JPH0653784A - フリップフロップ回路 - Google Patents

フリップフロップ回路

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JPH0653784A
JPH0653784A JP4201527A JP20152792A JPH0653784A JP H0653784 A JPH0653784 A JP H0653784A JP 4201527 A JP4201527 A JP 4201527A JP 20152792 A JP20152792 A JP 20152792A JP H0653784 A JPH0653784 A JP H0653784A
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JP
Japan
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output
gate
buffer
inverter
clock signal
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP4201527A
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English (en)
Inventor
Hiroyuki Yamada
浩幸 山田
Shohei Seki
昇平 関
Yasushi Kawakami
康 川上
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Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 クリティカルパスを短くして動作速度が速く
高集積化に適し歩留りのよいフリップフロップ回路を提
供する。 【構成】 フリップフロップ回路を単相入力データを入
力するコントロール部31,34と、相補出力を発生す
るラッチ部33〜36と、短パルス発生手段32,4
2,61と、短パルス発生手段32,42,61によっ
てコントロール部31,34とラッチ部との接続を制御
するトランスファゲート51,52とによって構成し、
コントロール部31,34からラッチ部33〜36への
データの転送を行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ディジタル回路におけ
るフリップフロップ回路(以下、FF回路とする)、特
にディレイタイプフリップフロップ回路(以下、D−F
F回路とする)に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、D−FF回路として、例えば、電
機通信学会 技術研究報告、SSD84−115(19
85) 市岡、田中、角谷、松浦、川上、石田著 「1
GHz低消費電力GaAs可変分周器」P89〜96に
示されるようなものがある。図11は従来のFF回路の
一構成例を示す回路図である。
【0003】図示の回路は、超高速、低消費電力の可変
分周器に用いられたものであり、データD用の入力端子
1、クロック信号CK用の入力端子2、出力信号Q用の
出力端子3及び逆相出力信号Q−N(以下、逆相を−N
によって表す)用の出力端子4を有している。そして、
それらの入出力端子1〜4間に6個のノアゲート(以
下、NORゲートとする。)11〜16が接続されてい
る。各NORゲート11〜16は例えばGaAsを用い
た複数個のショットキー障壁ゲート電界効果トランジス
タ(以下、MESFETとする。)によって構成されて
いる。
【0004】前記の構成において、クロック信号CK及
びデータDが高レベル(以下「H」とする。)の場合、
NORゲート11の出力が「H」、NORゲート12、
13の出力が低レベル(以下「L」とする。)となる。
次に、クロック信号CKが「H」から「L」に移ると
き、NORゲート13の出力が「L」から「H」に変わ
り、NORゲート15の出力信号が「H」に確定する。
【0005】一方、クロック信号CKが「H」、データ
Dが「L」の場合、NORゲート14の出力が「H」、
NORゲート11/13の出力が「L」になる。次に、
クロック信号CKが「H」から「L」に移るとき、NO
Rゲート12の出力が「L」から「H」に変わり、NO
Rゲート15の出力信号Qが「L」に確定する。したが
って、クロック信号CKに同期して出力信号Q及び逆相
出力信号Q−Nが出力端子3,4から出力される。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記従
来のFF回路では以下のような問題点を有している。 (1)従来のFF回路においては、その動作速度が遅く
