JPH0644014B2 - 走査型オシロスコープのトリガ方式 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、走査型オシロスコープにおいて、走査期間中
の掃引の繰返し周期を、高安定かつ高精度にするための
トリガ起動方式に関するものである。

「オシロスコープ」とは１本の掃引輝線を表示しかつ波
形を静止させるためにトリガ信号によって起動掃引させ
て波形を観測する周知のオシロスコープを意味し、これ
による、多現象表示や主波形と遅延波形の多波形表示等
も、基本的に１本の掃引輝線による観測並びに動作形態
であるから、以下において、これらを総称し単に「オシ
ロスコープ」という。「走査」とは階段波によって掃引
終了毎に垂直位置を変更しながら掃引を繰返す事によっ
て走査状態になる事を意味する。この様な走査によって
波形を観測する波形観測装置を走査型オシロスコープと
呼称する。尚、階段波によって垂直位置を変更するので
段階間隔を変更しても常に横軸に平行となるので、テレ
ビジョン受像機等で周知の「走査」の意味では無い。
「走査線」とは走査における掃引輝線の１本を「走査
線」といい、波形を表示させるので曲線を含む。また走
査線によって表示される面を「走査面」と呼称しこの走
査面による観測波形を「面的観測波形」と呼称する。走
査線数が少ない場合、例えば２本の時には“面”とはな
らないが、オシロスコープの観測波形と区別するために
使用する。尚図によって明示或いは説明されている場合
或いは区別の必要が無い場合には単に「観測波形」とも
いう。又本図における面的観測波形例の走査線は、上の
位置にある走査線が１本目であり、下方向に表示位置を
順次変更しながら走査しているとする。本発明におい
て、これらを周知の用語との混同を避け、本発明を明瞭
にするため上述の様な意味として使用する。

