JPH02258166A - はんだシートおよびその製造方法 - Google Patents
はんだシートおよびその製造方法Info
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
A、産業上の利用分野
本発明は、はんだ付け装置或いは、はんだ転写装置に関
し、特に、精密に計量されたはんだを、超小型回路に供
給する手段に関するものである。
し、特に、精密に計量されたはんだを、超小型回路に供
給する手段に関するものである。
B 従来技術
端部と端部の間隔が狭い(たとえば20ミル[約0.5
08mn31以丁)導体ランドを持つ回路基板に、厚み
と構造を均一にしてはんだを塗布するのはかなり困難な
作業である。 はんだスクリーニングでは、スクリーン
が除去された後、はんだが不均一に残ることが多(、よ
い結宋が得られない。チップをランドに装着するため、
はんだリフローを行なった場合、ランドとランドの間に
はんだの”ブリッジ゛ができることがある。これは致命
的な障害の原因となる。厚みが0.002インチ(約0
.0508mm)未満のはんだが求められるようなスク
リーニングニ[程を実施するのはますます難しくなって
いる。この厚みのはんだは、デーゾ・ポンディング(T
’ A B )パッケージを回路基板に装着して、は/
υたブリッジができないようにするために用いられる。
08mn31以丁)導体ランドを持つ回路基板に、厚み
と構造を均一にしてはんだを塗布するのはかなり困難な
作業である。 はんだスクリーニングでは、スクリーン
が除去された後、はんだが不均一に残ることが多(、よ
い結宋が得られない。チップをランドに装着するため、
はんだリフローを行なった場合、ランドとランドの間に
はんだの”ブリッジ゛ができることがある。これは致命
的な障害の原因となる。厚みが0.002インチ(約0
.0508mm)未満のはんだが求められるようなスク
リーニングニ[程を実施するのはますます難しくなって
いる。この厚みのはんだは、デーゾ・ポンディング(T
’ A B )パッケージを回路基板に装着して、は/
υたブリッジができないようにするために用いられる。
T A Bパケッージの用途は広がり続けている。
自動化が可能なことと、パッケージ構造がもっとも低コ
ストのものだからである。したがって、TABパッケー
ジにより、はんだ付け装置に精密な寸法が求められる場
合でも、はんだ付け時のコストを最小に抑えることが大
切である。
ストのものだからである。したがって、TABパッケー
ジにより、はんだ付け装置に精密な寸法が求められる場
合でも、はんだ付け時のコストを最小に抑えることが大
切である。
従来法では、精密なはんだ付けという問題を解決するた
めいろいろな手段が用いられている。ドイス(Dycc
)他による米国特許第420989 :3号では、はん
だを供給するキャリア(5oldercarrier
5triρ)が開示さねでいる。このキャリアには孔が
開けられ、成型はんだが孔の部分に押し込められる。こ
の手法は、回路が比較的大きい場合には使用できるが、
機械的な孔開けでは精度がかなり低くなるため、′I″
A Bパッケージには使用できない。
めいろいろな手段が用いられている。ドイス(Dycc
)他による米国特許第420989 :3号では、はん
だを供給するキャリア(5oldercarrier
5triρ)が開示さねでいる。このキャリアには孔が
開けられ、成型はんだが孔の部分に押し込められる。こ
の手法は、回路が比較的大きい場合には使用できるが、
機械的な孔開けでは精度がかなり低くなるため、′I″
A Bパッケージには使用できない。
グラソア(Grassauer )他による米国特許第
4354629号と第4484704号は両方とも、平
形すなわちリボン状のケーブルをコネクタにつなぐ装置
について説明している。これらの特許に示されているの
は、一対のポリマ・フィルムを使用し、フィルム間に成
型はんだを隙間なく詰め込むことである。フィルムの一
方には一連の窓が開けられている。この窓は、はんだ付
けされる導体と整合し、加熱と加圧によっては/Uたり
フローが行われる。窓と窓の間の区画によって、はんだ
のブリッジが防止される。この手法も、比較的大きな導
体/回路基板には使用できるが、超小型回路には適さな
い。たとえは、ランドの間隔が狭く、スズめっきが施さ
れている場合、窓の区画の下側の連続したはんだ層は、
溶融後にはんだのブリッジを作りやすい。
4354629号と第4484704号は両方とも、平
形すなわちリボン状のケーブルをコネクタにつなぐ装置
について説明している。これらの特許に示されているの
