JPH065641A - チップキャリア型半導体装置 - Google Patents
チップキャリア型半導体装置Info
- Publication number
- JPH065641A JPH065641A JP4156614A JP15661492A JPH065641A JP H065641 A JPH065641 A JP H065641A JP 4156614 A JP4156614 A JP 4156614A JP 15661492 A JP15661492 A JP 15661492A JP H065641 A JPH065641 A JP H065641A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- glass epoxy
- chip carrier
- semiconductor device
- carrier type
- type semiconductor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/50—Bond wires
- H10W72/541—Dispositions of bond wires
- H10W72/5449—Dispositions of bond wires not being orthogonal to a side surface of the chip, e.g. fan-out arrangements
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/50—Bond wires
- H10W72/551—Materials of bond wires
- H10W72/552—Materials of bond wires comprising metals or metalloids, e.g. silver
- H10W72/5522—Materials of bond wires comprising metals or metalloids, e.g. silver comprising gold [Au]
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/90—Bond pads, in general
- H10W72/931—Shapes of bond pads
- H10W72/932—Plan-view shape, i.e. in top view
Landscapes
- Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】有機系基材を使用したチップキャリア型半導体
装置において、基材の裏面からの水分・湿気の浸入を防
ぐことにより、耐湿性を向上させる。 【構成】半導体ＩＣペレット３が搭載される部分がガラ
スエポキシ層２との積層構造になっているガラスエポキ
シ基板１に半導体ＩＣペレット３を搭載し、ガラスエポ
キシ基板１上に形成されたボンディングパッド４とＡｕ
ワイヤ５で接続し、さらに半導体ＩＣペレット３とＡｕ
ワイヤ５とガラスエポキシ基板１の一部を覆うように充
填されたエポキシ樹脂７より構成される。
装置において、基材の裏面からの水分・湿気の浸入を防
ぐことにより、耐湿性を向上させる。 【構成】半導体ＩＣペレット３が搭載される部分がガラ
スエポキシ層２との積層構造になっているガラスエポキ
シ基板１に半導体ＩＣペレット３を搭載し、ガラスエポ
キシ基板１上に形成されたボンディングパッド４とＡｕ
ワイヤ５で接続し、さらに半導体ＩＣペレット３とＡｕ
ワイヤ５とガラスエポキシ基板１の一部を覆うように充
填されたエポキシ樹脂７より構成される。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、チップキャリア型半導
体装置に関し、特に有機系基板上に半導体素子が搭載さ
れて形成されるパッケージ構造に関する。
体装置に関し、特に有機系基板上に半導体素子が搭載さ
れて形成されるパッケージ構造に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の表面実装タイプのチップキャリア
型半導体装置は、図２（ａ），（ｂ）に示すようにガラ
スエポキシ基板１に凹形状の座ぐりが設けらており、こ
の座ぐり部分に半導体ＩＣペレット３が搭載されてい
る。半導体ＩＣペレット３はガラスエポキシ基板１の所
望部分に形成されたボンディングパッド４とＡｕワイヤ
５で接続されている。また、ボンディングパッド４はガ
ラスエポキシ基板１上で配線により電極６に接続されて
いる。さらにガラスエポキシ基板１の周辺部には樹脂枠
８が設けられており、樹脂枠８の内側にはエポキシ樹脂
７が充填されている。
型半導体装置は、図２（ａ），（ｂ）に示すようにガラ
スエポキシ基板１に凹形状の座ぐりが設けらており、こ
の座ぐり部分に半導体ＩＣペレット３が搭載されてい
る。半導体ＩＣペレット３はガラスエポキシ基板１の所
望部分に形成されたボンディングパッド４とＡｕワイヤ
５で接続されている。また、ボンディングパッド４はガ
ラスエポキシ基板１上で配線により電極６に接続されて
いる。さらにガラスエポキシ基板１の周辺部には樹脂枠
８が設けられており、樹脂枠８の内側にはエポキシ樹脂
７が充填されている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】この従来のチップキャ
リア型半導体装置では、信頼性上、特に耐湿性において
次のような問題点があった。すなわち、半導体素子の素
子面は樹脂により保護されているものの、有機系基材の
繊維層を通じて外部からの水分又は湿気の浸入により、
良好な耐湿性を確保することが困難であった。
リア型半導体装置では、信頼性上、特に耐湿性において
次のような問題点があった。すなわち、半導体素子の素
子面は樹脂により保護されているものの、有機系基材の
繊維層を通じて外部からの水分又は湿気の浸入により、
良好な耐湿性を確保することが困難であった。
【０００４】上記問題点は、例えばチップキャリア型半
導体装置をハンダリフロー装置によりプリント配線基板
上に実装する場合、リフロー前の混成集積回路装置の保
管状態をより厳格に管理しなければならないというよう
な、表面実装部品管理面に影響していた。また、湿気の
浸入により電気的なリーク不良が発生し易く性能面にも
影響していた。
導体装置をハンダリフロー装置によりプリント配線基板
