JPH0652242B2 - 等間隔で移動する同一物品の検品及び計数方法 - Google Patents
等間隔で移動する同一物品の検品及び計数方法Info
- Publication number
- JPH0652242B2 JPH0652242B2 JP21582088A JP21582088A JPH0652242B2 JP H0652242 B2 JPH0652242 B2 JP H0652242B2 JP 21582088 A JP21582088 A JP 21582088A JP 21582088 A JP21582088 A JP 21582088A JP H0652242 B2 JPH0652242 B2 JP H0652242B2
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- sensor
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） この発明は、例えば、テープ上に等間隔で貼られたラベ
ルやコンベアにより等間隔で移動する電気部品の如き物
品の欠品や欠損等の検査と計数とを行うための、等間隔
で移動する同一物品の検品及び計数方法に関するもので
ある。
ルやコンベアにより等間隔で移動する電気部品の如き物
品の欠品や欠損等の検査と計数とを行うための、等間隔
で移動する同一物品の検品及び計数方法に関するもので
ある。
（従来の技術） 等間隔で移動する同一物品の欠品や欠損等を検査し計数
するために従来から行われている方法は、センサーを使
用して最初に同期信号を取り、検査しようとする条件に
もとづいた論理回路を作って、この論理にもとづいて必
要なセンサーを設置する方法が採られていた。
するために従来から行われている方法は、センサーを使
用して最初に同期信号を取り、検査しようとする条件に
もとづいた論理回路を作って、この論理にもとづいて必
要なセンサーを設置する方法が採られていた。
（発明が解決しようとする問題点） 上記した従来の検品及び計数方法によると、検査条件に
よっては複数の論理回路が必要となり、この複数の回路
のそれぞれに使用するセンサーは高精度のセッティング
が要求され、そのＯＮ・ＯＦＦ点検等に多大の手数を要
するとともに、多くの場合マイクロコンピューターが必
要となって高価な装置となり、取り扱いが複雑となる等
の問題点があった。
よっては複数の論理回路が必要となり、この複数の回路
のそれぞれに使用するセンサーは高精度のセッティング
が要求され、そのＯＮ・ＯＦＦ点検等に多大の手数を要
するとともに、多くの場合マイクロコンピューターが必
要となって高価な装置となり、取り扱いが複雑となる等
の問題点があった。
この発明は上記した従来方法の問題点を解消して、セン
サーが最少の２個で足り、簡単な装置で検査範囲の広い
検品と計数とが行える、等間隔で移動する同一物品の検
品及び計数方法を提供することを目的とするものであ
る。
サーが最少の２個で足り、簡単な装置で検査範囲の広い
検品と計数とが行える、等間隔で移動する同一物品の検
品及び計数方法を提供することを目的とするものであ
る。
（問題点を解決するための手段） 上記の目的を達するためのこの発明は、特許請求の範囲
に記載した構成を持ち、等間隔で移動する同一物品の欠
品や欠損等の異常及び数量をカウント信号により知っ
て、所期の目的を達成できるものである。
に記載した構成を持ち、等間隔で移動する同一物品の欠
品や欠損等の異常及び数量をカウント信号により知っ
て、所期の目的を達成できるものである。
（実施例） 以下この発明を図面に示す実施例にもとづいて説明す
る。
る。
第１図は本発明の対象となる物品例を示し、(A),(B),
(C),(D)はテープ(1)上にラベル(2)が等間隔で貼られた
例であって、(A)には抜かす(X1)が残ったま付着してお
り、(B)には欠品(X2)があり、(C)にはラベルとラベルと
の間の広い場所(X3)があり、(D)にはラベル(2)の欠損品
(X4)がある。(E)はテープ(1)に穴(3)が並んであけられ
ている例で、穴(3)の欠落(X5)がある。(F)はコンベア
(4)上に２本の突起物(5′)を持っている電気部品(5)が
