JPH06347367A - 光パルス試験器 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 一連の繰り返し作業を一つのキー操作で行
え、操作方法の簡易化および作業時間の短縮を図る。 【構成】 パネルキー２は複数のキーの手動操作により
一連の操作手順を示す測定条件を設定する。コマンドコ
ード化処理部３はパネルキー２の所定のキーにより設定
された測定条件をコード化してコマンドを発生する。操
作手順メモリ４はコード化されたコマンドを設定の順に
従って一連の操作手順として記憶する。実行キー登録手
段６は一連の操作手順を実行キー５に割り当てて登録す
る。操作手順実行処理部８は実行キー５が押されたと
き、操作手順メモリ４からその実行キー５に割り当てら
れた一連の操作手順のコマンドを読み出す。コマンドデ
コード処理部９は読み出されたコマンドをデコードす
る。測定制御部１０は測定演算部１がデコードされた操
作手順に従って被測定ファイバ１７の特性を測定するよ
うに制御する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、発光部からの光パルス
を被測定ファイバに送出し、被測定ファイバから反射し
てくる反射光を受けて電気信号に変換し信号処理するこ
とによって被測定ファイバの長さ、損失等の各種測定を
行う光パルス試験器に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来より光パルス試験器を使用した作業
においては、使用される分野によって操作内容は異なる
ものの、一般に単純な繰り返し作業が多い。この場合、
色々な作業が考えられるが、例えば１〜２Ｋｍ置きに心
線数が１００心以上の多心光ファイバが融着された敷設
工事の最終試験用のデータ取り作業を行う場合を例にと
って説明する。

【０００３】この作業では、一つの心線の全ての融着点
の接続損失を測定し、一覧表に記入する。また、回線全
体の長さを測定し、外部記憶素子である例えばフロッピ
ーディスクに記録するとともにプリント出力する。以上
の作業を全ての心線について繰り返し行う。

【０００４】そこで、従来の光パルス試験器では、ま
ず、〔LD〕キーでＬＤをオンし、〔AVERAGE 〕キーでア
ベレージングをオンする。次に、アベレージングが終了
するのを待って〔LD〕キーでＬＤをオフする。次に、測
定点の位置の設定するために、〔SHIFT 〕キーで表示位
置を移動させ、ロータリノブを操作して測定点を決める
主マーカ１９ａにカーソル１８を合わせ、主マーカ１９
ａと、測定点の接続損失を測定するための補助マーカ１
９ｂを〔MARKER〕キーで選択する（図２参照）。この状
態で、主マーカ１９ａで指定された測定点での接続損失
の読み取り、記入作業を行う。この作業は〔MARKER〕キ
ーとロータリーノブの操作により融着点数分繰り返して
行われる。

【０００５】次に、上記作業を終えたら、〔SAVE〕キー
で記録を行い、終了したら〔COPY〕キーでプリント出力
する。そして、以上の一連の作業を全ての心線について
繰り返し行っていた。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た方法では、１本の光ファイバの接続損失を測定するた
めには、融着点（接続点）にカーソル１８およびマーカ
１９ａ，１９ｂを設定して接続損失を読み取った後、次
の融着点に再度カーソル１８およびマーカ１９ａ，１９
ｂを設定して接続損失を読み取るという作業を繰り返す
必要があり、測定よりもカーソル１８およびマーカ１９
ａ，１９ｂの設定に時間を要し、複数点での接続損失の
測定を同時に行うことができなかった。

【０００７】また、上記の方法とは別に、イベント機能
と称し、同時に複数の測定点を測定する方法も提案され
ている。この方法は、測定波形から指定されたしきい値
以上の接続損失を自動検出し、その検出した点での測定
結果を一覧表にしていた。

【０００８】しかしながら、上述した方法では、指定さ
れたいきい値以上の接続損失が自動的に検出されるた
め、測定波形によって測定点が左右し、必ずしも測定し
たい点を検出できるとは限らず、作業者が希望する測定
点とは異なる場合があった。また、毎回測定波形に対し
て自動検出を行うので、検出のための処理時間が余計に
かかり、最終結果が出力されるまでに時間を要するとい
う問題があった。

【０００９】ところで、光パルス試験器を使用する場
合、同じことの繰り返し操作をする場合が多いが、一つ
の一連の作業を何回も行う場合、プログラム等をメモリ
に入れておくこともできるが、ユーザが測定条件に応じ
てプログラムを組むことは大変である。また、一連の作
業がそれぞれ異なった内容のものが複数ある場合に、そ
れぞれをプログラムすることも単純な作業ではなかっ
た。

