JPH0636330A

JPH0636330A - 光ピックアップ装置

Info

Publication number: JPH0636330A
Application number: JP4214633A
Authority: JP
Inventors: Hiroshi Goto; 博志後藤
Original assignee: Ricoh Co Ltd
Current assignee: Ricoh Co Ltd
Priority date: 1992-07-20
Filing date: 1992-07-20
Publication date: 1994-02-10

Abstract

(57)【要約】【目的】光ピックアップ装置のレーザモニタを、検出
系の他の受光素子への外乱がなく、適切に行なえるよう
にする。【構成】モニタ光を分離するビームスプリッタ１２の
傾斜面１２ｂの一部に、増反射コート面１２ｄを設け
る。これにより、モニタ光の光束が全てモニタ用受光素
子２５に入射され、フレア光などの悪影響を防止でき
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、半導体レーザ素子から
出力されるレーザビームをビームスプリッタを用いて分
割し、信号光として記録媒体方向に進行するレーザビー
ムと、半導体レーザ素子の出力レベルを監視するための
モニタ用レーザビームを形成する光ピックアップ装置に
関する。

【０００２】

【従来の技術】一般に、光ディスク装置において、デー
タを記録／再生（／消去）するための光ピックアップ装
置には、光源として半導体レーザ素子が用いられてい
る。この半導体レーザ素子の一例を図４に示す。

【０００３】同図において、半導体レーザ素子は、半導
体レーザチップ１と、半導体レーザチップ１を取り付け
る基板２と、半導体レーザチップ１の後方へき開面から
放射されるレーザ光を受光するモニタ用受光素子３を、
同一の外囲器４に収容してなる。

【０００４】そして、モニタ用受光素子３からの受光信
号に基づいて半導体レーザチップ１の前方へき開面から
出力される出力光のレベルを監視して、出力光が一定の
レベルになるように半導体レーザチップ１の駆動電流を
制御して、安定した動作が行なえるようにしている。

【０００５】さて、光ピックアップ装置の光学系では、
半導体レーザ素子から出力されるレーザ光を平行ビーム
に変換した後に光ディスクに集束し、その光ディスクか
らの反射光を検出光学系に導くことで、種々の信号を得
るようにしているが、この光学系では、光ディスクにお
けるレーザビームの集束点と、半導体レーザ素子が相互
に結像位置関係にあるため、光ディスクからの反射光の
一部が半導体レーザチップ１に戻る。

【０００６】このような戻り光が半導体レーザ素子に入
射すると、半導体レーザ素子の出力制御を安定して行な
えなくなる。例えば、戻り光がない場合、半導体レーザ
素子に対する駆動電流と光出力、および、光出力とモニ
タ用受光素子３の受光信号（モニタ電流）との関係が図
４に実線で示したようなものであるとき、戻り光がある
場合には、半導体レーザ素子に対する駆動電流と光出
力、および、光出力とモニタ用受光素子３のモニタ電流
との関係が、同図に破線で示したように変動する。

【０００７】このために、モニタ電流が所定値になるよ
うに、駆動電流を制御した場合、戻り光がない場合に
は、その制御状態が図５に点Ａで示した態様になるのに
対して、戻り光がある場合には、その制御状態が同図に
点Ｂで示した態様となる。すなわち、この場合、戻り光
があると半導体レーザ素子の出力レベルが低下する。

【０００８】このような不都合を解消するために、従
来、例えば、図６（ａ），（ｂ）に示すような光学系の
光ピックアップ装置が実用されている。なお、この光学
系は、非点収差法を用いてフォーカシング誤差を検出
し、プッシュプル法を用いてトラッキング誤差を検出す
るものである。また、この場合、光磁気ディスクを記録
媒体として用いる。

【０００９】図において、半導体レーザ素子１０から出
力されるレーザ光は、カップリングレンズ１１により平
行なレーザビームに変換され、このレーザビームは、ビ
ームスプリッタ１２に入射されて、その分離面１２ａ
で、分離面１２ａを透過する成分と、反射する成分に分
離される。

【００１０】ビームスプリッタ１２を透過したレーザビ
ームは、対物レンズ１３により光磁気ディスク１４の記
録面に集束される。光磁気ディスク１４の記録面からの
反射光は、ビームスプリッタ１２に戻り、再度、分離面
１２ａで透過する成分と反射する成分に分離される。

【００１１】そして、分離面１２ａで反射された光磁気
ディスク１４の記録面からの反射光（以下、信号光とい
う）は、１／２波長板１５を通過して、その偏光面が４
５度回転する。１／２波長板１５を通過した信号光は、
ビームスプリッタ１６に入射され、その分離面１６ａ
で、分離面１６ａを透過する成分と反射される成分に分
離される。ビームスプリッタ１６の分離面１６ａで反射
された信号光は、トラッキング方向に受光面が２分割さ
れているトラッキング誤差検出用の受光素子１７に入射
される。

