JPS6359520B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6359520B2 JPS6359520B2 JP54068578A JP6857879A JPS6359520B2 JP S6359520 B2 JPS6359520 B2 JP S6359520B2 JP 54068578 A JP54068578 A JP 54068578A JP 6857879 A JP6857879 A JP 6857879A JP S6359520 B2 JPS6359520 B2 JP S6359520B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- value
- tube
- current
- voltage
- filament
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
- H05G1/08—Electrical details
- H05G1/26—Measuring, controlling or protecting
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Toxicology (AREA)
- X-Ray Techniques (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明はＸ線管電流設定装置に関する。
一般にＸ線管のエミツシヨン特性のカーブは第
１図に示すように、管電圧をパラメータとして表
わすことが出来る。そのため従来よりこのカーブ
（または各カーブにおける代表点）を記憶させて
おいて、設定された管電流および管電圧の各値よ
りフイラメント電流Ifを求め、このフイラメント
電流IfによりＸ線管を動作させて所望の管電流の
値を得るようにしている。勿論Ｘ線管のエミツシ
ヨン特性は種類によつて異なるため各種のＸ線管
についてのエミツシヨン特性のカーブを記憶させ
ておく必要がある。しかしながら個々のＸ線管に
よつてエミツシヨン特性のバラツキがあるもので
あり、また経時変化も避けられない。したがつて
記憶されたエミツシヨン特性のカーブは、標準カ
ーブとしての意味しかなく個々のＸ線管によつ
て、および定期的な保守点検時に、エミツシヨン
特性のカーブを補正する必要がある。
１図に示すように、管電圧をパラメータとして表
わすことが出来る。そのため従来よりこのカーブ
（または各カーブにおける代表点）を記憶させて
おいて、設定された管電流および管電圧の各値よ
りフイラメント電流Ifを求め、このフイラメント
電流IfによりＸ線管を動作させて所望の管電流の
値を得るようにしている。勿論Ｘ線管のエミツシ
ヨン特性は種類によつて異なるため各種のＸ線管
についてのエミツシヨン特性のカーブを記憶させ
ておく必要がある。しかしながら個々のＸ線管に
よつてエミツシヨン特性のバラツキがあるもので
あり、また経時変化も避けられない。したがつて
記憶されたエミツシヨン特性のカーブは、標準カ
ーブとしての意味しかなく個々のＸ線管によつ
て、および定期的な保守点検時に、エミツシヨン
特性のカーブを補正する必要がある。
本発明は、この標準エミツシヨン特性の補正
を、極めて簡単な構成により行うことが出来るＸ
線管電流設定装置を提供することを目的とする。
を、極めて簡単な構成により行うことが出来るＸ
線管電流設定装置を提供することを目的とする。
以下本発明の一実施例について図面を参照しな
がら説明する。第２図において１は管電圧の設定
器であり、２は管電流の設定器である。４はＸ線
管の標準エミツシヨン特性カーブを記憶している
記憶装置であり、設定された管電圧値および管電
流値によりアドレスが指定されるようになつてお
り、このアドレスに、相応するフイラメント電流
Ifの値が記憶されており、この値が読み出され
る。読み出されたフイラメント電流Ifはフイラメ
ントコントローラ６を経て高電圧発生装置７に送
られ、Ｘ線管８が動作する。
がら説明する。第２図において１は管電圧の設定
器であり、２は管電流の設定器である。４はＸ線
管の標準エミツシヨン特性カーブを記憶している
記憶装置であり、設定された管電圧値および管電
流値によりアドレスが指定されるようになつてお
り、このアドレスに、相応するフイラメント電流
Ifの値が記憶されており、この値が読み出され
る。読み出されたフイラメント電流Ifはフイラメ
ントコントローラ６を経て高電圧発生装置７に送
られ、Ｘ線管８が動作する。
ここで記憶装置４に第３図イで示すエミツシヨ
ン特性の標準カーブが記憶されているものとす
る。そして管電流設定器２によつて設定された管
