JPH0634211B2 - テストデ−タ編集機能付ｃａｄ装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 テストデータ編集機能付ＣＡＤ装置であって、集積回路
のピン（Ｐｉ）を指定してテストデータ（ＴＤｉ）を入
力する際に、指定された任意のピン（Ｐｎ）に対応のテ
ストデータ（ＴＤｎ）が単一パターンデータ（ＵＤ）の
くり返し部分を含む場合にリピート手段（３）を用いて
該単一パターンデータ（ＵＤ）をリピートし、このリピ
ートされたデータを表示手段（２）にグラフィック表示
させることにより、テストデータ編集の効率化を図り、
テストデータの容易な入力チェックを可能とする。

〔産業上の利用分野〕

本発明は、テストデータ編集機能付ＣＡＤ（コンピュー
タ支援設計）装置に関し、より詳細にはゲートアレイ、
スタンダードセル等の論理ＩＣ（集積回路）または論理
ＬＳＩ（大規模集積回路）を設計する際に該論理ＩＣま
たは論理ＬＳＩの外部端子用ピンを指定して該ピンに対
応するテストパターンのデータを入力し、論理シミュレ
ーション用のテストデータを編集する機能を備えたＣＡ
Ｄ装置に関する。

〔従来の技術、および発明が解決しようとする問題点〕

ＣＡＤ装置、より広くはＣＡＤシステム、を用いて論理
シミュレーション用のテストデータの編集を行う場合、
通常用いられている手順としては、まずオペレータがキ
ーボードよりＩＣまたはＬＳＩの外部端子用ピンを指示
するデータを入力し、それに続いて該ピンに対応するテ
ストパターンのデータを入力する。ピンのデータは、外
部端子名、例えばＶＣＣ（電源）、ＣＬＫ（クロッ
ク）、Ｄ（データ）、Ｂ（バス）等、とその属性、すな
わちＩ（信号入力用）かＯ（信号出力用）かの指定、と
の組合せにより規定される。一方、テストパターンデー
タは、信号入力用の属性を有するピンについては実際に
入力される信号のデータが入力され、信号出力用の属性
を有するピンについては出力されるべき期待値のデータ
が入力され、タイミングデータとパターンデータの組合
せにより規定される。このように所定の規定に基づき記
述されたテストデータは“テキスト”と呼ばれている
が、このテキスト方式に基づいてキーボードより入力さ
れた各データは、ＣＲＴ（陰極線管）表示器にそのまま
の状態で、すなわちキー入力時の言語形態の状態で表示
される。

第５図には従来形の一例としてのテストデータの表示例
が示され、第６図には第５図の表示内容を表わす波形が
示される。第５図においてＤＳＰは表示画面を表わし、
ＶＣＣ，Ｂ０，Ｂ１，…，Ｄ０，Ｄ１…、は外部端子名
を、ＩおよびＯは属性を、20Ｈ，30Ｈ，50Ｌ，…、はテ
ストパターンデータを、それぞれ示す。例えば、双方向
信号用の端子Ｂ１に対応するデータは、５０（ns）の時
点で立上り（Ｈ）、７０（ns）の時点で立下り（Ｌ）、
８０（ns）の時点で立上り（Ｈ）、以降同様に変化し、
最後は140(ns)の時点で立下る（Ｌ）といった変化をす
る信号を表わしている。

第５図に示される一表示例からも明らかなように従来の
テストデータ編集の形態によれば、外部ピンに対応のテ
ストデータが言語の形態で表示されるようになっている
ため、第５図に示される表示内容が第６図に示される波
形を表わすものであることを即座にかつ正確に認識する
ことは難しく、従って、いったん表示させたテストデー
タを後でオペレータが入力チェックする際にはその作業
が極めて煩雑なものとなり、場合によってはオペレータ
の入力ミスをひき起こす場合もあり、強いてはテストデ
ータ編集の効率が全体的に低下するという問題があっ
た。

また、任意のピンを指定してテストデータを入力する際
に、このテストデータが単一パターンデータのくり返し
部分、例えば第５図の例では外部ピンＢ２のデータにお
いて０〜120(ns)の間の部分、あるいは外部ピンＤ３の
データにおいて60〜140(ns)の間の部分、を含む場合に
は、従来のテストデータ編集の形態によれば各パターン
毎にその都度データを定義するようになっているため、
キー入力操作をくり返し行う必要がある。このことは、
テストデータ編集の効率化をさらに妨げるものであり、
しかも表示形態が言語形態であることと相俟ってオペレ
ータの入力ミスをひき起こし、極めて不都合である。

