＦ）の実効抵抗値］＋［制御手
段９０（Ｒｖ）の実効抵抗値］ …… （式５） 発振器としての回路１０のライン１４，４２上における
初期発振器周波数ｆ１（Ｈｚ）は次式に従って決定され
る。
可変インピーダンスＣＶが外部条件に応じて変化した後
の、発振器の修正された発振周波数ｆ２（Ｈｚ）は、次
式で決定される。
の、発振器の修正された発振周波数ｆ２（Ｈｚ）は、次
式で決定される。
ただし、ＣＶ２＝外部条件又は刺激に応答して変化した
後のＣＶのインピーダンス値 実際の構成要素の変動と不完全さ、回路接続の変動と不
完全さ、およびコンパクトに作られた装置における構成
要素間の寄生結合やその他条件の変動あるいは不完全さ
のために、現実の発振周波数は、式６あるいは式７によ
って計算された値からわずかにずれることが観察されて
いる。
後のＣＶのインピーダンス値 実際の構成要素の変動と不完全さ、回路接続の変動と不
完全さ、およびコンパクトに作られた装置における構成
要素間の寄生結合やその他条件の変動あるいは不完全さ
のために、現実の発振周波数は、式６あるいは式７によ
って計算された値からわずかにずれることが観察されて
いる。
本発明の一実施例においては、制御手段９０の抵抗（Ｒ
ｖ）は、発振の振幅が大きくなるにつれてその抵抗が増
加し、式４で定義されるＲｓを実現する値に近ずくよう
に設計されている。
ｖ）は、発振の振幅が大きくなるにつれてその抵抗が増
加し、式４で定義されるＲｓを実現する値に近ずくよう
に設計されている。
制御手段９０を構成するＦＥＴ９３は、ドレイン９６と
ソース９８間の瞬時電圧が比較的低い時、ソース９８の
電圧に対してゲート９４を制御することで電圧制御抵抗
の働きをする。抵抗３０の抵抗値（ＲＦ）は、制御手段
９０の付加抵抗値（Ｒｖ）が、その制御可能な範囲内で
十分に小さくなり、センサＣＶおよび周波数弁別手段１
２の他の要素によって確立される、選ばれた周波数範囲
内の周波数で回路を発振させることができるように、選
択されなければならない。
ソース９８間の瞬時電圧が比較的低い時、ソース９８の
電圧に対してゲート９４を制御することで電圧制御抵抗
の働きをする。抵抗３０の抵抗値（ＲＦ）は、制御手段
９０の付加抵抗値（Ｒｖ）が、その制御可能な範囲内で
十分に小さくなり、センサＣＶおよび周波数弁別手段１
２の他の要素によって確立される、選ばれた周波数範囲
内の周波数で回路を発振させることができるように、選
択されなければならない。
全抵抗（Ｒｓ）の主な部分は、固定抵抗３０（ＲＦ）に
よってもたらされ、残余の部分が制御手段９０（Ｒｖ）
によってもたらされる。（式５）に示されているよう
に、直列制御された抵抗３０（ＲＦ）と制御手段９０
（Ｒｖ）とが全抵抗Ｒｓを構成する。それ故、ライン９
２に現れる発振電圧は、制御手段９０（Ｒｖ）に印加さ
れる前に、抵抗比Ｒｖ／Ｒｓだけ減衰する。制御手段９
０（Ｒｖ）における減衰されたＡＣ電圧は、ＦＥＴ９３
のドレイン９６とソース９８巻の瞬時電圧に対して、制
御手段９０の抵抗値（Ｒｖ）が非線型になるのを最小に
している。
よってもたらされ、残余の部分が制御手段９０（Ｒｖ）
によってもたらされる。（式５）に示されているよう
に、直列制御された抵抗３０（ＲＦ）と制御手段９０
（Ｒｖ）とが全抵抗Ｒｓを構成する。それ故、ライン９
２に現れる発振電圧は、制御手段９０（Ｒｖ）に印加さ
れる前に、抵抗比Ｒｖ／Ｒｓだけ減衰する。制御手段９
０（Ｒｖ）における減衰されたＡＣ電圧は、ＦＥＴ９３
のドレイン９６とソース９８巻の瞬時電圧に対して、制
御手段９０の抵抗値（Ｒｖ）が非線型になるのを最小に
している。
ＦＥＴ９３として、ディプレッション形、Ｐチャンネル
の接合型ＦＥＴを用いた特定の実施例においては、制御
手段９０の抵抗値（Ｒｖ）は、ＦＥＴ９２のゲート９４
に印加されるＤＣ制御信号が正の方向に増加する時、増
大する。
の接合型ＦＥＴを用いた特定の実施例においては、制御
手段９０の抵抗値（Ｒｖ）は、ＦＥＴ９２のゲート９４
に印加されるＤＣ制御信号が正の方向に増加する時、増
大する。
電源がオンにされた直後のように、回路１０が発振して
いない時には、ゲート９４に加わるＤＣ制御信号は、ソ
ース９８に対して相対的に零である。この時、制御手段
９０の抵抗値（Ｒｖ）は最小であり、後述するようにし
て発振が始まる。発振の大きさが増大するにつれて、振
幅検波手段７０で発生されるＤＣ制御信号が増大する結
果として、ソース９８に対するゲート９４の電圧は正方
向に増大する。したがって、制御手段９０の抵抗値（Ｒ
ｖ）が増大し、弁別手段１２のロスも大きくなる。
いない時には、ゲート９４に加わるＤＣ制御信号は、ソ
ース９８に対して相対的に零である。この時、制御手段
９０の抵抗値（Ｒｖ）は最小であり、後述するようにし
て発振が始まる。発振の大きさが増大するにつれて、振
幅検波手段７０で発生されるＤＣ制御信号が増大する結
果として、ソース９８に対するゲート９４の電圧は正方
向に増大する。したがって、制御手段９０の抵抗値（Ｒ
ｖ）が増大し、弁別手段１２のロスも大きくなる。
抵抗３０の抵抗値（ＲＦ）を適正に選ぶと、制御手段９
０の抵抗値（Ｒｖ）の範囲は、発振の大きさを、増幅手
段４０又は制御手段９０を過負荷にしない程度の小さい
振幅に制限できるようになる。その結果、発振波形は実
質的に正弦波になり、発振周波数は事実上、安定性をも
たらすように選定された回路網の構成素子に依存するよ
うになる。
０の抵抗値（Ｒｖ）の範囲は、発振の大きさを、増幅手
段４０又は制御手段９０を過負荷にしない程度の小さい
振幅に制限できるようになる。その結果、発振波形は実
質的に正弦波になり、発振周波数は事実上、安定性をも
たらすように選定された回路網の構成素子に依存するよ
うになる。
端子４８と５０に外部電源４６が接続されると、増幅器
４４の第２（非反転）入力６０には分圧器５１を介して
予定の電圧が印加される。このときは未だ発振を生じて
いないので、増幅器４４の第１（反転）入力４１には信
号がなく、したがって増幅器４４はライン４２上に出力
信号を生じ、これが周波数弁別回路１２の入力ラインに
供給される。
４４の第２（非反転）入力６０には分圧器５１を介して
予定の電圧が印加される。このときは未だ発振を生じて
いないので、増幅器４４の第１（反転）入力４１には信
号がなく、したがって増幅器４４はライン４２上に出力
信号を生じ、これが周波数弁別回路１２の入力ラインに
供給される。
周波数弁別回路１２は一種の帯域フィルタであり、可変
インピーダンスセンサＣＶ、制御手段９０の抵抗ＲＳ、
および当該弁別回路１２を構成する他の回路素子のイン
ピーダンスなどによって決まる回路の特性インピーダン
