JPH0652173B2 - 光千渉角速度計 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 この発明は、閉ループ型ゼロ方式の光干渉角速度計に関
する。

「従来の技術」 広ダイナミックレンジおよび低ドリフトの光干渉角速度
計として、光ファイバコイルの一端側に光変調器として
構成された位相変調器を設け、これに位相変調用のラン
プ電圧を印加して、光ファイバコイルを伝搬する二つの
光の間に位相差を与えるとともに、光検出器の出力から
光ファイバコイルを伝搬して干渉する二つの光の間の位
相差を検出し、その検出出力によって、その位相差が２
ｍπラジアン（ｍ＝０，±１，±２……）になるよう
に、一般にはゼロ（ｍ＝０）になるように上記のランプ
電圧の極性と周波数を制御するものが考えられている。

第５図は、従来の、このような閉ループ型ゼロ方式の光
干渉角速度計の一例を示し、ランプ電圧として鋸歯状波
電圧を用いるリニア位相ランプ方式の場合で、光源１１
からの光１２が光結合器１３および偏光子１４を通じて
光分岐結合器１５に供給されて二つの光１６ａ，１６ｂ
に分岐され、その二つの光１６ａ，１６ｂが、一方の光
１６ａは光ファイバコイル１７の一端１７ａから、他方
の光１６ｂは光ファイバコイル１７の他端１７ｂから、
それぞれ光ファイバコイル１７に供給されて、一方の光
１６ａは左回り光として、他方の光１６ｂは右回り光と
して、それぞれ光ファイバコイル１７を伝搬し、この光
ファイバコイル１７を伝搬した二つの光１８ａ，１８ｂ
が、一方の光１８ａは光ファイバコイル１７の他端１７
ｂから、他方の光１８ｂは光ファイバコイル１７の一端
１７ａから、それぞれ光分岐結合器１５に供給されて互
いに干渉し、その得られた干渉光１９が偏光子１４およ
び光結合器１３を通じて光検出器２１に供給されて電気
信号に変換されるが、光分岐結合器１５と光ファイバコ
イル１７の他端１７ｂとの間に位相変調器２２が配さ
れ、これにバイアシング電圧発生回路２３からバイアシ
ング電圧Ｂｉが印加されて、光ファイバコイル１７の他
端１７ｂから光ファイバコイル１７に供給される光１６
ｂおよび光ファイバコイル１７を伝搬して光ファイバコ
イル１７の他端１７ｂから光分岐結合器１５に供給され
る光１８ａの位相が偏移されるとともに、光分岐結合器
１５と光ファイバコイル１７の一端１７ａとの間に位相
変調器２４が配され、これにランプ電圧発生回路３０か
らランプ電圧Ｌｐが印加されて、光ファイバコイル１７
の一端１７ａから光ファイバコイル１７に供給される光
１６ａおよび光ファイバコイル１７を伝搬して光ファイ
バコイル１７の一端１７ａから光分岐結合器１５に供給
される光１８ｂの位相が偏移され、そして、光検出器２
１の出力電圧Ｖａが位相差検出制御回路４０を構成する
同期検波回路４１に供給されてバイアシング電圧発生回
路２３からのバイアシング電圧Ｂｉにより同期検波され
て光分岐結合器１５において干渉する二つの光１８ａ，
１８ｂの間の位相差Δφが検出され、同期検波回路４１
の出力電圧ＶｂがＰＩＤフィルタ（比例積分微分フィル
タ）４２に供給され、ＰＩＤフィルタ４２の出力電圧、
すなわち位相差検出制御回路４０の出力電圧Ｖｃがラン
プ電圧発生回路３０に供給されて位相差Δφがゼロにな
るようにランプ電圧Ｌｐの極性と周波数が制御される。

バイアシング電圧Ｂｉによる位相変調器２２における位
相変調は、同期検波回路４１の出力電圧Ｖｂが上記の位
相差Δφの正弦値に比例した Ｖｂ＝ＫsinΔφ ……(1) となるように光干渉角速度計の動作点を設定するための
ものである。ただし、Ｋは定数である。