第１図は本発明が実施される走査型オシロスコープの基
本構成例をブロック図で示したものである。この構成に
おいて、本発明は（１１７）の１点鎖線枠で示した位置
で実施される。まず本発明を説明する前に、本発明を明
瞭にするために、走査型オシロスコープの動作について
説明する。又本発明は第２図以降によって説明するので
（１１７）の１点鎖線枠の構成を外し（（１０５）はト
リガ切換部、（１３１）が計数パルス発生部である）、
経路（１１３）を接続しているものとして説明する。
（１０１）は垂直増幅部で（１１１）の入力端子から被
観測波形（１１２）が入力されている。（１０４）はト
リガ成形部で垂直増幅部（１０１）から出力される波形
（１２２）からトリガ信号（１２３）を経路（１１３）
に出力する。（１０６）の掃引部トリガ信号（１２３）
で起動掃引し、この掃引波（１２４）は経路（１２１）
を通り（１０８）の水平部に出力される。水平部（１０
８）はブラウン管（１１０）の水平偏向板に加えられる
掃引波を、通常表示面の左端から右端まで輝点を移動出
来る振幅に増幅する。輝点は時間に比例して移動し、移
動する速度は測定者によって広範囲に通常掃引部（１０
６）で設定出来る様になっている。又、掃引部（１０
６）で得られる帰線消去信号（１２５）を利用して階段
波（１２６）を階段部（１０７）で掃引終了毎に造形す
る。この階段波は経路（１１５）に出力され加算部（１
０２）で垂直増幅部（１０１）から出力される波形（１
２２）と合成し、経路（１２０）に波形（１２７）を出
力する。この波形を垂直出力部（１０３）で増幅し、ブ
ラウン管の垂直偏向板に加えられる。おおむね以上の様
な動作をして、観測波形（１２８）のように掃引毎に垂
直位置を変更しながら表示され、観測波形例（１２９）
を得る。これらは周知のオシロスコープ技術並びに周知
の走査型オシロスコープ技術である。この場合各走査線
はトリガ信号（１２３）で掃引毎に起動しているので、
波形（１２２）の様な繰返し波形では、観測波形例（１
２９）の様に同一の波形が表示される事になり、たと
え、（１３０）の部分にパルス抜けや、時間的ズレ（位
相やパルス幅等）があっても、トリガ信号もそれに追随
するので、観測波形例（１２９）の様な表示方法では、
観測出来ない事になる。通常この様な異常波形の観測に
は、外部トリガの利用や、２現象等の方法で異常のない
波形と比較する事になるが、発生頻度が少ない場合や、
時間的ズレが少ない時等では、困難を伴う。第１図の構
成に、遅延掃引部を設けると部分拡大が出来る様にな
る。この遅延波形も各走査線のトリガ掃引開始点からの
遅延であるから、トリガ信号（１２３）に追随する。デ
ジタル的に遅延時間を安定化しても同じである。尚この
場合トリガ信号（１２３）によって計数を開始するの
で、計数するクロック信号とのタイミング差によって、
遅延掃引の開始はクロック幅に相当する幅で不規則に変
動する即ち計数ジッタを伴う。従って、この計数ジッタ
が現れる様な拡大観測をして、上下走査線の波形が左右
にズレている時、被観測波形によるものかを判別出来な
くなる。この様に各走査線毎にトリガ起動掃引させる
と、部分部分が各走査線に表示され、連続して波形を表
示する事が出来ない。走査型オシロスコープでは上述の
様な走査方法と、１本目の走査線はトリガ信号によって
起動掃引し以降の走査線の掃引は掃引回路を発振状態に
して、トリガ入力に関係無く連続して掃引し走査させる
方法が公知であり、この走査方法では波形は各走査線に
連続して表示されるので、上述の様な波形抜けや時間ズ
レ等はそのまま走査線に表示される様になる。しかしこ
の場合掃引終了後に次ぎの掃引を開始させるので、掃引
開始から次ぎの掃引開始迄の時間は、掃引回路やホール
ドオフ回路などの抵抗器やコンデンサ、半導体などの素
子に依存する事になり、高安定に出来ない。掃引を繰返
し、連続して波形を走査線上で表示させる場合には微か
な変動でも観測波形に影響する。例えば走査線数が多い
時には走査線の１本の僅かな変化が累積され最終の走査
線で大きくなり、拡大観測をすれば僅かな変動も拡大さ
れる。これらは観測波形にはジッタとして現れ、観測波
形との区別が出来なくなる。又逆に微かにこの繰返し時
間の調整をしたい時にも困難を伴う。

上述を第８図を用いて詳細に説明する。ジッタのある矩
形波をオシロスコープで観測すると（２０１）の様な観
測波形が得られる事は周知であり、この観測ではトリガ
開始点からのジッタが表示されるのでトリガ開始点にジ
ッタを含んでいる場合には時間を基準にしたジッタ量と
ならない。又掃引毎に垂直位置を変更して（２０２）の
様に交錯成分を観測出来る事も周知であり、（２０３）
の幅がトリガ開始点からのジッタ幅である。このジッタ
幅が少ない時にはトリガ開始点から一定時間遅らせて即
ち遅延掃引によって部分拡大ができ、この遅延量を基準
パルスを計数した計数パルスによって安定かつ性格に出
来る事も周知である。この計数パルスには前述の通り計
数ジッタを掃引毎にランダムに含んでいるので、これが
（２０２）の観測波形の様になり、被観測波形のジッタ
と区別が出来なくなる。当然パルス回路等の波形観測で
は基準パルスとしてクロック信号を使用すれば計数ジッ
タは無くなるが、同時に波形自身のジッタも観測出来な
く無くなる（波形はクロック信号に追随しているの
で）。