【００１０】また、光パルス試験器で観測される信号は
微弱のため、アベレージング処理という特有の機能があ
り、このアベレージングを行って測定波形のノイズを低
減させてから測定する必要があった。

【００１１】ところが、従来の光パルス試験器では、適
当なノイズ幅になるまで測定波形を常に監視する必要が
あるため、その間、他の作業を行うことができなかっ
た。

【００１２】また、測定点が複数ある場合でも、従来の
ように、測定結果を観測しながら毎回同じ操作を測定点
毎にマニュアルで繰り返し行う必要のない装置の構築が
望まれていた。

【００１３】そこで、本発明は上記問題点に鑑みてなさ
れたものであって、その目的は、一連の繰り返し作業を
一つのキー操作で行え、任意の複数点での接続損失を同
時に測定でき、操作方法の簡易化および作業時間の短縮
が図れる光パルス試験器を提供することにある。

【００１４】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明による請求項１の光パルス試験器は、一連の
作業の操作手順を示す測定条件を手動設定する複数のキ
ーを有した設定手段と、前記被測定ファイバからの反射
光を測定してその測定データを平均化処理して所定の特
性を得る測定演算部と、該測定演算部に前記設定手段で
設定された条件で測定を行わせる測定演算部とを備えた
光パルス試験器において、前記設定手段の所定のキーに
より設定された測定条件をコード化してコマンドを発生
するコマンド処理部と、該コード化されたコマンドを設
定の順に従って一連の操作手順として記憶する記憶部
と、前記一連の操作手順を特定のキーに割り当て実行キ
ーとして登録する実行キー登録手段と、前記実行キーが
押されたとき、前記記憶部からそのキーに割り当てられ
た一連の操作手順を読み出し、前記測定制御部に実行せ
しめる操作手順実行処理部とを備えたことを特徴として
いる。

【００１５】また、請求項２の光パルス試験器は、前記
設定手段の中で特定される２つのキーの内、一方のキー
が設定されてその条件で前記測定演算部がデータ処理を
実行中、他方のキーが設定されたときまでの前記データ
処理の経過を示す処理情報を出力し、前記コマンド処理
部に対し前記２つのキーに対応するコマンドとともに前
記処理情報に対応するコマンドも一連の操作手順のコマ
ンドとして発生せしめる処理情報登録手段と、前記実行
キーが押されて前記操作手順実行処理部が前記記憶部か
ら一連の操作手順を読み出し、前記測定制御部に前記一
方のキーのコマンドに対応するデータ処理を実行せしめ
ているとき、前記操作手順実行処理部が読み出した前記
処理情報と、前記測定制御部からのデータ処理の経過を
示す情報とを比較して一致したときに応答信号を前記操
作手順実行処理部に送出し、前記操作手順実行処理部に
対し、次の他方のキーのコマンドに対応する操作手順を
行わせしめる処理情報判定手段とからなる処理情報制御
部を備えている。

【００１６】さらに、請求項３の光パルス試験器は、前
記被測定ファイバの距離に対応して複数の測定点を設定
登録する測定点登録手段と、該登録された測定点を記憶
し、前記測定演算部に対して測定点における特性を測定
演算せしめるようにする測定点記憶部とを備えている。

【００１７】

【作用】設定手段は一連の作業の操作手順を示す測定条
件を複数のキーの手動操作により設定する。コマンド処
理部は設定手段の所定のキーにより設定された測定条件
をコード化してコマンドを発生し、このコード化された
コマンドは、設定の順に従って一連の操作手順として記
憶部に記憶される。実行キー登録手段は記憶部に記憶さ
れた一連の操作手順を特定のキーに割り当てて実行キー
として登録する。一連の操作手順の登録が完了し、実行
キーが押されると、操作手順実行処理部は記憶部からそ
の実行キーに割り当てられた一連の操作手順を読み出
し、測定演算部がその操作手順に従って被測定ファイバ
の特性を測定演算するように測定制御部を制御せしめ
る。

