JPH0665843A - 検反装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】織布に対して相対移動して、織布の検反領域に
照射された光を空間フィルタからなる受光手段で受光し
て検反情報を得る検反装置に関し、センサヘッドの良否
の判定が確実に行われ、不良状態で織布の良否の判定を
確実に回避することを目的とする。 【構成】織布Ｗに対して相対移動して、織布Ｗの検反領
域に照射された光を空間フィルタ１４からなる受光手段
で受光して検反情報を得る検反装置において、前記空間
フィルタ１４からの出力信号又は所定の処理信号が正常
状態における所定の基準値以上か否かを判断する第２の
判定回路２８を設けた。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は織布に対して相対移動し
て、織布の検反領域に照射された光を空間フィルタから
なる受光手段で受光して検反情報を得る検反装置に関す
るものである。

【０００２】

【従来の技術】検反工程を製織工程から切り離して織布
の良否判定を行う場合には、織布を織り上げた後でなけ
れば織布の良否を判定することができない。そのため、
綜絖あるいは筬羽間への経糸通しの際の通し違い、ある
いは開口運動の際の上下経糸同士の絡みによる経糸の連
れ込みが生じても織り上げ完了時まで織機の稼動が継続
され、このような経方向の欠点が織り上げ完了時まで続
いてしまう。又、織り上げられた織布に欠点がない場合
にも検反工程に通す必要があり、検反効率の悪さは否め
ない。

【０００３】従来の検反装置は織布に照射した光の反射
光や透過光の変化を利用するため、織布の振動や外乱光
の変化が検出誤差となる。そのため、検反工程で使用さ
れている検反装置を織機に装備しても製織時の機台の振
動に伴う織布の振動や外乱光により、精度の高い検反は
難しく、織機に検反装置を装備する場合には織布の振動
及び外乱光に対する対策が特に要求される。本願出願人
は織布の振動及び外乱光の影響を受け難く、高い精度で
織布の欠点を検出できる検反装置を先に提案している
（特開平３−２４９２４３号公報）。

【０００４】この装置は筬の前方においてセンサボック
ス（センサヘッド）が織布の幅方向に所定速度で往復走
査されるようになっている。センサボックスはその底部
が開放され、その内部に図４に示す構成の検反部が設け
られている。すなわち、センサボックス内に設けられた
投光器３１からの光の通過経路にハーフミラー３２が配
設され、ハーフミラー３２の上方には織布Ｗから所定距
離Ｈをおいて凸レンズ３３が設けられている。凸レンズ
３３の上方には所定距離Ｄをおいて空間フィルタ３４が
設けられている。投光器３１から照射された光がハーフ
ミラー３２で反射して織布Ｗに垂直に照射され、織布Ｗ
の裏面に配置された反射鏡３５に経糸Ｔの間から達して
反射する。そして、この反射光がハーフミラー３２を通
過して凸レンズ３３を経て空間フィルタ３４に収束さ
れ、明るさとして結像する。

【０００５】空間フィルタ３４は織布Ｗの経糸Ｔと平行
に、一定ピッチＰで配設された多数の受光素子３６ａ，
３６ｂを備えた２個の櫛型フィルタ３７ａ，３７ｂから
なる。そして、両櫛型フィルタ３７ａ，３７ｂからの出
力信号が差動演算回路３８に出力され、差動演算回路３
８の出力信号が全波整流回路３９、尖頭値検波回路４
０、ローパスフィルタ４１及び比較回路４２を経て判定
回路４３に出力される。

【０００６】図５に示すように差動演算回路３８の出力
信号ＳＧ１は全波整流回路３９で全波整流され、尖頭値
検波回路４０はその整流された出力信号ＳＧ２のピーク
値をホールドして形成した信号ＳＧ３をローパスフィル
タ４１に出力する。ローパスフィルタ４１はその信号Ｓ
Ｇ３を平滑化して比較回路４２に出力する。比較回路４
２はローパスフィルタ４１の出力信号ＳＧ４を入力して
予め設定された基準値Ｅｔ（＝EN／２）より大きいか否
かを判断し、大きい場合にはその大きな状態の継続時間
をクロックパルスＣＬＫで計数し、その計数値ｙを継続
時間Ｂとして判定回路４３に出力する。そして、判定回
路４３は継続時間Ｂと予め設定した基準時間ｔs とを比
較し、継続時間Ｂが基準時間tsを超えた時、経糸切れ等
の異常があると判断する。判定回路４３の判定信号は織
機の制御装置や作業者に異常を知らせる報知装置に出力
され、経糸Ｔの異常が検出されたときには、織機の運転
を停止させたりランプ、ブザー等で作業者に知らせるよ
うになっている。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】空間フィルタ３４を使
用した検反装置は織布Ｗに現れた非同期性を欠点として
検出するものであり、信号としては受光量の増減によっ
て空間フィルタ３４の出力（周波数信号）の振幅変化が
発生するのを利用している。そして、前記のように織布
Ｗに異常がある場合には、空間フィルタ３４の出力の振
幅が大きくなることを前提として異常検出を行うように
なっている。

