JPH0635188Y2 - 部品の温度試験装置 - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 （ａ）考案の技術分野 この考案は、恒温槽内に設けた回転台にICなどの部品を
載せ、順次部品の温度試験をする場合に、回転台に２層
の部品台を配置し、部品の種類に応じて、部品の加熱時
間または冷却時間を調整することができるようにした温
度試験装置についてのものである。

（ｂ）従来技術と問題点 次に、第４図を参照して、従来装置の構成を説明する。

第４図の１は恒温槽、２は測定部、10は部品、11は出入
口、12はシャッター、16はハンドである。

第４図は、恒温槽１の内部にICなどの部品10を搬入し、
部品10の温度試験をする場合の温度試験装置の構成図の
一例である。

恒温槽１の内部は、均一な温度に設定される。

部品10は、ハンド16で恒温槽１内の測定部２に運ばれ、
温度試験を受ける。温度試験が終った部品10は、ハンド
16で恒温槽１の外に運び出される。この動作を繰り返
し、部品10の温度試験をしていく。

第４図の部品10は、測定部２へ運ばれた後、恒温槽１の
内部の温度と同じになるまで待ってから試験を受ける。
このため、測定に時間がかかるという問題がある。

次に、従来装置の他の構成図を第５図に示す。

第５図の３は回転台３、８は部品台、９は恒温槽１内に
設置されるハンドであり、その他は第４図と同じもので
ある。

回転台３は回転できる構造になっており、回転台３には
８個の部品台８が載っている。部品台８には、それぞれ
部品10を載せることができる。

ハンド16で部品10を部品台８まで運ぶ。

ハンド９は部品台８に載っている部品10を測定部２へ運
ぶためのものである。

次に、回転台３が部品台８のピッチ分だけ回転し、ハン
ド16で次の部品10を部品台８に運ぶ。

この動作を繰り返し、部品台８のすべてに部品10を載せ
ると、最初に搬送させた部品10は一周して元の位置へ戻
ってくる。

例えば、最初に搬送された部品10が１周して元の位置に
戻ってくるのに約90秒かかるとすれば、部品10は回転台
３が一周する間に加熱または冷却され、恒温槽１の内部
温度と同じになる。

一周した部品10はハンド９で測定部２に運ばれ、温度試
験を受ける。

部品10の温度試験をしている間は、回転台３の回転を停
止する。温度試験が終った部品10は、ハンド９で部品台
８に戻され、ハンド16で恒温槽１の外に運び出される。
その後、ハンド16は、次の部品10を部品台８へ運搬す
る。

以上の動作を繰り返し、順次部品10の温度試験をしてい
く。

しかし、部品10がプラスティックモールドICのように熱
伝導性のよい場合には、通常約60秒程度で恒温槽１の内
部温度と同じになるが、セラミックICのように熱伝導性
が悪い場合には、加熱または冷却に約180秒程度かかる
ものもあるため、回転台３が一周した後も、温度が同じ
になるまで待たなければならないという問題がある。

また、ハンド16で恒温槽１の内部にある部品10と恒温槽
１の外部にある部品10を交換する場合にも装置が停止し
てしまうという問題がある。

（ｃ）考案の目的 この考案は、恒温槽内部の部品台を内周と外周の二層に
し、加熱時間または冷却時間の短い部品は、回転台の内
周だけに載せ、加熱時間または冷却時間の長い部品は、
内周と外周の両方に載せるようにして、部品の温度待ち
による装置の停止を防ぎ、また部品の搬入・搬出による
装置の停止時間を短くすることができる部品の温度試験
装置の提供を目的とする。

（ｄ）考案の実施例 次に、この考案による実施例の構成図を第１図に示す。

第１図の４と５は部品台、14と15はハンド13のチャッキ
ング機構、７はハンド６のチャッキング機構であり、そ
の他は第５図と同じものである。

部品台４は回転台３の内周に設置され、部品台５は回転
台３の外周に配置されている。部品台４と部品台５は、
それぞれ第５図の部品台８と同じように、部品10を加熱
用または冷却用に載せておくためのものである。