は、一対のポリマ・フィルムを使用し、フィルム間に成
型はんだを隙間なく詰め込むことである。フィルムの一
方には一連の窓が開けられている。この窓は、はんだ付
けされる導体と整合し、加熱と加圧によっては/Uたり
フローが行われる。窓と窓の間の区画によって、はんだ
のブリッジが防止される。この手法も、比較的大きな導
体/回路基板には使用できるが、超小型回路には適さな
い。たとえは、ランドの間隔が狭く、スズめっきが施さ
れている場合、窓の区画の下側の連続したはんだ層は、
溶融後にはんだのブリッジを作りやすい。
C6発明が解決しようとする問題点
本発明の目的は、超小型パッケージに特に適した精密な
はんだ付け手法を提供することにある。
はんだ付け手法を提供することにある。
本発明の目的は、回路基板や半導体デバイスに共通に用
いられる製造法に合わせて調整される精密なはんだ付け
手法を提供することにある。
いられる製造法に合わせて調整される精密なはんだ付け
手法を提供することにある。
D3問題点を解決するための手段
本発明は、上に薄い導体フィルムが塗布されたキャリア
(はんだ転写用キャリア)を用いる。導体フィルムには
、はんだによって簡W、には湿潤されないような表面エ
ネルギーを持つ金属材料を使用する。導体フィルムード
に、パターンが描かれたマスクが置かれる。マスクには
開口があり、ここから、導体フィルムの所定部分が露出
する。はんだは、マスクの開口に被着され、導体フィル
ムの露出部分に弱く付着する。キャリアは、回路キャノ
アの導体ランド部と整合するように置かれ、マスクの開
口の中のはんだは、回路キャリアのランド部と整合され
る。その結果、キャリアと回路のランド部が接触し、加
熱され、はんだがランドに接合された後、キャリアは除
去され、後に再利用される8 本発明のもう一つの適用例として、はんだの薄膜層は、
可撓性のベース層に直接被着され、弱く付着する。はん
だのフィルムは、連続しているか、または、は/Vだが
塗布される回路部と整合する別個の領域にマスクを介し
て被着される。その結果、はんだ付けされる部分と位置
合わせされるツールは、ベース層とはんだの組み合わせ
部を、はんだが塗布される部分に押し付け、これによリ
、はんだは下層の回路に付着する。はんだフィルムが連
続したフィルムである場合、ツールが引き抜かれると、
可撓性のベース層は元の押し付けられていない位置に戻
り、これによって、回路に付着したはんだと、可撓性ベ
ース層に残ったはんだが剥離される。
(はんだ転写用キャリア)を用いる。導体フィルムには
、はんだによって簡W、には湿潤されないような表面エ
ネルギーを持つ金属材料を使用する。導体フィルムード
に、パターンが描かれたマスクが置かれる。マスクには
開口があり、ここから、導体フィルムの所定部分が露出
する。はんだは、マスクの開口に被着され、導体フィル
ムの露出部分に弱く付着する。キャリアは、回路キャノ
アの導体ランド部と整合するように置かれ、マスクの開
口の中のはんだは、回路キャリアのランド部と整合され
る。その結果、キャリアと回路のランド部が接触し、加
熱され、はんだがランドに接合された後、キャリアは除
去され、後に再利用される8 本発明のもう一つの適用例として、はんだの薄膜層は、
可撓性のベース層に直接被着され、弱く付着する。はん
だのフィルムは、連続しているか、または、は/Vだが
塗布される回路部と整合する別個の領域にマスクを介し
て被着される。その結果、はんだ付けされる部分と位置
合わせされるツールは、ベース層とはんだの組み合わせ
部を、はんだが塗布される部分に押し付け、これによリ
、はんだは下層の回路に付着する。はんだフィルムが連
続したフィルムである場合、ツールが引き抜かれると、
可撓性のベース層は元の押し付けられていない位置に戻
り、これによって、回路に付着したはんだと、可撓性ベ
ース層に残ったはんだが剥離される。
E、実施例
第1図は本発明のはんだ付け装置の第1実施例を示す。
実施例を一つ挙げると、基板10はポリマ・キャリアす
なわちテープであり、本発明を実施するときの動作温度
に耐えるポリイミドからなるものが望ましい。また、テ
ープIOはスプロケット孔を持つ35mmのフィルムに
似たものが良い。これによって前後の動きをスプロケッ
トで精密に制御することができる。テープ10は、薄い
金属層(導体フィルム)12で被)υされ、溶融したス
ズ/鉛のはんだによっては湿潤されない。具体的には、
導体フィルム12は、被着したはんだの表面と強力な接
合反応を示さない程度の表面エネルギーをもつものが良
いが、その上に被着するはんだとの機械的な弱い接合を