【０００８】ところが、空間フィルタ３４の断線故障や
光学系の故障が発生した状態では織布Ｗの経糸不良が発
生していても、その異常を確実に検出することができな
いという問題がある。つまり、上記のように構成された
検反装置においては、センサヘッドが正常な状態である
か否かを判断することができず、センサヘッドの不良状
態で織布Ｗの良否の判定を行ってしまい、織布Ｗの正確
な良否の判定を行うことができないという問題がある。

【０００９】本発明は上記問題点を解決するためになさ
れたものであって、その目的はセンサヘッドの良否の判
定が確実に行われ、不良状態で織布の良否の判定を確実
に回避することができる検反装置を提供することにあ
る。

【００１０】

【課題を解決するための手段】本発明は上記問題点を解
決するため、織布に対して相対移動して、織布の検反領
域に照射された光を空間フィルタからなる受光手段で受
光して検反情報を得る検反装置において、前記空間フィ
ルタからの出力信号又は所定の処理信号が正常状態にお
ける所定の基準値以上か否かを判断する判定手段を設け
たことをその要旨とする。

【００１１】

【作用】織布の検反領域に照射された光を空間フィルタ
が受光すると、空間フィルタから織布の状態に対応した
出力信号が出力される。判定手段はその出力信号又は所
定の処理信号と予め定められた基準値以上か否かを判断
する。従って、空間フィルタの異常状態で織布の良否の
判定を行うことが防止される。

【００１２】

【実施例】以下、本発明を具体化した第１実施例を図
１，図２に基づいて説明する。検反装置は基本的には本
願出願人が先に提案した装置と同じであるが、センサヘ
ッドが織布の下方において織布の幅方向に往復走査され
る点と、センサヘッドの良否の判定を行う回路構成を設
けた点が異なっている。

【００１３】織前とエキスパンションバーとの間の織布
通過位置の直下には、織布Ｗの幅以上の長さの収容ボッ
クス１が織布Ｗの幅方向（図２の左右方向）に沿って配
設されている。図２に示すように、収容ボックス１の上
部には織布Ｗの幅以上の長さのガラス窓２が設けられて
いる。収容ボックス１の上にはガラス窓２を覆う反射板
３が配設され、織布Ｗは収容ボックス１と反射板３に挟
まれた状態で移動するようになっている。収容ボックス
１内の底部には走行レール４が長手方向に沿って固定さ
れ、走行レール４上にはセンサヘッド保持台５を介して
センサヘッド６が走行レール４に沿って移動可能に支持
されている。センサヘッド６は走査用ベルト７に固定さ
れ、走査用ベルト７は収容ボックス１内の左右両端に設
けられたプーリ（図示せず）間に巻掛けられている。そ
して、モータ（図示せず）の正逆回転に伴うプーリの正
逆回転に伴って往復移動される走査用ベルト７を介し
て、センサヘッド６が走行レール４に案内されて織布Ｗ
の幅方向に所定速度Ｖで走査されるようになっている。

【００１４】センサヘッド６の箱状のケース８内の下部
には発光体９が上向きに固定されている。発光体９の上
方にはハーフミラー１０が垂直方向に対して４５度傾斜
した状態で配置され、ハーフミラー１０の上方に集光用
の凸レンズ１１が配設されている。発光体９は凸レンズ
１１から織布Ｗへの照射光が平行光となるように、凸レ
ンズ１１の焦点位置に配置され、投光制御回路１２によ
り駆動されるようになっている。

