JPH0648800Y2 - Ｘ線管管電流補正回路 - Google Patents
Ｘ線管管電流補正回路Info
- Publication number
- JPH0648800Y2 JPH0648800Y2 JP1988156357U JP15635788U JPH0648800Y2 JP H0648800 Y2 JPH0648800 Y2 JP H0648800Y2 JP 1988156357 U JP1988156357 U JP 1988156357U JP 15635788 U JP15635788 U JP 15635788U JP H0648800 Y2 JPH0648800 Y2 JP H0648800Y2
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- JP
- Japan
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- tube
- current
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- filament
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
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- X-Ray Techniques (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本考案はＸ線管に供給するフィラメント電流を補正する
ことにより所望の管電流を得るＸ線管管電流補正回路に
関する。
ことにより所望の管電流を得るＸ線管管電流補正回路に
関する。
（従来の技術） 一般にＸ線管は個々の管によってそれぞれ固有のエミッ
ション特性を有しており、供給する管電圧と流すべき管
電流を決めると、その条件を維持するために必要なフィ
ラメント電流が決まり、又管電圧とフィラメント電流を
決めれば、流れる管電流が必然的に決まるというような
関係を持っている。第２図にエミッション特性の一例を
示す。図のグラフは横軸にフィラメント電流を、縦軸に
管電流を取り、管電圧をパラメータとして表したもので
ある。図において、例えば管電圧をV1，管電流をA1に設
定すると、フィラメント電流Isが求められる。これはＸ
線管に管電圧V1を与え、フィラメント電流Isを流すと、
管電流A1が得られることを示している。
ション特性を有しており、供給する管電圧と流すべき管
電流を決めると、その条件を維持するために必要なフィ
ラメント電流が決まり、又管電圧とフィラメント電流を
決めれば、流れる管電流が必然的に決まるというような
関係を持っている。第２図にエミッション特性の一例を
示す。図のグラフは横軸にフィラメント電流を、縦軸に
管電流を取り、管電圧をパラメータとして表したもので
ある。図において、例えば管電圧をV1，管電流をA1に設
定すると、フィラメント電流Isが求められる。これはＸ
線管に管電圧V1を与え、フィラメント電流Isを流すと、
管電流A1が得られることを示している。
ところが、Ｘ線管の経時変化や制御回路の変化等によ
り、管電圧V1のカーブが、第２図のａ−ａ′のようにな
っていることがあり、この場合には誤差を生じ、管電圧
V1，フィラメント電流Isで運転すると管電流はA1′にな
ってしまうので、管電流A1の点が曲線ａ−ａ′に交わる
点におけるフィラメント電流Iaを流さないと管電流A1は
得られない。
り、管電圧V1のカーブが、第２図のａ−ａ′のようにな
っていることがあり、この場合には誤差を生じ、管電圧
V1，フィラメント電流Isで運転すると管電流はA1′にな
ってしまうので、管電流A1の点が曲線ａ−ａ′に交わる
点におけるフィラメント電流Iaを流さないと管電流A1は
得られない。
従来はこの補正のために、予め定めた管電圧をパラメー
タとした管電流−フィラメント電流の近似式或いはテー
ブルにより、管電流の設定値と実測値との誤差に基づ
き、フィラメント電流値Isの補正値（Is−Ia）を得るよ
うにしている。
タとした管電流−フィラメント電流の近似式或いはテー
ブルにより、管電流の設定値と実測値との誤差に基づ
