JPH0664842B2 - デ−タ改ざんチェック方式 - Google Patents
デ−タ改ざんチェック方式Info
- Publication number
- JPH0664842B2 JPH0664842B2 JP62191196A JP19119687A JPH0664842B2 JP H0664842 B2 JPH0664842 B2 JP H0664842B2 JP 62191196 A JP62191196 A JP 62191196A JP 19119687 A JP19119687 A JP 19119687A JP H0664842 B2 JPH0664842 B2 JP H0664842B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- check
- recording
- positive
- bits
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、プリペイド・カード等のデータ改ざんが重要
であるカードのデータ改ざんチェック方式に関し、特
に、レーザカードの如く、記録情報を追加する方向にの
み改ざん可能な記録媒体（以下、「追記型の記録媒体」
という）のデータ改ざんチェック方式に関する。
であるカードのデータ改ざんチェック方式に関し、特
に、レーザカードの如く、記録情報を追加する方向にの
み改ざん可能な記録媒体（以下、「追記型の記録媒体」
という）のデータ改ざんチェック方式に関する。
レーザカードは、記録媒体にレーザ光で穴をあけ、再生
時はその穴の有無を、照射レーザ光の反射の強弱により
光学的に検出することにより情報を取出すものである。
このレーザカードは、データの改ざんが穴をあける（穴
を増やす）方向にしかできない、上記追記型の記録媒体
の一種である。
時はその穴の有無を、照射レーザ光の反射の強弱により
光学的に検出することにより情報を取出すものである。
このレーザカードは、データの改ざんが穴をあける（穴
を増やす）方向にしかできない、上記追記型の記録媒体
の一種である。
従来のデータチェック方式としては、例えば、特開昭57
−188159号公報に開示されている如く、低数のBCC（ブ
ロック・チェック・キャラクタ）を持つことにより、複
数のチェック方式の組合せで読取りデータの正当性チェ
ックを行っていた。
−188159号公報に開示されている如く、低数のBCC（ブ
ロック・チェック・キャラクタ）を持つことにより、複
数のチェック方式の組合せで読取りデータの正当性チェ
ックを行っていた。
また、特開昭57−140050号公報に開示されているデータ
チェック方式は、データの内容に関連したある項目の合
計値を求め、これをチェック用データとし、データチェ
ック時には、データから同じ合計値を求め上述のチェッ
ク用データとの照合を行うという方式である。
チェック方式は、データの内容に関連したある項目の合
計値を求め、これをチェック用データとし、データチェ
ック時には、データから同じ合計値を求め上述のチェッ
ク用データとの照合を行うという方式である。
上記従来技術は、いずれも、データチェック方式を複雑
化することにより、データの信頼性を上げる傾向にあ
り、チェック用データの作成およびチェック回路の負担
が大きくなるという問題を有するものであった。
化することにより、データの信頼性を上げる傾向にあ
り、チェック用データの作成およびチェック回路の負担
が大きくなるという問題を有するものであった。
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、その目的と
するところは、従来の方式における上述の如き問題を解
消し、前述の追記型の記録媒体における、データの改ざ
んチェックおよび正当性チェックを容易に行うことが可
能なデータ改ざんチェック方式を提供することにある。
するところは、従来の方式における上述の如き問題を解
消し、前述の追記型の記録媒体における、データの改ざ
んチェックおよび正当性チェックを容易に行うことが可
能なデータ改ざんチェック方式を提供することにある。
上記目的を達成するために、本発明のデータ改ざんチェ
ック方式は、追記型の記録媒体を用いてデータの記録と
再生を行なうシステムにおいて、上記記録媒体へのデー
タ記録時には、記録したデータの正もしくは負ビットの
ビット総数を基に、記録データへの追記で減少する数値
データを作成して、この数値データを記録データの第１
のチェック用データとして記録データと共に記録し、上
記記録媒体からのデータ再生時には、再生するデータの
正もしくは負ビットのビット総数を基に上記第１のチェ
ック用データの作成手順と同じ手順で作成した第２のチ
ェック用データと、上記第１のチェック用データとの相
等性によりデータ改ざんチェックを行なうことを特徴と
する。
ック方式は、追記型の記録媒体を用いてデータの記録と
再生を行なうシステムにおいて、上記記録媒体へのデー