上記の位相差Δφは、光ファイバコイル１７に入力角速
度Ωが加えられることによって生じるサニャック位相差
Δφｓと位相変調器２４にランプ電圧Ｌｐが印加される
ことによって生じる位相差Δφｐの和として、 Δφ＝Δφｓ＋Δφｐ ……(2) で表されるが、サニャック位相差Δφｓは、周知のよう
に で表される。ただし、Ｒは光ファイバコイル１７の半
径、Ｌは光ファイバコイル１７における光ファイバ長、
λは光ファイバコイル１７を伝搬する光の波長、Ｃは真
空中における光速である。

そして、ランプ電圧Ｌｐは、第６図の上段の左側または
右側に示すように正または負の鋸歯状波電圧で、しか
も、その波高値に相当する最大値または最小値は、これ
による位相変調器２４における光の最大位相偏移が２ｋ
πラジアン（ｋ＝±１，±２……）になるような、一般
には±２πラジアンになるような値にされる。

すなわち、入力角速度Ωが左回り方向に加えられてサニ
ャック位相差Δφｓが負になるときには位相差検出制御
回路４０の出力電圧Ｖｃによってランプ電圧Ｌｐが正の
鋸歯状波電圧にされるが、このとき、光ファイバコイル
１７の一端１７ａから光ファイバコイル１７に供給され
る光１６ａが位相変調器２４において受ける位相偏移φ
ａおよび光ファイバコイル１７を伝搬して光ファイバコ
イル１７の一端１７ａから光分岐結合器１５に供給され
る光１８ｂが位相変調器２４において受ける位相偏移φ
ｂが第６図の下段左側の実線および破線で示すような関
係になって、上述した位相変調器２４にランプ電圧Ｌｐ
が印加されることによって生じる位相差Δφｐが正にな
り、入力角速度Ωが右回り方向に加えられるサニャック
位相差Δφｓが正になるときには位相差検出制御回路４
０の出力電圧Ｖｃによってランプ電圧Ｌｐが負の鋸歯状
波電圧にされるが、このとき、上記の位相偏移φａおよ
びφｂが第６図の下段右側の実線および破線で示すよう
な関係になって、上記の位相差ΔφＰが負になる。ただ
し、第６図のτは光が光ファイバコイル１７を伝搬する
のに要する時間である。

したがって、ランプ電圧Ｌｐの周期をＴ、周波数をｆと
すると、第６図から明らかなように となり、光ファイバコイル１７における光の屈折率をｎ
とすると、 の関係があるので、 となる。したがって、(2)式で表される位相差Δφがゼ
ロになるようにランプ電圧Ｌｐの極性と周波数ｆが制御
されることによって、(6)式および(3)式とΔφｐ＝−Δ
φｓとから となり、 で表される。ただし、入力角速度Ωが負方向である左回
り方向に加えられてランプ電圧Ｌｐが正の鋸歯状波電圧
になるときにはｋが正の整数になり、入力角速度Ωが正
方向である右回り方向に加えられてランプ電圧Ｌｐが負
の鋸歯状波電圧になるときにはｋが負の整数になる。

したがって、ランプ電圧Ｌｐの極性と周波数ｆから入力
角速度Ωの方向と大きさを計測することができる。

「発明が解決しようとする課題」 上述した位相変調器２４のような位相変調器は、一般
に、ニオブ酸リチウムなどからなる電気光学結晶にチタ
ンの拡散などによって光導波路を形成するとともに、変
調用の電圧を印加する一対の電極を形成して構成する
が、このような位相変調器における光の位相偏移量は、
電気光学結晶の電気光学定数γと印加電圧Ｖｐとの積γ
Ｖｐに比例し、しかも、その電気光学定数γは、温度依
存性があり、電気光学結晶のカット方向によって多少異
なるが、500ppm／℃程度の温度係数を有する。したがっ
て、位相変調器における光の位相偏移量は、印加電圧Ｖ
ｐが同じでも温度によって変化する。

しかしながら、上述した第５図に示す従来の光干渉角速
度計においては、ランプ電圧発生回路３０から位相変調
器２４に印加される位相変調用のランプ電圧Ｌｐの波高
値に相当する最大値または最小値が、例えば１５℃とい
うような、ある特定の温度において、これによる位相変
調器２４における光の最大位相偏移が２ｋπラジアンに
なるような固定された値にされるので、環境の変化によ
って光干渉角速度計の温度、したがって位相変調器２４
の温度が、その特定の温度と異なるときには、位相変調
器２４を構成する電気光学結晶の電気光学定数γが変化
することによって最大位相偏移が２ｋπラジアンからず
れ、入力角速度Ωとランプ電圧Ｌｐの周波数ｆとの関係
が(7)式ないし(8)式の関係からずれて、光干渉角速度計
の出力にスケールファクタエラーを生じる不都合があ
る。

