JPH0655260A - 溶融半田を射出成形する装置および方法 - Google Patents
溶融半田を射出成形する装置および方法Info
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- JPH0655260A JPH0655260A JP5081643A JP8164393A JPH0655260A JP H0655260 A JPH0655260 A JP H0655260A JP 5081643 A JP5081643 A JP 5081643A JP 8164393 A JP8164393 A JP 8164393A JP H0655260 A JPH0655260 A JP H0655260A
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- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
- Injection Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 電子デバイス上に、半田射出成形により半田
マウンドを形成する装置および方法を提供する。 【構成】 装置2は溶融半田の蓄積管46を有し、それ
は射出プレート34の穴の上に配置されている。射出プ
レートは、穴のアレーを有する成形型32上に配置され
る。成形型は、加工部材上に配置される。加工部材は加
熱され、溶融した半田はガス圧によって、モールドの穴
のアレー上に配置された射出プレートの凹部に押し込ま
れ、成形型の穴のアレーに押し込まれる。射出プレート
は成形型上をスライドし、その複数の掃き取り開口で成
形型上の余剰半田を掃き取る。射出プレートはさらに、
非半田親和性の面の位置まで移動し、そこで除去され
る。
マウンドを形成する装置および方法を提供する。 【構成】 装置2は溶融半田の蓄積管46を有し、それ
は射出プレート34の穴の上に配置されている。射出プ
レートは、穴のアレーを有する成形型32上に配置され
る。成形型は、加工部材上に配置される。加工部材は加
熱され、溶融した半田はガス圧によって、モールドの穴
のアレー上に配置された射出プレートの凹部に押し込ま
れ、成形型の穴のアレーに押し込まれる。射出プレート
は成形型上をスライドし、その複数の掃き取り開口で成
形型上の余剰半田を掃き取る。射出プレートはさらに、
非半田親和性の面の位置まで移動し、そこで除去され
る。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半田を射出成形する装
置および方法と、それによって形成される構造体とに関
するものである。具体的に本発明の装置では、溶融半田
の蓄積装置をプレートの上に配置する。上記プレートは
複数の開口を有し、それらの開口に成形すべき半田を加
圧して射出し、半田領域を形成する。プレートは基板、
特に電子基板に対向して配置する。半田射出後、プレー
トは除去し、半田を冷却させる。その結果、基板上に複
数の半田領域が形成される。特に、プレートは半田に対
して親和性のない材料で形成し、半田をプレート内で冷
却させて、プレートの開口の形状に成形された複数の半
田領域を得る。そして、プレートを除去することによ
り、基板上に上記形状の半田領域が残る。
置および方法と、それによって形成される構造体とに関
するものである。具体的に本発明の装置では、溶融半田
の蓄積装置をプレートの上に配置する。上記プレートは
複数の開口を有し、それらの開口に成形すべき半田を加
圧して射出し、半田領域を形成する。プレートは基板、
特に電子基板に対向して配置する。半田射出後、プレー
トは除去し、半田を冷却させる。その結果、基板上に複
数の半田領域が形成される。特に、プレートは半田に対
して親和性のない材料で形成し、半田をプレート内で冷
却させて、プレートの開口の形状に成形された複数の半
田領域を得る。そして、プレートを除去することによ
り、基板上に上記形状の半田領域が残る。
【0002】
【従来の技術】半導体電子装置を製作する場合、半導体
チップはフリップチップ構造で、一般にC4として知ら
れている半田ボールにより実装する。C4により、チッ
プのコンタクト位置と基板のコンタクト位置との間を電
気的に接続し、また機械的に接合する。チップ回路の密
度が高くなるのに伴い、チップI/Oの数も増加してき
ている。すなわち、回路密度が非常に高い、規模の非常
に大きいチップを用いた場合、そのチップとの電気的な
コミニュケーションのために極めて多数のI/Oが必要
となる。I/Oはチップに対して信号や、電源、グラン
ドを与える。チップI/Oの数が増加すると、チップの
コンタクト位置に半田接合されるC4は、そのサイズを
小さくしなければならず、また接近して配置しなければ
ならない。さらに、各C4の高さのバラツキは、チップ
のすべてのコンタクト位置が、対応する基板のコンタク
ト位置にC4接続を介して電気的に接続されるようにす
るため、比較的小さくする必要がある。
チップはフリップチップ構造で、一般にC4として知ら
れている半田ボールにより実装する。C4により、チッ
プのコンタクト位置と基板のコンタクト位置との間を電
気的に接続し、また機械的に接合する。チップ回路の密
度が高くなるのに伴い、チップI/Oの数も増加してき
ている。すなわち、回路密度が非常に高い、規模の非常
に大きいチップを用いた場合、そのチップとの電気的な
コミニュケーションのために極めて多数のI/Oが必要
となる。I/Oはチップに対して信号や、電源、グラン
ドを与える。チップI/Oの数が増加すると、チップの
コンタクト位置に半田接合されるC4は、そのサイズを
小さくしなければならず、また接近して配置しなければ
ならない。さらに、各C4の高さのバラツキは、チップ
のすべてのコンタクト位置が、対応する基板のコンタク
ト位置にC4接続を介して電気的に接続されるようにす
るため、比較的小さくする必要がある。
【0003】このような電気的接続および半田技術に関
する同様の要求は、電子装置パッケージの種々のレベル
においても生じる。例えば第1および第2のレベルのパ
ッケージ間の半田接続や、第2および第3のレベルのパ
ッケージ間の半田接続において同様の要求がある。一例
として、2,3のチップと大きなプリント配線板とを接
続する場合、インターポーザと呼ばれる小さいプリント
配線板が用いられる。その際、チップとインターポーザ
との間、ならびにインターポーザと大きい配線板との間
の両方で半田接続が必要となる。また他の例として、1
つまたは2,3のチップと大きいプリント配線板とを接
続する場合、セラミック・パッケージが用いられる。そ
の際、チップからパッケージへの配線、およびパッケー
ジとプリント配線板との間の半田接続のエリア・アレー
が必要となる。このセラミック・パッケージおよびチッ
プは、ハイブリッド・モノリシック・モジュールとも呼
ばれる。
する同様の要求は、電子装置パッケージの種々のレベル
においても生じる。例えば第1および第2のレベルのパ
ッケージ間の半田接続や、第2および第3のレベルのパ
ッケージ間の半田接続において同様の要求がある。一例
として、2,3のチップと大きなプリント配線板とを接
続する場合、インターポーザと呼ばれる小さいプリント
配線板が用いられる。その際、チップとインターポーザ
との間、ならびにインターポーザと大きい配線板との間
の両方で半田接続が必要となる。また他の例として、1
つまたは2,3のチップと大きいプリント配線板とを接
続する場合、セラミック・パッケージが用いられる。そ
の際、チップからパッケージへの配線、およびパッケー
ジとプリント配線板との間の半田接続のエリア・アレー
が必要となる。このセラミック・パッケージおよびチッ
プは、ハイブリッド・モノリシック・モジュールとも呼
ばれる。
【0004】本発明に適した加工部材の一例をリストア
ップすると、チップ、基板、小さいプリント配線板、大
きいプリント配線板、種々のレベルの他の様々な電子装
置パッケージ、あるい半田接続が必要な他の電子装置と
なる。上記加工部材は種々の材料から成る部品を含み、
具体的には上記材料は例えば、半導体、セラミック、有
機材料、金属、結晶材料、多結晶材料、高分子材料、ガ
ラス、アモルファス材料などである。ただし、これらの
材料に限定されるものではない。
ップすると、チップ、基板、小さいプリント配線板、大
きいプリント配線板、種々のレベルの他の様々な電子装
置パッケージ、あるい半田接続が必要な他の電子装置と
なる。上記加工部材は種々の材料から成る部品を含み、
具体的には上記材料は例えば、半導体、セラミック、有
機材料、金属、結晶材料、多結晶材料、高分子材料、ガ
ラス、アモルファス材料などである。ただし、これらの
材料に限定されるものではない。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】従来、C4をチップあ
るいは基板上のコンタクト位置に堆積させる場合、上記
コンタクト位置に対応する開口を備えたマスクをチップ
あるいは基板上に配置する。そして、マスクを配置した
チップは、排気した蒸発装置内に設置する。蒸発装置の
蒸発源としては、例えばPb、Snなどを用いる。蒸発
源は、加熱されると蒸気となり、マスク上に堆積し、そ
の開口を満たし、そして露出したコンタクト位置に堆積
する。しかし、このようにしてC4を形成した場合、半
田の高さは均一とはならない。従って、C4の密度が非
常に高い場合、一部のC4では、チップと基板とが適切
に接続されないことがあり得る。さらに、蒸発源から見
通せる位置では、すべての位置で半田が付着するので、
パッド位置に必要以上の半田が付着する結果となる。
るいは基板上のコンタクト位置に堆積させる場合、上記
コンタクト位置に対応する開口を備えたマスクをチップ
あるいは基板上に配置する。そして、マスクを配置した
チップは、排気した蒸発装置内に設置する。蒸発装置の
蒸発源としては、例えばPb、Snなどを用いる。蒸発
源は、加熱されると蒸気となり、マスク上に堆積し、そ
の開口を満たし、そして露出したコンタクト位置に堆積
する。しかし、このようにしてC4を形成した場合、半
田の高さは均一とはならない。従って、C4の密度が非
常に高い場合、一部のC4では、チップと基板とが適切
に接続されないことがあり得る。さらに、蒸発源から見
通せる位置では、すべての位置で半田が付着するので、
パッド位置に必要以上の半田が付着する結果となる。
【0006】材料によっては蒸発圧は低く、堆積速度が
低くなるので、その場合には蒸着に非常に時間がかか
り、また加工部材を長時間高温に曝すことになる。そし
て、プロセスに要する時間は、真空チェンバーのロード
/アンロードの時間により一層長くなる。
低くなるので、その場合には蒸着に非常に時間がかか
り、また加工部材を長時間高温に曝すことになる。そし
て、プロセスに要する時間は、真空チェンバーのロード
/アンロードの時間により一層長くなる。
【0007】半田を射出成形する方法は、毒性の点で、
ステンシルを用いて半田をスパッタリングしたり蒸着さ
せる方法にくらべ明かに優れている。多くの半田は、鉛
その他の材料を含み、それらは漏れると人体に有害であ
り、かつ環境破壊に結びつく恐れがある。
ステンシルを用いて半田をスパッタリングしたり蒸着さ
せる方法にくらべ明かに優れている。多くの半田は、鉛
その他の材料を含み、それらは漏れると人体に有害であ
り、かつ環境破壊に結びつく恐れがある。
【0008】半田を射出成形する際、ほとんどの半田は
直接かつ有効に基板あるいはその他の装置に付着する。
半田が無駄になることはほとんどなく、射出成形装置の
外に出ることはない。そして、そのまま射出成形のため
に再使用される。また、発生する半田蒸気は少量であ
り、かつ完全に密閉されている。
直接かつ有効に基板あるいはその他の装置に付着する。
半田が無駄になることはほとんどなく、射出成形装置の
外に出ることはない。そして、そのまま射出成形のため
に再使用される。また、発生する半田蒸気は少量であ
り、かつ完全に密閉されている。
【0009】これに対し、スパッタリングや蒸着では、
多量の半田がプロセス・チェンバ内に拡散する。そし
て、その中のわずかな量のみがマスクを通じて基板ある
いはその他の装置に付着する。プロセス・チェンバの清
掃、および多量の余分な半田の管理においては、作業者
の安全が問題となり、また廃棄物や再利用に関連して環
境破壊が問題となる。