維持することが必要である。ニオブ、アルミニウム、ク
ロムなどの金属はこの所要特性を示す。
なわちテープであり、本発明を実施するときの動作温度
に耐えるポリイミドからなるものが望ましい。また、テ
ープIOはスプロケット孔を持つ35mmのフィルムに
似たものが良い。これによって前後の動きをスプロケッ
トで精密に制御することができる。テープ10は、薄い
金属層(導体フィルム)12で被)υされ、溶融したス
ズ/鉛のはんだによっては湿潤されない。具体的には、
導体フィルム12は、被着したはんだの表面と強力な接
合反応を示さない程度の表面エネルギーをもつものが良
いが、その上に被着するはんだとの機械的な弱い接合を
維持することが必要である。ニオブ、アルミニウム、ク
ロムなどの金属はこの所要特性を示す。
本発明の実施例として望ましいのは、テープIOと導体
フィルム12は両方とも、下の回路基板との整合が確認
されるほど透明なことである。きわめて薄いニオブ層(
たとえば厚みが500オングストロームのオーダ)は、
この必要条件を満足する。ニオブの被着法としては、下
層のテープIOに付着する比較的均一な厚みのフィルム
ができるようにスパッタリングを行う方法が良い。
フィルム12は両方とも、下の回路基板との整合が確認
されるほど透明なことである。きわめて薄いニオブ層(
たとえば厚みが500オングストロームのオーダ)は、
この必要条件を満足する。ニオブの被着法としては、下
層のテープIOに付着する比較的均一な厚みのフィルム
ができるようにスパッタリングを行う方法が良い。
第2図を見ると、マスク14は導体フィルム12の上に
あり、領域16.18が露出している。
あり、領域16.18が露出している。
はんだは、マスク14により、領域16.18に選択的
に被着し、他の部分への被着が防止される。マスク14
は永久マスクであってもなくても良い。非永久マスクは
、はんだの被着面に除去されるドライフィルム状フォト
レジストから作ることができる。しかし、処理段階で再
利用ができることと低コストである点から、永久的なは
/Vだマスクの方が望ましい。はんだマスクは、はんだ
リフロー温度(:、350°Cなど)に耐え、リソグラ
フィーL必要な許容差と安定性を有するものでなければ
ならない。
に被着し、他の部分への被着が防止される。マスク14
は永久マスクであってもなくても良い。非永久マスクは
、はんだの被着面に除去されるドライフィルム状フォト
レジストから作ることができる。しかし、処理段階で再
利用ができることと低コストである点から、永久的なは
/Vだマスクの方が望ましい。はんだマスクは、はんだ
リフロー温度(:、350°Cなど)に耐え、リソグラ
フィーL必要な許容差と安定性を有するものでなければ
ならない。
マスクとしては、所要のはんだ層の厚みになるよう作ら
れるポリイミドが望ましい。マスクのパターン化では様
々な手法が知られている。たとえば、ポリイミド層は、
被着・硬化後に、通常のフォトレジスト・マスクを使っ
て食刻でき、はんだの被着が必要な部分が除かれる。ま
た、フォトレジストは、導体フィルム12に直接塗布で
き、はんだが必要ない導体フィルム12の部分が露出す
る領域が開けられ、その結果、ポリイミドは、露出した
導体部に電気泳動現象で被着する。
れるポリイミドが望ましい。マスクのパターン化では様
々な手法が知られている。たとえば、ポリイミド層は、
被着・硬化後に、通常のフォトレジスト・マスクを使っ
て食刻でき、はんだの被着が必要な部分が除かれる。ま
た、フォトレジストは、導体フィルム12に直接塗布で
き、はんだが必要ない導体フィルム12の部分が露出す
る領域が開けられ、その結果、ポリイミドは、露出した
導体部に電気泳動現象で被着する。
第2図の構成は、第3図に概略を示したように、電気め
っきが始まったときに適正量のイオンが、導体フィルム
12の露出部分に付着するようスズと鉛のイオンの割合
を調節した電気めっき槽に浸される。めっき厚は、露出
領域16.18のは/Vだとして0.0005インチ(
約00127 mm)ないし0.0025インチ(約0
.0635mm)とする。
っきが始まったときに適正量のイオンが、導体フィルム
12の露出部分に付着するようスズと鉛のイオンの割合
を調節した電気めっき槽に浸される。めっき厚は、露出
領域16.18のは/Vだとして0.0005インチ(
約00127 mm)ないし0.0025インチ(約0
.0635mm)とする。
第4図では、はんだ送りフィルムは上下が逆になり、回
路基板24上のフラックスが塗布された銅線20.22
と整合している。はんだ送りフィルムと回路基板の位置
