JPH06347380A - 試験回路 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 試験項目、点検項目が多くなっても操作を簡
単に行うようにする。 【構成】 試験点検項目毎に必要なスイッチ操作手順を
記憶回路１ｆにプログラムしておき、始動操作のみでプ
ログラムされたスイッチデータが出力され、試験が行わ
れるようにしたもので、スイッチ１ａが操作されること
によって記憶回路１ｆが起動され、そこに記憶されてい
る順序に従って試験信号が送出され、自動的に試験が行
われる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、装置の機能試験、整備
等を行う試験装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】一般に、複雑な機能を有する装置を工場
で調整する場合はいろいろな治具あるいは測定器が容易
に入手できるため、最適状態に調整できるが、一旦ユー
ザに納入してしまうと治具等が使用できないので経年変
化等による特性のズレを補正することは非常に困難であ
る。このため、そのような補正あるいは必要な試験を行
う機能を装置の機能の一部として付加することがある。

【０００３】この様な用途に使用される装置の一例を図
８、図９に示しており、図８の例ではモニタパネル１の
スイッチ１ａの信号は信号処理機能部２の試験信号切換
回路表示信号選択回路等へ直接接続され、そこから出力
される表示データ信号はそれに対応するモニタパネル１
の表示器１ｂに供給される。図９の例では配線数を減ら
し整備を行い易いようにモニタパネル１のスイッチ１ａ
から発生する信号をモニタ制御回路１ｃによってデジタ
ルデータに変換した後、送信回路１ｄを介して信号処理
機能部２に送信する。信号処理機能部２ではその信号を
受信回路２ａを介して受信し、信号処理部２ｂによって
制御信号あるいは設定データに変換した後、信号処理部
２内の試験信号切換回路へ分配する。また表示データは
信号処理部２ｂでデジタルデータに編集した後、シリア
ルデータとして送信回路２ｃを介してモニタパネル１に
送信する。モニタパネル１ではシリアルデータを受信回
路１ｅを介して受信し、モニタ制御回路１ｃによって所
定の表示信号に変換した後、表示器１ｂに供給する。こ
のように従来の装置はモニタパネル１のスイッチ１ａを
操作することによって試験回路の制御、試験データの設
定を行い、被試験回路の出力をパネルの表示器へ表示
し、機能試験、作動点検を行う。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながらこの様な
従来の装置は試験項目、点検項目が多くなるとスイッチ
の操作回数が多くなるので、操作が複雑になるという課
題を有していた。本発明はこの様な状況に鑑みてなされ
たもので、試験項目、点検項目が多くなっても操作を簡
単に行うようにしたものである。

【０００５】

【課題を解決するための手段】この様な課題を解決する
ために本発明は、試験点検項目毎に必要なスイッチ操作
手順をプログラムしておき、始動操作のみでプログラム
されたスイッチデータが出力され、試験が行われるよう
にしたものである。

【０００６】

【作用】スイッチが操作されることによって試験回路が
起動され、そこに記憶されている順序に従って試験信号
が送出され、自動的に試験が行われる。

【０００７】

【実施例】図１は本発明の一実施例を示すブロック図で
あり、図８、９と同一部分は同記号を用いている。この
例はパネルのスイッチ操作に対応するスイッチデータを
予めプログラムして、記憶回路１ｆに記憶させておき、
パネル上のスイッチ操作を簡単な起動および操作確認の
みとしたものである。記憶回路１ｆは電気的に書き換え
可能な読出専用メモリを使用しており、各試験回路の試
験状態設定からデータ表示までの各試験、点検項目毎の
一連のスイッチ操作を順次記憶させている。

【０００８】スイッチ操作を一旦記憶させると、後はモ
ニタパネル１のスイッチ１ａによる起動操作がモニタ制
御回路１ｃを介して記憶回路１ｆに供給され、それによ
って最初の試験項目に対応する一連のスイッチデータが
モニタ制御回路１ｃおよび送信回路１ｄを介して送出さ
れ、それが信号処理機能部２で処理される。処理された
結果は送信回路２ｃを介してモニタパネル１に返送さ
れ、表示器１ｂに処理結果が表示される。表示結果を確
認してスイッチ１ａの確認操作を行うと、記憶回路１ｆ
は次の試験項目に対応する一連のスイッチデータを発生
する。この記憶回路にＥＥＰＲＯＭを使用することによ
り、いつでも手順変更が可能であるが、手順変更が少な
い場合はＲＯＭを使用することにより、記憶回路を簡単
にすることもできる。