【００１８】一連の操作手順の登録時において、処理情
報登録手段は設定手段の中で特定される２つのキーの
内、一方のキーが設定されてその測定条件で測定演算部
がデータ処理を実行中のとき、他方のキーが設定された
ときまでのデータ処理の経過を示す処理情報を出力す
る。コマンド処理部はこの処理情報に対応するコマンド
を、２つのキーに対応するコマンドとともに、一連の操
作手順のコマンドとして発生する。実行キーが押されて
操作手順実行処理部が記憶部から一連の操作手順を読み
出して測定制御部に一方のキーのコマンドに対応するデ
ータ処理を実行せしめているとき、処理情報判別手段は
操作手順実行処理部が読み出した処理情報と、測定制御
部からのデータ処理の経過を示す情報とを比較して一致
したときに、操作手順実行処理部に応答信号を送出し、
操作手順実行処理部に対して次の他方のキーのコマンド
に対応する操作手順を行わせしめる。

【００１９】設定手段により一連の操作手順を設定する
にあたって、測定点登録手段は被測定ファイバの距離に
対応して複数の測定点を登録する。測定点記憶部は登録
された複数の測定点を記憶し、測定演算部に対して各測
定点における特性を測定演算せしめるようにする。

【００２０】

【実施例】図１は本発明による光パルス試験器の第１実
施例を示すブロック構成図である。

【００２１】この実施例による光パルス試験器は、図中
破線で示す測定演算部１、パネルキー（設定手段）２、
コマンドコード化処理部（コマンド処理部）３、操作手
順メモリ（記憶部）４、実行キー５、実行キー登録手段
６、平均化回数制御部（処理情報制御部）７、操作手順
実行処理部８、コマンドデコード処理部９、測定制御部
１０、表示処理部１１、表示部１２、中断／継続キー１
３、中断／継続実行処理部１４、マーカ入力処理部１
５、マーカ移動キー１６を備えて構成されており、一つ
の作業に関わる一連の操作手順（プロシージャ）を登録
してその内容を実行する機能（プロシージャ機能）を有
している。

【００２２】測定演算部１は発光部１ａ、方向性結合器
１ｂ、受光部１ｃ、増幅部１ｄ、データ処理部１ｅ、平
均化処理部１ｆ、波形メモリ１ｇ、損失演算部１ｈを備
えて構成されている。

【００２３】発光部１ａは所定のタイミングで光パルス
を被測定ファイバ１７に向けて出射している。

【００２４】方向性結合器１ｂは発光部１ａより光パル
スを被測定ファイバ１７に対して供給するとともに、こ
の光パルスと被測定ファイバ１７からの反射光（後方散
乱光およびフレネル反射光）とを分離して取り出してい
る。

【００２５】受光部１ｃは方向性結合器１ｂにより分離
して取り出された被測定ファイバ１７からの反射光を受
光し電気信号に変換している。

【００２６】増幅部１ｄは受光部１ｃからの電気信号を
所定の増幅率で増幅している。

【００２７】データ処理部１ｅは増幅部１ｄで増幅され
た電気信号をＡ／Ｄ変換し、所定のサンプリング周期で
サンプリングしたデータを被測定ファイバ１７に光パル
スが供給される毎に加算している。

【００２８】平均化処理部１ｆは被測定ファイバ１７に
光パルスが複数回（例えば２５６回）供給されたのを１
掃引として、この掃引毎にデータ処理部１ｅの加算値を
平均化している。

【００２９】波形メモリ１ｇは平均化処理部１ｆで平均
化された波形データを記憶している。

【００３０】損失演算部１ｈはメモリ１ｇに記憶された
波形データを読み出し、図２に示す主マーカ１９ａある
いは後述するイベントマーカで指定された測定点の接続
損失を、測定点の前後の補助マーカ１９ｂによる波形デ
ータから演算している。

【００３１】パネルキー２は図示しない装置筐体の前面
に配設された複数のキーで構成され、一つの作業に関わ
る操作手順に従ってキーを押動操作することにより、例
えばＬＤのオン・オフ操作、アベレージングのオン操
作、測定結果の記録操作等のように、作業時の各種操作
内容を示す測定条件を設定入力できる。

【００３２】コマンドコード化処理部３は操作手順に従
って押動操作されるパネルキー２からのキー信号Ｓ１の
内容をコード化し，このコード化した順にそのコマンド
Ｄ１を操作手順メモリ４に書き込んで記憶している。