多量の半田がプロセス・チェンバ内に拡散する。そし
て、その中のわずかな量のみがマスクを通じて基板ある
いはその他の装置に付着する。プロセス・チェンバの清
掃、および多量の余分な半田の管理においては、作業者
の安全が問題となり、また廃棄物や再利用に関連して環
境破壊が問題となる。
【0010】本発明の目的は、高さがほぼ均一な半田マ
ウンドを基板上に堆積させる装置を提供することにあ
る。
ウンドを基板上に堆積させる装置を提供することにあ
る。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明の装置では、加工
部材を真空中に配置する必要がない。本発明の装置で
は、加工部材を真空中に配置することなく、半田を基板
上に堆積させることができる。
部材を真空中に配置する必要がない。本発明の装置で
は、加工部材を真空中に配置することなく、半田を基板
上に堆積させることができる。
【0012】さらに、本発明の装置を用いることによ
り、アスペクト比(マウンド高/マウンド径)の大きい
半田ボンドでも、適当な形態の射出成形を用いて容易に
形成することができる。
り、アスペクト比(マウンド高/マウンド径)の大きい
半田ボンドでも、適当な形態の射出成形を用いて容易に
形成することができる。
【0013】さらに、溶融温度の異なる半田を順次射出
することにより、位置的に成分の異なる半田マウンドを
容易に形成することができる。従って、マウンドの基部
に比べて頂部において比較的融点の低い半田から成る半
田マウンドを形成することができる。そして、上記基部
をチップ・コンタクト位置に接続する場合には、半田マ
ウンドをマウンド頂部の半田の融点まで加熱し、基板上
のコンタクト位置に接続することができる。頂部の半田
の溶融温度までにしか加熱しないので、半田マウンド全
体は溶融せず、その大きいアスペクト比の形状を維持す
る。半田マウンドのアスペクト比を高くすることによっ
て曲り易くなり、半導体チップと、半導体チップをチッ
プ片として実装する基板との間の熱膨張率の差による障
害発生を避けることができる。
することにより、位置的に成分の異なる半田マウンドを
容易に形成することができる。従って、マウンドの基部
に比べて頂部において比較的融点の低い半田から成る半
田マウンドを形成することができる。そして、上記基部
をチップ・コンタクト位置に接続する場合には、半田マ
ウンドをマウンド頂部の半田の融点まで加熱し、基板上
のコンタクト位置に接続することができる。頂部の半田
の溶融温度までにしか加熱しないので、半田マウンド全
体は溶融せず、その大きいアスペクト比の形状を維持す
る。半田マウンドのアスペクト比を高くすることによっ
て曲り易くなり、半導体チップと、半導体チップをチッ
プ片として実装する基板との間の熱膨張率の差による障
害発生を避けることができる。
【0014】さらに、非常に驚くべきことであるが、溶
けた半田を直接ポリマー上に射出すると、凝固した半田
マウンドはポリマーの表面に接着することが分かった。
従って、半田マウンド転写支持面を、接着層を付加する
ことなく、ポリマー膜により形成することができる。本
発明の装置を用いて、ポリマーの表面に半田マウンドの
アレーを配置することができる。その場合には、転写膜
上の半田マウンド・アレーに一致するコンタクト位置を
有する面上に上記ポリマー膜を配置する。そして加熱し
て半田マウンドを溶かし、コンタクト位置に馴染ませ
る。半田を冷却して凝固させ、次にポリマー膜を剥ぎ取
る。半田マウンドのポリマー膜に対する接着力は、半田
マウンドのコンタクト位置に対する接着力より小さいの
で、これが可能である。
けた半田を直接ポリマー上に射出すると、凝固した半田
マウンドはポリマーの表面に接着することが分かった。
従って、半田マウンド転写支持面を、接着層を付加する
ことなく、ポリマー膜により形成することができる。本
発明の装置を用いて、ポリマーの表面に半田マウンドの
アレーを配置することができる。その場合には、転写膜
上の半田マウンド・アレーに一致するコンタクト位置を
有する面上に上記ポリマー膜を配置する。そして加熱し
て半田マウンドを溶かし、コンタクト位置に馴染ませ
る。半田を冷却して凝固させ、次にポリマー膜を剥ぎ取
る。半田マウンドのポリマー膜に対する接着力は、半田
マウンドのコンタクト位置に対する接着力より小さいの
で、これが可能である。
【0015】本発明は広い意味で、溶融半田を接着させ
る面に接触して配置した成形型内に溶融半田を射出する
装置および方法である。成形型を除去することにより、
上記面に接着した半田マウンドが残る。
る面に接触して配置した成形型内に溶融半田を射出する
装置および方法である。成形型を除去することにより、
上記面に接着した半田マウンドが残る。
【0016】より具体的には、半田マウンドは所定の形
状を有している。
状を有している。
【0017】また、本発明では、半田は成形型が除去さ
れる前に凝固する。
れる前に凝固する。
【0018】本発明の装置について、より具体的に記述
すると、本発明の装置は溶融半田の蓄積装置を有してい
る。この蓄積装置は排出オリフィスを備えている。本発
明の装置は所定形状の成形型を有している。上記半田蓄
積装置の排出オリフィスは、成形型と通じており、そこ
を通して溶融半田は成形型内に射出される。本発明の装
置は蓄積装置内の溶融半田に圧力を加える手段を有し、
溶融半田はそれによって成形型内に押し込まれる。成形
型は排出開口を有し、その開口は、半田マウンドを配置
すべき加工部材面に隣接して配置する。
すると、本発明の装置は溶融半田の蓄積装置を有してい
る。この蓄積装置は排出オリフィスを備えている。本発
明の装置は所定形状の成形型を有している。上記半田蓄
積装置の排出オリフィスは、成形型と通じており、そこ
を通して溶融半田は成形型内に射出される。本発明の装
置は蓄積装置内の溶融半田に圧力を加える手段を有し、
溶融半田はそれによって成形型内に押し込まれる。成形
型は排出開口を有し、その開口は、半田マウンドを配置
すべき加工部材面に隣接して配置する。
【0019】また本発明では、上記成形型は、所定のア
レー形態に配置した分離した複数の穴を有している。
レー形態に配置した分離した複数の穴を有している。
【0020】また本発明では、上記成形型は、所定材料
のプレートから形成し、射出プレートとする。
のプレートから形成し、射出プレートとする。
【0021】また本発明では、上記射出プレートはスラ
イドするように支持面上に支持し、成形型の複数の穴を
ほぼ均一な量の溶融半田で充てんするようにする。
イドするように支持面上に支持し、成形型の複数の穴を
ほぼ均一な量の溶融半田で充てんするようにする。
【0022】また本発明では、上記成形プレートは溶融
半田に対して親和性を持たない材料により形成する。
半田に対して親和性を持たない材料により形成する。
【0023】また本発明では、上記成形プレートは、単
結晶シリコンにより形成し、成形型の各穴が、切り詰め
たピラミッドなど、結晶面によって決る形状となるよう
にエッチングする。
結晶シリコンにより形成し、成形型の各穴が、切り詰め
たピラミッドなど、結晶面によって決る形状となるよう
にエッチングする。
【0024】また本発明では、溶融半田はポリマー面に
直接接着するように付着させる。
直接接着するように付着させる。
【0025】
【実施例】図1は、本発明の一実施例を、見下ろす角度
で示す斜視図である。装置2はベース4を有し、その上
に上方に延びる支持コラム6,8が取り付けられてい
る。コラム6の端部10は、ベース4の表面12に固定
的に取り付けられており、コラム8の端部14はベース
4の表面12に固定的に取り付けられている。ベース4
は円形であり、その直径の両端部にコラム6,8が設け
られている。ただし、このような構成はあくまでも一例
である。コラム6,8は表面12に直角に突出してい
る。横断バー16は、その一端がコラム6の端部18
に、他端がコラム8の端部20にそれぞれ取り付けられ
ている。構造体6,8,16はアーチを形成している。
そのアーチの下には、支持プラットフォーム22が設け
られている。このプラットフォームは4つの脚によって
支持されており、図1ではその中の3つ、すなわち2
4,26,28のみが見えている。支持構造体22はヒ
ータを含み、そのヒータは以下に述べる加工部材の加熱
に用いる。ヒータ・ベース22の上には、加工部材の支
持構造体30が配置されており、構造体30の断面図を
図2に示す。成形型32は加工部材の支持構造体の上に
配置されている。成形型32については後に記述する。
成形型32の上には射出プレート、すなわち射出スライ
ド34が配置されている。その機能についても後に記述
する。横断バー16と射出プレート34との間には、射
出プレート34を成形型32に対して押し付け、そして
成形型32を加工部材の支持プレート30に対して押し
付けるための手段36が配置されている。押圧手段36
は、横断バー16に取り付けるための手段38、および
射出プレート34を押圧するように圧縮したコイル・ス
プリング40から成る。射出プレート34の上には、半
田蓄積管46が配置されている。この半田蓄積管46は
ヒータ・コイル44によって包まれており、それによっ
て蓄積管46内の半田は加熱され、溶融する。この蓄積
管46に接して、ホース73を通じて端部でガスの供給
を受けるガス供給管(一例として管の形で示されてい
る)74が設けられている。この管74は一時的Oリン
グ結合部材により下端部で蓄積管46と通じており、ガ
ス圧が管46のオリフィス48に加わるようになってい
る。このガスは、蓄積管46内の溶融した半田を後述す
る成形型の穴に押し込むために用いられる。
で示す斜視図である。装置2はベース4を有し、その上
に上方に延びる支持コラム6,8が取り付けられてい
る。コラム6の端部10は、ベース4の表面12に固定
的に取り付けられており、コラム8の端部14はベース
4の表面12に固定的に取り付けられている。ベース4
は円形であり、その直径の両端部にコラム6,8が設け
られている。ただし、このような構成はあくまでも一例
である。コラム6,8は表面12に直角に突出してい
る。横断バー16は、その一端がコラム6の端部18
に、他端がコラム8の端部20にそれぞれ取り付けられ
ている。構造体6,8,16はアーチを形成している。
そのアーチの下には、支持プラットフォーム22が設け
られている。このプラットフォームは4つの脚によって
支持されており、図1ではその中の3つ、すなわち2
4,26,28のみが見えている。支持構造体22はヒ
ータを含み、そのヒータは以下に述べる加工部材の加熱
に用いる。ヒータ・ベース22の上には、加工部材の支
持構造体30が配置されており、構造体30の断面図を
図2に示す。成形型32は加工部材の支持構造体の上に
配置されている。成形型32については後に記述する。
成形型32の上には射出プレート、すなわち射出スライ
ド34が配置されている。その機能についても後に記述
する。横断バー16と射出プレート34との間には、射
出プレート34を成形型32に対して押し付け、そして
成形型32を加工部材の支持プレート30に対して押し
付けるための手段36が配置されている。押圧手段36
は、横断バー16に取り付けるための手段38、および
射出プレート34を押圧するように圧縮したコイル・ス
プリング40から成る。射出プレート34の上には、半
田蓄積管46が配置されている。この半田蓄積管46は
ヒータ・コイル44によって包まれており、それによっ
て蓄積管46内の半田は加熱され、溶融する。この蓄積
管46に接して、ホース73を通じて端部でガスの供給
を受けるガス供給管(一例として管の形で示されてい
る)74が設けられている。この管74は一時的Oリン
グ結合部材により下端部で蓄積管46と通じており、ガ
ス圧が管46のオリフィス48に加わるようになってい
る。このガスは、蓄積管46内の溶融した半田を後述す
る成形型の穴に押し込むために用いられる。
【0026】図2は基板支持プレート30の断面を示
し、支持プレート30の加工部材ネスト52には加工部
材50が設けられている。ネスト52の高さ54は加工
部材50の高さ56に一致している。ネスト52は、加
工部材を図1の装置2に容易に位置合わせするためのも
のである。なお、ネスト52は無くてもよく、加工部材
50を支持プレート30の表面58に配置してもよい。
簡単のため、他の図面ではネスト52は省略した。
し、支持プレート30の加工部材ネスト52には加工部