走査型オシロスコープでは各走査線を起動し走査させる
トリガ起動走査方式には、上述の様に走査線毎に被観測
波形で起動掃引させる方式と、１本目の走査線のみが被
観測波形で起動掃引し以降の走査線は被観測波形に関係
なく連続して走査する方式がある事は周知であり実施例
として特開昭５６−１８８６９０号でも例示されてい
る。本発明は後者に関するものであるが、上述の２種類
の方式が関係しているので、本発明を明瞭にするために
基本的な上述の２種類のトリガ起動走査方式について説
明する。そこでこれらの動作を波形（２０６）でパルス
幅変調されたパルス波形（２０４）の波形を観測する場
合について説明する。但しそれぞれの波形は同期してい
るとする。前者では各走査線毎に起動掃引させるのでト
リガ信号は波形（２０４）から取出され（２０７）の掃
引波が得られ（２１０）の階段波によって走査し観測波
形（２２６）が得られる。このときトリガ点が（２１
６）の３角印で示した様に各走査線毎にあるので（２２
６）の観測波形を静止させる為には被観測波形のトリガ
繰返し数と走査線数とが合致或いは倍数関係になければ
（２１７）の様に上下に流れる様になる。更にトリガ点
が走査線毎にある為どのトリガ線で走査を開始するか不
定となるため、常に（２２６）の観測波形の様な観測状
態で静止するとは限らない。但しこれを確実に静止させ
る手段については特開昭５６−１８８６９０号で開示さ
れているので常に（２２６）の観測波形を得る事が出来
る。尚上述の様にこの方式はトリガ起動について見ると
周知のオシロスコープの観測手段に相当する。 後者で
のトリガ信号は面的観測波形を静止させる為に変調波
（２０６）から取出しトリガレベルを（２０５）に設定
すると（２１１）の時間で掃引波（２１２）が起動す
る。このとき掃引時間を（２１４）に設定すると階段波
は（２１３）の様になり（２１９）の観測波形が得られ
る。そしてトリガ開始点は（２１５）の３角印の位置で
あり走査開始点は（２１８）の３角印の位置となる。こ
の様にトリガ起動走査の開始点が（２１８）で固定され
るので掃引時間を変更して２本目以降の走査線上の波形
を左右に移動出来、走査線数も自由に設定出来る。トリ
ガ点が１本目で固定されているので上下に流れる事も無
く、前述のジッタ観測では１か所のトリガ開始点を基準
にして各変化量を面的に観測できる様になる。トリガレ
ベルを変更すると面的観測波形は全体で左右に移動する
がトリガ点で静止する。さて前者では各走査線を被観測
波形によってトリガ起動させるので各走査線上の波形は
被観測波形に依存するが、後者では掃引時間（２１４）
に依存する。しかし掃引時間（２１４）（２２３）は前
述の通りコンデンサ、抵抗器、半導体等の回路素子の変
動や雑音その他周辺回路からの混入や温度等の使用環境
等によって変動するので各走査線は、正確かつ安定に等
差時間的な起動が出来ず、拡大観測をして（２２２）の
様に観測された時、被観測波形に因るものか測定器自身
のものか判別出来なくなる。例えばこの掃引の繰返し周
期即ち走査周期が不安定になると（２２１）の様に観測
される筈の観測波形が（２１９）の様にジッタを含んで
観測される。（２２８）は立下がりの変化状態に注目し
て図化したものであるからジッタがあることの図化した
波形が正確に観測できなくなる。そこで周知である前述
の計数回路によって安定かつ高精度化しようとする時、
前者では走査線毎にトリガ起動させる方式であるから
（２０８）の遅延量を安定かつ高精度化した掃引波（２
０９）を得る事しか出来ないので本発明の目的とする走
査周期を安定化する事が出来ない。又拡大観測をすると
（２２０）の計数ジッタが現れる。当然遅延量によって
はトリガ信号を飛越し同一の周期を表示出来なくなるの
で、面的観測波形は上下に流れ、かつ変形する。また後
者においては走査期間中のトリガ信号は受付けないので
トリガ開始点を遅らせることしか出来ない。即ち（２２
４）の時間にある現象が生じそれから（２２５）の時間
経過後掃引を開始させる事であり、この時間を安定かつ
高精度化しても面的観測波形は全体に左右に移動するだ
けである。 本発明は前者のトリガ起動走査方式を利用
し後者の走査周期を安定化しようとするものであるか
ら、トリガ点を走査線の一本目に固定させる為に、走査
線の一本目を被観測波形によって起動掃引させ、以降の
走査線は高安定なパルスを計数した計数パルスによって
の起動掃引させる事によってトリガ点以降の掃引の繰返
し周期を高精度かつ高安定にしようとするものである。
上述の様にこの動作は前者の方式によってトリガ起動走
査させるのであるが、走査面上では後者の走査状態とな
る。従ってトリガ開始点以降即ち走査期間中での各走査
線の掃引の起動は計数ジッタのない連続した計数パルス
によって開始するので（２２１）の観測波形の様に被観
測波形の変調成分のみを静止させて観測出来るようにな
る。計数ジッタも解消されているので拡大観測をしても
変調成分のみを正確に観測出来る様になる。又前述の通
り（２１５）の３角印の位置でトリガ点が固定されるの
で掃引時間即ち計数パルスの計数値を変更して２本目以
降の走査線上の波形を静止させた状態で左右に移動出来
る様になる。例えば、パルスの立上がり部分を少しずつ
ズラせて表示したり、異なる時間の波形を上下の走査線
に表示して比較したりする時等で安定かつ正確な観測並
びに走査が出来る様になる。又ジッタ観測では（２１
１）のトリガ開始点を基準にして観測出来る様になる。
即ち基準時間（２２７）に対して変化量を高安定かつ高
精度に表示出来るようになる。尚前述の通り周知のオシ
ロスコープはトリガ点からの変化量の表示であるから、
この様に基準時間に対して変化量を表示する異は、交錯
した観測波形であっても不可能である。 上述の様に従
来では走査線数が多い時には安定な面観測が困難であ
り、拡大観測では上下走査線の時間差のバラツキも拡大
する為正確な面観測が困難であったが、本発明によって
高安定かつ高精度な波形観測を可能にするものである。
従って本発明の一つの目的は後者のトリガ起動走査方式
に相当する観測手段を、高精度かつ高安定をもって提供
する事にある。