合わせは、送りフィルムが透明であり、下層の回路基板
−1の目印と自動的に位置合わせができるから、直接的
である。透明であることは、送りフィルムと下層の回路
基板との相対的な向きを制御する機構を初期設定・調節
する際に有効である。したがって、スプロケット孔のあ
るフィルムが採用されるのであれば、フィルムと、フィ
ルムを通して目視確認される見当に対して回路基板の位
置決めを調整することができる。
路基板24上のフラックスが塗布された銅線20.22
と整合している。はんだ送りフィルムと回路基板の位置
合わせは、送りフィルムが透明であり、下層の回路基板
−1の目印と自動的に位置合わせができるから、直接的
である。透明であることは、送りフィルムと下層の回路
基板との相対的な向きを制御する機構を初期設定・調節
する際に有効である。したがって、スプロケット孔のあ
るフィルムが採用されるのであれば、フィルムと、フィ
ルムを通して目視確認される見当に対して回路基板の位
置決めを調整することができる。
はんだ送りフィルムが回路基板24に置かれると、この
アセンブリはりフロー ・ユニットにセットされ、ここ
ではんだインサート26.28が融点まで加熱されて、
導体ランド20.22に付着する。前述のように、導体
フィルム12ははんだによって湿潤されないため、その
上に残留物はなく、フィルムはlIf利川も用きる。は
/Vだ送りフィルムが除去された後の最後の回路アセン
ブリを第5図に示す。
アセンブリはりフロー ・ユニットにセットされ、ここ
ではんだインサート26.28が融点まで加熱されて、
導体ランド20.22に付着する。前述のように、導体
フィルム12ははんだによって湿潤されないため、その
上に残留物はなく、フィルムはlIf利川も用きる。は
/Vだ送りフィルムが除去された後の最後の回路アセン
ブリを第5図に示す。
はんだ送りフィルムは次に、もう−度めっきされ再利用
される。このフィルムは保(7てき、高価なスクリーニ
ング機器を必要としない。その土、ポリイミド・マスク
層14の厚みを変え、はんだめっき工程を制御すること
で、塗布するはんだの量を精密に制御することができる
。
される。このフィルムは保(7てき、高価なスクリーニ
ング機器を必要としない。その土、ポリイミド・マスク
層14の厚みを変え、はんだめっき工程を制御すること
で、塗布するはんだの量を精密に制御することができる
。
次に第6図は、本発明のもう一つの実施例を示す。ここ
でテープ10は元々連続したもので、上側は非湿潤性の
金属簿膜である。また、はんだ層30がこれに弱く48
1着している。テープlOには、第10図のようにスプ
ロケット孔31を設けることもでき、35mmのフィル
ムとほぼ同しである。回路基板24は、回路ランド20
を持ち、テープ10の下側になる。ツール32は往復運
動するよう調整される。これがもっとも低い位置にある
とき(第7図)、テープ10はたわみ、はんだ層30を
ランド20に押し付ける。ツール32は加熱され、圧力
と熱によっ−Cランド20と、これに接するはんだ層3
0の部分が接合される。
でテープ10は元々連続したもので、上側は非湿潤性の
金属簿膜である。また、はんだ層30がこれに弱く48
1着している。テープlOには、第10図のようにスプ
ロケット孔31を設けることもでき、35mmのフィル
ムとほぼ同しである。回路基板24は、回路ランド20
を持ち、テープ10の下側になる。ツール32は往復運
動するよう調整される。これがもっとも低い位置にある
とき(第7図)、テープ10はたわみ、はんだ層30を
ランド20に押し付ける。ツール32は加熱され、圧力
と熱によっ−Cランド20と、これに接するはんだ層3
0の部分が接合される。
ツール32が引き抜かれると、テープ10はたわむ1i
iの位置に戻り、その時、はんだ層30と、ランド20
に付着しているは/υだの部分34との間に剥離が起こ
る。
iの位置に戻り、その時、はんだ層30と、ランド20
に付着しているは/υだの部分34との間に剥離が起こ
る。
ツール32をテープ10に当てる時間とその温度を調節
することで、はんだ部34は、実際に溶融することなく
、むしろ導体20と強固に接合し、ツール32が引き抜
かれたとき、テープlOが圧力を受けない位置に戻る際
にテープ10とともに引かれて戻らず、所定位置にとど
まる。
することで、はんだ部34は、実際に溶融することなく
、むしろ導体20と強固に接合し、ツール32が引き抜
かれたとき、テープlOが圧力を受けない位置に戻る際
にテープ10とともに引かれて戻らず、所定位置にとど
まる。
はんだ層30の厚みは、この方式を採用して良好な結果