材50が設けられている。ネスト52の高さ54は加工
部材50の高さ56に一致している。ネスト52は、加
工部材を図1の装置2に容易に位置合わせするためのも
のである。なお、ネスト52は無くてもよく、加工部材
50を支持プレート30の表面58に配置してもよい。
簡単のため、他の図面ではネスト52は省略した。
【0027】図3は成形型32の一例の平面図である。
成形型32はその表面62上に複数の開口60を有して
いる。これらの開口は底側の表面64に至っており、そ
の終端部は、開口60より大きい開口66となってい
る。成形型32を通して、開口60,66に形成された
穴はピラミッド形となっている。成形型32の材料がシ
リコンの場合には、これらのピラミッドはピロカテコー
ル溶液によって形成することができ、それによって異方
的に<100>シリコンの種々の結晶面に沿ってエッチ
ングを行える。穴68は、本発明の装置のための射出成
形穴を形成している。一般に知られている選択エッチン
グ法によって、モリブデンなどの金属にシリンダ状の穴
を形成することができる。
成形型32はその表面62上に複数の開口60を有して
いる。これらの開口は底側の表面64に至っており、そ
の終端部は、開口60より大きい開口66となってい
る。成形型32を通して、開口60,66に形成された
穴はピラミッド形となっている。成形型32の材料がシ
リコンの場合には、これらのピラミッドはピロカテコー
ル溶液によって形成することができ、それによって異方
的に<100>シリコンの種々の結晶面に沿ってエッチ
ングを行える。穴68は、本発明の装置のための射出成
形穴を形成している。一般に知られている選択エッチン
グ法によって、モリブデンなどの金属にシリンダ状の穴
を形成することができる。
【0028】図4は、図1の矢印70の方向から見た、
軸72−72に沿った側断面図である。図4には、加工
部材の支持プレート30、成形型32、射出プレート3
4、ならびに模式的に表した半田蓄積管46およびガス
供給ホース73に接続されたガス供給管74のみを示
す。これらの手段を通じて、圧縮した空気あるいは窒素
が、低圧レギュレータによって管46のオリフィス48
に射出され、Oリング75によって射出の間、一時的に
密閉される。レギュレータとしては、射出圧力が低いの
で通常、0〜1kg/cm-2(0〜15psi)レギュ
レータ(例えば、モダン・エンジニアリング社のもの)
で充分である。射出プレート34は望ましくはパイレッ
クス(TM)あるいは水晶から成る。図4の実施例で
は、射出プレート34は、ガラス板76と、ガラス板7
6の底面80に配置されたポリマー膜78との組み合せ
として示されている。
軸72−72に沿った側断面図である。図4には、加工
部材の支持プレート30、成形型32、射出プレート3
4、ならびに模式的に表した半田蓄積管46およびガス
供給ホース73に接続されたガス供給管74のみを示
す。これらの手段を通じて、圧縮した空気あるいは窒素
が、低圧レギュレータによって管46のオリフィス48
に射出され、Oリング75によって射出の間、一時的に
密閉される。レギュレータとしては、射出圧力が低いの
で通常、0〜1kg/cm-2(0〜15psi)レギュ
レータ(例えば、モダン・エンジニアリング社のもの)
で充分である。射出プレート34は望ましくはパイレッ
クス(TM)あるいは水晶から成る。図4の実施例で
は、射出プレート34は、ガラス板76と、ガラス板7
6の底面80に配置されたポリマー膜78との組み合せ
として示されている。
【0029】図5は射出プレート34の平面図である。
膜78は3つの領域86,88,90を有している。点
線92,94は領域間の仮想的な境界を示している。図
4および図1の半田蓄積管46は、ガラス板76の、エ
ッチングあるいは切削により形成された開口96に挿入
されている。半田蓄積管は図5ではその断面は円形とな
っており、98はその内壁である。図4から分かるよう
に、半田蓄積管のベース100にはオリフィス102が
設けられている。このオリフィスは半田蓄積管46のベ
ース100からガラス板76の底部側面80に延びてい
る。凝固した半田は半田蓄積管46内に入れられ、図1
の加熱要素44(通常、MINCO製のサーモフォイル
(TM)を用いることができる)によって加熱され、半
田蓄積管内で溶融する。表面張力と、穴68の断面積が
小さいことのために、溶融した半田は自発的には穴68
内に浸透せず、ガス加圧手段74により穴68内に押し
込まれる。
膜78は3つの領域86,88,90を有している。点
線92,94は領域間の仮想的な境界を示している。図
4および図1の半田蓄積管46は、ガラス板76の、エ
ッチングあるいは切削により形成された開口96に挿入
されている。半田蓄積管は図5ではその断面は円形とな
っており、98はその内壁である。図4から分かるよう
に、半田蓄積管のベース100にはオリフィス102が
設けられている。このオリフィスは半田蓄積管46のベ
ース100からガラス板76の底部側面80に延びてい
る。凝固した半田は半田蓄積管46内に入れられ、図1
の加熱要素44(通常、MINCO製のサーモフォイル
(TM)を用いることができる)によって加熱され、半
田蓄積管内で溶融する。表面張力と、穴68の断面積が
小さいことのために、溶融した半田は自発的には穴68
内に浸透せず、ガス加圧手段74により穴68内に押し
込まれる。
【0030】図5を再度参照すると、射出プレート34
は2つの凹部80および82の2つのグループを有して
いる。これらの穴は、ポリマー層78を選択的に除去す
ることにより形成される。上記ポリマー層は望ましくは
ポリイミドとし、例えばKaptonテープの薄いシー
トを用い、所定の領域を切りとって凹部80,82を形
成する。これらの領域は、Kaptonをガラス板76
の底面に接着した後に切り取る。また、ガラス板76上
の凹部80,82は、ガラス板の一方の側面にフォトレ
ジストを配置し、選択的に現像することによっても形成
することができる。ガラス板はガラス・エッチング剤、
例えば50%のフッ化水素酸中に配置し、ガラス板に直
接凹部80,82をエッチングにより形成する。ただ
し、凹部80,82を形成するこれらの技術はあくまで
も例として挙げたものである。層78は必ずしもポリマ
ーでなくてもよく、半田に対して親和性のない金属の層
や絶縁材料であってもよい。望ましくは、溶融した半田
と接触するすべての面は、半田が接着しないようにする
ため、半田に対して親和性のないものとすべきである。
は2つの凹部80および82の2つのグループを有して
いる。これらの穴は、ポリマー層78を選択的に除去す
ることにより形成される。上記ポリマー層は望ましくは
ポリイミドとし、例えばKaptonテープの薄いシー
トを用い、所定の領域を切りとって凹部80,82を形
成する。これらの領域は、Kaptonをガラス板76
の底面に接着した後に切り取る。また、ガラス板76上
の凹部80,82は、ガラス板の一方の側面にフォトレ
ジストを配置し、選択的に現像することによっても形成
することができる。ガラス板はガラス・エッチング剤、
例えば50%のフッ化水素酸中に配置し、ガラス板に直
接凹部80,82をエッチングにより形成する。ただ
し、凹部80,82を形成するこれらの技術はあくまで
も例として挙げたものである。層78は必ずしもポリマ
ーでなくてもよく、半田に対して親和性のない金属の層
や絶縁材料であってもよい。望ましくは、溶融した半田
と接触するすべての面は、半田が接着しないようにする
ため、半田に対して親和性のないものとすべきである。
【0031】図6〜図8は、射出プレート34が、図4
に示した成形型32の穴68のアレー上の領域86,8
8,90に対応する3つの異なる位置にある場合を示す
平面図である。
に示した成形型32の穴68のアレー上の領域86,8
8,90に対応する3つの異なる位置にある場合を示す
平面図である。
【0032】図9〜図11はそれぞれ、射出プレート3
4の側面図であり、穴68のアレー上に配置された部分
のみを示す。
4の側面図であり、穴68のアレー上に配置された部分
のみを示す。
【0033】図6〜図8において、上記穴のアレーは長
方形103として示されており、長方形103内の複数
の点104は、穴68をそれぞれ表している。図6にお
いて、多角形81で定められる凹部80が、半田穴アレ
ー103上に配置されている。図4に戻ると、射出プレ
ート34は、図6および図9に対応する位置に示されて
いる。図4では半田はまだ凹部80に射出されていな
い。溶融した半田106は、ガスの圧力によって、穴6
8の上端の開口60よりオリフィス102を通じて凹部
80内に押し込まれ(図4および図3に示すように)、
図9に示すように凹部80および複数の穴68を満た
す。これらの複数の穴が半田により満たされると、図7
および図10に示すように、射出プレート34は108
の方向に移動される。凹部80のエッジ83は穴68の
上部開口60を掃き取り、余分な溶融半田を成形型32
の上面62より除去する。複数の凹部82が成形型32
の面62上を通過するとき、複数の凹部82のエッジ1
10(図4)は成形型の上面を掃き取り、余分な溶融半
田を、穴68の上部開口60より除去する。余剰半田は
凹部82内に蓄積する。図7および図10に、複数の凹
部82が穴のアレー104上に配置された状態を示す。
方形103として示されており、長方形103内の複数
の点104は、穴68をそれぞれ表している。図6にお
いて、多角形81で定められる凹部80が、半田穴アレ
ー103上に配置されている。図4に戻ると、射出プレ
ート34は、図6および図9に対応する位置に示されて
いる。図4では半田はまだ凹部80に射出されていな
い。溶融した半田106は、ガスの圧力によって、穴6
8の上端の開口60よりオリフィス102を通じて凹部
80内に押し込まれ(図4および図3に示すように)、
図9に示すように凹部80および複数の穴68を満た
す。これらの複数の穴が半田により満たされると、図7
および図10に示すように、射出プレート34は108
の方向に移動される。凹部80のエッジ83は穴68の
上部開口60を掃き取り、余分な溶融半田を成形型32
の上面62より除去する。複数の凹部82が成形型32
の面62上を通過するとき、複数の凹部82のエッジ1
10(図4)は成形型の上面を掃き取り、余分な溶融半
田を、穴68の上部開口60より除去する。余剰半田は
凹部82内に蓄積する。図7および図10に、複数の凹
部82が穴のアレー104上に配置された状態を示す。
【0034】図7から図8へ、そして対応する図10か
ら図11へ移ると、射出プレート34は、図8および図
11の矢印112の方向に移動し、このとき射出プレー
トの領域90は、図8および図11に示すように穴のア
レーの上に配置される。射出プレートが図6の位置から
図7の位置へ、そして図8の位置へ移動するとき、図1
の支持プレート22は加熱状態に維持され、射出プレー
トが穴のアレー104上を移動するとき半田は溶融した
ままとなる。図8および図11の状態の後、開口は冷却
され、半田は成形型32の穴68により決る形で凝固す
る。
ら図11へ移ると、射出プレート34は、図8および図
11の矢印112の方向に移動し、このとき射出プレー
トの領域90は、図8および図11に示すように穴のア
レーの上に配置される。射出プレートが図6の位置から
図7の位置へ、そして図8の位置へ移動するとき、図1
の支持プレート22は加熱状態に維持され、射出プレー
トが穴のアレー104上を移動するとき半田は溶融した
ままとなる。図8および図11の状態の後、開口は冷却
され、半田は成形型32の穴68により決る形で凝固す
る。
【0035】図12に示すように、射出プレート34は
矢印120の方向に持ち上げられる。成形型32は望ま
しくは半田に対する親和性を持たない材料、例えば上述
のようにエッチングされたシリコンなどによって作製さ
れており、成形型が持ち上げられたとき、図13に示す
ように、加工部材50の面124上に、凝固半田のマウ
ンド122が残る。成形型は半田および加工部材より分
離する必要がある。従って図13のように、圧搾空気1
23が供給され、成形型32の表面62および開口60
には高い圧力が、一方、加工部材50には低い圧力が印
加される。面124上のこのような半田マウンド・アレ
ーは、加工部材50の、半田に対する親和性を有するコ
ンタクト位置の配列に対して配置することができる。加
工部材50は具体的には、半導体チップや、半導体チッ