スに依存する周波数の信号を通過させる。ライン４２か
ら入力された信号は弁別回路１２を通過する間に１８０
度位相反転され、その出力信号がライン１４を介して増
幅器４４の第１入力に供給される。前記信号はさらに増
幅器４４で再度１８０度位相反転されるので、結果とし
て増幅器４４に正帰還が行なわれ、発振が起こる。
インピーダンスセンサＣＶ、制御手段９０の抵抗ＲＳ、
および当該弁別回路１２を構成する他の回路素子のイン
ピーダンスなどによって決まる回路の特性インピーダン
スに依存する周波数の信号を通過させる。ライン４２か
ら入力された信号は弁別回路１２を通過する間に１８０
度位相反転され、その出力信号がライン１４を介して増
幅器４４の第１入力に供給される。前記信号はさらに増
幅器４４で再度１８０度位相反転されるので、結果とし
て増幅器４４に正帰還が行なわれ、発振が起こる。
一方、増幅器４４の出力は振幅検波手段７０に加えられ
てその信号レベルが検出され、制御信号として制御手段
９０のＦＥＴ９３に印加される。電源投入時には検出さ
れる出力信号レベルが低く、したがって制御手段９０の
抵抗値ＲＶは最小であるから、容易に発振が始まる。発
振が始まると増幅器４４の出力が増加してライン４２上
の信号レベルが増加し、これが再び弁別手段１２に供給
されるとともに、検出手段７０を介して制御手段９０の
抵抗値ＲＶを増加させる。このようにして、振幅および
周波数が適正値になるまで発振が徐々に立上がり、平衡
状態に達する。
てその信号レベルが検出され、制御信号として制御手段
９０のＦＥＴ９３に印加される。電源投入時には検出さ
れる出力信号レベルが低く、したがって制御手段９０の
抵抗値ＲＶは最小であるから、容易に発振が始まる。発
振が始まると増幅器４４の出力が増加してライン４２上
の信号レベルが増加し、これが再び弁別手段１２に供給
されるとともに、検出手段７０を介して制御手段９０の
抵抗値ＲＶを増加させる。このようにして、振幅および
周波数が適正値になるまで発振が徐々に立上がり、平衡
状態に達する。
前記の平衡状態における発振周波数は、理想的な構成要
素に対しては、式７で表わされる。もしも、抵抗Ｒｓの
値が外部の何らかの手段によって式４の理想値を超えて
増加させられると、位相の変化は、理論的に−１８０゜
に逆転する。そして、前述した回路１０の発振は停止す
る。しかし、外部からの擾乱あるいは干渉が除去されれ
ば、Ｒｓの値はより低い値に復帰し、正常な発振が再び
始まる。
素に対しては、式７で表わされる。もしも、抵抗Ｒｓの
値が外部の何らかの手段によって式４の理想値を超えて
増加させられると、位相の変化は、理論的に−１８０゜
に逆転する。そして、前述した回路１０の発振は停止す
る。しかし、外部からの擾乱あるいは干渉が除去されれ
ば、Ｒｓの値はより低い値に復帰し、正常な発振が再び
始まる。
増幅器４４の増幅率すなわちゲインは、１００ＫＨｚで
約４００倍、１０ＫＨｚで約１０００倍である。このゲ
イン値は、現在におけるワンチップモノリシック増幅器
によるものである。増幅器の変数が発振器の周波数安定
性に及ぼすあらゆる影響を減ずるためには、より大きい
ゲインの増幅器が望ましい。しかしながら、小型で、よ
り低電力とするためには、前述の増幅率は妥当なもので
ある。
約４００倍、１０ＫＨｚで約１０００倍である。このゲ
イン値は、現在におけるワンチップモノリシック増幅器
によるものである。増幅器の変数が発振器の周波数安定
性に及ぼすあらゆる影響を減ずるためには、より大きい
ゲインの増幅器が望ましい。しかしながら、小型で、よ
り低電力とするためには、前述の増幅率は妥当なもので
ある。
回路網構成素子および材料の選択、作成計画および作成
方法は、回路１０における測定の安定性に寄与する。し
かし、発振周波数の安定は、制御手段９０の使用によっ
て最良の状態にされる。回路１０の特定の抵抗は、回路
動作中に、他の構成要素を電気的に過負荷にすることを
避けるため、また高周波の発生を避けるため、および不
必要な損失の発生を避けるために、連続的に制御され、
かつ変化させられる。このような制御動作の結果、発振
出力信号は、センサＣＶの値の所望の範囲では、実質的
に正弦波波形となり、発振器の大きさもまた実質的に一
定になる。
方法は、回路１０における測定の安定性に寄与する。し
かし、発振周波数の安定は、制御手段９０の使用によっ
て最良の状態にされる。回路１０の特定の抵抗は、回路
動作中に、他の構成要素を電気的に過負荷にすることを
避けるため、また高周波の発生を避けるため、および不
必要な損失の発生を避けるために、連続的に制御され、
かつ変化させられる。このような制御動作の結果、発振
出力信号は、センサＣＶの値の所望の範囲では、実質的
に正弦波波形となり、発振器の大きさもまた実質的に一
定になる。
第２図に示された本発明の実施例において、端子１３４
および５０からの回路１０の正弦波出力信号が波形整形
器１５０に印加され、ディジタル設計のトランジスタ−
トランジスタ論理（ＴＴＬ）回路に適した立上りと立下
りを有する、標準化された振幅の矩形波に変換される。
この矩形波は、ライン１５２，１５４によってディジタ
ル又は読出し回路１５６に伝送される。
および５０からの回路１０の正弦波出力信号が波形整形
器１５０に印加され、ディジタル設計のトランジスタ−
トランジスタ論理（ＴＴＬ）回路に適した立上りと立下
りを有する、標準化された振幅の矩形波に変換される。
この矩形波は、ライン１５２，１５４によってディジタ
ル又は読出し回路１５６に伝送される。
端子１３４の出力周波数信号又はその逆数（すなわち、
周期）は、センサＣＶ値の滑らかな連続関数である。し
かしながら、センサＣＶのインピーダンス値は、最良に
設計された時でさえ、自動的にデータ中で訂正されるこ
とのできない若干のシステムエラーをもつであろう。最
も一般的なエラー源はセンサＣＶおよび回路要素の曲部
的な温度である。ただし、センサＣＶ自身が温度センサ
であるような特別な場合は例外であり、このような場合
は回路要素の局部的な温度のみが考慮されればよい。
周期）は、センサＣＶ値の滑らかな連続関数である。し
かしながら、センサＣＶのインピーダンス値は、最良に
設計された時でさえ、自動的にデータ中で訂正されるこ
とのできない若干のシステムエラーをもつであろう。最
も一般的なエラー源はセンサＣＶおよび回路要素の曲部
的な温度である。ただし、センサＣＶ自身が温度センサ
であるような特別な場合は例外であり、このような場合
は回路要素の局部的な温度のみが考慮されればよい。
訂正された情報を提供するために、物理的なエラー源
（この例では、温度）に応答する第２の発振器が好んで
