JPH0827807B2 - テストデータ編集装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔概 要〕 論理シミュレーション用のテストデータを編集する装
置であって、既に定義済みのピンのうち指定された任意
のピンのテストデータにおいて設定された任意の時点の
パターンを表示手段の画面上で左端にスクロールさせる
時に、該任意のピンを除く他のすべてのピンに対応の該
任意の時点における各パターンを同時に左端に書き換え
ることにより、テストデータ編集の効率化を図ると共
に、任意の時点を基準とするテストデータの再編集を容
易にするものである。

〔産業上の利用分野〕

本発明は、テストデータ編集装置に関し、より詳細に
はCAD（コンピュータ支援設計）システムを用いてゲー
トアレイ、スタンダードセル等の論理IC（集積回路）ま
たは論理LSI（大規模集積回路）を設計する際に、該論
理ICまたは論理LSIの外部端子用ピンを指定して該ピン
に対応するテストパターンのデータを入力し、論理シミ
ュレーション用のテストデータを編集する機能を備えた
装置に関する。

〔従来の技術、および発明が解決しようとする課題〕

CADシステムを用いて論理シミュレーション用のテス
トデータの編集を行う場合、通常用いられている手順と
しては、まずオペレータがキーボードよりICまたはLSI
の外部端子用ピンを指示するデータを入力し、それに続
いて該ピンに対応するテストパターンのデータを入力す
る。ピンのデータは、外部端子名、例えばVCC（電
源）、CLK（クロック）、Ｄ（データ）、Ｂ（バス）
等、とその属性、すなわちＩ（信号入力用）がＯ（信号
出力用）かの指定、との組合せにより規定される。一
方、テストパターンデータは、信号入力用の属性を有す
るピンについては実際に入力される信号のデータが入力
され、信号出力用の属性を有するピンについては出力さ
れるべき期待値のデータが入力され、タイミングデータ
とパターンデータの組合せにより規定される。このよう
に所定の規定に基づき記述されたテストデータは「テキ
スト」と呼ばれ、テキスト方式を採用している。このテ
キスト方式に基づいてキーボードより入力された各デー
タは、CRT（陰極線管）表示器にそのままの状態で、す
なわちキー入力時の言語形態の状態で表示される。

第７図には従来形の一例としてのテストデータの表示
例が示され、第８図には第７図の表示内容を表わす波形
が示される。第７図においてDSPは表示画面を表わし、V
CC,B0,B1,…,D0,D1,…、は外部端子名を、ＩおよびＯは
属性を、L5,H2,L1,…、はテストパターンデータを、そ
れぞれ示す。例えば、双方向信号用の端子B1（信号出力
モード時）に対応するデータは、50（nc）の時点までは
ロー（Ｌ）レベルで、その時点で立上り、70（ns）の時
点までハイ（Ｈ）レベルを保ち、その時点で立下り、以
降同様に変化し、最後は140（ns）の時点で立下るとい
った変化をする信号を表わしている。

第７図に示される一表示例からも明らかなように従来
のテストデータ編集の形態によれば、外部ピンに対応の
テストデータが言語の形態で表示されるようになってい
るため、第７図に示される表示内容が第８図に示される
波形を表わすものであることを即座にかつ正確に認識す
ることは難しく、従って、いったん表示させたテストデ
ータを後でオペレータが入力チェックする際にはその作
業が極めて煩雑なものとなり、場合によってはオペレー
タの入力ミスをひき起こす場合もあり、強いてはテスト
データ編集の効率が全体的に低下するという問題があっ
た。

また、既に定義されている複数のピンにそれぞれ対応
するテストデータにおいて任意の時点における該テスト
データ相互間のレベル関係をチェックしたい場合、ある
いは該任意の時点において各テストデータの再編集を行
いたい場合には、従来のテストデータ編集の形態によれ
ば手計算により該任意の時点を見つけるようにしている
ため、その作業は極めて煩雑なものとなり、しかも時間
を要し、場合によっては操作ミスをひき起こすという不
都合があった。このようなことは、テストデータ編集の
効率化をさらに妨げるものであるので好ましくない。