第７図は、従来の光干渉角速度計における、このスケー
ルファクタエラーを示し、１５℃において最大位相偏移
が±２πラジアンになるようにランプ電圧Ｌｐの波高値
が設定された場合で、光干渉角速度計の温度が１５℃に
対して±７０℃の＋８５℃または−５５℃になると、最
大位相偏移が±２πラジアンから３．５％程度ずれ、ス
ケールファクタエラーが0.06％程度にもなる。ただし、
上述したようにランプ電圧Ｌｐが鋸歯状波電圧である場
合には、実際上、その鋸歯状波電圧にフライバック時間
が存在し、特定の温度においても厳密には(4)式が成立
せず、光干渉角速度計の出力にスケールファクタエラー
を生じるが、第７図はランプ電圧Ｌｐのフライバック時
間が５０ナノ秒という微小な時間にされてランプ電圧Ｌ
ｐのフライバック時間にようスケールファクタエラーが
微小にされた場合で、第７図に示されたスケールファク
タエラーはほとんど最大位相偏移が±２πラジアンから
ずれることによるものである。

そこで、この発明は、閉ループ型ゼロ方式の光干渉角速
度計において、所定範囲内の温度においてはランプ電圧
が印加される位相変調器の定数の温度による変化によっ
て光干渉角速度計の出力にスケールファクタエラーを生
じることがほとんどないようにしたものである。

「課題を解決するための手段」 この発明においては、閉ループ型ゼロ方式の光干渉角速
度計において、光干渉角速度計の温度を検出する温度検
出器と、この温度検出器の出力にもとづいて所定範囲内
の温度においては光干渉角速度計の温度にかかわらずラ
ンプ電圧が印加される位相変調器における光の最大位相
偏移が２πラジアンの整数倍になるようにランプ電圧の
波高値を制御する波高値制御回路とを設ける。

「作用」 上記のように構成された、この発明の光干渉角速度計に
おいては、所定範囲内の温度においては、光干渉角速度
計の温度にかかわらずランプ電圧が印加される位相変調
器における光の最大位相偏移が２πラジアンの整数倍に
なるようにランプ電圧の波高値が制御されるので、ラン
プ電圧が印加される位相変調器の定数の温度による変化
によって光干渉角速度計の出力にスケールファクタエラ
ーを生じることがほとんどない。

「実施例」 第１図は、この発明の光干渉角速度計の一例で、ランプ
電圧として鋸歯状波電圧を用いるリニア位相ランプ方式
の場合である。

光源１１、光結合器１３、偏光子１４、光分岐結合器１
５、光ファイバコイル１７、光検出器２１、バイアシン
グ電圧Ｂｉが印加される位相変調器２２、バイアシング
電圧発生回路２３、ランプ電圧Ｌｐが印加される位相変
調器２４、ランプ電圧発生回路３０および位相差検出制
御回路４０からなる系が設けられることは、第５図に示
した従来の光干渉角速度計と同じであり、その動作も、
後述するようにランプ電圧Ｌｐの波高値が制御される点
を除いては、第５図に示した従来の光干渉角速度計と同
じである。