乗って移動する例で、突起物(5′)の１本欠落(X6)があ
る。
(C),(D)はテープ(1)上にラベル(2)が等間隔で貼られた
例であって、(A)には抜かす(X1)が残ったま付着してお
り、(B)には欠品(X2)があり、(C)にはラベルとラベルと
の間の広い場所(X3)があり、(D)にはラベル(2)の欠損品
(X4)がある。(E)はテープ(1)に穴(3)が並んであけられ
ている例で、穴(3)の欠落(X5)がある。(F)はコンベア
(4)上に２本の突起物(5′)を持っている電気部品(5)が
乗って移動する例で、突起物(5′)の１本欠落(X6)があ
る。
上記した、(A)(B)(C)(D)(E)(F)例は、２個のセンサーを
用いる簡単に検品及び計数ができる。
用いる簡単に検品及び計数ができる。
次に第２図、第３図によって第１図(A)を対象とする検
品及び計数方法を説明する。
品及び計数方法を説明する。
テープ(1)は左右どちらかの方向に進行してもよいが、
ここではＲ矢印の方向に進行するものとする。
ここではＲ矢印の方向に進行するものとする。
第１センサー(11)が相隣れるラベル(2)の間を検出する
位置にあるとき、第２センサー(12)は第１センサー(11)
の隣りに位置するラベル(2)を除く他のラベル(2)の任意
の個所を検出する位置にあるようにセットして、第１セ
ンサー(11)と第２センサー(12)との間の距離がラベル
(2)同志間距離の非整数倍距離となるようにして、第１
センサー(11)と第２センサー(12)とが交互に信号を発す
るようにセットする。
位置にあるとき、第２センサー(12)は第１センサー(11)
の隣りに位置するラベル(2)を除く他のラベル(2)の任意
の個所を検出する位置にあるようにセットして、第１セ
ンサー(11)と第２センサー(12)との間の距離がラベル
(2)同志間距離の非整数倍距離となるようにして、第１
センサー(11)と第２センサー(12)とが交互に信号を発す
るようにセットする。
この第１センサー(11)は第１波形成形器(21)を経て第１
カウンター(31)に接続され、同様に第２センサーは第２
波形成形器(22)を経て第２カウンター(32)に接続される
とともに、第１センサー(11)からの信号で第２カウンタ
ー(32)をリセットし、同様に第２カウンター(12)からの
信号で第１カウンター(31)をリセットするリセット回路
(41)(42)が設けてある。
カウンター(31)に接続され、同様に第２センサーは第２
波形成形器(22)を経て第２カウンター(32)に接続される
とともに、第１センサー(11)からの信号で第２カウンタ
ー(32)をリセットし、同様に第２カウンター(12)からの
信号で第１カウンター(31)をリセットするリセット回路
(41)(42)が設けてある。
さらに計数用カウンター(50)が別に設けてあって、第１
センサー(11)または第２センサー(12)のうちのラベルが
後に通過する位置にあるセンサー〔第２図では第１セン
サー(11)〕の信号を切替スイッチ(51)を経て受け入れる
ことによりラベルの枚数が計数される。
センサー(11)または第２センサー(12)のうちのラベルが
後に通過する位置にあるセンサー〔第２図では第１セン
サー(11)〕の信号を切替スイッチ(51)を経て受け入れる
ことによりラベルの枚数が計数される。
上記した第１センサー(11)及び第２センサー(12)は、光
の透過率を検出する透過型光センサーを用いるが、この
センサーに関しては透過型光センサー以外に、対象とな
る物品によって反射型光センサーや、リミットスイッチ
型の機械式センサーを使用する場合もある。
の透過率を検出する透過型光センサーを用いるが、この
センサーに関しては透過型光センサー以外に、対象とな
る物品によって反射型光センサーや、リミットスイッチ
型の機械式センサーを使用する場合もある。
第３図は第１センサー(11)及び第２センサー(12)が検出
した信号を波形で示したもので、(イ)はラベル(2)の部分
がテープ(1)と重なっているため光が透過せず、相隣れ
るラベル(2)の間(1a)がテープ(1)のみ１枚であるため光
を透過して検出されている状態を示し、(ロ)及び(ハ)は、
(イ)の波形を第１波形成形器(21)により成形してラベル