タ記録時には、記録したデータの正もしくは負ビットの
ビット総数を基に、記録データへの追記で減少する数値
データを作成して、この数値データを記録データの第１
のチェック用データとして記録データと共に記録し、上
記記録媒体からのデータ再生時には、再生するデータの
正もしくは負ビットのビット総数を基に上記第１のチェ
ック用データの作成手順と同じ手順で作成した第２のチ
ェック用データと、上記第１のチェック用データとの相
等性によりデータ改ざんチェックを行なうことを特徴と
する。
以下、説明を簡単にするため、前述の追記型の記録媒体
の具体的な例としてレーザカードを例にとり、また、記
録データの正または負ビットのビット数に基づくチェッ
ク用データの作成方法の例として、記録データの正ビッ
トのビット数の１の補数を用いるチェック用データを例
にとる。
の具体的な例としてレーザカードを例にとり、また、記
録データの正または負ビットのビット数に基づくチェッ
ク用データの作成方法の例として、記録データの正ビッ
トのビット数の１の補数を用いるチェック用データを例
にとる。
すなわち、本発明においては、レーザカードにデータを
記録する際、記録データの正ビットのビット数の１の補
数から成るシェック用データを記録データとともに記録
する。レーザカードは一度穴をあけたビットは修復でき
ないため、データの改ざんは、穴をあける。すなわち、
穴を増やす方向にしかできない。このため、レーザカー
ド上のデータが第三者により改ざんされた場合は、正ビ
ット（ここでは、穴あきを正ビットとしている）が増え
るが、チェック用データは正ビットのビット数の１の補
数であるため、チェック用データを改ざんすると正規の
値よりも小さい値を示すことになる。これにより、読取
りデータの正ビットのビット数と、チェック用データの
１の補数とが等しいことを調べることのみにより、レー
ザカード上の記録データの改ざんの有無のチェックが実
現できる。
記録する際、記録データの正ビットのビット数の１の補
数から成るシェック用データを記録データとともに記録
する。レーザカードは一度穴をあけたビットは修復でき
ないため、データの改ざんは、穴をあける。すなわち、
穴を増やす方向にしかできない。このため、レーザカー
ド上のデータが第三者により改ざんされた場合は、正ビ
ット（ここでは、穴あきを正ビットとしている）が増え
るが、チェック用データは正ビットのビット数の１の補
数であるため、チェック用データを改ざんすると正規の
値よりも小さい値を示すことになる。これにより、読取
りデータの正ビットのビット数と、チェック用データの
１の補数とが等しいことを調べることのみにより、レー
ザカード上の記録データの改ざんの有無のチェックが実
現できる。
以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細に説明す
る。
る。
第２図は、本発明の一実施例である。データ改ざんチェ
ック機構を示す構成図である。
ック機構を示す構成図である。
図において、10は書込みデータ１の正ビットのビット数
を計数する正ビット計数部、11は該正ビット計数部10で
計数された数の１の補数を生成するビット反転部、12は
書込みデータ１および上記ビット反転部11で作成された
チェック用データをレーザカード13内に記録部14に書込
むレーザカード書込み部、17は上記レーザカード13内の
記録部14を構成するデータ部15およひチェック用データ
部16からデータの読取りを行うレーザカード読取り部、
18は該レーザカード読取り部17で読取ったデータ部15の
正ビットのビット数を計数する正ビット計数部、19は上
記レーザーカード読取り部17で読取ったチェック用デー
タ部16の１の補数を生成するビット反転部、20は正ビッ
ト計数部18に計数された数とビット反転部19に生成され
た１の補数とが等しいか否かをチェックする異値検出部
を、それぞれ、示している。
を計数する正ビット計数部、11は該正ビット計数部10で
計数された数の１の補数を生成するビット反転部、12は
書込みデータ１および上記ビット反転部11で作成された
チェック用データをレーザカード13内に記録部14に書込
むレーザカード書込み部、17は上記レーザカード13内の
記録部14を構成するデータ部15およひチェック用データ
部16からデータの読取りを行うレーザカード読取り部、
18は該レーザカード読取り部17で読取ったデータ部15の
正ビットのビット数を計数する正ビット計数部、19は上
記レーザーカード読取り部17で読取ったチェック用デー
タ部16の１の補数を生成するビット反転部、20は正ビッ
ト計数部18に計数された数とビット反転部19に生成され
た１の補数とが等しいか否かをチェックする異値検出部
を、それぞれ、示している。
第１図は、上述の如く構成された本実施例のデータ改ざ
んチェック機構の動作を示すフローチャートである。以
下、これに基づいて、本実施例の動作を説明する。
