JPH0641795A - 鍍金電流制御方法 - Google Patents
鍍金電流制御方法Info
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- JPH0641795A JPH0641795A JP19530792A JP19530792A JPH0641795A JP H0641795 A JPH0641795 A JP H0641795A JP 19530792 A JP19530792 A JP 19530792A JP 19530792 A JP19530792 A JP 19530792A JP H0641795 A JPH0641795 A JP H0641795A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】鍍金の付着量を長手方向に均一に制御すること
ができ、付着量下限割れや過保証を防止することができ
る方法を得ることにある。 【構成】付着量計8で測定された付着量実績の瞬時値C
W1、および幅方向付着量平均値CW3から式(7)に基づ
いて瞬時値鍍金陰極効率η1 ,式(8)に基づいて平均
値鍍金陰極効率η3 を求め、これを付着量の保証しなけ
ればならない程度に応じて使い分けて、式(9),式
(10)によりそれぞれ求めた鍍金電流設定値に修正す
るようにした鍍金電流制御方法である。
ができ、付着量下限割れや過保証を防止することができ
る方法を得ることにある。 【構成】付着量計8で測定された付着量実績の瞬時値C
W1、および幅方向付着量平均値CW3から式(7)に基づ
いて瞬時値鍍金陰極効率η1 ,式(8)に基づいて平均
値鍍金陰極効率η3 を求め、これを付着量の保証しなけ
ればならない程度に応じて使い分けて、式(9),式
(10)によりそれぞれ求めた鍍金電流設定値に修正す
るようにした鍍金電流制御方法である。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は被鍍金ストリップ(以
下ストリップと称する)を連続的に電気鍍金する処理装
置により鍍金する場合、鍍金の付着量の下限割れを防止
するように鍍金電流を制御する鍍金電流制御方法に関す
る。
下ストリップと称する)を連続的に電気鍍金する処理装
置により鍍金する場合、鍍金の付着量の下限割れを防止
するように鍍金電流を制御する鍍金電流制御方法に関す
る。
【0002】
【従来の技術】従来、ストリップを連続電気鍍金処理装
置により鍍金する場合、その鍍金厚み(鍍金付着量)を
何等かの方法で制御する必要がある。従来この一例とし
て、鍍金処理装置の電極に流す鍍金電流を制御する方法
が、特開昭63−247400号公報で公知である。
置により鍍金する場合、その鍍金厚み(鍍金付着量)を
何等かの方法で制御する必要がある。従来この一例とし
て、鍍金処理装置の電極に流す鍍金電流を制御する方法
が、特開昭63−247400号公報で公知である。
【0003】この方法は、具体的に以下のようにしたも
のである。すなわち、帯状のストリップの鍍金厚みFa
、ストリップの速度Va 、鍍金電流Ia および鍍金液
の温度Ta とを、同時にかつ複数回実測し、鍍金電流I
a に基づいて電流密度Dk を計算し、各測定時毎に、鍍
金効率η1、を、(5)式で求める。
のである。すなわち、帯状のストリップの鍍金厚みFa
、ストリップの速度Va 、鍍金電流Ia および鍍金液
の温度Ta とを、同時にかつ複数回実測し、鍍金電流I
a に基づいて電流密度Dk を計算し、各測定時毎に、鍍
金効率η1、を、(5)式で求める。
【0004】 η1 =〔K(定数)・Va ・Fa 〕÷Ia …(5) この結果に基づいて、(6)式の鍍金効率η2 における
定数A、B、C、Dを求め、 η2 =A・Dk +B・V+C・T+D …(6) これによって鍍金厚みを希望する値に制御する方法であ
る。
定数A、B、C、Dを求め、 η2 =A・Dk +B・V+C・T+D …(6) これによって鍍金厚みを希望する値に制御する方法であ
る。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】以上述べた従来の制御
方法では、陰極効率を求める時使用する付着量を瞬時値