【００３３】一方、コマンドコード化処理部３はキー信
号Ｓ１の内容を測定制御部１０に伝え、測定演算部１を
制御せしめて、キー信号Ｓ１に応じて測定せしめる。

【００３４】実行キー５はパネルキー２と同様に装置筐
体の前面に配設された複数のファンクションキーで構成
されている。また、実行キー登録手段６は操作手順メモ
リ４に記憶された複数の一連の操作手順を、それぞれ複
数の実行キー５に割り当て登録している。そして、何れ
かの実行キー５を押動操作することにより、操作手順実
行処理部８はその実行キー５に割り当てられた登録内容
の一連の操作手順を操作手順メモリ４から読み出して、
測定制御部１０に出力し実行せしめる。これらの動作に
よってプロシージャ機能が実行される。

【００３５】平均化回数制御部７は平均化回数登録手段
７ａと平均化回数判定手段７ｂを備えて構成されてい
る。平均化回数登録手段７ａは測定制御部１０から現在
の平均化回数を処理情報として受領しているとともに、
コマンドデコード処理部９からデコードされた内容とし
て、平均化回数が何回の時にどの操作内容を実行するか
を示す情報を受領している。また、プロシージャ機能の
登録時において、コマンドコード化処理部３は平均化処
理に係わるキー操作後に、パネルキー２からキー信号Ｓ
１が入力すると、そのキー信号Ｓ１をコード化したコマ
ンドＤ１に、測定制御部１０からのその時の平均化回数
のコマンドＤ２を乗せて操作手順メモリ４に記憶させて
いる。

【００３６】平均化回数判定手段７ｂはプロシージャ機
能の実行中において、コマンドデコード処理部９からの
平均化回数が測定制御部１０からの平均化回数に一致し
て同期がとれた時に、応答信号Ｓ５を操作手順実行処理
部８に出力している。

【００３７】操作手順実行処理部８は実行キー５が押動
操作された時のキー信号Ｓ２に基づいて操作手順メモリ
４に記憶された一連の操作手順に従ったコマンドを記憶
した順にＦＩＦＯ方式で読み出してコマンドデコード処
理部９に出力している。また、この操作手順実行処理部
８は平均化回数判定手段７ｂから応答信号Ｓ５を受けて
次に実行すべきコード内容のコマンドを操作手順メモリ
４から読み出してコマンドデコード処理部９に出力して
いる。

【００３８】コマンドデコード処理部９は操作手順実行
処理部８が読み出したコマンドをデコードして測定制御
部１０に出力している。また、このコマンドデコード処
理部９はデコードしたコマンドを平均化回数登録手段７
ａにも出力している。

【００３９】測定制御部１０は登録時はコマンドコード
化処理部３からの指示に基づいて、実行時はコマンドデ
コード処理部９からのデコードされたコマンドに基づい
て測定演算部１の各部を制御している。また、測定制御
部１０は波形メモリ１ｇに記憶された波形データと、損
失測定部１ｈが測定演算した接続損失のデータを読み出
して表示処理部１１に出力している。さらに、測定制御
部１０は操作手順の登録時に平均化処理部１ｆが現在実
行された平均化回数のコマンドを平均化回数制御部７に
出力している。

【００４０】表示処理部１１は測定制御部１０からの波
形データおよびマーカ１９ａ，１９ｂ等のデータを表示
部１２に表示するための波形処理を行っている。

【００４１】表示部１２は表示処理部１１で波形処理さ
れた波形データを、例えば図２に示すように表示すると
ともに、カーソル１８と交差する主マーカ１９ａで指定
された測定点毎の接続損失を一覧表にして表示してい
る。

【００４２】中断／継続キー１３は実行キー５が押動操
作されてプロシージャ機能が動作している状態で、操作
手順メモリ４に記憶されたコマンドに従った操作内容を
中断または継続する場合に押動操作されるキーで、プロ
シージャ機能の実行中にこの中断／継続キー１３が押動
操作されると、中断／継続実行処理部１４は操作手順実
行処理部８からコマンドデコード処理部９へのコマンド
の出力を停止し、マーカキー入力処理部１５に割込信号
Ｓ３を出力している。また、この中断／継続キー１３を
再度押動操作すると、動作が停止した時のコマンドによ
る操作内容からプロシージャ機能を継続する。

【００４３】マーカキー入力処理部１５は中断／継続実
行処理部１４からの割込信号Ｓ３によって主マーカ１９
ａと補助マーカ１９ｂの選択および移動が行えるように
マーカ移動キー１６を制御している。これにより、操作
手順は次のステップに移行せず、マーカ移動キー１６の
機能を受け付けるようになり、この時のマーカ移動キー
１６のキー信号Ｓ４が測定制御部１０に出力され、測定
制御部１０はマーカ移動キー１６で指定された主マーカ
１９ａでの測定を行ってその結果を表示処理部１１を介
して表示部１２に表示する。また、処理中断中でも、損
失演算部１ｈは平均化処理を続行して行うため、中断／
継続キーの押動操作によって平均化回数を調節すること
ができる。