【００１２】また、ビームスプリッタ１６の分離面１６
ａを透過した信号光は、偏光ビームスプリッタ１８に入
射され、この偏光ビームスプリッタ１８により、そのＳ
偏光成分が反射されるとともにＰ偏光成分が透過する。
偏光ビームスプリッタ１８により反射されたＳ偏光成分
の信号光は、集束レンズ１９により集束され、受光素子
２０に入射される。また、偏光ビームスプリッタ１８を
透過したＰ偏光成分の信号光は、集光レンズ２１および
シリンドリカルレンズ２２を通過したのちに、４分割受
光面をもつフォーカシング誤差検出用の検出受光素子２
３に入射される。

【００１３】そして、受光素子１７の２つの受光面から
得られる受光信号の差に基づいてトラック誤差信号が形
成され、受光素子２３の４つの受光面から得られる受光
信号に所定の演算を適用してフォーカシング誤差信号が
形成される。また、受光素子２０の受光信号と、受光素
子２３の４つの受光面から得られる受光信号の総和の差
信号に基づいて、光磁気ディスク１４のユーザ領域から
の再生信号である光磁気信号が形成される。さらに、受
光素子２０および、受光素子２３の受光信号の総和に基
づいて、光磁気ディスク１４のプリフォーマット領域か
らの再生信号が形成される。また、モニタ用受光素子２
５から出力される受光信号に基づいて、半導体レーザ素
子１０の出力レベルを制御するようにしている。

【００１４】一方、カップリングレンズ１１からビーム
スプリッタ１２に入射されたレーザビームのうち、ビー
ムスプリッタ１２の分離面１２ａで反射された成分は、
検光子２４を介して、そのＰ偏光成分のみがモニタ用受
光素子２５に入射される。

【００１５】ここで、半導体レーザ素子１０から出力さ
れるレーザビームには、データの記録／再生／消去のた
めに用いられるＬＤ（レーザダイオード）成分と、デー
タの記録／再生／消去には用いられないＬＥＤ（発光ダ
イオード）成分があり、ＬＤ成分はＰ偏光であり、ＬＥ
Ｄ成分は無偏光である。すなわち、ＬＥＤ成分のＰ偏光
成分およびＳ偏光成分は、それぞれ５０％になる。ま
た、これらのＬＤ成分とＬＥＤ成分の比率は、温度変化
や経年変化によって変動する。

【００１６】また、ビームスプリッタ１２の分離面１２
ａの特性は、例えば、Ｐ偏光透過率７０％、かつ、Ｓ偏
光反射率９８％に設定されている。したがって、分離面
１２ａを反射する光束には、ＬＥＤ成分の光束の約５０
％程度が含まれ、このＬＥＤ成分の光束も含めてモニタ
用受光素子２５で受光すると、温度変化や経年変化によ
ってＬＤ成分とＬＥＤ成分の比率が変化した場合に、実
際に光磁気ディスク１４に入射するレーザビーム強度
と、モニタ用受光素子２５の受光強度の関係が変化する
ので好ましくない。

【００１７】そこで、検光子２４によって、分離面１２
ａからの反射光のＰ偏光成分のみを透過させて、モニタ
用受光素子２５に入射させることで、このような不都合
を解消できるようにしている。

【００１８】しかしながら、このような従来装置では、
検光子２４を用いるために装置コストが高くなるという
不都合を生じる。

【００１９】かかる不都合を解消するために、例えば、
図７（ａ），（ｂ）に示したような光ピックアップ装置
が実用されている。なお、図において、図６（ａ），
（ｂ）と同一部分、および、相当する部分には同一符号
を付している。

【００２０】図において、ビームスプリッタ１２の分離
面１２ａで反射された光束がこのビームスプリッタ１２
から出射される面１２ｂは、所定の角度傾斜されてお
り、この面１２ｂの全面には、増反射コート面１２ｃが
設けられている。

【００２１】したがって、カップリングレンズ１１から
ビームスプリッタ１２に入射されたレーザビームのう
ち、ビームスプリッタ１２の分離面１２ａで反射された
成分は、その全光束が面１２ｂの増反射コート面１２ｃ
で反射される。

【００２２】この増反射コート面１２ｃで反射された光
束は、ビームスプリッタ１２の分離面１２ａで透過する
成分と反射される成分に分離され、このときに、Ｓ偏光
成分は分離面１２ａで全て反射されてカップリングレン
ズ１１の方向に戻り、したがって、分離面１２ａを透過
するのは、全てＰ偏光成分である。この分離面１２ａを
透過した光束（以下、モニタ光という）は、１／２波長
板１５を通過して、その偏光面が４５度回転する。１／
２波長板１５を通過したモニタ光は、ビームスプリッタ
１６に入射され、その分離面１６ａで、分離面１６ａを
透過する成分と反射される成分に分離される。