なる。つまり、従来のFF回路においては、最長経路で
あるクリティカルパスが長くなるため信号の伝播時間が
長くなり、FF回路の動作速度が遅くなる。 (2)また、従来のFF回路は、高集積化に適さない。
動作速度が遅いFF回路による素子によって高集積化を
行うと、集積回路の動作速度は遅くなり利用価値が低下
する。 (3)また、従来のFF回路による集積回路においては
歩留りが低下する。
【0007】つまり、前記のように従来のFF回路にお
いては高集積化が適さず、素子数の増加が望めないた
め、集積回路を構成して製造した場合その製造の歩留り
は低下することとなる。本発明は、前記従来の問題点を
除去して、クリティカルパスを短くして動作速度が速
く、高集積化に適し、歩留りのよいFF回路を提供する
ことを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】前記の目的を達成するた
めに、本発明は、フリップフロップ回路を単相入力デー
タを入力するコントロール部と、相補出力を発生するラ
ッチ部と、短パルス発生手段と、前記短パルス発生手段
によってコントロール部とラッチ部との接続を制御する
トランスファゲートとによって構成し、コントロール部
からラッチ部へのデータの転送を行うものである。
【0009】そして、短パルス発生手段はクロック信号
を入力信号とし該クロック信号よりも短いパルス信号を
形成するものである。また、コントロール部は単相入力
データを入力するインバータと、単相入力データ及びイ
ンバータの出力を入力するバッファとから構成すること
ができる。また、短パルス発生手段の発生するパルス信
号のパルス幅はコントロール部のセットアップ時間とラ
ッチ部のホールド時間の和とすることができる。
【0010】
【作用】本発明によれば、前記のような構成によって、
クロック信号よりパルス幅の短いパルスを用いてフリッ
プフロップの動作を行うことができ、これによってクリ
ティカルパスを短くして動作速度が速く高集積化に適し
た留りのよいフリップフロップ回路を構成することがで
きる。
【0011】
【実施例】以下、本発明の実施例について図面を参照し
ながら詳細に説明する。図1は本発明のフリップフロッ
プ回路の実施例を示す回路図であり、この回路に用いら
れる基本回路として例えば、Direct Coupl
ed FETLogic(以下、DCFLとする)があ
る。
【0012】図において、20はデータ信号端子、21
はクロック信号端子、22はデータ出力端子、23は逆
相データ出力端子、31〜36は第1〜第6のインバー
タ、41,42は第1,第2のバッファ、51,52は
第1,第2のトランスファゲート、61は第1の2入力
NORゲート、VDDは電圧源、Dはデータ信号、CK
はクロック信号である。
【0013】データ信号Dは入力端子20より入力さ
れ、第1のインバータ31及び第1のバッファ41の入
力に接続される。第1のインバータ31の出力は第1の
トランスファゲート51のゲート電極以外の片側の電極
に接続されるとともに、第1のバッファ41の逆相入力
に接続される。また、第1のバッファの出力41は第2
のトランスファゲート52のゲート電極以外の片側の電
極に接続される。
【0014】第1のトランスファゲート51のゲート電
極以外の他方の電極は第3及び第5のインバータ33,
35の入力及び第4のインバータ34の出力に接続され
る。また、第2のトランスファゲート52のゲート電極
以外の他方の電極は第4及び第6のインバータ34,3
6の入力及び第3のインバータ33の出力に接続され
る。
【0015】そして、第5のインバータ35の出力はデ
ータ出力端子22から出力され、一方、第6のインバー
タ36の出力は逆相データ出力端子23から出力され
る。また、クロック信号はクロック信号端子21から入
力されるものであり、該クロック信号端子21は、第2
のインバータ32の入力端子及び第1の2入力NORゲ
ート61の第1の入力端子に接続される。前記第2のイ
ンバータ32の出力は第2のバッファ42の入力端子に
接続され、該第2のバッファ42の出力端子は第1の2
入力NORゲート61の第2の入力に接続される。そし
て、第1の2入力NORゲート61の出力は第1及び第
2のトランスファゲート51,52のゲート電極に接続
される。
【0016】ここで、前記第1のバッファ41、及び第
2のバッファ42の構成について説明する。図2は本発
明のフリップフロップ回路の第1のバッファの構成図で
ある。図において、71,72は第1,第2のD−FE
T、81は第1のバッファ入力端子、82は第1のバッ
ファ逆相入力端子、83は第1のバッファ出力端子、V
DDは電圧源である。
【0017】第1のバッファ41は第1のデプレッショ
ン型電界効果トランジスタ(以下、D−FETとす