を得るためには、かなり薄くする必要がある。しかし、
層30に最適な厚みは、はんだの粘性とツール・ヘッド
の設計に大きく依存する。
を得るためには、かなり薄くする必要がある。しかし、
層30に最適な厚みは、はんだの粘性とツール・ヘッド
の設計に大きく依存する。
般には、10ミル(約0.254mm)以トの厚みが望
ましい。環境によっては、かなり厚みのあるはんだを回
路ランド20に付着させる必要もある。このような場合
、第9図に示すように、ツル32を往復運動させ、テー
プlOを回路基板24上でステップ移動させながら、複
数のは/υだ層をランド20に塗布することもできる。
ましい。環境によっては、かなり厚みのあるはんだを回
路ランド20に付着させる必要もある。このような場合
、第9図に示すように、ツル32を往復運動させ、テー
プlOを回路基板24上でステップ移動させながら、複
数のは/υだ層をランド20に塗布することもできる。
ツール32は図では1ii−のヘッドであるが、下層の
回路基板−Lの複数のランド部と位置合わせをする複数
ヘッドのツールも採用できる。更に、ツール32を加熱
するためではなく、熱を供給するために、回路基板24
の下にプラテンを据えることもできる。
回路基板−Lの複数のランド部と位置合わせをする複数
ヘッドのツールも採用できる。更に、ツール32を加熱
するためではなく、熱を供給するために、回路基板24
の下にプラテンを据えることもできる。
例
第1図ないし第5図の工程では、初期材料として厚みが
0.002インチ(約0.0508mm)のKapto
nポリイミド・シートを使用した( KaptonはD
upont社[プラウエア州つィルミントン1の登録商
標である)。この材料は初めに、周囲圧力が500ワッ
トRF、10ミクロンの酸素雰囲気中で5分間スパッタ
洗浄される。次に周囲圧力500ワツトRF、5ミクロ
ンのアルゴン雰囲気中で5分間スパッタ洗浄された後、
DCスパッタリング装置を用い、ニオブ層が200.t
ングストロムの厚みまで形成される。
0.002インチ(約0.0508mm)のKapto
nポリイミド・シートを使用した( KaptonはD
upont社[プラウエア州つィルミントン1の登録商
標である)。この材料は初めに、周囲圧力が500ワッ
トRF、10ミクロンの酸素雰囲気中で5分間スパッタ
洗浄される。次に周囲圧力500ワツトRF、5ミクロ
ンのアルゴン雰囲気中で5分間スパッタ洗浄された後、
DCスパッタリング装置を用い、ニオブ層が200.t
ングストロムの厚みまで形成される。
第2のKaptonフィルムは、厚みが0.001イン
チ(約0.0254mm)で、エポキシを加えたアクリ
ル糸接着剤が同しく0.001インヂ厚まで塗布される
。この第2フイルムは次に、機械的に押し抜かれ、塗布
されるランドに合った開口が作られる。2つのフィルム
はこの後、1平方フイート (30,48crn”)3
)ン、130℃で45分間、ホットプレスによりラミネ
ート化される。
チ(約0.0254mm)で、エポキシを加えたアクリ
ル糸接着剤が同しく0.001インヂ厚まで塗布される
。この第2フイルムは次に、機械的に押し抜かれ、塗布
されるランドに合った開口が作られる。2つのフィルム
はこの後、1平方フイート (30,48crn”)3
)ン、130℃で45分間、ホットプレスによりラミネ
ート化される。
次に、一般の装置で、5olderex60 / 40
S n / P bめっき槽を使いはんだめっき・が行
われる。(301derexはOMI Interna
tionalの1部門である5el−Rex社(071
10ニユージヤージ州ナツトレー、リバーロード75」
の登録商標である)。電流密度は35分間21mA/c
m’に保たれ、はんだ厚は0.002インチ(約0.0
508 n+m)になる。
S n / P bめっき槽を使いはんだめっき・が行
われる。(301derexはOMI Interna
tionalの1部門である5el−Rex社(071
10ニユージヤージ州ナツトレー、リバーロード75」
の登録商標である)。電流密度は35分間21mA/c
m’に保たれ、はんだ厚は0.002インチ(約0.0
508 n+m)になる。
はんだマスクに合った導体ランドを持つ適当な基板にA
lpl+ン1611RMΔ(穏やかに活性化されたロジ
ンの意)フラックスが塗布される(〔51IRMAはA
l p h a M (! L a I s社 10
7304ニユシヤーシ州シヤーシ市ルート440.60
0」の登録11f1標である)。
lpl+ン1611RMΔ(穏やかに活性化されたロジ
ンの意)フラックスが塗布される(〔51IRMAはA