【００２３】ビームスプリッタ１６の分離面１６ａを透
過したモニタ光は、偏光ビームスプリッタ１８に入射さ
れ、この偏光ビームスプリッタ１８により、そのＳ偏光
成分が反射されるとともにＰ偏光成分が透過する。偏光
ビームスプリッタ１８を透過したＰ偏光成分のモニタ光
は、集光レンズ２１およびシリンドリカルレンズ２２を
通過したのちに、受光素子２３に隣接して配設されたモ
ニタ用受光素子２５に入射される。

【００２４】このようにして、ビームスプリッタ１２、
１／２波長板１５、および、偏光ビームスプリッタ１８
を利用して、必要なモニタ光（Ｐ偏光）を抽出し、この
モニタ光をモニタ用受光素子２５で受光しているので、
検光子２４を設ける必要がなく、装置コストを低減でき
る。また、光ピックアップ装置の光学部品点数を低減で
きるので、光ピックアップ装置を小型化することができ
る。

【００２５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、かかる
従来装置には、次のような不都合を生じていた。

【００２６】すなわち、ビームスプリッタ１２の分離面
１２ａで反射された全光束を増反射コート面１２ｃで反
射しているので、集光レンズ２１を通過しない光束があ
り、この光束が光学筺体内で乱反射し、フレア光として
受光素子２３やモニタ用受光素子２５に入射し、フォー
カシング誤差の検出誤差が生じたり、あるいは、正確な
モニタ信号が得られないという不都合を生じる。また、
ビームスプリッタ１６の分離面１６ａで反射されたモニ
タ光の一部がトラッキング誤差検出用の受光素子１７に
入射され、トラッキング誤差の検出誤差を生じるという
不都合を生じる。

【００２７】また、上述した従来装置では、非点収差法
を用いてフォーカシング誤差を検出しているが、ナイフ
エッジ法を用いてフォーカシング誤差を検出している場
合には、次のような不都合を生じる。

【００２８】図８は、ナイフエッジ法を用いてフォーカ
シング誤差を検出する光ピックアップ装置の従来例を示
している。なお、同図において、図７（ａ），（ｂ）と
同一部分、および、相当する部分には、同一符号を付し
ている。

【００２９】同図において、分離面１２ａで反射された
信号光は、１／２波長板１５を通過して、その偏光面が
４５度回転する。１／２波長板１５を通過した信号光
は、偏光ビームスプリッタ１８に入射され、この偏光ビ
ームスプリッタ１８により、そのＳ偏光成分が反射され
るとともにＰ偏光成分が透過する。

【００３０】偏光ビームスプリッタ１８により反射され
たＳ偏光成分の信号光は、集束レンズ１９により集束さ
れ、受光素子２０に入射される。また、偏光ビームスプ
リッタ１８を透過したＰ偏光成分の信号光は、集光レン
ズ２１を通過したのちに、その光束の６０〜９０％が、
ナイフエッジを構成する分割鏡２７により反射されてト
ラッキング誤差検出用の受光素子２８に入射され、ま
た、そのＰ偏光成分の信号光の残りの部分は、分割鏡２
７の稜線２７ａと平行な分割線で受光面が二分割されて
いる、フォーカシング誤差検出用の受光素子２９に入射
される。

【００３１】そして、受光素子２８の２つの受光面から
それぞれ出力される受光信号の差信号に基づいて、トラ
ッキング誤差信号が形成され、受光素子２９の２つの受
光面からそれぞれ出力される受光信号の差信号に基づい
て、フォーカシング誤差信号が形成される。また、受光
素子２８と受光素子２９の受光信号の総和と、受光素子
２０の受光信号の差信号に基づいて、光磁気ディスク１
４のユーザ領域からの再生信号である光磁気信号が形成
される。また、受光素子２０、受光素子２８、および、
受光素子２９の受光信号の総和に基づいて、光磁気ディ
スク１４のプリフォーマット領域からの再生信号が形成
される。

【００３２】一方、ビームスプリッタ１２の分離面１２
ａを透過したモニタ光は、１／２波長板１５を通過し
て、その偏光面が４５度回転する。１／２波長板１５を
通過したモニタ光は、偏光ビームスプリッタ１８に入射
され、この偏光ビームスプリッタ１８により、そのＳ偏
光成分が反射されるとともにＰ偏光成分が透過する。偏
光ビームスプリッタ１８を透過したＰ偏光成分のモニタ
光は、集光レンズ２１を通過したのちに、モニタ用受光
素子２５に入射される。