る。)71と第2のD−FET72により構成される。
第1のD−FET71のドレイン電極に電圧源VDDが接
続され、ゲート電極は第1のバッファ入力端子81を介
してデータ信号入力端子20と接続され、また、ソース
電極はバッファの出力83及び第2のD−FET72の
ドレイン電極と接続される。そして、第2のD−FET
72のゲート電極は第1のバッファ逆相入力端子82を
介して第1のインバータ31の出力と接続され、ソース
電極は接地される。
【0018】図3は本発明のフリップフロップ回路の第
2のバッファの構成図である。図において、73,74
は第3,第4のD−FET、84は第2のバッファ入力
端子、85は第2のバッファ出力端子、91は第1のE
−FET、VDDは電圧源である。第2のバッファ42
は、第3のD−FET73と第1のエンハンスメント型
電界効果トランジスタ(以下E−FETとする)91及
び第4のD−FET74よって構成される。
【0019】第3のD−FET73のドレイン電極は電
圧源VDDと接続され、ゲート電極はバッファの入力端
子84及び第1のE−FET91のゲート電極と接続さ
れ、また、ソース電極は第1のE−FET91のドレイ
ン電極と接続される。第1のE−FET91のソース電
極はバッファ出力端子85及び第4のD−FET74の
ドレイン電極に接続され、第4のD−FETのゲート電
極及びソース電極は接地される。
【0020】また、図4は本発明のフリップフロップ回
路の第2のバッファの他の構成図である。図において、
75は第5のD−FET、84は第2のバッファ入力端
子、85は第2のバッファ出力端子、92は第2のE−
FET、VDDは電圧源である。第2のバッファ42の
第2の実施例は、第5のD−FET75、第2のバッフ
ァ入力端子84、第2のバッファ出力端子85、及び第
2のE−FET92によって構成される。
【0021】第5のD−FET75のドレイン電極は電
圧源VDDと接続され、ゲート電極はバッファの入力端
子84は第2のバッファ出力端子85及び第5のD−F
ET75のソース電極と接続され、また、該第5のD−
FET75のソース電極は第2のE−FET92のドレ
イン電極と接続される。また、第2のE−FET92の
ゲート電極は第2のバッファ入力端子84に接続され、
第2のE−FET92のソース電極は接地される。
【0022】前記の構成において、第2のインバータ3
2、第2のバッファ42、及び第1の2入力NORゲー
ト61によってクロック信号CKより短いパルス幅の第
2のクロック信号PWを形成する。また、前記の構成に
おいて、第1のインバータ31及び第1のバッファ41
によってコントロール部を構成し、第3及び第5のイン
バータ33,35、第4及び第6のインバータ34,3
6によってラッチ部を構成している。
【0023】そして、前記第1及び第2のトランスファ
ゲート51,52によって、コントロール部からラッチ
部への信号の伝搬を制御している。次に、図5の本発明
のフリップフロップ回路のタイムチャートによって、本
発明のフリップフロップ回路の動作を説明する。図5に
おいて、(a)はクロック信号CK、(b)は第1の2
入力NORゲート出力、(c)はデータ信号、(e)は
第1のインバータ出力、(f)はデータ出力Q、(g)
は逆相データ出力Q−Nを示している。
【0024】始めに、クロック信号CKよりも短いパル
ス幅の第2のクロック信号PWの形成について説明す
る。クロック信号CKが立ち下がった直後、第1の2入
力NORゲート61の2つの入力は共に「L」となり、
第1の2入力NORゲート61の出力は「H」となる。
一方、クロック信号CKが立ち下がった直後、第2のイ
ンバータ32は「H」となり、第2のインバータ32が
「H」になることによって、第2のバッファ42の出力
が「H」となり、第1の2入力NORゲート61の出力
は「L」となる。
【0025】第1の2入力NORゲート61の出力が
「H」となっている時間(以下、PWとする)は第2の
インバータ32と第2のバッファ42の遅延時間の和の
長さの程度になる。このPWのパルス幅はクロック信号
CKよりも短く、第2のインバータ32及び第2のバッ
ファ42のD−FETとE−FETのゲート幅を調整す
ることにより変更することができる。
【0026】第1の2入力NORゲート61の出力が
「L」から「H」になった時、第1及び第2のトランス
ファゲート51,52は解放状態(以下、オフとする)
から短絡状態(以下オンとする)になる。該第1及び第
2のトランスファゲート51,52はデータ信号Dをコ
ントロール部からラッチ部への伝搬の制御を行うことに
なる。
【0027】データ信号Dは、第1のインバータ31及
び第1のバッファ41によってそれぞれ逆相及び同相の
出力が第1と第2のトランスファゲート51、52に出