使用される。第２の発振器の出力周波数情報は、第１の
発振器からの出力信号を訂正するのに使用される。
（この例では、温度）に応答する第２の発振器が好んで
使用される。第２の発振器の出力周波数情報は、第１の
発振器からの出力信号を訂正するのに使用される。
第３図に示されるように、第２の発振器１０′は、その
センサＣＶ′が多かれ少なかれ、ある程度まで、選ばれ
たエラー源に単調に応答するのを除いて、第１図に示し
た実施例の発振器１０と実質的に同じである。この第２
の発振器１０′は、望ましくは、第１の発振器１０に物
理的に近接させて、第１の発振器１０と同一の環境に置
かれる。なお、第３図では、第２の発振器１０′の全て
の構成要素は、右肩にダッシュ（′）が付されているの
を除いて、第１図と同じ符号が付けられている。
センサＣＶ′が多かれ少なかれ、ある程度まで、選ばれ
たエラー源に単調に応答するのを除いて、第１図に示し
た実施例の発振器１０と実質的に同じである。この第２
の発振器１０′は、望ましくは、第１の発振器１０に物
理的に近接させて、第１の発振器１０と同一の環境に置
かれる。なお、第３図では、第２の発振器１０′の全て
の構成要素は、右肩にダッシュ（′）が付されているの
を除いて、第１図と同じ符号が付けられている。
この実施例において、第２の発振器１０′の周波数は、
第１の発振器１０に及ぼされる温度の局部的なエラー効
果が所望の程度にまで減じられるように、第１の発振器
１０からのデータを系統的に修正するのに使用される。
第２の発振器１０′は、必ずしもエラー効果に対して線
型特性で応答する必要はない。
第１の発振器１０に及ぼされる温度の局部的なエラー効
果が所望の程度にまで減じられるように、第１の発振器
１０からのデータを系統的に修正するのに使用される。
第２の発振器１０′は、必ずしもエラー効果に対して線
型特性で応答する必要はない。
いずれにしても、好ましくはリードオンリーメモリ（Ｒ
ＯＭ）を含むコード変換器１６０の使用によって、例え
ば第２の発振器１０′から出力される周波数信号が、コ
ード変換器１６０の補助的なディジタル電子回路におい
て、第１の発振器１０から出力された情報の温度エラー
効果を修正するのに必要なＲＯＭ中の訂正コード又は訂
正信号をアドレスする。こうして変換器１６０は、第１
の発振器１０の出力周波数に含まれる温度エラー効果を
補償し、その出力端子に温度エラー効果を含まない周波
数信号を発生する。
ＯＭ）を含むコード変換器１６０の使用によって、例え
ば第２の発振器１０′から出力される周波数信号が、コ
ード変換器１６０の補助的なディジタル電子回路におい
て、第１の発振器１０から出力された情報の温度エラー
効果を修正するのに必要なＲＯＭ中の訂正コード又は訂
正信号をアドレスする。こうして変換器１６０は、第１
の発振器１０の出力周波数に含まれる温度エラー効果を
補償し、その出力端子に温度エラー効果を含まない周波
数信号を発生する。
二つの発振器の相互干渉を防止するため、あるいは二つ
の周波数の引込み（ｌｏｃｋｉｎｇ）を防止するため
に、第１の発振器１０の周波数の変化範囲以上又は以下
の周波数で、第２の発振器１０′を動作させることが、
実際上必要である。
の周波数の引込み（ｌｏｃｋｉｎｇ）を防止するため
に、第１の発振器１０の周波数の変化範囲以上又は以下
の周波数で、第２の発振器１０′を動作させることが、
実際上必要である。
外部の刺激をもっと正確に測定するための他の手段は、
外部の刺激に応答する第１の発振器と、出来るだけ完全
に外部の影響に応答しないようにした第２の発振器を用
い、外部のディジタル回路でその２つの周波数の比を取
ることである。二つの発振器はセンサを除いて実質的に
同一に構成される。構成要素に対する内部の、そして局
部的な影響は、同じ筐体の中で二つの発振器を近接配置
することによってほぼ同一にすることができる。
外部の刺激に応答する第１の発振器と、出来るだけ完全
に外部の影響に応答しないようにした第２の発振器を用
い、外部のディジタル回路でその２つの周波数の比を取
ることである。二つの発振器はセンサを除いて実質的に
同一に構成される。構成要素に対する内部の、そして局
部的な影響は、同じ筐体の中で二つの発振器を近接配置
することによってほぼ同一にすることができる。
その結果、構成要素の周波数比に対するエージングの影
響は非常に低減される。さらに、ターンオン／ウォーム
アップによる内部温度の変化は、比の値に余り影響を与
えなくなるであろう。この認識によれば、比の値は外部
刺激の測定値になる。
響は非常に低減される。さらに、ターンオン／ウォーム
アップによる内部温度の変化は、比の値に余り影響を与
えなくなるであろう。この認識によれば、比の値は外部
刺激の測定値になる。
もっと正確な測定をするための他の実施例は、第２の発
振器の温度甘受性が、上記のようにして求められた比を
訂正するのに、別個に使用されるようにしたものであ
る。最も品質の高い構成要素が発振回路に使われたとし
ても、不感と思われる第２の発振器にも若干の温度感受
性がある。上記のように、第２の発振器は第１の発振器
との比を取るのに使用されるのに加えて、第２の発振器
の周波数は、補償情報をもつＲＯＭをアドレスするのに
使用される。この補償情報は、第１の発振器のセンサＣ
Ｖに対する温度の影響を減じるために、外部刺激を表わ
す比を修正するのに用いられる。
振器の温度甘受性が、上記のようにして求められた比を
訂正するのに、別個に使用されるようにしたものであ
る。最も品質の高い構成要素が発振回路に使われたとし
ても、不感と思われる第２の発振器にも若干の温度感受
性がある。上記のように、第２の発振器は第１の発振器
との比を取るのに使用されるのに加えて、第２の発振器
の周波数は、補償情報をもつＲＯＭをアドレスするのに
使用される。この補償情報は、第１の発振器のセンサＣ
Ｖに対する温度の影響を減じるために、外部刺激を表わ
す比を修正するのに用いられる。
第４図は、全体を２００で指している本発明の他の実施
例を示す。この実施例において、センシング要素は、総
括的に２０２で示されている。センシング要素２０２は
筐体２０４をもつ。筐体２０４は隔壁２０５によって閉
じられており、好ましくは圧力差のような刺激を受ける
のに使用される。しかしまた、感受されるべき絶対圧力
あるいは他の物理的条件に対して使用されることもでき
る。
例を示す。この実施例において、センシング要素は、総
括的に２０２で示されている。センシング要素２０２は
筐体２０４をもつ。筐体２０４は隔壁２０５によって閉
じられており、好ましくは圧力差のような刺激を受ける
のに使用される。しかしまた、感受されるべき絶対圧力
あるいは他の物理的条件に対して使用されることもでき