【００３３】この場合には、集光レンズ２１を通過しな
いモニタ光の光束が光学筺体内で乱反射し、フレア光と
して受光素子２９やモニタ用受光素子２５に入射し、フ
ォーカシング誤差の検出誤差が生じたり、あるいは、正
確なモニタ信号が得られないという不都合を生じる。ま
た、モニタ光の光束の一部が分割鏡２７に干渉して反射
し、トラッキング誤差検出用の受光素子２８に入射さ
れ、トラッキング誤差の検出誤差を生じるという不都合
を生じる。

【００３４】また、臨界角法を用いてフォーカシング誤
差を検出する光ピックアップ装置には、次のような不都
合を生じる。図９は、臨界角法を用いてフォーカシング
誤差を検出する光ピックアップ装置の従来例を示してい
る。なお、同図において、図７（ａ），（ｂ）と同一部
分、および、相当する部分には、同一符号を付してい
る。

【００３５】同図において、分離面１２ａで反射された
信号光は、１／２波長板１５を通過して、その偏光面が
４５度回転する。１／２波長板１５を通過した信号光
は、偏光ビームスプリッタ１８に入射され、この偏光ビ
ームスプリッタ１８により、そのＳ偏光成分が反射され
るとともにＰ偏光成分が透過する。

【００３６】偏光ビームスプリッタ１８により反射され
たＳ偏光成分の信号光は、集束レンズ１９により集束さ
れ、受光素子２０に入射される。また、偏光ビームスプ
リッタ１８を透過したＰ偏光成分の信号光は、ビームス
プリッタ３０に入射され、その分離面３０ａで、分離面
３０ａを透過する成分と反射される成分に分離される。

【００３７】ビームスプリッタ３０の分離面３０ａを透
過した信号光は、臨界角プリズム３１に入射され、この
臨界角プリズム３１の面３１ａで反射された信号光は、
受光面が２分割されたフォーカシング誤差検出用の受光
素子３２に入射される。また、ビームスプリッタ３０の
分離面３０ａで反射された信号光は、集束レンズ３３を
通過したのちに受光面が２分割されたトラッキング誤差
検出用の受光素子３４に入射される。

【００３８】そして、受光素子３４のそれぞれの受光面
から出力される受光信号の差信号に基づいてトラッキン
グ誤差信号が形成され、受光素子３２のそれぞれの受光
面から出力される受光信号の差信号に基づいてフォーカ
シング誤差信号が形成される。また、受光素子３２と受
光素子３４の受光信号の総和と、受光素子２０の受光信
号の差信号に基づいて、光磁気ディスク１４のユーザ領
域からの再生信号である光磁気信号が形成される。ま
た、受光素子３２、受光素子３４、および、受光素子２
０の受光信号の総和に基づいて、光磁気ディスク１４の
プリフォーマット領域からの再生信号が形成される。

【００３９】一方、ビームスプリッタ１２の分離面１２
ａを透過したモニタ光は、１／２波長板１５を通過し
て、その偏光面が４５度回転する。１／２波長板１５を
通過したモニタ光は、偏光ビームスプリッタ１８に入射
され、この偏光ビームスプリッタ１８により、そのＳ偏
光成分が反射されるとともにＰ偏光成分が透過する。偏
光ビームスプリッタ１８を透過したＰ偏光成分のモニタ
光は、ビームスプリッタ３０に入射され、その分離面３
０ａで、分離面３０ａを透過する成分と反射される成分
に分離される。この分離面３０ａで反射されたモニタ光
は、集光レンズ３３を通過したのちに、モニタ用受光素
子２５に入射される。

【００４０】この場合には、ビームスプリッタ３０の分
離面３０ａを透過したモニタ光の成分が、臨界角プリズ
ム３１に入射し、その面３１ａで反射され、受光素子３
２入射されるので、フォーカシング誤差に検出誤差を生
じるという不都合を生じる。また、ビームスプリッタ３
０の分離面３０ａにかからなかったモニタ光の光束成分
もあり、この光束成分がフレア光として受光素子３２に
入射されるという不都合も生じる。

【００４１】本発明は、かかる実情に鑑みてなされたも
のであり、モニタ光による他の信号の外乱を防止すると
ともに、レーザビーム強度を適切に判定することができ
る光ピックアップ装置を提供することを目的としてい
る。

【００４２】

【課題を解決するための手段】本発明は、半導体レーザ
素子から出力されるレーザビームをビームスプリッタを
用いて分割し、信号光として記録媒体方向に進行するレ
ーザビームと、半導体レーザ素子の出力レベルを監視す
るためのモニタ用レーザビームを形成する光ピックアッ
プ装置において、上記ビームスプリッタに設けられて上
記モニタ用レーザビームの光束の一部を全反射する反射
面と、この反射面からの反射光を受光する受光素子を備
え、上記反射面は、上記モニタ用レーザビームの入射方
向に対してその法線が傾斜していることを特徴とするも
のである。