き、フィラメント電流値Isの補正値（Is−Ia）を得るよ
うにしている。
（考案が解決しようとする課題） ところが、このようにして求めた補正値は前記の条件即
ち管電圧V1、管電流A1の場合についてのみ適合し、他の
条件即ち管電圧，管電流の異なる設定の場合には適応で
きない。それは第２図から分かるように特性曲線は直線
的でなく、種々の関数系を持ち、空間電荷の影響を受け
たりするからである。
ち管電圧V1、管電流A1の場合についてのみ適合し、他の
条件即ち管電圧，管電流の異なる設定の場合には適応で
きない。それは第２図から分かるように特性曲線は直線
的でなく、種々の関数系を持ち、空間電荷の影響を受け
たりするからである。
従って、従来の装置では、前回補正した時と同一の条件
の場合には補正されるが、他の条件の場合には前回求め
た補正値が全く生かされず、補正されないことになって
いた。
の場合には補正されるが、他の条件の場合には前回求め
た補正値が全く生かされず、補正されないことになって
いた。
本考案は上記の点に鑑みてなされたもので、その目的
は、従来補正されない条件の場合でも、補正された条件
における補正値に関連させて補正することができるよう
にしたＸ線管管電流補正回路を提供することである。
は、従来補正されない条件の場合でも、補正された条件
における補正値に関連させて補正することができるよう
にしたＸ線管管電流補正回路を提供することである。
（課題を解決するための手段） 前記の課題を解決する本考案は、Ｘ線管の管電圧および
管電流をそれぞれ設定するための設定手段と、設定され
た管電圧に対応する電圧をＸ線管に供給する高電圧発生
手段と、設定された管電圧下において、設定された前記
管電流を得るために必要なフィラメント電流値と、標準
の管電圧に対し標準の管電流を得るための標準のフィラ
メント電流値との比のデータを記憶している第１の記憶
手段と、前記標準のフィラメント電流値を記憶している
第２の記憶手段と、前記第１の記憶手段から読み出され
た前記比のデータと前記第２の記憶手段から読み出され
た前記標準フィラメント電流値データとの演算によっ
て、設定された管電流値を得るために必要なフィラメン
ト電流値を求める演算手段と、求められたフィラメント
電流値に対応したフィラメント電流をＸ線管に供給する
フィラメント電流供給手段と、Ｘ線管の管電流を測定
し、その測定値を前記演算手段に送る管電流測定手段と
を有し、前記演算手段は、前記管電流測定手段によって
測定された管電流の実測値と前記設定された管電流値と
を比較し、実測値が設定された管電流値に一致する方向
に、前記第２の記憶手段に記憶されている前記フィラメ
ント電流の標準値を更新していき、その一方で更新した
フィラメント電流の標準値データを第２の記憶手段から
読み出し、前記第１の記憶手段から読み出された前記比
のデータと演算してフィラメント電流値を更新していく
ことを特徴とするものである。
管電流をそれぞれ設定するための設定手段と、設定され
た管電圧に対応する電圧をＸ線管に供給する高電圧発生
手段と、設定された管電圧下において、設定された前記
管電流を得るために必要なフィラメント電流値と、標準
の管電圧に対し標準の管電流を得るための標準のフィラ
メント電流値との比のデータを記憶している第１の記憶
手段と、前記標準のフィラメント電流値を記憶している
第２の記憶手段と、前記第１の記憶手段から読み出され
た前記比のデータと前記第２の記憶手段から読み出され
た前記標準フィラメント電流値データとの演算によっ
て、設定された管電流値を得るために必要なフィラメン
ト電流値を求める演算手段と、求められたフィラメント
電流値に対応したフィラメント電流をＸ線管に供給する
フィラメント電流供給手段と、Ｘ線管の管電流を測定
し、その測定値を前記演算手段に送る管電流測定手段と
を有し、前記演算手段は、前記管電流測定手段によって
測定された管電流の実測値と前記設定された管電流値と
を比較し、実測値が設定された管電流値に一致する方向
に、前記第２の記憶手段に記憶されている前記フィラメ
ント電流の標準値を更新していき、その一方で更新した
フィラメント電流の標準値データを第２の記憶手段から
読み出し、前記第１の記憶手段から読み出された前記比
のデータと演算してフィラメント電流値を更新していく
ことを特徴とするものである。