本発明は、上述した従来技術における問題点に鑑み創作
されたもので、テストデータ編集の効率化を図ると共
に、オペレータの入力ミスを極少にし、テストデータの
容易な入力チェックを可能にするテストデータ編集機能
付ＣＡＤ装置を提供することを目的としている。

〔問題点を解決するための手段〕

第１図には本発明によるテストデータ編集機能付ＣＡＤ
装置の原理ブロック図が示される。

第１図において１はデータ入力手段であって、集積回路
の外部端子用ピンＰｉを指示するデータＰＤｉと該ピン
に対応するテストデータＴＤｉを入力するためのもので
ある。２は表示手段であって、データ入力手段１より入
力されたピンのデータＰＤｉを表示すると共に該ピンに
対応のテストデータＴＤｉをグラフィック表示する機能
を有している。従って、入力されたテストデータは言語
形態ではなく波形の形態で表示される。

３はリピート手段であり、任意のピンＰｎが指定された
時に、このピンＰｎに対応のテストデータＴＤｎが単一
パターンデータＵＤのくり返し部分を含む場合にデータ
入力手段１からの指令信号ＲＰに応答して上述の単一パ
ターンデータＵＤをリピートする機能を有している。４
は表示制御手段であって、リピート手段３からの指令に
基づいて上述の単一パターンデータＵＤを表示手段２に
くり返し表示させる。

従って、本発明の装置は全体として、単一パターンデー
タのくり返し部分を含むテストデータについてはリピー
ト機能を使用し、入力されたテストデータまたはリピー
トされたデータをグラフィック表示させるように構成さ
れている。

〔作用〕

本発明によるテストデータ編集機能付ＣＡＤ装置におい
ては、単一パターンデータＵＤのくり返し部分を含むテ
ストデータＴＤｎに対応の任意のピンＰｎが指定された
時に、リピート手段３はデータ入力手段１からの指令信
号ＲＰに応答して上述の単一パターンデータＵＤをリピ
ートする。表示制御手段４は、リピート手段３からの指
令に基づいて上述の単一パターンデータＵＤを表示手段
２にくり返しグラフィック表示させる このように本発明の装置は、必要に応じてリピート機能
を働かせることによりテストデータ入力の無駄を無く
し、これによってテストデータ編集の効率化を可能にす
ると共に、入力されたテストデータまたはリピートされ
たデータをグラフィック表示させることによりデータの
認識度を向上させ、これによってオペレータの入力ミス
を極少にし、テストデータの容易な入力チェックを可能
とするものである。

〔実施例〕

第２図には本発明の一実施例としてのテストデータ編集
機能付ＣＡＤ装置の概略的なシステム構成が示される。
同図において２０はデータバス、制御バス等からなるシ
ステムバスであり、このバス２０を介してキーボード２
１、表示器２２、メモリ２３、ＭＰＵ（マイクロプロセ
ッサユニット）２４およびマウス２５が互いに接続され
ている。

キーボード２１は、テンキー、アルファベットキー等の
通常のキーの他に、表示器２２の画面に表示されている
データの変更(change)、削除(delete)、挿入(insert)、
移動(move)等を行うためのファンクションキーを備え、
さらに本発明の特徴をなすリピート(repeat)キーを備え
ている。このキーボード２１は、ＩＣまたはＬＳＩの外
部端子用ピンを指示するデータとこのピンに対応するテ
ストパターンのデータとを入力するためのものであり、
第１図に示されるデータ入力手段１に相当する。ピンを
指示するデータは、ピン名、例えばＶＣＣ（電源）、Ｃ
ＬＫ（クロック）、Ｄ（データ）、Ｂ（バス）等、とそ
の属性、すなわちＩ（信号入力用）かＯ（信号出力用）
かの指定、との組合せにより規定され、実際の入力操作
に際してはテンキーおよびアルファベットの操作により
データが入力される。一方、テストパターンデータにつ
いては、方向キーを用いてタイミングを設定し、テンキ
ーおよびアルファベットキーを用いてテストパターンの
入力が行われるようになっている。例えば、２０（ns）
の時点で正のパルスデータを入力する場合には、まず右
向きの方向キーを２０回操作し、それから“１”のキー
を操作すればよい。