【００４３】また、半導体レーザ素子から出力されるレ
ーザビームをビームスプリッタを用いて分割し、信号光
として記録媒体方向に進行するレーザビームと、半導体
レーザ素子の出力レベルを監視するためのモニタ用レー
ザビームを形成するとともに、ナイフエッジ法により上
記レーザビームの上記記録媒体に対する焦点誤差を検出
する光ピックアップ装置において、上記ビームスプリッ
タに設けられて上記モニタ用レーザビームの光束の一部
を全反射する反射面と、この反射面からの反射光を受光
する受光素子を備え、上記反射面は、上記モニタ用レー
ザビームの入射方向に対してその法線が傾斜していると
ともに、上記反射面からの反射光がナイフエッジをなす
分割鏡に干渉しないようにその形状が設定されているも
のである。

【００４４】また、半導体レーザ素子から出力されるレ
ーザビームをビームスプリッタを用いて分割し、信号光
として記録媒体方向に進行するレーザビームと、半導体
レーザ素子の出力レベルを監視するためのモニタ用レー
ザビームを形成するとともに、非点収差法により上記レ
ーザビームの上記記録媒体に対する焦点誤差を検出する
光ピックアップ装置において、上記ビームスプリッタに
設けられて上記モニタ用レーザビームの光束の一部を全
反射する反射面と、この反射面からの反射光を受光する
受光素子を備え、上記反射面は、上記モニタ用レーザビ
ームの入射方向に対してその法線が傾斜しているととも
に、上記反射面からの反射光が上記受光素子の受光面に
入射する光束成分のみからなるようにその形状が設定さ
れているものである。

【００４５】また、半導体レーザ素子から出力されるレ
ーザビームを第１のビームスプリッタを用いて分割し、
信号光として記録媒体方向に進行するレーザビームと、
半導体レーザ素子の出力レベルを監視するためのモニタ
用レーザビームを形成するとともに、臨界角法により上
記レーザビームの上記記録媒体に対する焦点誤差を検出
する光ピックアップ装置において、上記第１のビームス
プリッタに設けられて上記モニタ用レーザビームの光束
の一部を全反射する反射面と、この反射面からの反射光
および上記記録媒体からの反射光を分割する第２のビー
ムスプリッタと、この第２のビームスプリッタで分割さ
れた一方の光束に含まれる上記反射面からの反射光を受
光する受光素子を備え、上記反射面は、上記モニタ用レ
ーザビームの入射方向に対してその法線が傾斜している
とともに、上記反射面からの反射光が上記受光素子の受
光面に入射する光束成分のみからなるようにその形状が
設定されているものである。また、前記反射面の傾斜角
は、前記第２のビームスプリッタで分割された他方の光
束に含まれる上記反射面からの反射光の臨界角プリズム
への入射角が、前記記録媒体からの反射光の臨界角プリ
ズムへの入射角よりも小さい値になるように、その大き
さを設定するとよい。また、前記反射面の傾斜角は、前
記第２のビームスプリッタで分割された他方の光束に含
まれる上記反射面からの反射光の臨界角プリズムへの入
射角が、ブリュースター角近傍になるように、その大き
さを設定するとよい。

【００４６】

【作用】したがって、モニタ用レーザビーム（モニタ
光）の光束のうち、モニタ用の受光素子に入射される部
分のみが検出光学系側に反射されるので、モニタ光の一
部がフレア光になって他の受光素子に入射されるような
事態を防止できる。

【００４７】

【実施例】以下、添付図面を参照しながら、本発明の実
施例を詳細に説明する。

【００４８】図１（ａ），（ｂ）は、本発明の一実施例
にかかる光ピックアップ装置を示している。なお、この
光ピックアップ装置は、非点収差法を用いてフォーカシ
ング誤差を検出するとともに、プッシュプル法を用いて
トラッキング誤差を検出するものであり、図７（ａ），
（ｂ）と同一部分、および、相当する部分には、同一符
号を付している。

【００４９】図において、分離面１２ａで反射された光
磁気ディスク１４の記録面からの反射光（以下、信号光
という）は、１／２波長板１５を通過して、その偏光面
が４５度回転する。１／２波長板１５を通過した信号光
は、ビームスプリッタ１６に入射され、その分離面１６
ａで、分離面１６ａを透過する成分と反射される成分に
分離される。ビームスプリッタ１６の分離面１６ａで反
射された信号光は、集束レンズ４０を通過したのちに、
トラッキング方向に受光面が２分割されているトラッキ
ング誤差検出用の受光素子４１に入射される。

【００５０】また、ビームスプリッタ１６の分離面１６
ａを透過した信号光は、偏光ビームスプリッタ１８に入
射され、この偏光ビームスプリッタ１８により、そのＳ
偏光成分が反射されるとともにＰ偏光成分が透過する。
偏光ビームスプリッタ１８により反射されたＳ偏光成分
の信号光は、集束レンズ１９により集束され、受光素子
２０に入射される。また、偏光ビームスプリッタ１８を
透過したＰ偏光成分の信号光は、集光レンズ２１および
シリンドリカルレンズ２２を通過したのちに、４分割受
光面をもつフォーカシング誤差検出用の検出受光素子２
３に入射される。