んチェック機構の動作を示すフローチャートである。以
下、これに基づいて、本実施例の動作を説明する。
レーザカード13にデータを記録する場合、書込みデータ
１の正ビットのビット数を正ビット計数部10により計数
し（ステップ21）、その数をビット反転部11によって各
ビット1,0反転してチェック用データを作成し（ステッ
プ22）、レーザカード13内の記録部14に、書込みデータ
１とともに、レーザカード書込み部により書込む（ステ
ップ23）。この場合、書込みデータ１は上記記録部14の
データ部15に、チェック用データはチェック用データ部
16にと、分けて記録される。
１の正ビットのビット数を正ビット計数部10により計数
し（ステップ21）、その数をビット反転部11によって各
ビット1,0反転してチェック用データを作成し（ステッ
プ22）、レーザカード13内の記録部14に、書込みデータ
１とともに、レーザカード書込み部により書込む（ステ
ップ23）。この場合、書込みデータ１は上記記録部14の
データ部15に、チェック用データはチェック用データ部
16にと、分けて記録される。
記録されたデータの様子を、データ長８ビットの場合を
例にして、第３図に示す。第３図に示す如く、データ部
15の１のビットの数「５」の２進数「0101」の1,0を反
転したデータ「1010」がチェック用データ部16のデータ
となる。この状態で、データ改ざんを行うには、前述の
如く、レーザカードの記録方式から、一度穴をあけたビ
ットの修復はできないため、０（穴あきでない状態）の
ビットを１（穴あきの状態）にするしかない。
例にして、第３図に示す。第３図に示す如く、データ部
15の１のビットの数「５」の２進数「0101」の1,0を反
転したデータ「1010」がチェック用データ部16のデータ
となる。この状態で、データ改ざんを行うには、前述の
如く、レーザカードの記録方式から、一度穴をあけたビ
ットの修復はできないため、０（穴あきでない状態）の
ビットを１（穴あきの状態）にするしかない。
ここでは、０を穴あきでない状態、１を穴あきの状態と
しているが、これは逆でも良い。
しているが、これは逆でも良い。
すなわち、データの改ざんが行われると、上述のデータ
部15は１ビットが増えることになる。しかしながら、チ
ェック用データ部16は、データ部15の１のビットの数を
反転したデータとなっているので、この中の０のビット
を１に改ざんすると、データ部15の正ビットの正規の数
よりも少ない数となる。このため、データ部15に合わせ
てチェック用データ部16を改ざんすることは不可能であ
る。
部15は１ビットが増えることになる。しかしながら、チ
ェック用データ部16は、データ部15の１のビットの数を
反転したデータとなっているので、この中の０のビット
を１に改ざんすると、データ部15の正ビットの正規の数
よりも少ない数となる。このため、データ部15に合わせ
てチェック用データ部16を改ざんすることは不可能であ
る。
従って、データ部15の正ビットのビット数と、チェック
用データ部16の１の補数から成るデータとが、等しいか
否かをチェックすることにより、改ざんの有無をチェッ
クすることができる。これについて、以下、詳細に説明
する。
用データ部16の１の補数から成るデータとが、等しいか
否かをチェックすることにより、改ざんの有無をチェッ
クすることができる。これについて、以下、詳細に説明
する。
穴あきを正ビットとし、データのビットの個数をDB、デ
ータの正ビットの個数をPD、チェック用データのビット
数をCB（但し、CB≧〔log２DB〕＋１とし〔log２DB〕は
log２DBを越えない最大の整数とする）、チェック用デ
ータの示す数値をCDとすると、 CD＝（2CB ＋ １−１）−PD ・・・・（１） である。レーザカードの記録方式から、データ改ざんは
穴をあける方向にしかできない。このため、データの全
ビットが穴あきの場合は改ざん不能である。従って、PD
＜DBの場合に、改ざん後のデータの正ビットの個数PD′
は、 PD′＝PD＋ｘ１ ・・・・（２） （０＜ｘ１≦DB−PD,x１は整数） となる。PD′に合せて改ざんしたチェック用データの示
す数値CD′は、 CD′＝（2CB ＋ １−１）−PD−ｘ１ ・・・・（３） であり、改ざん前のチェック用データの示す数値CDと比
較すると、 CD′−CD＝−ｘ１＜０ ・・・・（４） となる。式（４）に示される如く、チェック用データの
示す数値が改ざん前に比べて減少するように改ざんする
必要があるが、改ざんは穴をあけること、すなわち、正
ビットを増加させることしかできず、この場合、チェッ
ク用データの示す数値は増加するしかないことになる。
このため、データに合せてチェック用データを改ざんす
ることは不可能であり、前記データ部15の正ビットのビ
ット数と、チェック用データ部16の１の補数から成るデ
ータとが、等しいか否かをチェックすることにより、改
ざんの有無をチェックすることができる。