(2)の進行方向に対する後端(2a)及び前端(2b)を検出し
た形にして示したもので、このようにラベル(2)の特定
位置を細く現せば第１センサー(11)と第２センサー(12)
とが交互に発する信号の間隔が接近している場合に信号
が重なり合って所期の目的に達し得ないといったことが
無くなって、第１センサー(11)と第２センサー(12)との
セッティングにおいてその間隔の設定範囲がより広くな
り容易となるものである。
した信号を波形で示したもので、(イ)はラベル(2)の部分
がテープ(1)と重なっているため光が透過せず、相隣れ
るラベル(2)の間(1a)がテープ(1)のみ１枚であるため光
を透過して検出されている状態を示し、(ロ)及び(ハ)は、
(イ)の波形を第１波形成形器(21)により成形してラベル
(2)の進行方向に対する後端(2a)及び前端(2b)を検出し
た形にして示したもので、このようにラベル(2)の特定
位置を細く現せば第１センサー(11)と第２センサー(12)
とが交互に発する信号の間隔が接近している場合に信号
が重なり合って所期の目的に達し得ないといったことが
無くなって、第１センサー(11)と第２センサー(12)との
セッティングにおいてその間隔の設定範囲がより広くな
り容易となるものである。
また(ニ)は第２センサー(12)が進行方向におけるラベル
(2)の長さ(l)を検出した状態をそのまま示した波形であ
る。
(2)の長さ(l)を検出した状態をそのまま示した波形であ
る。
かくして第１センサー(11)が相隣れるラベル(2)の間(1
a)またはラベルの後端(2a)または前端(2b)を検出して、
第１波形成形器(21)を経て波形信号を第１カウンター(3
1)に入力し、同時にカウンター回路(41)を経て第２カウ
ンター(32)をリセットし、同様に第２センサー(12)がラ
ベル(2)の進行方向の長さ(l)を検出し、第２波形成形器
(22)を経て波形信号を第２カウンター(32)に入力し、同
時にカウンター回路(42)を経て第１カウンター(31)をリ
セットする。
a)またはラベルの後端(2a)または前端(2b)を検出して、
第１波形成形器(21)を経て波形信号を第１カウンター(3
1)に入力し、同時にカウンター回路(41)を経て第２カウ
ンター(32)をリセットし、同様に第２センサー(12)がラ
ベル(2)の進行方向の長さ(l)を検出し、第２波形成形器
(22)を経て波形信号を第２カウンター(32)に入力し、同
時にカウンター回路(42)を経て第１カウンター(31)をリ
セットする。
こうして第１カウンター(31)がカウントしたら同時に
第２カウンター(32)がリセットされて０に戻り、同様に
第２カウンター(32)がカウントしたら第１カウンター
(31)がリセットされて０に戻り、ラベル(2)が正常に並
んでいれば出力にカウントが現れることはない。
第２カウンター(32)がリセットされて０に戻り、同様に
第２カウンター(32)がカウントしたら第１カウンター
(31)がリセットされて０に戻り、ラベル(2)が正常に並
んでいれば出力にカウントが現れることはない。
次に相隣れるラベル(2)の間に付着している抜かす(X1)
が第２センサー(12)の位置に来ると、この第２センサー
(12)は、抜かす(X1)によってつながった２枚のラベル
(2)(2)が１枚のラベルとして検出されることとなり、そ
の間に１回第１カウンター(31)をリセットする筈のもの
がリセットされず、第１センサー(11)がラベルの間(1a)
を２度検出して、出力にカウントが現れる。
が第２センサー(12)の位置に来ると、この第２センサー
(12)は、抜かす(X1)によってつながった２枚のラベル
(2)(2)が１枚のラベルとして検出されることとなり、そ
の間に１回第１カウンター(31)をリセットする筈のもの
がリセットされず、第１センサー(11)がラベルの間(1a)
を２度検出して、出力にカウントが現れる。
こうして第１カウンター(31)または第２カウンター(32)
のどちらかのリセットが働かず出力にカウントが現れ
ることはラベル(2)に何らかの異常があることを示して
おり、この場合直ちにテープの進行を停止させて異常個
所を手直しする。
のどちらかのリセットが働かず出力にカウントが現れ