電流値をmA1とすると、この標準カーブイより
フイラメント電流If1が求められる。したがつて
このIf1が読み出されて、Ｘ線管８のフイラメン
ト電流がIf1となるわけである。ところが実際の
エミツシヨン特性は異つており、ハで示されるカ
ーブであつたとする。すると実際の管電流は
mA2となる。このmA2が管電流測定器９により
測定されて、マイクロコンピユータ等からなる演
算装置３に送られ設定値mA1と測定値mA2との
誤差△１が求められる。
ン特性の標準カーブが記憶されているものとす
る。そして管電流設定器２によつて設定された管
電流値をmA1とすると、この標準カーブイより
フイラメント電流If1が求められる。したがつて
このIf1が読み出されて、Ｘ線管８のフイラメン
ト電流がIf1となるわけである。ところが実際の
エミツシヨン特性は異つており、ハで示されるカ
ーブであつたとする。すると実際の管電流は
mA2となる。このmA2が管電流測定器９により
測定されて、マイクロコンピユータ等からなる演
算装置３に送られ設定値mA1と測定値mA2との
誤差△１が求められる。
この誤差が設定値の数％（通常１〜２％前後、
なおJISでは10％以下と規定されている）を越え
たときに次にのべるように補正を行う。上記の誤
差の測定を１つのカーブの数点について行い、誤
差△１，△２，△３、…を得て、演算装置３によ
りこの誤差の算術平均を行い、管電流の誤差の平
均値を得る。そしてこの誤差の平均値に対応し
て、第３図に示すように標準カーブイを平行移動
して補正カーブロを得るようにする。そのために
は演算装置３において管電流の誤差の平均値に対
応してフイラメント電流Ifが補正されるように補
正係数Ｋを求め、この補正係数を記憶装置５に記
憶させておく。各カーブについて上記の操作を行
い、それぞれ補正係数を得てそれらを記憶装置５
に記憶させる。
なおJISでは10％以下と規定されている）を越え
たときに次にのべるように補正を行う。上記の誤
差の測定を１つのカーブの数点について行い、誤
差△１，△２，△３、…を得て、演算装置３によ
りこの誤差の算術平均を行い、管電流の誤差の平
均値を得る。そしてこの誤差の平均値に対応し
て、第３図に示すように標準カーブイを平行移動
して補正カーブロを得るようにする。そのために
は演算装置３において管電流の誤差の平均値に対
応してフイラメント電流Ifが補正されるように補
正係数Ｋを求め、この補正係数を記憶装置５に記
憶させておく。各カーブについて上記の操作を行
い、それぞれ補正係数を得てそれらを記憶装置５
に記憶させる。
こうして補正が終了する。補正後は設定された
管電流および管電圧の値にもとづき、記憶装置４
から標準カーブに相応するフイラメント電流が読
み出されるが、この読み出されたフイラメント電
流に補正係数が掛け合わされて補正カーブ上のフ
イラメント電流に変換される。したがつて第３図
に示すように、標準カーブイが補正カーブロのよ
うに移動したことになる。
管電流および管電圧の値にもとづき、記憶装置４
から標準カーブに相応するフイラメント電流が読
み出されるが、この読み出されたフイラメント電
流に補正係数が掛け合わされて補正カーブ上のフ
イラメント電流に変換される。したがつて第３図
に示すように、標準カーブイが補正カーブロのよ
うに移動したことになる。
なお上記の実施例ではエミツシヨン特性の標準
カーブとして曲線を用いているが、代表的な点の
みを結ぶ折線の場合にも、同様に適用出来ること
は勿論である。また管電流が連続可変出来ること
としているが、管電流を数点につき設定出来るタ
イプでも同様に適用出来る。さらにこれらのカー
ブをある範囲毎に区分けして同様に補正すればカ
ーブの全範囲で正確に補正できる。
カーブとして曲線を用いているが、代表的な点の
みを結ぶ折線の場合にも、同様に適用出来ること
は勿論である。また管電流が連続可変出来ること
としているが、管電流を数点につき設定出来るタ
イプでも同様に適用出来る。さらにこれらのカー
ブをある範囲毎に区分けして同様に補正すればカ
ーブの全範囲で正確に補正できる。
また設定したＸ線管の管電流値（例えばmA1）
を得るために必要なフイラメント電流の実際値
If2を測定する測定器を備えるようにし、演算装
置によつて、フイラメント電流の読み出された値
If1と実際値If2との誤差△If1を算出し、数点にお
けるこの誤差△If1，△If2，…の平均値を求め、
この平均値に対応するフイラメント電流の補正値
を求め、この補正値を記憶するようにしてもよ
い。
を得るために必要なフイラメント電流の実際値
If2を測定する測定器を備えるようにし、演算装
置によつて、フイラメント電流の読み出された値
If1と実際値If2との誤差△If1を算出し、数点にお
