JPH0743881B2 - 光カ−ドデ−タの改ざんチエツク方式 - Google Patents
光カ−ドデ−タの改ざんチエツク方式Info
- Publication number
- JPH0743881B2 JPH0743881B2 JP62090854A JP9085487A JPH0743881B2 JP H0743881 B2 JPH0743881 B2 JP H0743881B2 JP 62090854 A JP62090854 A JP 62090854A JP 9085487 A JP9085487 A JP 9085487A JP H0743881 B2 JPH0743881 B2 JP H0743881B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- optical card
- check
- tampering
- recording
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
- Credit Cards Or The Like (AREA)
- Thermal Transfer Or Thermal Recording In General (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、光カードデータの改ざんチェック方式に関
し、特に光カードにおいて、カード内データの改ざんチ
ェックを簡便に行うのに好適な改ざんチェック方式に関
する。
し、特に光カードにおいて、カード内データの改ざんチ
ェックを簡便に行うのに好適な改ざんチェック方式に関
する。
従来、レーザー光によって情報を記録し、その記録され
た情報をCCDまたはレーザ光によって光学的に再生でき
るカードとして光カード（光メモリ・カード）が開発さ
れている。このような光カードには、現在、追加記録の
できるWrite Once型と、読み出し専用のROM型がある。
磁気カードのように消去・再書込みはできない。しか
し、Write Once型でも、記録容量が大きいので、新たな
情報を追加して書き込める。一方、ROM型は同じ内容を
大量に配布する用途に向く。
た情報をCCDまたはレーザ光によって光学的に再生でき
るカードとして光カード（光メモリ・カード）が開発さ
れている。このような光カードには、現在、追加記録の
できるWrite Once型と、読み出し専用のROM型がある。
磁気カードのように消去・再書込みはできない。しか
し、Write Once型でも、記録容量が大きいので、新たな
情報を追加して書き込める。一方、ROM型は同じ内容を
大量に配布する用途に向く。
光カードにおけるデータ記録・再生について、少し詳し
く言えば、データの記録は、レーザー・ビームをカード
表面（記録媒体表面）に当て、そこに発生する熱で穴を
あけることにより行う。再生はCCDやレーザー光を当
て、穴のあるなしで反射光の強弱が違うため、これを検
出することにより行う。この穴の大きさは、約５μｍ程
度である。
く言えば、データの記録は、レーザー・ビームをカード
表面（記録媒体表面）に当て、そこに発生する熱で穴を
あけることにより行う。再生はCCDやレーザー光を当
て、穴のあるなしで反射光の強弱が違うため、これを検
出することにより行う。この穴の大きさは、約５μｍ程
度である。
上述したような光カードにおいて、データチェックを行
う場合、以下のような方式が考えられる。すなわち、特
開昭57−188159号公報に記載のように、複数のBCC（ブ
ロック・チェック・キャラクタ）を持つことにより複数
のチェック方式の組合せで読み取りデータの正当性チェ
ックする方式や、特開昭57−140050号公報に記載のよう
に、データの内容に関連したある項目の合計値を求め、
これをチェック用データとし、データチェック時にはデ
ータから同じ合計値を求め、チェック用データとの照合
を行う方式である。
う場合、以下のような方式が考えられる。すなわち、特
開昭57−188159号公報に記載のように、複数のBCC（ブ
ロック・チェック・キャラクタ）を持つことにより複数
のチェック方式の組合せで読み取りデータの正当性チェ
ックする方式や、特開昭57−140050号公報に記載のよう
に、データの内容に関連したある項目の合計値を求め、
これをチェック用データとし、データチェック時にはデ
ータから同じ合計値を求め、チェック用データとの照合
を行う方式である。
上記従来技術では、いずれのデータチェック方式も複雑
化することによりデータの信頼性を上げる傾向にあり、
チェックデータの作成およびチェック回路の負担が大き
くなるという問題点があった。
化することによりデータの信頼性を上げる傾向にあり、
チェックデータの作成およびチェック回路の負担が大き