【００５１】そして、受光素子４１の２つの受光面から
得られる受光信号の差に基づいてトラック誤差信号が形
成され、受光素子２３の４つの受光面から得られる受光
信号に所定の演算を適用してフォーカシング誤差信号が
形成される。また、受光素子２０の受光信号と、受光素
子２３の４つの受光面から得られる受光信号の総和の差
信号に基づいて、光磁気ディスク１４のユーザ領域から
の再生信号である光磁気信号が形成される。さらに、受
光素子２０および、受光素子２３の受光信号の総和に基
づいて、光磁気ディスク１４のプリフォーマット領域か
らの再生信号が形成される。また、モニタ用受光素子２
５から出力される受光信号に基づいて、半導体レーザ素
子１０の出力レベルを制御するようにしている。

【００５２】一方、ビームスプリッタ１２の分離面１２
ａで反射された光束がこのビームスプリッタ１２から出
射される面１２ｂは、所定の角度傾斜されており、この
面１２ｂの一部には、増反射コート面１２ｄが設けられ
ている。

【００５３】したがって、カップリングレンズ１１から
ビームスプリッタ１２に入射されたレーザビームのう
ち、ビームスプリッタ１２の分離面１２ａで反射された
成分は、その光束の一部が面１２ｂの増反射コート面１
２ｄで反射される。

【００５４】この増反射コート面１２ｄで反射された光
束は、ビームスプリッタ１２の分離面１２ａで透過する
成分と反射される成分に分離され、この分離面１２ａを
透過した光束（以下、モニタ光という）は、１／２波長
板１５を通過して、その偏光面が４５度回転する。１／
２波長板１５を通過したモニタ光は、ビームスプリッタ
１６に入射され、その分離面１６ａで、分離面１６ａを
透過する成分と反射される成分に分離される。

【００５５】ビームスプリッタ１６の分離面１６ａを透
過したモニタ光は、偏光ビームスプリッタ１８に入射さ
れ、この偏光ビームスプリッタ１８により、そのＳ偏光
成分が反射されるとともにＰ偏光成分が透過する。偏光
ビームスプリッタ１８を透過したＰ偏光成分のモニタ光
は、集光レンズ２１およびシリンドリカルレンズ２２を
通過したのちに、受光素子２３に隣接して配設されたモ
ニタ用受光素子２５に入射される。

【００５６】このとき、増反射コート面１２ｄで反射さ
れた光束の全てが集光レンズ２１を通過して、モニタ用
受光素子２５に入射されるので、従来装置のように、フ
レア光が生じて、受光素子２３，２５に入射されるよう
な事態を回避でき、精度のよいフォーカシング誤差信号
を得ることができる。また、モニタ用受光素子２５から
の受光信号の信頼性も向上し、半導体レーザ素子１の出
力レベル制御を適切に行なうことができる。

【００５７】また、ビームスプリッタ１６の分離面１６
ａで反射されたモニタ光は、集光レンズ４０によって絞
られるために、受光素子４１には入射せず、したがっ
て、受光信号４１の２つの受光面から出力される受光信
号には、モニタ光の成分が含まれないので、精度のよい
トラッキング誤差信号を得ることができる。

【００５８】図２は、本発明の他の実施例にかかる光ピ
ックアップ装置を示している。なお、この光ピックアッ
プ装置は、ナイフエッジ法を用いてフォーカシング誤差
を検出するものであり、図８および図１と同一部分、お
よび、相当する部分には同一符号を付している。

【００５９】同図において、カップリングレンズ１１か
らビームスプリッタ１２に入射されたレーザビームのう
ち、ビームスプリッタ１２の分離面１２ａで反射された
成分は、その光束の一部が面１２ｂの増反射コート面１
２ｄで反射される。

【００６０】この増反射コート面１２ｄで反射された光
束は、ビームスプリッタ１２の分離面１２ａで透過する
成分と反射される成分に分離され、ビームスプリッタ１
２の分離面１２ａを透過したモニタ光は、１／２波長板
１５を通過して、その偏光面が４５度回転する。

【００６１】１／２波長板１５を通過したモニタ光は、
偏光ビームスプリッタ１８に入射され、この偏光ビーム
スプリッタ１８により、そのＳ偏光成分が反射されると
ともにＰ偏光成分が透過する。偏光ビームスプリッタ１
８を透過したＰ偏光成分のモニタ光は、集光レンズ２１
を通過したのちに、モニタ用受光素子２５に入射され
る。