ハンド13のチャッキング機構14・15は、回転台３の部品
台４・５と同じピッチで配置される。

次に、第１図の装置を使用し、加熱時間または冷却時間
の短い部品を測定する場合を第２図を参照して説明す
る。

第２図は第１図の部品台４だけに部品10を載せて温度試
験をする場合の説明図であり、部品台４に測定前の部品
10を載せ、測定後の部品10を部品台５に戻す動作を第２
図（ア）〜（ク）の順に示したものである。第２図の部
品10には21〜30の番号を付けている。

第２図（ア）は部品21〜28がハンド13で順次運ばれ、部
品台４にすべて載せられた状態である。

すなわち、最初に運ばれた部品21は、回転台３で恒温槽
１内を一周したことになり、恒温槽１内の温度と同じに
なる。

次に、部品21は第２図（イ）のように、第１図のハンド
６で測定部２に運ばれ、測定される。

このとき、ハンド13は次の部品29をチャッキング機構14
で保持している。

次に、第２図（ウ）のように空になっている部品台４に
ハンド13で部品29を載せる。

次に、第２図（エ）のように回転台３が回転し、部品22
が測定部２の搬送位置にくる。

測定の終った部品21は第２図（オ）のように、ハンド６
で測定部２から部品台５へ運ばれる。

このとき、ハンド13は次の部品30をチャッキング機構14
で保持している。

次の第２図（カ）のように、部品22をハンド６で、測定
部２に運び、測定する。

次に第２図（キ）のように、部品22が測定部２に運ば
れ、空になっている部品台４に部品30を載せると同時
に、部品台５に載っている測定終了済みの部品21をチャ
ッキング機構15で保持し、恒温槽１の外部に運び出す。

次に、第２図（ク）のように回転台３が回転して、部品
23が測定部２の搬送位置にくる。

以下、同じ動作を繰り返し順次部品22〜30が測定され
る。

なお、測定部２で部品を測定している間に、他の部品を
搬入したり、搬出したりしているので、時間的なロスは
ない。

次に、加熱時間または冷却時間の長い部品を測定する場
合を第３図を参照して説明する。

第３図は第１図の部品台４と部品台５に部品10を載せて
温度試験をする場合の説明図であり、部品台４と部品台
５に測定前の部品と測定後の部品をそれぞれ載せる動作
を第３図（ア）〜（テ）の順に示したものである。部品
10には、31〜55の番号を付けている。

第３図（ア）は、部品31〜38がハンド13で順次運び込ま
れ、部品台４のすべてに載せられている状態である。

次に、部品台５に部品を順次運び込んでいく。

第３図（イ）は部品31〜46が部品台４と部品台５のすべ
てに載せられた状態である。

すなわち、第３図（イ）の状態では、最初に運び込まれ
た部品31は、回転台３で恒温槽１内を２周したことにな
り、セラミックモールドのような熱伝導性の悪い部品で
も恒温槽１内の温度と同じにすることができる。

次に部品31は第３図（ウ）のように、第１図のハンド６
で測定部２に運搬され、測定される。

部品31は測定が終ると、ハンド６で第３図（エ）のよう
に元の部品台４に戻される。

次に、第３図（オ）のように回転台３を時計方向に回転
し、部品32を測定部２の搬送位置にする。

そして、第３図（カ）のように、ハンド６で部品32を測
定部２に運搬し、測定する。

このとき、ハンド13は次の部品47をチャッキング機構14
で保持している。

次に、第３図（キ）のように回転台３を反時計方向に回
転し、部品31を測定部２への搬送位置に戻す。

次に、ハンド13が部品47をチャッキング機構14で保持し
て前進し、チャッキング機構15が部品31上に進んだ位置
で、停止する。

次に、部品31をチャッキング機構15で保持して部品台４
から部品31を取り去り、空になった部品台４の位置にチ
ャッキング機構14がくるまで、ハンド13は後退し、部品
47を部品台４に載せた後、第３図（ク）のようにハンド
13は部品31をチャッキング機構15で保持したまま恒温槽
１の外部に運び出していく。