表示器２２は、キーボード２１より入力された各データ
を表示するためのもので、ピンを指示するデータ、すな
わちピン名とその属性については通常の表示を行い、テ
ストパターンデータについては波形表示の形態でグラフ
ィック表示を行う。この場合、信号出力用の属性をもつ
ピンのテストデータについては、波形表示と共に、キー
入力時の言語形態の状態、すなわち“Ｈ”または
“Ｌ”、が表示される。表示器２２は、第１図に示され
る表示手段２に相当する。メモリ２３は、MPU24が行う
処理を表わすプログラムの他に、キーボード２１より入
力された各データを記憶するためのものである。

MPU24は、メモリ２３に記憶されているプログラムに基
づき所定の処理を実行し、その基本的な機能としては、
キーボード２１より入力された各データをメモリ２３に
一時格納すると共に表示器２２にグラフィック表示させ
る。他の機能としてMPU24は、キーボード２１より任意
のピンが指定された時に、この任意のピンに対応のテス
トパターンデータが単一パターンデータのくり返し部分
を含む場合にキーボード２１からのリピート指令に基づ
いて上述の単一パターンデータをリピートする機能を有
している。さらにMPU24は、この単一パターンデータを
表示器２２にくり返しグラフィック表示させる機能を有
している。実際上の処理においては、この単一パターン
データのくり返し表示は、オペレータがキーボード２１
よりリピートキーの操作、単一パターンの指定、そのく
り返し回数の指定およびタイミングの指定を行うことに
より、実行される。このMPU24は、第１図に示されるリ
ピート手段３および表示制御手段４に相当する。

マウス２５は、手動操作に基づいて表示器２２の画面上
の位置の指定を行うためのものである。

第３図には第２図のＣＡＤ装置によるテストデータ編集
を説明するためのフローチャートが示される。

まず、ステップ301では編集するテストデータ名が定義
され、ステップ302ではＩＣまたはＬＳＩのピン数Ｎの
設定と変数ｎの初期設定が行われる。次のステップ303
においては、VCC,CLK,Ｄ，Ｂ等のピン名と、信号入力用
（Ｉ）または信号出力用（Ｏ）を指示する属性とが定義
される。ステップ301〜303は、キーボード２１からの入
力操作により実行される。なお、ピン名Ｐｎに付与され
る変数ｎは、ピンの配列順序に従うのではなく、オペレ
ータが定義するピンのデータ入力順に従う。次のステッ
プ304では、キーボード２１より入力されたテストデー
タ名、ピン名およびその属性が表示器２２に表示され
る。

ステップ305では、指定されたピンＰｎ（この場合には
Ｐ１）に対応のテストデータＴＤｎ（この場合はＴＤ
１）が単一パターンのくり返し部分を含む（ＹＥＳ）か
否（ＮＯ）かの判定が行われる。この判定は、オペレー
タがテストデータの入力操作に先立って行うものである
が、もし判定がＮＯの場合にはステップ306に進む。ス
テップ306ではテストデータＴＤ１の入力操作が行わ
れ、ステップ307ではこのテストデータＴＤ１が表示器
２２にグラフィック表示される。ステップ306および307
は実際上、同時的に実行される。従って、オペレータは
表示器２２の画面上で自ら入力したテストデータを波形
の形態で確認することができるので、データの認識度が
高まり、これによって入力ミスが減少すると共に、テス
トデータの入力チェックを簡単に行うことができる。

次のステップ308では表示器２２の画面に表示されてい
るデータ、すなわちテストデータ名、ピン名、属性およ
びテストデータ、がメモリ２３に記憶され、ステップ30
9では論理シミュレーション用のテストデータ作成が行
われる。ステップ308および309は、MPU24により実行さ
れる。次のステップ310では変数ｎの値がピン数Ｎの値
と等しい（ＹＥＳ）か否（ＮＯ）かの判定が行われ、判
定がＹＥＳの場合にはフローは終わりとなり、判定がＮ
Ｏの場合にはステップ311に進む。ステップ311ではｎの
値の歩進が行われ（この場合にはｎ＝２）、そしてステ
ップ303に戻る。