プ・パッケージ構造体である。非常に驚くべきことに、
溶融した半田を直接ポリマー表面、具体的にはKapt
on(デュポン社の商標)のポリイミド表面に配置する
と、半導体マウンド122がポリマー表面124にある
程度接着することが分かった。ポリマー膜50上の凝固
した半田マウンド122は、半田マウンド転写手段とし
て用いることができる。直径4mmの半田の垂直引っ張
り強さを測定したところ250グラムであった。これは
約182.8グラム/mm2 (0.403lbs/mm
2 )に相当する。図12に示すように、加工部材50お
よび成形型32は複合体としてもよい。加工部材50
は、半田に対する親和性を持たない固体材料、例えばシ
リコン、モリブデンなどとし、その上にパターン化可能
な、溶解性材料を堆積させてモールド層32を形成す
る。そして穴を形成するための処理を行う。このような
材料としては、Riston(TM)、その他のポリマ
ーを用いることができる。半田を射出し、それが凝固し
た後、層32は溶解させて除去する(従って、図13は
この実施例には適合しない)。より一般的に云うなら、
成形型は、溶解させたり、砕いたりして除去できる犠牲
的材料により構成すればよい。以上の結果、図14に示
すように、半田に対する親和性を持たない加工部材50
上に半田マウンド122が形成され、それらを半田転写
手段として用いることができる。
矢印120の方向に持ち上げられる。成形型32は望ま
しくは半田に対する親和性を持たない材料、例えば上述
のようにエッチングされたシリコンなどによって作製さ
れており、成形型が持ち上げられたとき、図13に示す
ように、加工部材50の面124上に、凝固半田のマウ
ンド122が残る。成形型は半田および加工部材より分
離する必要がある。従って図13のように、圧搾空気1
23が供給され、成形型32の表面62および開口60
には高い圧力が、一方、加工部材50には低い圧力が印
加される。面124上のこのような半田マウンド・アレ
ーは、加工部材50の、半田に対する親和性を有するコ
ンタクト位置の配列に対して配置することができる。加
工部材50は具体的には、半導体チップや、半導体チッ
プ・パッケージ構造体である。非常に驚くべきことに、
溶融した半田を直接ポリマー表面、具体的にはKapt
on(デュポン社の商標)のポリイミド表面に配置する
と、半導体マウンド122がポリマー表面124にある
程度接着することが分かった。ポリマー膜50上の凝固
した半田マウンド122は、半田マウンド転写手段とし
て用いることができる。直径4mmの半田の垂直引っ張
り強さを測定したところ250グラムであった。これは
約182.8グラム/mm2 (0.403lbs/mm
2 )に相当する。図12に示すように、加工部材50お
よび成形型32は複合体としてもよい。加工部材50
は、半田に対する親和性を持たない固体材料、例えばシ
リコン、モリブデンなどとし、その上にパターン化可能
な、溶解性材料を堆積させてモールド層32を形成す
る。そして穴を形成するための処理を行う。このような
材料としては、Riston(TM)、その他のポリマ
ーを用いることができる。半田を射出し、それが凝固し
た後、層32は溶解させて除去する(従って、図13は
この実施例には適合しない)。より一般的に云うなら、
成形型は、溶解させたり、砕いたりして除去できる犠牲
的材料により構成すればよい。以上の結果、図14に示
すように、半田に対する親和性を持たない加工部材50
上に半田マウンド122が形成され、それらを半田転写
手段として用いることができる。
【0036】上述した処理は次のようにして実現しても
よい。すなわち、射出プレートは固定とし、モールドお
よび加工部材の方を移動させてもよい。また移動の形態
は直線移動でも、円移動でもよい。
よい。すなわち、射出プレートは固定とし、モールドお
よび加工部材の方を移動させてもよい。また移動の形態
は直線移動でも、円移動でもよい。
【0037】一般に、射出プレート34と成形プレート
32とを相対的に種々の形で移動させればよい。さら
に、射出プレートおよび成形プレートは固定し、その代
りにゲート・バルブ、エア・ナイフその他の手段を用い
て、成形型32の上面62を掃き取ったり、刈り取って
もよい。
32とを相対的に種々の形で移動させればよい。さら
に、射出プレートおよび成形プレートは固定し、その代
りにゲート・バルブ、エア・ナイフその他の手段を用い
て、成形型32の上面62を掃き取ったり、刈り取って
もよい。
【0038】成形型32が、その側壁から凝固した半田
マウンドをスムーズに剥せないような材料によって作製
されている場合に、半田をその開口68から除去するス
テップを図15〜図19に示す。図15は図12と基本
的に同一である。図16は、加工部材50を成形型32
と共に、図15の状態から180度反転させた状態を示
す。加工部材50に接触していない成形型32の面に
は、半田に対する親和性を持たない材料127が配置さ
れており、その材料は図示しない熱源上に配置されてい
る。加工部材50の周辺部128にはフラックス126
が配置されている。加熱されるとフラックスは、成形型
の底面64と加工部材50の面124との間の境目13
0に浸透する。このフラックスにより、再び溶融した半
田マウンド136の表面が酸化することを防止できる。
加工部材50は、図17の矢印138の方向に持ち上げ
て、成形型32および通常、モリブデンから成る非半田
親和性の材料127より取り除く。このとき半田は溶融
しており、加工部材50の表面124に接着し、成形型
32には接着しないので、穴の側壁がスムーズでなくて
も、再溶融した半田マウンド136は成形型32の穴6
8から引き出される。
マウンドをスムーズに剥せないような材料によって作製
されている場合に、半田をその開口68から除去するス
テップを図15〜図19に示す。図15は図12と基本
的に同一である。図16は、加工部材50を成形型32
と共に、図15の状態から180度反転させた状態を示
す。加工部材50に接触していない成形型32の面に
は、半田に対する親和性を持たない材料127が配置さ
れており、その材料は図示しない熱源上に配置されてい
る。加工部材50の周辺部128にはフラックス126
が配置されている。加熱されるとフラックスは、成形型
の底面64と加工部材50の面124との間の境目13
0に浸透する。このフラックスにより、再び溶融した半
田マウンド136の表面が酸化することを防止できる。
加工部材50は、図17の矢印138の方向に持ち上げ
て、成形型32および通常、モリブデンから成る非半田
親和性の材料127より取り除く。このとき半田は溶融
しており、加工部材50の表面124に接着し、成形型
32には接着しないので、穴の側壁がスムーズでなくて
も、再溶融した半田マウンド136は成形型32の穴6
8から引き出される。
【0039】再溶融半田マウンド136が穴68から完
全に引き出されると、それらは表面張力のため図18に
示すように球形のボール140となる。
全に引き出されると、それらは表面張力のため図18に
示すように球形のボール140となる。
【0040】図19に示すように、成形型32および非
半田親和性の面127を除去すると、加工部材50上
に、冷却により凝固した球形の複数の半田マウンド14
2が残る。
半田親和性の面127を除去すると、加工部材50上
に、冷却により凝固した球形の複数の半田マウンド14
2が残る。
【0041】図20〜図27に、上述した装置を用い
て、半導体チップや半導体チップ・パッケージ基板上に
半田マウンドを配置する製造プロセスを示す。このプロ
セスは、図20〜図23の成形型に半田を射出するステ
ップと、図24〜図27の半田を転写するステップとに
大きく分かれている。
て、半導体チップや半導体チップ・パッケージ基板上に
半田マウンドを配置する製造プロセスを示す。このプロ
セスは、図20〜図23の成形型に半田を射出するステ
ップと、図24〜図27の半田を転写するステップとに
大きく分かれている。
【0042】図20に示す成形型32は上述のように複
数の開口68を有している。図20の成形型32の底面
144は、加工部材50に係合させるための穴146を
有している。
数の開口68を有している。図20の成形型32の底面
144は、加工部材50に係合させるための穴146を
有している。
【0043】図21の基板160は、図9〜図14に示
した加工部材50に対する、非半田親和性の一時的な代
替部材である。成形型32は凹部146を有し、それら
は基板160上に位置合わせして配置されている。基板
160は穴68の下部開口66に接している。図21に
示すように、射出プレート34の凹部80には、成形型
32の穴68を充てんするため、溶融した半田が上述の
ように射出されている。
した加工部材50に対する、非半田親和性の一時的な代
替部材である。成形型32は凹部146を有し、それら
は基板160上に位置合わせして配置されている。基板
160は穴68の下部開口66に接している。図21に
示すように、射出プレート34の凹部80には、成形型
32の穴68を充てんするため、溶融した半田が上述の
ように射出されている。
【0044】図22に示すように、射出プレート34は
上述のように成形型32上をスライドし、凹部82上を
通過して半田を掃き取る。そして射出プレート34およ
び成形型32は図23のように除去される。図21およ
び図22の基板160は望ましくはガラス製とする。図
22のステップでは、溶融半田を除いてすべての部品は
透明であるから、光学的な観察を行うことが可能であ
る。射出プレート34の層76は望ましくはガラス製と
する。射出プレート34の層78は、望ましくは透明な
ポリイミドとする。成形型32は透明な材料により形成
されている。基板160は望ましくはガラスであるか
ら、光を基板160の側面152より照らすと、射出プ
レート34の側面154から光学的に観察することがで
きる。光が通過するとき、半田がまだ充てんされていな
い穴68があれば光はそこを通過することになる。従っ
て、その場合にはプロセスの流れを図21のステップに
戻し、半田が充てんされていない穴68に再度溶融半田
106を射出する。半田を冷却することにより、穴68
内にそれらを満たす凝固半田122が残る。
上述のように成形型32上をスライドし、凹部82上を
通過して半田を掃き取る。そして射出プレート34およ
び成形型32は図23のように除去される。図21およ
び図22の基板160は望ましくはガラス製とする。図
22のステップでは、溶融半田を除いてすべての部品は
透明であるから、光学的な観察を行うことが可能であ
る。射出プレート34の層76は望ましくはガラス製と
する。射出プレート34の層78は、望ましくは透明な
ポリイミドとする。成形型32は透明な材料により形成
されている。基板160は望ましくはガラスであるか
ら、光を基板160の側面152より照らすと、射出プ
レート34の側面154から光学的に観察することがで
きる。光が通過するとき、半田がまだ充てんされていな
い穴68があれば光はそこを通過することになる。従っ
て、その場合にはプロセスの流れを図21のステップに
戻し、半田が充てんされていない穴68に再度溶融半田
106を射出する。半田を冷却することにより、穴68
内にそれらを満たす凝固半田122が残る。
【0045】図23に示すように、基板160は矢印1
56の方向に移動させ、取り除く。
56の方向に移動させ、取り除く。
【0046】図24において、穴68を充てんする凝固
半田122を含む成形型32は、フラックス162の層
を有する加工部材50上に位置合わせして配置する。
半田122を含む成形型32は、フラックス162の層
を有する加工部材50上に位置合わせして配置する。
【0047】図25に示すように、加工部材50は成形
型32の凹部146に挿入する。従って、フラックス層
162は、成形型32の凹部146に開口している穴6
8の開口66に接する。半田122を収容している複数
の穴68の位置は、加工部材50上の、半導体チップ上
のコンタクト・パッドなどのような、所定の位置に一致
させておく。成形型32の穴68内の凝固半田を再び溶
融させる。その際、フラックス層162によって半田表
面および加工部材50上のすべてのコンタクト・パッド
の表面の酸化が抑えられる。溶融した半田はコンタクト
位置の表面を濡らす。コンタクト位置の表面は金とすれ
ばよい。
型32の凹部146に挿入する。従って、フラックス層
162は、成形型32の凹部146に開口している穴6
