JPH0637350Y2 - デイジタル回路試験装置 - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 （ａ）考案の技術分野 この考案は「１」、「０」の発生確率を制御できるラン
ダムパターンを複数入力の試験回路に加え、試験回路に
含まれる「１」、「０」の出力統計量から試験回路の良
否を判定するディジタル回路試験装置において、例えば
出力が同じデータバスに接続されている試験回路Ａと試
験回路Ｂから構成されている試験回路を検査する場合
に、始めに試験回路Ａに対応したランダムパターンを試
験回路Ａに加えて試験回路Ａの良否を判定し、試験回路
Ａの試験が終了すると、試験回路Ｂに対応したランダム
パターンを試験回路Ｂに加えて試験回路Ｂの良否を安定
するようにし、試験回路Ａと試験回路Ｂを連続して試験
できるようにした試験装置についてのものである。

（ｂ）従来技術と問題点 このような場合に使用する従来装置については、例えば
特開昭55-164949号公報にも記載されている。

次に、従来技術による構成図を第２図に示す。

第２図の1aは条件設定手段、２はパターン発生器、３と
４は試験回路、5bは判定回路、6aはデータ設定手段であ
る。

条件設定手段1aはテスト条件をパターン発生器２にセッ
トし、パターン発生器２はテスト条件に対応した論理レ
ベル「１」、「０」の発生確率をもつように制御したパ
ターンを発生する。

パターン発生器２からのパターンは試験回路３、４に加
えられる。

試験回路３、４はディジタル回路で構成されており、試
験回路３、４の出力から出てくる「１」、「０」の出力
統計量を判定回路5bで検出する。

データ設定手段6aには、条件設定手段1aにセットしたテ
スト条件に対応した期待値データを、セットしておき、
この期待値データと試験回路３、４の出力統計量とを判
定回路5bで判定し、判定値から試験回路３、４の良否を
決める。

次に、試験回路３、４の実施例の構成図を第３図に示
す。

第３図のディジタル回路3aとバスドライバ3bが試験回路
３を構成し、ディジタル回路4aとバスドライバ4bが試験
回路４を構成する。

バスドライバ3bとバスドライバ4bは、同じデータバスに
接続されている。

しかし、第３図のように、試験回路３、４が接続されて
いると、試験回路３、４を同時に試験しているときに、
試験回路４側に不良箇所があると、その影響が試験回路
３側の測定データにも現れ、試験回路３の良否が分から
なくなるという問題がある。

（ｃ）考案の目的 この考案は、試験回路が複数接続されている場合に、各
試験回路に対応したランダムパターンを用意し、各試験
回路を個別に試験していくようにし、各試験回路の出力
が判定回路に並列に接続されていても、その接続には影
響されないようにしたディジタル回路試験装置の提供を
目的とする。

（ｄ）考案の実施例 まず、この考案による実施例の構成図を第１図に示す。

第１図の1bは条件設定手段、5aは判定回路、6bはデータ
設定手段、７は切換手段であり、その他は第２図と同じ
である。

詳細は後述するが、条件設定手段1a、1bからは試験回路
３、４に対応したテスト条件がパターン発生器２に加え
られる。

判定回路5aからは、切換手段７に対する制御信号が切換
手段７に送られる。

切換手段７は、CPUで制御することもできるし、通常の
電気回路で構成することもできる。

データ設定手段6bには、条件設定手段1bに対応した期待
値データをセットする。

次に、第１図の作用を第４図のフローチャートを参照し
て説明する。

ステップ11では、判定回路5aの出力で切換手段７をそれ
ぞれ条件設定手段1a側、データ設定手段6a側に切り換え
る。

この場合、第３図のバスドライバ4bのＣ端子に条件設定
手段1aから信号を送り、バスドライバ4bをオフにする。

ステップ12では、条件設定手段1aのテスト条件をパター
ン発生器２にセットする。

ステップ13では、データ設定手段6aの期待値データを判
定回路5aにセットする。

ステップ14では、条件設定手段1aのテスト条件に対応す
るランダムパターンをパターン発生器２が試験回路３に
加える。

ステップ15では、判定回路5aが試験回路３の出力と期待
値データとを比較し、試験回路３の良否を判定する。そ
して、判定終了信号を切換手段７に送る。

ステップ16では、切換手段７が判定回路5aからの信号に
より、条件設定手段1b側、データ設定手段6b側に切り換
える。

この場合、第３図のバスドライバ3bのＣ端子に条件設定
手段1bから信号が送られ、バスドライバ3bをオフにす
る。

ステップ17では、条件設定手段1bのテスト条件をパター
ン発生器２にセットする。

ステップ18では、データ設定手段6bの期待値データを判
定回路5aにセットする。

ステップ19では、パターン発生器２が条件設定手段1bの
テスト条件に対応するランダムパターンを試験回路４に
加える。

ステップ20では、判定回路5aが試験回路４の出力と期待
値データとを比較し、試験回路４の良否を判定し、試験
を終了する。

（ｅ）考案の効果 この考案によれば、複数の試験回路が接続されている場
合に、判定回路の出力信号で切換手段を切り換え、各試
験回路に応じたラダンムパターンを用意し、各試験回路
を個別に試験できるようにしているので、各試験回路が
接続されていても、接続に影響されない試験装置を提供
することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図のこの考案による実施例の構成図、 第２図は従来技術による構成図、 第３図は試験回路３、４の実施例の構成図、 第４図は第１図のフローチャート。 1a・1b……条件設定手段、２……パターン発生器、３・
４……試験回路、5a・5b……判定回路、6a・6b……デー
タ設定手段、７……切換手段。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】ディジタル回路とバスドライバを備え、並
   列に接続される複数の試験回路に対応してテスト条件を
   それぞれセットし、任意の試験回路の試験を行うとき
   に、テスト条件に対応しない試験回路をオフにする複数
   の条件設定手段と、 前記条件設定手段の出力を入力とし、テスト条件に対応
   した「１」「０」の発生確率を制御してパターンを発生
   し、出力を複数の試験回路に共通に接続するパターン発
   生器（２）と、 複数の条件設定手段のテスト条件にそれぞれ対応した期
   待値データをそれぞれセットする前記条件設定手段と同
   数のデータ設定手段と、 複数の試験回路の出力を共通に接続し、良否を判定する
   とともに、判定が終了したときに判定終了信号を出力す
   る判定回路（5a）と、 前記複数の条件設定手段および条件設定手段に対応した
   前記データ設定手段を入力とし、判定回路（5a）出力の
   判定終了信号により、試験回路ごとに対応する条件設定
   手段およびデータ設定手段を連動して切り換える切換手
   段（７）を備えることを特徴とするディジタル回路試験
   装置。