l p h a M (! L a I s社 10
7304ニユシヤーシ州シヤーシ市ルート440.60
0」の登録11f1標である)。
次に、高温の窒素を供給できる真空機構とノズルを備え
たツールに」:って、はんだ送りフィルムが保持される
。は/υだ送りフィルムは、塗布される基板に当てられ
、窒素は350℃まで加熱され、送りフィルムに10秒
間吹きつけられる。
たツールに」:って、はんだ送りフィルムが保持される
。は/υだ送りフィルムは、塗布される基板に当てられ
、窒素は350℃まで加熱され、送りフィルムに10秒
間吹きつけられる。
ツールから真空が送られ、は/υだの被着が終了する。
第2のKaptonフィルムの代わりに、厚みが000
2インチ(約0.0508mm)のVacrel永久レ
ジスト・フィルムを、ニオブな含む第1のにapton
フィルムに使用できる。(Vacrelは旧1pont
[プラウエア州つィルミントン]の登録商標である〕
。この複合フィルムは次に、は/しだが塗布されるラン
ドに合ったガラス・マスクを便って10秒間露光される
。複合フィルムはこの後、30分間装置され、■、■、
l−トリクロルエタンで現像された後、窒素によって乾
燥される。2分間の均一露光後、150℃で30分間焼
付けられ、Vacrel材から永久マスクができる。
2インチ(約0.0508mm)のVacrel永久レ
ジスト・フィルムを、ニオブな含む第1のにapton
フィルムに使用できる。(Vacrelは旧1pont
[プラウエア州つィルミントン]の登録商標である〕
。この複合フィルムは次に、は/しだが塗布されるラン
ドに合ったガラス・マスクを便って10秒間露光される
。複合フィルムはこの後、30分間装置され、■、■、
l−トリクロルエタンで現像された後、窒素によって乾
燥される。2分間の均一露光後、150℃で30分間焼
付けられ、Vacrel材から永久マスクができる。
当業者は上記に代わる様々な手法を、本発明から離れる
ことなく考案することができる。たとえば、ポリマ・キ
ャリアはフィルム厚を35mmとして説明したが、所要
のパターンを持つ個別のキャリアとして、あるいは、個
々のキャリアをいろいろなプレーナ構成で組み合わせる
ことも容易であろう。
ことなく考案することができる。たとえば、ポリマ・キ
ャリアはフィルム厚を35mmとして説明したが、所要
のパターンを持つ個別のキャリアとして、あるいは、個
々のキャリアをいろいろなプレーナ構成で組み合わせる
ことも容易であろう。
F0発明の効果
上述のように本発明によれば、超小型パッケジに特に適
した精密なはんだ付け手法を提供できる。
した精密なはんだ付け手法を提供できる。
第1図は、導体フィルムがその−Lに置かれた後のベー
ス層の断面図である。 第2図は、パターン・マスクがその上に置かれた後の第
1図の構造を示す。 第3図は、は/Vだをマスクの開口に被iさせる電気め
っき槽の側面図である。 第4図は、回路キャリアーL−で位置合わせなした本発
明のはんだ送りフィルムの側面断面図である。 第5図は、はんだ送りフィルムを除去した後の回路キャ
リアの側面断面図である。 第6図ないし第8図は、導体ランド部分にはんだを塗布
する(マスクを要しない〕方法を示す。 第9図は、単一の導体ランド部分に複数のはんだ層を塗
布する方法を示す。 第1O図は、位置決め用のスプ[1ケツト孔を持つはん
だキャリア・フィルムの平面図である。 10・・・テープ、12・・・導体フィルム、14・・
・マスク、20.22・・・ランド、?4・・・回路基
板、30・・・はんだ層、3トスプロケット孔、32・
・・ツール、34・・はんだ部。 b− す− (’J FIG、 6 FIG、 8 FIG、 7 FIG、 9
ス層の断面図である。 第2図は、パターン・マスクがその上に置かれた後の第
1図の構造を示す。 第3図は、は/Vだをマスクの開口に被iさせる電気め
っき槽の側面図である。 第4図は、回路キャリアーL−で位置合わせなした本発
明のはんだ送りフィルムの側面断面図である。 第5図は、はんだ送りフィルムを除去した後の回路キャ
リアの側面断面図である。 第6図ないし第8図は、導体ランド部分にはんだを塗布
する(マスクを要しない〕方法を示す。 第9図は、単一の導体ランド部分に複数のはんだ層を塗
布する方法を示す。 第1O図は、位置決め用のスプ[1ケツト孔を持つはん
だキャリア・フィルムの平面図である。 10・・・テープ、12・・・導体フィルム、14・・
・マスク、20.22・・・ランド、?4・・・回路基
板、30・・・はんだ層、3トスプロケット孔、32・