8の開口66に接する。半田122を収容している複数
の穴68の位置は、加工部材50上の、半導体チップ上
のコンタクト・パッドなどのような、所定の位置に一致
させておく。成形型32の穴68内の凝固半田を再び溶
融させる。その際、フラックス層162によって半田表
面および加工部材50上のすべてのコンタクト・パッド
の表面の酸化が抑えられる。溶融した半田はコンタクト
位置の表面を濡らす。コンタクト位置の表面は金とすれ
ばよい。
【0048】図26に示すように、成形型32は加工部
材50より矢印170の方向に持ち上げる。溶融した半
田が成形型の穴68の外に出ると、それらは溶融した半
田マウンド140として球形になる。そして、半田は冷
却して加工部材50上に、図27に示すように、固体の
半田ボール142を形成する。図は成形型32を除去し
た状態を示す。
材50より矢印170の方向に持ち上げる。溶融した半
田が成形型の穴68の外に出ると、それらは溶融した半
田マウンド140として球形になる。そして、半田は冷
却して加工部材50上に、図27に示すように、固体の
半田ボール142を形成する。図は成形型32を除去し
た状態を示す。
【0049】場合によっては、整形した半田マウンド自
体、具体的には体積を正確に制御した半田ボール1が必
要となることがある。例えば、あまり信頼性の高くない
プロセスで作られたアレーを修復するような場合、この
ような半田ボールが必要となる。この半田ボールは、図
20〜図27に示した本発明の装置および方法を若干改
良することによって、高い品質で、かつ低コストで製作
することができる。図23の後、成形型をその第2の面
(凹部がある側)が上に向くように配置する。この場合
には図24とは異なり、加工部材は配置しない。図25
〜図27の処理ステップにおいて、フラックスの影響に
よって、広い開口上に半田ボールが形成される。半田ボ
ールが凝固し、フラックスを除去した後、粘性の低い接
着剤を塗布した代りの加工部材(例えば、硬化ゴム接着
剤を塗布したプラスチック・テープ)を付着させる。こ
れにより半田ボールのアレーを安全に運ぶことができ
る。あるいは、まだ柔らかい状態で、半田ボールを成形
型から所定の容器に移してもよい。
体、具体的には体積を正確に制御した半田ボール1が必
要となることがある。例えば、あまり信頼性の高くない
プロセスで作られたアレーを修復するような場合、この
ような半田ボールが必要となる。この半田ボールは、図
20〜図27に示した本発明の装置および方法を若干改
良することによって、高い品質で、かつ低コストで製作
することができる。図23の後、成形型をその第2の面
(凹部がある側)が上に向くように配置する。この場合
には図24とは異なり、加工部材は配置しない。図25
〜図27の処理ステップにおいて、フラックスの影響に
よって、広い開口上に半田ボールが形成される。半田ボ
ールが凝固し、フラックスを除去した後、粘性の低い接
着剤を塗布した代りの加工部材(例えば、硬化ゴム接着
剤を塗布したプラスチック・テープ)を付着させる。こ
れにより半田ボールのアレーを安全に運ぶことができ
る。あるいは、まだ柔らかい状態で、半田ボールを成形
型から所定の容器に移してもよい。
【0050】本発明の装置を用いて、溶融温度の異なる
複数の半田合金から成る半田マウンドを作製する方法を
図28〜図34に示す。この方法により、上述した半田
マウンドのように接着性があって、容易に作製でき、か
つピンのように背が高く若干曲げることができる半田マ
ウンドが得られる。図34において、350,384は
それぞれ第1および第2の加工部材であり、それらは半
田マウンド380によって電気的に接続されている。各
半田マウンド380は、背が高く、融点の高い半田のサ
ブ・マウンド306と、融点の低い半田のサブ・マウン
ド308とから成る。融点の低いサブ・マウンドは、加
工部材384上のパッドに電気的に接続するために再溶
融され、融点の高いサブ・マウンドは再溶融されず、背
の高いピンとなる。融点が異なることにより、一方を溶
融することなくもう一方を溶融させることができる。
複数の半田合金から成る半田マウンドを作製する方法を
図28〜図34に示す。この方法により、上述した半田
マウンドのように接着性があって、容易に作製でき、か
つピンのように背が高く若干曲げることができる半田マ
ウンドが得られる。図34において、350,384は
それぞれ第1および第2の加工部材であり、それらは半
田マウンド380によって電気的に接続されている。各
半田マウンド380は、背が高く、融点の高い半田のサ
ブ・マウンド306と、融点の低い半田のサブ・マウン
ド308とから成る。融点の低いサブ・マウンドは、加
工部材384上のパッドに電気的に接続するために再溶
融され、融点の高いサブ・マウンドは再溶融されず、背
の高いピンとなる。融点が異なることにより、一方を溶
融することなくもう一方を溶融させることができる。
【0051】同様の構造、装置、ならびに方法によっ
て、融点の異なる3つまたはそれ以上のサブ・マウンド
を含む半田マウンドを得ることができる。図28〜図3
1の半田堆積装置302は、本発明のこの装置を模式的
に示したものである。図28において、半田蓄積装置3
42は融点の高い溶融半田304、例えば融点が約31
0°CのPd/Sn(95/5)を収容している。穴3
68を有する成形型332は、加工部材350の表面3
51上に配置されている。加工部材は、具体的には、半
導体チップやパッケージ基板などである。穴368は上
部開口360と下部開口366とを有している。下部開
口366は加工部材350の表面351上のコンタクト
位置に位置合わせする。
て、融点の異なる3つまたはそれ以上のサブ・マウンド
を含む半田マウンドを得ることができる。図28〜図3
1の半田堆積装置302は、本発明のこの装置を模式的
に示したものである。図28において、半田蓄積装置3
42は融点の高い溶融半田304、例えば融点が約31
0°CのPd/Sn(95/5)を収容している。穴3
68を有する成形型332は、加工部材350の表面3
51上に配置されている。加工部材は、具体的には、半
導体チップやパッケージ基板などである。穴368は上
部開口360と下部開口366とを有している。下部開
口366は加工部材350の表面351上のコンタクト
位置に位置合わせする。
【0052】図29において、半田射出装置302は成
形型332の表面362に接触させ、上述のように半田
を穴368内に射出する。そして上述した掃き取り方法
によって、穴368内の溶融半田を成形装置302内の
溶融半田から分離する。半田は冷却させ、半田成形装置
302を除去する。その結果、穴368内に凝固半田を
収容した成形型332が残る。
形型332の表面362に接触させ、上述のように半田
を穴368内に射出する。そして上述した掃き取り方法
によって、穴368内の溶融半田を成形装置302内の
溶融半田から分離する。半田は冷却させ、半田成形装置
302を除去する。その結果、穴368内に凝固半田を
収容した成形型332が残る。
【0053】図30において、第2の成形型332′を
成形型332の表面362上に配置する。成形型33
2′は穴368′を有している。穴368′は上部開口
360′および下部開口366′を有している。下部開
口366′は、成形型332の穴368の上部開口36
0に位置が一致している。半田射出装置302′は成形
型332′の表面362′上に配置する。装置302′
は、図28および図29の半田304より融点の低い液
体半田304′を収容する蓄積装置342′を有してい
る。低融点の半田としては、融点が183°CのPb/
Sn(37/63)複合体から成る共晶半田を用いるこ
とができる。
成形型332の表面362上に配置する。成形型33
2′は穴368′を有している。穴368′は上部開口
360′および下部開口366′を有している。下部開
口366′は、成形型332の穴368の上部開口36
0に位置が一致している。半田射出装置302′は成形
型332′の表面362′上に配置する。装置302′
は、図28および図29の半田304より融点の低い液
体半田304′を収容する蓄積装置342′を有してい
る。低融点の半田としては、融点が183°CのPb/
Sn(37/63)複合体から成る共晶半田を用いるこ
とができる。
【0054】図31に示すように、低融点の溶融半田3
04′は、成形型332′の穴368′に射出する。
04′は、成形型332′の穴368′に射出する。
【0055】図32に示すように、成形型332′,3
32を除去する。これらの成形型を除去するには、壁面
がスムーズで若干傾斜した穴に入っている凝固半田に対
して異なる圧力を加える方法など、上述した技術を用い
ることができる。あるいは、溶解させることができる成
形型や、複数に分割できる成形型を用いてもよい。ま
た、フラックス能動化方法を用いた場合には、穴内の半
田の体積を必要な量だけ若干減少させることができ、半
田を成形型の壁からわずかに後退させることができる。
その結果、成形型の除去が可能となる。しかし、図29
〜図31のステップでは半田が溶融しているので、この
方法はそれらのプロセスの後においてのみ用いることが
できる。加工部材350の表面351上にはアスペクト
比(径に対する高さの比)の大きい半田マウンド380
が配置される。この半田マウンド380の下部306は
高い融点の半田から成り、上部308は低い融点の半田
から成る。図には、2種類の融点の半田から成る半田コ
ラムのみを示したが、上述した技術を用いることによっ
て、融点が異なるいかなる数の層でも形成することがで
きる。各半田コラム380は露出した端部382を有し
ている。図33に示すように、第2の加工部材384
を、上に延びた複数の半田コラム380上に配置する。
第2の加工部材384は、具体的には例えば半導体チッ
プであり、その半導体チップは例えば表面386に半導
体チップ・コンタクト位置を有し、そのコンタクト位置
を半田コラム380の端部382に位置合わせして接触
させる。
32を除去する。これらの成形型を除去するには、壁面
がスムーズで若干傾斜した穴に入っている凝固半田に対
して異なる圧力を加える方法など、上述した技術を用い
ることができる。あるいは、溶解させることができる成
形型や、複数に分割できる成形型を用いてもよい。ま
た、フラックス能動化方法を用いた場合には、穴内の半
田の体積を必要な量だけ若干減少させることができ、半
田を成形型の壁からわずかに後退させることができる。
その結果、成形型の除去が可能となる。しかし、図29
〜図31のステップでは半田が溶融しているので、この
方法はそれらのプロセスの後においてのみ用いることが
できる。加工部材350の表面351上にはアスペクト
比(径に対する高さの比)の大きい半田マウンド380
が配置される。この半田マウンド380の下部306は
高い融点の半田から成り、上部308は低い融点の半田
から成る。図には、2種類の融点の半田から成る半田コ
ラムのみを示したが、上述した技術を用いることによっ
て、融点が異なるいかなる数の層でも形成することがで
きる。各半田コラム380は露出した端部382を有し
ている。図33に示すように、第2の加工部材384
を、上に延びた複数の半田コラム380上に配置する。
第2の加工部材384は、具体的には例えば半導体チッ
プであり、その半導体チップは例えば表面386に半導
体チップ・コンタクト位置を有し、そのコンタクト位置
を半田コラム380の端部382に位置合わせして接触
させる。
【0056】図34の構造体を、低融点半田308の溶
融温度まで加熱する。表面386は例えば半田親和性と
なっており、具体的にはチップの金をメッキしたコンタ
クト位置などである。溶融半田およびコンタクト位置の
表面が酸化することを防止するため、フラックスを塗布
することも可能である。半田308は溶融してコンタク
ト位置を濡らすことになる。冷却によって溶融半田30
8は凝固し、高融点の半田コラム306の端部に低融点
の球形半田ボールが形成され、それは加工部材384の
表面386のチップ・コンタクト位置に結合する。
融温度まで加熱する。表面386は例えば半田親和性と
なっており、具体的にはチップの金をメッキしたコンタ
クト位置などである。溶融半田およびコンタクト位置の
表面が酸化することを防止するため、フラックスを塗布
することも可能である。半田308は溶融してコンタク
ト位置を濡らすことになる。冷却によって溶融半田30