又は平均値と区別していないため、付着量保証が厳しい
場合は付着量は下限割れが発生し、付着量保証が比較的
厳しくない場合は過保証となるケースがでてくる。また
陰極効率を求める時の演算パラメータが多く処理に時間
がかかるなどの問題点がある。
方法では、陰極効率を求める時使用する付着量を瞬時値
又は平均値と区別していないため、付着量保証が厳しい
場合は付着量は下限割れが発生し、付着量保証が比較的
厳しくない場合は過保証となるケースがでてくる。また
陰極効率を求める時の演算パラメータが多く処理に時間
がかかるなどの問題点がある。
【0006】この発明は上記のような問題点を解決する
ためになされたもので、作業者の負担を軽減できるとと
もに、ストリップ長手方向に均一な付着量を確保できる
鍍金電流制御方法を得ることを目的とする。
ためになされたもので、作業者の負担を軽減できるとと
もに、ストリップ長手方向に均一な付着量を確保できる
鍍金電流制御方法を得ることを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】この発明は上記目的を達
成するため、以下のようにしたものである。
成するため、以下のようにしたものである。
【0008】すなわち、被鍍金ストリップを鍍金処理槽
に流入して前記ストリップの表面に鍍金層を形成し、こ
の鍍金層が形成されたストリップを前記鍍金処理槽から
流出させると共に、この流出段階のストリップの鍍金の
付着量を検出し、この鍍金付着量が、目標付着量となる
ように、鍍金処理槽の電極に流す鍍金電流を制御する鍍
金電流制御方法において、
に流入して前記ストリップの表面に鍍金層を形成し、こ
の鍍金層が形成されたストリップを前記鍍金処理槽から
流出させると共に、この流出段階のストリップの鍍金の
付着量を検出し、この鍍金付着量が、目標付着量となる
ように、鍍金処理槽の電極に流す鍍金電流を制御する鍍
金電流制御方法において、
【0009】前記鍍金処理槽のストリップ流出点から前
記ストリップの付着量検出地点までのストリップを所定
長さピッチで、ストリップ幅W、ライン速度V、トータ
ルの鍍金電流It を、それぞれトラッキングし、そのト
ラッキングデータと付着量実績の瞬時値CW1、幅方向付
着量平均値CW3から瞬時値鍍金陰極効率η1、平均値鍍
金陰極効率η3を、
記ストリップの付着量検出地点までのストリップを所定
長さピッチで、ストリップ幅W、ライン速度V、トータ
ルの鍍金電流It を、それぞれトラッキングし、そのト
ラッキングデータと付着量実績の瞬時値CW1、幅方向付
着量平均値CW3から瞬時値鍍金陰極効率η1、平均値鍍
金陰極効率η3を、
【0010】 η1 ={k(鍍金定数)×〔CW1・W・V〕}÷It …(1) η3 ={k(鍍金定数)×〔CW3・W・V〕}÷It …(2) から求め、かつ該効率η1 、η3 をN個算出し、
【0011】この算出結果のうち、該効率η1 、η3 の
最小値の最小陰極効率η1min,η3minを各々選出し、鍍
金処理後の鍍金付着量の保証が厳しく要求される用途の
場合は、 Ip ={k(鍍金定数)×〔CW (目標付着量)・W・
V〕}÷η1min…(3)により、トータルの鍍金電流設
定値Ip を算出し、また、鍍金処理後の鍍金付着量の保
証がストリップの幅方向で平均した付着量が確保できれ
ばよいという用途の場合には、 Ip ={k(鍍金定数)×〔CW (目標付着量)・W・
V〕}÷η3min…(4)により、トータルの鍍金電流設
定値Ip を算出し、
最小値の最小陰極効率η1min,η3minを各々選出し、鍍
金処理後の鍍金付着量の保証が厳しく要求される用途の
場合は、 Ip ={k(鍍金定数)×〔CW (目標付着量)・W・
V〕}÷η1min…(3)により、トータルの鍍金電流設
定値Ip を算出し、また、鍍金処理後の鍍金付着量の保
証がストリップの幅方向で平均した付着量が確保できれ
ばよいという用途の場合には、 Ip ={k(鍍金定数)×〔CW (目標付着量)・W・
V〕}÷η3min…(4)により、トータルの鍍金電流設
定値Ip を算出し、
【0012】前記(3)式および(4)式から算出した
トータルの鍍金電流設定値Ip を、前記鍍金処理槽の電
