JPH0636175B2 - テストデ−タ編集機能付ｃａｄ装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 テストデータ編集機能付ＣＡＤ装置であって、既に定義
済みのピンのうち任意のピン(Pn)が指定された時に、該
ピン(Pn)に対応のテストデータ(TDn)に対しファインド
手段（４）を用いて任意の時点を設定し、この設定され
た時点より後の時点において該テストデータ(TDn)のパ
ターン変化点を検出し、この検出されたパターン変化点
の部分を表示手段（２）の画面上で指示することによ
り、テストデータ編集の効率化を図り、テストデータ相
互間の容易なチェックを可能とする。

〔産業上の利用分野〕

本発明は、テストデータ編集機能付ＣＡＤ（コンピュー
タ支援設計）装置に関し、より詳細にはゲートアレイ、
スタンダードセル等の論理ＩＣ（集積回路）または論理
ＬＳＩ（大規模集積回路）を設計する際に該論理ＩＣま
たは論理ＬＳＩの外部端子用ピンを指定して該ピンに対
応するテストパターンのデータを入力し、論理シミュレ
ーション用のテストデータを編集する機能を備えたＣＡ
Ｄ装置に関する。

〔従来の技術、および発明が解決しようとする問題点〕

ＣＡＤ装置、より広くはＣＡＤシステム、を用いて論理
シミュレーション用のテストデータの編集を行う場合、
通常用いられている手順としては、まずオペレータがキ
ーボードよりＩＣまたはＬＳＩの外部端子用ピンを指示
するデータを入力し、それに続いて該ピンに対応するテ
ストパターンのデータを入力する。ピンのデータは、外
部端子名、例えばVCC（電源）、ＣＬＫ（クロック）、
Ｄ（データ）、Ｂ（バス）等、とその属性、すなわちＩ
（信号入力用）かＯ（信号出力用）かの指定、との組合
せにより規定される。一方、テストパターンデータは、
信号入力用の属性を有するピンについては実際に入力さ
れる信号のデータが入力され、信号出力用の属性を有す
るピンについては出力されるべき期待値のデータが入力
され、タイミングデータとパターンデータの組合せによ
り規定される。このように所定の規定に基づき記述され
たテストデータは“テキスト”と呼ばれているが、この
テキスト方式に基づいてキーボードより入力された各デ
ータは、ＣＲＴ（陰極線管）表示器にそのままの状態
で、すなわちキー入力時の言語形態の状態で表示され
る。

第６図には従来形の一例としてのテストデータの表示例
が示され、第７図には第６図の表示内容を表わす波形が
示される。

第６図においてＤＳＰは表示画面を表わし、VCC，Ｂ
０，Ｂ１，…，Ｄ０，Ｄ１，…、は外部端子（ピン）名
を、ＩおよびＯは属性を、20Ｈ，30Ｈ，50Ｌ，…、はテ
ストパターンデータを、それぞれ示す。例えば、双方向
信号用の端子Ｂ１に対応するデータは、５０(ns)の時点
で立上り（Ｈ）、７０(ns)の時点で立下り（Ｌ）、８０
(ns)の時点で立上り（Ｈ）、以降同様に変化し、最後は
140(ns)の時点で立下る（Ｌ）といった変化をする信号
を表わしている。

第６図に示される一表示例からも明らかなように従来の
テストデータ編集の形態によれば、外部ピンに対応のテ
ストデータが言語の形態で表示されるようになっている
ため、第６図に示される表示内容が第７図に示される波
形を表わすものであることを即座にかつ正確に認識する
ことは難しく、従って、いったん表示させたテストデー
タを後でオペレータが入力チェックする際にはその作業
が極めて煩雑なものとなり、場合によってはオペレータ
の入力ミスをひき起こす場合もあり、強いてはテストデ
ータ編集の効率が全体的に低下するという問題があっ
た。