【００１５】ハーフミラー１０の側方には検反領域から
の光、すなわち織布Ｗ及び反射板３からの反射光が織布
の表面模様として結像される受光部１３が配設されてい
る。受光部１３には空間フィルタ１４が設けられてい
る。空間フィルタ１４は差動構成で、図１に示すよう
に、受光量に応じた電気信号を出力する多数の受光素子
１５ａ，１５ｂが一定ピッチＰで平行に配設された一対
の櫛型フィルタ１６ａ，１６ｂから構成されている。受
光素子１５ａ，１５ｂの向きは凸レンズ１１で集められ
た光の結像の移動方向と直交する方向、すなわち織布Ｗ
の像の経糸Ｔと平行となるように配置されている。

【００１６】櫛形フィルタ１６ａ，１６ｂは受光素子１
５ａ，１５ｂで発生した電流を電圧に変換する電流電圧
変換器（図示せず）を介して差動演算回路１７及び加算
演算回路１８に接続されている。差動演算回路１７は全
波整流回路１９を介して第１の尖頭値検波回路２０に接
続されている。第１の尖頭値検波回路２０は第１のロー
パスフィルタ２１に接続されている。第１のローパスフ
ィルタ２１は第１の比較回路２２に接続されている。第
１の比較回路２２は第１の判定回路２３に接続されてい
る。

【００１７】前記加算演算回路１８は第２の尖頭値検波
回路２５を介して第２のローパスフィルタ２６に接続さ
れている。第２のローパスフィルタ２６はフィルタ良否
比較回路２７に接続されている。前記第２の比較回路２
７は判定手段としての第２の判定回路２８に接続されて
いる。

【００１８】そして、前記全波整流回路１９から第１の
判定回路２３までの作用は前記従来の検反装置と同一と
なっている。前記加算演算回路１８は受光素子１５ａ，
１５ｂから出力される出力信号を加算処理する。第２の
尖頭値検波回路２５は加算演算回路１８から出力される
加算処理された出力信号のピーク値を所定の時定数を持
たせてホールドして形成した信号を出力する。第２のロ
ーパスフィルタ２６は第２の尖頭値検波回路２５の出力
信号を平滑化して第２の比較回路２７に出力する。第２
の比較回路２７は第２のローパスフィルタ２６の出力信
号を入力して予め設定された基準値より大きいか否かを
判断し、小さい場合にはその小さな状態の継続時間をク
ロックパルスで計数し、その計数値を継続時間として第
２の判定回路２７に出力する。そして、第２の判定回路
２７は継続時間と予め設定した基準時間とを比較し、継
続時間が基準時間を超えた時、空間フィルタ１４等に異
常があると判断するようになっている。前記基準値は予
め正常状態で予め試験的に求めた値を求めて設定されて
いる。

【００１９】次に前記のように構成された装置の作用を
説明する。検反を行う場合は、センサヘッド６が織布Ｗ
の幅方向に速度Ｖで走査されるとともに、投光制御回路
１２が駆動されて発光体９から織布Ｗに向かって光が照
射される。発光体９からの照射光はハーフミラー１０を
通過するとともに凸レンズ１１で平行光となり、ガラス
窓２を通って織布Ｗの裏面の検反領域に照射される。織
布Ｗに照射された光は織布Ｗの裏面で直接あるいは織布
Ｗの上に配置された反射板３で反射され、再び凸レンズ
１１を通過するとともにハーフミラー１０で反射されて
受光部１３に織布Ｗの模様として結像する。

【００２０】受光部１３には織布Ｗからの反射光と、織
布Ｗの上面に設けられた反射板３で反射して織布Ｗの隙
間から戻ってくる反射光とが到達して結像する。そし
て、受光部１３に設けられた受光素子１５ａ，１５ｂか
らは受光した光の強さに対応した電流が出力される。受
光素子１５ａ，１５ｂからの出力信号は電流信号が電圧
信号に変換された後、差動演算回路１７及び加算演算回
路１８に出力される。