・・ツール、34・・はんだ部。 b− す− (’J FIG、 6 FIG、 8 FIG、 7 FIG、 9
Claims (3)
- (1)テープと、 前記テープ上に被着され、はんだによって直ちにはぬら
されないような表面エネルギーを有する導体フィルムと
、 前記導体フィルム上に被着され、前記導体フィルムの選
択された領域を露出させるような開口部を有するパター
ン化されたマスクと、 前記開口部内に配置され且つ前記導体フィルムの露出さ
れた領域に弱く接着されたはんだと、を有するはんだ付
け装置。 - (2)ポリマー・テープと、このポリマー・テープに貼
られ且つはんだにぬれない薄い導体フィルムと、この導
体フィルムの分離した領域を露出させるマスクと、を有
するはんだ転写用キャリアを用いるはんだ付け方法であ
って、 前記はんだ転写用キャリアを、はんだを形成する適当な
比率の鉛及びスズの電気めっき沿中に配置するステップ
と、 前記導体フィルムと前記電気めっき沿中の電極との間に
電圧を印加して前記マスクから露出している前記導体フ
ィルムの領域に前記鉛及びスズを電気めっきしてめっき
パターンを形成するステップと、 を含むはんだ付け方法。 - (3)導体領域を含む基板上に前記はんだ転写用キャリ
アを位置決めし、前記導体領域に前記めっきパターンを
接触させるステップと、 前記めっきパターンを前記はんだキャリアから前記導体
領域に転写するステップと、 を更に含む請求項(2)に記載するはんだ付け方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US07/223,818 US4832255A (en) | 1988-07-25 | 1988-07-25 | Precision solder transfer method and means |
| US223818 | 1988-07-25 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02258166A true JPH02258166A (ja) | 1990-10-18 |
| JPH0341273B2 JPH0341273B2 (ja) | 1991-06-21 |
Family
ID=22838087
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1154818A Granted JPH02258166A (ja) | 1988-07-25 | 1989-06-19 | はんだシートおよびその製造方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4832255A (ja) |
| EP (1) | EP0352432B1 (ja) |
| JP (1) | JPH02258166A (ja) |
| DE (1) | DE68919007T2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0655260A (ja) * | 1992-04-16 | 1994-03-01 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 溶融半田を射出成形する装置および方法 |
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- 1988-07-25 US US07/223,818 patent/US4832255A/en not_active Expired - Fee Related
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1989
- 1989-05-26 EP EP89109523A patent/EP0352432B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1989-05-26 DE DE68919007T patent/DE68919007T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1989-06-19 JP JP1154818A patent/JPH02258166A/ja active Granted
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| EP0352432B1 (en) | 1994-10-26 |
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