JPH0660644A - メモリーデバイス - Google Patents
メモリーデバイスInfo
- Publication number
- JPH0660644A JPH0660644A JP4229260A JP22926092A JPH0660644A JP H0660644 A JPH0660644 A JP H0660644A JP 4229260 A JP4229260 A JP 4229260A JP 22926092 A JP22926092 A JP 22926092A JP H0660644 A JPH0660644 A JP H0660644A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- transistor
- base
- collector
- emitter
- memory device
- Prior art date
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/41—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger
- G11C11/411—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger using bipolar transistors only
- G11C11/4113—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger using bipolar transistors only with at least one cell access to base or collector of at least one of said transistors, e.g. via access diodes, access transistors
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Static Random-Access Memory (AREA)
- Dram (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 リフレッシュが不要であるとともに、その回
路規模が小さいメモリデーバイスを提供することを目的
とする。 【構成】 ベースBに入力電力が接続され、かつエミッ
タEが接地された第トランジスタTR1と、この第1ト
ランジスタのコレクタCにベースBが接地され、かつコ
レクタCが接地され、さらにエミッタEに電源がVCCが
接続された第2トランジスタTR2からなり、この第2
トランジスタTR2のコレクタCを第1トランジスタT
R1のベースBに接続して1記憶単位を構成している。
路規模が小さいメモリデーバイスを提供することを目的
とする。 【構成】 ベースBに入力電力が接続され、かつエミッ
タEが接地された第トランジスタTR1と、この第1ト
ランジスタのコレクタCにベースBが接地され、かつコ
レクタCが接地され、さらにエミッタEに電源がVCCが
接続された第2トランジスタTR2からなり、この第2
トランジスタTR2のコレクタCを第1トランジスタT
R1のベースBに接続して1記憶単位を構成している。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明はメモリーデバイスに係
り、特にリフレッシュの不要なメモリデバイスに関す
る。
り、特にリフレッシュの不要なメモリデバイスに関す
る。
【0002】
【従来技術】従来、スタティックRAMは一般にフリッ
プフロップによってメモリセル(記憶単位)を構成して
おり、その回路規模が比較的大きく、デバイスサイズに
対して記憶容量が小さく、またコスト高であるなどの欠
点を有する。
プフロップによってメモリセル(記憶単位)を構成して
おり、その回路規模が比較的大きく、デバイスサイズに
対して記憶容量が小さく、またコスト高であるなどの欠
点を有する。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】この発明はこのような
従来の問題点を解消すべく創案されたもので、リフレッ
シュが不要であるとともに、その回路規模が小さいメモ
リデバイスを提供することを目的とする。
従来の問題点を解消すべく創案されたもので、リフレッ
シュが不要であるとともに、その回路規模が小さいメモ
リデバイスを提供することを目的とする。
【0004】
【課題を解決するための手段】この発明に係るメモリデ
バイスは、1対のトランジスタによって自己保持回路を
構成するものである。
バイスは、1対のトランジスタによって自己保持回路を
構成するものである。
【0005】
【実施例】次にこの発明に係るメモリデバイスの1実施
例を図面に基づいて説明する。図1はメモリデバイスの
1記憶単位(メモリセル)を示し、PNP型の第1トラ
ンンジスタTR1およびNPN型の第2トランジスタT
R2によって自己保持回路を構成してなる。
例を図面に基づいて説明する。図1はメモリデバイスの
1記憶単位(メモリセル)を示し、PNP型の第1トラ
ンンジスタTR1およびNPN型の第2トランジスタT
R2によって自己保持回路を構成してなる。
【0006】トランジスタTR1のベースは、アドレス
コントロール(図示省略)によって開閉されるスイッチ
SW1を介してデータラインDLに接続され、データD
inがハイレベルのときにスイッチSW1が閉じられる
と、トランジスタTR1のゲート電圧がハイレベルとな
り、トランジスタTR1は導通する。トランジスタTR