ることはラベル(2)に何らかの異常があることを示して
おり、この場合直ちにテープの進行を停止させて異常個
所を手直しする。
以上の構成において、第１図Ｂの場合は欠品(X2)のある
ことを第２センサー(12)が検出し、同じく(C)の場合ラ
ベルとラベルの間の広い場所(X3)を第１センサー(11)が
検出し、同じくＤの場合は欠損品(X4)を第２センサー(1
2)が検出し、同じくＥの場合は穴(3)の欠落(X5)を第２
センサー(12)が検出し、同じくＦの場合は突起物(5′)
の１本欠落(X6)を第２センサー(12)が検出して、上述し
た第２図の説明と同様に、出力に異常を示すカウント
(2)が現れるものである。
ことを第２センサー(12)が検出し、同じく(C)の場合ラ
ベルとラベルの間の広い場所(X3)を第１センサー(11)が
検出し、同じくＤの場合は欠損品(X4)を第２センサー(1
2)が検出し、同じくＥの場合は穴(3)の欠落(X5)を第２
センサー(12)が検出し、同じくＦの場合は突起物(5′)
の１本欠落(X6)を第２センサー(12)が検出して、上述し
た第２図の説明と同様に、出力に異常を示すカウント
(2)が現れるものである。
次にラベルの計数はラベル(2)が後に通過する位置にあ
るセンサー、すなわち、第２図の場合第１センサー(11)
の信号を直接計数用カウンター(50)がカウントするもの
で、こうすることによってラベル(2)に異常があった場
合、先に通過する位置にある第２センサー(12)が検出し
て手直しされるので、後に通過する第１センサー(11)か
らの信号で計数する方が正確な結果が得られる。
るセンサー、すなわち、第２図の場合第１センサー(11)
の信号を直接計数用カウンター(50)がカウントするもの
で、こうすることによってラベル(2)に異常があった場
合、先に通過する位置にある第２センサー(12)が検出し
て手直しされるので、後に通過する第１センサー(11)か
らの信号で計数する方が正確な結果が得られる。
なお、第１図Ｃの如く後に通過する第１センサー(11)に
よらなければ異常が検出されない場合であっても、異常
が検出されたときには既に異常のあるラベル(2)はカウ
ントされているから、計数間違いが生じることはない。
よらなければ異常が検出されない場合であっても、異常
が検出されたときには既に異常のあるラベル(2)はカウ
ントされているから、計数間違いが生じることはない。
このようにして検品、計数したラベルテープは、ラベル
が正しく整列していて不良個所が無いものとなり、ラベ
ルテープを巻いたロールラベルを使用している計量器、
バーコードプリンター、自動ラベル貼付機等においてト
ラブルが生じることが無くなり、円滑な作業が行えるも
のである。
が正しく整列していて不良個所が無いものとなり、ラベ
ルテープを巻いたロールラベルを使用している計量器、
バーコードプリンター、自動ラベル貼付機等においてト
ラブルが生じることが無くなり、円滑な作業が行えるも
のである。
なお、本発明は上述したラベルや電気部品以外に、産業
界において種々の物品に広く応用可能なものである。
界において種々の物品に広く応用可能なものである。
（発明の効果） 以上説明したこの発明に係る、等間隔で移動する同一物
品の検品及び計数方法によれば、装置がセンサーを２個
使用するのみで、極めて簡単に操作でき、安価な装置が
得られるとともに、２個のセンサーのセッティング間隔
を厳密に行う必要がないためセッティングによるミスも
なくなりセッティング替え等の取り扱いも容易となり、
かつ利用範囲が広く信頼性の高い、等間隔で移動する同
一物品の検品及び計数を行うことができるものである。
品の検品及び計数方法によれば、装置がセンサーを２個
使用するのみで、極めて簡単に操作でき、安価な装置が
得られるとともに、２個のセンサーのセッティング間隔
を厳密に行う必要がないためセッティングによるミスも
なくなりセッティング替え等の取り扱いも容易となり、
かつ利用範囲が広く信頼性の高い、等間隔で移動する同
一物品の検品及び計数を行うことができるものである。
第１図は本発明による検品及び計数の対象となる物品例
を示す図、第２図は本発明の構成の一例を示す図、第３