（作用） 管電圧，管電流を設定すると、演算手段は第１の記憶手
段から標準フィラメント電流に対する補正値を、第２の
記憶手段から標準フィラメント電流値を読み出して演算
を行い、演算により得られたフィラメント電流を設定管
電圧と共にＸ線管に供給する。上記の条件における管電
流を測定して演算手段にフィードバックし、管電流設定
値との間に誤差がある場合は第２の記憶手段の内容を修
正し、同様の手順を繰り返して設定された管電流値の管
電流を安定に得る。
段から標準フィラメント電流に対する補正値を、第２の
記憶手段から標準フィラメント電流値を読み出して演算
を行い、演算により得られたフィラメント電流を設定管
電圧と共にＸ線管に供給する。上記の条件における管電
流を測定して演算手段にフィードバックし、管電流設定
値との間に誤差がある場合は第２の記憶手段の内容を修
正し、同様の手順を繰り返して設定された管電流値の管
電流を安定に得る。
（実施例） 以下、図面を参照して本考案の実施例を詳細に説明す
る。
る。
第１図は本考案の一実施例の回路のブロック図である。
図において、１はＸ線管２に与える管電圧を設定するた
めの管電圧設定器、３はＸ線管２に流すべき管電流を設
定する管電流設定器である。４は管電圧設定器１に設定
された管電圧に等しい高電圧を発生する高圧発生回路
で、Ｘ線管２に陽極電圧を供給する。５は標準値である
管電圧V1で管電流A1を得るための標準のフィラメント電
流値と各々異なった管電圧、V2，V3，…等で各管電流を
得るためのフィラメント電流値の比が格納されている第
１メモリ、６は管電圧V1で管電流A1を得るための標準の
フィラメント電流値が記録されている第２メモリであ
る。７は管電圧設定器１に管電圧が設定され、管電流設
定器３に管電流が設定されると、第１メモリ５に格納さ
れているフィラメント電流の比のデータを読み出し、第
２メモリ６から標準のフィラメント電流値を読み出して
演算を行い、補正されたフィラメント電流値を出力する
演算回路で、その出力の補正されたフィラメント電流値
のデータはDA変換器８でアナログ信号に変換され、フィ
ラメント電流制御回路９に入力される。フィラメント電
流制御回路９は入力データに基づきＸ線管２にフィラメ
ント電流を供給する。10はＸ線管２に流れる管電流を測
定して演算回路７にフィードバックする管電流測定器
で、その出力信号はAD変換器11においてディジタル信号
に変換される。
図において、１はＸ線管２に与える管電圧を設定するた
めの管電圧設定器、３はＸ線管２に流すべき管電流を設
定する管電流設定器である。４は管電圧設定器１に設定
された管電圧に等しい高電圧を発生する高圧発生回路
で、Ｘ線管２に陽極電圧を供給する。５は標準値である
管電圧V1で管電流A1を得るための標準のフィラメント電
流値と各々異なった管電圧、V2，V3，…等で各管電流を
得るためのフィラメント電流値の比が格納されている第
１メモリ、６は管電圧V1で管電流A1を得るための標準の
フィラメント電流値が記録されている第２メモリであ
る。７は管電圧設定器１に管電圧が設定され、管電流設
定器３に管電流が設定されると、第１メモリ５に格納さ
れているフィラメント電流の比のデータを読み出し、第
２メモリ６から標準のフィラメント電流値を読み出して
演算を行い、補正されたフィラメント電流値を出力する
演算回路で、その出力の補正されたフィラメント電流値
のデータはDA変換器８でアナログ信号に変換され、フィ
ラメント電流制御回路９に入力される。フィラメント電
流制御回路９は入力データに基づきＸ線管２にフィラメ
ント電流を供給する。10はＸ線管２に流れる管電流を測
定して演算回路７にフィードバックする管電流測定器
で、その出力信号はAD変換器11においてディジタル信号
に変換される。
次に上記のように構成された実施例の回路の動作を説明
する。第１メモリ５に格納されている内容は第３図のグ
ラフに示すように標準管電圧V1，標準管電流A1における
標準のフィラメント電流で管電圧，管電流の異なる条件
におけるフィラメント電流を除した比の値である。具体
的には第４図に示すような管電圧V1管電流A1に対応する
フィラメント電流I11で、他の条件のフィラメント電流
値を除した比を格納してある。この表において、管電圧