くなるという問題点があった。
本発明の目的は、このような従来の問題点を解決し、光
カードにおいて、簡単に、データの改ざんチェックおよ
び正当性チェックを行える光カードデータの改ざんチェ
ック方式を提供することにある。
カードにおいて、簡単に、データの改ざんチェックおよ
び正当性チェックを行える光カードデータの改ざんチェ
ック方式を提供することにある。
上記問題点を解決するため、本発明では、レーザ光の照
射により記録媒体に穴をあけてデータ記録を行い、上記
穴の有無を照射レーザ光の反射の強弱により光学的に検
出することでデータ再生を行い、一度穴をあけたらその
データ（ビット）の消去は不可で、データの改ざんは穴
をあける方向にした可能でない光カードにおいて、デー
タ記録時、記録データと該記録データの全ビットすべて
を反転させた改ざんチェック用データを、上記記録デー
タと共に記録しておき、データ読取り時、データ部と改
ざんチェック用データ部との各ビットが反転関係にある
か否かを調べることにより、記録データの改ざんをチェ
ックすることに特徴がある。
射により記録媒体に穴をあけてデータ記録を行い、上記
穴の有無を照射レーザ光の反射の強弱により光学的に検
出することでデータ再生を行い、一度穴をあけたらその
データ（ビット）の消去は不可で、データの改ざんは穴
をあける方向にした可能でない光カードにおいて、デー
タ記録時、記録データと該記録データの全ビットすべて
を反転させた改ざんチェック用データを、上記記録デー
タと共に記録しておき、データ読取り時、データ部と改
ざんチェック用データ部との各ビットが反転関係にある
か否かを調べることにより、記録データの改ざんをチェ
ックすることに特徴がある。
本発明においては、光カードにデータ記録時、記録デー
タと全ビット全てが反転したチェック用データをデータ
と共に記録する。光カードは、記録媒体にレーザ光で穴
をあけ、読取り時はその穴の有無を照射レーザ光の反射
の強弱により光学的に検出し記録データを読み取る方式
で、一度穴をあけたビットは再生不可であるため、デー
タ改ざんは穴をあける方向にしか可能でない。このた
め、光カード上のデータが第三者により改ざんされてい
れば、データとチェック用データの該当ビットが共に穴
あき状態となり、改ざんされていることが判明する。す
なわち、記録データの全ビットとチェック用データの全
ビットが、反転関係にあることのチェックのみでレーザ
カード上の記録データ改ざんチェックが実現できる。
タと全ビット全てが反転したチェック用データをデータ
と共に記録する。光カードは、記録媒体にレーザ光で穴
をあけ、読取り時はその穴の有無を照射レーザ光の反射
の強弱により光学的に検出し記録データを読み取る方式
で、一度穴をあけたビットは再生不可であるため、デー
タ改ざんは穴をあける方向にしか可能でない。このた
め、光カード上のデータが第三者により改ざんされてい
れば、データとチェック用データの該当ビットが共に穴
あき状態となり、改ざんされていることが判明する。す
なわち、記録データの全ビットとチェック用データの全
ビットが、反転関係にあることのチェックのみでレーザ
カード上の記録データ改ざんチェックが実現できる。
以下、本発明の一実施例を、図面により詳細に説明す
る。
る。
第２図は、本発明の対象となる光カードの構成図であ
る。ここで、12は光カード、13はデータを記録する光カ
ード記録部、14は書込みデータをそのまま記録するデー
タ部、15は書込みデータをビット反転させたデータを記
録するチェック用データ部である。
る。ここで、12は光カード、13はデータを記録する光カ
ード記録部、14は書込みデータをそのまま記録するデー
タ部、15は書込みデータをビット反転させたデータを記
録するチェック用データ部である。
第１図は、本発明の一実施例を示す光カードデータの改
ざんチェック方式を説明するための図である。（ａ）は
データの書込み動作を示し、（ｂ）はデータの読取り動
作を示している。この書込みおよび読取り動作は、カー
ドリーダ／ライタ等で行うものとする。
ざんチェック方式を説明するための図である。（ａ）は
データの書込み動作を示し、（ｂ）はデータの読取り動
作を示している。この書込みおよび読取り動作は、カー
ドリーダ／ライタ等で行うものとする。
第１図（ａ），（ｂ）において、１は光カードへの書込
みデータ、２は光カードからの読取りデータ、３はエラ
ー検出信号、10は書込みデータ１の全ビット全てを1,0
反転するデータ反転機構、11は書込みデータ１およびデ
ータ反転機構10で作成されたチェック用データを光カー
ド12内の光カード記録部13に書込みを行う光カード書込
み機構、12は光カード、16は光カード12内の光カード記
録部13からデータの読取りを行うレーザカード読取り機