けるこの誤差△If1，△If2，…の平均値を求め、
この平均値に対応するフイラメント電流の補正値
を求め、この補正値を記憶するようにしてもよ
い。
なお管電流はフイラメント電圧または電力を制
御することによつても制御出来るので、上記では
フイラメント電流を制御することとしているが、
フイラメント電圧または電力を制御するようにし
ても良い。
御することによつても制御出来るので、上記では
フイラメント電流を制御することとしているが、
フイラメント電圧または電力を制御するようにし
ても良い。
以上実施例について説明したように、本発明に
よれば、Ｘ線管のエミツシヨン特性のカーブごと
に数点について試験動作を行うだけで、管電流の
誤差の平均値を求め、この平均値に基づいて標準
カーブを移動させるよう補正しているので、構成
が簡単でありしかも精度の高い補正が行える。こ
のように本発明によれば平均的に誤差が補正され
たことになり、次のように利点がある。すなわ
ち、エミツシヨン特性の経時変化は、Ｘ線管のフ
イラメント径、ガスの状態の変化などによつて生
じるため、特定の管電圧、管電流領域で起こるの
でなく、全ての領域で起こる。このことはある点
で求めた補正値は他の点に使用できることを意味
するとともに、ある点の補正値は他の点の補正値
をも勘案して決定すべきであることを意味する。
そのため、上記のような数点での補正値の平均処
理によつて補正値を求めることにより、補正値は
より正確なものとなるとともに、このようにして
求めた補正値は他の設定可能な点にも適用するこ
とができ、全ての設定可能点につき実際値を測定
して補正値を求めるという煩雑さを避けることが
できる。これに対して、設定された特定の管電流
点あるいはフイラメント管電流点につき実際値を
測定してその設定点に関する誤差のみからその点
に関する補正値を求める場合には、管電流あるい
はフイラメント電流の実測回路系の誤差や、Ｘ線
管球において生じ易いグロー放電による誤つた管
電流に直接影響され、誤つた補正値しか得られな
いことが多い。
よれば、Ｘ線管のエミツシヨン特性のカーブごと
に数点について試験動作を行うだけで、管電流の
誤差の平均値を求め、この平均値に基づいて標準
カーブを移動させるよう補正しているので、構成
が簡単でありしかも精度の高い補正が行える。こ
のように本発明によれば平均的に誤差が補正され
たことになり、次のように利点がある。すなわ
ち、エミツシヨン特性の経時変化は、Ｘ線管のフ
イラメント径、ガスの状態の変化などによつて生
じるため、特定の管電圧、管電流領域で起こるの
でなく、全ての領域で起こる。このことはある点
で求めた補正値は他の点に使用できることを意味
するとともに、ある点の補正値は他の点の補正値
をも勘案して決定すべきであることを意味する。
そのため、上記のような数点での補正値の平均処
理によつて補正値を求めることにより、補正値は
より正確なものとなるとともに、このようにして
求めた補正値は他の設定可能な点にも適用するこ
とができ、全ての設定可能点につき実際値を測定
して補正値を求めるという煩雑さを避けることが
できる。これに対して、設定された特定の管電流
点あるいはフイラメント管電流点につき実際値を
測定してその設定点に関する誤差のみからその点
に関する補正値を求める場合には、管電流あるい
はフイラメント電流の実測回路系の誤差や、Ｘ線
管球において生じ易いグロー放電による誤つた管
電流に直接影響され、誤つた補正値しか得られな
いことが多い。
第１図はＸ線管のエミツシヨン特性のカーブを
示すグラフ、第２図は本発明の一実施例のブロツ
ク図、第３図はエミツシヨン特性の標準カーブ、
実際のカーブおよび補正されたカーブを示すグラ
フである。 １……管電圧設定器、２……管電流設定器、３
……演算装置、４，５……記憶装置、６……フイ
ラメントコントローラ、７……高電圧発生装置、
８……Ｘ線管、９……管電流測定器。
示すグラフ、第２図は本発明の一実施例のブロツ
ク図、第３図はエミツシヨン特性の標準カーブ、
実際のカーブおよび補正されたカーブを示すグラ
フである。 １……管電圧設定器、２……管電流設定器、３
……演算装置、４，５……記憶装置、６……フイ
ラメントコントローラ、７……高電圧発生装置、
８……Ｘ線管、９……管電流測定器。
Claims (1)
- １ Ｘ線管の標準エミツシヨン特性に応じて管電
圧値および管電流値に対応する標準フイラメント
電流、電圧または電力を記憶している記憶装置
と、管電圧値および管電流値の設定器と、設定さ
れた管電圧値および管電流値に対応して前記記憶
装置より読み出された標準フイラメント電流、電
圧または電力に基づいて動作するＸ線管と、前記
Ｘ線管に流れる実際の管電流を測定する測定器