また、既に定義されている複数のピンにそれぞれ対応す
るデストデータにおいて任意の時点における該テストデ
ータ相互間のレべル関係をチェックしたい場合、または
該任意の時点において各テストデータの再編集を行う場
合には、従来のテストデータ編集の形態によれば手計算
によりパターン変化点の時点を見つけるようにしている
ため、その作業が煩雑で、しかも時間を要し、場合によ
っては操作ミスをひき起こすという不都合があった。こ
のようなことは、テストデータ編集の効率化をさらに妨
げるものであるので好ましくない。

本発明は、上述した従来技術における問題点に鑑み創作
されたもので、テストデータ編集の効率化を図ると共
に、オペレータの操作ミスを極少にし、テストデータ相
互間の容易なチェックを可能にするテストデータ編集機
能付ＣＡＤ装置を提供することを目的としている。

〔問題点を解決するための手段〕

第１図には本発明によるテストデータ編集機能付ＣＡＤ
装置の原理ブロック図が示される。

第１図において１はデータ入力手段であって、集積回路
の外部端子用ピン(Pi)を指示するデータ(PDi)と該ピン
に対応するテストデータ(TDi)を入力するためのもので
ある。（２）は表示手段であって、データ入力手段
（１）より入力されたピンのデータ(PDi)を表示すると
共に、該ピンに対応のテストデータ(TDi)をグラフィッ
ク表示する機能を有している。従って、入力されたテス
トデータは言語形態ではなく波形の形態で表示される。
（３）は記憶手段であって、入力されたピンのデータ(P
Di)および該ピンに対応のテストデータ(TDi)を記憶す
る。

（４）はファインド手段であり、記憶手段（３）に既に
定義済みのピンのうち任意のピン(Pn)が指定された時
に、データ入力手段（１）からの第１の指令信号(FD)に
応答して上述の任意のピン(Pn)に対応のテストデータ(T
Dn)に対し任意の時点を設定し、該設定された時点より
後の時点において該テストデータ(TDn)のパターン変化
点(PT)を検出する機能を有している。（５）は表示制御
手段であって、ファインド手段（４）からの指令に基づ
き該パターン変化点(PT)の部分を表示手段(2)の画面上
で指示する機能を有している。

〔作用〕

本発明によるテストデータ編集機能付ＣＡＤ装置におい
ては、記憶手段（３）に既に定義済みのピンのうち任意
のピン(Pn)が指定された時に、ファインド手段（４）は
データ入力手段（１）からの指令信号(FD)に応答して上
述の任意のピン(Pn)に対応のテストデータ(TDn)に対し
任意の時点を設定し、この設定された時点より後の時点
においてこのテストデータ(TDn)のパターンが変化して
いる点、すなわちパターン変化点(PT)を検出（ファイン
ド）する。このファインドされたパターン変化点(PT)の
部分は、表示制御手段（５）により、表示手段（２）の
画面上で表示される。

このように本発明の装置は、任意のテストデータ(TDn)
に対し必要に応じてファインド機能を働かせ、ファイン
ドされたパターン変化点(PT)の部分を表示画面上でグラ
フィック的に指示させることにより、データの認識度を
向上させてオペレータの操作ミスを極少にし、テストデ
ータ相互間の容易なチェックを可能にすると共に、テス
トデータ編集の効率化を図るものである。

〔実施例〕

第２図には本発明の一実施例としてのテストデータ編集
機能付ＣＡＤ装置の概略的なシステム構成が示される。
同図において（２０）はデータバス、制御バス等からな
るシステムバスであり、このバス（２０）を介してキー
ボード（２１）、表示器（２２）、メモリ（２３）、Ｍ
ＰＵ（マイクロプロセッサユニット）（２４）およびマ
ウス（２５）が互いに接続されている。