極に流す鍍金電流の設定値として与えるようにした鍍金
電流制御方法である。
トータルの鍍金電流設定値Ip を、前記鍍金処理槽の電
極に流す鍍金電流の設定値として与えるようにした鍍金
電流制御方法である。
【0013】
【作用】本発明の鍍金電流制御方法は、付着量計で測定
された付着量の瞬時値、幅方向平均値それぞれより陰極
効率を求め、付着量の保証しなければならない程度に応
じて2種の陰極効率を使い分けて鍍金電流設定値を修正
することにより、作業者の負担を軽減でき、ストリップ
の長手方向に均一な付着量を確保することができる。
された付着量の瞬時値、幅方向平均値それぞれより陰極
効率を求め、付着量の保証しなければならない程度に応
じて2種の陰極効率を使い分けて鍍金電流設定値を修正
することにより、作業者の負担を軽減でき、ストリップ
の長手方向に均一な付着量を確保することができる。
【0014】
【実施例】図1は、この発明の方法を実施するため連続
電気鍍金処理装置の全体の系統図である。図において、
1は鍍金処理槽(本実施例では電気亜鉛鍍金)であり、
21〜2nは被鍍金材であるストリップ5をはさむ形で
配置された電極である。31〜3nは各電極21〜2n
に対して鍍金電流を流す整流器である。鍍金電流は整流
器31〜3nから電極21〜2n、ストリップ5、鍍金
液6、通電用ロール41〜4(n+1)を通って整流器
31〜3nに戻るループになっている。鍍金槽1で鍍金
されたストリップ5は、ブライドル7によって送られ、
付着量計8で付着量が測定される。
電気鍍金処理装置の全体の系統図である。図において、
1は鍍金処理槽(本実施例では電気亜鉛鍍金)であり、
21〜2nは被鍍金材であるストリップ5をはさむ形で
配置された電極である。31〜3nは各電極21〜2n
に対して鍍金電流を流す整流器である。鍍金電流は整流
器31〜3nから電極21〜2n、ストリップ5、鍍金
液6、通電用ロール41〜4(n+1)を通って整流器
31〜3nに戻るループになっている。鍍金槽1で鍍金
されたストリップ5は、ブライドル7によって送られ、
付着量計8で付着量が測定される。
【0015】図2は、図1に示された実施例の電気的構
成を示すブロック図である。処理装置10は、整流器3
1〜3nから各鍍金電流実績It1〜Itnを、ライン制御
装置9から板幅W・ライン速度Vを、付着量計8から付
着量実績の瞬時値CW1・平均値CW3を受信し、次に述べ
る演算を行い、各整流器31〜3nに鍍金電流を設定す
る。
成を示すブロック図である。処理装置10は、整流器3
1〜3nから各鍍金電流実績It1〜Itnを、ライン制御
装置9から板幅W・ライン速度Vを、付着量計8から付
着量実績の瞬時値CW1・平均値CW3を受信し、次に述べ
る演算を行い、各整流器31〜3nに鍍金電流を設定す
る。
【0016】図3は、図2の処理装置10における演算
フローの例を示すフローチャートである。処理装置10
は、ストリップのある長さピッチ、例えば10mピッチ
でトータル電流実績値It =(=ΣIti)、板幅W、ラ
イン速度Vを収集する(S1)。そして、加減速中や目
標付着量CW 等の設定替え時の過渡状態かどうかが判断
され(S2)、過渡状態でない場合には、付着量計8ま
でデータをトラッキングする(S3)。なお、S2にお
いて、加減速中や目標付着量CW 等の設定替え時の過渡
状態と判断された場合には、該データが削除され、これ
は使用されない(S9)。
フローの例を示すフローチャートである。処理装置10
は、ストリップのある長さピッチ、例えば10mピッチ
でトータル電流実績値It =(=ΣIti)、板幅W、ラ
イン速度Vを収集する(S1)。そして、加減速中や目
標付着量CW 等の設定替え時の過渡状態かどうかが判断
され(S2)、過渡状態でない場合には、付着量計8ま
でデータをトラッキングする(S3)。なお、S2にお
いて、加減速中や目標付着量CW 等の設定替え時の過渡
状態と判断された場合には、該データが削除され、これ
は使用されない(S9)。
【0017】そして、S3においてトラッキングしたデ
ータが付着量計8に達したとき、その時に付着量計8で
測定された瞬時値CW1と平均値CW3を用い(S10)、
式(7)、式(8)で瞬時値鍍金陰極効率η1 、平均値