本発明は、上述した従来技術における課題に鑑み創作
されたもので、オペレータの入力ミスを極少にし、任意
の時点における各ピンのテストデータ相互間の容易なチ
ェック、および該任意の時点を基準とする各テストデー
タの容易な再編集を可能にすると共に、テストデータ編
集の効率化を図ることができるテストデータ編集装置を
提供することを目的としている。

〔課題を解決するための手段〕

第１図には本発明によるテストデータ編集装置の原理
ブロック図が示される。

第１図において１はデータ入力手段であって、集積回
路の外部端子用ピンを指示するデータPDiと該ピンに対
応する論理シミュレーション用のテストデータTDiを入
力するためのものである。２はデータ入力手段１から入
力された各データを表示するための表示手段を示し、３
はデータ入力手段１から入力された各データを記憶する
記憶手段を示す。４は表示制御手段であって、表示手段
２に対し、データ入力手段１から入力されたピンのデー
タPDiを表示させると共に、該ピンに対応のテストデー
タTDiをグラフィック表示させる機能を有している。

５はスクロール手段を示し、記憶手段３に既に定義済
みのピンのうち任意のピン（Pnとする）が指定され、か
つ該任意のピンに対応のテストデータ（TDnとする）に
おいて任意の時点（t_kとする）が設定された時に、表示
制御手段４からの制御により該テストデータTDnにおけ
る該任意の時点のパターンを表示手段２の画面上で左端
にスクロールさせるためのものである。

６はリライト手段であって、上述のスクロール処理が
実行された時に、表示制御手段４からの制御により該任
意のピンPnを除く他のすべてのピンに対応の該任意の時
点t_kにおける各パターンを表示手段２の画面上で左端に
書き換えるためのものである。

〔作 用〕

本発明のテストデータ編集装置においては、既に定義
済みのピンのうち指定された任意のピンPnのテストデー
タTDnにおいて設定された任意の時点のt_kのパターンが
表示手段２の画面上で左端にスクロールされる時に、該
任意のピンPnを除く他のすべてのピンに対応の該任意の
時点t_kにおける各パターンが同時に左端に書き換えられ
る。

従って、各ピン毎に入力操作をくり返し行う必要がな
くなり、これによって、テストデータ編集の効率化を図
ることが可能となり、また、任意の時点を基準とするテ
ストデータの再編集が容易となる。

〔実施例〕

第２図には本発明の一実施例としてのテストデータ編
集装置が適用される概略的なCADシステムの構成が示さ
れる。同図において20はデータバス、制御バス等からな
るシステムバスであり、このバス20を介してキーボード
21、表示器22、メモリ23、MPU（マイクロプロセッサユ
ニット）24およびマウス25が互いに接続されている。

キーボード21は、テンキー、アルファベット等の通常
のキーの他に、表示器22の画面に表示されているデータ
の変更（change）、削除（delete）、挿入（insert）、
移動（move）等を行うためのファンクションキーを備
え、さらに本発明の特徴をなすスクロール（scroll）キ
ーおよびリライト（rewrite）キーを備えている。この
キーボード21は、ICまたはLSIの外部端子用ピンを指示
するデータとこのピンに対応するテストパターンのデー
タとを入力するためのものであり、第１図に示されるデ
ータ入力手段１に相当する。ピンを指示するデータは、
ピン名、例えばVCC（電源）、CLK（クロック）、Ｄ（デ
ータ）、Ｂ（バス）等、とその属性、すなわちＩ（信号
入力用）かＯ（信号出力用）かの指定、との組合せによ
り規定され、実際の入力操作に際してはテンキーおよび
アルファベットキーの操作によりデータが入力される。
一方、テストパターンデータについては、方向キーを用
いてタイミングを設定し、テンキーおよびアルファベッ
トキーを用いてテストパターンデータの入力が行われる
ようになっている。例えば、信号入力用のデータとし
て、20（ns）の時点で正のパルスデータを入力する場合
には、まず右向きの方向キーを２回操作し、それから
「１」のキーを操作すればよい。