キーボード（２１）は、テンキー、アルファベットキー
等の通常のキーの他に、表示器（２２）の画面に表示さ
れているデータの変更(change)、削除(delete)、挿入(i
nsert)、移動(move)、スクロール(scroll)等を行うため
のファンクションキーを備え、さらに本発明の特徴をな
すファインド(find)キーを備えている。このキーボード
（２１）は、ＩＣまたはＬＳＩの外部端子用ピンを指示
するデータとこのピンに対応するテストパターンのデー
タとを入力するためのものであり、第１図に示されるデ
ータ入力手段（１）に相当する。ピンを指示するデータ
は、ピン名、例えばＶCC（電源）、ＣＬＫ（クロッ
ク）、Ｄ（データ）、Ｂ（バス）等、とその属性、すな
わちＩ（信号入力用）かＯ（信号出力用）かの指定、と
の組合せにより規定され、実際の入力操作に際してはテ
ンキーおよびアルファベットキーの操作によりデータが
入力される。一方、テストパターンデータについては、
方向キーを用いてタイミングを設定し、テンキーおよび
アルファベットキーを用いてテストパターンデータの入
力が行われるようになっている。例えば、２０(ns)の時
点でパルスデータを入力する場合には、まず右向きの方
向キーを２０回操作し、それから“１”のキーを操作す
ればよい。

表示器（２２）は、キーボード（２１）より入力された
各データを表示するためのもので、ピンを指示するデー
タ、すなわちピン名とその属性については通常の表示を
行い、テストパターンデータについては波形表示の形態
でグラフィック表示を行う。この場合、信号出力用の属
性をもつピンのテストデータについては、波形表示と共
に、キー入力時の言語形態の状態、すなわち“Ｈ”また
は“Ｌ”、が表示される。表示器（２２）は、第１図に
示される表示手段（２）に相当する。メモリ（２３）
は、(MPU 24)が行う処理を表わすプログラムの他に、キ
ーボード（２１）より入力された各データを記憶するた
めのものであり、第１図の記憶手段（３）に相当する。

(MPU 24)は、メモリ（２３）に記憶されているプログラ
ムに基づき所定の処理を実行し、その基本的な機能とし
ては、キーボード（２１）より入力された各データをメ
モリ（２３）に一時格納すると共に表示器（２２）にグ
ラフィック表示させる。他の機能として(MPU 24)は、メ
モリ（２３）に既に定義済みのピンのうち任意のピンが
指定された時に、キーボード（２１）からのファインド
指令に基づいて上述の任意のピンに対応のテストデータ
に対し任意の時点を設定し、この設定された時点より後
の時点においてこのテストデータのパターン変化点をフ
ァインド（検出）する機能を有している。さらに他の機
能として(MPU 24)は、このパターン変化点の部分を表示
器（２２）の画面上で指示する機能を有している。ま
た、さらに他の機能として(MPU 24)は、キーボード（２
１）からのスクロール指令に基づいて上述のパターン変
化点の部分が表示器（２２）の画面上で左端にくるよう
に表示データをスクロールさせる機能を有している。実
際上の処理においては、上述したファインド指令および
スクロール指令に基づくデータの表示は、オペレータが
キーボード（２１）よりファインドキーの操作、指定さ
れた任意のピンに対応のテストデータに対する任意の時
点の設定、およびスクロールキーの操作を行うことによ
り、実行される。この(MPU 24)は、第１図に示されるフ
ァインド手段（４）および表示制御手段（５）に相当す
る。