る。
感受されるべき刺激が圧力である時、第１の圧力ポート
２０６と（差圧のための）第２の圧力ポート２０８が、
筐体２０４中の隔壁２０５を貫通して設けられる。リア
クタンスセンサＣＶが１個の容量、あるいは差圧（例え
ばＰ１とＰ２の）ための複数の容量である時、共通のダ
イヤフラム２１０が、筐体２０４を２つの室２１１Ａと
２１１Ｂに分割するように、筐体２０４の中に配置され
る。これによってポート２０６と２０８の圧力がダイヤ
フラム２１０の反対側に作用し、ダイヤフラム２１０は
差圧は応じて休止位置から偏位される。そのような偏位
が点線２１０Ａで示されている。
２０６と（差圧のための）第２の圧力ポート２０８が、
筐体２０４中の隔壁２０５を貫通して設けられる。リア
クタンスセンサＣＶが１個の容量、あるいは差圧（例え
ばＰ１とＰ２の）ための複数の容量である時、共通のダ
イヤフラム２１０が、筐体２０４を２つの室２１１Ａと
２１１Ｂに分割するように、筐体２０４の中に配置され
る。これによってポート２０６と２０８の圧力がダイヤ
フラム２１０の反対側に作用し、ダイヤフラム２１０は
差圧は応じて休止位置から偏位される。そのような偏位
が点線２１０Ａで示されている。
本実施例におけるダイヤフラム２１０は、少くとも一部
は導電性であり、第１の容量ＣＶ−ＨＩと第２の容量Ｃ
Ｖ−ＬＯのための共通電極となる。第２の電極２１２も
また第１の室２１１Ａの中に配置され、かつなるべく
は、第１のポート２０６での圧力変化がダイヤフラム２
１０の静止位置に対して電極２１２を動かさないような
位置に固定される。第２の電極２１２もまた、なるべく
は少くとも一部が導電性であり、ダイヤフラム２１０と
協働して第１の容量ＣＶ−ＨＩを形成する。第３の電極
２１４は、第２の電極２１２の構成と同様に、ダイヤフ
ラム２１０の反対側の筐体２０４の室２１１Ｂの中に配
置される。第３の電極２１４とダイヤフラム２１０は組
合わされて第２の容量ＣＶ−ＬＯを形成する。
は導電性であり、第１の容量ＣＶ−ＨＩと第２の容量Ｃ
Ｖ−ＬＯのための共通電極となる。第２の電極２１２も
また第１の室２１１Ａの中に配置され、かつなるべく
は、第１のポート２０６での圧力変化がダイヤフラム２
１０の静止位置に対して電極２１２を動かさないような
位置に固定される。第２の電極２１２もまた、なるべく
は少くとも一部が導電性であり、ダイヤフラム２１０と
協働して第１の容量ＣＶ−ＨＩを形成する。第３の電極
２１４は、第２の電極２１２の構成と同様に、ダイヤフ
ラム２１０の反対側の筐体２０４の室２１１Ｂの中に配
置される。第３の電極２１４とダイヤフラム２１０は組
合わされて第２の容量ＣＶ−ＬＯを形成する。
適当なリード線２１６と２１８がそれぞれ電極２１２と
２１４に接続され、これらのリード線は、周知の方法
で、筐体２０４の隔壁２０５を貫通して外に引出され
る。そして、各々第１の発振回路ＣＨＩおよび第２の発
振回路ＣＬＯに接続される。
２１４に接続され、これらのリード線は、周知の方法
で、筐体２０４の隔壁２０５を貫通して外に引出され
る。そして、各々第１の発振回路ＣＨＩおよび第２の発
振回路ＣＬＯに接続される。
第１の発振回路ＣＨＩと第２の発振回路ＣＬＯは、第１
図の実施例と同様の発振器である。ダイヤフラム２１０
も同様に、第１および第２の発振回路ＣＨ１とＣＬＯに
接続される。しかし便宜上、隔壁２０５が導電材料から
形成されるとき、図示のように、ダイヤフラム２１０の
導電部が周知の方法で隔壁２０５に接続され、適当なコ
ネクタ２２０と２２２が回路ＣＨＩ、ＣＬＯと隔壁２０
５との間に接続されてもよい。
図の実施例と同様の発振器である。ダイヤフラム２１０
も同様に、第１および第２の発振回路ＣＨ１とＣＬＯに
接続される。しかし便宜上、隔壁２０５が導電材料から
形成されるとき、図示のように、ダイヤフラム２１０の
導電部が周知の方法で隔壁２０５に接続され、適当なコ
ネクタ２２０と２２２が回路ＣＨＩ、ＣＬＯと隔壁２０
５との間に接続されてもよい。
第４図に示されるように、筐体２０４の隔壁２０５は、
好ましくは、接地される。第４図の実施例では、２つの
発振回路ＣＨＩとＣＬＯは、電気的には、互に独立に動
作する。各々の発振器ＣＨＩとＣＬＯは、干渉のない別
個の出力周波数が得られるように、抵抗２０，２２およ
びインピーダンス要素２４，２８の値に意図的に差をつ
けた以外は、望ましくは同一に構成されている。
好ましくは、接地される。第４図の実施例では、２つの
発振回路ＣＨＩとＣＬＯは、電気的には、互に独立に動
作する。各々の発振器ＣＨＩとＣＬＯは、干渉のない別
個の出力周波数が得られるように、抵抗２０，２２およ
びインピーダンス要素２４，２８の値に意図的に差をつ
けた以外は、望ましくは同一に構成されている。
発振器ＣＨＩとＬＯは、隔壁２０５の第１および第２の
突起２３０と２３２のような熱導伝構造の上に装着され
た基板をもっている。その構造はまた、熱補償をするた
め、容量ＣＶ−ＨＩとＣＶ−ＬＯに密接に熱的に結合さ
れている。筐体２０４の構造は、回路ＣＨＩとＣＬＯの
両方が、全く同一ではないにしても、大変似た温度環境
にあることを保証し、また定常的および過度的な温度の
影響の差を最小にする。
突起２３０と２３２のような熱導伝構造の上に装着され
た基板をもっている。その構造はまた、熱補償をするた
め、容量ＣＶ−ＨＩとＣＶ−ＬＯに密接に熱的に結合さ
れている。筐体２０４の構造は、回路ＣＨＩとＣＬＯの
両方が、全く同一ではないにしても、大変似た温度環境
にあることを保証し、また定常的および過度的な温度の
影響の差を最小にする。
２つの圧振回路ＣＨＩとＣＬＯはまた、類似のエージン
グおよび電源電圧効果を受ける。回路ＣＨＩとＣＬＯの
２つの周波数Ｆ２ＨＩとＦ２ＬＯが上述の方法と同様
に、一方の他方に対する比として取扱われる時、スプリ
アス効果は互にキャンセルされる。しかしながら、この
実施例においては、第２の発振回路ＣＬＯは、外部刺激
に応答しない単純な基準発振器ではなくて、能動的で所
望の刺激に応答するものである。
グおよび電源電圧効果を受ける。回路ＣＨＩとＣＬＯの
２つの周波数Ｆ２ＨＩとＦ２ＬＯが上述の方法と同様
に、一方の他方に対する比として取扱われる時、スプリ
アス効果は互にキャンセルされる。しかしながら、この
実施例においては、第２の発振回路ＣＬＯは、外部刺激
に応答しない単純な基準発振器ではなくて、能動的で所
望の刺激に応答するものである。
第１の発振回路ＣＨＩは出力信号Ｆ２ＨＩを出力し、第
２の発振回路ＣＬＯは出力信号Ｆ２ＬＯを出力する。こ
れらの出力信号Ｆ２ＨＩとＦ２ＬＯは、それぞれ（式
７）に従って決定される。これらの出力信号Ｆ２ＨＩと