ただし、位相変調器２４は、この例においては、ニオブ
酸リチウムなどのように電気光学定数γの温度係数が正
である電気光学結晶によって形成される。

また、ランプ電圧発生回路３０は、この例においては、
コンデンサ３１と、ランプ電圧発生回路３０の入力電圧
である位相差検出制御回路４０の出力電圧Ｖｃを電流に
変換してコンデンサ３１に供給する電圧電流変換回路３
２と、コンデンサ３１の放電用のスイッチ３３と、コン
デンサ３１の充電電圧を正の基準電圧＋Ｖｐｒと比較す
る電圧比較回路３５と、コンデンサ３１の充電電圧を負
の基準電圧−Ｖｍｒと比較する電圧比較回路３６と、電
圧比較回路３５および３６の出力の論理和を得るオアゲ
ート３７と、オアゲート３７の出力によってトリガーさ
れてスイッチ３３をオンにする単安定マルチバイブレー
タ３８とによって構成されて、位相差検出制御回路４０
の出力電圧Ｖｃが正になるときには、コンデンサ３１が
正に充電され、その充電電圧が基準電圧＋Ｖｐｒに達す
ると、電圧比較回路３５の出力、したがってオアゲート
３７の出力が低レベルから高レベルに立ち上がって単安
定マルチバイブレータ３８がトリガーされ、スイッチ３
３がオンにされてコンデンサ３１が放電される動作が繰
り返されることによって、コンデンサ３１の両端間にラ
ンプ電圧Ｌｐとして最大値が基準電圧＋Ｖｐｒに等しい
正の鋸歯状波電圧が得られ、位相差検出制御回路４０の
出力電圧Ｖｃが負になるときには、コンデンサ３１が負
に充電され、その充電電圧が基準電圧−Ｖｍｒに達する
と、電圧比較回路３５の出力、したがってオアゲート３
７の出力が低レベルから高レベルに立ち上がって単安定
マルチバイブレータ３８がトリガーされ、スイッチ３３
がオンにされてコンデンサ３１が放電される動作が繰り
返されることによって、コンデンサ３１の両端間にラン
プ電圧Ｌｐとして最小値が基準電圧−Ｖｍｒに等しい負
の鋸歯状波電圧が得られる。

この場合、スイッチ３３としては電解効果トランジスタ
などのようにオフ状態のときのリーク電流およびオン状
態のときの抵抗が十分小さいスイッチング素子が用いら
れるとともに、スイッチ３３がオンにされる時間、すな
わちランプ電圧Ｌｐのフラフイバック時間が十分短くな
るように単安定マルチバイブレータ３８の時定数が設定
される。

そして、この発明においては、温度検出器５０と、波高
値制御回路６０が設けられる。

温度検出器５０は、光干渉角速度計の温度、特に位相変
調器２４の温度を検出するもので、位相変調器２４の近
傍に配されるのが望ましいが、位相変調器２４との間に
温度差をほとんど生じない他の部分に設けられてもよ
く、例えば、使用環境によって光干渉角速度計の温度が
−５４℃から＋８５℃までの範囲内で変化するとして、
出力の検出電圧Ｖｔとして、第２図に示すように、光干
渉角速度計の温度が基準温度とする２５℃のときにはゼ
ロ（接地電位）となり、２５℃より高いときには正の電
圧となり、２５℃より低いときには負の電圧となる、光
干渉角速度計の温度に対して直線的に変化する電圧が得
られるようにされる。

波高値制御回路６０は、上記の検出電圧Ｖｔにもとづい
て、所定範囲内の温度においては、すなわち上記の例で
は−５４℃から＋８５℃までの範囲内においては光干渉
角速度計の温度にかかわらず位相変調器２４における光
の最大位相偏移が２ｋπラジアン（ｋ＝±１，±２…
…）になるように、この例では±２πラジアンになるよ
うにランプ電圧Ｌｐの波高値を制御するもので、この例
においては、正の電圧＋Ｖｐｏが得られる電圧源６１
と、負の電圧−Ｖｍｏが得られる電圧源６２と、検出電
圧Ｖｔから後述する補正電圧ＶｘおよびＶｙを得る補正
電圧発生回路６３と、電圧＋Ｖｐｏに対して補正電圧Ｖ
ｘを加算する加算回路６５と、電圧−Ｖｍｏに対して補
正電圧Ｖｙを加算する加算回路６６とによって構成さ
れ、加算回路６５および６６の出力電圧が、それぞれラ
ンプ電圧発生回路３０の上述した電圧比較回路３５およ
び３６に対する基準電圧＋Ｖｐｒおよび−Ｖｍｒとされ
る。

ここで、電圧＋Ｖｐｏおよび−Ｖｍｏは、光干渉角速度
計の温度が基準温度である２５℃で、後述するように補
正電圧ＶｘおよびＶｙがゼロとなり、電圧＋Ｖｐｏおよ
び−Ｖｍｏがそのまま基準電圧＋Ｖｐｒおよび−Ｖｍｒ
となって、ランプ電圧Ｌｐとして正の鋸歯状波電圧が得
られるときのランプ電圧Ｌｐの最大値が電圧＋Ｖｐｏと
なり、ランプ電圧Ｌｐとして負の鋸歯状波電圧が得られ
るときのランプ電圧Ｌｐの最小値が電圧−Ｖｍｏとなる
とき、位相変調器２４における光の最大位相偏移がそれ
ぞれ＋２πラジアンまたは−２πラジアンになるような
値に設定される。