【００４４】次に、上記のように構成された光パルス試
験器の動作を、図３に示す融着を次々と行ってファイバ
敷設工事のモニターと記録作業を行う場合を例にとって
説明する。

【００４５】まず、電源を投入し発光部１ａより被測定
ファイバ１７に光パルスを供給している時の表示部１２
の波形を見ながら、〔MARKER〕キーとロータリーノブを
操作してカーソル１８と主マーカ１９ａを波形データ上
で基地局に近い融着点１の位置に合わせる。

【００４６】この状態でプロシージャ機能の登録を行
う。すなわち、パネルキー１の〔LD〕キーを押動操作す
ると、このキー信号Ｓ１ａはコマンドコード化処理部３
により「ＬＤオン」を示すコマンドにコード化されて操
作手順メモリ４に記憶される。また、この時のキー信号
Ｓ１ａは平均化回数登録手段７ａにも入力される。

【００４７】次に、パネルキー１の〔AVERAGE 〕キーを
押動操作すると、このキー信号Ｓ１ｂはコマンドコード
化処理部３により「アベレージングオン」を示すコマン
ドにコード化されて操作手順メモリ４に記憶される。ま
た、この時のキー信号Ｓ１ｂは平均化回数登録手段７ａ
にも出力される。

【００４８】次に、パネルキー１の〔LD〕キーが再度押
動操作されると、このキー信号Ｓ１ｃはコマンドコード
化処理部３により「ＬＤオフ」を示すコマンドにコード
化される。この時のキー信号Ｓ１ｃは平均化回数登録手
段７ａにも入力しており、平均化回数登録手段７ａに対
して既にキー信号Ｓ１ａ，Ｓ１ｂが入力しているので、
測定制御部１０からの現在の平均化回数のコマンドＤ２
が「ＬＤオフ」を示すコマンドＤ１に乗って操作手順メ
モリ４に記憶される。以下、パネルキー１の〔SAVE〕キ
ーで「記録開始」を示すコマンドが、〔COPY〕キーで
「記録終了後にプリント開始」を示すコマンドが各々コ
ード化されて操作手順メモリ４に記憶される。

【００４９】次に、実行キー登録手段６により、操作手
順メモリ４に記憶された一連の操作手順を実行キー５の
複数の中から一つを選択してこれに割り当てて登録す
る。これにより、操作手順メモリ４に記憶された作業に
関わる一連の操作内容が一つの実行キー５を押すだけで
実行可能となり、プロシージャ機能の登録が完了する。
つまり、この例では、図６に示すＳＴＥＰ５を除く一連
の操作手順が登録されたことになる。

【００５０】この状態で登録された一つの実行キー５が
押動操作されると、操作手順実行処理部８は操作手順メ
モリ４に記憶されたコマンドをＦＩＦＯ方式で読み出し
てコマンドデコード処理部９に出力する。コマンドデコ
ード処理部９ではコード化されたコマンドをデコードし
て測定制御部１０および平均化回数判定手段７ｂに出力
する。その結果、測定制御部１０は図６に示すＳＴＥＰ
５を除く一連の操作手順を自動的に順次実行する。

【００５１】これらの一連の動作の中で、平均化回数判
定手段７ｂは損失演算部１ｈを介しての測定制御部１０
からの平均化回数がコマンドデコード処理部９からのデ
コードされたコマンドの平均化回数と一致して同期が取
れた時に、応答信号としてその平均化回数を操作手順処
理部８に出力する。これにより、操作手順実行処理部８
は次のコマンドを操作手順メモリ４から読み出してコマ
ンドデコード処理部９に出力する。以下、操作手順メモ
リ４に記憶された全ての操作内容を示すコマンドが実行
されるまで上述した動作を繰り返す。

【００５２】以上の動作を融着を終える度に各融着点毎
に全ての心線について行う。この場合、融着点の位置
は、表示部１２の波形を見ながら〔MARKER〕キーとロー
タリーノブで合わせる。これにより、基地局からの各融
着点のモニタ、ＦＤへの記録およびプリント出力作業が
全ての心線について行われたことになる。