8は凝固し、高融点の半田コラム306の端部に低融点
の球形半田ボールが形成され、それは加工部材384の
表面386のチップ・コンタクト位置に結合する。
【0057】図20〜図27を参照して説明した装置お
よび方法を用いた自動製造プロセスを図35に示す。コ
ンベア・トラック402上には、複数の成形型32が配
置され、各成形型32は406の位置で隣接する成形型
に当接している。各成形型は複数の穴68を有してい
る。各成形型は、図20を参照して述べたように中心部
に適合凹部146を有している。コンベア・ベルト40
2は矢印412が示す時計方向に回転する。コンベア・
ベルト414は、図21〜図23を参照して説明したよ
うに複数の床片160を収容している。成形型の穴に溶
融半田を射出する際、これらの床片の表面に対して成形
型が配置される。成形型32の適合凹部146は、ルー
プ420上で、上記基板に適合するサイズとなってい
る。ループ420は、矢印422が示すように反時計方
向に回転する。ループ418が時計方向に回転し、ルー
プ420が反時計方向に回転すると、複数の基板160
は、成形型32の適合凹部146に係合する。穴68
は、適合凹部146のベース147から成形型32の反
対側の面32に延びている。上述した、要素34として
模式的に示す射出モールド装置は、成形型32に係合す
る基板160上の位置427に配置する。装置34は、
図21および図22を参照して説明したように、溶融し
た半田を、位置427に配置された成形型32の複数の
穴68に押し込む。ループ418,420が循環する
と、基板160と成形型32とは、図23を参照して説
明したように、位置429において互いに引き離され
る。また、上述したように、基板としては、半田マウン
ドが強くは接着しないガラス基板を用いることができ
る。位置427と430との間では、成形型32の開口
68に凝固した半田122が充てんされている。ループ
432はコンベア・ベルト434であり、これは矢印4
38が示す位置440において加工部材50をピックア
ップする。コンベア434は反時計方向に回転するの
で、加工部材50の表面51は成形型32の適合凹部1
46と係合し、加工部材50の表面51は、図24およ
び図25を参照して説明したように、位置444におい
て適合凹部146のベースの表面147に接触する。位
置444と430との間で、熱を加える。フラックスは
図15のように供給するか、あるいは図24〜図25の
ように加工部材50の表面51上にフラックス層162
を配置する。再溶融した半田140は、半田で満たされ
た穴68の位置に対応する、表面51上の半田親和性・
コンタクト位置に接着する。位置430と446との間
で、溶融半田140は凝固して半田ボール142とな
る。位置446において加工部材50は成形型32から
取り出される。図27のように、凝固した半田は、位置
452において、半田ボール142として成形型より取
り出される。位置451で加工部材50は矢印456の
方向にコンベア434から取り外され、表面に複数の半
田ボール142を有する最終的な加工部材450とな
る。
よび方法を用いた自動製造プロセスを図35に示す。コ
ンベア・トラック402上には、複数の成形型32が配
置され、各成形型32は406の位置で隣接する成形型
に当接している。各成形型は複数の穴68を有してい
る。各成形型は、図20を参照して述べたように中心部
に適合凹部146を有している。コンベア・ベルト40
2は矢印412が示す時計方向に回転する。コンベア・
ベルト414は、図21〜図23を参照して説明したよ
うに複数の床片160を収容している。成形型の穴に溶
融半田を射出する際、これらの床片の表面に対して成形
型が配置される。成形型32の適合凹部146は、ルー
プ420上で、上記基板に適合するサイズとなってい
る。ループ420は、矢印422が示すように反時計方
向に回転する。ループ418が時計方向に回転し、ルー
プ420が反時計方向に回転すると、複数の基板160
は、成形型32の適合凹部146に係合する。穴68
は、適合凹部146のベース147から成形型32の反
対側の面32に延びている。上述した、要素34として
模式的に示す射出モールド装置は、成形型32に係合す
る基板160上の位置427に配置する。装置34は、
図21および図22を参照して説明したように、溶融し
た半田を、位置427に配置された成形型32の複数の
穴68に押し込む。ループ418,420が循環する
と、基板160と成形型32とは、図23を参照して説
明したように、位置429において互いに引き離され
る。また、上述したように、基板としては、半田マウン
ドが強くは接着しないガラス基板を用いることができ
る。位置427と430との間では、成形型32の開口
68に凝固した半田122が充てんされている。ループ
432はコンベア・ベルト434であり、これは矢印4
38が示す位置440において加工部材50をピックア
ップする。コンベア434は反時計方向に回転するの
で、加工部材50の表面51は成形型32の適合凹部1
46と係合し、加工部材50の表面51は、図24およ
び図25を参照して説明したように、位置444におい
て適合凹部146のベースの表面147に接触する。位
置444と430との間で、熱を加える。フラックスは
図15のように供給するか、あるいは図24〜図25の
ように加工部材50の表面51上にフラックス層162
を配置する。再溶融した半田140は、半田で満たされ
た穴68の位置に対応する、表面51上の半田親和性・
コンタクト位置に接着する。位置430と446との間
で、溶融半田140は凝固して半田ボール142とな
る。位置446において加工部材50は成形型32から
取り出される。図27のように、凝固した半田は、位置
452において、半田ボール142として成形型より取
り出される。位置451で加工部材50は矢印456の
方向にコンベア434から取り外され、表面に複数の半
田ボール142を有する最終的な加工部材450とな
る。
【0058】当業者にとって明らかなように、融点の異
なる半田層からなる半田マウンドが必要な場合には、図
35のループに噛み合う第2のループあるいは複数のル
ープを設ければよい。
なる半田層からなる半田マウンドが必要な場合には、図
35のループに噛み合う第2のループあるいは複数のル
ープを設ければよい。
【0059】図36〜図40には、この装置、方法、プ
ロセスを2つのセクタに分割した場合を示す。第1のセ
クタ(図36〜図38)では、図20〜図22に示した
ように半田を充てんした成形型を作製する。第2のセク
タ(図39および図40)では、図24〜図27に示し
たように、半田を成形型から基板あるいはその他の部材
に転写する。これら2つのセクタは、半田を充てんした
成形型のみによって結合されている。あるいはさらに、
再射出のために待機させている空の成形型によって結合
されている。
ロセスを2つのセクタに分割した場合を示す。第1のセ
クタ(図36〜図38)では、図20〜図22に示した
ように半田を充てんした成形型を作製する。第2のセク
タ(図39および図40)では、図24〜図27に示し
たように、半田を成形型から基板あるいはその他の部材
に転写する。これら2つのセクタは、半田を充てんした
成形型のみによって結合されている。あるいはさらに、
再射出のために待機させている空の成形型によって結合
されている。
【0060】場合によっては、これらのセクタは強く結
合させたり、あるいは弱く結合させることができる。例
えば、図35ではループ418はループ420,432
と強く結合している。一方、図36〜図40は、2つの
ループが距離的および時間的に離れており、2つのセク
タが弱く結合している場合の例である。図36および図
37では、空の成形型デカル・テープ504が射出プレ
ート34によって半田で充てんされ、半田で充てんされ
た成形デカル・テープ510となる。基板ベース502
は非半田親和性の面となっており、それに対して溶融半
田106が射出プレート34により射出される。穴68
を有する成形型デカル32がそれぞれ、図20〜図23
に示した装置および方法によって充てんされると、テー
プは矢印512の方向に移動して次の空の成形型デカル
が半田射出の対象となる。
合させたり、あるいは弱く結合させることができる。例
えば、図35ではループ418はループ420,432
と強く結合している。一方、図36〜図40は、2つの
ループが距離的および時間的に離れており、2つのセク
タが弱く結合している場合の例である。図36および図
37では、空の成形型デカル・テープ504が射出プレ
ート34によって半田で充てんされ、半田で充てんされ
た成形デカル・テープ510となる。基板ベース502
は非半田親和性の面となっており、それに対して溶融半
田106が射出プレート34により射出される。穴68
を有する成形型デカル32がそれぞれ、図20〜図23
に示した装置および方法によって充てんされると、テー
プは矢印512の方向に移動して次の空の成形型デカル
が半田射出の対象となる。
【0061】このようにして、半田で満たされたモール
ドは、テープ506を巻いたリールによって示す自律的
な部品となる。(我々は“Solder Three Dimensional D
ecal”あるいは“Solder Solid Decal”という名称を提
案する。また、それらの短縮形として、“Solder Three
-D Decal”、“Solder Three-Decal”、“Solder Solid
Decal”、“Three-Decal ”、“3-Decal”を提案し、
さらにそれらに対応する並べ替え、省略形、頭字語を提
案する。)3−デカルは自律的に蓄積し、そしてセクタ
間で移動される。3−デカルは、パターン化した半田を
製品に付着させるために自律的に用いる。3−デカル
は、ある種の他の半田プロセスにおいて、半田デカルの
ように用いることができる。しかし重要なのは、3−デ
カルによって半田の3次元構造を決めることができると
いうことである。上述したピラミッド・マウンドおよび
2重合金コラムはその例である。これに対して従来の技
術では、半田デカルは主に2次元の構造を決めるのみで
あり、垂直方向の構造はほとんど決めることができな
い。
ドは、テープ506を巻いたリールによって示す自律的
な部品となる。(我々は“Solder Three Dimensional D
ecal”あるいは“Solder Solid Decal”という名称を提
案する。また、それらの短縮形として、“Solder Three
-D Decal”、“Solder Three-Decal”、“Solder Solid
Decal”、“Three-Decal ”、“3-Decal”を提案し、
さらにそれらに対応する並べ替え、省略形、頭字語を提
案する。)3−デカルは自律的に蓄積し、そしてセクタ
間で移動される。3−デカルは、パターン化した半田を
製品に付着させるために自律的に用いる。3−デカル
は、ある種の他の半田プロセスにおいて、半田デカルの
ように用いることができる。しかし重要なのは、3−デ
カルによって半田の3次元構造を決めることができると
いうことである。上述したピラミッド・マウンドおよび
2重合金コラムはその例である。これに対して従来の技
術では、半田デカルは主に2次元の構造を決めるのみで
あり、垂直方向の構造はほとんど決めることができな
い。
【0062】テープ自動ボンディング(TAB)に類似
した3−デカルの実施例は、効率のよい大量生産に大変
適している。図36のリールはテープ504を収容して
おり、テープ504には、穴のアレーを有する成形型が
装着されていて、成形型は半田により充てんされてい
る。
した3−デカルの実施例は、効率のよい大量生産に大変
適している。図36のリールはテープ504を収容して
おり、テープ504には、穴のアレーを有する成形型が
装着されていて、成形型は半田により充てんされてい
る。
【0063】プロセスの一例は次のようなものである。
ポリイミドあるいは他の高温プラスティック、あるいは
モリブデンなどの金属を重ねたプラスティックの長いテ
ープをリールに巻き付ける。高温の合金に対応させる場
合には、テープは金属の成形型を装着した金属箔とすれ
ばよい。このテープには、テープ自動ボンディング技術
に従って、スプロケット穴およびフレームを形成しても
よい。第2に、テープの各フレームに、位置、体積、形
状などの予め決められた幾何学的条件で穴68のアレー
を作製する。これはパンチングやエッチングによって行