鍍金陰極効率η3 を算出する(S4)。
ータが付着量計8に達したとき、その時に付着量計8で
測定された瞬時値CW1と平均値CW3を用い(S10)、
式(7)、式(8)で瞬時値鍍金陰極効率η1 、平均値
鍍金陰極効率η3 を算出する(S4)。
【0018】 η1 ={k(鍍金定数)×〔CW1・W・V〕}÷It …(7) η3 ={k(鍍金定数)×〔CW3・W・V〕}÷It …(8) 算出された2種の陰極効率η1 、η3 は常時最新のN個
のデータ、例えば20個が入力された順番にバッファリ
ングされており、新しく陰極効率η1 、η3 が算出され
ると20個のうち一番古い陰極効率が消す更新される。
またバッファリングされている20個の陰極効率のうち
それぞれの最小の値η1min、η3minを求め(S5)、付
着量保証が厳しい製品の場合(S6)、付着量の瞬時値
から求めた陰極効率η1minを用い、式(9)よりトータ
ル鍍金電流設定値IP を求め(S7)、各整流器31〜
3nに分配する(S8)。 Ip ={k(鍍金定数)×〔CW (目標付着量)・W・
V}÷η1min…(9)
のデータ、例えば20個が入力された順番にバッファリ
ングされており、新しく陰極効率η1 、η3 が算出され
ると20個のうち一番古い陰極効率が消す更新される。
またバッファリングされている20個の陰極効率のうち
それぞれの最小の値η1min、η3minを求め(S5)、付
着量保証が厳しい製品の場合(S6)、付着量の瞬時値
から求めた陰極効率η1minを用い、式(9)よりトータ
ル鍍金電流設定値IP を求め(S7)、各整流器31〜
3nに分配する(S8)。 Ip ={k(鍍金定数)×〔CW (目標付着量)・W・
V}÷η1min…(9)
【0019】また付着量保証が厳しくない製品の場合、
付着量の平均値から求めた陰極効率η3minを用い、式
(10)よりトータル鍍金電流設定値Ip を求め(S1
1)、各整流器31〜3nに分配する(S8)。 Ip ={k(鍍金定数)×〔CW (目標付着量)・W・
V〕}÷η3min…(10)
付着量の平均値から求めた陰極効率η3minを用い、式
(10)よりトータル鍍金電流設定値Ip を求め(S1
1)、各整流器31〜3nに分配する(S8)。 Ip ={k(鍍金定数)×〔CW (目標付着量)・W・
V〕}÷η3min…(10)
【0020】以上の処理はストリップ5が10m進む毎
に行われる。本実施例によれば、付着量計8で測定され
た付着量実績の瞬時値CW1、および幅方向付着量平均値
CW3から式(7)に基づいて瞬時値鍍金陰極効率η1 ,
式(8)に基づいて平均値鍍金陰極効率η3 を求め、こ
れを付着量の保証しなければならない程度に応じて使い
分けて、式(9),式(10)によりそれぞれ求めた鍍
金電流設定値に修正することにより、作業者の負担を軽
減でき、ストリップ5の長手方向に均一な付着量を確保
することができる。
に行われる。本実施例によれば、付着量計8で測定され
た付着量実績の瞬時値CW1、および幅方向付着量平均値
CW3から式(7)に基づいて瞬時値鍍金陰極効率η1 ,
式(8)に基づいて平均値鍍金陰極効率η3 を求め、こ
れを付着量の保証しなければならない程度に応じて使い
分けて、式(9),式(10)によりそれぞれ求めた鍍
金電流設定値に修正することにより、作業者の負担を軽
減でき、ストリップ5の長手方向に均一な付着量を確保
することができる。
【0021】
【発明の効果】以上述べたこの発明による鍍金電流制御
方法によれば、ストリップの連続電気鍍金において鍍金
の付着量を長手方向に均一に制御することができ、しか
も付着量の保証を考慮することで、付着量下限割れや過
保証を防止することができる。
方法によれば、ストリップの連続電気鍍金において鍍金
の付着量を長手方向に均一に制御することができ、しか
も付着量の保証を考慮することで、付着量下限割れや過
保証を防止することができる。
【図1】この発明の方法を実施するための連続鍍金処理
装置の全体の系統図。
装置の全体の系統図。
【図2】図1に示された実施例の電気的構成を示すブロ
ック図。
ック図。
【図3】図2の処理装置10における演算フローの例を
示すフローチャート。
示すフローチャート。