1は、コレクタCが第2トランジスタTR2のベースに
接続され、またエミッタEが接地されている。従って、
トランジスタTR1が導通すると、トランジスタTR2
のベースはローレベルになり、トランジスタTR2が導
通する。トランジスタTR2はエミッタEが電源Vccに
接続され、コレクタCが接地されており、導通時にはコ
レクタCの電圧が上昇する。
コントロール(図示省略)によって開閉されるスイッチ
SW1を介してデータラインDLに接続され、データD
inがハイレベルのときにスイッチSW1が閉じられる
と、トランジスタTR1のゲート電圧がハイレベルとな
り、トランジスタTR1は導通する。トランジスタTR
1は、コレクタCが第2トランジスタTR2のベースに
接続され、またエミッタEが接地されている。従って、
トランジスタTR1が導通すると、トランジスタTR2
のベースはローレベルになり、トランジスタTR2が導
通する。トランジスタTR2はエミッタEが電源Vccに
接続され、コレクタCが接地されており、導通時にはコ
レクタCの電圧が上昇する。
【0007】このコレクタCは導線FLを介して、トラ
ンジスタTR1のベースBに接続され、一旦トランジス
タTR1が導通した後にスイッチSW1が開かれても、
コレクタCの電圧により、トランジスタTR1は導通状
態が保持される。すなわち図1の回路は自己保持回路を
構成している。コレクタCの電圧は出力データDoutと
して出力される。トランジスタTR2のコレクタCは高
抵抗R1を介して接地され、これによってDoutのレベ
ルが維持される。
ンジスタTR1のベースBに接続され、一旦トランジス
タTR1が導通した後にスイッチSW1が開かれても、
コレクタCの電圧により、トランジスタTR1は導通状
態が保持される。すなわち図1の回路は自己保持回路を
構成している。コレクタCの電圧は出力データDoutと
して出力される。トランジスタTR2のコレクタCは高
抵抗R1を介して接地され、これによってDoutのレベ
ルが維持される。
【0008】一旦ハイレベルとなったメモリセルをロー
レベルにリセットするために、トランンジスタTR1の
ベースには、接地されたリセットスッチSW2が接続さ
れている。すなわちリセットスイッチSW2を閉じると
トランジスタTR1のベースが接地され、トランジスタ
TR1は遮断される。前記導線FLには保護抵抗R2が
設けられ、リセットスイッチSW2を閉じたときにトラ
ンジスタTR2に大電流が流れることを防止している。
またトランジスタTR1のコレクタCとトランジスタT
R2のベースBとの間には保護抵抗R3が設けられ、ト
ランジスタTR1導通時にトランジスタTR1を保護し
ている。
レベルにリセットするために、トランンジスタTR1の
ベースには、接地されたリセットスッチSW2が接続さ
れている。すなわちリセットスイッチSW2を閉じると
トランジスタTR1のベースが接地され、トランジスタ
TR1は遮断される。前記導線FLには保護抵抗R2が
設けられ、リセットスイッチSW2を閉じたときにトラ
ンジスタTR2に大電流が流れることを防止している。
またトランジスタTR1のコレクタCとトランジスタT
R2のベースBとの間には保護抵抗R3が設けられ、ト
ランジスタTR1導通時にトランジスタTR1を保護し
ている。
【0009】以上のように、1対のトランジスタによっ
てリフレッシュ不要のメモリセルを構成でき、メモリデ
バイスを小規模回路で実現できる。図2は本発明の第2
実施例をしめす回路図であり、図1と同一もしくは相当
部分には同一符号を付して示してある。この実施例で
は、第1トランジスタをNPN型、第2トランジスタを
PNP型としており、データDinはインバータINV1
を介してトランジスタTR1に入力され、トランジスタ
TR1のリセットは電源VBに接続されたリセットスイ
ッチSW2によって行われる。図1と同様に、トランジ
スタTR1のエミッタEとトランジスタTR2のベース
Bとの間には保護抵抗R3が接続されている。
てリフレッシュ不要のメモリセルを構成でき、メモリデ
バイスを小規模回路で実現できる。図2は本発明の第2
実施例をしめす回路図であり、図1と同一もしくは相当
部分には同一符号を付して示してある。この実施例で
は、第1トランジスタをNPN型、第2トランジスタを
PNP型としており、データDinはインバータINV1
を介してトランジスタTR1に入力され、トランジスタ
TR1のリセットは電源VBに接続されたリセットスイ
ッチSW2によって行われる。図1と同様に、トランジ
スタTR1のエミッタEとトランジスタTR2のベース
Bとの間には保護抵抗R3が接続されている。
【0010】トランジスタTR1はコレクタCが電源V
ccに接続され、エミッタEがトランジスタTR2のベー
スに接続されている。ハイレベルのデータDinをスイッ
チSW1を通してインバータINV1に入力すると、ト
ランジスタTR1のベースにはローレベルの電圧が印加
され、トランジスタTR1が導通する。すると電源Vcc
によるハイレベルの電圧がトランジスタTR2のベース
に印加され、トランジスタTR2が導通する。トランジ
スタTR2はコレクタが接地され、その導通時にはエミ
ッタEがローレベルになる。
ccに接続され、エミッタEがトランジスタTR2のベー
スに接続されている。ハイレベルのデータDinをスイッ
チSW1を通してインバータINV1に入力すると、ト
ランジスタTR1のベースにはローレベルの電圧が印加
され、トランジスタTR1が導通する。すると電源Vcc
によるハイレベルの電圧がトランジスタTR2のベース
に印加され、トランジスタTR2が導通する。トランジ
スタTR2はコレクタが接地され、その導通時にはエミ