ータの正ビットの個数をPD、チェック用データのビット
数をCB（但し、CB≧〔log２DB〕＋１とし〔log２DB〕は
log２DBを越えない最大の整数とする）、チェック用デ
ータの示す数値をCDとすると、 CD＝（2CB ＋ １−１）−PD ・・・・（１） である。レーザカードの記録方式から、データ改ざんは
穴をあける方向にしかできない。このため、データの全
ビットが穴あきの場合は改ざん不能である。従って、PD
＜DBの場合に、改ざん後のデータの正ビットの個数PD′
は、 PD′＝PD＋ｘ１ ・・・・（２） （０＜ｘ１≦DB−PD,x１は整数） となる。PD′に合せて改ざんしたチェック用データの示
す数値CD′は、 CD′＝（2CB ＋ １−１）−PD−ｘ１ ・・・・（３） であり、改ざん前のチェック用データの示す数値CDと比
較すると、 CD′−CD＝−ｘ１＜０ ・・・・（４） となる。式（４）に示される如く、チェック用データの
示す数値が改ざん前に比べて減少するように改ざんする
必要があるが、改ざんは穴をあけること、すなわち、正
ビットを増加させることしかできず、この場合、チェッ
ク用データの示す数値は増加するしかないことになる。
このため、データに合せてチェック用データを改ざんす
ることは不可能であり、前記データ部15の正ビットのビ
ット数と、チェック用データ部16の１の補数から成るデ
ータとが、等しいか否かをチェックすることにより、改
ざんの有無をチェックすることができる。
レーザカードの読取り側では、レーザーカード13に記録
された書込みデータを読取る際、レーザカード13内の記
録部14から、レーザカード読取り部17によりデータ部15
とチェック用データ部16をともに読取り（ステップ3
1）、データ部15の正ビットのビット数を正ビット計数
部18により計数した値（ステップ32）と、チェック用デ
ータ部16をビット反転部19により反転した値（ステップ
33）を異値検出部20に与える。該異値検出部20は、受取
った値が等しいか否かをチェックし（ステップ34）、等
しくなければ改ざん発生、または、読取りエラー発生と
してエラー検出信号３（第２図参照）を発生させる（ス
テップ35）。また、上記両者が等しければ、エラー検出
信号３は発生させず、読取りデータ２（第２図参照）
は、書込み時の書込みデータ１と同等であり、改ざんさ
れていない正常なデータであることを意味する。
された書込みデータを読取る際、レーザカード13内の記
録部14から、レーザカード読取り部17によりデータ部15
とチェック用データ部16をともに読取り（ステップ3
1）、データ部15の正ビットのビット数を正ビット計数
部18により計数した値（ステップ32）と、チェック用デ
ータ部16をビット反転部19により反転した値（ステップ
33）を異値検出部20に与える。該異値検出部20は、受取
った値が等しいか否かをチェックし（ステップ34）、等
しくなければ改ざん発生、または、読取りエラー発生と
してエラー検出信号３（第２図参照）を発生させる（ス
テップ35）。また、上記両者が等しければ、エラー検出
信号３は発生させず、読取りデータ２（第２図参照）
は、書込み時の書込みデータ１と同等であり、改ざんさ
れていない正常なデータであることを意味する。
本実施例によれば、レーザカードの記録方式から、一度
穴をあけたビットは修復不可であり、データの改ざんは
穴をあける方向にしかできないことを利用し、容易にレ
ーザカード内のデータ改ざん有無チェックが実現できる
効果がある。
穴をあけたビットは修復不可であり、データの改ざんは
穴をあける方向にしかできないことを利用し、容易にレ
ーザカード内のデータ改ざん有無チェックが実現できる
効果がある。
上記説明において、穴あきを正ビットした例を説明した
が、穴あきを負ビットとした場合も全く同様である。ま
た、チェック用データの作成方法も、上に示した１の補
数によるもの以外であっても差支えない。更に、本発明
は、上記実施例に示したレーザカード以外の、前述の追
記型の記録媒体にも適用可能であることは言うまでもな
いことである。
が、穴あきを負ビットとした場合も全く同様である。ま
た、チェック用データの作成方法も、上に示した１の補
数によるもの以外であっても差支えない。更に、本発明
は、上記実施例に示したレーザカード以外の、前述の追
記型の記録媒体にも適用可能であることは言うまでもな
いことである。
以上述べた如く、本発明によれば、レーザカード等の追
記型の記録媒体におけるデータのいかなる改ざんに対し
ても、データとチェック用データの記録、再生、演算だ
けの容易な処理で、完全な検出を行なうことが可能であ
る。
記型の記録媒体におけるデータのいかなる改ざんに対し
ても、データとチェック用データの記録、再生、演算だ
けの容易な処理で、完全な検出を行なうことが可能であ
る。
第１図は本発明の一実施例であるデータ改ざんチェック
機構の動作を示すフローチャート、第２図は実施例のデ