うことができる。図38に示すように、各成形型フレー
ムは、半田を充てんしたテープ504および半田を充て
んしていないテープ506の成形型フレーム32のよう
に貫通穴68,68′が形成されていてもよく、あるい
は半田を充てんしたテープ505および空のテープ50
7の成形型フレーム33のように非貫通穴69,69′
が形成されていてもよい。分割線406,407は、連
続テープ504(半田を充てんした場合はテープ50
6),505(半田を充てんした場合はテープ507)
の各成形型フレーム32あるいは33の端部を示してい
る。また、以前のリールを再使用してもよい。第3に、
穴68に半田を充てんする。穴の作製および半田の射出
は共にリール間でテープを移動させて行うことができ
る。以上の結果、3−デカルのテープが得られる。
ポリイミドあるいは他の高温プラスティック、あるいは
モリブデンなどの金属を重ねたプラスティックの長いテ
ープをリールに巻き付ける。高温の合金に対応させる場
合には、テープは金属の成形型を装着した金属箔とすれ
ばよい。このテープには、テープ自動ボンディング技術
に従って、スプロケット穴およびフレームを形成しても
よい。第2に、テープの各フレームに、位置、体積、形
状などの予め決められた幾何学的条件で穴68のアレー
を作製する。これはパンチングやエッチングによって行
うことができる。図38に示すように、各成形型フレー
ムは、半田を充てんしたテープ504および半田を充て
んしていないテープ506の成形型フレーム32のよう
に貫通穴68,68′が形成されていてもよく、あるい
は半田を充てんしたテープ505および空のテープ50
7の成形型フレーム33のように非貫通穴69,69′
が形成されていてもよい。分割線406,407は、連
続テープ504(半田を充てんした場合はテープ50
6),505(半田を充てんした場合はテープ507)
の各成形型フレーム32あるいは33の端部を示してい
る。また、以前のリールを再使用してもよい。第3に、
穴68に半田を充てんする。穴の作製および半田の射出
は共にリール間でテープを移動させて行うことができ
る。以上の結果、3−デカルのテープが得られる。
【0064】図39に、半田を充てんした3−デカルの
テープ506およびリール510を示す。図40の矢印
514,516は、例えば他のリールおよびテープで部
品50を運んだ場合、その移動方向を示している。2つ
のリールおよびテープは徐々に巻き戻す。各部品は順
次、位置518において3−デカルに位置合わせする。
位置合わせの装置および方法としては、分離光学機械位
置合わせ手段を用いたり、マスクを貫通する位置合わせ
用の穴を設けたりすることができる。半田アレーは、図
24〜図27の手段によって、位置520,522に示
すように転写する。半田の転写が完了すると、位置52
4において加工部材テープを、3−デカル・テープから
分離する。最後に、成形型が空になったテープは他のリ
ールに再び巻き取り、望ましくは再使用する。
テープ506およびリール510を示す。図40の矢印
514,516は、例えば他のリールおよびテープで部
品50を運んだ場合、その移動方向を示している。2つ
のリールおよびテープは徐々に巻き戻す。各部品は順
次、位置518において3−デカルに位置合わせする。
位置合わせの装置および方法としては、分離光学機械位
置合わせ手段を用いたり、マスクを貫通する位置合わせ
用の穴を設けたりすることができる。半田アレーは、図
24〜図27の手段によって、位置520,522に示
すように転写する。半田の転写が完了すると、位置52
4において加工部材テープを、3−デカル・テープから
分離する。最後に、成形型が空になったテープは他のリ
ールに再び巻き取り、望ましくは再使用する。
【0065】(我々は、このリールとテープを用いた3
−デカル・プロセスの名称として“テープ自動半田付け
(Tape Automated Soldering)”という名称を提案し、
その頭字語としてTASを提案する。)本発明の望まし
い実施例は微視的な局面と巨視的な局面とを有してい
る。微視的な局面は、図20〜図23に示したように3
−デカルを作製し、そして図24〜図27に示したよう
に半田を加工部材に転写する局面である。巨視的な局面
は、図35〜40に示したようにTASに類似の処理を
行う局面である。
−デカル・プロセスの名称として“テープ自動半田付け
(Tape Automated Soldering)”という名称を提案し、
その頭字語としてTASを提案する。)本発明の望まし
い実施例は微視的な局面と巨視的な局面とを有してい
る。微視的な局面は、図20〜図23に示したように3
−デカルを作製し、そして図24〜図27に示したよう
に半田を加工部材に転写する局面である。巨視的な局面
は、図35〜40に示したようにTASに類似の処理を
行う局面である。
【0066】一般に、この装置および方法は融点が異な
る種々の半田合金に対して適用できる。装置の材料は、
各合金の溶融温度に耐えるものとし、また半田に対する
親和性の有るもの、あるいは無いものを使い分ける必要
がある。本発明は、SnPb(共融温度183°C)、
BiSn(共融温度138°C)、BiPb(共融温度
124°C)、InSn(共融温度118°C)、Bi
In(共融温度109°C)、InBi(共融温度72
°C)、BiPbInSn(液相温度69°C)の合金
を含め、多くの合金に対して実施して有効であった。
る種々の半田合金に対して適用できる。装置の材料は、
各合金の溶融温度に耐えるものとし、また半田に対する
親和性の有るもの、あるいは無いものを使い分ける必要
がある。本発明は、SnPb(共融温度183°C)、
BiSn(共融温度138°C)、BiPb(共融温度
124°C)、InSn(共融温度118°C)、Bi
In(共融温度109°C)、InBi(共融温度72
°C)、BiPbInSn(液相温度69°C)の合金
を含め、多くの合金に対して実施して有効であった。
【0067】以上、多数の実施例について繰り返し説明
したが、その一部をリストアップすると次のようにな
る。図6〜図11の装置および方法によって、モリブデ
ン製の成形型に半田を射出する。次に図15〜図19の
装置および方法によって、金属端子パッドを有する小さ
いセラミック配線基板である加工部材に上記半田を転写
する。その結果、セラミックのパッド上に、高品質の半
田ボールの均一なアレーが配置される。半田は、63%
Sn、37%Pbとし、半田ボールの直径は0.250
mm、パッドの直径は0.150mm、アレー・ピッチ
は0.450mm、アレー内のマウンドの数は1738
とした。
したが、その一部をリストアップすると次のようにな
る。図6〜図11の装置および方法によって、モリブデ
ン製の成形型に半田を射出する。次に図15〜図19の
装置および方法によって、金属端子パッドを有する小さ
いセラミック配線基板である加工部材に上記半田を転写
する。その結果、セラミックのパッド上に、高品質の半
田ボールの均一なアレーが配置される。半田は、63%
Sn、37%Pbとし、半田ボールの直径は0.250
mm、パッドの直径は0.150mm、アレー・ピッチ
は0.450mm、アレー内のマウンドの数は1738
とした。
【0068】図1〜図14の装置および方法では、ピラ
ミッド状の複数の穴を有するシリコン成形型を用いた。
加工部材は、金のパッドを有するポリイミド・シートと
した。その結果、パッドに対する優れた接着性を備え
た、半田ピラミッドの均一なアレーが得られた。各部の
寸法などはほぼ次のようにした。すなわち、ピラミッド
の幅は0.175mm、ピラミッドの深さは0.175
mm、ピラミッド頂部の射出開口の幅は0.012m
m、アレー・ピッチは0.2225mm、アレー内のマ
ウンドの数は1000以上とした。
ミッド状の複数の穴を有するシリコン成形型を用いた。
加工部材は、金のパッドを有するポリイミド・シートと
した。その結果、パッドに対する優れた接着性を備え
た、半田ピラミッドの均一なアレーが得られた。各部の
寸法などはほぼ次のようにした。すなわち、ピラミッド
の幅は0.175mm、ピラミッドの深さは0.175
mm、ピラミッド頂部の射出開口の幅は0.012m
m、アレー・ピッチは0.2225mm、アレー内のマ
ウンドの数は1000以上とした。
【0069】他の例では、加工部材は、ポリイミド・シ
ートの非被覆片とし、成形型は同じものを用いた。その
結果得られた半田ピラミッドは、加工部材に対する優れ
た接着性を有し、そして良好な均一性および品質を備え
ていた。
ートの非被覆片とし、成形型は同じものを用いた。その
結果得られた半田ピラミッドは、加工部材に対する優れ
た接着性を有し、そして良好な均一性および品質を備え
ていた。
【0070】上述した装置および方法を改良した図20
〜図27の装置および方法によって、非固定の半田ボー
ルのアレーを作製した。このアレーは粘性の低い接着剤
によってピックアップした。成形型としては同じシリコ
ン成形型を用いた。その結果、体積が非常に均一な半田
ボールが得られた。
〜図27の装置および方法によって、非固定の半田ボー
ルのアレーを作製した。このアレーは粘性の低い接着剤
によってピックアップした。成形型としては同じシリコ
ン成形型を用いた。その結果、体積が非常に均一な半田
ボールが得られた。
【0071】要約すると、半田を射出成形して、加工部
材上の所定位置に分離マウンドを形成するための装置お
よび方法について記述した。加工部材は、具体的には半
導体チップや半導体チップ・パッケージ基板などであ
り、表面に半田マウンドを配置すべき電気的コンタクト
位置のアレーを備えている。互いに噛み合うコンベア・
・ベルト・ループを用いて、電子装置である上述のよう
な基板上に半田マウンドを全く自動的に堆積させ、配置
するための装置および方法について記述した。さらに進
んだ実施例として、テープ自動半田付けを行う、リール
を用いた装置およびプロセスについても記述した。
材上の所定位置に分離マウンドを形成するための装置お
よび方法について記述した。加工部材は、具体的には半
導体チップや半導体チップ・パッケージ基板などであ
り、表面に半田マウンドを配置すべき電気的コンタクト
位置のアレーを備えている。互いに噛み合うコンベア・
・ベルト・ループを用いて、電子装置である上述のよう
な基板上に半田マウンドを全く自動的に堆積させ、配置
するための装置および方法について記述した。さらに進
んだ実施例として、テープ自動半田付けを行う、リール
を用いた装置およびプロセスについても記述した。
【図1】本発明による装置の一実施例を、見下ろす角度
で示す斜視図である。
で示す斜視図である。
【図2】図1の加工部材の支持構造体30を示す模式側
断面図である。
断面図である。
【図3】図1の成形型32の一例における半田穴アレー
を示す平面図である。
を示す平面図である。
【図4】図1のプレート30、成形型32、射出プレー
ト34、半田蓄積管46の直線72−72に沿った部分
の断面図である。
ト34、半田蓄積管46の直線72−72に沿った部分
の断面図である。
【図5】図1の射出プレート34を示す平面図である。
【図6】射出プレートが成形型上で3つの異なる位置の
うちの1つにある場合を示す平面図である。
うちの1つにある場合を示す平面図である。
【図7】射出プレートが成形型上で3つの異なる位置の
うちの1つにある場合を示す平面図である。
うちの1つにある場合を示す平面図である。
【図8】射出プレートが成形型上で3つの異なる位置の
うちの1つにある場合を示す平面図である。
うちの1つにある場合を示す平面図である。
【図9】図4の側面図であり、図6の位置に対応し、半
田穴アレーの位置に対応する領域を示す図である。
田穴アレーの位置に対応する領域を示す図である。
【図10】図4の側面図であり、図7の位置に対応し、
半田穴アレーの位置に対応する領域を示す図である。
半田穴アレーの位置に対応する領域を示す図である。
【図11】図4の側面図であり、図8の位置に対応し、
半田穴アレーの位置に対応する領域を示す図である。
半田穴アレーの位置に対応する領域を示す図である。
【図12】半田を成形型から分離し、基板上にピラミッ
ド状の半田マウンドを形成する方法の1ステップを示す
図である。
ド状の半田マウンドを形成する方法の1ステップを示す
図である。
【図13】半田を成形型から分離し、基板上にピラミッ
ド状の半田マウンドを形成する方法の1ステップを示す
図である。