と、管電流の設定値と測定値との誤差を算出し、
複数の異なる設定値に対する測定値の誤差の平均
値を求め、この平均値に対応するフイラメント電
流、電圧または電力の補正値を求める演算装置
と、前記フイラメント電流、電圧または電力の補
正値を記憶する記憶装置とからなるＸ線管電流設
定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6857879A JPS55159596A (en) | 1979-05-31 | 1979-05-31 | X-ray tube electric current setting device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6857879A JPS55159596A (en) | 1979-05-31 | 1979-05-31 | X-ray tube electric current setting device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS55159596A JPS55159596A (en) | 1980-12-11 |
| JPS6359520B2 true JPS6359520B2 (ja) | 1988-11-18 |
Family
ID=13377789
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6857879A Granted JPS55159596A (en) | 1979-05-31 | 1979-05-31 | X-ray tube electric current setting device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS55159596A (ja) |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5823198A (ja) * | 1981-07-31 | 1983-02-10 | Toshiba Corp | Ｘ線装置 |
| DE8704182U1 (de) * | 1987-03-20 | 1987-07-09 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Computertomograph |
| JPS6460998A (en) * | 1987-08-31 | 1989-03-08 | Shimadzu Corp | High voltage power supply device for x-ray installing purpose |
| JP2576178B2 (ja) * | 1988-02-29 | 1997-01-29 | 株式会社島津製作所 | Ｘ線管電流調整装置 |
| JPH0648800Y2 (ja) * | 1988-11-30 | 1994-12-12 | ジーイー横河メディカルシステム株式会社 | Ｘ線管管電流補正回路 |
| JP5676096B2 (ja) * | 2009-12-03 | 2015-02-25 | 株式会社島津製作所 | Ｘ線撮影装置 |
| US9338868B2 (en) * | 2012-05-24 | 2016-05-10 | Shimadzu Corporation | Radiographic equipment |
| JP5644931B2 (ja) * | 2013-10-30 | 2014-12-24 | 株式会社島津製作所 | Ｘ線撮影装置 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2703420C2 (de) * | 1977-01-28 | 1985-11-21 | Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg | Verfahren zum Einstellen des durch eine Röntgenröhre fließenden Röhrenstromes und Schaltungsanordnung zur Durchführung des Verfahrens |
-
1979
- 1979-05-31 JP JP6857879A patent/JPS55159596A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS55159596A (en) | 1980-12-11 |
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