構、17は光カード読取り機構16で読取ったデータ部14と
チェック用データ部15が全ビット全て0,1の反転関係に
あるか否かをチェックする同値検出機構である。これら
の機構は、カードリーダ／ライタ（図示せず）内に組込
まれる機構である。
みデータ、２は光カードからの読取りデータ、３はエラ
ー検出信号、10は書込みデータ１の全ビット全てを1,0
反転するデータ反転機構、11は書込みデータ１およびデ
ータ反転機構10で作成されたチェック用データを光カー
ド12内の光カード記録部13に書込みを行う光カード書込
み機構、12は光カード、16は光カード12内の光カード記
録部13からデータの読取りを行うレーザカード読取り機
構、17は光カード読取り機構16で読取ったデータ部14と
チェック用データ部15が全ビット全て0,1の反転関係に
あるか否かをチェックする同値検出機構である。これら
の機構は、カードリーダ／ライタ（図示せず）内に組込
まれる機構である。
まず、光カードへのデータ記録について、第１図（ａ）
を用いて説明する。
を用いて説明する。
光カードにデータを記録する場合、書込みデータ１の全
ビット全てを1,0反転させたチェック用データをデータ
反転機構10により作成し、光カード12内の光カード記録
部13へ書込みデータ１と共に光カード書込み機構11によ
り書込む。この場合、光カード記録部13は、データ部14
とデータ反転機構10によって作成されたチェック用デー
タ部15とに別れて記録される。記録されたデータの様子
を、データ長８ビットの場合の例を第３図に示す。第３
図に示すように、データ部14とチェック用データ部15と
の間には全ビットが0,1の反転関係にあるようにそれぞ
れデータ部14とチェック用データ部15に記録されてい
る。この状態でデータ改ざん行うには、光カードの記録
方式から一度穴をあけたデータビットの再生は不可であ
るためデータ改ざんは穴をあける方向にしかできないた
め、０（穴あき状態でない）のビットを１（穴あき状
態）にするしかない（上記では０を穴あきでない状態,1
を穴あき状態としているが、この逆でもよい）。すなわ
ち、データの改ざんが行われると、上述のデータ部14と
チェック用データ部15との間の全ビットの0,1の反転関
係がくずれてしまい、この関係をチェックすることによ
り、改ざんの有無をチェックすることができる。
ビット全てを1,0反転させたチェック用データをデータ
反転機構10により作成し、光カード12内の光カード記録
部13へ書込みデータ１と共に光カード書込み機構11によ
り書込む。この場合、光カード記録部13は、データ部14
とデータ反転機構10によって作成されたチェック用デー
タ部15とに別れて記録される。記録されたデータの様子
を、データ長８ビットの場合の例を第３図に示す。第３
図に示すように、データ部14とチェック用データ部15と
の間には全ビットが0,1の反転関係にあるようにそれぞ
れデータ部14とチェック用データ部15に記録されてい
る。この状態でデータ改ざん行うには、光カードの記録
方式から一度穴をあけたデータビットの再生は不可であ
るためデータ改ざんは穴をあける方向にしかできないた
め、０（穴あき状態でない）のビットを１（穴あき状
態）にするしかない（上記では０を穴あきでない状態,1
を穴あき状態としているが、この逆でもよい）。すなわ
ち、データの改ざんが行われると、上述のデータ部14と
チェック用データ部15との間の全ビットの0,1の反転関
係がくずれてしまい、この関係をチェックすることによ
り、改ざんの有無をチェックすることができる。
次に、光カードデータの改ざんチェックについて、第１
図（ｂ）を用いて説明する。
図（ｂ）を用いて説明する。
光カード12に記録された書込みデータを読取る際、光カ
ード記録部13から光カード読取り機構16によりデータ部
14とチェック用データ部15を共に読取り、同値検出機構
17にデータ部14とチェック用データ部15の両方を与え
る。同値検出機構17は、受け取ったデータ部14とチェッ
ク用データ部15の全ビットを各ビット対応に同値である
か否かをチェックし、１ビットでも同値（1,1または0,
0）のものがあれば、改ざん発生または読取りエラー発
生としてエラー検出信号３を発生させる。同値検出機構
17により、データ部14とチェック用データ部15の全ビッ
トが各ビット対応に全て異値（１と０が反転されている
状態）であれば、エラー検出信号３を発生させず、読取
りデータ２は書込み時の書込みデータ１と同等であり、
改ざんがされていない正常なデータであることを意味す
る。
ード記録部13から光カード読取り機構16によりデータ部
14とチェック用データ部15を共に読取り、同値検出機構
17にデータ部14とチェック用データ部15の両方を与え
る。同値検出機構17は、受け取ったデータ部14とチェッ