また、補正電圧Ｖｘは、第２図に示すように、光干渉角
速度計の温度が２５℃で温度検出器５０の出力の検出電
圧Ｖｔがゼロのときにはゼロとなり、光干渉角速度計の
温度が２５℃より高く検出電圧Ｖｔが正の電圧になると
きには負の電圧となり、光干渉角速度計の温度が２５℃
より低く検出電圧Ｖｔが負の電圧になるときには正の電
圧となる、光干渉角速度計の温度に対して検出電圧Ｖｔ
とは逆の極性で直線的に変化し、しかも、その値がラン
プ電圧Ｌｐとしての正の鋸歯状波電圧が得られるときの
位相変調器２４を構成する電気光学結晶の正の温度係数
を有する電気光学定数γの温度による変化による位相変
調器２４における光の位相偏移量の変化を打ち消すもの
にされ、補正電圧Ｖｙは、同図に示すように、光干渉角
速度計の温度に対して補正電圧Ｖｘとは逆の極性で直線
的に変化し、しかも、その値がランプ電圧Ｌｐとして負
の鋸歯状波電圧が得られるときの位相変調器２４を構成
する電気光学結晶の正の温度係数を有する電気光学定数
γの温度による変化による位相変調器２４における光の
位相偏移量の変化を打ち消すものにされる。

したがって、サニャック位相差Δφｓが負になって位相
差検出制御回路４０の出力電圧Ｖｃが正となり、ランプ
電圧Ｌｐとしての正の鋸歯状波電圧が得られるときに
は、ランプ電圧Ｌｐの最大値が第３図の左側に示すよう
に電圧＋Ｖｐｏに光干渉角速度計の温度に対して上記の
ように変化する補正電圧Ｖｘが加算されたものになるこ
とによって、上述した−５４℃から＋８５℃までの範囲
内においては光干渉角速度計の温度にかかわらず位相変
調器２４における光の最大位相偏移が＋２πラジアンと
なり、サニャック位相差Δφｓが正になって位相差検出
制御回路４０の出力電圧Ｖｃが負となり、ランプ電圧Ｌ
ｐとして負の鋸歯状波電圧が得られるときには、ランプ
電圧Ｌｐの最小値が第３図の右側に示すように電圧−Ｖ
ｍｏに光干渉角速度計の温度に対して上記のように変化
する補正電圧Ｖｙが加算されたものになることによっ
て、上述した−５４℃から＋８５℃までの範囲内におい
ては光干渉角速度計の温度にかかわらず位相変調器２４
における光の最大位相偏移が−２πラジアンとなり、位
相変調器２４を構成する電気光学結晶の電気光学定数γ
の温度による変化によって光干渉角速度計の出力にスケ
ールファクタエラーを生じることがない。

ただし、補正電圧ＶｘおよびＶｙは温度検出器５０によ
って検出される温度が位相変調器２４の温度に等しいも
のとして設定されるので、温度検出器５０によって検出
される温度が位相変調器２４の温度と異なるときには、
位相変調器２４における光の最大位相偏移が±２πラジ
アンからずれ、位相変調器２４を構成する電気光学結晶
の電気光学定数γの温度による変化によって光干渉角速
度計の出力にスケールファクタエラーを生じるが、実際
上、温度検出器５０によって検出される温度と位相変調
器２４の温度とのずれはごく微小になり、位相変調器２
４における光の最大位相偏移はほぼ±２πラジアンにな
るので、そのスケールファクタエラーはごく微小にな
る。

なお、波高値制御回路６０は、温度検出器５０の出力の
検出電圧Ｖｔから上述した基準電圧＋Ｖｐｒおよび−Ｖ
ｍｒが直接得られるようにされてもよい。また、位相差
検出制御回路４０は、ＰＩＤフィルタ４２の代わりに同
様の機能を有する電気フィルタが用いられてもよい。