1…鍍金槽、21〜2n…電極、31〜3n…整流器、
41〜4n…通電用ロール、5…金属ストリップ、6…
鍍金液、7…ブライドル、8…付着量計、9…ライン制
御装置、10…処理装置。
41〜4n…通電用ロール、5…金属ストリップ、6…
鍍金液、7…ブライドル、8…付着量計、9…ライン制
御装置、10…処理装置。
Claims (1)
- 【請求項1】 被鍍金ストリップを鍍金処理槽に流入し
て前記ストリップの表面に鍍金層を形成し、この鍍金層
が形成されたストリップを前記鍍金処理槽から流出させ
ると共に、この流出段階のストリップの鍍金の付着量を
検出し、この鍍金付着量が、目標付着量となるように、
鍍金処理槽の電極に流す鍍金電流を制御する鍍金電流制
御方法において、 前記鍍金処理槽のストリップ流出点から前記ストリップ
の付着量検出地点までのストリップを所定長さピッチ
で、ストリップ幅W、ライン速度V、トータルの鍍金電
流It を、それぞれトラッキングし、そのトラッキング
データと付着量実績の瞬時値CW1、幅方向付着量平均値
CW3から瞬時値鍍金陰極効率η1、平均値鍍金陰極効率
η3を、 η1 ={k(鍍金定数)×〔CW1・W・V〕}÷It …(1) η3 ={k(鍍金定数)×〔CW3・W・V〕}÷It …(2) から求め、かつ該効率η1 、η3 をN個算出し、 この算出結果のうち、該効率η1 、η3 の最小値の最小
陰極効率η1min,η3minを各々選出し、鍍金処理後の鍍
金付着量の保証が厳しく要求される用途の場合は、 Ip ={k(鍍金定数)×〔CW (目標付着量)・W・
V〕}÷η1min…(3)により、トータルの鍍金電流設
定値Ip を算出し、 また、鍍金処理後の鍍金付着量の保証がストリップの幅
方向で平均した付着量が確保できればよいという用途の
場合には、 Ip ={k(鍍金定数)×〔CW (目標付着量)・W・
V〕}÷η3min…(4)により、トータルの鍍金電流設
定値Ip を算出し、 前記(3)式および(4)式から算出したトータルの鍍
金電流設定値Ip を、前記鍍金処理槽の電極に流す鍍金
電流の設定値として与えるようにした鍍金電流制御方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19530792A JPH0641795A (ja) | 1992-07-22 | 1992-07-22 | 鍍金電流制御方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19530792A JPH0641795A (ja) | 1992-07-22 | 1992-07-22 | 鍍金電流制御方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0641795A true JPH0641795A (ja) | 1994-02-15 |
Family
ID=16338984
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19530792A Pending JPH0641795A (ja) | 1992-07-22 | 1992-07-22 | 鍍金電流制御方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0641795A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100949723B1 (ko) * | 2002-08-29 | 2010-03-25 | 재단법인 포항산업과학연구원 | 전기도금공정에서 통전 리플로우 전류제어방법 |
-
1992
- 1992-07-22 JP JP19530792A patent/JPH0641795A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100949723B1 (ko) * | 2002-08-29 | 2010-03-25 | 재단법인 포항산업과학연구원 | 전기도금공정에서 통전 리플로우 전류제어방법 |
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