図はセンサーが検知して発した信号を波形成形した状態
を示す図である。 １……テープ、1a……物品と物品の間 ２……ラベル（物品）、11……第１センサー 12……第２センサー、21……第１波形成形器 22……第２波形成形器、31……第１カウンター 32……第２カウンター 41,42……リセット回路 50……計数用カウンター
を示す図、第２図は本発明の構成の一例を示す図、第３
図はセンサーが検知して発した信号を波形成形した状態
を示す図である。 １……テープ、1a……物品と物品の間 ２……ラベル（物品）、11……第１センサー 12……第２センサー、21……第１波形成形器 22……第２波形成形器、31……第１カウンター 32……第２カウンター 41,42……リセット回路 50……計数用カウンター
Claims (1)
- 【請求項１】等間隔で移動する同一物品の特定位置また
は該物品と物品の間を検出する第１センサーと、 該第１センサーから、物品間距離の非整数倍距離で、少
なくとも物品間距離より大きい距離を持って設置された
第２センサーと、 上記第１及び第２センサーにそれぞれ接続した第１カウ
ンター及び第２カウンターとを設け、 上記第１センサーの出力で上記第１カウンターへの入力
と上記第２カウンターのリセットとを行い、 上記第２センサーの出力で上記第２カウンターへの入力
と上記第１カウンターのリセットとを行い、 上記第１、第２カウンターからの出力にカウント(2)が
現れることで上記物品に欠品、欠損等の異常のあること
を検知し、上記第１、第２センサーの何れか一方からの
出力をもって上記物品の計数を行うことを特徴とする、
等間隔で移行する同一物品の検品及び計数方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21582088A JPH0652242B2 (ja) | 1988-08-29 | 1988-08-29 | 等間隔で移動する同一物品の検品及び計数方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21582088A JPH0652242B2 (ja) | 1988-08-29 | 1988-08-29 | 等間隔で移動する同一物品の検品及び計数方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0262946A JPH0262946A (ja) | 1990-03-02 |
| JPH0652242B2 true JPH0652242B2 (ja) | 1994-07-06 |
Family
ID=16678801
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21582088A Expired - Lifetime JPH0652242B2 (ja) | 1988-08-29 | 1988-08-29 | 等間隔で移動する同一物品の検品及び計数方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0652242B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4994615B2 (ja) * | 2005-08-02 | 2012-08-08 | オプテックスエフエー株式会社 | パターン検査方法および装置 |
| WO2008126150A1 (ja) * | 2007-04-03 | 2008-10-23 | Tac Kasei Co., Ltd. | Ｒｆｉｄ粘着ラベル連続体の製造方法 |
| CN111824522B (zh) * | 2019-04-18 | 2024-07-12 | 舟山市质量技术监督检测研究院 | 零误差电子数粒机 |
-
1988
- 1988-08-29 JP JP21582088A patent/JPH0652242B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0262946A (ja) | 1990-03-02 |
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