【００６２】なお、この場合には、図８に示した従来装
置と同様にして、トラッキング誤差信号、フォーカシン
グ誤差信号、光磁気信号、および、再生信号を形成する
ことができる。

【００６３】このとき、増反射コート面１２ｄで反射さ
れた光束の全てが集光レンズ２１を通過して、モニタ用
受光素子２５に入射されるので、フレア光が生じること
がない。また、増反射コート面１２ｄで反射された光束
が分離鏡２７に干渉することがないので、受光素子２８
に外乱光が入射されることがない。

【００６４】したがって、トラッキング誤差信号、フォ
ーカシング誤差信号、および、モニタ用受光素子２５か
らの受光信号の信頼性が向上し、トラッキング制御、フ
ォーカシング制御、および、半導体レーザ素子１の出力
レベル制御を適切に行なうことができる。

【００６５】図３は、本発明のさらに他の実施例にかか
る光ピックアップ装置を示している。なお、この光ピッ
クアップ装置は、臨界角法を用いてフォーカシング誤差
を検出するものであり、図９および図１と同一部分、お
よび、相当する部分には、同一符号を付している。

【００６６】同図において、カップリングレンズ１１か
らビームスプリッタ１２に入射されたレーザビームのう
ち、ビームスプリッタ１２の分離面１２ａで反射された
成分は、その光束の一部が面１２ｂの増反射コート面１
２ｄで反射される。

【００６７】この増反射コート面１２ｄで反射された光
束は、ビームスプリッタ１２の分離面１２ａで透過する
成分と反射される成分に分離され、ビームスプリッタ１
２の分離面１２ａを透過したモニタ光は、１／２波長板
１５を通過して、その偏光面が４５度回転する。

【００６８】１／２波長板１５を通過したモニタ光は、
偏光ビームスプリッタ１８に入射され、この偏光ビーム
スプリッタ１８により、そのＳ偏光成分が反射されると
ともにＰ偏光成分が透過する。偏光ビームスプリッタ１
８を透過したＰ偏光成分のモニタ光は、ビームスプリッ
タ３０に入射され、その分離面３０ａで、分離面３０ａ
を透過する成分と反射される成分に分離される。この分
離面３０ａで反射されたモニタ光は、集光レンズ３３を
通過したのちに、モニタ用受光素子２５に入射される。

【００６９】なお、この場合には、図９に示した従来装
置と同様にして、トラッキング誤差信号、フォーカシン
グ誤差信号、光磁気信号、および、再生信号を形成する
ことができる。

【００７０】この場合、ビームスプリッタ３０の分離面
３０ａを透過したモニタ光が臨界角プリズム３１の面３
１ａに入射する入射角は、信号光が面３１ａ入射する入
射角よりも充分に小さい値に設定されており、したがっ
て、モニタ光が面３１ａに入射する入射角は、臨界角よ
りも常に小さい値となる。その結果、モニタ光は面３１
ａを透過し、それによって、モニタ光が受光素子３２に
入射されることがなく、フォーカシング誤差に検出誤差
を生じることがない。

【００７１】また、モニタ光が臨界角プリズム３１の面
３１ａに入射するときの入射角を、Ｐ偏光を完全に透過
できるブリュースター角近傍の値に設定すると、このと
きのモニタ光はＰ偏光なので、臨界角プリズム３１に入
射したモニタ光の光束のほとんど全てを面３１ａから出
射することができ、モニタ光の悪影響をより抑制するこ
とができる。

【００７２】また、増反射コート面１２ｄの大きさを、
モニタ光の全光束がモニタ用受光素子２５に入射する程
度に設定することで、フレア光の発生を防止でき、モニ
タ光の悪影響を抑制することができる。

【００７３】なお、上述した実施例では、光磁気ディス
クにデータを記録／再生／消去するための光ピックアッ
プ装置に本発明を適用しているが、本発明は、それ以外
の光記録媒体を記録媒体として用いる光ピックアップ装
置についても、同様にして適用できる。

【００７４】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
モニタ用レーザビーム（モニタ光）の光束のうち、モニ
タ用の受光素子に入射される部分のみが検出光学系側に
反射されるので、モニタ光の一部がフレア光になって他
の受光素子に入射されるような事態を防止できるという
効果を得る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例にかかる光ピックアップ装置
の光学系を示した概略図。