Ｆ２ＬＯは、ライン２４０と２４２に沿って、信号処理
回路２５０に送られる。この回路はディジタル計算手
段、周波数／ディジタル処理手段、周波数／アナログ処
理手段あるいは読出し手段である。
２の発振回路ＣＬＯは出力信号Ｆ２ＬＯを出力する。こ
れらの出力信号Ｆ２ＨＩとＦ２ＬＯは、それぞれ（式
７）に従って決定される。これらの出力信号Ｆ２ＨＩと
Ｆ２ＬＯは、ライン２４０と２４２に沿って、信号処理
回路２５０に送られる。この回路はディジタル計算手
段、周波数／ディジタル処理手段、周波数／アナログ処
理手段あるいは読出し手段である。
第４図の好ましい実施例においては信号Ｆ２ＨＩは第１
のバッファ２５２を通り、また信号Ｆ２ＬＯは第２のバ
ッファ２５４を通り、両者とも比カウンタ２５６に供給
される。比カウンタ２５６は第１の出力信号Ｆ２ＨＩの
第２の信号Ｆ２ＬＯに対する比、すなわちＦ２ＨＩ／Ｆ
２ＬＯを表わす比信号をライン２５８上に出力する。こ
の信号は直接に用いられても良いし、図示されているよ
うに、ディジタルプロセッサ２５９で更に処理されても
よい。
のバッファ２５２を通り、また信号Ｆ２ＬＯは第２のバ
ッファ２５４を通り、両者とも比カウンタ２５６に供給
される。比カウンタ２５６は第１の出力信号Ｆ２ＨＩの
第２の信号Ｆ２ＬＯに対する比、すなわちＦ２ＨＩ／Ｆ
２ＬＯを表わす比信号をライン２５８上に出力する。こ
の信号は直接に用いられても良いし、図示されているよ
うに、ディジタルプロセッサ２５９で更に処理されても
よい。
補償することが望まれる条件や刺激を補償するため、他
の発振器もまた包含されている。そのような発振器は、
好ましくは温度に応答する可変容量ＣＶＴであるセンサ
をもつ補償発振器２６０であり、ライン２６１で隔壁２
０５に結合されている。また、隔壁２０５は接地されて
おり、適当な電力が発振器ＣＨＩ，ＣＬＯおよび補償発
振器２６０に供給されている。この刺激に応答して、補
償発振器２６０はライン２６２に信号Ｆ３ＣＯＭＰを出
力する。この信号Ｆ３ＣＯＭＰは適当なカウンタ２６４
に供給される。
の発振器もまた包含されている。そのような発振器は、
好ましくは温度に応答する可変容量ＣＶＴであるセンサ
をもつ補償発振器２６０であり、ライン２６１で隔壁２
０５に結合されている。また、隔壁２０５は接地されて
おり、適当な電力が発振器ＣＨＩ，ＣＬＯおよび補償発
振器２６０に供給されている。この刺激に応答して、補
償発振器２６０はライン２６２に信号Ｆ３ＣＯＭＰを出
力する。この信号Ｆ３ＣＯＭＰは適当なカウンタ２６４
に供給される。
カウンタ２６４は、ライン２６６に沿って、その状態を
表わすディジタル信号をディジタルプロセッサ２５９に
出力する。プロセッサ２５９は、ライン２６６上の信号
に応答して、比Ｆ２ＨＩ／Ｆ２ＬＯを直接補償する。
表わすディジタル信号をディジタルプロセッサ２５９に
出力する。プロセッサ２５９は、ライン２６６上の信号
に応答して、比Ｆ２ＨＩ／Ｆ２ＬＯを直接補償する。
あるいは前記プロセッサ２５９は、ライン２７０によっ
てメモリ装置２７２に対して、ライン２６６上の信号に
基づくルックアップ（ｌｏｏｋ ｕｐ）機能を果す。メ
モリ装置２７２は、ライン２７４を介し、補償発振器２
６０の刺激に応じてＦ２ＨＩ／Ｆ２ＬＯの比を補償する
ための信号をプロセッサ２５９に提供する。それからプ
ロセッサ２５９は、第１の発振器ＣＨＩおよび第２の発
振器ＣＬＯへの刺激を表わす補償された信号、つまり差
圧Ｋ（Ｐ１−Ｐ２）を表わす補償済み信号を出力する。
てメモリ装置２７２に対して、ライン２６６上の信号に
基づくルックアップ（ｌｏｏｋ ｕｐ）機能を果す。メ
モリ装置２７２は、ライン２７４を介し、補償発振器２
６０の刺激に応じてＦ２ＨＩ／Ｆ２ＬＯの比を補償する
ための信号をプロセッサ２５９に提供する。それからプ
ロセッサ２５９は、第１の発振器ＣＨＩおよび第２の発
振器ＣＬＯへの刺激を表わす補償された信号、つまり差
圧Ｋ（Ｐ１−Ｐ２）を表わす補償済み信号を出力する。
第４図に示したような多くの差動容量センサにおいて、
筐体２０４の二つの室２１１Ａと２１１Ｂは、多少遠く
の密閉された差圧結合器から共通のダイヤフラムへ流体
差圧が結合されるように、流体で満される。すなわち、
容量電極２１０と２１２間の空間には流体が満される。
このため、各々２３５Ａと２３５Ｂで示される周知のア
イソレータが必要とされる。この流体は、良好な電気的
特性と流体特性をもつものが選ばれ、容量電極を外部の
過酷な化学的環境から隔離，保護する。
筐体２０４の二つの室２１１Ａと２１１Ｂは、多少遠く
の密閉された差圧結合器から共通のダイヤフラムへ流体
差圧が結合されるように、流体で満される。すなわち、
容量電極２１０と２１２間の空間には流体が満される。
このため、各々２３５Ａと２３５Ｂで示される周知のア
イソレータが必要とされる。この流体は、良好な電気的
特性と流体特性をもつものが選ばれ、容量電極を外部の
過酷な化学的環境から隔離，保護する。
しかしながら、この流体は電気的なリアクタンス値に影
響を与える。例えば、第４図の一実施例のように、セン
サＣＶ−ＨＩが容量である時、流体の誘電率は空気のそ
れの数倍であるのが普通である。同種の流体が筐体２０
４を充満するのに使用されるので、筐体２０４の各室２
１１Ａと２１１Ｂの誘電率値は、充満流体の誘電率倍に
なる。誘電率は流体の温度によって数％も変化する。こ
のため、容量ＣＶ−ＨＩとＣＶ−ＬＯのキャパシタン
ス、したがって両発振器ＣＨＵとＣＬＯの出力周波数は
温度と共に共通の乗算ファクタだけ変化する。
響を与える。例えば、第４図の一実施例のように、セン
サＣＶ−ＨＩが容量である時、流体の誘電率は空気のそ
れの数倍であるのが普通である。同種の流体が筐体２０
４を充満するのに使用されるので、筐体２０４の各室２
１１Ａと２１１Ｂの誘電率値は、充満流体の誘電率倍に
なる。誘電率は流体の温度によって数％も変化する。こ
のため、容量ＣＶ−ＨＩとＣＶ−ＬＯのキャパシタン
ス、したがって両発振器ＣＨＵとＣＬＯの出力周波数は
温度と共に共通の乗算ファクタだけ変化する。
二個の発振器の周波数の上記した比が信号処理回路２５
０のような所で得られる時、共通の誘電効果係数が相殺
され、誘電率の変化は所望の外部刺激の感度に影響を与
えなくなる。このように、温度に応答する補償発振器２
６０は、これが筐体２０４と２個の発振器ＣＨＩとＣＬ
Ｏの温度を感知するように、同一の筐体に熱的に結合さ
れるので、その精度が改善される。
０のような所で得られる時、共通の誘電効果係数が相殺
され、誘電率の変化は所望の外部刺激の感度に影響を与
えなくなる。このように、温度に応答する補償発振器２