表示器22は、キーボード21より入力された各データを
表示するためのもので、ピンを指示するデータ、すなわ
ちピン名とその属性については通常の表示を行い、テス
トパターンデータについては波形表示の形態でグラフィ
ック表示を行う。この場合、信号出力用の属性をもつピ
ンのテストデータについては、波形表示と共に、キー入
力時の言語形態の状態、すなわち「Ｈ」または「Ｌ」、
が表示される。表示器22は、第１図に示される表示手段
２に相当する。メモリ23は、MPU24が行う処理を表わす
プログラムの他に、キーボード21より入力された各デー
タを記憶するためのものであり、第１図の記憶手段３に
相当する。

MPU24は、メモリ23に記憶されているプログラムに基
づき所定の処理を実行し、その基本的な機能としては、
キーボード21より入力された各データをメモリ23に一時
格納すると共に、表示器22に対し、ピン名とその属性に
ついては通常の表示を行わせ、テストパターンデータに
ついては波形表示の形態でグラフィック表示させる。こ
の場合、MPU24は、信号出力用の属性をもつピンのテス
トデータについては、波形表示と共に、キー入力時の言
語形態の状態（「Ｈ」または「Ｌ」）も表示させる。従
って、オペレータは表示器22の画面上で「Ｈ」または
「Ｌ」の文字が表示されているか否かに応じて、それぞ
れ信号出力用のピンであるか、あるいは信号入力用のピ
ンであるかを容易に、かつ正確に認識することができ
る。

また、MPU24は他の機能として、メモリ23に既に定義
されているピンのうち任意のピンが指定され、かつ該任
意のピンに対応のテストデータにおいて任意の時点が設
定された時に、該テストデータにおける該任意の時点の
パターンを表示器22の画面上で左端にスクロールさせる
機能を有している。さらに他の機能としてMPU24は、こ
のスクロール処理が実行された時に、該任意のピンを除
く他のすべてのピンに対応の該任意の時点における各パ
ターンを表示器22の画面上で左端に同時に書き換える
（リライトする）機能を有している。実際上の処理にお
いては、上述のスクロール処理およびリライト処理は、
オペレータがキーボード21よりスクロールキーおよびリ
ライトキーの操作を行うことにより、実行される。この
MPU24は、第１図に示される表示制御手段４、スクロー
ル手段５およびリライト手段６に相当する。

マウス25は、手動操作に基づいて表示器22の画面上で
図面等を作成する場合に用いられる。

第３図には第２図装置によるテストデータ編集を説明
するためのフローチャートが示される。

まず、ステップ301では編集するテストデータ名が定
義され、ステップ302ではICまたはLSIのピン数Ｎの設定
と変数ｉの初期設定が行われる。次のステップ303にお
いては、VCC,CLK,D,B等のピンPi名と、信号入力用
（Ｉ）または信号出力用（Ｏ）を指示する属性とが定義
される。ステップ301〜303は、キーボード21からの入力
操作により実行される。なお、ピンPi名に付与される変
数ｉは、ピンの配列順序に従うのではなく、オペレータ
が定義するピンのデータ入力順に従う。次のステップ30
4では、キーボード21より入力されたテストデータ名、
ピン名およびその属性が表示器22に表示される。

ステップ305ではテストデータTDi（この場合にはTD
i）の入力操作がキーボード21を介して行われる。実際
の入力操作においては、まず方向キー、通常は右向きの
方向キー、を用いてカーソルを画面上で移動させること
によりタイミングデータを設定し、つづいてアルファベ
ットキーまたはテンキーを用いてパターンデータを入力
する。このパターンデータは、Ｉ（信号入力用）の属性
を有するピンについては「１」または「０」であり、Ｏ
（信号出力用）の属性を有するピンについては「Ｈ」ま
たは「Ｌ」である。次のステップ306では、入力された
テストデータTDiがグラフィック表示される。この場
合、ピンの属性が「Ｏ」の時は、前述したようにグラフ
ィック表示と共に、該テストデータの文字表示も行われ
る。これによって、信号入力用のピンと信号出力用のピ
ンとの区別を直観的に行うことができる。ステップ307
では表示器22の画面に表示されているデータ、すなわち
テストデータ名、ピン名、属性およびテストデータ、が
メモリ23に記憶され、ステップ308では論理シミュレー
ション用のテストデータ作成が行われる。ステップ307
および308は、MPU24により実行される。