【図２】本発明の他の実施例にかかる光ピックアップ装
置の光学系を示した概略図。

【図３】本発明のさらに他の実施例にかかる光ピックア
ップ装置の光学系を示した概略図。

【図４】半導体レーザ素子の構成例を示す概略断面図。

【図５】戻り光の影響を説明するためのグラフ図。

【図６】従来の光ピックアップ装置の光学系の一例を示
した概略図。

【図７】従来の光ピックアップ装置の光学系の他の例を
示した概略図。

【図８】従来の光ピックアップ装置の光学系のさらに他
の例を示した概略図。

【図９】従来の光ピックアップ装置の光学系のまたさら
に他の例を示した概略図。

【符号の説明】

１２ビームスプリッタ１２ｂ面１２ｄ増反射コート面

─────────────────────────────────────────────────────

【手続補正書】

【提出日】平成４年１２月１１日

【手続補正１】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】図面の簡単な説明

【補正方法】変更

【補正内容】

【図面の簡単な説明】

【図４】半導体レーザ素子の構成例を示す概略断面図。

【図５】戻り光の影響を説明するためのグラフ図。

【符号の説明】１２ビームスプリッタ１２ｂ面１２ｄ増反射コート面

【手続補正２】

【補正対象書類名】図面

【補正対象項目名】全図

【補正方法】変更

【補正内容】

【図４】

【図１】

【図２】

【図３】

【図５】

【図６】

【図７】

【図８】

【図９】

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】半導体レーザ素子から出力されるレーザ
ビームをビームスプリッタを用いて分割し、信号光とし
て記録媒体方向に進行するレーザビームと、半導体レー
ザ素子の出力レベルを監視するためのモニタ用レーザビ
ームを形成する光ピックアップ装置において、上記ビー
ムスプリッタに設けられて上記モニタ用レーザビームの
光束の一部を全反射する反射面と、この反射面からの反
射光を受光する受光素子を備え、上記反射面は、上記モ
ニタ用レーザビームの入射方向に対してその法線が傾斜
していることを特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項２】半導体レーザ素子から出力されるレーザ
ビームをビームスプリッタを用いて分割し、信号光とし
て記録媒体方向に進行するレーザビームと、半導体レー
ザ素子の出力レベルを監視するためのモニタ用レーザビ
ームを形成するとともに、ナイフエッジ法により上記レ
ーザビームの上記記録媒体に対する焦点誤差を検出する
光ピックアップ装置において、上記ビームスプリッタに
設けられて上記モニタ用レーザビームの光束の一部を全
反射する反射面と、この反射面からの反射光を受光する
受光素子を備え、上記反射面は、上記モニタ用レーザビ
ームの入射方向に対してその法線が傾斜しているととも
に、上記反射面からの反射光がナイフエッジをなす分割
鏡に干渉しないようにその形状が設定されていることを
特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項３】半導体レーザ素子から出力されるレーザ
ビームをビームスプリッタを用いて分割し、信号光とし
て記録媒体方向に進行するレーザビームと、半導体レー
ザ素子の出力レベルを監視するためのモニタ用レーザビ
ームを形成するとともに、非点収差法により上記レーザ
ビームの上記記録媒体に対する焦点誤差を検出する光ピ
ックアップ装置において、上記ビームスプリッタに設け
られて上記モニタ用レーザビームの光束の一部を全反射
する反射面と、この反射面からの反射光を受光する受光
素子を備え、上記反射面は、上記モニタ用レーザビーム
の入射方向に対してその法線が傾斜しているとともに、
上記反射面からの反射光が上記受光素子の受光面に入射
する光束成分のみからなるようにその形状が設定されて
いることを特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項４】半導体レーザ素子から出力されるレーザ
ビームを第１のビームスプリッタを用いて分割し、信号
光として記録媒体方向に進行するレーザビームと、半導
体レーザ素子の出力レベルを監視するためのモニタ用レ
ーザビームを形成するとともに、臨界角法により上記レ
ーザビームの上記記録媒体に対する焦点誤差を検出する
光ピックアップ装置において、上記第１のビームスプリ
ッタに設けられて上記モニタ用レーザビームの光束の一
部を全反射する反射面と、この反射面からの反射光およ
び上記記録媒体からの反射光を分割する第２のビームス
プリッタと、この第２のビームスプリッタで分割された
一方の光束に含まれる上記反射面からの反射光を受光す
る受光素子を備え、上記反射面は、上記モニタ用レーザ
ビームの入射方向に対してその法線が傾斜しているとと
もに、上記反射面からの反射光が上記受光素子の受光面
に入射する光束成分のみからなるようにその形状が設定
されていることを特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項５】前記反射面の傾斜角は、前記第２のビー
ムスプリッタで分割された他方の光束に含まれる上記反
射面からの反射光の臨界角プリズムへの入射角が、前記
記録媒体からの反射光の臨界角プリズムへの入射角より
も小さい値になるように、その大きさが設定されている
ことを特徴とする請求項４記載の光ピックアップ装置。
【請求項６】前記反射面の傾斜角は、前記第２のビー
ムスプリッタで分割された他方の光束に含まれる上記反
射面からの反射光の臨界角プリズムへの入射角が、ブリ
ュースター角近傍になるように、その大きさが設定され
ていることを特徴とする請求項４記載の光ピックアップ
装置。