第４図は、この発明の光干渉角速度計の他の例で、ラン
プ電圧として段階波電圧を用いるディジタル位相ランプ
方式の場合である。

ディジタル位相ランプ方式の場合には、制御発生回路７
１からディジタル信号Ｄｐが得られ、そのディジタル信
号ＤｐがＤ／Ａコンバータ７２によってアナログ信号に
変換されてＤ／Ａコンバータ７２からランプ電圧Ｌｐと
して正または負の階段波電圧が得られ、そのランプ電圧
Ｌｐが位相変調器２４に印加されるとともに、ＰＩＤフ
ィルタ４２の出力電圧ＶｃがＡ／Ｄコンバータ７３によ
ってディジタル信号Ｄｃに変換され、そのディジタル信
号Ｄｃが制御発生回路７１に供給されて、制御発生回路
７１の一部およびＤ／Ａコンバータ７２がランプ電圧発
生回路３０を構成するとともに、同期検出回路４１、Ｐ
ＩＤフィルタ４２、Ａ／Ｄコンバータ７３および制御発
生回路７１の一部が位相差検出制御回路４０を構成し、
また、クロック発生回路７４から得られるクロックＣＬ
によってバイアシング電圧発生回路２３からバイアシン
グ電圧Ｂｉとして矩形波電圧が得られるとともに、クロ
ックＣＬによってＡ／Ｄコンバータ７３および制御発生
回路７１が制御される。

そして、この例においては、ランプ電圧発生回路３０を
構成するＤ／Ａコンバータ７２に対して、温度検出器５
０の出力の検出電圧Ｖｔによって上述した−５４℃から
＋８５℃までの範囲内においては光干渉角速度計の温度
にかかわらず位相変調器２４における光の最大位相偏移
が±２πラジアンになるようにランプ電圧Ｌｐの波高値
を制御する波高値制御回路６０が設けられる。

したがって、この例においても、位相変調器２４を構成
する電気光学結晶の電気光学定数γの温度による変化に
よって光干渉角速度計の出力にスケールファクタエラー
を生じることがほとんどない。

なお、ＰＩＤフィルタ４２の代わりに同様の機能を有す
る電気フィルムが用いられてもよいとともに、このＰＩ
Ｄフィルタ４２ないし電気フィルタの機能は制御発生回
路７１において実行されてもよい。

「発明の効果」 上述したように、この発明によれば、光干渉角速度計の
温度を検出する温度検出器と、この温度検出器の出力に
もとづいて所定範囲内の温度においては光干渉角速度計
の温度にかかわらずランプ電圧が印加される位相変調器
における光の最大位相偏移が２πラジアンの整数倍にな
るようにランプ電圧の波高値を制御する波高値制御回路
が設けられることによって、所定範囲内の温度において
はランプ電圧が印加される位相変調器の定数の温度によ
る変化によって光干渉角速度計の出力にスケールファク
タエラーを生じることがほとんどない。

【図面の簡単な説明】

第１図は、この発明の光干渉角速度計の一例を示す系統
図、第２図および第３図は、その各部に得られる電圧を
示す図、第４図は、この発明の光干渉角速度計の他の例
を示す系統図、第５図は、従来の光干渉角速度計の一例
を示す系統図、第６図および第７図は、その説明のため
の図である。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】光ファイバコイルと、 光源と、 この光源からの光を二つに分岐して上記光ファイバコイ
   ルの一端および他端から上記光ファイバコイルに供給す
   るとともに、上記光ファイバコイルを伝搬した二つの光
   を干渉させる光分岐結合器と、 この光分岐結合器から得られる干渉光を検出する光検出
   器と、 上記光分岐結合器と上記光ファイバコイルの一端との間
   に配された位相変調器と、 この位相変調器に印加される位相変調用のランプ電圧を
   発生するランプ電圧発生回路と、 上記光検出器の出力から上記光分岐結合器において干渉
   する二つの光の間の位相差を検出し、その検出出力によ
   って、その位相差が２ｍπラジアン（ｍ＝０，±１，±
   ２……）になるように上記ランプ電圧発生回路を制御す
   る位相差検出制御回路と、 を備える光干渉角速度計において、 光干渉角速度計の温度を検出する温度検出器と、 この温度検出器の出力にもとづいて所定範囲内の温度に
   おいては光干渉角速度計の温度にかかわらず上記位相変
   調器における光の最大位相偏移が２πラジアンの整数倍
   になるように上記ランプ電圧の波高値を制御する波高値
   制御回路と、 が設けられた光干渉角速度計。