６０は、これが筐体２０４と２個の発振器ＣＨＩとＣＬ
Ｏの温度を感知するように、同一の筐体に熱的に結合さ
れるので、その精度が改善される。
周囲環境温度は、体系的に、最良のセンサ設計にある程
度まで影響を与えるので、局部的な温度の関数である発
振器２６０の出力周波数がカウンタ２６４で計数されて
ディジタルプロセッサ２５９に供給され、比カウンタ２
５６からのディジタル比を修正して温度の影響を補償す
るために、ディジタル形式で使用される。
度まで影響を与えるので、局部的な温度の関数である発
振器２６０の出力周波数がカウンタ２６４で計数されて
ディジタルプロセッサ２５９に供給され、比カウンタ２
５６からのディジタル比を修正して温度の影響を補償す
るために、ディジタル形式で使用される。
インピーダンス測定のための回路１０を具備する本発明
の特徴、下記のとおりである。(1) センサＣＶは、好ま
しくは、接地された１個の端子を有する。これによっ
て、外部刺激に応答するセンサの機構的設計が単純化さ
れる。
の特徴、下記のとおりである。(1) センサＣＶは、好ま
しくは、接地された１個の端子を有する。これによっ
て、外部刺激に応答するセンサの機構的設計が単純化さ
れる。
(2) ＤＣ電流路、すなわちライン４２−抵抗２０，２２
−ライン１４−増幅手段４０の入力−増幅手段４０の出
力からなる電流路は、何らの構成要素を付加することな
く、増幅手段４０の動作点を安定化できる。
−ライン１４−増幅手段４０の入力−増幅手段４０の出
力からなる電流路は、何らの構成要素を付加することな
く、増幅手段４０の動作点を安定化できる。
(3) 弁別手段１２のインピーダンス分路、すなわち、ラ
イン４２からインピーダンス要素２４と２８を通ってラ
イン１４へ至る通路は、制御手段９０からＤＣ電圧を阻
止し、これによって、制御手段９０が電圧制御抵抗の働
きをするようにする。(4) 回路網を通る信号に対する弁
別手段１２の位相角関数は、増幅器４０が発振周波数に
関して持っている影響を大きく感じながら、Ｒｓが零点
まで増加させられる時、＋１８０度から−１８０度に変
化する。
イン４２からインピーダンス要素２４と２８を通ってラ
イン１４へ至る通路は、制御手段９０からＤＣ電圧を阻
止し、これによって、制御手段９０が電圧制御抵抗の働
きをするようにする。(4) 回路網を通る信号に対する弁
別手段１２の位相角関数は、増幅器４０が発振周波数に
関して持っている影響を大きく感じながら、Ｒｓが零点
まで増加させられる時、＋１８０度から−１８０度に変
化する。
(5)第１図の実施例においては、弁別手段１２は、物理
的に小さなサイズの構成部品である抵抗と容量のみから
構成されている。それ故、小さなサイズの上に、構成部
品と配線に剛直さを生ずる組立技術を使用することがで
きる。また、小さなサイズと剛直さの故に、安定な動作
が強調される。
的に小さなサイズの構成部品である抵抗と容量のみから
構成されている。それ故、小さなサイズの上に、構成部
品と配線に剛直さを生ずる組立技術を使用することがで
きる。また、小さなサイズと剛直さの故に、安定な動作
が強調される。
(6) 回路１０を支配する等式は、発振周波数が、可変容
量センサあるいは圧力、温度、加速度、力、密度等の他
の可変インピーダンスセンサのような容易に製造され得
るセンサＣＶと両立できることを示している。そして、
発振の閾値は、ＦＥＴ９３のような電気的に制御可能な
素子を用いた制御手段９０によって制御される。
量センサあるいは圧力、温度、加速度、力、密度等の他
の可変インピーダンスセンサのような容易に製造され得
るセンサＣＶと両立できることを示している。そして、
発振の閾値は、ＦＥＴ９３のような電気的に制御可能な
素子を用いた制御手段９０によって制御される。
列挙された上記の特徴に加えて、他の効果があることは
当業者には明らかであろう。また、設計のために選ばれ
る構成部品は、長期間回路が安定に動作するように優れ
た属性を持たなければならない。当業者には明らかなよ
うに、種々のタイプおよび数値の構成部品が使用可能で
ある。具体的に製作した所、良好に動作した本発明の第
１図の実施例の構成部品のリストを下記に示す。
当業者には明らかであろう。また、設計のために選ばれ
る構成部品は、長期間回路が安定に動作するように優れ
た属性を持たなければならない。当業者には明らかなよ
うに、種々のタイプおよび数値の構成部品が使用可能で
ある。具体的に製作した所、良好に動作した本発明の第
１図の実施例の構成部品のリストを下記に示す。
なお、ＡＭＰＥＲＥＸは、アンペレクス・エレクトロニ
クス・コーポレーション（所在地；Providence Pke. P
ke. Slatersville,Ｒ．Ｉ．02876）の登録商標である。
クス・コーポレーション（所在地；Providence Pke. P
ke. Slatersville,Ｒ．Ｉ．02876）の登録商標である。
図面の簡単な説明 第１図は本発明の一実施例の概略回路図である。
第２図は適当な波形整形器と読出し回路を表すブロック
図を備えた本発明の他の実施例のブロック図である。
図を備えた本発明の他の実施例のブロック図である。
第３図、その出力端子にコード変換器が結合された２個
の発振器をもつ、本発明のさらに他の実施例のブロック
図である。
の発振器をもつ、本発明のさらに他の実施例のブロック
図である。
第４図は、本発明に従った３個の回路が接続されてお
り、かつこれらの回路からの出力信号が信号処理回路に
接続された本発明のもう一つの実施例を示すブロック図
である。
り、かつこれらの回路からの出力信号が信号処理回路に
接続された本発明のもう一つの実施例を示すブロック図
である。
符号の説明 １２……周波数弁別手段、４０……増幅手段、４４……
増幅器、４６……外部電源、７０……振幅検波手段、９
０……制御手段、１５０……波形整形器、１６０……コ
ード変換器、２５０……信号処理回路、２５６……比カ
ウンタ、２５９……ディジタルプロセッサ、２６０……
補償発振器、２７２……メモリ装置
増幅器、４６……外部電源、７０……振幅検波手段、９
０……制御手段、１５０……波形整形器、１６０……コ
ード変換器、２５０……信号処理回路、２５６……比カ
ウンタ、２５９……ディジタルプロセッサ、２６０……
補償発振器、２７２……メモリ装置
Claims (34)
- 【請求項１】被測定パラメータに応答する可変インピー
ダンスを代表する周波数をもった出力信号を発生するた
めのインピーダンス測定回路であって、 （イ）可変インピーダンスに接続され、入力と出力をも
ち、その出力に発振周波数信号を発生する周波数決定手
段１２、 （ロ）発振周波数信号を増幅するために、前記周波数決