マウス（２５）は、手動操作に基づいて表示器（２２）
の画面上の位置の指定を行うためのものである。

第３図には第２図のＣＡＤ装置によるテストデータ編集
を説明するためのフローチャートが示される。

まず、ステップ301では編集するテストデータ名が定義
され、ステップ302ではＩＣまたはＬＳＩのピン数Ｎの
設定と変数ｉの初期設定が行われる。次のステップ303
においては、ＶCC、ＣＬＫ、Ｄ、Ｂ等のピン名と、信号
入力用（Ｉ）または信号出力用（Ｏ）を指示する属性と
が定義される。ステップ301〜303は、キーボード（２
１）からの入力操作により実行される。なお、ピン名(P
i)に付与される変数ｉは、ピンの配列順序に従うのでは
なく、オペレータが定義するピンのデータ入力順に従
う。次のステップ304では、キーボード（２１）より入
力されたテストデータ名、ピン名およびその属性が表示
器（２２）に表示される。ステップ305ではテストデー
タ(TDi)（この場合は(TD₁)の入力操作が行われ、ステッ
プ306ではこのテストデータ(TD₁)が表示器（２２）にグ
ラフィック表示される。ステップ305および306は実際
上、同時的に実行される。従って、オペレータは表示器
（２２）の画面上で自ら入力したテストデータを波形の
形態で確認することができるので、データの認識度が高
まり、これによって入力ミスが減少すると共に、テスト
データの入力チェックを簡単に行うことができる。

次のステップ307では表示器（２２）の画面に表示され
ているデータ、すなわちテストデータ名、ピン名、属性
およびテストデータ、がメモリ（２３）に記憶され、ス
テップ308では論理シミュレーション用のテストデータ
作成が行われる。ステップ307および308は、(MPU 24)に
より実行される。次のステップ309においては、メモリ
（２３）に既に定義済みのピンのうち任意のピン(Pn)が
指定された(YES)か否(NO)かの判定が行われる。この判
定は、キーボード（２１）からのキー操作に基づいて行
われるものであるが、もし判定がＹＥＳの場合にはステ
ップ310に進み、ＮＯの場合にはステップ311に飛ぶ。ス
テップ310ではファインド指令が出された(YES)か否(NO)
かの判定が行われる。この判定は、キーボード（２１）
からのファインドキーの操作に基づいて行われるもので
あるが、もし判定がＮＯの場合にはステップ311に進
む。ステップ311では変数ｉの値がピン数Ｎの値と等し
い(YES)か否(NO)かの判定が行われ、判定がＹＥＳの場
合にはフローは終わりとなり、判定がＮＯの場合にはス
テップ312に進む。ステップ312ではｉの値の歩進が行わ
れ（この場合にはｉ＝２）、そしてステップ303に戻
る。

一方、ステップ310において判定がＹＥＳの場合、すな
わちキーボード（２１）よりファインドキーが操作され
た場合には、ステップ321に進む。ステップ321では、オ
ペレータは指定した任意のピン(Pn)に対応のテストデー
タ(TDn)に対して任意の時点を設定する。次のステップ3
22では、(MPU 24)はこの設定された時点より後の時点に
おいてテストデータ(TDn)のパターン変化点(PT)を検出
する（ファインド処理）。さらに次のステップ323で
は、このパターン変化点(PT)の部分が(MPU 24)により表
示器（２２）の画面上で指示される。これによって、オ
ペレータは表示器（２２）の画面上でパターン変化点(P
T)の部分に対応する時点においてテストデータ相互間の
レべル関係を即座にかつ正確に認識することができる。

次のステップ324ではスクロール指令が出された(YES)か
否(NO)かの判定が行われる。この判定は、キーボード
（２１）からのスクロールキーの操作に基づいて行われ
るものであるが、もし判定がＮＯの場合にはステップ31
1に飛び、ＹＥＳの場合にはステップ325に進む。ステッ
プ325ではスクロール処理、すなわち上述したパターン
変化点(PT)の部分が表示器（２２）の画面上で左端にく
るように表示データをスクロールさせるための処理が行
われる。ステップ326においては、キーボード（２１）
よりのキー操作に基づいてテストデータの再編集が行わ
れ、次のステップ327では画面上の表示データをタイミ
ング的に元の位置にスクロールするための処理が行われ
る。ステップ322〜325、および327は、(MPU 24)により
実行される。ステップ327の終了後、またはステップ324
において判定がＮＯの場合には、ステップ311に戻る。

以上説明したように、ファインド機能を働かせ、ファイ
ンドされたパターン変化点(PT)の部分を表示画面上でグ
ラフィック的に指示させることにより、また必要に応じ
てこの指示されたパターン変化点(PT)の部分を表示器
（２２）の画面上で左端にスクロールさせることによ
り、データの認識度を向上させ、オペレータの操作ミス
を極小にし、強いてはテストデータ相互間の容易なチェ
ックを可能にすると共に、テストデータ編集の効率化を
図ることができる。