ステップ309では、メモリ23に既に定義済みのピンの
うち任意のピンPnが指定された（YES）か否（NO）かの
判定が行われる。この判定は、キーボード21からのキー
操作に基づいて行われるものであるが、もし判定がYES
の場合にはステップ310に進み、判定がNOの場合にはス
テップ311に飛ぶ。ステップ310では指定されたピンPnに
対応のテストデータTDnにおいて任意の時点T_kが設定さ
れた（YES）か否（NO）かの判定が行われる。この判定
は、ステップ309と同様にキーボード21からのキー操作
に基づいて行われるものであるが、もし判定がNOの場合
にはステップ311に進む。ステップ311では変数ｉの値が
ピン数Ｎの値と等しい（YES）か否（NO）かの判定が行
われ、判定がYESの場合にはフローは終わりとなり、判
定がNOの場合にはステップ312に進む。ステップ312で
は、ｉの値の歩進が行われ（この場合にはｉ＝２）、そ
してステップ303に戻る。

一方、ステップ310において判定がYESの場合にはステ
ップ321に進む。ステップ321では、指定された任意のピ
ンPnに対応するテストデータTDnにおいて設定された任
意の時点t_kのパターン（例えば第４図のＡの部分）が、
MPU24により表示器22の画面上で指示される。この指示
は、例えば所定のカラー表示により示される。ステップ
322ではスクロール指令が出された（YES）か否（NO）か
の判定が行われる。この判定は、キーボード21からのス
クロールキーの操作に基づいて行われるものであるが、
もし判定がNOの場合にはステップ311に飛び、判定がYES
の場合にはステップ323に進む。ステップ323ではスクロ
ール処理、すなわち上述した任意のピンPnに対応の任意
の時点t_kにおけるパターンが表示器22の画面上で左端に
くるように表示データをスクロールさせるための処理が
行われる。

さらにステップ324ではリライト指令が出された（YE
S）か否（NO）かの判定が行われる。この判定は、キー
ボード21からのリライトキーの操作に基づいて行われる
ものであるが、もし判定がNOの場合にはステップ327に
飛び、判定がYESの場合にはステップ325に進む。ステッ
プ325ではリライト処理、すなわち任意のピンPnを除く
他のすべてのピンに対応の任意の時点t_kにおける各パタ
ーンが表示器22の画面上で左端にくるように表示データ
を移動させるための処理が行われる。このリライト処理
により、各ピンに対応のテストデータが任意の時点t_kを
基準として同一タイミングで表示される。

ステップ326ではキーボード21よりのキー操作に基づ
いてテストデータの再編集が行われ、次のステップ327
は画面上の表示データをタイミング的に元の位置にスク
ロールさせるための処理が行われる。ステップ321〜32
5、および327は、MPU24により実行される。ステップ327
の終了後、またはステップ322において判定がNOの場合
には、ステップ311に戻る。

第４図には第２図装置の表示器22によるテストデータ
表示の一例が示される。前述したように、信号出力用の
属性をもつピン、すなわちD15、D14…、のテストデータ
については、波形表示と共に、キー入力時の言語形態の
状態「Ｈ」または「Ｌ」が表示される。また、第４図の
例示は外部ピンB2のテストデータに対して任意の時点t_k
が設定された場合を示しており、図中、ハッチングが施
さた部分Ａ（56番目のパターンに相当）は、前述したよ
うに所定のカラーで表示される。オペレータは、このカ
ラー表示された部分Ａを確認してスクロールキーを操作
する。