ク用データ部15の全ビットを各ビット対応に同値である
か否かをチェックし、１ビットでも同値（1,1または0,
0）のものがあれば、改ざん発生または読取りエラー発
生としてエラー検出信号３を発生させる。同値検出機構
17により、データ部14とチェック用データ部15の全ビッ
トが各ビット対応に全て異値（１と０が反転されている
状態）であれば、エラー検出信号３を発生させず、読取
りデータ２は書込み時の書込みデータ１と同等であり、
改ざんがされていない正常なデータであることを意味す
る。
このように、本実施例においては、光カードの記録方式
から一度穴をあけたビットは再生不可であり、データの
改ざんは穴をあける方向にしか可能でないことを利用
し、容易に光カード内のデータ改ざんチェックができ
る。
から一度穴をあけたビットは再生不可であり、データの
改ざんは穴をあける方向にしか可能でないことを利用
し、容易に光カード内のデータ改ざんチェックができ
る。
以上説明したように、本発明によれば、光カードにおい
て、簡単に、データの改ざんチェックおよび正当性チェ
ックが行えるようになる。
て、簡単に、データの改ざんチェックおよび正当性チェ
ックが行えるようになる。
第１図は本発明の一実施例を示す光カードデータの改ざ
んチェック方式を説明するための図、第２図は本発明の
対象となる光カードの構成図、第３図は本発明の実施例
における光カードに記録されたデータの様子を示す図で
ある。 1:書込みデータ、2:読取りデータ、3:エラー検出信号、
10:データ反転機構、11:光カード書込み機構、12:光カ
ード、13:光カードデータ記録部、14:データ部、15:チ
ェック用データ部、16:光カード読取り機構、17:同値検
出機構。
んチェック方式を説明するための図、第２図は本発明の
対象となる光カードの構成図、第３図は本発明の実施例
における光カードに記録されたデータの様子を示す図で
ある。 1:書込みデータ、2:読取りデータ、3:エラー検出信号、
10:データ反転機構、11:光カード書込み機構、12:光カ
ード、13:光カードデータ記録部、14:データ部、15:チ
ェック用データ部、16:光カード読取り機構、17:同値検
出機構。
Claims (1)
- 【請求項１】レーザ光の照射により記録媒体に穴をあけ
てデータ記録を行い、上記穴の有無を照射レーザ光の反
射の強弱により光学的に検出することでデータ再生を行
い、一度穴をあけたらそのデータ（ビット）の消去は不
可で、データの改ざんは穴をあける方向にしか可能でな
い光カードにおいて、データ記録時、記録データと該記
録データの全ビットすべてを反転させた改ざんチェック
用データを、上記記録データと共に記録しておき、デー
タ読取り時、データ部と改ざんチェック用データ部との
各ビットが反転関係にあるか否かを調べることにより、
記録データの改ざんをチェックすることを特徴とする光
カードデータの改ざんチェック方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62090854A JPH0743881B2 (ja) | 1987-04-15 | 1987-04-15 | 光カ−ドデ−タの改ざんチエツク方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62090854A JPH0743881B2 (ja) | 1987-04-15 | 1987-04-15 | 光カ−ドデ−タの改ざんチエツク方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63257963A JPS63257963A (ja) | 1988-10-25 |
| JPH0743881B2 true JPH0743881B2 (ja) | 1995-05-15 |
Family
ID=14010155
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62090854A Expired - Lifetime JPH0743881B2 (ja) | 1987-04-15 | 1987-04-15 | 光カ−ドデ−タの改ざんチエツク方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0743881B2 (ja) |
-
1987
- 1987-04-15 JP JP62090854A patent/JPH0743881B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63257963A (ja) | 1988-10-25 |
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