【００２１】差動演算回路１７は受光素子１５ａ，１５
ｂからの電流に基づいて電圧に変換された出力信号を差
動演算処理した出力信号を全波整流回路１９に出力す
る。全波整流回路１９は差動演算回路１７の出力信号
（検反信号）を全波整流する。第１の尖頭値検波回路２
０は全波整流回路１９で整流された信号のピーク値をホ
ールドして形成した信号を出力する。第１のローパスフ
ィルタ２１は第１の尖頭値検波回路２０の信号を平滑化
して第１の比較回路２２に出力する。第１の比較回路２
２は第１のローパスフィルタ２１の出力信号を入力して
予め設定された基準値より大きいか否かを判断し、大き
い場合にはその大きな状態の継続時間をクロックパルス
で計数し、その計数値を継続時間として第１の判定回路
２３に出力する。そして、第１の判定回路２３は継続時
間と予め設定した基準時間とを比較し、継続時間が基準
時間を超えた時、経糸切れ等の異常があると判断する。

【００２２】一方、加算演算回路１９は受光素子１５
ａ，１５ｂからの電流に基づいて電圧に変換された出力
信号を加算処理した出力信号を第２の尖頭値検波回路２
５に出力する。第２の尖頭値検波回路２５は加算演算回
路１８から出力される加算処理された出力信号のピーク
値をホールドして形成した信号を出力する。第２のロー
パスフィルタ２６は第２の尖頭値検波回路２５の出力信
号を平滑化して第２の比較回路２７に出力する。第２の
比較回路２７は第２のローパスフィルタ２６の出力信号
を入力して予め設定された基準値より大きいか否かを判
断する。

【００２３】受光素子１５ａ，１５ｂが正常であれば、
第２のローパスフィルタ２６からの出力信号のレベルは
予め設定された基準値より大きくなり、受光素子１５
ａ，１５ｂのいずれか一方が故障したり配線の断線が発
生すると、予め定められた基準値を下回る出力信号とな
る。そして、第２の比較回路２７は第２のローパスフィ
ルタ２６から出力される出力信号が、予め設定された基
準値より小さい場合にはその小さな状態の継続時間をク
ロックパルスで計数し、その計数値を継続時間として第
２の判定回路２８に出力する。そして、第２の判定回路
２８は継続時間と予め設定した基準時間とを比較し、継
続時間が基準時間を超えた時、異常があると判断する。
尚、この異常の場合とは、受光素子１５ａ，１５ｂの不
良、配線の断線又は光学系の故障等と推定される。

【００２４】この結果、空間フィルタ１４によって織布
Ｗの経糸不良を検出することができるとともに、受光素
子１５ａ，１５ｂからの出力信号を所定の処理し、この
出力信号（処理信号）のレベルに基づいてセンサヘッド
６の状態を常に検出することができる。

【００２５】次に、本発明の第２実施例について図３に
基づいて説明する。尚、前記第１実施例と同一の構成に
付いては同一番号を付してその説明を省略する。この第
２実施例においては、２組の空間フィルタ１４Ａ，１４
Ｂを使用して、該２組の空間フィルタ１４Ａ，１４Ｂが
織布Ｗの同じ位置を検反する時間差を０となるように補
正した出力信号に基づいて織布Ｗの良否を判定するよう
にした検反装置に適用した場合について説明する。

【００２６】図３に示すように、受光部１３に一定ピッ
チＰで配設された多数の受光素子１５ａ，１５ｂを備え
た２個の櫛型フィルタ１６ａ，１６ｂからなる２組の空
間フィルタ１４Ａ，１４Ｂを所定の間隔Ｌを有して配設
している。

【００２７】又、前記２組の空間フィルタ１４Ａ，１４
Ｂをそれぞれ対応した差動演算回路１７ａ，１７ｂと接
続している。そして、差動演算回路１７ａ，１７ｂを時
間差補正加算演算回路２４と接続している。この時間差
補正加算演算回路２４は空間フィルタ１４Ａ，１４Ｂが
織布Ｗの同じ位置を検出する時間差を求め、この時間差
を０とするように補正した後、その信号を加算処理する
ようになっている。時間差補正加算演算回路２４はこの
加算処理した信号を出力信号として全波整流回路１９に
出力する。

【００２８】以下、全波整流回路１９に出力された出力
信号は、上記第１実施例と同様の手順で処理され、織布
Ｗの良否の判定を行う。一方、前記一対の空間フィルタ
１４Ａ，１４Ｂをそれぞれ対応した加算演算回路１８
ａ，１８ｂに接続している。又、加算演算回路１８ａ，
１８ｂを第２の尖頭値検波回路２５ａ，２５ｂに接続し
ている。第２の尖頭値検波回路２５ａ，２５ｂを第２の
ローパスフィルタ２６ａ，２６ｂに接続している。第２
のローパスフィルタ２６ａ，２６ｂを第２の比較回路２
７ａ，２７ｂに接続している。そして、第２の比較回路
２７ａ，２７ｂを第２の判定回路２８に接続している。