第４図には第２図装置の表示器（２２）によるファイン
ド処理時のテストデータ表示の一例が示され、第５図に
は第４図の表示データをスクロール処理した時の表示例
が示される。前述したように、信号出力用の属性をもつ
ピン、すなわち(D15)，(D14)，…、のテストデータにつ
いては、波形表示と共に、キー入力時の言語形態の状態
“Ｈ”または“Ｌ”が表示される。また、第４図の例示
は外部ピン(B2)のテストデータに対してファインド機能
を働かせた場合を示しており、図中、(t_K)はキーボード
より設定された任意の時点（５３番目のパターンに相
当）を表わし、(PT)はパターン変化点（５６番目のパタ
ーンに相当）を表わす。ハッチングが施された部分(A)
は、パターン変化点(PT)を表わす部分として画面上で、
例えば点滅表示される。このようにして画面上で指示さ
れたパターン変化点(PT)の部分は、第５図に示されるよ
うに左端にスクロールされる。これによって、何番目の
パターンでデータがどのように変化しているかという認
識を容易に行うことができ、また、他のピンのテストデ
ータとの間の信号の関係を即座にかつ正確に認識するこ
とができるので、テストデータ相互間のチェックが容易
となり、従って、テストデータ編集の効率化を図ること
ができる。

〔発明の効果〕

以上説明したように本発明によれば、テストデータ編集
の効率化を図ることができると共に、オペレータの操作
ミスを極少にし、テストデータ相互間のチェックを容易
に行うことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明によるテストデータ編集機能付ＣＡＤ装
置の原理ブロック、 第２図は本発明の一実施例を示すシステム構成図、 第３図は第２図のＣＡＤ装置によるテストデータ編集を
説明するためのフローチャート、 第４図は第２図装置の表示器（２２）によるファインド
処理時のテストデータ表示の一例を示す図、 第５図は第４図の表示データをスクロール処理した時の
表示例を示す図、 第６図は従来形のテストデータ表示の一例を示す図、 第７図は第６図の表示内容を表わす波形図、 である。 （符号の説明） （１）……データ入力手段、（２）……表示手段、 （３）……記憶手段、（４）……ファインド手段、 （５）……表示制御手段、(Pi)，(Pn)……ピン、 (PDi)，(PDn)……ピンを指示するデータ、 (TDi)，(TDn)……テストデータ、 (FD)……指令信号、(PT)……パターン変化点。

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】集積回路の外部端子用ピン(Pi)を指示する
   データ(PDi)と該ピンに対応するテストデータ(TDi)を入
   力し得る手段（１）と、 該入力されたピンのデータ(PDi)を表示すると共にテス
   トデータ(TDi)をグラフィック表示する手段（２）と、 該入力されたデータ(PDi,TDi)を記憶する手段（３）
   と、 該記憶手段（３）に既に定義済みのピンのうち任意のピ
   ン(Pn)が指定された時に、該データ入力手段（１）から
   の指令信号(FD)に応答して該任意のピン(Pn)に対応のテ
   ストデータ(TDn)に対し任意の時点を設定し、該設定さ
   れた時点より後の時点において該テストデータ(TDn)の
   パターン変化点(PT)を検出するファインド手段（４）
   と、 該ファインド手段（４）からの指令に基づき該パターン
   変化点(PT)の部分を該表示手段（２）の画面上で指示す
   る表示制御手段（５）と、 を備えてなるテストデータ編集機能付ＣＡＤ装置。
2. 【請求項２】前記表示制御手段（５）は、前記パターン
   変化点(PT)の部分が前記表示手段（２）の画面上で左端
   にくるように表示データをスクロールさせる手段を含
   む、特許請求の範囲第１項に記載の装置。