力される。データが変化してから第1のインバータ31
及び第1のバッファ41の出力が変化するまでに遅延時
間(以下、DLY1とする)を生じる。第1及び第2の
トランスファゲート51,52がオフからオンになった
時、第3及び第4のインバータ33,34によって構成
されたラッチ回路の状態は第1のインバータ31及び第
1のバッファ41によって状態が書き換えられる。
【0028】それと同時に第5及び第6のインバータ3
5,36の出力が第1のインバータ31の出力及び第1
のバッファ41の出力にしたがって変化する。第1及び
第2のトランスファゲート51,52がオンになってか
ら第5及び第6のインバータ35,35の出力が変化す
るまで遅延時間(以下、DLY2とする)を生じる。以
上に示すように、本発明のフリップフロップ回路による
D−FFにおいては、クリティカルパスは第1のインバ
ータ31、第1のトランスファゲート51、第5のイン
バータ35の経路、ないしは第1のバッファ41、第2
のトランスファゲート52、第6のインバータ36の3
段となり、従来型のD−FFのクリティカルが6段であ
るのに対して半分とすることができる。
【0029】ここで、PWのパルス幅の長さはDLY1
よりも長くなければラッチ回路にデータが書き込まれな
い。また、PWの長さがDLY2に比べて十分長い場合
には、即ちトランスファゲートがオンになっている状態
が長いときには、データのホールドタイムを長くする必
要がある。PWの長さはDLY1とDLY2の和の長さ
と同じ程度の長さが適当である。PWの長さの調整はバ
ッファ2のD−FETとE−FETのゲート幅を変える
ことで行うことができる。
【0030】前記の点について説明する。始めに、PW
のパルス幅の長さがDLY1よりも長い点について説明
する。図6は第2のクロック信号PWと第1の遅延時間
DLY1の関係図である。図6において、(a),
(b)は第1の2入力NORゲート出力、(c)はデー
タ信号、(e)は第1のバッファ出力である。
【0031】第1の2入力NORゲート出力PWのパル
ス幅が(a)に示すようにPW1の幅を持ち、その幅が
データが変化してから第1のインバータ31及び第1の
バッファ41の出力が変化するまでの第1の遅延時間D
LY1よりも長い場合には、第1のインバータ31及び
第1のバッファ41の出力変化中にトランスファゲート
をオンとしておくことができるので、ラッチ部を変化さ
せることができる。
【0032】一方、第1の2入力NORゲート出力PW
のパルス幅が(b)に示すようにPW2の幅を持ち、そ
の幅が第1の遅延時間DLY1よりも短い場合には、第
1のインバータ31及び第1のバッファ41の出力変化
中はトランスファゲートは既にオフとなるため、ラッチ
部を変化させることができない。したがって、PWのパ
ルス幅の長さはDLY1よりも長くなければラッチ回路
にデータが書き込まれない。
【0033】次に、PWのパルス幅の長さがDLY2よ
りも長い点について説明する。図7は第2のクロック信
号PWと第2の遅延時間DLY2の関係図である。図7
において、(a),(b)は第1の2入力NORゲート
出力、(c)はデータ出力信号Qである。第1の2入力
NORゲート出力PWのパルス幅が(b)に示すように
PW2の幅を持ち、その幅が第1の遅延時間DLY1よ
りも短い場合には、ラッチ部を変化が完了する前にトラ
ンスファゲートはオフとなるため、ラッチ部の書換えが
不安定となる。
【0034】図8は第2のクロック信号PWと、第1の
遅延時間DLY1及び第2の遅延時間DLY2の関係図
である。第2のクロック信号PWの長さを少なくとも第
1の遅延時間DLY1及び第2の遅延時間DLY2の和
の長さと同じ程度の長さとすることによって、第2のク
ロック信号PWの立ち上がりと同時にデータ信号Dが変
化したとしても、ラッチ部を変化させることができる。
【0035】また、第2のクロック信号PWの長さが第
2の遅延時間DLY2に比べて十分長い場合について説
明する。図9は第2のクロック信号PWと、第1の遅延
時間DLY1及び第2の遅延時間DLY2の関係図であ
る。第2のクロック信号PWが十分長い場合には、その
第1の2入力NORゲート出力がオンの状態が継続して
いる間においても、データ出力Qが変化しさらに次のデ
ータによってデータ出力Qが変化する。したがって、第
2のクロック信号PWによってデータ書換えの制御を行
うことができない。
【0036】したがって、トランスファゲートがオンに
なっている状態が長いときには、データのホールドタイ
ムを長くする必要がある。本発明においては、前記のよ
うに通常のクロック信号よりも短い第2のクロック信号
を用いることによって、前記構成のクリティカルパスの
短いフリップフロンプ回路を構成することができ、また