【００２９】２組の空間フィルタ１４Ａ，１４Ｂからの
出力信号（検反信号）を加算演算回路１８ａ，１８ｂに
よって加算処理し、出力信号として第２の尖頭値検波回
路２５ａ，２５ｂに出力する。第２のローパスフィルタ
２６ａ，２６ｂは第２の尖頭値検波回路２５ａ，２５ｂ
からの出力信号のピーク値をホールドして形成した信号
を出力する。第２のローパスフィルタ２６ａ，２６ｂは
第２の尖頭値検波回路２５ａ，２５ｂの出力信号を平滑
化して第２の比較回路２７ａ，２７ｂに出力する。第２
の比較回路２７ａ，２７ｂは第２のローパスフィルタ２
６の出力信号を入力して予め設定された基準値より大き
いか否かを判断する。そして、予め設定された基準値よ
り出力信号が小さい場合、第２の比較回路２７ａ，２７
ｂはその継続時間を第２の判定回路２８に出力する。
尚、前記第２の判定回路２８はそれぞれ第２の比較回路
２７ａ，２７ｂから出力される出力信号に基づいて空間
フィルタ１４Ａ，１４Ｂが正常であるか否かを判定する
ようになっている。

【００３０】従って、空間フィルタ１４Ａ，１４Ｂの両
方が第２の判定回路２８によって異常と判定された場
合、両方の空間フィルタ１４Ａ，１４Ｂが同時に故障す
る確率が低いため、光学系の故障や受光部１３の取付不
良と判定することができる。

【００３１】又、空間フィルタ１４Ａ，１４Ｂのいずれ
か一方が第２の判定回路２８によって異常であると判断
されたときはその異常となる出力信号を出力した空間フ
ィルタ１４Ａ，１４Ｂの故障又は断線故障と判断するこ
とができる。

【００３２】この結果、空間フィルタ１４、１４Ａ，１
４Ｂの状態を常に監視することができるとともに、空間
フィルタ１４、１４Ａ，１４Ｂの異常によって織布Ｗの
経糸不良を見逃してしまうことを確実に防止することが
できる。

【００３３】第１，２実施例においては、空間フィルタ
１４、１４Ａ，１４Ｂの出力信号を加算演算回路１８
ａ，１８ｂによって加算処理した後、各回路２５ａ〜２
７ａ、２５ｂ〜２７ｂによって処理した出力信号に基づ
いて空間フィルタ１４、１４Ａ，１４Ｂの良否の判定を
行ったが、空間フィルタ１４、１４Ａ，１４Ｂにおける
受光素子１５ａ，１５ｂからの出力信号と予め定められ
た基準値とを比較し、この比較結果に基づいて空間フィ
ルタ１４、１４Ａ，１４Ｂの良否の判定を行うように構
成することも可能である。

【００３４】又、織機に装備する検反装置以外に製織後
の織布の良否を検査するための検反装置に適用すること
も可能である。

【００３５】

【発明の効果】以上詳述したように本発明によれば、セ
ンサヘッドの良否が確実に行われ、センサヘッドの不良
状態で織布の良否の判定が行われることが確実に回避さ
れる優れた効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明を具体化した第１実施例の電気ブロック
図である。

【図２】センサヘッドとの織布との関係を示す概略断面
図である。

【図３】本発明を具体化した第２実施例の電気ブロック
図である。

【図４】従来の検反装置の構成を示す概略斜視図であ
る。

【図５】差動演算回路の出力信号が各回路で順次処理さ
れたときの波形図である。

【符号の説明】

１４，１４Ａ，１４Ｂ…空間フィルタ、２８…判定手段
としての第２の判定回路、Ｗ…織布

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 三宅 洋 愛知県刈谷市豊田町２丁目１番地 株式会 社豊田自動織機製作所内

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 織布に対して相対移動して、織布の検反
   領域に照射された光を空間フィルタからなる受光手段で
   受光して検反情報を得る検反装置において、 前記空間フィルタからの出力信号又は所定の処理信号が
   正常状態における所定の基準値以上か否かを判断する判
   定手段を設けた検反装置。