本発明の他の目的は、上述の手段によって高安定かつ高
精度な走査面上で、面的観測波形を静止させて波形観測
が出来る所に特徴をもつ走査型オシロスコープを提供す
る事にある。

本発明の他の目的は、全走査線に渡って高精度で時間を
読取る事にある。

本発明の他の目的は、微小な周波数変化や時間差を実時
間で表示して、高精度に読取ることにある。

本発明の更に他の目的は、各走査線の掃引開始時間を高
精度に制御する事にある。

本発明の他の目的及び利点は本発明の好適な実施例に関
する以下の詳細な説明により当業者には明らかであろ
う。更に以下の実施例は本発明の全てを開示及び限定す
るものではなく、単に当業者が本発明の原理並びに用途
を十分理解する為のものであり、当業者には適宜種々の
変更及び変形を成し得る事が理解されよう。

第２図に本発明の実施例を示す。これは前述の通り第１
図において（１１７）の１点鎖線枠で示した位置で実施
される。従って以降の説明は第１図の経路（１１３）を
取外し、（１０５）のトリガ切換部と（１３１）の計数
パルス発生部の構成が付加されているものとし、波形経
過図等は第３図並びに第４図を使用して説明する。
（１）はトリガ成形部で第１図の（１０４）と同一、
（６）は掃引部で第１図の（１０６）と同一、（５）は
階段部で第１図の（１０７）と同一である。前述により
端子（９）には被観測波形（２０）が入力され、トリガ
成形部（１）を通り経路（１２）にトリガ信号（２１）
が現れる。このトリガ成形部（１）は周知のオシロスコ
ープ技術である。（２）と（４）はスイッチでインバー
タ（３）によって交互にＯＮ／ＯＦＦする。このスイッ
チは切換経路が高速でも切換速度は低速でよいので、論
理ＩＣ或いはＭＯＳ−ＩＣ等周知であるが個別素子によ
る実施例として第６図に示す。これは入力が（６９）で
出力が（７０）（どちらでもよい）、切換信号は（７
１）から入力する。（７１）が正電位の時ＯＮになる。
これは周知の回路技術である。（６）の掃引部はトリガ
信号によって起動掃引し掃引波（２２）を端子（１１）
に出力し、前述の通り水平偏向する。この掃引部（６）
は周知のオシロスコープ技術である。帰線消去信号（２
５）は段階部（５）に加えられ段階波を掃引終了毎に１
段ずつ造形し設定した段階数を造形すると復帰し繰返
す。段階波（２３）は端子（１０）に出力し前述の様に
掃引毎に垂直位置を変更する。この段階部は周知並びに
公知の回路技術であるが実施例として第５図に示す。帰
線消去信号は端子（６０）に入力され（６１）のパルス
によって階段波を造形し一定電位迄造形するとリセット
され、端子（６６）に階段波を出力する。可変抵抗器
（６２）は（６１）の振幅を変化して階段数を調整す
る。フリップフロップは第１回目の掃引波の帰線パルス
（６３）（帰線消去信号）で反転し、階段波の造形を終
了して元の電位に復帰するリセットパルス（６４）で復
元し波形（６５）を得、端子（６７）に出力し、経路
（１３）の波形（２６）となる。これは周知の回路技術
である。（７）はＮＡＮＤゲートで波形（２５）と波形
（２６）を合成し波形（２７）を得る。この時波形（２