定手段の出力に接続された入力、および発振周波数信号
を表わす交番出力信号を発生する出力をもつと共に、そ
の出力が、前記周波数決定手段の発振を持続するように
該周波数決定手段の入力に接続された信号増幅手段４
０、 （ハ）該交番出力信号を表わす直流制御信号を生成する
ように、前記信号増幅手段の出力に接続された検波手段
７０、および （ニ）前記周波数決定手段に接続され、前記制御信号に
応答して前記発振周波数信号が前記可変インピーダンス
を代表する周波数となるようにする制御手段９０を具備
したインピーダンス測定回路。 - 【請求項２】前記可変インピーダンスが少なくとも１個
の可変コンデンサからなることを特徴とする前記請求の
範囲第１項記載のインピーダンス測定回路。 - 【請求項３】前記周波数決定手段が、さらに、可変イン
ピーダンスに接続された抵抗手段と、制御手段に接続さ
れた固定インピーダンス手段からなり、並列Ｔ回路網を
構成したことを特徴とする前記請求の範囲第２項記載の
インピーダンス測定回路。 - 【請求項４】前記可変コンデンサが既知の最小容量をも
ち、抵抗手段、固定インピーダンス手段および可変コン
デンサの最小容量が初期の発振周波数を決定し、前記可
変コンデンサの容量が被測定パラメータに応答して最小
容量から変化することにより、初期の発振周波数が被測
定パラメータに相応する発振周波数に変化することを特
徴とする前記請求の範囲第２または第３項記載のインピ
ーダンス測定回路。 - 【請求項５】抵抗手段は互いに接続された少くとも二つ
の抵抗からなり、可変コンデンサがそれらの間に接続さ
れたことを特徴とする前記請求の範囲第３項記載のイン
ピーダンス測定回路。 - 【請求項６】固定インピーダンス手段は、互に接続され
た少くとも２個の固定コンデンサからなり、制御手段が
その間に接続されたことを特徴とする前記請求の範囲第
５項記載のインピーダンス測定回路。 - 【請求項７】抵抗と可変コンデンサとを結合した回路
と、固定コンデンサ同士を結合した回路とが並列に接続
されたことを特徴とする前記請求の範囲第６項記載のイ
ンピーダンス測定回路。 - 【請求項８】検波手段がさらに、交流出力信号を直流制
御信号に整流するための整流手段を含むことを特徴とす
る前記請求の範囲第３項記載のインピーダンス測定回
路。 - 【請求項９】前記整流手段が少くとも１個のダイオード
を含むことを特徴とする前記請求の範囲第８項記載のイ
ンピーダンス測定回路。 - 【請求項１０】前記検波手段が、さらに、信号増幅手段
の出力信号を整流手段へ接続するためのＡＣ結合手段を
含むことを特徴とする前記請求の範囲第８項または第９
項記載のインピーダンス測定回路。 - 【請求項１１】前記検波手段が、さらに、出力信号の直
流動作レベルを検波手段から隔離するためのＡＣ結合手
段を含むことを特徴とする前記請求の範囲第８項ないし
第１０項のいずれかに記載のインピーダンス測定回路。 - 【請求項１２】前記検波手段が、さらに、直流制御信号
を平滑化するために、整流手段に接続されたフィルタ手
段を含むことを特徴とする前記請求の範囲第８項ないし
第１１項のいずれかに記載のインピーダンス測定回路。 - 【請求項１３】フィルタ手段が少くとも１個のコンデン
サを含むことを特徴とする前記請求の範囲第１２項記載
のインピーダンス測定回路。 - 【請求項１４】制御手段が直流制御信号に応答する能動
回路を含むことを特徴とする前記請求の範囲第３項記載
のインピーダンス測定回路。 - 【請求項１５】制御手段は入力制御手段と出力制御手段
とをもち、入力制御手段における直流制御信号に応答す
る出力制御手段が、前記周波数決定手段の発振状態を制
御することを特徴とする前記請求の範囲第１項ないし第
１３項のいずれかに記載のインピーダンス測定回路。 - 【請求項１６】制御手段がディプレッションモードのＦ
ＥＴであることを特徴とする前記請求の範囲第１５項記
載のインピーダンス測定回路。 - 【請求項１７】制御手段がドレイン、ソースおよびゲー
トをもつディプレッションモードのＦＥＴであることを
特徴とする前記請求の範囲第１５項記載のインピーダン
ス測定回路。 - 【請求項１８】ＦＥＴのゲートが直流制御信号に結合さ
れ、ドレインが周波数決定手段に接続されていることを
特徴とする前記請求の範囲第１７項記載のインピーダン
ス測定回路。 - 【請求項１９】制御手段は、さらに、直流制御信号に応
答する調節可能な抵抗を周波数決定手段に提供する出力
制御手段を含むことを特徴とする前記請求の範囲第１５
項記載のインピーダンス測定回路。 - 【請求項２０】回路に対する外部負荷の影響を減じるた
めに、出力信号に接続されたアイソレータ手段をさらに
含む前記請求の範囲第３，７，８，１６，１７又は１９
項記載のインピーダンス測定回路。 - 【請求項２１】外部刺激に応答する可変コンデンサの容
量を測定する回路であって、前記測定回路は、 （イ）可変コンデンサ、ならびに入力、出力および特性
インピーダンスをもつ回路網手段を含み、その出力に外
部刺激を表わす周波数信号を発生する並列Ｔ回路網手
段、 （ロ）前記回路網手段の出力に接続され、該回路網手段
の入力に、周波数信号を代表する交流出力信号を供給す
る信号増幅手段、 （ハ）前記増幅手段の出力に接続され、交流出力信号を
直流制御信号に整流する検波手段、 （ニ）前記回路網に接続され、前記周波数信号が外部刺
激を表わす周波数をもつように、前記直流制御信号に応
答して前記回路網手段の特性インピーダンスを変化させ
る制御手段からなる測定回路。 - 【請求項２２】制御手段が可変抵抗であることを特徴と
する前記請求の範囲第２１項記載の測定回路。 - 【請求項２３】制御手段がディプレッションモードのＦ
ＥＴであることを特徴とする前記請求の範囲第２１項記
載の測定回路。 - 【請求項２４】ＦＥＴがドレイン、ソースおよびゲート
をもち、ドレインおよびソース間の抵抗を制御信号に応
答して変化させるために、ゲートに制御信号が供給され
ることを特徴とする前記請求の範囲第２３項記載の測定
回路。 - 【請求項２５】制御手段が接合形ＦＥＴであることを特
徴とする前記請求の範囲第２１項ないし第２４項のいず
れかに記載の測定回路。 - 【請求項２６】複数の測定回路を含み、選択された刺激
を表わす出力を発生する測定装置であって、前記複数の
測定回路がそれぞれ、 （イ）可変インピーダンスに接続され、入力と出力をも
ち、その出力に発振周波数信号をを発生する周波数決定
手段、 （ロ）発振周波数信号を増幅するために、前記周波数決
定手段の出力に接続された入力、および発振周波数信号
を表わす交番出力信号を発生する出力をもつと共に、そ
の出力が、前記周波数決定手段の発振を持続するように