次に回転台３が第３図（ケ）のようになるまで、時計方
向に回転し、第３図（コ）のように測定が終った部品32
をハンド６が測定部２から部品台４に戻す。

以下、同じ動作を繰り返し、部品台４に載せたすべての
部品を測定しながら入れ替えていく。

第３図（サ）〜（テ）は部品台５に載せた部品の動作を
示し、第３図（シ）〜（セ）は第３図（ウ）〜（オ）と
同じ動作なので、第３図（ソ）から説明する。

第３図（ソ）では、部品40が測定中、部品39は測定が終
っている。

このとき、ハンド13は次の部品55をチャッキング機構15
で保持している。

次に、第３図（タ）のように回転台３が反時計方向に回
転し、部品39を測定部２への搬送位置に戻す。

次に、ハンド13が部品55をチャッキング機構15で保持
し、チャッキング機構14が部品台５の上にくるまでハン
ド13が前進し、チャッキング機構14により、部品39を保
持する。

ハンド13は再び前進し、部品39を取り去り、空になった
部品台５に部品55をセットし、部品39をチャッキング機
構14で保持したまま恒温槽１の外部に運び出していく。

第３図（チ）は部品39と部品55の入れ替えが終った状態
である。

次に回転台が第３図（ツ）のようになるまで、時計方向
に回転し、第３図（テ）のように測定の終った部品40を
第１図のハンド６が測定部２から部品台５に戻す。

以下、同じ動作を繰り返し、部品台５に載せたすべての
部品の測定と入れ替えが終ると、部品台４に載せた部品
が測定され、入れ替えられていく。

すなわち、測定前の部品は常に回転台３で、恒温槽１内
を２周した後に測定される。

なお、測定部２で部品を測定している間に回転台３を動
かし、ハンド13で入れ替えるので、時間的なロスはな
い。

第２図と第３図の部品搬送動作は、部品の加熱時間また
は冷却時間で設定することができ、温度待ちによる装置
の停止を防ぐ。また、部品の搬送動作による装置の停止
時間もハンド６による測定部２と部品台４・５間の搬送
時間だけなので短くて済み、部品を温度別に効率よく試
験することができる。

（ｅ）考案の効果 この考案によれば、部品を回転台の内周にある部品台だ
けに載せる場合と、内外周にある部品台にそれぞれ載せ
る場合とに使い分けることができるため、必要な加熱時
間または冷却時間で部品の温度試験をすることができ、
温度待ちによる装置停止時間をなくすことができる。

また、部品の搬送動作による装置停止時間が測定部と回
転台間の搬送時間だけなので短く済み、部品を温度別に
効率よく試験することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、この考案による実施例の構成図、 第２図は、第１図の部品台４だけに部品10を載せて温度
試験をする場合の説明図、第３図は第１図の部品台４と
部品台５に部品10を載せて温度試験をする場合の説明
図、第４図は従来装置の構成図、第５図は他の従来装置
の構成図である。 １……恒温槽、２……測定部、３……回転台、４……部
品台、５……部品台、６……ハンド、７……チャッキン
グ機構、８……部品台、９……ハンド、10……部品、11
……出入口、12……シャッタ、13……ハンド、14・15…
…チャッキング機構、21〜55……部品。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】恒温槽（１）内に配置され、部品（10）を
   測定する測定部（２）と、 測定部（２）を中心に回転する回転台（３）と、 回転台（３）の内周に配置される第１の部品台（４）
   と、 回転台（３）の外周に配置される第２の部品台（５）
   と、 恒温槽（１）の外から第１の部品台（４）または第２の
   部品台（５）に部品（10）を運ぶハンド（13）と、 第１の部品台（４）または第２の部品台（５）から測定
   部（２）に部品（10）を運ぶハンド（６）とを備え、 部品（10）の加熱または冷却時間に応じて、回転台
   （３）が１周または２周するまで部品（10）を第１の部
   品台（４）または第２の部品台（５）に載せておくこと
   を特徴とする部品の温度試験装置。