５）の立上りと波形（２６）の立下がりは同時タイミン
グであるからパルス抜けが生じる時には波形（２５）の
立上りを遅らせる。以降この合成波形（２７）を単に
「制御信号」という。（８）は計数部で任意に設定した
数値の計数パルスが経路（１６）に出力されている。こ
の計数器は水晶発振器等の安定なクロック信号（２８）
を計数する。（（４９）はこのクロック信号がパルスで
ある事を示す）。又制御信号が零電位の時クリア状態
で、制御信号が正電位の時、計数パルス（２９）を連続
して出力している。これは周知の計数回路技術であるが
実施例として第７図に示す。（８２）はカウンタ、（８
３）は一致回路、（８４）は設定スイッチで４桁以下の
計数パルスを連続して（８１）に出力する。計数のＯＮ
／ＯＦＦは（８０）からの制御信号で行う。これは計数
値が一致するとクリアし繰返す周知の計数回路である。
階段波（２３）が未だ造形されずかつ掃引していない
時、制御信号は零電位であるからスイッチ（２）は正電
位でＯＮとなり、（２１）のトリガ信号が掃引部（６）
に入力される。このとき計数部（８）はクリア状態であ
る。 （２４）の時間になると（２１）のトリガ信号で
掃引回路が起動する。同時に制御信号が正電位となり、
計数部（８）は計数を開始し、スイッチ（２）はＯＦ
Ｆ、スイッチ（４）がＯＮとなり掃引部へのトリガ信号
が経路（１６）からの計数パルス（２９）に切替わる。
（３７）の１回目の掃引での表示期間は（３０）で、こ
の時には階段波は造形していないので（３９）の観測波
形となる。掃引が終了すると階段波を１段造形し、掃引
回路は待期状態になる。待期するトリガ信号は計数パル
ス（２９）である。設定した数値の計数を終えると計数
パルス（４３）を出力し、ＯＮとなったスイッチ（４）
を通過し、２回目の掃引が開始する。（３８）の２回目
の掃引での表示期間は（３１）で、この時に階段波が１
段造形しているので（４０）の観測波形となる。同様に
３回目、４回目の掃引を計数パルス（４４）（４５）で
開始し観測波形は（４１）（４２）となる。階段波を造
形し終えると制御信号は零電位となり、スイッチ（２）
はＯＮ、スイッチ（４）がＯＦＦとなり掃引部へのトリ
ガ信号は経路（１２）からのトリガ信号（２１）に切替
わる。また計数部（８）はクリア状態となり元の待期状
態に戻る。（２１）のトリガ信号が到来する（４６）の
時間になると上述の動作を繰返す。この様にして観測波
形（４７）が得られる。この波形の２回目の掃引開始が
トリガ信号（２１）に対して（３４）の時間ズレている
と、３回目では（３５）、４回目では（３６）と累積さ
れる事になる。（３２）は計数パルスの設定値をそのま
まにして、掃引時間を速くした時の掃引波であり、各表
示波形が（３３）で、観測波形が（４８）である。この
様に掃引速度を速くするとズレも拡大される様になる。
（４３）（４４）（４５）は計数パルスであるから前述
した様な計数ジッタが無いので、拡大観測をしても被観
測波形の変化状態のみを観測出来る様になる。但し、最
初の掃引開始時の（２４）（４６）ではトリガ信号（２
１）によって起動して計数を開始するので、このときの
み計数ジッタが生じる。