【００５３】ところで、上述したプロシージャ機能の動
作中において、中断／継続キー１３が押動操作される
と、中断／継続実行処理部１４は操作手順実行処理部８
からコマンドデコード処理部９へのコマンドの出力を停
止し、マーカキー入力処理部１５に割込信号Ｓ３を出力
する。マーカキー入力処理部１５は割込信号Ｓ３によっ
てマーカ１９ａ，１９ｂの移動が行えるようにマーカ移
動キー１６を制御する。この状態で、希望する測定点に
マーカ１９ａ，１９ｂを移動させる。この際、操作手順
は次のステップに移行せず、損失演算部１ｈは平均化処
理を続行して行うので、平均化回数を調節することがで
きる。

【００５４】従って、上述した実施例では、従来手動に
より行われていたパネルキー２の複数のキーによる操作
手順を一つの実行キー５で行うことができるので、操作
時間を短縮することができる。また、従来のように、装
置が測定を行っている間、表示部１２の測定画面を常に
観測する必要がないので、その間、別の作業を並行して
行うことができ、作業時間の短縮を図ることができる。
さらに、上述した登録操作をする人と、被測定ファイバ
１７の敷設等の作業を行う人とは異なってもよいので、
機器の操作に慣れた人が上述した操作手順の登録操作を
行えば、登録後は、機器の不慣れな人でも一つの実行キ
ー５の操作のみで作業を行うことができ、作業効率の向
上が図れる。

【００５５】次に、図４は本発明による光パルス試験器
の第２実施例を示すブロック構成図である。

【００５６】この実施例による光パルス試験器は、図１
の光パルス試験器を構成する図中破線で示す測定演算部
１、パネルキー（設定手段）２、コマンドコード化処理
部（コマンド処理部）３、操作手順メモリ（記憶部）
４、実行キー５、実行キー登録手段６、平均化回数制御
部（処理情報制御部）７、操作手順実行処理部８、コマ
ンドデコード処理部９、測定制御部１０、表示処理部１
１、表示部１２、中断／継続キー１３、中断／継続実行
処理部１４、マーカ入力処理部１５、マーカ移動キー１
６に加え、測定点登録手段２０、測定点登録メモリ（測
定点記憶部）２１を備えて構成されており、上述したプ
ロシージャ機能に加え、新たに測定点を任意に登録する
機能（イベント登録機能）を有している。

【００５７】なお、図１の光パルス試験器と同一の構成
要素には同一符号を付し、その説明を省略する。

【００５８】測定点登録手段２０は複数の測定点を任意
に登録するためのイベント登録キーを備えており、図２
に示す表示画面の状態で、波形データ上での希望する測
定点に主マーカ１９ａを合わせた後、ロータリーノブを
操作して主マーカ１９ａまでカーソル１８を移動させ、
イベント登録キーを押動操作することにより、主マーカ
１９ａで指定された点を、測定点を示すイベントマーカ
として登録している。

【００５９】測定点登録メモリ２１には、イベントマー
カが登録された時の位置情報として、どの位置（距離）
にイベントマーカ（主マーカ１９ａに相当）を置いて接
続損失を測定するかを示す距離データがイベントマーカ
毎に記憶されている。

【００６０】次に、上記のように構成された光パルス試
験器の動作を、図５に示す敷設工事の最終試験用データ
取り作業を行う場合を例にとって説明する。

【００６１】まず、イベント登録機能を実行するための
イベントマーカの登録を行う。すなわち、電源を投入し
発光部１ａより被測定ファイバ１７に光パルスを供給し
ている時の表示部１２の波形データを見ながら、主マー
カ１９ａを波形データ上の希望する点、ここでは、基地
局に近い融着点１に合わせる。次に、ロータリーノブを
操作して主マーカ１９ａ上にカーソル１８を移動させ
る。この状態で、イベント登録キーを押動操作すると、
主マーカ１９ａで指定された点が、測定点を示すイベン
トマーカとして登録され、この時の位置情報が測定点登
録メモリ２１に記憶される。この操作を融着点の数だけ
行う。以上により、イベントマーカの登録が完了する。
これにより、実行時には、損失測定部１ｈはイベントマ
ーカとして登録された複数の点での接続損失を全て測定
することになる。