【０００９】図２（ａ）はスイッチ１ａを操作したとき
モニタパネル１から発生する信号であり、図２（ｂ）は
信号処理部２から返送される信号を示している。スイッ
チ操作がされると同期信号が発生しテストコード、ワー
ド数、ボード番号、機能コード、データ１およびデータ
２が送出される。ここでテストコードは動作モード切
換、リセット、定数設定、表示データ指定等のスイッチ
データの種類を表す。ワード数はスイッチデータ、表示
データのワード数を示す。ボード番号はテスト対象のボ
ードを指定する。機能コードはテスト対象のボード内の
機能、回路、デバイス等を指定する。データはスイッチ
設定値、表示データを表す。

【００１０】この様なデータがモニタパネル１から送出
されると信号処理機能部２は所定の処理を行い、図２
（ｂ）に示す信号をモニタパネル１に返送してくるの
で、モニタパネル１ではそれを検出して表示器１に必要
な表示を行う。

【００１１】図３の例は信号処理機能部２にその内部構
成を図４に示す信号処理回路３を複数設け、それぞれに
スイッチおよび表示器を備え、信号処理機能部２側から
も簡単な試験が行えるようにしたものである。各信号処
理回路３は図４に示すようにスイッチ３ａ、表示器３
ｂ、モニタ制御回路３ｃ、供試回路３ｄ、送受信回路３
ｅから構成され、単独で試験・点検の機能を有する他、
送受信回路３ｅを介して供給されるモニタパネル１から
の信号によっても試験・点検が行えるようになってい
る。各ボードはモニタパネル１から送られてきたボード
番号が自己のボード番号と一致している場合、その信号
を取り込んでスイッチデータの処理を行うようになって
おり、自己の番号と一致しない信号は送受信回路３ｅを
通過して他の信号処理回路３に供給されるようになって
いる。また、自己の内部で試験したり、モニタパネルか
ら取り込んだ信号によって試験した結果は送受信回路３
ｅを介して出力され次段以降の信号処理回路３を介して
モニタパネル１から供給されるようになっている。

【００１２】図４の例は信号処理回路３によって簡単な
試験を行う例であったが、図５の例はモニタパネル１に
設けた機能と同じ試験が行えるように、図１の記憶回路
１ｆと同等の記憶回路４ｆを設けた例である。この様に
することによってスイッチ４ａから起動信号のみを与え
ることによって、予めプログラムされた試験が順次行わ
れる。

【００１３】図６の例はモニタパネル１に外部接続回路
１ｇを設けそれに試験装置５を接続し、試験はスイッチ
１ａによって起動信号を発生した後は、試験装置５から
行うようにしたものである。この様に構成することによ
って、試験内容はより複雑にすることも可能であり、ま
た、試験結果を試験装置５に出力することによって試験
結果のハードコピーをとることも可能になる。更に、試
験装置５において、予め試験点検手順を定め、スイッチ
データをプログラムしておき、表示データの表示、記
憶、期待値との照合、ハードコピー出力をプログラムし
ておくことにより試験・点検が簡単な操作により自動実
行される。

【００１４】図７は電話回線接続回路６ａ、６ｂによっ
て試験装置５をモニタパネル１から離れた場所で操作す
るものであり、このように試験装置５を遠方におくこと
によって、例えば工場にある試験装置を使用できるよう
になるため、工場で調整したと同じ試験も行うことがで
きる。

【００１５】

【発明の効果】以上説明したように本発明は、試験すべ
き順序を予め記憶させておき、起動信号を与えるだけで
所定の試験が行えるので、複雑な試験であっても自動的
に処理されるので、熟練を要さなくても複雑な試験が行
えるという効果を有する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例の構成を示すブロック図であ
る。

【図２】図１の装置において試験を行うとき送出される
信号を示す図である。

【図３】第２の実施例の構成を示すブロック図である。

【図４】図３の装置に用いられる信号処理回路の構成の
一例を示すブロック図である。

【図５】第３の実施例の構成を示すブロック図である。

【図６】第４の実施例の構成を示すブロック図である。

【図７】第５の実施例の構成を示すブロック図である。

【図８】従来の構成の一例の構成を示すブロック図であ
る。

【図９】従来の構成の他の例の構成を示すブロック図で
ある。

【符号の説明】

１ モニタパネル １ａ スイッチ １ｂ 表示器 １ｃ モニタ制御回路 １ｄ、２ｃ 送信回路 １ｅ、２ａ 受信回路 １ｆ 記憶回路 ２ 信号処理機能部 ３、４ 信号処理回路 ５ 試験装置 ６ 電話回線接続回路

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 スイッチ操作によって機器の試験を行う
   試験回路において、 前記スイッチ操作による起動信号が供給されることによ
   り予め定められた試験を順次行う信号を送出する試験回
   路を備えたことを特徴とする試験回路。