Vm，管電流Vnの時のフィラメント電流をImnで表してあ
る。第２メモリ６には標準管電圧V1，標準管電流A1の時
のフィラメント電流I11が格納されている。
する。第１メモリ５に格納されている内容は第３図のグ
ラフに示すように標準管電圧V1，標準管電流A1における
標準のフィラメント電流で管電圧，管電流の異なる条件
におけるフィラメント電流を除した比の値である。具体
的には第４図に示すような管電圧V1管電流A1に対応する
フィラメント電流I11で、他の条件のフィラメント電流
値を除した比を格納してある。この表において、管電圧
Vm，管電流Vnの時のフィラメント電流をImnで表してあ
る。第２メモリ６には標準管電圧V1，標準管電流A1の時
のフィラメント電流I11が格納されている。
管電圧設定器１に管電圧を設定し、管電流設定器３に管
電流が設定された場合の動作を説明する。設定値がV1，
A2であったとすると、演算回路７は第２メモリ６からI
11を読み出し、第１メモリI12／I11の値を読み出し、両
者を掛け合わせてI12を算出し、DA変換器８を経てフィ
ラメント電流制御回路９に出力する。フィラメント電流
制御回路９はＸ線管２にフィラメント電流をI12にする
ようにフィラメント電流回路を制御する。この条件下で
管電流測定器10はＸ線管２の管電流を測定し、AD変換器
11を経て演算回路７にフィードバックする。
電流が設定された場合の動作を説明する。設定値がV1，
A2であったとすると、演算回路７は第２メモリ６からI
11を読み出し、第１メモリI12／I11の値を読み出し、両
者を掛け合わせてI12を算出し、DA変換器８を経てフィ
ラメント電流制御回路９に出力する。フィラメント電流
制御回路９はＸ線管２にフィラメント電流をI12にする
ようにフィラメント電流回路を制御する。この条件下で
管電流測定器10はＸ線管２の管電流を測定し、AD変換器
11を経て演算回路７にフィードバックする。
この時、Ｘ線管２の経時変化等によりエミッション特性
が変化して、第５図の破線で示すV1′の特性であった場
合、管電流測定器10で測定した管電流はA2′に変化して
いる。従って、所望の管電流A2を得るためにはA2とV1′
の交点のI12′のフィラメント電流を流さなければなら
ない。演算回路７は第１メモリ５に格納されている第４
図の関係と管電流A2′とから演算して第２メモリ６に格
納されている標準フィラメント電流を修正する。A2′＞
A12の場合には第２メモリ６のI11を減らし、A2′＜A12
の場合にはI11の値を増やすように第２メモリ６の内容
を更新する。この更新されたI11′により、演算回路７
は新たにI12″を算出し、フィラメント電流制御回路９
に出力する。次いで管電流測定器10により管電流を測定
して演算回路７にフィードバックする。この操作を繰り
返すことにより、Ｘ線管２の経時変化等につれて管電流
が変化しないように第２メモリ６に格納されている標準
フィラメント電流設定値を補正する。この時、管電圧，
管電流の設定が変化した場合でも、エミッションカーブ
の形の経時変化等の範囲内で補正することができるの
で、暫く使用しなかった管電圧値，管電流値を設定して
Ｘ線管２を動作させても大きな誤差を生ずることがな
い。
が変化して、第５図の破線で示すV1′の特性であった場
合、管電流測定器10で測定した管電流はA2′に変化して
いる。従って、所望の管電流A2を得るためにはA2とV1′
の交点のI12′のフィラメント電流を流さなければなら
ない。演算回路７は第１メモリ５に格納されている第４
図の関係と管電流A2′とから演算して第２メモリ６に格
納されている標準フィラメント電流を修正する。A2′＞
A12の場合には第２メモリ６のI11を減らし、A2′＜A12
の場合にはI11の値を増やすように第２メモリ６の内容
を更新する。この更新されたI11′により、演算回路７
は新たにI12″を算出し、フィラメント電流制御回路９
に出力する。次いで管電流測定器10により管電流を測定
して演算回路７にフィードバックする。この操作を繰り
返すことにより、Ｘ線管２の経時変化等につれて管電流
が変化しないように第２メモリ６に格納されている標準
フィラメント電流設定値を補正する。この時、管電圧，
管電流の設定が変化した場合でも、エミッションカーブ