ッタEがローレベルになる。
【0011】このエミッタEは、導線FLを介して、ト
ランジスタTR1のベースBに接続され、トランジスタ
TR2の導通時にはトランジスタTR1のベースがロー
レベルに保たれる。従って、スイッチSW1を解放した
後にも、トランジスタTR1、TR2の状態が自己保持
される。トランジスタTR2のエミッタEにはインバー
タINV2が接続され、このインバータINV2の出力
が出力データDoutとなる。導線FLには保護抵抗R2
が設けられ、リセット時に電源VBからトランジスタT
R2に大電流が流れることを防止している。以上の構成
によっても、リフレッシュ不要のメモリデバイスを小規
模回路によって実現し得る。
ランジスタTR1のベースBに接続され、トランジスタ
TR2の導通時にはトランジスタTR1のベースがロー
レベルに保たれる。従って、スイッチSW1を解放した
後にも、トランジスタTR1、TR2の状態が自己保持
される。トランジスタTR2のエミッタEにはインバー
タINV2が接続され、このインバータINV2の出力
が出力データDoutとなる。導線FLには保護抵抗R2
が設けられ、リセット時に電源VBからトランジスタT
R2に大電流が流れることを防止している。以上の構成
によっても、リフレッシュ不要のメモリデバイスを小規
模回路によって実現し得る。
【0012】
【発明の効果】前述のとおり、この発明に係るメモリデ
バイスは、1対のトランジスタによって自己保持回路を
構成するので、リフレッシュが不要であるとともに、そ
の回路規模が小さいという優れた効果を有する。
バイスは、1対のトランジスタによって自己保持回路を
構成するので、リフレッシュが不要であるとともに、そ
の回路規模が小さいという優れた効果を有する。
【図1】本発明の第1実施例を示す回路図である。
【図2】本発明の第2実施例を示す回路図である。
TR1 第1トランジスタ TR2 第2トランジスタ SW1 スイッチ SW2 リセットスイッチ DL データライン FL 導線 DIN データ DOUT 出力データ E エミッタ C コレクタ B ベース VCC,VB 電源 R1 高抵抗 R2,R3 保護抵抗 INV1,INV2 インバータ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 寿 国梁 東京都世田谷区北沢3−5−18 株式会社 鷹山内 (72)発明者 高取 直 東京都世田谷区北沢3−5−18 株式会社 鷹山内 (72)発明者 山本 誠 東京都世田谷区北沢3−5−18 株式会社 鷹山内
Claims (4)
- 【請求項1】 ベースに入力電圧が接続されかつエミッ
タが接地されたPNP型の第1トランジスタと、この第
1トランジスタのコレクタにベースが接続されるととも
にコレクタが接地されかつエミッタに電源が接続された
NPN型の第2トランジスタと、この第2トランジスタ
のコレクタを第1トランジスタのベースに接続して1記
憶単位を構成したメモリーデバイス。 - 【請求項2】 第2トランジスタのコレクタから第1ト
ランジスタのベースに至る導線には保護抵抗が接続され
ていることを特徴とする請求項1記載のメモリーデバイ
ス。 - 【請求項3】 ベースに入力電圧の反転出力が接続され
かつコレクタが電源に接続されたNPN型の第1トラン
ジスタと、この第1トランジスタのエミッタにベースが
接続されるとともにコレクタが接地されかつエミッタが
第1トランジスタのベースに接続された第2トランジス
タとによって1記憶単位を構成してなるメモリーデバイ
ス。 - 【請求項4】 第2トランジスタのエミッタから第1ト
ランジスタのベースに至る導線には保護抵抗が接続され
ていることを特徴とする請求項3記載のメモリーデバイ
ス。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4229260A JPH0660644A (ja) | 1992-08-05 | 1992-08-05 | メモリーデバイス |
| KR1019930014939A KR940004647A (ko) | 1992-08-05 | 1993-08-02 | 메모리장치 |
| US08/100,176 US5477483A (en) | 1992-08-05 | 1993-08-02 | Memory device |
| EP93112518A EP0582294A2 (en) | 1992-08-05 | 1993-08-04 | Memory device |
| US08/396,618 US5537348A (en) | 1992-08-05 | 1995-03-01 | Memory device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4229260A JPH0660644A (ja) | 1992-08-05 | 1992-08-05 | メモリーデバイス |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0660644A true JPH0660644A (ja) | 1994-03-04 |
Family
ID=16889331
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4229260A Pending JPH0660644A (ja) | 1992-08-05 | 1992-08-05 | メモリーデバイス |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (2) | US5477483A (ja) |