データのホールドタイムをクロック信号に依存せずに短
い一定時間とすることができる。
【0037】このホールドタイムの点についてさらに以
下に説明する。図10はクロック信号とデータのホール
ドタイムとの関係図である。図10の(a)および
(b)は通常のクロック信号を用いた場合のホールドタ
イムである。前記したように、データのホールドタイム
はクロック信号幅に依存するため、図のように通常のク
ロック信号を用いた場合には、ホールドタイムt2はそ
の使用されるクロック信号によって変化し、場合によっ
てはデータのホールドタイムを長くする必要がある。
【0038】一方、本発明のように通常のクロック信号
によらず、短いクロック信号を用いた場合には、図10
の(c)及び(d)に示すようにホールドタイムt1を
通常のクロック信号幅に関係なく、一定とすることがで
き、またデータのホールドタイムを短くすることができ
る。なお、本発明は上記実施例に限定されるものではな
く、本発明の趣旨に基づき種々の変形が可能であり、そ
れらを本発明の範囲から排除するものではない。
【0039】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
フリップフロップ回路のクリティカルパスを短くでき、
動作速度が速く高集積化に適し歩留りのよいフリップフ
ロップ回路を得ることができる。また、本発明によれ
ば、データのホールドタイムを通常使用されるクロック
信号幅に関係なく一定とすることができ、また短くする
ことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のフリップフロップ回路の実施例を示す
回路図である。
【図2】本発明のフリップフロップ回路の第1のバッフ
ァの構成図である。
【図3】本発明のフリップフロップ回路の第2のバッフ
ァの構成図である。
【図4】本発明のフリップフロップ回路の第2のバッフ
ァの他の構成図である。
【図5】本発明のフリップフロップ回路のタイムチャー
トである。
【図6】第2のクロック信号PWと第1の遅延時間DL
Y1の関係図である。
【図7】第2のクロック信号PWと第2の遅延時間DL
Y2の関係図である。
【図8】第2のクロック信号PWと、第1の遅延時間D
LY1及び第2の遅延時間DLY2の関係図である。
【図9】第2のクロック信号PWと、第1の遅延時間D
LY1及び第2の遅延時間DLY2の関係図である。
【図10】クロック信号とデータのホールドタイムとの
関係図である。
【図11】従来のFF回路の一構成例を示す回路図であ
る。
【符号の説明】
20 データ信号端子 21 クロック信号端子 22 データ出力端子 23 逆相データ出力端子 31〜36 第1〜第6のインバータ 41,42 第1,第2のバッファ 51,52 第1,第2のトランスファゲート 61 第1の2入力NORゲート 71,72 第1,第2のD−FET 73,74 第3,第4のD−FET 75 第5のD−FET 81 第1のバッファ入力端子 82 第1のバッファ逆相入力端子 83 第1のバッファ出力端子 84 第2のバッファ入力端子 85 第2のバッファ出力端子 91 第1のE−FET 92 第2のE−FET D データ信号 CK クロック信号 VDD 電圧源

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 (a)単相入力データを入力するコント
    ロール部と、 (b)相補出力を発生するラッチ部と、 (c)前記コントロール部と前記ラッチ部とを接続する
    トランスファゲートと、 (d)短パルス発生手段とからなり、 (e)前記短パルス発生手段によって制御される前記ト
    ランスファゲートによって、前記コントロール部から前
    記ラッチ部へのデータの転送を行うことを特徴とするフ
    リップフロップ回路。
  2. 【請求項2】 前記短パルス発生手段はクロック信号を
    入力信号とする請求項1記載のフリップフロップ回路。
  3. 【請求項3】 前記コントロール部は前記単相入力デー
    タを入力するインバータと、前記単相入力データ及び前
    記インバータの出力を入力するバッファとから構成され
    る請求項1記載のフリップフロップ回路。
  4. 【請求項4】 前記短パルス発生手段の発生するパルス
    信号のパルス幅は前記コントロール部のセットアップ時
    間と前記ラッチ部のホールド時間の和である請求項1、
    又は2記載のフリップフロップ回路。
JP4201527A 1992-07-28 1992-07-28 フリップフロップ回路 Withdrawn JPH0653784A (ja)

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