の形の経時変化等の範囲内で補正することができるの
で、暫く使用しなかった管電圧値，管電流値を設定して
Ｘ線管２を動作させても大きな誤差を生ずることがな
い。
以上説明したように本実施例の回路によれば、設定した
管電圧，管電流でＸ線管を動作させることができ、既述
のように暫く使用しなかった管電圧，管電流を設定して
も、設定した管電流を安定した状態で得ることができ
る。
管電圧，管電流でＸ線管を動作させることができ、既述
のように暫く使用しなかった管電圧，管電流を設定して
も、設定した管電流を安定した状態で得ることができ
る。
尚、本考案は上記実施例に限定されるものではない。第
１メモリには異なる管電圧，管電流におけるフィラメン
ト電流と標準のフィラメント電流との比のテーブルが記
憶されている例であったが、エミッション特性の近似式
又は関数としての式を記憶させておいてもよい。この場
合、管電流の設定と実際の管電流との誤差から次に設定
するフィラメント電流値を演算で導くことができる。
１メモリには異なる管電圧，管電流におけるフィラメン
ト電流と標準のフィラメント電流との比のテーブルが記
憶されている例であったが、エミッション特性の近似式
又は関数としての式を記憶させておいてもよい。この場
合、管電流の設定と実際の管電流との誤差から次に設定
するフィラメント電流値を演算で導くことができる。
（考案の効果） 以上詳細に説明したように本考案は、Ｘ線管の管電流値
を実測して、その実測値が設定された管電流値に一致す
るように、第２のメモリに格納されているフィラメント
電流の標準値の値を増加／減少させ、これによってフィ
ラメント電流値を更新していき、この動作を続行するこ
とによってＸ線管の管電流値を補正するものである。
を実測して、その実測値が設定された管電流値に一致す
るように、第２のメモリに格納されているフィラメント
電流の標準値の値を増加／減少させ、これによってフィ
ラメント電流値を更新していき、この動作を続行するこ
とによってＸ線管の管電流値を補正するものである。
この新規な方式の採用によって、今までまったく使用さ
れなかった管電圧，管電流によってＸ線を発生させる場
合でも、常に安定した管電流を得ることができるように
なり、実用上の効果は大きい。
れなかった管電圧，管電流によってＸ線を発生させる場
合でも、常に安定した管電流を得ることができるように
なり、実用上の効果は大きい。
第１図は本考案の一実施例の回路のブロック図、第２図
はＸ線管のエミッション特性の図、第３図は数種の管電
圧，管電流とフィラメント電流との関係を示すエミッシ
ョン特性図、第４図は第１メモリに書き込まれているデ
ータの図、第５図はエミッション特性の経時変化による
影響の説明図である。 １……管電圧設定器、２……Ｘ線管 ３……管電流設定器、４……高圧発生回路 ５……第１メモリ、６……第２メモリ ７……演算回路 ９……フィラメント電流制御回路 10……管電流測定器
はＸ線管のエミッション特性の図、第３図は数種の管電
圧，管電流とフィラメント電流との関係を示すエミッシ
ョン特性図、第４図は第１メモリに書き込まれているデ
ータの図、第５図はエミッション特性の経時変化による
影響の説明図である。 １……管電圧設定器、２……Ｘ線管 ３……管電流設定器、４……高圧発生回路 ５……第１メモリ、６……第２メモリ ７……演算回路 ９……フィラメント電流制御回路 10……管電流測定器
Claims (1)
- 【請求項１】Ｘ線管の管電圧および管電流をそれぞれ設
定するための設定手段と、 設定された管電圧に対応する電圧をＸ線管に供給する高
電圧発生手段と、 設定された管電圧下において、設定された前記管電流を
得るために必要なフィラメント電流値と、標準の管電圧
に対し標準の管電流を得るための標準のフィラメント電
流値との比のデータを記憶している第１の記憶手段と、 前記標準のフィラメント電流値を記憶している第２の記
憶手段と、 前記第１の記憶手段から読み出された前記比のデータと
前記第２の記憶手段から読み出された前記標準フィラメ
ント電流値データとの演算によって、設定された管電流
値を得るために必要なフィラメント電流値を求める演算
手段と、 求められたフィラメント電流値に対応したフィラメント
電流をＸ線管に供給するフィラメント電流供給手段と、 Ｘ線管の管電流を測定し、その測定値を前記演算手段に