第４図は、周波数測定或いは周波数校正（調整）等につ
いての動作説明をする為の、波形経過図と観測波形例で
ある。（５４）は途中は省略した事を示す。被観測波形
は（５０）で未知周波数である。前述と同じ動作によっ
て、被観測波形（５０）のトリガ信号で１本目の走査線
の掃引が開始し、以降の走査線に対する掃引は計数パル
ス（５１）によって起動掃引し掃引波（５２）を得、階
段波（５３）を造形する。階段数を２３段とすれば、走
査線数は２３本となる（ここでは、この本数に意味はな
い）。観測波形（５５）は立下り部がＹ軸に平行である
から（５７）の時間ズレは零である。又走査線の１本の
１周期が観測されているから、この時の計数パルスの周
期と被観測波形（５０）の周期と合致している事になる
ので、計数設定値を読取り逆数を求めれば、被観測波形
（５０）の周波数を知る事ができる。前述の通り、（５
７）の時間ズレは走査線数が増加する程、或いは掃引時
間を速くする程増大するので、走査線数を増加、或いは
掃引時間を速くして、立下り部がＹ軸に平行になるよう
に数値設定値を変更すれば、更に精度の高い周波数を知
る事が出来様になる。又或発振回路の発振周波数を希望
する周波数に調整する場合には、希望する周波数の逆数
によって周期を求め数値設定をし、更に発振波形を観測
して観測波形（５５）が得られる様に調整すれば、希望
する周波数になっている事になる。調整精度を高めるに
は、上述と同様に走査線数を増加、或いは部分拡大をす
るとよい。この周波数調整において、周波数カウンタに
よる方法と最も異なる点は実時間で調整出来る事であ
る。尚、時間ズレが（５７）の様にズレている時には
（５６）の様な観測波形となる。

上述の通り、本発明によって掃引の繰返す周期を高精度
かつ高安定に出来るので、微小なジッタでも忠実に観測
出来る様になる。又、拡大観測や走査線数が多い時で
も、安定な波形観測ができる。更に各走査線は時間が継
続しているので、複数の走査線に渡って正確に時間を読
取る事ができる等の効果を生じる。