上に実装する場合、リフロー前の混成集積回路装置の保
管状態をより厳格に管理しなければならないというよう
な、表面実装部品管理面に影響していた。また、湿気の
浸入により電気的なリーク不良が発生し易く性能面にも
影響していた。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明のチップキャリア
型半導体装置は、有機系基材と樹脂からなる積層構造の
基板において、基材面側に凹形状の座ぐりを設け、この
座ぐり部分に半導体素子を配置することにより、外部か
らの水分又は湿気の浸入をより少なくすることが可能と
なり、耐湿性が向上した。
型半導体装置は、有機系基材と樹脂からなる積層構造の
基板において、基材面側に凹形状の座ぐりを設け、この
座ぐり部分に半導体素子を配置することにより、外部か
らの水分又は湿気の浸入をより少なくすることが可能と
なり、耐湿性が向上した。
【０００６】
【実施例】次に本発明について図面を参照して説明す
る。図１（ａ）は本発明の一実施例を示す平面図で、
（ｂ）は（ａ）のＡ−Ａ′線の断面図である。ガラスエ
ポキシ基板１は、エポキシ樹脂層２と積層構造になって
おり、半導体ＩＣペレット３が搭載される部分が凹形状
にくり抜かれている。ガラスエポキシ基板１に半導体Ｉ
Ｃペレット３を搭載し、ガラスエポキシ基板３に形成さ
れたボンディングパッド４と半導体ＩＣペレット３とを
ワイヤ５で接続する。ボンディングパッド４はガラスエ
ポキシ基板１上の配線により、外部との接続に使用され
る電極６に引き出されている。エポキシ樹脂７は、電極
６と同じ高さで、かつ表面が平らになるように充填され
ている。
る。図１（ａ）は本発明の一実施例を示す平面図で、
（ｂ）は（ａ）のＡ−Ａ′線の断面図である。ガラスエ
ポキシ基板１は、エポキシ樹脂層２と積層構造になって
おり、半導体ＩＣペレット３が搭載される部分が凹形状
にくり抜かれている。ガラスエポキシ基板１に半導体Ｉ
Ｃペレット３を搭載し、ガラスエポキシ基板３に形成さ
れたボンディングパッド４と半導体ＩＣペレット３とを
ワイヤ５で接続する。ボンディングパッド４はガラスエ
ポキシ基板１上の配線により、外部との接続に使用され
る電極６に引き出されている。エポキシ樹脂７は、電極
６と同じ高さで、かつ表面が平らになるように充填され
ている。
【０００７】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は半導体素
子が搭載される部分を有機系基材と樹脂からなる積層構
造にすることにより、半導体素子裏面側より浸入してく
る水分又は湿気を少なくすることができるため、耐湿性
を向上させることができる。
子が搭載される部分を有機系基材と樹脂からなる積層構
造にすることにより、半導体素子裏面側より浸入してく
る水分又は湿気を少なくすることができるため、耐湿性
を向上させることができる。
【図１】（ａ）は本発明による一実施例を示す平面図，
（ｂ）は（ａ）のＡ−Ａ′線の断面図である。
（ｂ）は（ａ）のＡ−Ａ′線の断面図である。
【図２】（ａ）は従来例を示す平面図，（ｂ）は（ａ）
のＡ−Ａ′線の断面図である。
のＡ−Ａ′線の断面図である。
１ ガラスエポキシ基板 ２ エポキシ樹脂層 ３ 半導体ＩＣペレット ４ ボンディングパッド ５ Ａｕワイヤ ６ 電極 ７ エポキシ樹脂 ８ 樹脂枠
Claims (1)
- 【請求項１】 有機系基材と樹脂からなる積層構造の基
板において、基材面側に凹形状の座ぐりを設け、この座
ぐり部分に半導体素子を配置し、基板端面の所望部分に
形成された電極と半導体素子をボンディング線で接続
し、半導体素子およびボンディング線を樹脂で被覆する
ことを特徴とするチップキャリア型半導体装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4156614A JPH065641A (ja) | 1992-06-16 | 1992-06-16 | チップキャリア型半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4156614A JPH065641A (ja) | 1992-06-16 | 1992-06-16 | チップキャリア型半導体装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH065641A true JPH065641A (ja) | 1994-01-14 |
Family
ID=15631585
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4156614A Withdrawn JPH065641A (ja) | 1992-06-16 | 1992-06-16 | チップキャリア型半導体装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH065641A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4948972A (en) * | 1986-10-14 | 1990-08-14 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Read-out device for radiation image storage panel |
| JPH08255850A (ja) * | 1995-03-16 | 1996-10-01 | Nec Corp | 半導体装置 |
-
1992
- 1992-06-16 JP JP4156614A patent/JPH065641A/ja not_active Withdrawn
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4948972A (en) * | 1986-10-14 | 1990-08-14 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Read-out device for radiation image storage panel |
| JPH08255850A (ja) * | 1995-03-16 | 1996-10-01 | Nec Corp | 半導体装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19990831 |