ータ改ざんチェック機構の構成図、第３図はレーザカー
ド内の記録部に記録されたデータの様子を示す図であ
る。 10:正ビット計数部、11:ビット反転部、12:レーザカー
ド書込み部、13:レーザカード、14:記録部、15:データ
部、16:チェック用データ部、17:レーザカード読取り
部、18:正ビット計数部、19:ビット反転部、20:異値検
出部。
機構の動作を示すフローチャート、第２図は実施例のデ
ータ改ざんチェック機構の構成図、第３図はレーザカー
ド内の記録部に記録されたデータの様子を示す図であ
る。 10:正ビット計数部、11:ビット反転部、12:レーザカー
ド書込み部、13:レーザカード、14:記録部、15:データ
部、16:チェック用データ部、17:レーザカード読取り
部、18:正ビット計数部、19:ビット反転部、20:異値検
出部。
Claims (1)
- 【請求項１】追記型の記録媒体を用いてデータの記録と
再生を行なうシステムにおいて、上記記録媒体へのデー
タ記録時には、記録したデータの正もしくは負ビットの
ビット総数を基に、記録データへの追記で減少する数値
データを作成して、該数値データを上記記録データの第
１のチェック用データとして上記記録データと共に記録
し、上記記録媒体からのデータ再生時には、再生するデ
ータの正もしくは負ビットのビット総数を基に上記第１
のチェック用データの作成手順と同じ手順で作成した第
２のチェック用データと、上記第１のチェック用データ
との相等性によりデータ改ざんチェックを行なうことを
特徴とするデータ改ざんチェック方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62191196A JPH0664842B2 (ja) | 1987-07-30 | 1987-07-30 | デ−タ改ざんチェック方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62191196A JPH0664842B2 (ja) | 1987-07-30 | 1987-07-30 | デ−タ改ざんチェック方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6433773A JPS6433773A (en) | 1989-02-03 |
| JPH0664842B2 true JPH0664842B2 (ja) | 1994-08-22 |
Family
ID=16270503
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62191196A Expired - Lifetime JPH0664842B2 (ja) | 1987-07-30 | 1987-07-30 | デ−タ改ざんチェック方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0664842B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4834047B2 (ja) * | 2008-09-03 | 2011-12-07 | 有限会社タクショー | 枚葉ワークの除塵装置 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3038614A1 (de) * | 1980-10-13 | 1982-04-22 | Copytex-Abrechnungssysteme für Dienstleistungsautomaten GbmH, 7742 St Georgen | Verfahren zum rueckuebertragen von einmal auf einem datentraeger eingetragener information und vorrichtung zum ein- und/oder auslesen einer gegen rueckuebertragung geschuetzten information |
| JPS57140050A (en) * | 1981-02-23 | 1982-08-30 | Shinko Electric Co Ltd | Checking method for transmission data |
| JPS57188159A (en) * | 1981-05-15 | 1982-11-19 | Nec Corp | Error check system |
-
1987
- 1987-07-30 JP JP62191196A patent/JPH0664842B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6433773A (en) | 1989-02-03 |
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