上述の通り、本発明は、１本目の走査線は被観測波形か
らのトリガ信号で掃引を開始し、２本目以降の走査線は
計数パルスによって掃引を開始させ、最終の走査線の掃
引を終えると、被観測波形からのトリガ信号で掃引を開
始する元の状態に戻り繰返すものであるから、実施にあ
っては本発明の要旨を逸脱することなく種々の変更並び
に変形を成しえる。例えば、階段部等から直接、波形
（２７）を取出す事が出来る様な回路であれば、当然Ｎ
ＡＮＤ（７）は不要である。又計数部もプリセットカウ
ンタ等、使用するカウンタ等によっても種々変形され
る。更に又、上述のように掃引回路へのトリガ信号を、
切替える動作と同様の動作が出来れば第２図の位置や回
路を限定するものでもない、等である。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明が実施される走査型オシロスコープの基
本ブロック図。第２図は本発明のトリガ制御部の略線的
回路図例。第３図と第４図は本発明の動作原理を説明す
る為の波形経過図と観測波形例。第５図は周知の簡略的
階段波発生回路例で本発明との接続関係を示すもの。第
６図は周知のスイッチ回路例で、スイッチ（２）と
（４）の実施例。第７図は簡略的計数回路例である。第
８図は本発明と周知の動作並びに特徴を比較説明する為
の観測波形例と波形経過図例。 図において、（１）はトリガ成形部、（２）と（４）は
スイッチ、（３）はインバータ、（５）は階段部、
（６）は掃引部、（７）はＮＡＮＤゲート、（８）は計
数部、（９）はトリガ用の被観測波形の入力端子、（１
０）は階段波の出力端子、（１１）は掃引波の出力端
子、（１２）は被観測波形のトリガ信号の経路、（１
３）は階段波の造形期間中のパルス即ち波形（２６）の
信号経路、（１４）は掃引波の帰線消去信号の経路、
（１５）は制御信号の経路、（１６）はトリガ信号とな
る計数パルスの経路、（２０）は被観測波形、（２１）
は被観測波形によって生成されたトリガ信号、（２２）
は掃引波、（２３）は階段波、（２４）と（４６）は走
査開始時間、（２５）は帰線消去信号、（２６）は階段
波の造形期間中のパルス、（２７）は制御信号、（２
８）はクロック信号、（２９）は計数パルスの波形で
（４３）は１回目（４４）は２回目（４５）は３回目の
連続した計数パルス、（４７）（４８）は本発明による
面的観測波形例、（５０）は被観測波形、（５１）は計
数パルス、（５２）は掃引波、（５３）は階段波、（５
５）（５６）は本発明による面的観測波形例、（１０
１）は垂直増腹部、（１０２）は加算部、（１０３）は
垂直出力部、（１０４）はトリガ成形部、（１０５）は
トリガ切換部、（１０７）は階段部、（１０８）は水平
部、（１１０）はブラウン管、（１１１）は垂直軸の入
力端子、（１１３）は走査型オシロスコープの動作原理
を説明する為の仮の信号通過経路、（１１４）は階段波
の造形期間中のパルスの経路で経路（１３）に対応す
る、（１１６）は帰線消去信号の経路で経路（１４）に
対応する、（１１７）は第１図のブロック図例で構成さ
れた基体的な走査型オシロスコープにおいて本発明が実
施される代表的な実施部位を示す、（１１８）は帰線消
去信号の経路、（１１９）は走査開始時間、（１３１）
は計数パルス発生部を示す。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】被観測波形によってトリガ信号を形成する
   トリガ回路と、トリガ信号によって起動する掃引回路
   と、掃引終了毎に階段波を発生する階段波発生回路と、
   基準パルスを計数し任意に設定出来る計数値で上記掃引
   回路へのトリガ信号となる計数パルスを走査期間中にお
   いて連続して発生できる計数回路と、上記掃引回路への
   トリガ信号を切換える事の出来る切換回路とからなる構
   成を含み、１本目の走査線に対する掃引は上記トリガ回
   路から得られるトリガ信号によって起動し同時に上記計
   数回路の計数を開始し更に上記掃引回路へのトリガ信号
   を上記計数パルスに切換え、１本目の走査線に対する掃
   引が終了すると階段波を１段造形して垂直位置を変更し
   て２回目の掃引を待期し、２回目以降の掃引は切換られ
   た上記計数パルスで起動掃引して繰返し、最終走査線に
   対する掃引を終えると、１本目の走査線の掃引位置に戻
   り、上記掃引回路へのトリガ信号も上記トリガ回路から
   のトリガ信号に切換え、以降は同様に被観測波形による
   トリガ信号で起動し上述の動作を繰返し、この様に被観
   測波形によるトリガ信号で１回目の掃引と計数を開始
   し、２回目以降は上記計数パルスで各走査線の掃引を開
   始させる事によって面的観測波形を静止させかつ高精度
   かつ高安定に走査させる手段を含み、上記構成による上
   記手段によって高精度かつ高安定な走査面上で面的観測
   波形を静止させて波形観測が出来る所に特徴を持つ走査
   型オシロスコープ。