第５図には第４図の表示データにおいて外部ピンB2に
対応する56番目のパターン（Ａの部分）がスクロール処
理された時の表示例が示される。この場合、指令された
当該パターンのスクロール処理と同時に、タイミングデ
ータ、すなわちパターン数のデータも「00050」から「0
0056」にシフトする。従って、ピンB2を除く他のすべて
のピンに対応する各テストデータは、タイミング的には
第４図の状態のままである。この時点では未だすべての
ピンのテストデータが同一タイミングで表示されておら
ず、各ピン相互間の信号の関係を把握することは困難で
あるので、オペレータはさらにリライトキーを操作す
る。

第６図には第５図の表示データをリライト処理した時
の表示例、すなわちピンB2を除く他のすべてのピンに対
応する56番目の各パターンが画面上で左端にくるように
表示データを移動させた時の表示例が示される。この時
点で、任意の時点、すなわち56番目のパターンを基準と
して各テストデータが同一タイミングで表示されるの
で、各ピン相互間の信号の関係を即座にかつ正確に把握
することができ、テストデータの再編集を容易に行うこ
とができる。

なお、任意の時点におけるすべてのピンの各パターン
を画面上で左端に移動させる一つの方法として、各ピン
毎にスクロール処理を行う方法が考えられるが、この場
合、キー操作をくり返し行う必要があるので、作業能率
の点から見て極めて不都合である。これに対し、上述し
たリライト処理を行うことにより、例えば画面上にピン
のテストデータがｎ個表示されるものとすれば、任意の
時点を基準として各テストデータを同一タイミングに設
定するのに要する時間は約1/nに短縮され得る。

〔発明の効果〕

以上説明したように本発明によれば、任意の時点にお
ける各ピンのテストデータ相互間の容易なチェック、お
よび該任意の時点を基準とする各テストデータの容易な
再編集が可能になり、オペレータの入力ミスを極少にす
ることができると共に、テストデータ編集の効率化を図
ることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明によるテストデータ編集装置の原理ブロ
ック図、 第２図は本発明の一実施例が適用されるCADシステム構
成図、 第３図は第２図装置によるテストデータ編集を説明する
ためのフローチャート、 第４図は第２図装置の表示器によるテストデータ表示の
一例を示す図、 第５図は第４図の表示データをスクロール処理した時の
表示例を示す図、 第６図は第５図の表示データをリライト処理した時の表
示例を示す図、 第７図は従来形のテストデータ表示の一例を示す図、 第８図は第７図の表示内容を表わす波形図、である。 （符号の説明） １……データ入力手段、２……表示手段、 ３……記憶手段、４……表示制御手段、 ５……スクロール手段、６……リライト手段、 PDi……ピンのデータ、TDi……テストデータ。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】集積回路の外部端子用ピンを指示するデー
   タ（PDi）と該ピンに対応する論理シミュレーション用
   のテストデータ（TDi）を入力する手段（１）と、 該データ入力手段から入力された各データを表示する表
   示（２）と、 該データ入力手段から入力された各データを記憶する手
   段（３）と、 該表示手段に対し、該データ入力手段から入力されたピ
   ンのデータ（PDi）を表示させると共に、該ピンに対応
   のテストデータ（TDi）をグラフィック表示させる表示
   制御手段（４）と、 該記憶手段に既に定義済みのピンのうち任意のピン（P
   n）が指定され、かつ該任意のピンに対応のテストデー
   タ（TDn）において任意の時点（t_k）が設定された時
   に、該表示制御手段からの制御により該テストデータ
   （TDn）における該任意の時点のパターンを該表示手段
   の画面上で左端にスクロールさせる手段（５）と、 該スクロール処理が実行された時に、該表示制御手段か
   らの制御により該任意のピン（Pn）を除く他のすべての
   ピンに対応の該任意の時点（t_k）における各パターンを
   表示手段の画面上で左端に書き換えるリライト手段
   （６）と、 を備えてなるテストデータ編集装置。