【００６２】次に、プロシージャ機能を実行するため
に、図６に示す一連の操作手順の登録を行う。まず、パ
ネルキー１の〔LD〕キーを押動操作すると、このキー信
号Ｓ１ａはコマンドコード化処理部３により「ＬＤオ
ン」を示すコマンドにコード化されて操作手順メモリ４
に記憶される。また、この時のキー信号Ｓ１ａは平均化
回数登録手段７ａにも入力される。

【００６３】次に、パネルキー１の〔AVERAGE 〕キーを
押動操作すると、このキー信号Ｓ１ｂはコマンドコード
化処理部３により「アベレージングオン」を示すコマン
ドにコード化されて操作手順メモリ４に記憶される。ま
た、この時のキー信号Ｓ１ｂは平均化回数登録手段７ａ
にも入力される。

【００６４】次に、パネルキー１の〔LD〕キーが再度押
動操作されると、このキー信号Ｓ１ｃはコマンドコード
化処理部３により「ＬＤオフ」を示すコマンドにコード
化される。この時のキー信号Ｓ１ｃは平均化回数登録手
段７ａにも入力しており、平均化回数登録手段７ａに対
して既にキー信号Ｓ１ａ，Ｓ１ｂが入力しているので、
測定制御部１０からの現在の平均化回数のコマンドＤ２
が「ＬＤオフ」を示すコマンドＤ１に乗って操作手順メ
モリ４に記憶される。以下、パネルキー１の〔SAVE〕キ
ーで「全融着点の接続損失の読み取り終了後に記録開
始」を示すコマンドが、〔COPY〕キーで「記録終了後に
プリント開始」を示すコマンドが各々コード化されて操
作手順メモリ４に記憶される。

【００６５】次に、実行キー登録手段６により、操作手
順メモリ４に記憶された一連の操作手順を実行キー５の
複数の中から一つを選択してこれに割り当てて登録す
る。これにより、操作手順メモリ４に記憶された作業に
関わる一連の操作内容が一つの実行キー５を押すだけで
実行可能となり、プロシージャ機能の登録が完了する。
つまり、この例では、図６に示す一連の操作手順が登録
されたことになる。

【００６６】この状態で登録された一つの実行キー５が
押動操作されると、操作手順実行処理部８は操作手順メ
モリ４に記憶されたコマンドをＦＩＦＯ方式で読み出し
てコマンドデコード処理部９に出力する。コマンドデコ
ード処理部９ではコード化されたコマンドをデコードし
て測定制御部１０および平均化回数判定手段７ｂに出力
する。その結果、測定制御部１０は図６に示す一連の操
作手順を自動的に順次実行する。

【００６７】これらの一連の動作の中で、平均化回数判
別手段７ｂは損失演算部１ｈを介しての測定制御部１０
からの平均化回数がコマンドデコード処理部９からのデ
コードされたコマンドの平均化回数と一致して同期が取
れた時に、応答信号としてその平均化回数を操作手順処
理部８に出力する。これにより、操作手順実行処理部８
は次のコマンドを操作手順メモリ４から読み出してコマ
ンドデコード処理部９に出力する。以下、操作手順メモ
リ４に記憶された全ての操作内容を示すコマンドが実行
されるまで上述した動作を繰り返す。

【００６８】上記一連の操作手順による動作を１回行わ
せることで、一つの心線の各融着点全部の接続損失の測
定が行える。そして、以上の動作を全ての心線毎に実行
キー５を押して一連の操作手順を実行せしめることによ
り、敷設工事の最終試験用データ取り作業が全ての心線
について行われたことになる。なお、一心線における測
定波形データ例を図２に示す。

【００６９】従って、上述した実施例では、光ファイバ
ケーブルの敷設工事の最終試験を行う時など、上述した
操作手順の登録を一度行えば、登録後は、一つの実行キ
ーを押すだけの操作で誰でも作業が行え、操作時間も大
幅に短縮でき、装置が測定を実行している間は別の作業
が行えるので、作業時間も短縮できる。また、登録した
任意の複数点での被測定ファイバの接続損失を同時に測
定できるので、操作方法を簡易化できるとともに、装置
の操作時間のみならず、作業時間もさらに短縮すること
ができる。

【００７０】なお、平均化回数制御部７の代わりに、Ｓ
／Ｎ算出手段を用い、アベレージング中に適切なＳ／Ｎ
になったことを検出し、その時の回数をコマンドとして
出力するようにしてもよい。