| EP (1) | EP0582294A2 (ja) |
| JP (1) | JPH0660644A (ja) |
| KR (1) | KR940004647A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| IL140183A (en) * | 2000-12-07 | 2007-03-08 | Rafael Advanced Defense Sys | Method of operation of an air-to-air missile and a compatible missile with autonomous or semi-autonomous activity |
| US6781459B1 (en) | 2003-04-24 | 2004-08-24 | Omega Reception Technologies, Inc. | Circuit for improved differential amplifier and other applications |
| US9269422B2 (en) * | 2013-09-30 | 2016-02-23 | Simon Peter Tsaoussis | Two transistor ternary random access memory |
Family Cites Families (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3473149A (en) * | 1966-05-02 | 1969-10-14 | Sylvania Electric Prod | Memory drive circuitry |
| JPS51120141A (en) * | 1975-04-15 | 1976-10-21 | Toshiba Corp | Memory circuit |
| WO1980000761A1 (fr) * | 1978-10-03 | 1980-04-17 | Tokyo Shibaura Electric Co | Systeme de memoire a semi-conducteur |
| US4387445A (en) * | 1981-02-24 | 1983-06-07 | International Business Machines Corporation | Random access memory cell |
| US4455625A (en) * | 1981-02-24 | 1984-06-19 | International Business Machines Corporation | Random access memory cell |
| JPS6083291A (ja) * | 1983-10-13 | 1985-05-11 | Nec Corp | 半導体メモリ |
| US4675846A (en) * | 1984-12-17 | 1987-06-23 | International Business Machines Corporation | Random access memory |
| GB2179219B (en) * | 1985-06-07 | 1989-04-19 | Anamartic Ltd | Electrical data storage elements |
| US4943740A (en) * | 1988-04-12 | 1990-07-24 | Zdzislaw Gulczynski | Ultra fast logic |
| US4922411A (en) * | 1988-12-27 | 1990-05-01 | Atmel Corporation | Memory cell circuit with supplemental current |
| US5117391A (en) * | 1990-06-04 | 1992-05-26 | Motorola, Inc. | Bipolar memory cell array biasing technique with forward active PNP load cell |
-
1992
- 1992-08-05 JP JP4229260A patent/JPH0660644A/ja active Pending
-
1993
- 1993-08-02 KR KR1019930014939A patent/KR940004647A/ko not_active Withdrawn
- 1993-08-02 US US08/100,176 patent/US5477483A/en not_active Expired - Fee Related
- 1993-08-04 EP EP93112518A patent/EP0582294A2/en not_active Withdrawn
-
1995
- 1995-03-01 US US08/396,618 patent/US5537348A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5537348A (en) | 1996-07-16 |
| US5477483A (en) | 1995-12-19 |
| EP0582294A2 (en) | 1994-02-09 |
| KR940004647A (ko) | 1994-03-15 |
| EP0582294A3 (ja) | 1994-04-06 |
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