一方、ステップ305において判定がＹＥＳの場合、すな
わちテストデータＴＤ_ｎが単一パターンのくり返し部分
を含むものとオペレータが判断した場合には、オペレー
タはキーボード２１のリピートキーを操作する。これに
よって、リピート指令が発せられる（ステップ321）。
次のステップ322では、オペレータは上述の単一パター
ンを指定する。オペレータは、次のステップ323におい
てくり返し回数、すなわち単一パターンが何回くり返さ
れているかという情報、を入力し、さらに次のステップ
324においてこの単一パターンのくり返し部分が現われ
る時間的情報、すなわちタイミング、を入力する。ステ
ップ322〜324は、キーボード２１からの入力操作により
実行される。ステップ325ではMPU24によりリピート処理
が実行される。次のステップ326では上述のくり返し部
分以外のデータがテストデータＴＤｎに含まれる（ＹＥ
Ｓ）か否（ＮＯ）かの判定が行われる。この判定はオペ
レータの判断に基づき行われるものであるが、もし判定
がＮＯの場合にはステップ307に飛び、判定がＹＥＳの
場合にはステップ327に進む。ステップ327においては、
くり返し部分以外のデータの入力操作が行われる。この
後、ステップ307に進む。

以上説明したように、必要に応じてリピート機能を働か
せることによりテストデータ入力の無駄を無くすことが
でき、これによってテストデータ編集の効率化を図るこ
とができる。また、入力されたデータあるいはリピート
されたデータはグラフィック表示されるので、テストデ
ータの容易な入力チェックが可能になり、さらにはデー
タ入力ミスの減少化にも寄与し得る。

第４図には第２図装置の表示器２２によるテストデータ
表示の一例が示される。前述したように、信号出力用の
属性をもつピン、すなわちＤ15，Ｄ14，…、のテストデ
ータについては、波形表示と共に、キー入力時の言語形
態の状態“Ｈ”または“Ｌ”が表示される。これによっ
て、オペレータは入力したキーの確認と共に、他のピン
のテストデータとの間のタイミング関係を即座にかつ正
確に認識することができる。また、第４図において外部
ピンＤ12に対応するテストデータに例示されるように、
単一パターン（１個の“Ｈ”レベルパターンおよび１個
の“Ｌ”レベルパターン）が５回くり返されているくり
返し部分Ａに対して前述のリピート機能を働かせること
により、テストデータ編集の効率化を図ることができ
た。

〔発明の効果〕

以上説明したように本発明によれば、テストデータ編集
の効率化を図ることができると共に、オペレータの入力
ミスを極少にし、テストデータの入力チェックを容易に
行うことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明によるテストデータ編集機能付ＣＡＤ装
置の原理ブロック図、 第２図は本発明の一実施例を示すシステム構成図、 第３図は第２図のＣＡＤ装置によるテストデータ編集を
説明するためのフローチャート、 第４図は第２図装置の表示器２２によるテストデータ表
示の一例を示す図、 第５図は従来形のテストデータ表示の一例を示す図、 第６図は第５図の表示内容を表わす波形図、 である。 （符合の説明） １…データ入力手段、２…表示手段、 ３…リピート手段、４…表示制御手段、 Ｐｉ，Ｐｎ…ピン、 ＴＤｉ，ＴＤｎ…テストデータ、 ＰＤｉ，ＰＤｎ…ピンを指示するデータ、 ＲＰ…指令信号、 ＵＤ…単一パターンデータ。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】集積回路の外部端子用ピン（Ｐｉ）を指示
   するデータ（ＰＤｉ）と該ピンに対応するテストデータ
   （ＴＤｉ）を入力し得る手段（１）と、 該入力されたピンのデータ（ＰＤｉ）を表示すると共に
   テストデータ（ＴＤｉ）をグラフィック表示する手段
   （２）と、 任意のピン（Ｐｎ）が指定された時に、該ピン（Ｐｎ）
   に対応のテストデータ（ＴＤｎ）が単一パターンデータ
   （ＵＤ）のくり返し部分を含む場合に該データ入力手段
   （１）からの指令信号（ＲＰ）に応答して該単一パター
   ンデータ（ＵＤ）をリピートする手段（３）と、 該リピート手段（３）からの指令に基づいて該単一パタ
   ーンデータ（ＵＤ）を該表示手段（２）にくり返し表示
   させる表示制御手段（４）と、 を備えてなるテストデータ編集機能付ＣＡＤ装置。