該周波数決定手段の入力に接続された信号増幅手段、 （ハ）該交番出力信号を表わす直流制御信号を生成する
ように、前記信号増幅手段の出力に接続された検波手
段、および （ニ）前記周波数決定手段に接続され、前記制御信号に
応答して前記発振周波数信号が前記可変インピーダンス
を代表する周波数となるようにする制御手段を具備し、 （ホ）少なくとも第１の回路が少なくとも第１のパラメ
ータに応答して第１のパラメータ出力信号を発生し、第
２の回路が第２のパラメータに応答して第２のパラメー
タ出力信号を発生し、 （ヘ）第１および第２のパラメータ出力信号が供給さ
れ、第１および第２のパラメータ出力信号の関数である
プロセッサ出力信号を発生する信号処理手段を含む測定
装置。 - 【請求項２７】前記信号処理手段が、第２のパラメータ
出力信号に基づいて第１のパラメータ出力信号を補償す
るためのデータを記憶するメモリ手段をさらに含むこと
を特徴とする前記請求の範囲第２６項記載の測定装置。 - 【請求項２８】前記信号処理手段はさらに、第２のパラ
メータ出力信号を供給され、かつ第２のパラメータ出力
信号の関数である補償データをメモリ手段内でアドレス
するようにメモリ手段に接続されたルックアップ手段を
含むことを特徴とする前記請求の範囲第２７項記載の測
定装置。 - 【請求項２９】前記信号処理手段が、第２のパラメータ
出力信号に基づいて得られた補償データと第１のパラメ
ータ出力信号とを演算することにより、補償された第１
のパラメータ出力信号を生成することを特徴とする前記
請求の範囲第２７項または２８項記載の測定装置。 - 【請求項３０】第１のパラメータが圧力であることを特
徴とする前記請求の範囲第２９項記載の測定装置。 - 【請求項３１】第１のパラメータが少くとも第１と第２
の圧力の差圧であり、少くとも第１の回路が、それぞれ
（イ）可変インピーダンスに接続され、入力と出力をも
ち、その出力に発振周波数信号をを発生する周波数決定
手段、（ロ）発振周波数信号を増幅するために、前記周
波数決定手段の出力に接続された入力、および発振周波
数信号を表わす交番出力信号を発生する出力をもつと共
に、その出力が、前記周波数決定手段の発振を持続する
ように該周波数決定手段の入力に接続された信号増幅手
段、（ハ）該交番出力信号を表わす直流制御信号を生成
するように、前記信号増幅手段の出力に接続された検波
手段、および（ニ）前記周波数決定手段に接続され、前
記制御信号に応答して前記発振周波数信号が前記可変イ
ンピーダンスを代表する周波数となるようにする制御手
段９０を具備し、被測定パラメータに応答する可変イン
ピーダンスを代表する周波数をもった出力信号を発生す
るための、少くとも２つのインピーダンス測定回路を含
み、 その少くとも１つが第１の圧力に応答し、他の少くとも
１つが第２の圧力に応答することを特徴とする前記請求
の範囲第２６ないし第３０項のいずれかに記載の測定装
置。 - 【請求項３２】少くとも第２の回路が温度に応答する回
路であることを特徴とする前記請求の範囲第３１項記載
の測定装置。 - 【請求項３３】少くとも第２の回路が環境に応答する回
路であることを特徴とする前記請求の範囲第３１項記載
の測定装置。 - 【請求項３４】少くとも第２の回路が基準回路であるこ
とを特徴とする前記請求の範囲第３１項記載の測定装
置。
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US06/269,415 US4391146A (en) | 1981-06-01 | 1981-06-01 | Parallel T impedance measurement circuit for use with variable impedance sensor |
| US269415 | 1981-06-01 | ||
| PCT/US1982/000730 WO1982004317A1 (en) | 1981-06-01 | 1982-05-27 | Impedance measurement circuit |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58500872A JPS58500872A (ja) | 1983-05-26 |
| JPH0634020B2 true JPH0634020B2 (ja) | 1994-05-02 |
Family
ID=23027142
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57502157A Expired - Lifetime JPH0634020B2 (ja) | 1981-06-01 | 1982-05-27 | インピ−ダンス測定回路 |
Country Status (9)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4391146A (ja) |
| EP (1) | EP0079955B1 (ja) |
| JP (1) | JPH0634020B2 (ja) |
| BR (1) | BR8207720A (ja) |
| CA (1) | CA1177121A (ja) |
| DE (1) | DE3280117D1 (ja) |
| GB (1) | GB2118727B (ja) |
| IL (1) | IL66030A (ja) |
| WO (1) | WO1982004317A1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN119511182A (zh) * | 2025-01-21 | 2025-02-25 | 四川大学 | 电容式电压互感器频率特性测量方法、系统、终端及介质 |
Families Citing this family (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4519253A (en) * | 1983-04-29 | 1985-05-28 | Rosemount Inc. | Reactance measurement circuit with enhanced linearity |
| JPS6165114A (ja) * | 1984-09-06 | 1986-04-03 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | 容量式変換装置 |
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