送る管電流測定手段とを有し、 前記演算手段は、前記管電流測定手段によって測定され
た管電流の実測値と前記設定された管電流値とを比較
し、実測値が設定された管電流値に一致する方向に、前
記第２の記憶手段に記憶されている前記フィラメント電
流の標準値を更新していき、その一方で更新したフィラ
メント電流の標準値データを第２の記憶手段から読み出
し、前記第１の記憶手段から読み出された前記比のデー
タと演算してフィラメント電流値を更新していくことを
特徴とするＸ線管電流補正回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1988156357U JPH0648800Y2 (ja) | 1988-11-30 | 1988-11-30 | Ｘ線管管電流補正回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1988156357U JPH0648800Y2 (ja) | 1988-11-30 | 1988-11-30 | Ｘ線管管電流補正回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0276500U JPH0276500U (ja) | 1990-06-12 |
| JPH0648800Y2 true JPH0648800Y2 (ja) | 1994-12-12 |
Family
ID=31434826
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1988156357U Expired - Lifetime JPH0648800Y2 (ja) | 1988-11-30 | 1988-11-30 | Ｘ線管管電流補正回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0648800Y2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2018190581A (ja) * | 2017-05-01 | 2018-11-29 | 東芝電子管デバイス株式会社 | Ｘ線システムおよびｘ線管検査方法 |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008218338A (ja) * | 2007-03-07 | 2008-09-18 | Toshiba Corp | Ｘ線発生装置、ｘ線コンピュータ断層撮影装置及びｘ線診断装置 |
| JP6035597B2 (ja) * | 2012-07-17 | 2016-11-30 | 東芝メディカルシステムズ株式会社 | Ｘ線装置及び制御プログラム |
| CN108650768B (zh) * | 2018-05-09 | 2020-07-07 | 苏州博思得电气有限公司 | 灯丝电流控制方法及装置 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55159596A (en) * | 1979-05-31 | 1980-12-11 | Shimadzu Corp | X-ray tube electric current setting device |
| JPS56159097A (en) * | 1980-05-08 | 1981-12-08 | Shimadzu Corp | X-ray tube current compensator circuit |
-
1988
- 1988-11-30 JP JP1988156357U patent/JPH0648800Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2018190581A (ja) * | 2017-05-01 | 2018-11-29 | 東芝電子管デバイス株式会社 | Ｘ線システムおよびｘ線管検査方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0276500U (ja) | 1990-06-12 |
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