【００７１】

【発明の効果】以上説明したように、本発明の光パルス
試験器によれば、従来手動により行われていた複数のキ
ーによる操作手順を一つの実行キーで行うことができる
ので、操作時間を短縮することができる。また、従来の
ように、装置が測定を行っている間、表示部の測定画面
を常に観測する必要がないので、その間、別の作業を並
行して行うことができ、作業時間の短縮を図ることがで
きる。さらに、上述した登録操作をする人と、被測定フ
ァイバの敷設等の作業を行う人とは異なってもよいの
で、機器の操作に慣れた人が上述した操作手順の登録操
作を行えば、登録後は、機器の不慣れな人でも一つの実
行キーの操作のみで作業を行うことができ、作業効率の
向上が図れる。

【００７２】また、請求項３の光パルス試験器によれ
ば、登録した任意の複数点での被測定ファイバの接続損
失を同時に測定でき、操作方法がさらに簡易化できると
ともに、装置の操作時間のみならず、作業時間も大幅に
短縮することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明による光パルス試験器の第１実施例を示
すブロック構成図

【図２】同光パルス試験器において波形データが表示さ
れた表示画面の一例を示す図

【図３】敷設工事のモニターと記録作業を行う場合の光
パルス試験器の接続状態を示す図

【図４】本発明による光パルス試験器の第２実施例を示
すブロック構成図

【図５】敷設工事の最終試験用データ取り作業を行う場
合の光パルス試験器の接続状態を示す図

【図６】一連の操作手順の一例を示す図

【符号の説明】

１…測定演算部、２…パネルキー（設定手段）、３…コ
マンドコード化処理部（コマンド処理部）、４…操作手
順メモリ（記憶部）、５…実行キー、６…実行キー登録
手段、７…平均化回数制御部（処理情報制御部）、７ａ
…平均化回数登録手段（処理情報登録手段）、７ｂ…平
均化回数判定手段（処理情報判定手段）、８…操作手順
実行処理部、１０…測定制御部、１７…被測定ファイ
バ、２０…測定点登録手段、２１…測定点登録メモリ
（測定点記憶部）。

フロントページの続き (72)発明者 岩崎 清 東京都港区南麻布五丁目10番27号 アンリ ツ株式会社内

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 一連の作業の操作手順を示す測定条件を
   手動設定する複数のキーを有した設定手段と、前記被測
   定ファイバからの反射光を測定してその測定データを平
   均化処理して所定の特性を得る測定演算部と、該測定演
   算部に前記設定手段で設定された条件で測定を行わせる
   測定演算部とを備えた光パルス試験器において、 前記設定手段の所定のキーにより設定された測定条件を
   コード化してコマンドを発生するコマンド処理部と、 該コード化されたコマンドを設定の順に従って一連の操
   作手順として記憶する記憶部と、 前記一連の操作手順を特定のキーに割り当て実行キーと
   して登録する実行キー登録手段と、 前記実行キーが押されたとき、前記記憶部からそのキー
   に割り当てられた一連の操作手順を読み出し、前記測定
   制御部に実行せしめる操作手順実行処理部とを備えたこ
   とを特徴とする光パルス試験器。
2. 【請求項２】 前記設定手段の中で特定される２つのキ
   ーの内、一方のキーが設定されてその条件で前記測定演
   算部がデータ処理を実行中、他方のキーが設定されたと
   きまでの前記データ処理の経過を示す処理情報を出力
   し、前記コマンド処理部に対し前記２つのキーに対応す
   るコマンドとともに前記処理情報に対応するコマンドも
   一連の操作手順のコマンドとして発生せしめる処理情報
   登録手段と、 前記実行キーが押されて前記操作手順実行処理部が前記
   記憶部から一連の操作手順を読み出し、前記測定制御部
   に前記一方のキーのコマンドに対応するデータ処理を実
   行せしめているとき、前記操作手順実行処理部が読み出
   した前記処理情報と、前記測定制御部からのデータ処理
   の経過を示す情報とを比較して一致したときに応答信号
   を前記操作手順実行処理部に送出し、前記操作手順実行
   処理部に対し、次の他方のキーのコマンドに対応する操
   作手順を行わせしめる処理情報判定手段とからなる処理
   情報制御部を備えた請求項１記載の光パルス試験器。
3. 【請求項３】 前記被測定ファイバの距離に対応して複
   数の測定点を設定登録する測定点登録手段と、 該登録された測定点を記憶し、前記測定演算部に対して
   測定点における特性を測定演算せしめるようにする測定
   点記憶部とを備えた請求項１または２記載の光パルス試
   験器。