ド状の半田マウンドを形成する方法の1ステップを示す
図である。
【図14】半田を成形型から分離し、基板上にピラミッ
ド状の半田マウンドを形成する方法の1ステップを示す
図である。
ド状の半田マウンドを形成する方法の1ステップを示す
図である。
【図15】溶けた半田を成形型の穴から容易に除去でき
ない場合に、半田アレーを除去する方法の1ステップを
示す図である。
ない場合に、半田アレーを除去する方法の1ステップを
示す図である。
【図16】溶けた半田を成形型の穴から容易に除去でき
ない場合に、半田アレーを除去する方法の1ステップを
示す図である。
ない場合に、半田アレーを除去する方法の1ステップを
示す図である。
【図17】溶けた半田を成形型の穴から容易に除去でき
ない場合に、半田アレーを除去する方法の1ステップを
示す図である。
ない場合に、半田アレーを除去する方法の1ステップを
示す図である。
【図18】溶けた半田を成形型の穴から容易に除去でき
ない場合に、半田アレーを除去する方法の1ステップを
示す図である。
ない場合に、半田アレーを除去する方法の1ステップを
示す図である。
【図19】溶けた半田を成形型の穴から容易に除去でき
ない場合に、半田アレーを除去する方法の1ステップを
示す図である。
ない場合に、半田アレーを除去する方法の1ステップを
示す図である。
【図20】半田成形型を基板に転写する転写手段として
用い、その半田成形型の穴に半田を射出する方法の1ス
テップを示す図である。
用い、その半田成形型の穴に半田を射出する方法の1ス
テップを示す図である。
【図21】半田成形型を基板に転写する転写手段として
用い、その半田成形型の穴に半田を射出する方法の1ス
テップを示す図である。
用い、その半田成形型の穴に半田を射出する方法の1ス
テップを示す図である。
【図22】半田成形型を基板に転写する転写手段として
用い、その半田成形型の穴に半田を射出する方法の1ス
テップを示す図である。
用い、その半田成形型の穴に半田を射出する方法の1ス
テップを示す図である。
【図23】半田成形型を基板に転写する転写手段として
用い、その半田成形型の穴に半田を射出する方法の1ス
テップを示す図である。
用い、その半田成形型の穴に半田を射出する方法の1ス
テップを示す図である。
【図24】半田成形型を基板に転写する転写手段として
用い、その半田成形型の穴に半田を射出する方法の1ス
テップを示す図である。
用い、その半田成形型の穴に半田を射出する方法の1ス
テップを示す図である。
【図25】半田成形型を基板に転写する転写手段として
用い、その半田成形型の穴に半田を射出する方法の1ス
テップを示す図である。
用い、その半田成形型の穴に半田を射出する方法の1ス
テップを示す図である。
【図26】半田成形型を基板に転写する転写手段として
用い、その半田成形型の穴に半田を射出する方法の1ス
テップを示す図である。
用い、その半田成形型の穴に半田を射出する方法の1ス
テップを示す図である。
【図27】半田成形型を基板に転写する転写手段として
用い、その半田成形型の穴に半田を射出する方法の1ス
テップを示す図である。
用い、その半田成形型の穴に半田を射出する方法の1ス
テップを示す図である。
【図28】融点の異なる半田層を有する、アスペクト比
が大きい半田マウンドを形成する方法の1ステップを示
す図である。
が大きい半田マウンドを形成する方法の1ステップを示
す図である。
【図29】融点の異なる半田層を有する、アスペクト比
が大きい半田マウンドを形成する方法の1ステップを示
す図である。
が大きい半田マウンドを形成する方法の1ステップを示
す図である。
【図30】融点の異なる半田層を有する、アスペクト比
が大きい半田マウンドを形成する方法の1ステップを示
す図である。
が大きい半田マウンドを形成する方法の1ステップを示
す図である。
【図31】融点の異なる半田層を有する、アスペクト比
が大きい半田マウンドを形成する方法の1ステップを示
す図である。
が大きい半田マウンドを形成する方法の1ステップを示
す図である。
【図32】融点の異なる半田層を有する、アスペクト比
が大きい半田マウンドを形成する方法の1ステップを示
す図である。
が大きい半田マウンドを形成する方法の1ステップを示
す図である。
【図33】融点の異なる半田層を有する、アスペクト比
が大きい半田マウンドを形成する方法の1ステップを示
す図である。
が大きい半田マウンドを形成する方法の1ステップを示
す図である。
【図34】融点の異なる半田層を有する、アスペクト比
が大きい半田マウンドを形成する方法の1ステップを示
す図である。
が大きい半田マウンドを形成する方法の1ステップを示
す図である。
【図35】半田マウンドアレーを基板上に配置する自動
製造システムを示す図である。
製造システムを示す図である。
【図36】“3D−デカル”を作製するための、リール
に巻かれたテープ上の穴に半田を射出する方法の1ステ
ップを示す図である。
に巻かれたテープ上の穴に半田を射出する方法の1ステ
ップを示す図である。
【図37】“3D−デカル”を作製するための、リール
に巻かれたテープ上の穴に半田を射出する方法の1ステ
ップを示す図である。
に巻かれたテープ上の穴に半田を射出する方法の1ステ
ップを示す図である。
【図38】“3D−デカル”を作製するための、リール
に巻かれたテープ上の穴に半田を射出する方法の1ステ
ップを示す図である。
に巻かれたテープ上の穴に半田を射出する方法の1ステ
ップを示す図である。
【図39】半田を“3D−デカル”から、フラックスを
塗った加工部材に転写する方法の1ステップを示す図で
ある。
塗った加工部材に転写する方法の1ステップを示す図で
ある。
【図40】半田を“3D−デカル”から、フラックスを
塗った加工部材に転写する方法の1ステップを示す図で
ある。
塗った加工部材に転写する方法の1ステップを示す図で
ある。
2 溶融半田射出成形装置 32 成形型 34 射出プレート 44 ヒータ・コイル 46 半田蓄積管 48 オリフィス 60,66 開口 68 穴 80,82 凹部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ピーター・アルフレッド・グラバー アメリカ合衆国 ニューヨーク州 モヒガ ン レイクキングス コート 5ディー (72)発明者 バーナード・ヘルナンデス アメリカ合衆国 コネティカット州 ノー ウォーク キャディー ロード 5 (72)発明者 マイケル・ジョン・パーマー アメリカ合衆国 ニューヨーク州 ウォル デン アールディー 2 ボックス 372 (番地なし) (72)発明者 アーサー・リチャード・ジンガー アメリカ合衆国 ニューヨーク州 ホワイ ト プレインズ エイピーティー ノース 10ビー レイク ストリート 125
Claims (15)
- 【請求項1】溶融半田を射出成形する装置において、 排出オリフィスを有する前記溶融半田の蓄積装置と、 少なくとも1つの穴を有し、前記溶融半田を前記複数の
穴に射出できるように前記排出オリフィスに通じた成形
型と、 前記溶融半田を前記穴に押し込むための圧力を加える手
段とを備えたことを特徴とする装置。 - 【請求項2】半田を射出成形する装置において、 溶融半田を射出する手段と、 成形手段とを備え、 前記射出手段は、前記成形手段と関連して動作し、 前記溶融半田を前記成形手段に押し込むための力を加え
る手段を備えたことを特徴とする装置。 - 【請求項3】加工部材の表面に半田をマウンドとして配
置する射出成形装置において、 前記半田の蓄積装置と、 前記半田を加熱して溶融半田とする手段とを備え、 前記蓄積装置は排出オリフィスを有し、 所定のアレーとして複数の穴を有する成形型を備え、 前記成形型は、ほぼ平坦な第1および第2の面を有し、 前記穴は前記第1の面から前記第2の面へと延びてお
り、 前記第1の面に対して移動される射出プレートと、 前記溶融半田に圧力を加える手段と、 前記圧力を制御する手段とを備え、 前記射出プレートは、第1の射出プレート面と、第2の
射出プレート面と、前記第2の射出プレート面にエッジ
を有する射出凹部と、前記第2の射出プレート面にエッ
ジを有する掃き取り凹部とを持ち、 前記蓄積装置の前記排出オリフィスは、前記射出凹部と
流体に関して通じており、 前記射出プレートを第1の位置から第2の位置に移動す
る手段を備え、 前記射出凹部は前記第1の位置において、前記穴のアレ
ー上に配置され、前記加圧手段によって圧力が加えられ
たとき、前記溶融半田は前記射出凹部に押し込まれ、そ
して前記穴のアレーに押し込まれ、 前記射出プレートが前記第1の位置から前記第2の位置
に移動したとき、前記掃き取り凹部は、前記成形型の前
記第1の面における前記アレー付近の余剰半田を掃き取
り、 前記成形型の前記第2の面に隣接する前記加工部材を保
持する加工部材保持手段と、 前記加工部材を加熱する手段とを備えたことを特徴とす
る装置。 - 【請求項4】複数の成形型と、 前記複数の成形型を移送するための成形型移送手段と、 複数の支持基板を移送するための支持基板移送手段と、 複数の加工部材を移送する加工部材移送手段とを備え、 前記成形型移送手段は、前記支持基板移送手段を被い、
前記支持基板の1つは前記成形型の1つを被って、半田
を充てんして成形型を形成するために、前記支持基板に
対する前記1つの成形型内に溶融半田を射出成形するた
めの面を与え、 前記成形型移送手段は、前記加工部材移送手段を被っ
て、前記前記半田を充てんした前記成形型が、前記加工
部材に対して配置され、前記加工部材に転写されるよう
にすることを特徴とする請求項1記載の装置。 - 【請求項5】ポリマー面と、 前記ポリマー面に直接半田が接着しているマウンドとを
備えた構造体。 - 【請求項6】ポリマー面を設け、 前記面上に溶融半田を直接配置し、 前記溶融半田を冷却して、前記ポリマー面に接着した凝
固半田のマウンドとすることを特徴とする方法。 - 【請求項7】第1の面から第2の面へ延びる少なくとも
1つの穴を有する成形型を設け、 前記第2の面の前記穴を、加工部材の面に隣接して配置
し、 溶融半田を前記成形型の前記第1の面から前記穴内に押
し込み、 前記成形型を除去して、前記面上に凝固半田マウンドを
残すことを特徴とする方法。 - 【請求項8】半田を所定の形状に射出成形する装置にお
いて、 溶融半田を供給する手段と、 所定の形状の複数の穴を有する成形型と、 前記溶融半田を前記穴に押し込む手段と、 前記穴内の前記半田を前記供給半田から分離する手段と
を備えたことを特徴とする装置。 - 【請求項9】前記穴は、半田に対する親和性を持たない
内部面を有し、前記押し込み手段は前記溶融半田に加え
られる空気圧力であり、前記分離手段は、前記穴の外に
ある半田を掃き取るか、刈り取る手段であり、さらに前
記溶融半田を前記供給手段から前記成形型の穴へ移送す
る手段と、前記半田を前記穴内で凝固させる手段とを備
えたことを特徴とする請求項8記載の装置。 - 【請求項10】所定位置に配置され、所定の体積を有す
る複数の半田マウンドを加工部材上に配置する装置にお
いて、 所定位置に配置され、所定の体積を有する複数の穴を備
えた成形型と、前記複数の穴を完全に満たす固体の半田
と、所定パターンに配置された複数の接着端子を有する
加工部材と、前記加工部材を前記成形型に近接して支持
する手段と、フラックスと、前記固体半田を溶融する手
段とを備えたことを特徴とする装置。 - 【請求項11】所定材料のテープと、複数の穴を有する
複数の成形型とを備え、前記成形型は前記複数の穴を満
たす固体半田を収容している構造体。 - 【請求項12】所定位置に配置され、所定の体積を有す
る複数の半田マウンドを加工部材上に配置する装置にお
いて、 請求項11に記載の構造体と、請求項10に記載の装置
とを備え、請求項11の前記テープは、請求項10の前
記複数の成形型と、前記複数の穴と、前記半田とを与え
ることを特徴とする装置。 - 【請求項13】融点の異なる複数の半田を含む半田マウ
ンド構造体。 - 【請求項14】融点の高い複合体の半田の、背の高いサ
ブマウンドと、融点の低い複合体の半田の、背の低いサ
ブマウンドとを含む半田マウンド構造体。 - 【請求項15】複数の半田ボールを形成する装置におい
て、 複数の穴を有する成形型と、前記複数の穴を完全に充て
んする固体半田と、フラックスと、前記固体半田を溶融
する手段とを備えたことを特徴とする装置。
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